JPH0450990B2

JPH0450990B2 -

Info

Publication number: JPH0450990B2
Application number: JP59140931A
Authority: JP
Inventors: Yasuji Sakurai
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1984-07-06
Filing date: 1984-07-06
Publication date: 1992-08-17
Also published as: JPS6122261A

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、簡単な手法を用いてパルス信号の波
形測定を自動的に行い得るパルス信号測定方法に
関する。

網制御装置（NCU）を備えた装置においては、
公衆回線接続の為のダイヤルパルスを発する機能
を備えている。

〔従来の技術〕従つて、装置出荷前の検査工程においては、こ
のダイヤルパルス発生回路の動作試験が行われ
る。従来においては、このNCU部を試験用の公
衆回線網に接続し、その出力パルスをシンクロス
コープ等によつて測定するものであつた。そして
シンクロスコープ上のパルス波形を試験者の目視
によつて測定するものであつた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上述の如く従来においては、NCU部の動作試
験の為のシステムが大がかりのものとなり、コス
ト高等を招く結果となつていた。しかもシンクロ
スコープによつて、通常の回線回線と同様のレベ
ル（例えば−4.8V）を測定するものであり、少
なからず作業者、試験者の取扱いに十分な配慮を
払う必要もある。またパルス信号の測定は、最終
的には試験者による目視に頼るものであり、測定
結果における信頼性の点でも問題があつた。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は上述した問題点を解決する手段を提供
することを目的としている。そしてその為に、パ
ルス信号の間隔、即ちパルスの立下りから次のパ
ルスの立上り時間を計時する第１タイマと、１つ
のパルスの周期を計時する第２のタイマと、これ
ら第１、第２のタイマを制御するプロセツサを設
けて、これらのタイマ出力に基いてパルス信号の
波形測定を行うよう構成するとともに、網制御装
置にTTLの電圧源を印加し、かつ網制御装置の
出力側にチヤタリング防止回路を設ける。

〔作用〕

周知の如くパルス信号は、２値（マーク、スペ
ース等）のレベルを呈すものである。従つて第１
のタイマにて、パルス信号のマーク（“Ｌ”）レベ
ル期間を計時し、更に第２のタイマにてそのパル
ス周期を計時することによつて、インパルス速度
及びメイク率を簡単に求めることが可能となる。
また、測定するパルス信号が上述したNCU部に
おけるダイヤルパルスであれば、第１のタイマに
よつて、各桁間のミニマムポーズ時間をも同時に
計時できるものである。また、網制御装置に
TTLレベルの電圧源を印加して低電圧化を実現
し、チヤタリング防止回路を設けることにより、
測定結果が正確となる。

以下実施例を用いて本発明を詳述する。

〔実施例〕

第１図は本発明の一実施例を示す図である。

即ち本実施例では、被測定装置のNCU１０に
TTLレベルの＋5V電圧源１を印加するものであ
る。２はタイマ回路であり、後述の如く３つのタ
イマを有するプログラマブルの測定回路である。
３はプロセツサ（以下CPUと称す）であつて、
タイマ回路２からの計時結果を受けて、パルス信
号に示されるインパルス速度、メイク率、ミニマ
ムポーズ時間を算出するもの、４はデイスプレイ
装置、５はプリンタであり、CPU３による算出
結果が表示或いはプリント出力されるものであ
る。

第２図は第１図実施例におけるNCU部１０と
タイマ回路２との接続形態を示す図である。即ち
NCU部１０の回線接続端子１０′，１０′には、
電圧源１からの出力端子が接続される。尚抵抗Ｒ
及びコンデンサＣにより、出力ダイヤルパルス信
号におけるチヤタリングを防止する回路を構成し
ている。タイマ回路２は、＋5Vが印加される出力
端子にインバータ６を介して接続される。

第３図はNCU部１０より送出されるダイヤル
パルスの一般的な信号波形を示す図である。ダイ
ヤルパルスは、NCU部１０による極性検出の後
一定時間（図で３秒）経過後に、各桁のダイヤル
番号に対応したパルスが発せられる。このダイヤ
ルパルスの信号波形において、パルス周期をt_c、
メイク時間をt_nとすると、パルス測定におけるイ
ンパルス速度（pps）及びメイク率（％）は以下
のように表される。

