JP2002221537A

JP2002221537A - 試験測定機器及び試験測定方法

Info

Publication number: JP2002221537A
Application number: JP2001345427A
Authority: JP
Inventors: John J Pickerd; ジョン・ジェイ・ピッカード; Paul H Buckle; ポール・エイチ・ブックル
Original assignee: Tektronix Inc
Current assignee: Tektronix Inc
Priority date: 2000-11-09
Filing date: 2001-11-09
Publication date: 2002-08-09
Anticipated expiration: 2021-11-09
Also published as: EP1205757A1; DE60110344D1; JP4786091B2; US20020062199A1; EP1205757B1; US6895349B2; DE60110344T2

Abstract

(57)【要約】【課題】長期間にわたって記録された波形から違反を
見つける。【解決手段】所定パラメータの違反を検出するために
用いるパラメータを入力する入力手段115と；第１チャ
ネルの信号を取り込むデータ取込み手段610と；信号を
処理する処理手段620と；信号を表す波形を表示する表
示手段640と；第１基準波形を蓄積する基準メモリ670
と；蓄積された第１基準波形を信号の部分と繰り返し比
較し、基準波形を信号に沿って時間的に移動させること
により違反の１つを検出する比較手段650/660と；違反
の１つが検出されると、警報を発生する手段650/660と
を具えている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、一般に、試験測定
機器に関し、特に、オシロスコープなどで取り込んだ長
時間のデータ記録を処理する試験測定機器及び試験測定
方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来から、オシロスコープが長時間の取
込み（典型的には、８Ｍビットから６４Ｍビット）を記
録できることが知られている。しかし、残念なことに、
長時間記録は、望ましい機能であるが、問題の種でもあ
る。これまで、かかる長時間記録から、取込み信号内の
あるポイント（信号のサンプル）に存在するかもしれい
ない現象を検索する簡単な方法がなかった。例えば、１
秒当たり５００ポイントの割合で表示された３２Ｍビッ
トの記録を視覚的に検索するには、１７時間かかる。そ
こで、オシロスコープのユーザが、かかる長時間にわた
って忍耐を維持できるかという疑問も生じる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】最新のオシロスコープ
のいくつかは、その筐体内にプリンタを具えており、オ
シロスコープのトレース（波形）及びデータをロール紙
にプリントしている。上述の問題の解決方法として、長
時間記録にわたる波形を単にプリントして、紙にプリン
トされたトレースを検査することが考えられる。しか
し、計算によると、８Ｍビットの記録をプリントするに
は、数マイル（数キロ・メートル）に及ぶプリント紙が
必要となる。

【０００４】したがって、本発明は、長期間にわたって
記録された波形を簡単に観測するために、蓄積した波形
を、入力波形と比較して試験測定を行う試験測定機器及
び試験測定方法を提供するものである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明の試験測定機器
は、所定パラメータの違反を検出するために用いるパラ
メータを入力する入力手段（１１５）と；第１チャネル
の信号を取り込むデータ取込み手段（６１０）と；信号
を処理する処理手段（６２０）と；信号を表す波形を表
示する表示手段（６４０）と；第１基準波形を蓄積する
基準メモリ（６７０）と；蓄積された第１基準波形を信
号の部分と繰り返し比較し、基準波形を信号に沿って時
間的に移動させることにより違反の１つを検出する比較
手段（６５０／６６０）と；違反の１つが検出される
と、警報を発生する手段（６５０／６６０）とを具えて
いる。また、本発明は、蓄積された波形を入力波形と比
較して、試験測定を行う方法であって；所定パラメータ
の違反を検出するために用いるパラメータを入力し；第
１チャネルの信号を取込み；信号を処理手段にて処理
し；信号を表す波形を表示スクリーン（１００）上に表
示し；蓄積された第１基準波形を信号の部分と繰り返し
比較し、基準波形を信号に沿って時間的に移動させるこ
とにより違反の１つを検出し；違反の１つが検出される
と、警報を発生することを特徴とする。

