JPH0673227B2

JPH0673227B2 - 磁気デイスク特性測定装置

Info

Publication number: JPH0673227B2
Application number: JP60042165A
Authority: JP
Inventors: 和俊山口
Original assignee: ソニ−・テクトロニクス株式会社
Priority date: 1985-03-04
Filing date: 1985-03-04
Publication date: 1994-09-14
Anticipated expiration: 2009-09-14
Also published as: JPS61201173A

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、論理信号「１」及び「０」を交互に記憶する
書込み処理が行なわれた磁気ディスクに所定アナログ・
レベル以上の論理信号が記憶されているかによって、磁
気ディスクの特性を測定する磁気ディスク特性測定装置
に関する。

〔従来の技術〕

磁気ディスクの特性に調べるには種々の測定項目がある
が、その１つに、磁気ディスクに所定アナログ・レベル
以上で論理信号が記憶されているかを調べる測定項目が
ある。この測定を行なうには、まず被測定磁気ディスク
に論理信号「１」及び「０」を交互に書込み、次にこの
磁気ディスクの記憶内容を順次読出す。磁気ディスクが
正常ならば、ほぼ正弦波の所定振幅の読出し信号が得ら
れる。しかし、磁気ディスクに欠陥があると、その欠陥
部分に対応する読出し信号の振幅が所定値以下になって
しまう。この欠陥部分の位置を知る必要がある。

この測定を行なう従来技術では、デジタル・オシロスコ
ープ、波形記憶装置等の測定器（入力信号をデジタル化
するA/D変換器、このA/D変換器のデジタル出力信号を記
憶するメモリ、メモリの記憶内容をアナログ化するD/A
変換器、D/A変換器のアナログ出力信号を表示する表示
器を備えている）により被測定磁気ディスクの読出し信
号を表示器に表示して測定した。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上述の従来技術においては、デジタル・オシロスコープ
等の高価な測定器が必要であるという欠点があった。ま
た、磁気ディスクの欠陥位置を調べるには、測定者が表
示器の表示波形の振幅の所定値以下の部分を探し、その
部分を時間軸から換算しなければならず面倒であった。
更に、磁気ディスク駆動装置の特性及び被測定磁気ディ
スクの特性により、この磁気ディスクの読出し信号の周
期が一定でない場合がある。この場合に正確に欠陥位置
を求めるには、読出し信号の周期の数を計数しなければ
ならず、上述の従来技術では測定が一層面倒であった。
このような場合、磁気ディスクの読出し信号をパルス化
してカウンタで計数することも考えられるが、欠陥位置
では読出し信号の振幅が小さ過ぎるか、まったくないの
で、パルス信号が発生せず、２番目以降の欠陥位置が求
められないという問題が生じる。

そこで本発明の目的は、各欠陥位置を正確に知ることの
できる磁気ディスク特性測定装置を提供することであ
る。

本発明の別の目的は高価なデジタル・オシロスコープ等
を用いることなく安価な低速素子で構成できる磁気ディ
スク特性装置を提供することである。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明の磁気ディスク特性測定装置は、パルス信号を発
生するパルス発生器と、論理信号「１」及び「０」を交
互に記憶する書込み処理が行なわれた磁気ディスクをパ
ルス信号に同期して読出す駆動装置と、この駆動装置の
読出し出力信号の最大値及び最小値包絡線電圧を検出す
る包絡線電圧検出器と、この包絡線電圧検出器の検出し
た最大値包絡線電圧及び最小値包絡線電圧の少なくとも
一方が所定電圧範囲内のとき出力信号を発生する比較回
路と、この比較回路が出力信号を発生している期間、パ
ルス発生器からのパルス信号に応じたパルスを計数する
第１カウンタと、比較回路が出力信号を発生している期
間パルス発生器からのパルス信号を選択し、その他の期
間駆動装置の読出し出力信号に同期したパルス信号を選
択するスイッチ回路と、このスイッチ回路の出力パルス
信号を計数する第２カウンタとを具え、第１及び第２カ
ウンタの計数内容により磁気ディスクの特性を測定す
る。

