JPS59157579A - 磁気デイスク検査装置 - Google Patents
磁気デイスク検査装置Info
- Publication number
- JPS59157579A JPS59157579A JP3215283A JP3215283A JPS59157579A JP S59157579 A JPS59157579 A JP S59157579A JP 3215283 A JP3215283 A JP 3215283A JP 3215283 A JP3215283 A JP 3215283A JP S59157579 A JPS59157579 A JP S59157579A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- counter
- magnetic disk
- output
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/12—Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
- G01R33/1207—Testing individual magnetic storage devices, e.g. records carriers or digital storage elements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Magnetic Record Carriers (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は磁気ディスク検査装置に関する。特に、種々の
磁気ディスクの欠陥トラックを効率的に検査するに適し
た検査装置に関するものである。
磁気ディスクの欠陥トラックを効率的に検査するに適し
た検査装置に関するものである。
第１図に従来の磁気ディスク検査装置の構成例をブロッ
ク図で示す。第１図において、磁気ヘッド２は被検査デ
ィスク単板から格納情報を読出すためのものである。磁
気ヘッド２の出力は増幅回路４により増幅され、整流回
路６により全波整流される。整流された信号はコンパレ
ータ８において所定のチェックレベルＣＨＬと比較され
る。比較結果信号は単安定マルチバイブレータ１０に与
えられるが、読出しトラックが正常であればコンパレー
タ８からはパルス信号が送出され、単安定マルチバイブ
レータ１０のＱ出力は論理レベル″Ｈ＃となる。しかし
、読出しトラックに欠陥がある場合にはコンパレータ８
からパルス信号は出力されず、したがって羊安定マルチ
バイブレータ１０のＱ出力側が″Ｈ＃となる。単安定マ
ルチバイブレータ１０のＱ、Ｑ出力はそれぞれフリップ
フロップ１２．１４に今えられ、各フリップフロップ１
２ 、１４は単安定マルチバイブレータ１０の各Ｑ、Ｑ
出力の状態に応じてそれぞれ被検査ディスクのトラック
が余剰パルスが発生する欠陥トラックであることを示す
信号ＥＸＡおよびパルス抜けが発生する欠陥トラックで
あることを示す信号ＭＩＳを出力する。
ク図で示す。第１図において、磁気ヘッド２は被検査デ
ィスク単板から格納情報を読出すためのものである。磁
気ヘッド２の出力は増幅回路４により増幅され、整流回
路６により全波整流される。整流された信号はコンパレ
ータ８において所定のチェックレベルＣＨＬと比較され
る。比較結果信号は単安定マルチバイブレータ１０に与
えられるが、読出しトラックが正常であればコンパレー
タ８からはパルス信号が送出され、単安定マルチバイブ
レータ１０のＱ出力は論理レベル″Ｈ＃となる。しかし
、読出しトラックに欠陥がある場合にはコンパレータ８
からパルス信号は出力されず、したがって羊安定マルチ
バイブレータ１０のＱ出力側が″Ｈ＃となる。単安定マ
ルチバイブレータ１０のＱ、Ｑ出力はそれぞれフリップ
フロップ１２．１４に今えられ、各フリップフロップ１
２ 、１４は単安定マルチバイブレータ１０の各Ｑ、Ｑ
出力の状態に応じてそれぞれ被検査ディスクのトラック
