JPH0396872A - コイル試験方法とその方法に用いる装置 - Google Patents
コイル試験方法とその方法に用いる装置Info
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- JPH0396872A JPH0396872A JP1234119A JP23411989A JPH0396872A JP H0396872 A JPH0396872 A JP H0396872A JP 1234119 A JP1234119 A JP 1234119A JP 23411989 A JP23411989 A JP 23411989A JP H0396872 A JPH0396872 A JP H0396872A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 6
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 7
- 238000013016 damping Methods 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 4
- RRLHMJHRFMHVNM-BQVXCWBNSA-N [(2s,3r,6r)-6-[5-[5-hydroxy-3-(4-hydroxyphenyl)-4-oxochromen-7-yl]oxypentoxy]-2-methyl-3,6-dihydro-2h-pyran-3-yl] acetate Chemical compound C1=C[C@@H](OC(C)=O)[C@H](C)O[C@H]1OCCCCCOC1=CC(O)=C2C(=O)C(C=3C=CC(O)=CC=3)=COC2=C1 RRLHMJHRFMHVNM-BQVXCWBNSA-N 0.000 abstract description 6
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、コイルの電気的特性をインパルス電圧を加え
ることにより非破壊にて測定または試験するコイル試験
器に関する。
ることにより非破壊にて測定または試験するコイル試験
器に関する。
従来の、コイルの電気的特性をインパルス電圧を加える
ことにより非破壊にて測定または試験するコイル試験器
としては、特開昭６１１６２７５５号公報に開示されて
いるように、インパルス電圧を印加することにより測定
コイルに生じた固有の減衰振動電流波形を、基準となる
マスクコイルの減衰振動電流波形と比較することによっ
て、上記測定コイルの特性を判定するインパルス巻線試
験器において、上記マスタコイルの減衰電流波形を予め
記憶させておく電泊バックアップＲＡＭと、上記コイル
に生じた減衰振動電流をＡ／Ｄ変換して一時記憶させて
おくＲＡＭと、上記２つのＲＡＭか出力する減衰振動電
流波形データを比較演算処理して上記測定コイルの特性
を判定する演算処理部とを備えたコイル試験器がある。
ことにより非破壊にて測定または試験するコイル試験器
としては、特開昭６１１６２７５５号公報に開示されて
いるように、インパルス電圧を印加することにより測定
コイルに生じた固有の減衰振動電流波形を、基準となる
マスクコイルの減衰振動電流波形と比較することによっ
て、上記測定コイルの特性を判定するインパルス巻線試
験器において、上記マスタコイルの減衰電流波形を予め
記憶させておく電泊バックアップＲＡＭと、上記コイル
に生じた減衰振動電流をＡ／Ｄ変換して一時記憶させて
おくＲＡＭと、上記２つのＲＡＭか出力する減衰振動電
流波形データを比較演算処理して上記測定コイルの特性
を判定する演算処理部とを備えたコイル試験器がある。
従来の上記コイル試験器には、基準コイルの自己減衰振
動電流波形と被測定コイルの自己減衰振動電流波形とを
それぞれのメモリに一旦記憶してから、逐次読みだす時
に両者の波形の波高値の順次演算比較することによって