〔作用〕

本発明によれば、包絡線電圧検出器が論理信号「１」に
対応する最大値包絡線電圧及び論理信号「０」に対応す
る最小値包絡線電圧を検出する。比較回路はこれら検出
した最大値及び最小値包絡線電圧が所定電圧範囲のと
き、即ちこれら包絡線電圧が夫々の所定電圧に達しない
磁気ディスクの欠陥部分の読出し信号のとき出力信号を
発生する。一方、そのときまで第２カウンタは駆動装置
の読出し出力信号に同期したパルス信号を計数している
ので、磁気ディスクの欠陥位置が正確に判る。また、比
較回路が出力信号を発生している期間、第１カウンタは
読出し動作に同期したパルス発生器からのパルス信号を
計数するので、欠陥位置から読出せない論理信号の数
（欠陥論理信号数）が判る。更に、比較回路が出力信号
を発生している期間、第２カウンタはパルス発生器から
のパルス信号を計数するので、２番目以降の欠陥位置も
ほぼ正確に判る。すなわち、駆動装置からの読出し信号
に応じたパルスを第１及び第２カウンタが常に計数する
のが正確な測定には望ましいが、本発明では駆動装置か
らの読出し信号が異常な場合、測定が不能となるため、
この場合のみパルス発生器からのパルス信号を代用し
て、より一層正確な測定が行なえるようにしている。ま
た、高価なデジタル・オシロスコープ等を使用しないの
で、構成が安価となる。更に、包絡線電圧検出器の出力
電圧は少なくとも読出し信号の１サイクル中安定してい
るので、比較回路に低速素子を利用できる。

〔実施例〕

第１図は本発明の好適な一実施例のブロック図である。
マイクロプロセッサ等の中央処理装置の（CPU）12、こ
のCPU12を制御するプログラムを記憶したROM14、CPU12
の一時記憶装置として働くRAM16は、バス（データ線、
アドレス線、制御線を含む）10に接続され、第１図に示
す装置の制御手段として作用する。キーボード18は入力
装置であり、表示器20は測定結果を表示するものであ
り、これらはバス10に接続される。

磁気ディスク駆動装置22はバス10からの制御信号及びパ
ルス発生器24からのパルス信号Ｈに応じて、被測定ディ
スクに試験信号を書込んだり、書込まれた試験信号を読
出す装置である。包絡線電圧検出器25は、駆動装置22か
らの読出し信号Ａの最大値包絡線電圧Ｂ及び最小値包絡
線電圧Ｃを検出する。この検出器25の構成は、例えば特
開昭58−94198号公報又は特願昭59−265960号に開示さ
れたものでよい。比較器26は最大値包絡線電圧Ｂが所定
電圧VH以下でないか、即ち論理「１」の振幅（正電圧）
が小さ過ぎないかを判断し、小さ過ぎる場合に出力パル
スＤを発生する。一方、比較器28は最小値包絡線電圧Ｃ
が所定電圧VL以上でないか、即ち論理「０」の振幅（負
電圧）が小さ過ぎないかを判断し、小さ過ぎる場合に出
力パルスＥを発生する。オア・ゲート30は出力パルスＤ
及びＥの少なくとも一方が発生しているときに出力パル
スＦを発生する。よって、比較器26、28及びオア・ゲー
ト30は、最大値及び最小値包絡線電圧の少なくとも一方
が電圧VL及びVHで決まる所定の異常電圧範囲内のとき出
力信号Ｆを発生する比較回路となる。