が余剰パルスが発生する欠陥トラックであることを示す
信号ＥＸＡおよびパルス抜けが発生する欠陥トラックで
あることを示す信号ＭＩＳを出力する。
以上の検査装置において、欠陥トラックの検査を行う場
合には被検査ディスクに書込むテスト信 。
合には被検査ディスクに書込むテスト信 。
号の周波数ｆが重要であり、コンパレータ８の出力によ
り制御される単安定マルチバイブレータ１゜の時定数の
設定もテスト信号周波数に応じて行わなければならない
。
り制御される単安定マルチバイブレータ１゜の時定数の
設定もテスト信号周波数に応じて行わなければならない
。
ところが、上記従来の検査装置によれば、ディスク単板
を検査するためのテスト周波数が限定されているため、
種々のディスク装置で使用されるマルチバイブレータ１
０の時定数をその都度変更ないしは調整する必要がある
。かかる調整は多大な時間を浪費することとなり、検査
効率の低下要因となる。
を検査するためのテスト周波数が限定されているため、
種々のディスク装置で使用されるマルチバイブレータ１
０の時定数をその都度変更ないしは調整する必要がある
。かかる調整は多大な時間を浪費することとなり、検査
効率の低下要因となる。
本発明は、被検査ディスク単板のテスト周波数が異って
も回路変更をすることなく同一の回路により欠陥トラッ
クの検査を可能とする磁気ディスク検査装置を提供する
ことを目的とする。
も回路変更をすることなく同一の回路により欠陥トラッ
クの検査を可能とする磁気ディスク検査装置を提供する
ことを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明による磁気ディスク
検査装置は、一定の周波数のテスト信号が書込まれた磁
気ディスクからの読出し信号に位相ロックされたパルス
信号を発振する位相ロック発振手段と、前記読出し信号
を整流して一定の検査レベルと比較する比較手段と、こ
の比較手段の出力信号を前記パルス信号に基づいて取込
み磁気ディスクの良否判定信号を出力する判定手段とを
備えたことを特徴とするものである。
検査装置は、一定の周波数のテスト信号が書込まれた磁
気ディスクからの読出し信号に位相ロックされたパルス
信号を発振する位相ロック発振手段と、前記読出し信号
を整流して一定の検査レベルと比較する比較手段と、こ
の比較手段の出力信号を前記パルス信号に基づいて取込
み磁気ディスクの良否判定信号を出力する判定手段とを
備えたことを特徴とするものである。
以下、図面に基づいて本発明の実施例について詳述する
。
。
第２図（こ本発明による磁気ディスク検査装置の実施例
をブロック図で示す。第２図において、パルサー１６は
磁気ヘッド２から増幅回路を介して読出した信号に応じ
たパルス信号を取出す作用をなす。パルサー１６の出力
パルス信号はＰ Ｌ Ｏ（ＰｈａｓｅＬｏｃｋｅｄ ０
ｓｃｉｌｌａｔｏｒ ） ７に与えられるが、ＰＬＯ７
はパルサー１６の出力パルス信号に同期して、かつ、２
倍の周波数をもつクロックを連続発生する。
をブロック図で示す。第２図において、パルサー１６は
磁気ヘッド２から増幅回路を介して読出した信号に応じ
たパルス信号を取出す作用をなす。パルサー１６の出力
パルス信号はＰ Ｌ Ｏ（ＰｈａｓｅＬｏｃｋｅｄ ０
ｓｃｉｌｌａｔｏｒ ） ７に与えられるが、ＰＬＯ７
はパルサー１６の出力パルス信号に同期して、かつ、２
倍の周波数をもつクロックを連続発生する。
フリップフロップ２６はＰＬＯ７の出力パルス信号をク
ロックとしてコンパレータ８からの信号を受け、そのＱ
出力は８ビツトのカウンタ２ｏのイネーブル端子ＥＮに
与えられている。なお、カウンタ２０のクロック端子Ｃ
ＫにはパルサーＰＬＯ７の出力パルス信号が与えられる
。一方、４ビツトのカウンタ２２のクロック端子ＣＫに
はコンパレータ８の出力信号が与えられる。メモリ２４
にはカラ／り２０の内容がメモリライト信号ＭＷに応じ
て書込み可能となっている。カウンタ２ｏには欠陥トラ
ック長をカウントするものであり、カウンタ２２はコン
パレータ８から出力されるパルス列をカウントする。
