JPH06309473A - 波形データの収集方法と同波形データの判定方法 - Google Patents
波形データの収集方法と同波形データの判定方法Info
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- JPH06309473A JPH06309473A JP12335993A JP12335993A JPH06309473A JP H06309473 A JPH06309473 A JP H06309473A JP 12335993 A JP12335993 A JP 12335993A JP 12335993 A JP12335993 A JP 12335993A JP H06309473 A JPH06309473 A JP H06309473A
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- waveform data
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 入力波形をヒストグラム的に表示するととも
に、その波形判定をリアルタイムで行なう。 【構成】 Ａ／Ｄ変換回路６と、同Ａ／Ｄ変換回路にて
変換された波形データが交替的に入力されるＲＡＭ１，
２、同ＲＡＭ１，２に入力されるデータ数をカウントす
る計数部４と、ＲＡＭ１，２と同一の記憶領域を有し、
その各アドレスに判定基準としての基準データが書き込
まれる比較用メモリ３とを含み、所定のデータ収集期間
ごとに波形データをそのＡ／Ｄ変換値をアドレスとして
ＲＡＭ１，２に交替的に入力するとともに、計数部４に
て各アドレスについてそのアドレスに該当する波形デー
タ数をカウントアップし、入力波形の波形データをＲＡ
Ｍ１，２の各アドレスにおいて計数される頻度数として
収集し、一方、比較用メモリ３の各アドレスに判定基準
波形についての波形データが同じく頻度数として記憶さ
せ、ＲＡＭ１，２と比較用メモリ３の同一アドレスにつ
いて、それらの頻度数を比較することにより、入力波形
の判定を行なう。
に、その波形判定をリアルタイムで行なう。 【構成】 Ａ／Ｄ変換回路６と、同Ａ／Ｄ変換回路にて
変換された波形データが交替的に入力されるＲＡＭ１，
２、同ＲＡＭ１，２に入力されるデータ数をカウントす
る計数部４と、ＲＡＭ１，２と同一の記憶領域を有し、
その各アドレスに判定基準としての基準データが書き込
まれる比較用メモリ３とを含み、所定のデータ収集期間
ごとに波形データをそのＡ／Ｄ変換値をアドレスとして
ＲＡＭ１，２に交替的に入力するとともに、計数部４に
て各アドレスについてそのアドレスに該当する波形デー
タ数をカウントアップし、入力波形の波形データをＲＡ
Ｍ１，２の各アドレスにおいて計数される頻度数として
収集し、一方、比較用メモリ３の各アドレスに判定基準
波形についての波形データが同じく頻度数として記憶さ
せ、ＲＡＭ１，２と比較用メモリ３の同一アドレスにつ
いて、それらの頻度数を比較することにより、入力波形
の判定を行なう。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、入力波形の観測、分
析などが容易に行なえ、しかもＣＰＵなどに負担をかけ
ることなく高速に波形判定が行なえるようにした波形デ
ータの収集方法と同波形データの判定方法に関するもの
である。
析などが容易に行なえ、しかもＣＰＵなどに負担をかけ
ることなく高速に波形判定が行なえるようにした波形デ
ータの収集方法と同波形データの判定方法に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】例えば、商用電源などの電源の異常を監
視するにあたって、リアルタイムでその異常を検出した
いという要望がある。この場合には、入力波形を所定周
波数のサンプリングクロックにてサンプリングし、得ら
れた波形データをそのサンプリングごとに基準値と比較
して、その大小比較により異常の有無を判定するように
している。
視するにあたって、リアルタイムでその異常を検出した
いという要望がある。この場合には、入力波形を所定周
波数のサンプリングクロックにてサンプリングし、得ら