駆動装置22からの読出し信号Ａはコンデンサ32を介して
比較器34に供給され、接地レベルと比較される。よっ
て、比較器34の出力信号Ｇは読出し信号Ａのゼロクロス
で変化するパルス信号である。アンド・ゲート36は、オ
ア・ゲート30の出力信号Ｆが発生している期間、パルス
発生器24からのパルス信号Ｈを通過させる。単安定マル
チバイブレータ（モノマルチ）38及び40はアンド・ゲー
ト36の出力パルスＩの立上り及び立下りにより夫々トリ
ガされ、出力パルスＩの半周期以下のパルス幅の出力パ
ルスを発生する。これら出力パルスはオア・ゲート42を
介してカウンタ44のクロック端子Ｃに供給され、計数さ
れる。このカウンタ44はバス10からの信号によりリセッ
トされる。

オア・ゲート30の出力信号Ｆに制御されるマルチプレク
サ等のスイッチ回路46は、出力信号Ｆが発生している
（論理「１」）とき比較器34の出力パルスＧを選択し、
出力信号Ｆが発生していない（論理「０」）ときパルス
発生器24からのパルス信号Ｈを選択する。カウンタ48は
そのクロック端子Ｃにスイッチ回路46の出力パルスＪを
受けてこれを計数すると共に、駆動装置22からのインデ
ックス・パルス又はバス10からの制御信号によりリセッ
トされる。このインデックス・パルスは磁気ディスクの
基準位置を示す信号である。RAM等のメモリ50はアドレ
ス端子Ａ及びデータ端子Ｄに夫々カウンタ44及び48の計
数値を受ける。メモリ50のアドレス端子Ａ及びデータ端
子Ｄはバス10にも接続されている。異常が発生したとき
のみメモリ50を書込みモードとするため、オア・ゲート
42の出力信号を遅延回路52及びモノマルチ54を介してメ
モリ50の書込み制御端子Ｗに供給する。なお、遅延回路
52の遅延時間はカウンタ44の伝搬遅延時間に対応し、モ
ノマルチ54の出力パルス幅は読出し信号の半サイクル以
下であるが、メモリ50の書込み動作には充分な期間であ
る。

次に第２図の波形図を参照して第１図の動作を説明す
る。まずキーボード18を操作して、試験パターン信号を
被測定磁気ディスクに書込む命令を入力する。この命令
により、CPU12は駆動装置22を制御し、パルス発生器24
からのパルス信号Ｈに同期して、論理信号「１」及び
「０」が交互に繰返す試験パターン信号を磁気ディスク
に書込む。キーボード18を介して測定命令が入力される
と、カウンタ44及び48をリセットすると共に、駆動装置
22をパルス信号Ｈに同期した読出しモードとして磁気デ
ィスクの所望のトラックを読出す。駆動装置22の読出し
信号Ａが第２図に示す如く、振幅が小さくなり、なくな
った後、再び元に戻る場合、包絡線電圧Ｂ及びＣと所定
電圧VH及びVLとの関係は第２図のようになる。なお、読
出し信号Ａが上述の理由によりパルス信号Ｈに完全に同
期していない点に留意されたい。比較器26の出力パルス
Ｄは最大値包絡線電圧Ｂが異常の時点T1及びT4間で論理
「１」となる。一方、比較器28の出力パルスＥは最小値
包絡線電圧Ｃが異常の時点T2及びT3間で論理「１」とな
る。よって、オア・ゲート30は包絡線電圧Ｂ及びＣの少
なくとも一方が異常の時点T1及びT4で出力信号Ｆを発生
する（論理「１」となる）。

時点T1以前において、スイッチ回路46が比較器34の出力
パルスＧを選択するので、カウンタ48の計数値はインデ
ックス・パルスが発生してからの正確な位置を読出し信
号Ａに同期したパルスの数で表わす。一方、カウンタ44
はリセットされたままである。読出し信号Ａが異常とな
る時点T1以後、スイッチ回路46はパルス信号Ｈを選択す
るので、カウンタ48の計数値は現在の読出し信号Ａの磁
気ディスク上の疑似的な位置を示す。しかも、パルス信
号Ｈが読出し信号Ａにほぼ同期しているので、カウンタ
48が示す位置もほぼ正確である。一方、アンド・ゲート
36はパルス信号Ｈを通過させるので、モノマルチ38、40
及びオア・ゲート42の作用により、カウンタ44は読出し
信号Ａが異常期間の論理「１」及び「０」の数を計数す
る。また、メモリ50が一時的に書込みモードになるの
で、メモリ50のアドレス１には磁気ディスクが最初に異
常になった位置情報（論理「１」又は「０」が記憶され
ている）が記録され、アドレス２には磁気ディスクの２
番目の異常位置情報（論理「０」又は「１」が記憶され
ている）が記憶される。以下同様な動作を繰返す。