インパルス速度＝１（秒）／t_cpps メイク率＝t_n／t_c×100％更にパルス測定においては、各桁間のダイヤル
パルスの区切り時間（ミニマムポーズ時間）t_pも
測定される。

第４図は本実施例におけるパルス測定動作を示
すタイムチヤート、第５図はこの測定動作を行う
為の具体的構成を示す機能ブロツク図である。第
５図に示す如く、プロセツサ３には上述したイン
パルス速度、メイク率を演算するパルス測定部
APL３１が設けられる。一方タイマ回路２には、
３つのタイマエラー２５、タイマ制御部
TMCNT２１、測定部TMIRQ２２が設けられ
る。第４図において信号＊TDLPSはインバータ
６（第２図）を介して得られるパルス信号であ
る。またTMSTCタイマ制御部TMCNTの持つ
ステツプカウンタのカウント値を示すものであ
る。

監視タイマ２３は、APL３１からの測定要求
（命令）に応じてタイマ制御部２１によつて起動
されるもので、パルス測定の為の時間監視を行う
ものである。タイマＴ１（24）は、ダイヤルパル
ス信号：TDLPSにおける“０”レベル期間を計
時する。またタイマＴ２（25）は、同信号＊
TDLPSにおけるパルス周期を計時するものであ
る。これら各タイマ２３，２５は、予め定められ
た一定のクロツクを発するクロツク発生源２９か
らのクロツクをカウントする。

以下第６図乃至第９図のフローチヤートに基い
て、本実施例の動作を説明する。第６図及び第７
図は、CPU３のパルス測定部APL３１の動作を
示すフローチヤート、第８図はタイマ回路２にお
けるタイマ制御部TMCNT２１の動作をふすフ
ローチヤート、第９図は同じく測定部TMIRQ２
２の動作フローチヤートである。

まずパルス測定部APL３１は、デイスプレイ
４の画面上に第１１図に示す如きバイヤルパルス
の測定開始メツセージTSLA１１を表示する（ス
テツプ601〜603）。尚第１１図において記号SPは
スペースを表わす。次にAPL３１は、自己の管
理するステツプカウンカCTMEをクリアし（ス
テツプ604）、メーセージ表示行データを表示行レ
ジスタKAISUUに一時格納する。そして、キー
ボード（図示せず）からのパルス測定開始の指示
入力を待つ（ステツプ606〜607）。この指示入力
があれば、パルス測定部APL３は、測定タイマ
値を格納するアドレス値TIMMEMをインデツク
スレジスタIXにセツトするとともにタイマ制御
部TMCNT２１を起動するマクロ命令を発する。
このマクロ命令は、第１０図ａに示す如く、測定
すべき時間を指定するパラメータTMPARを含
む。即ちこのタイマー回路２は、第１０図ａに示
す如く、各種の時間測定が可能である。従つて本
実施例では、このパラメータTMPARを45（16
進）と設定する。

このマクロ命令に従つて、タイマ制御部２１及
び測定部２２が、ダイヤルパルス波形における各
種時間を測定する（即ち第８図、第９図にそれぞ
れ示す動作を行う）。タイマ回路２による時間測
定の終了は、第１０図ｂに示す如く終了情報
TMEIFとしてCPU３に通知される（ステツプ
610）。そして測定が正しく行われた場合、CPU
３のパルス測定部３１は、第７図に示すサブルー
チンDLPSSに移り（テツプ611）、インパルス速
度、メイク率、ポーズ時間を計算し、その計算結
果を順次表示データに変換する（ステツプ612，
613）。尚、レジスタMEMO５は表示データバツ
フア、MEMO３は表示桁バツフアを示す。

計算結果の表示が終了すると、パルス測定部３
１はステツプカウンタCTMEのカウント値をカ
ウントアツプし、次のパルス測定に移る。即ち本
実施例では、ステツプカウンタCTMEは00〜05
までカウントアツプされる。そしてカウント値が
00〜02までは10ppsのダイヤルパルスのインパル
ス速度（00）、メイク率（01）、及びポーズ時間
（02）の演算を指示する。カウント値03〜05は、
20ppsのインパルス速度（03）、メイク率（04）、
及びポーズ時間（05）の演算を指示する。

