JPS5931449A - 超音波探傷画像表示装置 - Google Patents
超音波探傷画像表示装置Info
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- JPS5931449A JPS5931449A JP57141167A JP14116782A JPS5931449A JP S5931449 A JPS5931449 A JP S5931449A JP 57141167 A JP57141167 A JP 57141167A JP 14116782 A JP14116782 A JP 14116782A JP S5931449 A JPS5931449 A JP S5931449A
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- JP
- Japan
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- digital
- memory
- ultrasonic
- echo
- signal
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/028—Material parameters
- G01N2291/02854—Length, thickness
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明け、超音波探賜画像六示装＋ｉｆに係り、特に超
音波エコ−１言号の評価に好適な画［象表示を行う超音
波探傷−ｒ象表示装■θに関する。
音波エコ−１言号の評価に好適な画［象表示を行う超音
波探傷−ｒ象表示装■θに関する。
超音波採湯において、被倹僅体は同−ＡＡ質であっても
板）Ｖがいろいろであり父、板厚が同じでも被検査体の
音速が異なったりするために多挿多様となっている。超
音波探傷６Ｊを使用したＡスコープ表示器、よ、被検査
体の欠陥による超音波の反射エコーのレベルと被検査体
表面から反射エコーまでの路程により欠陥のイ１″装置
及び大きさを評価している。Ａスコープ画面上フルスケ
ールを基準スケールとして校正し、Ａノコ−１画面上に
送信エコー・欠陥部の反射エコー・被検査体の底面エコ
ーが表示できるようにしている。超音波深傷画像表示装
置ａを用いる場合でも同様な評価法を用いることに上り
被検査体の表面エコー・欠陥エコー・１氏面エコーを画
像として表示し、欠陥の位詩を探すのに何効な方法１゛
ある。反射エコーのレベルの評価を行う場合、基準レベ
ルを設は反射エコーのレベルを括（色レベルと比較し、
どの程度のものかということで欠陥の評価を行っている
。
板）Ｖがいろいろであり父、板厚が同じでも被検査体の
音速が異なったりするために多挿多様となっている。超
音波探傷６Ｊを使用したＡスコープ表示器、よ、被検査
体の欠陥による超音波の反射エコーのレベルと被検査体
表面から反射エコーまでの路程により欠陥のイ１″装置
及び大きさを評価している。Ａスコープ画面上フルスケ
ールを基準スケールとして校正し、Ａノコ−１画面上に
送信エコー・欠陥部の反射エコー・被検査体の底面エコ
ーが表示できるようにしている。超音波深傷画像表示装
置ａを用いる場合でも同様な評価法を用いることに上り
被検査体の表面エコー・欠陥エコー・１氏面エコーを画
像として表示し、欠陥の位詩を探すのに何効な方法１゛
ある。反射エコーのレベルの評価を行う場合、基準レベ
ルを設は反射エコーのレベルを括（色レベルと比較し、