【０００６】本発明の好適実施例によれば、ゲート比較
器制御パネルにより、ユーザは、４つの異なるゲート領
域を定義することができ、これらゲート領域は、生の波
形（取り込んだままの波形）、計算で求めた波形、又は
基準波形の内の任意の波形上に設定できる。各ゲートの
メニューで各ゲートの位置を制御し、ゲート（ゲート制
御）すべき信号のソース（信号源）を選択する。総ての
ゲートは、同じ幅でなければならない。高度なレベルで
のアプリケーションでは、波形のゲートされた領域（ゲ
ート領域として範囲指定された波形の部分）を基準メモ
リにコピーする。例えば、ゲート１を基準１とし、ゲー
ト２を基準２とし、以下同様とする。ユーザが設定可能
な許容値を用いて、複数のゲート波形（ゲートされた波
形）の間の差が、違反となるポイントに達したか否かを
判断する。マスタ（主）ゲート位置制御によって、総て
のゲートを同じ量だけ移動できるので、これらゲート波
形間の間隔を一定に維持できる。マスタ・ゲート幅制御
により、総てのゲートの幅も制御できる。このように、
所定パラメータは、アクティブ・ゲートの数、ゲートの
位置、ゲートの幅及び許容値により決めることができ
る。ラン（実行）、ポーズ（一時停止）及びストップ
（停止）メニュー項目を用いて、ゲートを付加する波形
に対してゲートをどのように自動的に走査（移動）させ
るかを制御し、これらの間の間隔を一定に維持する。複
数ゲートの信号の間の比較は、ポイント対ポイントに基
づいて、即ち、ポイント（信号サンプル）毎に行う。

【０００７】

【発明の実施の形態】添付図を参照して、本発明の好適
実施例を以下に説明する。かかる実施例において、ゲー
ト比較器は、最新オシロスコープにおいて、ＷＩＮＤＯ
ＷＳ（登録商標）などのオペレーティング・システム上
で動作するＪＡＶＡ（登録商標）アプリケーション・ソ
フトウェアにより実現している。すなわち、マイクロプ
ロセッサとソフトウェアとにより、本発明の構成要件で
ある比較手段や、入力手段、処理手段、警報発生手段を
構成している。なお、これら手段の各々については、当
業者には容易に実施できるので、各手段の具体的構成の
説明は省略する。

【０００８】図２は、本発明を実施する試験測定機器で
あるオシロスコープの表示スクリーン１００を示す図で
あり、このスクリーン１００上では、波形表示領域１１
０内に基準波形が表示され、制御領域１１５内にゲート
比較器制御パネルが表示されている。制御領域１１５に
は、４つの選択可能なゲート制御部である基準ゲート
（ＲｅｆＧａｔｅ）、ゲート２（Ｇａｔｅ２）、ゲート
３（Ｇａｔｅ３）及びゲート４（Ｇａｔｅ４）が存在す
る。これらゲート制御部は、パラメータを入力する入力
手段となる。ゲート１は、基準ゲートとみなせる。図２
の制御パネル（ソフトウェアで実現した制御パネル）を
用いて、基準ゲート（望むならば、他のゲートであるゲ
ート２、ゲート３、ゲート４）の動作パラメータを設定
する。よって、所定パラメータは、アクティブ・ゲート
の数、ゲートの位置、ゲートの幅及び許容値により決定
できる。図２の波形表示は、２つのゲートがアクティブ
（活性化状態）で、ゲート１及びゲート２が基準波形Ｒ
１及びＲ２を夫々発生していることを示している。他の
表示については、本発明に関連したものは後述するが、
その他については、省略する。なお、オシロスコープの
表示スクリーンに表示を行うこと自体は従来技術である
ので、その表示方法の説明を省略する。

【０００９】この制御スクリーンは、実行（走っている
人間のアイコンで示す）１４０、停止（黒い矩形）１４
５、一時停止（２個の矩形）１５０及びリセット１５５
を「ソフト・キー」で実現し、標準のテープ・デッキ制
御のように動作する「ロール・モード」を制御する。ロ
ール・モード走査の速度選択を行うために、制御部１６
０によりステップ・サイズ（移動のステップ量）を選択
する。

【００１０】本明細書において、「ロール・モード」と
は、蓄積された波形に対してゲートが移動することを意
味する。各ゲートの大きさは、表示スクリーンの幅に合
うようになっているので、取り込んだデータを表示する
ロール・モードと同じ方法で、波形がスクリーン上を水
平に移動する。すなわち、２つの波形上にゲートを配置
した後、比較を行いながら、両方のゲートは、両方の波
形上を同期して進む。この方法によって、比較のための
時間が、従来の１７時間から分単位の時間に短縮でき
る。この場合、基準波形は、ゲートを基に基準メモリに
蓄積された波形であり、データ取込み手段が取り込んだ
第１チャネルの信号と時間方向に実時間で順次比較して
いく。

