JP5817041B2 - 試験測定機器及び波形表示方法 - Google Patents
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Description
(1)被試験信号を受ける入力端子と;該入力端子に関連して上記被試験信号を受け、上記被試験信号からデジタル・サンプルを発生する1個以上のアナログ・デジタル変換器と;上記被試験信号のデジタル・サンプルをデータ記録として蓄積する取込みメモリと;上記被試験信号に関連した1つ以上の波形を描く表示器と;上記入力端子に結合した入力端を有し、第1トリガ条件に基づいて上記被試験信号内のライブ・イベントを検出して、上記ライブ・トリガ・イベントの時点に適合するように上記波形の自動調整を行う第1トリガ回路と;上記被試験信号の取込みを休止する入力制御器と;第2トリガ条件に基づいて上記データ記録からポスト取込みトリガ・イベントを検出し、上記ポスト取込みトリガ・イベントの時点に適合するように上記波形の1つの自動調整を行う第2トリガ回路とを具えた試験測定機器。
(2)上記ライブ・トリガ・イベントを検出する上記第1トリガ条件を設定すると共に、上記ポスト取込みトリガ・イベントを検出する上記第2トリガ条件を設定するトリガ制御器を更に具えた態様1の試験測定機器。
(3)上記トリガ制御器は、上記ライブ・トリガ・イベント用の第1トリガ・ポイントを選択すると共に、上記ポスト取込みトリガ・イベント用の第2トリガ・ポイントを選択するトリガ・レベル制御器を含む態様2の試験測定機器。
(4)上記第2トリガ回路は、上記表示器上の上記波形の1つを自動的にシフトして、上記ポスト取込み・トリガ・イベントの時点を上記トリガ・レベル制御器の調整に適合させる態様3の試験測定機器。
(5)上記第2トリガ回路は、上記データ記録内のイベントを検索する態様1の試験測定機器。
(6)上記第2トリガ回路は、トリガ・レベル制御器の調整に応答して上記データ記録内のイベントを検索する態様5の試験測定機器。
(7)上記ポスト取込みトリガ・イベントが以前のトリガ・ポイントに関連し;上記第2トリガ回路は、上記以前のトリガ・ポイントの直前のトリガ・ポイントを蓄積する第1メモリと;上記以前のトリガ・ポイントの直後のトリガ・ポイントを蓄積する第2メモリとを更に具えた態様1の試験測定機器。
(8)上記以前のトリガ・ポイントの直前のトリガ・ポイントを上記以前のトリガ・ポイントと比較し、上記以前のトリガ・ポイントの直後のトリガ・ポイントを上記以前のトリガ・ポイントと比較する比較器を更に具えた態様7の試験測定機器。
(9)上記比較器は、新たなトリガ・ポイントとして、上記以前のトリガ・ポイントに最も近いトリガ・ポイントを選択する態様8の試験測定機器。
(10)試験測定機器にポスト取込みトリガに関連した波形を表示する方法であって;被試験信号からデータを取り込んで、データ記録として取込みメモリに蓄積するステップと;上記データを取込みながら、上記被試験信号に関連した波形を表示するステップと;上記データ記録の取込みを休止した後、標準トリガ制御器を調整してトリガ条件を選択するステップと;上記トリガ条件に基づいて上記データ記録からポスト取込みトリガ・イベントを検出するステップと;上記ポスト取込みトリガ・イベントの時点に適合するように、上記波形の位置を自動的にシフトするステップとを具えた試験測定方法。
(11)上記標準トリガ制御器がトリガ・レベル制御器を含んでおり;上記データを取込みながら第1トリガ・ポイントを選択するように上記トリガ・レベル制御器を調整するステップと;上記データを取り込んだ後に第2トリガ・ポイントを選択するように上記トリガ・レベル制御器を調整するステップと;ライブ取込みモードにて上記被試験信号の取込みを再開するステップと;上記第2トリガ・ポイントに応じて上記被試験信号に関連した上記波形を表示するステップとを更に具えた態様10の方法。
(12)上記データを取り込んだ後に上記トリガ・レベル制御器を調整するステップは、上記ポスト取込みトリガ・イベント用の上記第2トリガ・ポイントを選択することを含む態様11の方法。
(13)上記標準トリガ制御器がトリガ・レベル制御器を含み;上記トリガ・レベル制御器の調整に応じて上記データ記録内のイベントを検索するステップを更に具える態様10の方法。
(14)トリガ回路が上記トリガ条件に基づいて上記データ記録内の上記ポスト取込みトリガ・イベントを検出するステップを更に具える態様10の方法。
(15)上記ポスト取込みトリガ・イベントが種々のトリガ・ポイントに関連し;上記トリガ回路の第1メモリ内の以前のトリガ・ポイントの直前のトリガ・ポイントを蓄積するステップと;上記トリガの第2メモリ内の上記以前のトリガ・ポイントの直後のトリガ・ポイントを蓄積するステップとを更に具えた態様14の方法。