れた波形データをそのサンプリングごとに基準値と比較
して、その大小比較により異常の有無を判定するように
している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この検出精度はサンプ
リングクロックに依存する。すなわち、高速の突発的な
現象を検出するにはサンプリングスピードを高めること
になるが、このようにすると、当然のことながら比較す
るデータ数が増えることになるため、ＣＰＵ（中央演算
処理ユニット）の負担が増大し、リアルタイムでの比較
が困難になる。
リングクロックに依存する。すなわち、高速の突発的な
現象を検出するにはサンプリングスピードを高めること
になるが、このようにすると、当然のことながら比較す
るデータ数が増えることになるため、ＣＰＵ（中央演算
処理ユニット）の負担が増大し、リアルタイムでの比較
が困難になる。
【０００４】また、入力波形をモニタに表示して波形観
測や分析を行なうにしても、特に振幅変動や周波数変動
が微小の場合には、往々にしてその現象を見落としてし
まう、という問題があった。
測や分析を行なうにしても、特に振幅変動や周波数変動
が微小の場合には、往々にしてその現象を見落としてし
まう、という問題があった。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明は上記従来の事
情に鑑みなされたもので、波形データの収集法における
構成上の特徴は、アナログ入力波形を所定のサンプリン
グ周波数にてティジタルの波形データに変換するＡ／Ｄ
変換回路と、同Ａ／Ｄ変換回路にて変換された波形デー
タの入力用メモリと、同波形データ入力用メモリに入力
されるデータ数をカウントする計数部と、上記波形デー
タの上記波形データ入力用メモリへの書込みアドレスな
どを制御するＣＰＵなどからなる制御手段とを含み、同
制御手段は上記波形データをそのＡ／Ｄ変換値をアドレ
スとして上記波形データ入力用メモリに入力するととも
に、上記計数部は各アドレスについてそのアドレスに該
当する波形データ数をカウントアップし、上記入力波形
の波形データを上記波形データ入力用メモリの各アドレ
スにおいて計数される頻度数として収集するようにした
ことにある。
情に鑑みなされたもので、波形データの収集法における
構成上の特徴は、アナログ入力波形を所定のサンプリン
グ周波数にてティジタルの波形データに変換するＡ／Ｄ
変換回路と、同Ａ／Ｄ変換回路にて変換された波形デー
タの入力用メモリと、同波形データ入力用メモリに入力
されるデータ数をカウントする計数部と、上記波形デー
タの上記波形データ入力用メモリへの書込みアドレスな
どを制御するＣＰＵなどからなる制御手段とを含み、同
制御手段は上記波形データをそのＡ／Ｄ変換値をアドレ
スとして上記波形データ入力用メモリに入力するととも
に、上記計数部は各アドレスについてそのアドレスに該
当する波形データ数をカウントアップし、上記入力波形
の波形データを上記波形データ入力用メモリの各アドレ
スにおいて計数される頻度数として収集するようにした
ことにある。
【０００６】また、この発明の波形データの判定方法に
おいては、アナログ入力波形を所定のサンプリング周波
数にてティジタルの波形データに変換するＡ／Ｄ変換回
路と、同Ａ／Ｄ変換回路にて変換された波形データの入
力用メモリと、同波形データ入力用メモリに入力される
データ数をカウントする計数部と、上記波形データ入力
用メモリと同一の記憶領域を有し、その各アドレスに判
定基準としての基準データが書き込まれる比較用メモリ
と、上記各メモリの書込み、読出しなどを制御するＣＰ
Ｕなどからなる制御手段とを含み、同制御手段は上記波
形データをそのＡ／Ｄ変換値をアドレスとして上記波形
データ入力用メモリに入力するとともに、上記計数部は
各アドレスについてそのアドレスに該当する波形データ
数をカウントアップし、上記入力波形の波形データを上
記波形データ入力用メモリの各アドレスにおいて計数さ
れる頻度数として収集し、一方、上記比較用メモリの各
アドレスには判定基準波形についての波形データが同じ
く頻度数として記憶されており、上記波形データ入力用
メモリと上記比較用メモリの同一アドレスについて、そ