【００１１】図３は、ゲート比較器に関する効果を示す
表示スクリーンの図である。図３では、２つの基準波形
Ｒ１（波形表示領域の上の波形）及びＲ２（波形表示領
域の下の波形）と、ゲート比較器領域の表示Ｍ１（矩形
パルス状の表示）とを示している。ゲート比較器の機能
がオン（動作状態）になると、総ての他のアクティブ・
ゲート（即ち、オンになった他のゲート）内の信号値を
ゲート１内の信号の値からポイント毎に減算して差を求
める。ゲートが信号に沿って時間的に移動する走査処理
により、総てのゲートが一緒に信号に沿って移動し、こ
れらゲート間の間隔を一定に維持する。

【００１２】比較手段（マイクロプロセッサ及びソフト
ウェア）により求めた差が、ユーザの設定可能な比較器
許容値（許容誤差）よりも大きいと、違反が生じたこと
になる。警報発生手段が、ユーザにこの違反を知らせ
る。この警報発生手段もマイクロプロセッサ及びソフト
ウェアで実現できる。ゲートが自動的に走査（移動）し
ている期間中に違反が生じると、走査状態が一時停止に
なり、違反を起こしたポイントがゲートの中心になるよ
うに、ゲートの位置が調整される。他の指示を用いて、
違反が生じたことを示してもよい。

【００１３】測定値及び波形の数学処理に関連して、基
準メモリ（後述する）に蓄積されたゲート領域の各値
は、これに適用される測定値であってもよい。さらに、
ゲート領域の各値は、波形の数式によって求めたもので
もよい。この数式による機能は、図３のスクリーン表示
の下側に示す。すなわち、この式は、演算１=((Ref1-Ref2)>0.2)+((Ref1-Ref2)<-0.2) であり、基準１と基準２の差が０．２よりも大きい場合
と、この差が−０．２よりも小さい場合との論理和を表
す。この条件が、ゲートとなり、このゲートの範囲外に
なると違反となる。

【００１４】図４は、４つのゲートを１つ以上の波形上
でも定義できることを示す図である。この場合、２つの
ゲートの領域が各波形上に定義されている。この例にお
いて、定義されたゲート領域であるゲート１、ゲート
２、ゲート３及びゲート４は、この特定ユーザが関心の
あるだろう信号の異常を囲んでいる。各ゲートされた領
域内のデータをオシロスコープ内の基準メモリにコピー
する。ユーザは、各ゲートが存在する波形信号源を選択
することもできる。再び図２を参照する。ユーザは、ス
ライド制御器１３０や、ノブなどの他の手段によってカ
ーソルを制御して、選択された波形上のゲートの水平位
置を調整できる点に留意されたい。ユーザは、ゲート幅
制御器により、ゲートの幅も制御できる。

【００１５】図５及び図６は、本発明により、ゲート領
域が基準メモリにコピーされた後における図４のゲート
領域を示す図である。データのゲート領域のみが基準メ
モリに蓄積されている点に留意されたい。この方法にお
いて、関心のあるデータのみが測定値又は数学演算に含
まれるので、測定及び波形数学処理の効率が改善され
る。

【００１６】長時間のデータ記録を扱うユーザにとっ
て、本発明が汎用的に使用できることに留意することは
重要である。しかし、ディスク・ドライブを試験するエ
ンジニアが必要性とすることを、本発明は直接的に満足
させられる。例えば、ディスク・ドライブ試験エンジニ
アが、典型的には、既知の良好なＰＲＭＬ（Partial Re
sponse Maximum Likelihood）読出しチャネル信号を基
準４用のメモリ・スロット（メモリ装置）に蓄積すると
する。基準１は、基準ゲート用に使用するので、この目
的のために、基準１を用いることは避けるべきである。
基準４メモリ内の既知の良好なＰＲＭＬ信号にゲートを
適用する（即ち、基準４メモリの信号を比較の際の基準
として用いる）ことを望むならば、ゲート４の出力（ゲ
ートで囲まれたデータ）が基準４メモリに通常は進ん
で、重ね書きされるので、前もって蓄積した基準データ
である良好なＰＲＭＬ信号がなくなってしまうので、ゲ
ート４をオフにして、ゲート４で囲まれた新たなデータ
が基準として蓄積されないようにすべきである。つぎ
に、ゲート１の信号源（ソース）として基準４メモリに
設定する（すなわち、基準４メモリの蓄積データを比較
の基準とする）。また、ゲート２の信号源を、読出した
チャネル信号（比較対象の信号）であるチャネル１（Ｃ
Ｈ１）に設定する。