、被測定コイルの良否を判断するので、多くのメモリと
演算比較時間を要するという欠点と、高速Ｄ／Ａ変換回
路，高速Ａ／Ｄ変換回路、マイクロコンピュータ、電池
バックアップＲＡＭ等を必要とするので、コイル試験器
が高価になるという欠点がある。
動電流波形と被測定コイルの自己減衰振動電流波形とを
それぞれのメモリに一旦記憶してから、逐次読みだす時
に両者の波形の波高値の順次演算比較することによって
、被測定コイルの良否を判断するので、多くのメモリと
演算比較時間を要するという欠点と、高速Ｄ／Ａ変換回
路，高速Ａ／Ｄ変換回路、マイクロコンピュータ、電池
バックアップＲＡＭ等を必要とするので、コイル試験器
が高価になるという欠点がある。
また、被測定コイルをＡ／Ｄ変換器でデジタル信号へ変
換を行うので、第３図に示すように、高周波成分がＡ／
Ｄ変換時に積分され波形歪を生じ、被測定コイルにおけ
るコロナ放電や高速のレヤーショート現象を発見できな
いという欠点を生じる。
換を行うので、第３図に示すように、高周波成分がＡ／
Ｄ変換時に積分され波形歪を生じ、被測定コイルにおけ
るコロナ放電や高速のレヤーショート現象を発見できな
いという欠点を生じる。
本発明は上記問題点を解決するためになされたものであ
って、本発明にかかるコイル試験方法においては、記憶
させていた基準コイルの自己減衰振動電圧波形から所定
の偏差を持つ上限波形と下限波形を生成し、被測定コイ
ルから得られる自己減衰振動波形と前記上限波形と下限
波形とを同期させたタイミングで比較し、被測定コイル
の自己減衰振動波形が前記上限波形と下限波形との間に
おさまっているか否によって、当該被測定コイルの特性
を試験するようにした。
って、本発明にかかるコイル試験方法においては、記憶
させていた基準コイルの自己減衰振動電圧波形から所定
の偏差を持つ上限波形と下限波形を生成し、被測定コイ
ルから得られる自己減衰振動波形と前記上限波形と下限
波形とを同期させたタイミングで比較し、被測定コイル
の自己減衰振動波形が前記上限波形と下限波形との間に
おさまっているか否によって、当該被測定コイルの特性
を試験するようにした。
そして、本発明にかかるコイル試験装置においては、被
測定コイルにインパルス電圧を印加させるインパルス電
圧発生回路と、被測定コイルに生じた自己減衰振動電流
を検出して自己減衰振動電圧波形を得る自己減衰振動波
形検出回路と、基準コイルの自己減衰振動電圧波形のデ
ータを記憶した記憶手段と、該記憶手段から読みだした
前記基準コイルの自己減衰振動電圧波形のデータに基づ
いて上限波形と下限波形を生戒する上下限波形生成回路
と、前記被測定コイルの自己減衰振動電圧波形と前記上
限波形および下限波形を同期させて前記波形比較回路に
入力する制御回路と、被測定コイルの自己減衰振動電圧
波形が前記上限波形と下限波形の間におさまるか否かを
比較する波形比較回路とを備えるという手段を講じた。
測定コイルにインパルス電圧を印加させるインパルス電
圧発生回路と、被測定コイルに生じた自己減衰振動電流
を検出して自己減衰振動電圧波形を得る自己減衰振動波
形検出回路と、基準コイルの自己減衰振動電圧波形のデ
ータを記憶した記憶手段と、該記憶手段から読みだした
前記基準コイルの自己減衰振動電圧波形のデータに基づ
いて上限波形と下限波形を生戒する上下限波形生成回路
と、前記被測定コイルの自己減衰振動電圧波形と前記上
限波形および下限波形を同期させて前記波形比較回路に
入力する制御回路と、被測定コイルの自己減衰振動電圧
波形が前記上限波形と下限波形の間におさまるか否かを
比較する波形比較回路とを備えるという手段を講じた。
コイルにインパルス電圧を印加して生じる自己減衰振動
電圧波形の減衰時間特性は、当該コイルのインダクタン
ス，抵抗値，浮遊容量等の特性の違いにより変化し、同
特性のコイルどうしでは、その自己減衰振動電圧波形も
同様な減衰時間特性が顕れる。
電圧波形の減衰時間特性は、当該コイルのインダクタン
ス，抵抗値，浮遊容量等の特性の違いにより変化し、同