れらの頻度数を比較することにより、入力波形の判定を
行なうようにしたことを特徴としている。
おいては、アナログ入力波形を所定のサンプリング周波
数にてティジタルの波形データに変換するＡ／Ｄ変換回
路と、同Ａ／Ｄ変換回路にて変換された波形データの入
力用メモリと、同波形データ入力用メモリに入力される
データ数をカウントする計数部と、上記波形データ入力
用メモリと同一の記憶領域を有し、その各アドレスに判
定基準としての基準データが書き込まれる比較用メモリ
と、上記各メモリの書込み、読出しなどを制御するＣＰ
Ｕなどからなる制御手段とを含み、同制御手段は上記波
形データをそのＡ／Ｄ変換値をアドレスとして上記波形
データ入力用メモリに入力するとともに、上記計数部は
各アドレスについてそのアドレスに該当する波形データ
数をカウントアップし、上記入力波形の波形データを上
記波形データ入力用メモリの各アドレスにおいて計数さ
れる頻度数として収集し、一方、上記比較用メモリの各
アドレスには判定基準波形についての波形データが同じ
く頻度数として記憶されており、上記波形データ入力用
メモリと上記比較用メモリの同一アドレスについて、そ
れらの頻度数を比較することにより、入力波形の判定を
行なうようにしたことを特徴としている。
【０００７】この場合、上記波形データ入力用メモリを
２つ用意し、所定の時間間隔で繰り返されるデータ収集
期間ごとに同データ収集期間で得られた波形データを２
つの波形データ入力用メモリに交互に入力し、入力が終
了した時点でその波形データ入力用メモリの波形データ
を比較用メモリの基準データと比較するようにすること
が好ましい。
２つ用意し、所定の時間間隔で繰り返されるデータ収集
期間ごとに同データ収集期間で得られた波形データを２
つの波形データ入力用メモリに交互に入力し、入力が終
了した時点でその波形データ入力用メモリの波形データ
を比較用メモリの基準データと比較するようにすること
が好ましい。
【０００８】
【作用】まず、この波形データ収集法によれば、波形デ
ータはそのＡ／Ｄ変換値をアドレスとして波形データ入
力用メモリに記憶される。例えば、Ａ／Ｄ変換回路の分
解能が８ビットであるとすると、波形データ入力用メモ
リには図３の（Ａ）に示されているように、０〜２５５
のメモリ領域が用意され、波形データはそのＡ／Ｄ変換
値に対応するアドレスのメモリ領域に入力される。
ータはそのＡ／Ｄ変換値をアドレスとして波形データ入
力用メモリに記憶される。例えば、Ａ／Ｄ変換回路の分
解能が８ビットであるとすると、波形データ入力用メモ
リには図３の（Ａ）に示されているように、０〜２５５
のメモリ領域が用意され、波形データはそのＡ／Ｄ変換
値に対応するアドレスのメモリ領域に入力される。
【０００９】例えば、Ａ／Ｄ変換値が１２３であれば、
その波形データはアドレス１２３のメモリ領域に入力さ
れることになる。そして、この入力があると計数部で同
メモリ領域のデータを＋１カウントアップする。したが
って、同メモリ領域にはその頻度数が記憶されることに
なる。
その波形データはアドレス１２３のメモリ領域に入力さ
れることになる。そして、この入力があると計数部で同
メモリ領域のデータを＋１カウントアップする。したが
って、同メモリ領域にはその頻度数が記憶されることに
なる。
【００１０】ここで、図２に示されている正弦波形の最
大値側の一部を例にして説明すると、一定のサンプリン
グクロックにて波形データをサンプリングする場合、波
形の傾斜がきつい部分ではＡ／Ｄ変換値の間隔（差）が
大きくなり、傾斜の緩やかな例えば最大値付近ではその
Ａ／Ｄ変換値の間隔が狭くなる。
大値側の一部を例にして説明すると、一定のサンプリン
グクロックにて波形データをサンプリングする場合、波
形の傾斜がきつい部分ではＡ／Ｄ変換値の間隔（差）が
大きくなり、傾斜の緩やかな例えば最大値付近ではその
Ａ／Ｄ変換値の間隔が狭くなる。
【００１１】したがって、アドレス２５５（および最小
値側のアドレス０）付近のメモリ領域に入力（カウン
ト）されるデータ数が他のアドレスのものより多くなる
ため、それを模式的に示すと、図４（Ｂ）のようなヒス
トグラムになる。
値側のアドレス０）付近のメモリ領域に入力（カウン
ト）されるデータ数が他のアドレスのものより多くなる