次に第８図及び第９図を用いてタイマ回路２の
動作を説明する。上述の如くCPU３からのマク
ロ命令（第１０図ａ）によつてタイマ回路２は起
動される。まずタイマ制御部TMCNT２１は、
自己のステツプカウンタTMSTCをクリアする
（ステツプ801）とともに、マクロ命令で与えられ
たパラメータTMPARを読込む（ステツプ802）。
そしてこのパラメータTMPARによつて指示さ
れる処理を判別する（同803）。尚第８図及び第９
図では、ダイヤルパルス測定が指定された場合の
み動作を示し、他の処理についてはその説明を詳
述する。

タイマ制御部２１は、自己のステツプカウンタ
TMSTCの値、即ち第４図で示した値00〜06に応
じて、各タイマ動作を制御する（ステツプ804，
808，809，815）。つまり、カウンタTMSTCが値
00のもとで監視タイマ２３を起動する（ステツプ
807）。次にパルス信号＊DLPSが０レベルに落ち
たか否かをチエツクする（同810）。極性検出の後
は、最初のダイヤルパルスの立上りを検出する
（ステツプ811）。そしてダイヤルパルスの立下り
によつて、タイマT₁及びT₂，24，25を起動する
（ステツプ812〜814）。

次に、ダイヤルパルスの立上りにより測定部
TMIRQ２２が起動される（ステツプ901，902）。
そして、ステツプカウンタTM−STCの値に応じ
て（同903，904）各タイマT₁，T₂の読出しが行
われる（同905，906，909）、これら各タイマの読
出しは各サブルーチンＴ１STRM，Ｔ２STRM
にて実行され、インデツクスレジスタIX１２格
納されたアドレスに対応した領域に、そのタイマ
値が格納される（同917）。以上によりタイマ回路
２による各時間測定が行われる。

この結果、第１０図ｃに示す如く、メモリの所
定アドレス上に、メイク、周期、ポーズの各時間
がカウンタのカウント値としてセツトされCPU
３に通知されることになる。CPU３のパルス測
定部３１は、上述の如く、カウンタ回路２からの
終了情報TMEIFにより、各測定値を読出す。即
ち第７図に示す如く、自己のステツプカウンタ
CTMEの値に応じて（ステツプ701〜704）、イン
パルス速度（同707）、メイク率（同714）、ポーズ
時間（同711）を計算し、表示データに変換する
ことになる。

〔発明の効果〕

以上の如く本発明によれば、簡単なカウンタ回
路を用いて、パルス信号の波形測定をより正確に
且つ迅速に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す図、第２図は
実施例の要部構成図、第３図はダイヤルパルス信
号の一般的波形を示す図、第４図は本実施例の動
作タイムチヤート、第５図は機能ブロツク図、第
６図乃至第９図はその動作フローチヤート、第１
０図ａ〜ｃは動作フローチヤートにおけるデータ
フオーマツトを示す図、第１１図は表示メツセー
ジ例を示す図である。２はタイマ回路、３はプロセツサ（CPU）、４
はデイスプレイ、２１はタイマ制御部、２２は測
定部、２３〜２５はタイマ、３１はパルス測定部
をそれぞれ示す。

Claims

【特許請求の範囲】１網制御装置の発するパルス信号波形測定を行
う装置において、前記網制御装置にTTLレベル
の電圧源を印加するとともに、前記網制御装置の
出力側にチヤタリング防止回路を設け、パルス信号の測定開始指示によつて起動され、
一定の時間を計時する監視タイマと、上記パルス
信号の立下りから立上がりまでの時間を計時する
第１のタイマと、パルス信号の周期を計時する第
２のタイマと、前記第１、第２のタイマ及び監視
タイマを制御するプロセツサとを備え、前記プロ
セツサの制御により、前記第１のタイマは、前記
網制御装置から出力される複数桁の各桁における
パルス間隔を計時するとともに各桁間のミニマム
ポーズ時間を計時し、前記第２のタイマは前記パ
ルスの周期を計時することを特徴とするパルス信
号測定方法。