【００１７】トリガ機能を適切に設定し、基準４メモリ
に予め蓄積されているパターンと同じパターンをディス
ク・ドライブから読み出すと仮定する。基準４メモリに
蓄積された基準データであるゲート１と、チャネル１の
データ（第１チャネルの信号）であるゲート２とが、比
較用に適切に整列（位置決め）されるまで、ユーザは、
これらゲートの位置を決めることができる、即ち、２つ
のゲート位置の相対位置を決定できる点に留意された
い。これら２つの波形を自動的に比較するために、ゲー
ト比較器をオンにし、実行（ラン）ボタンを押す。よっ
て、ゲート２が第１チャネルの信号を時間的に移動する
ことにより、チャネル１の信号からゲート１の基準に対
して違反となる部分を見つけることができる。よって、
蓄積された基準波形を信号の部分と繰り返し比較し、基
準波形を信号に沿って時間的に移動させることにより違
反の１つを検出でき、この違反の１つが検出されると警
報を発生することができる。ユーザは、データを走査し
て、総てのゲートのマスタ位置制御を同調させることに
より、波形を視覚的に比較できる。さらに、ユーザは、
ゲート１及びゲート２におけるゲートされたデータに対
する測定を定義できる。

【００１８】全体としてみた場合、このゲート比較器
は、ゲート制御及び機能の構造が独特である。従来のオ
シロスコープには、本明細書で記載するゲート比較器と
呼ばれる単一の概念がなかった。かかる従来のオシロス
コープは、数学処理により求めた波形を定義することに
より、いくらかゲート的な機能を実現している。すなわ
ち、ユーザが、ズーム（拡大／縮小）した波形を作成で
きる。各ズーム波形を波形数学スロット用メモリに蓄積
すると、そのスロットのメモリを数学演算に使用するこ
とができない。その結果、４つのズーム波形が定義され
ると、これら波形を波形数学演算に用いることができな
い。この従来技術とは異なり、本発明は、数学機能を用
いる能力を確保しながら、波形スロット・メモリと結び
つけることなく、ゲート機能を使用できる。

【００１９】従来のオシロスコープにおいて、スクロー
ル用に複数のゲートを互いにロックし、呼出されたゲー
ト間の水平オフセットを依然維持するために、ユーザ
は、他のメニューを操作しなければならない。本発明
は、単一のゲート比較器制御パネル上の必要な総ての制
御をグループ化することにより、上述の問題を克服して
いる。

【００２０】従来のいくつかのオシロスコープは、自動
スクロールとして知られている機能を有する。自動スク
ロール機能により、ユーザは、データ記録の全体の長さ
をスクリーン上で自動的にスクロールして、単に視覚に
よる比較を行える。ユーザは、スクロールの速度を調整
することもできる。上述の如く、１秒当たり５００ポイ
ントの割合で表示するように、この自動スクロールを設
定すると、３２Ｍビットの記録の視覚検索では、１７時
間かかる。従来の長時間記録オシロスコープにおいて
は、本明細書で述べた如く、基準のズーム領域を「生
の」波形と比較する自動手段がなかった点に留意するこ
とが重要である。すなわち、本発明の許容値（許容誤
差）及び比較の特徴は、従来の長時間記憶オシロスコー
プには存在しなかった。

【００２１】他のゲート比較器制御スクリーン（入力手
段）の表示を図７に示す。この制御スクロールの特徴
は、次の通りである。各ゲート、即ち、ゲート１、ゲー
ト２、ゲート３及びゲート４の各々に制御メニューが用
意されている。各ゲート・メニューにより、ユーザは、
そのゲートの波形信号源と、その波形のゲートの位置と
を選択できる。さらに、各ゲートには、オン／オフ制御
がある。また、この制御スクリーンは、実行（ラン）、
一時停止、及び停止機能のソフト・キーも有する。これ
らソフト・キーは、標準テープ・デッキ制御器のように
動作する「ロール・モード」を制御する。ロール・モー
ド走査の速度選択も行え、この制御をステップ・サイズ
の選択により行う。