ため、それを模式的に示すと、図４（Ｂ）のようなヒス
トグラムになる。
【００１２】同図において、横軸はメモリのアドレス、
縦軸は波形データのカウント数（頻度数）であり、この
ヒストグラムにおいて、その横軸方向の幅Ｗが入力波形
の振幅に対応することになる。例えば、図４（Ｂ）のヒ
ストグラムが同図（Ａ）の実線で示されている入力サイ
ン波形のもので、同波形の振幅が図示鎖線のように大き
く変化したとすると、それに伴ってヒストグラムの幅も
Ｗａのように広くなる。
縦軸は波形データのカウント数（頻度数）であり、この
ヒストグラムにおいて、その横軸方向の幅Ｗが入力波形
の振幅に対応することになる。例えば、図４（Ｂ）のヒ
ストグラムが同図（Ａ）の実線で示されている入力サイ
ン波形のもので、同波形の振幅が図示鎖線のように大き
く変化したとすると、それに伴ってヒストグラムの幅も
Ｗａのように広くなる。
【００１３】このようにして入力波形の変化などが観測
されるが、波形判定を行なうには比較用メモリが用意さ
れ、同メモリに図３（Ｂ）に示されているように、波形
データ入力用メモリと同じく０〜２５５のメモリ領域が
設定される。
されるが、波形判定を行なうには比較用メモリが用意さ
れ、同メモリに図３（Ｂ）に示されているように、波形
データ入力用メモリと同じく０〜２５５のメモリ領域が
設定される。
【００１４】そして、そのメモリ領域の各々に、そのア
ドレスに該当する基準波形についての波形データ数（頻
度数）が予めセットされ、波形データ入力用メモリと比
較用メモリの同一アドレス同士が１：１で比較される。
例えば、各アドレスでのデータ数が一致していればＧ
Ｏ、それ以外はＮＧと判定される。
ドレスに該当する基準波形についての波形データ数（頻
度数）が予めセットされ、波形データ入力用メモリと比
較用メモリの同一アドレス同士が１：１で比較される。
例えば、各アドレスでのデータ数が一致していればＧ
Ｏ、それ以外はＮＧと判定される。
【００１５】なお、この比較判定にあたっては、波形デ
ータ入力用メモリを２つ用意して、波形データを交互に
入力し、入力し終えた方のメモリから較していくように
することにより、リアルタイムでの波形判定を行なうこ
とができる。
ータ入力用メモリを２つ用意して、波形データを交互に
入力し、入力し終えた方のメモリから較していくように
することにより、リアルタイムでの波形判定を行なうこ
とができる。
【００１６】
【実施例】図１には、この発明の実施例に用いられる監
視装置のブロック線図が示されている。これによると、
波形データ入力用メモリとして２つのデュアルポートラ
ンダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）１，２と、判定基準デ
ータが記憶される比較用メモリ３と、ＲＡＭ１，２の各
アドレスに入力されるデータ数をカウントアップする計
数部４と、データ比較部としての機能を有するＣＰＵ５
とを備えている。
視装置のブロック線図が示されている。これによると、
波形データ入力用メモリとして２つのデュアルポートラ
ンダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）１，２と、判定基準デ
ータが記憶される比較用メモリ３と、ＲＡＭ１，２の各
アドレスに入力されるデータ数をカウントアップする計
数部４と、データ比較部としての機能を有するＣＰＵ５
とを備えている。
【００１７】例えば、５０Ｈｚの商用電源を監視するも
のとして説明すると、その入力波形はＡ／Ｄ変換回路６
において所定のサンプリング周波数にてディジタルの波
形データに変換され、セレクタ７にてＲＡＭ１，２のい
ずれかに入力される。
のとして説明すると、その入力波形はＡ／Ｄ変換回路６
において所定のサンプリング周波数にてディジタルの波
形データに変換され、セレクタ７にてＲＡＭ１，２のい
ずれかに入力される。
【００１８】この実施例においては、５０Ｈｚの正弦波
を比較基準の基準波としており、その一周期、すなわち
２０ｍｓｅｃをデータ収集期間Ｔとしている（図４
（Ａ）参照）。したがって、Ａ／Ｄ変換回路６にてサン
プリングされた波形データは、セレクタ７を介して２０
ｍｓｅｃごとにその入力先であるＲＡＭ１，２のいずれ