どの程度のものかということで欠陥の評価を行っている
。
しかし５．従来の断面１条等の探渇画（象を表示する超
音波探傷面ｆ埃表示装置ａの画像処理部は第１１イ１に
示した構成をイ」して訃りＪ、Ｊ下に述べるような大小
がある。従来の画像処理部では、超音波探１↓ｈ器から
の超音波エコー信号をアナログ／デジタル変換し、エコ
ー高さに比例させてｎビットのレベル毎にデジタルエコ
ーメモリ３に一旦ｄ己憶する。偏向信号回路５では、超
音θＵの軌跡に従ったアドレスを作りそのアドレス」二
にデジタルエコーメ七り３に記１σしたデータを輝度信
号としてデジタル画像メ七り４で探傷画像を作ｌ戊及び
記１、きして表示器１に表示する。ν１１、符号６はｔ
ｅ制御回路である。この時、テンタルエコーメモリ３の
アドレスとデジタル画像メモリ４でのドツトの関深け、
１：１に対応している。このようになっている場合、表
示器１の画面上では、テンタルエコーメモリ３のアドレ
スの範囲内で１〜か探１荀画障を見るとと乃：できない
。つ−まり、被検査体の４４ｒ厚がＩＪいものを深巴し
た場合・、超音波の路程が１（＜よるためテンタルエコ
ーメモリ：ｌは、ある程１瑯二のｄ叶が必要とｔす、そ
れに応じてデジタル画像メモリ４のドツト数も多くする
ことにより、表示器１上では好適な探鷹画１象を表示す
ることがでＳる７、シか（２、被検査１４の１Ｍ厚が１
・Ｉいもの脅探鵠しｌｃ １Ｍ合、超音波の１１１□”
５程は短くなり表示器１上では、超音波の路程の割合で
小さく表示され、好適な探傷器１象を表示することがで
きない。又、デジタルエコーメモリ３の容縫を小さくし
、デジタル両峰メモリ４のドツト数も少なくすることに
より被検査体の板厚が薄いものを探傷した場合、ｆｌ−
ｆ適な探出画［象を表示することができる。しかし、板
厚が１１７いものを探［＠シた場合、デジタ１１／エコ
＝メモリ３の容計で＆ｔ −ｆ トＬ／スオーバーとな
り、表示器１上では、□探ＩＪ／ｌ範囲を越えてしまい
好・イな探傷画像を表示することができない。従って、
ある特定のホｈ囲のみしか表示できないため多（１！多
（漠な被検査体の探鴎画曹を表示さＱ 、４ｒ ｆｃめ
に限りがあり、ｌ’ｆ適な探傷画像を表示できないとい
う欠点があった。
音波探傷面ｆ埃表示装置ａの画像処理部は第１１イ１に
示した構成をイ」して訃りＪ、Ｊ下に述べるような大小
がある。従来の画像処理部では、超音波探１↓ｈ器から
の超音波エコー信号をアナログ／デジタル変換し、エコ
ー高さに比例させてｎビットのレベル毎にデジタルエコ
ーメモリ３に一旦ｄ己憶する。偏向信号回路５では、超
音θＵの軌跡に従ったアドレスを作りそのアドレス」二
にデジタルエコーメ七り３に記１σしたデータを輝度信
号としてデジタル画像メ七り４で探傷画像を作ｌ戊及び
記１、きして表示器１に表示する。ν１１、符号６はｔ
ｅ制御回路である。この時、テンタルエコーメモリ３の
アドレスとデジタル画像メモリ４でのドツトの関深け、
１：１に対応している。このようになっている場合、表
示器１の画面上では、テンタルエコーメモリ３のアドレ
スの範囲内で１〜か探１荀画障を見るとと乃：できない
。つ−まり、被検査体の４４ｒ厚がＩＪいものを深巴し
た場合・、超音波の路程が１（＜よるためテンタルエコ
ーメモリ：ｌは、ある程１瑯二のｄ叶が必要とｔす、そ
れに応じてデジタル画像メモリ４のドツト数も多くする
ことにより、表示器１上では好適な探鷹画１象を表示す
ることがでＳる７、シか（２、被検査１４の１Ｍ厚が１
・Ｉいもの脅探鵠しｌｃ １Ｍ合、超音波の１１１□”
５程は短くなり表示器１上では、超音波の路程の割合で