【００２２】ソフトウェア・トリガ・メニューがゲート
比較器の一部を形成してもよい。この方法において、例
えば、端で停止するように、ロール・モード・スクロー
ルを設定してもよい。ラント・トリガ（２つのトリガ・
レベルの内の一方を横切った後、他方のトリガ・レベル
を横切ることなく、再び一方のトリガ・レベルを横切っ
た時にトリガを発生）などの他の形式のソフトウェア・
トリガ・モードは、ゲート比較器メニュー・システムに
含ませることができる。

【００２３】図７の制御スクロールの上側に配置された
制御に留意されたい。総てのゲートの設定に影響するマ
スタ制御がある。すなわち、マスタ・ゲート位置制御を
調整することにより、総てのゲートが同じ量だけ移動す
る一方、これらゲートの間の間隔が一定に維持される。
同様に、マスタ幅制御は、総てのゲートの幅を制御し、
マスタ許容値（許容誤差）制御により、共通の許容値を
総てのゲートに与える。

【００２４】図１は、本発明を実施するのに有用な最新
デジタル・オシロスコープ６００の簡略化したブロック
図である。このオシロスコープ６００は、被試験回路か
らの信号を受ける入力端子（第１チャネル）６０１を有
する。フロント・エンド（入力部）には、トリガ回路６
０５を有し、このトリガ回路６０５は、入力信号に応じ
てトリガ信号を発生し、取込みシステム（データ取込み
手段）６１０に供給する。取り込みシステム６１０は、
入力信号をデジタル化し、デジタル信号サンプルを連続
的に取り込み、トリガ信号に応じて、これらデジタル信
号サンプルを取込みメモリ６１５に蓄積する。取込みメ
モリ６１５は、信号サンプルをラスタライザ（ラスタ化
回路）６２０に供給する。このラスタライザ（信号処理
手段）６２０は、信号サンプルを処理し（即ち、時系列
のサンプルを、ラスタ表示が行える形式に変換する）、
ラスタ・メモリ６２２に蓄積して、ラスタ表示を行える
ようにする。よりアナログ的な表示を行うために、ラス
タ・コンバイナ（ラスタ表示に必要な信号を組み合わせ
る回路）６２５及びラスタ・メモリ６３０、６３５の構
成を設けて、表示信号の自然な減衰（新たなサンプルと
重ならない限り、表示輝度が順次減衰する）を可能にす
る。この構成による出力信号をオシロスコープの表示ス
クリーン（表示手段）６４０上に表示する。オシロスコ
ープは、２個の制御器、即ち、処理制御器６５０及びシ
ステム制御器６６０の制御によって動作する。システム
制御器６６０は、基準メモリ６７０である基準１、基準
２、基準３及び基準４とインタフェースされている。こ
れら制御器が、上述の比較手段及び警報発生手段として
機能する。

【００２５】動作において、ゲート内のデータは、ゲー
トがオンならば、各取込みの更新毎にオシロスコープの
対応する基準メモリに移動する。例えば、ゲート１のデ
ータが基準メモリ１に蓄積され、ゲート４のデータが基
準４メモリに蓄積される。これは、上述の長時間記録オ
シロスコープの場合のように、利用可能な数学波形スロ
ット・メモリを無駄にしない。さらに、各基準メモリ
は、完全な１組の測定値をオン（使用可能）にできる。
これら測定値を数学演算に用いることができる。

【００２６】基準メモリ・スロットは、表示すべきデー
タを蓄積するのに容易な記憶場所以上の機能がある。ゲ
ートの大きさをウィンドウにあわせるために、一方のゲ
ートを、基準メモリの波形成分のスクリーン幅に自動的
にズームする。ゲート自体が適度な長時間記録に設定さ
れていると、基準波形内の異常を容易に識別することが
できないであろう。かかる場合、基準波形上にズーム・
ボックスを設定し、効果的にズームを行なう。また、基
準メモリ・スロットは、波形測定用のデータ又は波形数
学アプリケーションのデータを分ける。さらに、望むな
らば、基準メモリの内容をデータ・ファイルにしてもよ
い。

【００２７】長時間記録の総てのオシロスコープで使用
できる望ましい手段について上述した。この手段は、長
時間記録データの分析を容易にし、且つ、容易に処理で
きる。

【００２８】本発明のゲート比較器は、Ｗｉｎｄｏｗｓ
（登録商標）などのオペレーティング・システム上で動
作するＪＡＶＡ（登録商標）アプリケーション・ソフト
ウェアにて実現するのが望ましいと説明したが、本発明
は、かかるソフトウェアに制限されるものではなく、上
述の比較機能を実現するハードウェア回路も含むもので
ある。