かに振り分けられる。なお、Ａ／Ｄ変換回路６のサンプ
リング周波数は任意に設定され、例えば１データ収集期
間Ｔに５１２ポイントの波形データが得られるように設
定される。
を比較基準の基準波としており、その一周期、すなわち
２０ｍｓｅｃをデータ収集期間Ｔとしている（図４
（Ａ）参照）。したがって、Ａ／Ｄ変換回路６にてサン
プリングされた波形データは、セレクタ７を介して２０
ｍｓｅｃごとにその入力先であるＲＡＭ１，２のいずれ
かに振り分けられる。なお、Ａ／Ｄ変換回路６のサンプ
リング周波数は任意に設定され、例えば１データ収集期
間Ｔに５１２ポイントの波形データが得られるように設
定される。
【００１９】ここで、Ａ／Ｄ変換回路６の分解能を８ビ
ットとすると、ＲＡＭ１，２および比較用メモリ３には
アドレス数を０〜２５５とする同一のメモリ領域がそれ
ぞれ設定される（図３参照）。
ットとすると、ＲＡＭ１，２および比較用メモリ３には
アドレス数を０〜２５５とする同一のメモリ領域がそれ
ぞれ設定される（図３参照）。
【００２０】最初のデータ収集期間Ｔに得られた波形デ
ータはセレクタ７により振り分けられて例えばＲＡＭ１
に入力されるが、その際のアドレスは波形データのＡ／
Ｄ変換値とされる。すなわち、Ａ／Ｄ変換値が１００で
あるならば、その波形データはＲＡＭ１におけるアドレ
ス１００のメモリ領域に入力される。
ータはセレクタ７により振り分けられて例えばＲＡＭ１
に入力されるが、その際のアドレスは波形データのＡ／
Ｄ変換値とされる。すなわち、Ａ／Ｄ変換値が１００で
あるならば、その波形データはＲＡＭ１におけるアドレ
ス１００のメモリ領域に入力される。
【００２１】これに伴って、計数部４が動作しそのアド
レス１００の計数値を＋１とする。このようにして、デ
ータ収集期間Ｔに得られる波形データは、それぞれその
Ａ／Ｄ変換値をアドレスとしてＲＡＭ１に入力され、計
数部４にて各アドレスのデータ頻度数がカウントアップ
される。
レス１００の計数値を＋１とする。このようにして、デ
ータ収集期間Ｔに得られる波形データは、それぞれその
Ａ／Ｄ変換値をアドレスとしてＲＡＭ１に入力され、計
数部４にて各アドレスのデータ頻度数がカウントアップ
される。
【００２２】次のデータ収集期間Ｔに得られる波形デー
タはＲＡＭ２側に入力される。このようにして、データ
収集期間Ｔごとに波形データがＲＡＭ１とＲＡＭ２に交
替的に入力されるのであるが、一方の例えばＲＡＭ１に
対するデータ入力が終了すると、ＣＰＵ５において同Ｒ
ＡＭ１と比較用メモリ３との比較が行なわれ、リアルタ
イムでの判定が行なわれる。
タはＲＡＭ２側に入力される。このようにして、データ
収集期間Ｔごとに波形データがＲＡＭ１とＲＡＭ２に交
替的に入力されるのであるが、一方の例えばＲＡＭ１に
対するデータ入力が終了すると、ＣＰＵ５において同Ｒ
ＡＭ１と比較用メモリ３との比較が行なわれ、リアルタ
イムでの判定が行なわれる。
【００２３】この場合、比較用メモリ３の各アドレスの
メモリ領域には、予め上記基準波から得られる波形デー
タが上記入力波形と同じくそのＡ／Ｄ変換値自体をアド
レスとしてその頻度数が格納されている。
メモリ領域には、予め上記基準波から得られる波形デー
タが上記入力波形と同じくそのＡ／Ｄ変換値自体をアド
レスとしてその頻度数が格納されている。
【００２４】ＣＰＵ５はＲＡＭ１および比較用メモリ３
の同一アドレス同士を１：１で比較し、両者の頻度数が
一致しているかを判定し、例えばすべてのアドレスにつ
いてその頻度数が一致している場合はＧＯとし、その他
の場合にはＮＧと判定する。
の同一アドレス同士を１：１で比較し、両者の頻度数が
一致しているかを判定し、例えばすべてのアドレスにつ
いてその頻度数が一致している場合はＧＯとし、その他
の場合にはＮＧと判定する。
【００２５】図４の（Ａ）（Ｂ）には入力波形の振幅が
実線状態から鎖線状態に変化した場合には、ヒストグラ
ムの横軸方向の幅がＷ→Ｗａに広がる状態が例示されて
いるが、このように振幅のみを監視するならば、比較用
メモリ３からその上限値と下限値（いずれも頻度数の大
きなアドレス）のみを読出してＲＡＭ１の内容と比較す
るようにしても良く、また、比較用メモリ３の基準デー