小さく表示され、好適な探傷器１象を表示することがで
きない。又、デジタルエコーメモリ３の容縫を小さくし
、デジタル両峰メモリ４のドツト数も少なくすることに
より被検査体の板厚が薄いものを探傷した場合、ｆｌ−
ｆ適な探出画［象を表示することができる。しかし、板
厚が１１７いものを探［＠シた場合、デジタ１１／エコ
＝メモリ３の容計で＆ｔ −ｆ トＬ／スオーバーとな
り、表示器１上では、□探ＩＪ／ｌ範囲を越えてしまい
好・イな探傷画像を表示することができない。従って、
ある特定のホｈ囲のみしか表示できないため多（１！多
（漠な被検査体の探鴎画曹を表示さＱ 、４ｒ ｆｃめ
に限りがあり、ｌ’ｆ適な探傷画像を表示できないとい
う欠点があった。
本発明の１的ｉ、１． 、ｈｒｔｔ２の欠点を解消し、
探傷画像の正確な評価を行うことができる超音波探傷器
画１宸衣示装置を提ＩＪ（することにある。
探傷画像の正確な評価を行うことができる超音波探傷器
画１宸衣示装置を提ＩＪ（することにある。
本発明は、超音波探傷器からの超音波エコー信号６−ア
ナログ／デジタル変換して一旦記憶するデジタルエコー
メモリと、超音波の軌跡に従ったデジタルのアドレスを
咋る１１１４向信号回路と、この偏向信号回路でのアド
レスにデジタルエコーメそりに記１．はされたデータを
輝度信号として入力し、断面１象吟の探傷画像を作成及
び記憶するデジタル画１象メモリをそなえ、デジタル画
像メモリにＵｉ Ｉｆ 信号としてのデータを書込む時
、１ドツトの意味する表示路僅の割合を可変できるよう
にし、デジタルエコ−メ七りではその割合でアドレスを
区分し一つのブロックを１ドツトに対応させ、ブロック
内の最大エコーデータを輝度信けとして探嶋画像を作成
及び記１．ホして表示するようにしたものである。
ナログ／デジタル変換して一旦記憶するデジタルエコー
メモリと、超音波の軌跡に従ったデジタルのアドレスを
咋る１１１４向信号回路と、この偏向信号回路でのアド
レスにデジタルエコーメそりに記１．はされたデータを
輝度信号として入力し、断面１象吟の探傷画像を作成及
び記憶するデジタル画１象メモリをそなえ、デジタル画
像メモリにＵｉ Ｉｆ 信号としてのデータを書込む時
、１ドツトの意味する表示路僅の割合を可変できるよう
にし、デジタルエコ−メ七りではその割合でアドレスを
区分し一つのブロックを１ドツトに対応させ、ブロック
内の最大エコーデータを輝度信けとして探嶋画像を作成
及び記１．ホして表示するようにしたものである。
以下、本ｊＩ！、明の一実施ρりを図面に従って説明す
る。第２図は、本発明の超音波探傷器［象表示装置の一
実施例を示す全体１１η成図である。超音波探傷器７に
は、探触子９が繊続さｆｌ、被検査体１１上を走査する
。超音波探傷画像表示装置８によ、超音波探傷５７及び
被検査体１１−１−の探触子９の位血“を検出する位Ｉ
Ｍ＋ｔＬ出器ｌＯと陸続される。探触子９番、１、超音
波探傷器７の駆Ｊｕｔパルスにより被検査体１１内に超
音波を送信する。この超音波は、被検存体１１の底面又
け、欠陥部で反射され、その反射波が探触子９で受信さ
れ電王値に変ｊ工されて超音波探傷器７に入力される。
る。第２図は、本発明の超音波探傷器［象表示装置の一
実施例を示す全体１１η成図である。超音波探傷器７に
は、探触子９が繊続さｆｌ、被検査体１１上を走査する
。超音波探傷画像表示装置８によ、超音波探傷５７及び
被検査体１１−１−の探触子９の位血“を検出する位Ｉ
Ｍ＋ｔＬ出器ｌＯと陸続される。探触子９番、１、超音
波探傷器７の駆Ｊｕｔパルスにより被検査体１１内に超