時点T4において、読出し信号Ａが正常に戻ると、スイッ
チ回路46はパルス信号Ｇを選択し、アンド・ゲート36は
閉じる。よって、時点T1以前と同様な動作をする。CPU1
2が駆動装置22からのインデックス・パルスを監視し、
磁気ディスクの被測定トラックの全記憶内容を読出した
ことを検知すると、メモリ50への記録が終わる。通常、
メモリ50は読出しモードにあるので、次にCPU12はメモ
リ50の内容を読出し、磁気ディスクのインデックス位置
を基準とした欠陥位置を表示器20に表示する。

上述は本発明の好適な一実施例について説明したが、本
発明の要旨を逸脱することなく種々の変形及び変更が可
能である。例えば、アンド・ゲート36の出力パルスをカ
ウンタ44のクロック端子に直接供給してもよいし、カウ
ンタ44及び48の計数値をメモリ50のデータ端子及びアド
レス端子に夫々供給してもよい。

〔発明の効果〕

上述の如く本発明によれば、デジタル・オシロスコープ
等の高価な測定器を使用しないので構成が安価となる。
また、磁気ディスクの読出し信号に応じたパルス信号を
計数しているので、最初の欠陥位置を正確に知ることが
できる。また、読出し信号が異常で読出し信号に応じた
パルス信号が得られないときは、読出し動作に用いるパ
ルス信号を引き続き計数するので、２番目以降の欠陥位
置もほぼ正確に知ることができる。更に包絡線電圧検出
器の出力信号は読出し信号の少なくとも１サイクル中安
定しているので、比較回路は安価な低速素子で構成でき
る。欠陥論理信号数は、各欠陥位置での論理信号の数の
累積値であっても、その累積値は欠陥が検出される毎に
メモリに書込まれるので、各欠陥位置での論理信号の数
も正確に知ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の好適な一実施例のブロック図、第２図
は第１図の動作を説明する波形図である。図において、22は駆動装置、24はパルス発生器、25は包
絡線電圧検出器、26、28及び30は比較回路、44及び48は
カウンタ、46はスイッチ回路である。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】パルス信号を発生するパルス発生器と、上記パルス信号に同期して論理信号「１」及び「０」を
磁気ディスクに交互に書込み処理し、該書込み処理が行
なわれた磁気ディスクを上記パルス信号に同期して読出
す駆動装置と、該駆動装置の読出し出力信号の最大値及び最小値の包絡
線電圧を検出する包絡線電圧検出器と、該包絡線電圧検出器の検出した最大値包絡線電圧及び最
小値包絡線電圧の少なくとも一方が所定電圧範囲内のと
きを異常として出力信号を発生する比較回路と、該比較回路が出力信号を発生している期間、上記パルス
信号に応じたパルスを計数する第１カウンタと、上記比較回路が出力信号を発生している期間上記パルス
信号を選択し、その他の期間上記駆動装置の読出し出力
信号に同期したパルス信号を選択するスイッチ回路と、該スイッチ回路の出力パルス信号を計数する第２カウン
タと、該第２カウンタの計数値を上記磁気ディスクの異常位置
情報とし、上記第１カウンタの計数値を上記磁気ディス
クの欠陥論理信号数情報として、上記比較回路の出力信
号の発生時に書込み動作を行うメモリとを具えた磁気デ
ィスク特性測定装置。