タにある程度の幅を持たせるようにしても良い。
実線状態から鎖線状態に変化した場合には、ヒストグラ
ムの横軸方向の幅がＷ→Ｗａに広がる状態が例示されて
いるが、このように振幅のみを監視するならば、比較用
メモリ３からその上限値と下限値（いずれも頻度数の大
きなアドレス）のみを読出してＲＡＭ１の内容と比較す
るようにしても良く、また、比較用メモリ３の基準デー
タにある程度の幅を持たせるようにしても良い。
【００２６】このようにして、波形データ入力用メモリ
と比較用メモリの各アドレスを１：１で対応することに
より波形判定が行なわれるのであるが、図５（Ａ）の図
示鎖線のように入力波形の周波数が変化した場合には、
同図（Ｂ）に鎖線で示されているように、ヒストグラム
のどちらかのピークが上下する。
と比較用メモリの各アドレスを１：１で対応することに
より波形判定が行なわれるのであるが、図５（Ａ）の図
示鎖線のように入力波形の周波数が変化した場合には、
同図（Ｂ）に鎖線で示されているように、ヒストグラム
のどちらかのピークが上下する。
【００２７】図６には三角波の例が示されている。同図
（Ａ）実線のように正常である場合には、その一周期中
に得られる波形データは各アドレスについて同数である
ため、同図（Ｂ）のようにヒストグラムは全体的に見る
と矩形状となる。そして、同図（Ａ）鎖線のように振幅
が変化すると、それに伴ってヒストグラムの幅がＷ→Ｗ
ａへと変化する。また、同じ三角波について図７（Ａ）
の鎖線のように周波数が変化すると、そのヒストグラム
も同図（Ｂ）鎖線図示のように変形する。
（Ａ）実線のように正常である場合には、その一周期中
に得られる波形データは各アドレスについて同数である
ため、同図（Ｂ）のようにヒストグラムは全体的に見る
と矩形状となる。そして、同図（Ａ）鎖線のように振幅
が変化すると、それに伴ってヒストグラムの幅がＷ→Ｗ
ａへと変化する。また、同じ三角波について図７（Ａ）
の鎖線のように周波数が変化すると、そのヒストグラム
も同図（Ｂ）鎖線図示のように変形する。
【００２８】図８（Ａ）のような矩形波の場合には、最
大値および最小値のアドレスにデータが集中するため、
同図（Ｂ）のようなヒストグラムが得られる。そして、
その振幅の変化に対しては、上記各例と同様にヒストグ
ラムの幅がＷ→Ｗａへと変化する。また、図９（Ａ）の
鎖線図示ような周波数変化に対しては、同図（Ｂ）に示
されているようにヒストグラムのピーク値が一方が低下
し、その分他方が上昇するように変化する。
大値および最小値のアドレスにデータが集中するため、
同図（Ｂ）のようなヒストグラムが得られる。そして、
その振幅の変化に対しては、上記各例と同様にヒストグ
ラムの幅がＷ→Ｗａへと変化する。また、図９（Ａ）の
鎖線図示ような周波数変化に対しては、同図（Ｂ）に示
されているようにヒストグラムのピーク値が一方が低下
し、その分他方が上昇するように変化する。
【００２９】いずれの波形にしても、振幅および／また
は周波数の変化が波形データ入力用メモリにおける各ア
ドレスのデータ頻度数の変化として現れるため、これを
利用して波形観測や分析などを行なうことができる。ま
た、波形判定するにしても比較基準データとの各アドレ
スごとの対比で良いため、ＣＰＵに過度の負担がかかる
こともない。
は周波数の変化が波形データ入力用メモリにおける各ア
ドレスのデータ頻度数の変化として現れるため、これを
利用して波形観測や分析などを行なうことができる。ま
た、波形判定するにしても比較基準データとの各アドレ
スごとの対比で良いため、ＣＰＵに過度の負担がかかる
こともない。
【００３０】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、波形データをそのＡ／Ｄ変換値をアドレスとして波
形データ入力用メモリの各アドレスに入力し、その頻度
数をもって収集するようにしたことにより、入力波形の
変化を例えばヒストグラムによって観測、分析すること
ができる。
ば、波形データをそのＡ／Ｄ変換値をアドレスとして波
形データ入力用メモリの各アドレスに入力し、その頻度
数をもって収集するようにしたことにより、入力波形の
変化を例えばヒストグラムによって観測、分析すること
ができる。