【００２９】本発明は、デジタル・データに制限される
ものではなく、アナログ・データと共に用いても同様な
効果を得られることが当業者には理解できよう。

【００３０】本明細書で用いた用語「ゲート」は、波形
の一部に重ね合わせる視覚時間スロットのように、用語
「ウィンドウ」と同義語である。

【００３１】本発明は、オシロスコープ以外にも、ロジ
ック・アナライザやスペクトラム・アナライザなどの他
の試験測定機器にも有用なことが理解できよう。

【００３２】

【発明の効果】上述の如く、本発明によれば、ゲートと
して所定パラメータを決定し、このゲート内の基準波形
を入力信号と比較しする際、ゲートを時間的に移動させ
ることにより基準波形を信号に沿って時間的に移動させ
ながら比較を行う。この比較結果により違反を検出す
る。よって、長期間にわたって記録された波形から違反
を見つけることが簡単にできる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を用いるのに適するオシロスコープの簡
略化したブロック図である。

【図２】本発明を説明するために、２つの基準波形及び
ゲート比較制御パネルを表示する表示スクリーンの図で
ある。

【図３】本発明を説明するために、２つのアクティブ・
ゲート及び１つのゲート比較器の動作を示す表示スクリ
ーンの図である。

【図４】本発明を説明するために、１つ以上の波形上に
４つのゲートを定義できることを示す図である。

【図５】本発明を説明するために、４つのゲートを基準
メモリにコピーした後に、図４のゲートされた領域を示
す図である。

【図６】本発明を説明するために、４つのゲートを基準
メモリにコピーした後に、図４のゲートされた領域を示
す図である。

【図７】本発明を説明するために、ゲート比較器の制御
スクリーンを示す図である。

【符号の説明】

１００オシロスコープの表示スクリーン６００オシロスコープ６０１入力端子６０５トリガ回路６１０取込みシステム６１５取込みメモリ６２０ラスタライザ６２２メモリ６２５ラスタ・コンバイナ６３０ラスタ・メモリ６４０表示スクリーン６５０処理制御器６６０システム制御器

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者ポール・エイチ・ブックルアメリカ合衆国オレゴン州 97008 ビーバートンサウス・ウエストモルガン・ドライブ 8385

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】所定パラメータの違反を検出するために
用いるパラメータを入力する入力手段と、第１チャネルの信号を取り込むデータ取込み手段と、上記信号を処理する処理手段と、上記信号を表す波形を表示する表示手段と、第１基準波形を蓄積する基準メモリと、蓄積された上記第１基準波形を上記信号の部分と繰り返
し比較し、上記基準波形を上記信号に沿って時間的に移
動させることにより上記違反の１つを検出する比較手段
と、上記違反の１つが検出されると、警報を発生する手段と
を具えた試験測定機器。
【請求項２】上記所定パラメータは、アクティブ・ゲ
ートの数、ゲートの位置、ゲートの幅及び許容値により
決めることを特徴とする請求項１の試験測定機器。
【請求項３】上記基準波形を基準信号上のゲートの位
置で決め、上記表示スクリーン上に表示されたゲート位置制御手段
を調整することにより、上記ゲートの位置を決めること
を特徴とする請求項１の試験測定機器。
【請求項４】蓄積された波形を入力波形と比較して、
試験測定を行う方法であって、所定パラメータの違反を検出するために用いるパラメー
タを入力し、第１チャネルの信号を取込み、上記信号を処理手段にて処理し、上記信号を表す波形を表示スクリーン上に表示し、蓄積された上記第１基準波形を上記信号の部分と繰り返
し比較し、上記基準波形を上記信号に沿って時間的に移
動させることにより上記違反の１つを検出し、上記違反の１つが検出されると、警報を発生することを
特徴とする試験測定方法。
【請求項５】上記所定パラメータは、アクティブ・ゲ
ートの数、ゲートの位置、ゲートの幅及び許容値により
決めることを特徴とする請求項４の試験測定方法。
【請求項６】上記基準波形を基準信号上のゲートの位
置で決めるステップを更に具え、上記表示スクリーン上に表示されたゲート位置制御手段
を調整することにより、上記ゲートの位置を決めること
を特徴とする請求項４の試験測定装置。