特性のコイルどうしでは、その自己減衰振動電圧波形も
同様な減衰時間特性が顕れる。
よって、本発明にかかるコイル試験方法では、記憶させ
ていた基準コイルの自己減衰振動電圧波形から所定の偏
差を持つ上限波形と下限波形を生威し、被測定コイルか
ら得られる自己減衰振動波形と前記上限波形と下限波形
とを同期させたタイミングで比較するので、当該コイル
のインダクタンス，抵抗値，浮遊容量等の特性の違いや
、巻線のショートや放電があれば、被測定コイルの自己
減衰振動波形が前記上限波形と下限波形との間からはみ
出すことで、特性の良否を判定できるのである。
ていた基準コイルの自己減衰振動電圧波形から所定の偏
差を持つ上限波形と下限波形を生威し、被測定コイルか
ら得られる自己減衰振動波形と前記上限波形と下限波形
とを同期させたタイミングで比較するので、当該コイル
のインダクタンス，抵抗値，浮遊容量等の特性の違いや
、巻線のショートや放電があれば、被測定コイルの自己
減衰振動波形が前記上限波形と下限波形との間からはみ
出すことで、特性の良否を判定できるのである。
以下に本発明にかかるコイル試験方法とその方法に用い
る装置の好適な実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。
る装置の好適な実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。
第１図は前記実施例のコイル試験装置のブロック図，第
２図は前記コイル試験装置の各部の信号波形図である。
２図は前記コイル試験装置の各部の信号波形図である。
第１図において、１はインパルス電圧発生回路、２Ｂは
被測定コイル、３は分圧回路、４はＡ／Ｄ変換回路、５
はＲＡＭ，６はＤ／Ａ変換回路、７はフィルタ、８は上
限コンパレータ、９は下限コンパレータ、１０は比較結
果表示器、１１はＣＲＴ表示器、ｌ２は制御回路である
。
被測定コイル、３は分圧回路、４はＡ／Ｄ変換回路、５
はＲＡＭ，６はＤ／Ａ変換回路、７はフィルタ、８は上
限コンパレータ、９は下限コンパレータ、１０は比較結
果表示器、１１はＣＲＴ表示器、ｌ２は制御回路である
。
上記構或のコイル試験装置において、まず特性の知られ
た基準コイル２Ａをセットして、前記制御回路１２から
のタイミング信号ａに基づいてトリガー回路を作動させ
てインパルス電圧発生回路１にてインパルス電圧を発生
させて基準コイル２Ａに印加すると、該基準コイル２Ａ
に減衰振動ｂが発生するので、その減衰振動ｂを電圧波
形として取り出し、Ａ／Ｄ変換回路４にてデジタル信号
Ｃに変換して、ＲＡＭ５に記憶させる。このＲＡＭ５と
しては、バッテリーバックアップされたＲＡＭでも、基
準データを記憶させた着脱可能なＥＰ−ＲＯＭ等のメモ
リユニットでも磁気ディスク等の外部メモリと連動する
ＲＡＭでも良い。いずれも高速動作可能な記憶手段が適
している。
た基準コイル２Ａをセットして、前記制御回路１２から
のタイミング信号ａに基づいてトリガー回路を作動させ
てインパルス電圧発生回路１にてインパルス電圧を発生
させて基準コイル２Ａに印加すると、該基準コイル２Ａ
に減衰振動ｂが発生するので、その減衰振動ｂを電圧波
形として取り出し、Ａ／Ｄ変換回路４にてデジタル信号
Ｃに変換して、ＲＡＭ５に記憶させる。このＲＡＭ５と
しては、バッテリーバックアップされたＲＡＭでも、基
準データを記憶させた着脱可能なＥＰ−ＲＯＭ等のメモ
リユニットでも磁気ディスク等の外部メモリと連動する
ＲＡＭでも良い。いずれも高速動作可能な記憶手段が適
している。
次に、特性の未知の被測定コイル２Ｂをセットし、上記
同様に前記制御回路１２からのタイミング信号ａに基づ
いてトリガー回路を作動させてインパルス電圧発生回路
ｌにてインパルス電圧を発生させて被測定コイル２Ｂに
印加すると、該被測定コイル２Ｂに測定減衰振動ｆが発
生するので、その測定減衰振動ｆを上限コンパレータ８
と下限コンパレータ９の比較入力端子に入力する。
同様に前記制御回路１２からのタイミング信号ａに基づ