【００３１】また、基準データと比較するにしても比較
するデータ数はＡ／Ｄ変換の分解能分（８ビットならば
２５６個）でよく、したがってＣＰＵに過度の負担をか
けることもなく、リアルタイムでの判定が可能となる。
するデータ数はＡ／Ｄ変換の分解能分（８ビットならば
２５６個）でよく、したがってＣＰＵに過度の負担をか
けることもなく、リアルタイムでの判定が可能となる。
【図１】この発明の実施例に用いられる監視装置のブロ
ック線図。
ック線図。
【図２】入力波形のサンプリング状態を説明するための
説明図。
説明図。
【図３】メモリのアドレスに対応するメモリ領域を示し
た模式図。
た模式図。
【図４】正弦波の振幅変化とそれに対応するヒストグラ
ムの変化を示した説明図。
ムの変化を示した説明図。
【図５】正弦波の周波数変化とそれに対応するヒストグ
ラムの変化を示した説明図。
ラムの変化を示した説明図。
【図６】三角波の振幅変化とそれに対応するヒストグラ
ムの変化を示した説明図。
ムの変化を示した説明図。
【図７】三角波の周波数変化とそれに対応するヒストグ
ラムの変化を示した説明図。
ラムの変化を示した説明図。
【図８】矩形波の振幅変化とそれに対応するヒストグラ
ムの変化を示した説明図。
ムの変化を示した説明図。
【図９】矩形波の周波数変化とそれに対応するヒストグ
ラムの変化を示した説明図。
ラムの変化を示した説明図。
１，２ ＲＡＭ ３ 比較用メモリ ４ 計数部 ５ ＣＰＵ ６ Ａ／Ｄ変換回路 ７ セレクタ
Claims (3)
- 【請求項１】 アナログ入力波形を所定のサンプリング
周波数にてティジタルの波形データに変換するＡ／Ｄ変
換回路と、同Ａ／Ｄ変換回路にて変換された波形データ
の入力用メモリと、同波形データ入力用メモリに入力さ
れるデータ数をカウントする計数部と、上記波形データ
の上記波形データ入力用メモリへの書込みアドレスなど
を制御するＣＰＵなどからなる制御手段とを含み、同制
御手段は上記波形データをそのＡ／Ｄ変換値をアドレス
として上記波形データ入力用メモリに入力するととも
に、上記計数部は各アドレスについてそのアドレスに該
当する波形データ数をカウントアップし、上記入力波形
の波形データを上記波形データ入力用メモリの各アドレ
スにおいて計数される頻度数として収集するようにした
ことを特徴とする波形データの収集方法。 - 【請求項２】 アナログ入力波形を所定のサンプリング
周波数にてティジタルの波形データに変換するＡ／Ｄ変
換回路と、同Ａ／Ｄ変換回路にて変換された波形データ
の入力用メモリと、同波形データ入力用メモリに入力さ
れるデータ数をカウントする計数部と、上記波形データ
入力用メモリと同一の記憶領域を有し、その各アドレス
に判定基準としての基準データが書き込まれる比較用メ
モリと、上記各メモリの書込み、読出しなどを制御する
ＣＰＵなどからなる制御手段とを含み、同制御手段は上
記波形データをそのＡ／Ｄ変換値をアドレスとして上記
波形データ入力用メモリに入力するとともに、上記計数
部は各アドレスについてそのアドレスに該当する波形デ
ータ数をカウントアップし、上記入力波形の波形データ
を上記波形データ入力用メモリの各アドレスにおいて計
数される頻度数として収集し、一方、上記比較用メモリ
の各アドレスには判定基準波形についての波形データが
同じく頻度数として記憶されており、上記波形データ入
力用メモリと上記比較用メモリの同一アドレスについ
て、それらの頻度数を比較することにより、入力波形の
判定を行なうようにしたことを特徴とする波形データの
判定方法。 - 【請求項３】 上記波形データ入力用メモリが２つ用意
され、所定の時間間隔で繰り返されるデータ収集期間ご
とに同データ収集期間で得られた波形データが上記２つ
の波形データ入力用メモリに交互に入力されて上記比較
用メモリの基準データと比較されるようにしたことを特