音波を送信する。この超音波は、被検存体１１の底面又
け、欠陥部で反射され、その反射波が探触子９で受信さ
れ電王値に変ｊ工されて超音波探傷器７に入力される。
この信号により超音波探傷器７は、反射エコーのレベル
と路程を表示するＡスコープ表示を行う。超音波探傷器
は表示装置８では、Ａスコープ１６号と１１ｒ置演出ｅ
ｒ１０からの位置信号を入力し、被検査体１１の］υ１
而ｒ象等の探傷面ｒ象を作成及び記憶して表示する。第
３図は、第２図に示した超音波探出画像表示装置の画１
象凱理部の詳細を示す構成図である。画像処理部は、偏
向イｇ号回路５、デジタル画１球メモリ４、レンジ切換
回路１２及びデジタルエコーメモリ３を有している。
と路程を表示するＡスコープ表示を行う。超音波探傷器
は表示装置８では、Ａスコープ１６号と１１ｒ置演出ｅ
ｒ１０からの位置信号を入力し、被検査体１１の］υ１
而ｒ象等の探傷面ｒ象を作成及び記憶して表示する。第
３図は、第２図に示した超音波探出画像表示装置の画１
象凱理部の詳細を示す構成図である。画像処理部は、偏
向イｇ号回路５、デジタル画１球メモリ４、レンジ切換
回路１２及びデジタルエコーメモリ３を有している。
−まだ、これらをｊＩｉｌＪ Ｈする制御回路６とデジ
タル画（ｌｆｉ メモリ４で作成及びｈ４憶される探傷
画像を表示する表示器１を有している。Ａスコープ信号
２ケ、一定のサンプリングクロックによりアナログ／ナ
シタル変換されてデジタルエコーメモリ３に一旦す己憶
さｔＬる。Ａスコープ信号は、ｎビットのデコーダによ
りエコー高さで２″′ のレベルにデコードされる。し
１１えば、２ビツトのデコーダを使用すると、０・１・
２・３の４レベルに分けられデータとして記憶される。
タル画（ｌｆｉ メモリ４で作成及びｈ４憶される探傷
画像を表示する表示器１を有している。Ａスコープ信号
２ケ、一定のサンプリングクロックによりアナログ／ナ
シタル変換されてデジタルエコーメモリ３に一旦す己憶
さｔＬる。Ａスコープ信号は、ｎビットのデコーダによ
りエコー高さで２″′ のレベルにデコードされる。し
１１えば、２ビツトのデコーダを使用すると、０・１・
２・３の４レベルに分けられデータとして記憶される。
ｙ Ａスコープ信号の路程ハ、デジタルエコーメ七り３
のアドレスに対応している。、１ＩＩｉｊＩｉｌＪ６５
は、制イＬ１４１回路６の制御により超音波の軌跡に従
ったデジタルのアドレスヲ作る。デジタルエコーメモリ
３に一旦記憶されたデータは、輝度信号として偏向信号
回路５でのアドレスへ制御回路６の利１卸により、デジ
タル画１永メモリ４へ書込み、断ＵｆＩ隊等の探傷画像
を作成及び記憶［７て、表示／、ｉｔ Ｉ Ｖｃ衣表示
る。し、か１７、輝度信号をデジタルＩＩｆＩｉｉメメ
０す４へ爵」Δむ時、Ａスコープ信号の路佃によりデジ
タル画１象メモリ４の１ドツトとの女寸応がつかなくな
る。七こでレンジ切換回路１２により、デジタル画１埃
メモリ４の１ドツトの表示割合を決め、デジタルエコー
メモリ３のアドレスを表示ｂｌｌ訃でのブロックに分け
、ぞのブロック内でのデータ内で最大レベルのＴ−タを
輝度信号としてテジタル両祿メモリ４に書込１１・。
のアドレスに対応している。、１ＩＩｉｊＩｉｌＪ６５
は、制イＬ１４１回路６の制御により超音波の軌跡に従
ったデジタルのアドレスヲ作る。デジタルエコーメモリ
３に一旦記憶されたデータは、輝度信号として偏向信号
回路５でのアドレスへ制御回路６の利１卸により、デジ
タル画１永メモリ４へ書込み、断ＵｆＩ隊等の探傷画像
を作成及び記憶［７て、表示／、ｉｔ Ｉ Ｖｃ衣表示