ロックとしてコンパレータ８からの信号を受け、そのＱ
出力は８ビツトのカウンタ２ｏのイネーブル端子ＥＮに
与えられている。なお、カウンタ２０のクロック端子Ｃ
ＫにはパルサーＰＬＯ７の出力パルス信号が与えられる
。一方、４ビツトのカウンタ２２のクロック端子ＣＫに
はコンパレータ８の出力信号が与えられる。メモリ２４
にはカラ／り２０の内容がメモリライト信号ＭＷに応じ
て書込み可能となっている。カウンタ２ｏには欠陥トラ
ック長をカウントするものであり、カウンタ２２はコン
パレータ８から出力されるパルス列をカウントする。
次に、第３図囚〜０のタイムチャートに従って動作を説
明する。Ｍ３図（４）は増幅回路４の出力波形、（Ｂ）
は整流回路６の出力波形、Ｃ）はコンパレータ８から出
力されるパルス列、０はＰＬＯ７の出力パルス信号、■
はフリップフロップ２６のＱ出力の状態、■は８ビツト
カウンタ２０の状態、０はメモリ２４に対ｒるメモリラ
イト信−ｑＭ、Ｗのタイミングをそれぞ１％示している
。
明する。Ｍ３図（４）は増幅回路４の出力波形、（Ｂ）
は整流回路６の出力波形、Ｃ）はコンパレータ８から出
力されるパルス列、０はＰＬＯ７の出力パルス信号、■
はフリップフロップ２６のＱ出力の状態、■は８ビツト
カウンタ２０の状態、０はメモリ２４に対ｒるメモリラ
イト信−ｑＭ、Ｗのタイミングをそれぞ１％示している
。
磁気ヘッド１を介して読出された信号は増幅回路４によ
って増幅され、第３図囚に示すような波形となる。この
信号は整流回路６およびパルサー１６に送出される。整
流回路６は入力信号を全波整流してＣＢ）図に示す波形
に変換して出力する。一方、パルサー１６は増幅回路４
の信号をパルス化してＰＬＯ７に与える。Ｐ Ｌ ０７
は増幅回路４の信号に同期して、かつ、周波数が２倍の
クロックを発振する。増幅回路４の出力信号波形とＰＬ
Ｏ７の出力パルスとの関係は第４図（ａ） 、 （ｂ）
に示すごとくである。
って増幅され、第３図囚に示すような波形となる。この
信号は整流回路６およびパルサー１６に送出される。整
流回路６は入力信号を全波整流してＣＢ）図に示す波形
に変換して出力する。一方、パルサー１６は増幅回路４
の信号をパルス化してＰＬＯ７に与える。Ｐ Ｌ ０７
は増幅回路４の信号に同期して、かつ、周波数が２倍の
クロックを発振する。増幅回路４の出力信号波形とＰＬ
Ｏ７の出力パルスとの関係は第４図（ａ） 、 （ｂ）
に示すごとくである。
整流回ｗ！ｒ６の出力信号はコンパレータ８で所定のチ
ェックレベルＣＨＬと比較され、正常であるとき所定以
上の幅をもったパルス列として出力され（波形、第３図
（Ｃ） ） 、フリップ７０ツブ２６に与えられる。フ
リップフロップ２６のクロック端子ＣＫにはＰＬＯから
のパルス信号（第３図Ω））が与えられており、したが
ってコンパレータ８から正常なパルス列が送出される眠
りフリップフロップ２６はセット状態を保持する。コン
パレータ８からのパルス列は４ビツトカウンタ２２にも
与えられており、そのパルス数を繰返しカウントする。
ェックレベルＣＨＬと比較され、正常であるとき所定以
上の幅をもったパルス列として出力され（波形、第３図
（Ｃ） ） 、フリップ７０ツブ２６に与えられる。フ
リップフロップ２６のクロック端子ＣＫにはＰＬＯから
のパルス信号（第３図Ω））が与えられており、したが
ってコンパレータ８から正常なパルス列が送出される眠
りフリップフロップ２６はセット状態を保持する。コン
パレータ８からのパルス列は４ビツトカウンタ２２にも
与えられており、そのパルス数を繰返しカウントする。
さて、Ｔ、の期間に欠陥トラックの読み出しを行った場
合、増幅回路４、整流回路６からの信号レベルが大幅に
低下する。その結果、コンパレータ８のチェックレベル
ＣＨＬを下回るとコンパレータ８から７リツプフロツブ
２６に与えられていたパルス列が無くなってしまう。一
方、ＰＬＯ７はクロックの発振を続け、その出力パルス
信号をフリップフロップ２６及びカウンタ２０に送出し
つづけることとなるため、フリップフロップ２６は第３