いてトリガー回路を作動させてインパルス電圧発生回路
ｌにてインパルス電圧を発生させて被測定コイル２Ｂに
印加すると、該被測定コイル２Ｂに測定減衰振動ｆが発
生するので、その測定減衰振動ｆを上限コンパレータ８
と下限コンパレータ９の比較入力端子に入力する。
この時、同じタイミングで前記ＲＡＭ５に記憶させてい
たデータを再生して、フィルタ７に入力して上限波形ｄ
と下限波形ｅとを得て、それぞれ上限コンパレータ８と
下限コンパレータ９の基準入力端子に入力する。
たデータを再生して、フィルタ７に入力して上限波形ｄ
と下限波形ｅとを得て、それぞれ上限コンパレータ８と
下限コンパレータ９の基準入力端子に入力する。
このとき上限コンパレータ８と下限コンパレータ９にお
いては、被測定コイル２Ｂが規格を満足する良品であれ
ば、第２図に示されたように、上限波形ｄと下限波形ｅ
の間に前記測定減衰振動ｆが挟まれた状態となる。
いては、被測定コイル２Ｂが規格を満足する良品であれ
ば、第２図に示されたように、上限波形ｄと下限波形ｅ
の間に前記測定減衰振動ｆが挟まれた状態となる。
ところが、規格外の品質の場合は、上限波形ｄと下限波
形ｅの間に収まりきれずにはみ出す部分がでてくる。即
ち、上限コンパレータ８と下限コンパレータ９のいずれ
かから規格幅を逸脱したことを示す信号が出力されＯＲ
回路１３から不合格信号ｇが出力され、比較結果表示器
１０にて不合格が表示される。
形ｅの間に収まりきれずにはみ出す部分がでてくる。即
ち、上限コンパレータ８と下限コンパレータ９のいずれ
かから規格幅を逸脱したことを示す信号が出力されＯＲ
回路１３から不合格信号ｇが出力され、比較結果表示器
１０にて不合格が表示される。
ＣＲＴ表示装置ｌ１に前記上限波形ｄ，下限波形ｅ，及
び前記測定減衰振動ｆを表示させることにより、特性を
直接視認できる。
び前記測定減衰振動ｆを表示させることにより、特性を
直接視認できる。
このとき、前記フィルタ７の時定数等を選定することに
より、Ｄ／Ａ変換器の波形歪みを排除し、コロナ放電等
の高周波の異常現象のパルスを上限コンパレータ８と下
限コンパレータ９にて検知して発見することができる。
より、Ｄ／Ａ変換器の波形歪みを排除し、コロナ放電等
の高周波の異常現象のパルスを上限コンパレータ８と下
限コンパレータ９にて検知して発見することができる。
このようにして、被測定コイルのインダクタンス，抵抗
値，浮遊容量，コイル巻線のレヤーショートやコロナ放
電の有無等の特性を短時間でチェックできるのである。
値，浮遊容量，コイル巻線のレヤーショートやコロナ放
電の有無等の特性を短時間でチェックできるのである。
また、上記測定工程は速やかに終了するので、一つの被
測定コイルに対して複数回繰り返し測定することにより
、不良品の発見率が高くなる。
測定コイルに対して複数回繰り返し測定することにより
、不良品の発見率が高くなる。
また、上限波形ｄと下限波形ｅの生成や基準値との比較
をハードウエアにて処理するのでソフトウエアによる演
算時間等を必要とせず、測定時間を短縮することができ
るとともにコストダウンも可能となる。
をハードウエアにて処理するのでソフトウエアによる演
算時間等を必要とせず、測定時間を短縮することができ
るとともにコストダウンも可能となる。
また、ＲＡＭ５により記憶された基準コイル２Ａのデー
タはＤ／Ａ変換器６から階段波で出力されるので、これ
をフィルタ７に通すことによって基準コイル２Ａの自己
減衰振動波形の近似波形を再現することができる。即ち
、標本化定理によって少ないデータ量で自己減衰振動波
形の近似波形を再現できるので、１個のＲＡＭで多数の
基準コイルのデータを記憶することができるのである。
タはＤ／Ａ変換器６から階段波で出力されるので、これ
をフィルタ７に通すことによって基準コイル２Ａの自己
減衰振動波形の近似波形を再現することができる。即ち
、標本化定理によって少ないデータ量で自己減衰振動波
形の近似波形を再現できるので、１個のＲＡＭで多数の