る。し、か１７、輝度信号をデジタルＩＩｆＩｉｉメメ
０す４へ爵」Δむ時、Ａスコープ信号の路佃によりデジ
タル画１象メモリ４の１ドツトとの女寸応がつかなくな
る。七こでレンジ切換回路１２により、デジタル画１埃
メモリ４の１ドツトの表示割合を決め、デジタルエコー
メモリ３のアドレスを表示ｂｌｌ訃でのブロックに分け
、ぞのブロック内でのデータ内で最大レベルのＴ−タを
輝度信号としてテジタル両祿メモリ４に書込１１・。
第４図に上記実姉レリの・ｊｊＪ作タイムナーｔ’−１
、を示ず。
、を示ず。
テンタルエコーメモリにＡスコーフゴ諷号を取込んで書
込むタイミングと、デジタル画隊メモリー＼再込むタイ
ミングは、１ｌｌｌ ｉ卸回路［より超音波の込はと同
期させ、［１つ１周期ずらして行う。第５図には、偏向
ＩＢ号回路でのデジタルのア１゛レスとデジタル而１１
ツメそりのメモリマツプをボす。第６図は、Ａスフ−１
１３号とデジタルエコーメモリの関係を示ス。テジタル
エコーメ七りのアドレスｕ、Ａスコープ信号の路程を示
し、データは、Ａスコープ１５号のレベルを示す。第７
図は、デジタルエコーメ七りとデジタル画１象メモリの
関係を示し、レンジニ対するデジタルエコーメモリの割
合を説明する１、デジタル画像メモリとデジタルエコー
メモリの関係は、１ドツト対Ｎアドレスとなり、１ドツ
トに書込む輝ｒ〆１８号は、Ｎアドレス内の最大レベル
のデータでｐ）る。第８図汀、デジタル画像メモリとレ
ンジの関係を示したものである。デジタル画１家メそり
は、フルスケール２００ドツトで構成されレンジは、フ
ルスケールの表示値を示す。つ−止すレンジが１００
ｒｈｍの時、１ドツトのり示飴け、０、５ ｍｍであり
、レンジ２００胴の時、１ドツトけ、１１ｆｆｌ１１と
なる。この＋Ｊ成でｔま、フルスケール１００ｍｍから
８００１１Ｉ９．はで表示可能となる。木実砲列によれ
ば、超音波探傷画像表示装置で探１易画像を作成及び記
１ｖする４ｉ（ｉ分にデジタルｌｌ！ｌｉ像メモ’）’
ｘＵ’Ａし、超庁彼エコー１呂号をアナログ／ナシタル
変換Ｌ −（Ｈ４憶するデジタルエコーメモリのデータ
をレンジ切換回路ｒ（て、各レンジに対しである割合の
アドレスでブロック分けをし、そのブロック内でのデー
タのレベルが最大のデータを輝度信号としてデジタル画
像メモリの１ドツト上にみ込むことにより超音波エコー
の路程に応じた断面１象等の探傷画像を表示し２、レン
ジにより拡大又は縮小し得る効果があり、探傷−（１の
正確な評価を行うことができる。
込むタイミングと、デジタル画隊メモリー＼再込むタイ
ミングは、１ｌｌｌ ｉ卸回路［より超音波の込はと同
期させ、［１つ１周期ずらして行う。第５図には、偏向
ＩＢ号回路でのデジタルのア１゛レスとデジタル而１１
ツメそりのメモリマツプをボす。第６図は、Ａスフ−１
１３号とデジタルエコーメモリの関係を示ス。テジタル
エコーメ七りのアドレスｕ、Ａスコープ信号の路程を示
し、データは、Ａスコープ１５号のレベルを示す。第７
図は、デジタルエコーメ七りとデジタル画１象メモリの
関係を示し、レンジニ対するデジタルエコーメモリの割
合を説明する１、デジタル画像メモリとデジタルエコー
メモリの関係は、１ドツト対Ｎアドレスとなり、１ドツ
トに書込む輝ｒ〆１８号は、Ｎアドレス内の最大レベル
のデータでｐ）る。第８図汀、デジタル画像メモリとレ
ンジの関係を示したものである。デジタル画１家メそり
は、フルスケール２００ドツトで構成されレンジは、フ
ルスケールの表示値を示す。つ−止すレンジが１００
ｒｈｍの時、１ドツトのり示飴け、０、５ ｍｍであり