徴とする請求項２に記載の波形データの判定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12335993A JPH06309473A (ja) | 1993-04-27 | 1993-04-27 | 波形データの収集方法と同波形データの判定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12335993A JPH06309473A (ja) | 1993-04-27 | 1993-04-27 | 波形データの収集方法と同波形データの判定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06309473A true JPH06309473A (ja) | 1994-11-04 |
Family
ID=14858635
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12335993A Pending JPH06309473A (ja) | 1993-04-27 | 1993-04-27 | 波形データの収集方法と同波形データの判定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06309473A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006520467A (ja) * | 2003-03-19 | 2006-09-07 | ルーカス・オートモーティブ・ゲーエムベーハー | 回転速度、特に車両の車輪の回転速度を検出する方法とデバイス |
| GB2426066A (en) * | 2005-05-13 | 2006-11-15 | Agilent Technologies Inc | Apparatus and method for generating a complementary cumulative distribution function (CCDF) curve |
-
1993
- 1993-04-27 JP JP12335993A patent/JPH06309473A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006520467A (ja) * | 2003-03-19 | 2006-09-07 | ルーカス・オートモーティブ・ゲーエムベーハー | 回転速度、特に車両の車輪の回転速度を検出する方法とデバイス |
| JP4777875B2 (ja) * | 2003-03-19 | 2011-09-21 | ルーカス・オートモーティブ・ゲーエムベーハー | 回転速度、特に車両の車輪の回転速度を検出する方法とデバイス |
| GB2426066A (en) * | 2005-05-13 | 2006-11-15 | Agilent Technologies Inc | Apparatus and method for generating a complementary cumulative distribution function (CCDF) curve |
| EP1722306A2 (en) * | 2005-05-13 | 2006-11-15 | Agilent Technologies, Inc. - a Delaware corporation - | Apparatus and method for generating a Complementary Cumulative Distribution Function (CCDF) curve |
| US7277820B2 (en) | 2005-05-13 | 2007-10-02 | Agilent Technologies, Inc. | Apparatus and method for generating a complementary cumulative distribution function (CCDF) curve |
| EP1722306A3 (en) * | 2005-05-13 | 2009-05-27 | Agilent Technologies, Inc. | Apparatus and method for generating a Complementary Cumulative Distribution Function (CCDF) curve |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20010926 |