基準コイルのデータを記憶することができるのである。
このため、従来のようなフレキシブル磁気ディスク装置
等の外部記憶装置を必要としないので、装置を安価に提
供できるという効果が得られる。
等の外部記憶装置を必要としないので、装置を安価に提
供できるという効果が得られる。
また、被測定コイルの自己減衰振動波形のデータは、Ａ
／Ｄ変換器を通さずにアナログ信号のままで比較するの
で、波形が積分波形歪を起こさなｑ １０ い。よって、コロナ放電およびレヤーショートによる高
調波成分も比較できるので、従来のように被測定コイル
の自己減衰振動波形もＡ／Ｄ変換して記憶させる方法に
比較して、コロナ放電およびレヤーショート等による被
測定コイルの不良を正確に判別できるのである。
／Ｄ変換器を通さずにアナログ信号のままで比較するの
で、波形が積分波形歪を起こさなｑ １０ い。よって、コロナ放電およびレヤーショートによる高
調波成分も比較できるので、従来のように被測定コイル
の自己減衰振動波形もＡ／Ｄ変換して記憶させる方法に
比較して、コロナ放電およびレヤーショート等による被
測定コイルの不良を正確に判別できるのである。
上述したように、本発明にかかるコイル試験方法によれ
ば、上限波形と下限波形の生成や基準値との比較をハー
トウエアにて処理するのでソフトウエアによる演算時間
等を必要とせず、測定時間を短縮することができるとと
もにコストダウンも可能となり、よって、被測定コイル
のインダクタンス，抵抗値，浮遊容量，コイル巻線のレ
ヤーショートやコロナ放電の有無等の特性を短時間で測
定できるという効果が得られるのである。
ば、上限波形と下限波形の生成や基準値との比較をハー
トウエアにて処理するのでソフトウエアによる演算時間
等を必要とせず、測定時間を短縮することができるとと
もにコストダウンも可能となり、よって、被測定コイル
のインダクタンス，抵抗値，浮遊容量，コイル巻線のレ
ヤーショートやコロナ放電の有無等の特性を短時間で測
定できるという効果が得られるのである。
また、上記測定工程は速やかに終了するので、一つの被
測定コイルに対して複数回繰り返し測定することにより
、不良品の発見率が高くなり、製品の品質を高くするこ
とができるのである。
測定コイルに対して複数回繰り返し測定することにより
、不良品の発見率が高くなり、製品の品質を高くするこ
とができるのである。
また、被測定コイルの自己減衰振動波形のデータは、Ａ
／Ｄ変換器を通さずにアナログ信号のままで比較するこ
とにより、高調波成分に現れるコロナ放電およびレヤー
ショート等による被測定コイルの不良を正確に判別でき
る高性能のコイル試験装置を提供することができるので
ある。
／Ｄ変換器を通さずにアナログ信号のままで比較するこ
とにより、高調波成分に現れるコロナ放電およびレヤー
ショート等による被測定コイルの不良を正確に判別でき
る高性能のコイル試験装置を提供することができるので
ある。
第１図は本発明にかかるコイル試験方法とその方法に用
いる装置の一実施例のコイル試験装置のブロック図，第
２図は前記コイル試験装置における上限波形と下限波形
と被測定コイルの自己減衰振動波形との関係を示す波形
図、第３図は従来の方法におけるＡ／Ｄ変換による波形
歪の発生を説明する為の波形図である。 ■・・・インパルス電圧発生回路、２Ｂ・・・被測定コ
イル、４・・・Ａ／Ｄ変換回路、５・・・ＲＡＭ，６・
・・Ｄ／Ａ変換回路、７・・・フィルタ、８・・・上限
コンパレー夕、９・・・下限コンパレー夕、１２・・・
制御回路。
いる装置の一実施例のコイル試験装置のブロック図，第
２図は前記コイル試験装置における上限波形と下限波形
と被測定コイルの自己減衰振動波形との関係を示す波形
図、第３図は従来の方法におけるＡ／Ｄ変換による波形
歪の発生を説明する為の波形図である。 ■・・・インパルス電圧発生回路、２Ｂ・・・被測定コ
イル、４・・・Ａ／Ｄ変換回路、５・・・ＲＡＭ，６・
・・Ｄ／Ａ変換回路、７・・・フィルタ、８・・・上限
コンパレー夕、９・・・下限コンパレー夕、１２・・・