、レンジ２００胴の時、１ドツトけ、１１ｆｆｌ１１と
なる。この＋Ｊ成でｔま、フルスケール１００ｍｍから
８００１１Ｉ９．はで表示可能となる。木実砲列によれ
ば、超音波探傷画像表示装置で探１易画像を作成及び記
１ｖする４ｉ（ｉ分にデジタルｌｌ！ｌｉ像メモ’）’
ｘＵ’Ａし、超庁彼エコー１呂号をアナログ／ナシタル
変換Ｌ −（Ｈ４憶するデジタルエコーメモリのデータ
をレンジ切換回路ｒ（て、各レンジに対しである割合の
アドレスでブロック分けをし、そのブロック内でのデー
タのレベルが最大のデータを輝度信号としてデジタル画
像メモリの１ドツト上にみ込むことにより超音波エコー
の路程に応じた断面１象等の探傷画像を表示し２、レン
ジにより拡大又は縮小し得る効果があり、探傷−（１の
正確な評価を行うことができる。
ＬＪ上、記述した如く本発明の超音波探傷画像表示装置
によ−ｉば、超音波エコーの路程に関１系なくレンジ切
換により、好適な探１易画像の表示を行Ａ正確な評価を
行うことができる。
によ−ｉば、超音波エコーの路程に関１系なくレンジ切
換により、好適な探１易画像の表示を行Ａ正確な評価を
行うことができる。
第１ ｂ、ｄは従来の超音波探出画像表示装置ａのＩＩ
！Ｉ１１永処理部の構成図、爪２図は本発明の超音波探
出画像表示装置の一実施例を示す全体ｆＩ考成図、第：
う図は第２図に示した超音波エコー画像表示装置の画１
求処理部の構成図、第４図ｉ、ｉ’ 、ｍＴ ３図に示
した実施ν０の１ハフ１作タイムチャート図、第５ＦＨ
’：１デジタルｉｍｉ Ｉ駅メモリのメモリマツプ及び
面向信号回酷でのデジタルの偏向アドレスの説明図、第
６図は、Ａスコ−ブ信号とデジタルエコーメ七りの関係
を示す説明図、・第７図はデジタルエコーメ七りとデジ
タル１ｉｈｉ ｆ象メモリ及びレンジの関係を示す説明
図、第８図はデジタル画はメモリとレンジの関係を示す
説明図で・ある。 １・・・孜示器、２・・・Ａスコープ１ｄ号、３・・・
デジタルエコーメモリ、４・・・デジタル１ｌｌｌＩＩ
床メモリ、５・・・偏向ｆｇ号回路、６・・・布１和１
）回Ｉも、７・・・超音波探１易器、８・・・超音波探
賜画１象表示装置、９・・・探触子、１（）・・・位冒
検出器、１１・・・被ｉ禽ｆ１本、１２・・・レンジ切
換回路。 （□ごイ・三預 Ｃ・ １ 芽１図 を２凶 竿 ３ 図 ７６図 巧シクルエクーメｔす 千７図 テ゛ゾタルエコーメεす 第 ６図
！Ｉ１１永処理部の構成図、爪２図は本発明の超音波探
出画像表示装置の一実施例を示す全体ｆＩ考成図、第：
う図は第２図に示した超音波エコー画像表示装置の画１
求処理部の構成図、第４図ｉ、ｉ’ 、ｍＴ ３図に示
した実施ν０の１ハフ１作タイムチャート図、第５ＦＨ
’：１デジタルｉｍｉ Ｉ駅メモリのメモリマツプ及び
面向信号回酷でのデジタルの偏向アドレスの説明図、第
６図は、Ａスコ−ブ信号とデジタルエコーメ七りの関係
を示す説明図、・第７図はデジタルエコーメ七りとデジ
タル１ｉｈｉ ｆ象メモリ及びレンジの関係を示す説明
図、第８図はデジタル画はメモリとレンジの関係を示す
説明図で・ある。 １・・・孜示器、２・・・Ａスコープ１ｄ号、３・・・
デジタルエコーメモリ、４・・・デジタル１ｌｌｌＩＩ
床メモリ、５・・・偏向ｆｇ号回路、６・・・布１和１
）回Ｉも、７・・・超音波探１易器、８・・・超音波探
賜画１象表示装置、９・・・探触子、１（）・・・位冒
検出器、１１・・・被ｉ禽ｆ１本、１２・・・レンジ切
換回路。 （□ごイ・三預 Ｃ・ １ 芽１図 を２凶 竿 ３ 図 ７６図 巧シクルエクーメｔす 千７図 テ゛ゾタルエコーメεす 第 ６図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ｌ、被検査体を走介する探触子と、この探触子に′４気