図■に示すように反転してそのＱ出力をレベル“Ｈ”と
し、カウンタ２０のイネーブル端子ＥＮをレベル“Ｈ”
とする。その結果、カウンタ２０はカウント可能状態と
なり、第３図■に示すようにＰＬＯ７からのパルス信号
をカウントアツプする。
合、増幅回路４、整流回路６からの信号レベルが大幅に
低下する。その結果、コンパレータ８のチェックレベル
ＣＨＬを下回るとコンパレータ８から７リツプフロツブ
２６に与えられていたパルス列が無くなってしまう。一
方、ＰＬＯ７はクロックの発振を続け、その出力パルス
信号をフリップフロップ２６及びカウンタ２０に送出し
つづけることとなるため、フリップフロップ２６は第３
図■に示すように反転してそのＱ出力をレベル“Ｈ”と
し、カウンタ２０のイネーブル端子ＥＮをレベル“Ｈ”
とする。その結果、カウンタ２０はカウント可能状態と
なり、第３図■に示すようにＰＬＯ７からのパルス信号
をカウントアツプする。
欠陥トラック期間Ｔ、を過ぎて正常な状態に戻ると増幅
回路４、整流回路６の出力信号レベルが十分となり、コ
ンパレータ８からは再びパルス列が出力され始める。そ
の結果、フリップフロップ２６は再びセットされるが、
同時にカウンタ２０はカウント動作を停止する。併せて
、図示しない制御手段により第３図（Ｇ）のタイミング
でメモリライト信号ＭＷがメモリ２４に送出される。そ
うして、カウンタ２０の内容がメモリ２４に記憶され、
同時（こカウンタ２０も図示しない手段によりセットさ
れる。
回路４、整流回路６の出力信号レベルが十分となり、コ
ンパレータ８からは再びパルス列が出力され始める。そ
の結果、フリップフロップ２６は再びセットされるが、
同時にカウンタ２０はカウント動作を停止する。併せて
、図示しない制御手段により第３図（Ｇ）のタイミング
でメモリライト信号ＭＷがメモリ２４に送出される。そ
うして、カウンタ２０の内容がメモリ２４に記憶され、
同時（こカウンタ２０も図示しない手段によりセットさ
れる。
なお、他の期間に再び欠陥トラックが検出された場合に
は上記同様な動作を通じてメモリ２４にカウンタ２０の
内容が順次記憶されていく。
は上記同様な動作を通じてメモリ２４にカウンタ２０の
内容が順次記憶されていく。
以上の動作を繰返しながら、被検査ディスク単板の１周
分の読出しが完了すると、その時点でメモリ２４の内容
をチェックすることにより欠陥トラック部分の数および
大きさを知ることができる。
分の読出しが完了すると、その時点でメモリ２４の内容
をチェックすることにより欠陥トラック部分の数および
大きさを知ることができる。
なお、正常部（こ相当する部分の余剰パルス数はカウン
タ２２の内容をチェックすることにより求めうる。
タ２２の内容をチェックすることにより求めうる。
このように、第２図に示した構成とすることにより、被
検査ディスク単板ごとに書込まれるテスト信号の周波数
が異なっていてもＰＬＯ７の作用により柔軟に対応する
ことが可能であり、特別な回路の変更を必要とせずに容
易に欠陥トラック部分の検出を行うことが可能となる。
検査ディスク単板ごとに書込まれるテスト信号の周波数
が異なっていてもＰＬＯ７の作用により柔軟に対応する
ことが可能であり、特別な回路の変更を必要とせずに容
易に欠陥トラック部分の検出を行うことが可能となる。
さらに、ＰＬＯ７のパルスを利用することにより欠陥ト
ラックの大きさを比較的簡単に検出することができる。
ラックの大きさを比較的簡単に検出することができる。
以上の通り、本発明によれば種々のディスク装置に用い
られる磁気ディスクを特別な回路変更を行うことなく対
応して検査することができ、しかも欠陥トラックの大き
さをも併せて検出可能であるため、ディスク検査の効率
と信頼性を向上することができる。
られる磁気ディスクを特別な回路変更を行うことなく対
応して検査することができ、しかも欠陥トラックの大き
さをも併せて検出可能であるため、ディスク検査の効率
と信頼性を向上することができる。
第１図は従来の磁気ディスク検査装置の例を示すブロッ
ク図。 第２図は本発明による磁気ディスク検査装置の一実施例