制御回路。
Claims (2)
- （１）被測定コイルにインパルス電圧を印加し、生じる
自己減衰振動電圧波形を基準となる基準コイルの自己減
衰振動電圧波形と比較することによって、前記測定コイ
ルの特性を試験するコイル試験方法において、記憶させ
ていた基準コイルの自己減衰振動電圧波形から所定の偏
差を持つ上限波形と下限波形を生成し、被測定コイルか
ら得られる自己減衰振動波形と前記上限波形と下限波形
とを同期させたタイミングで比較し、被測定コイルの自
己減衰振動波形が前記上限波形と下限波形との間におさ
まっているか否によって、当該被測定コイルの特性を試
験することを特徴とするコイル試験方法。 - （２）被測定コイルにインパルス電圧を印加させるイン
パルス電圧発生手段と、被測定コイルに生じた自己減衰
振動電流を検出して自己減衰振動電圧波形を得る自己減
衰振動波形検出手段と、基準コイルの自己減衰振動電圧
波形のデータを記憶した記憶手段と、 該記憶手段から読みだした前記基準コイルの自己減衰振
動電圧波形のデータに基づいて上限波形と下限波形を生
成する上下限波形生成手段と、前記被測定コイルの自己
減衰振動電圧波形と前記上限波形および下限波形を同期
させて前記波形比較回路に入力する制御回路と、 被測定コイルの自己減衰振動電圧波形が前記上限波形と
下限波形の間におさまるか否かを比較する波形比較手段
とを備えたことを特徴とするコイル試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1234119A JPH0396872A (ja) | 1989-09-08 | 1989-09-08 | コイル試験方法とその方法に用いる装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1234119A JPH0396872A (ja) | 1989-09-08 | 1989-09-08 | コイル試験方法とその方法に用いる装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0396872A true JPH0396872A (ja) | 1991-04-22 |
Family
ID=16965933
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1234119A Pending JPH0396872A (ja) | 1989-09-08 | 1989-09-08 | コイル試験方法とその方法に用いる装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0396872A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0843477A (ja) * | 1994-07-27 | 1996-02-16 | Haruyoshi Matsubara | コイル耐圧試験機のインパルス発生回路およびコイル耐圧試験機 |
| JP2000097982A (ja) * | 1998-09-21 | 2000-04-07 | Ikd:Kk | コイル試験評価装置 |
| WO2012073534A1 (ja) * | 2010-12-03 | 2012-06-07 | オムロン株式会社 | 短絡検出装置、昇圧装置、太陽光発電システム、短絡検出方法、およびプログラム |
| JP2012149971A (ja) * | 2011-01-19 | 2012-08-09 | Hitachi Ltd | インバータ駆動回転電機の部分放電試験法 |
-
1989
- 1989-09-08 JP JP1234119A patent/JPH0396872A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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