１ｄ号を送り超音波を送信させ、披倹倉体からの反射エ
コーを受１ｔしＷ気１言号を得る超音波探傷器と、この
超音波探１易イルからの超音波エコー信号と探触子の（
ｒ’ｔ、 ＋：１を検出する〔１′１Ｉｉｆ検出器から
の位１ａ信号を入力して探傷ｌｉ！ｉｉｌ象を作成及び
記憶する画泳凱理部と、この画１象処理部の出力信号に
より被検に体のｌＵｒ而１面等の探脇画（永を表示する
表示器とを１１する超音波探傷両り′象表示装訂におい
て、前記画ｒ象処理部は、超音波探１易器からの超音波
エコー信号をアナログ／デジタル変換し、エコーイ関さ
に比例させてｎピットのレベル毎に一旦記憶するデジタ
ルエコーメそりと、超音波の軌跡に従ったデジタルのア
ドレスを作る偏向信号回路と、偏向１言号回路でのアド
レスにデジタルエコーメモリのデータを輝度信号として
入力し、エコー高さのレベル毎に被検査体の断面像等の
探傷画成を作成及び記憶するデジタル画ｆ象メモリと、
デジタルエコーメモリに一旦取込まれた数飼のデータを
デジタル画像メモリの１ドツトに対する輝度１８号とす
るため拡大又は縮小するレンジＶＪ換回路とから構成し
たことを特徴とする超音波探を動画［象表示装置４゜
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57141167A JPS5931449A (ja) | 1982-08-16 | 1982-08-16 | 超音波探傷画像表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57141167A JPS5931449A (ja) | 1982-08-16 | 1982-08-16 | 超音波探傷画像表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5931449A true JPS5931449A (ja) | 1984-02-20 |
Family
ID=15285688
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57141167A Pending JPS5931449A (ja) | 1982-08-16 | 1982-08-16 | 超音波探傷画像表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5931449A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60253866A (ja) * | 1984-05-30 | 1985-12-14 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | 超音波探傷デ−タ処理方法 |
-
1982
- 1982-08-16 JP JP57141167A patent/JPS5931449A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60253866A (ja) * | 1984-05-30 | 1985-12-14 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | 超音波探傷デ−タ処理方法 |
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