を示すブロック図、 第３図囚ＣＢ）Ｃ）（Ｄｉ（ト）■０）は本発明による
磁気ディスク検査装置の動作説明用の各部信号波形図、
第４図（ａ）（ｂ）は増幅回路の出力信号波形とＰＬＯ
金出力出力パルス関係を示す波形図である。 ４・・・増幅回路、６・・・整流回路、７・・・ＰＬＯ
，８・・・コンパレータ、１６・・・パルサー、加・・
・カウンタ、２２・・・カウンタ、２４・・・メモリ、
２６・・・フリップフロップ。 出願人代理人 猪 股 清
ク図。 第２図は本発明による磁気ディスク検査装置の一実施例
を示すブロック図、 第３図囚ＣＢ）Ｃ）（Ｄｉ（ト）■０）は本発明による
磁気ディスク検査装置の動作説明用の各部信号波形図、
第４図（ａ）（ｂ）は増幅回路の出力信号波形とＰＬＯ
金出力出力パルス関係を示す波形図である。 ４・・・増幅回路、６・・・整流回路、７・・・ＰＬＯ
，８・・・コンパレータ、１６・・・パルサー、加・・
・カウンタ、２２・・・カウンタ、２４・・・メモリ、
２６・・・フリップフロップ。 出願人代理人 猪 股 清
Claims (1)
- 一定の周波数のテスト信号が書込まれた磁気ディスクか
らの読出し信号に同期されたパルス信号を発振する位相
ロック発孫手段と、前記読出し信号を整流して一定の検
査レベルと比較する比較手段と、この比較手段の出力信
号を前記パルス信号に基づいて取込み磁気ディスクの良
否判定信号を出力する判定手段とを備えたことを特徴と
する磁気ディスク検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3215283A JPS59157579A (ja) | 1983-02-28 | 1983-02-28 | 磁気デイスク検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3215283A JPS59157579A (ja) | 1983-02-28 | 1983-02-28 | 磁気デイスク検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59157579A true JPS59157579A (ja) | 1984-09-06 |
Family
ID=12350935
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3215283A Pending JPS59157579A (ja) | 1983-02-28 | 1983-02-28 | 磁気デイスク検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59157579A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61201173A (ja) * | 1985-03-04 | 1986-09-05 | Sony Tektronix Corp | 磁気デイスク特性測定装置 |
| JPS6278774A (ja) * | 1985-10-02 | 1987-04-11 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 磁気記録媒体処理装置 |
-
1983
- 1983-02-28 JP JP3215283A patent/JPS59157579A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61201173A (ja) * | 1985-03-04 | 1986-09-05 | Sony Tektronix Corp | 磁気デイスク特性測定装置 |
| JPS6278774A (ja) * | 1985-10-02 | 1987-04-11 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 磁気記録媒体処理装置 |
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