(16)上記トリガ回路の比較器が、上記以前のトリガ・ポイントの直前のトリガ・ポイントを上記以前のトリガ・ポイントと比較し、上記以前のトリガ・ポイントの直後の上記トリガ・ポイントを上記以前のトリガ・ポイントと比較するステップを更に具えた態様15の方法。
(17)上記比較器が上記直前のトリガ・ポイントに最も近いトリガ・ポイントを新たなトリガ・ポイントとして選択するステップを更に具えた態様16の方法。
(18)1つ以上の対応被試験信号を受ける1個以上の入力端子と;上記1つ以上の被試験信号のデジタル・サンプルを対応する1つ以上のデータ記録として蓄積する1個以上の取込みメモリと;上記1つ以上の被試験信号に関連した少なくとも1つの波形を描画する表示器と;上記1つ以上の入力端子に結合した入力端を有し、第1トリガ条件に基づいて上記1つ以上の被試験信号内の少なくとも1つのライブ・トリガ・イベントを検出し、上記少なくとも1つのライブ・トリガ・イベントの時点に適合するように上記少なくとも1つの波形を自動調整するトリガ回路と;上記被試験信号の上記取込みを休止する入力制御器とを具え、上記トリガ回路は、第2トリガ条件に基づいて上記1つ以上のデータ記録から少なくとも1つのポスト取込みトリガ・イベントを検出し、上記少なくとも1つのポスト取込みトリガ・イベントの時点と適合するように少なくとも1つの波形を自動調整することを特徴とする試験測定機器。
(19)少なくとも1つのライブ・トリガ・イベントを検出する第1トリガ条件と、少なくとも1つのポスト取込みトリガ・イベントを検出する第2トリガ条件を有するトリガ制御器を更に具えた態様18の試験測定機器。
(20)上記トリガ制御器は、上記少なくとも1つのライブ・トリガ・イベント用の第1トリガ・ポイントを選択すると共に、上記少なくとも1つのポスト取込みトリガ・イベント用の第2トリガ・ポイントを選択するトリガ・レベル制御器を含む態様19の試験測定機器。
105 取込み及びトリガ・ユニット
108 アナログ・デジタル変換器
110 入力端子
115 取込みメモリ
117 データ記録
120 ライブ・トリガ回路
125 ポスト取込みトリガ回路
130 制御器
135 表示ユニット
205 プローブ
208 アナログ・デジタル変換器
210 プロセッサ
215 入力/出力回路
220 サポート回路
225 メモリ
230 トリガ制御器
232 標準制御器
240 処理回路
245 メモリ
250 表示器
252 特定制御器
705 第1メモリ
710 第2メモリ
715 比較器
750、755、760 トリガ・メモリ
1400 試験測定機器
1405 トリガ・ユニット
1412 デジタル・アナログ変換器
1415 取込みメモリ
1417 データ記録
1420 アナログ・トリガ回路
1430 制御器
1435 表示ユニット
1600 表示
Claims (5)
- 被試験信号を受ける入力端子と、
該入力端子に関連して上記被試験信号を受け、上記被試験信号からデジタル・サンプルを発生する1個以上のアナログ・デジタル変換器と、
上記被試験信号のデジタル・サンプルをデータ記録として蓄積する取込みメモリと、
上記被試験信号に関連した1つ以上の波形を描画する表示器と、
上記入力端子に結合した入力端を有し、第1トリガ条件に基づいて上記被試験信号内のライブ・トリガ・イベントを検出して、上記ライブ・トリガ・イベントの時点に適合するように上記波形の自動調整を行う第1トリガ回路と、
上記被試験信号の取込みを休止する入力制御器と、
第2トリガ条件に基づいて上記データ記録からポスト取込みトリガ・イベントを検出し、上記ポスト取込みトリガ・イベントの時点に適合するように上記波形の1つの自動調整を行う第2トリガ回路と、
上記ライブ・トリガ・イベントを検出するための上記第1トリガ条件を設定すると共に、上記ポスト取込みトリガ・イベントを検出するための上記第2トリガ条件を設定するように構成されるトリガ制御器とを具え、
もし上記第2トリガ条件が上記被試験信号の取込みの休止中に変更されると、上記被試験信号の取込みを再開した後、上記第1トリガ条件を上記第2トリガ条件と同じにすることを特徴とする試験測定機器。 - 上記第2トリガ回路が、
描画された上記波形の以前のトリガ・イベントの直前のトリガ・イベントを蓄積する第1メモリと、
上記以前のトリガ・イベントの直後のトリガ・イベントを蓄積する第2メモリと、
上記以前のトリガ・イベントの直前の上記トリガ・イベントを上記以前のトリガ・イベントと比較すると共に、上記以前のトリガ・イベントの直後の上記トリガ・イベントを上記以前のトリガ・イベントと比較し、上記以前のトリガ・イベントに最も近い上記トリガ・イベントを新しいトリガ・イベントとして選択する比較器と
を更に具える請求項1記載の試験測定機器。 - 1つ以上の対応する被試験信号を受ける1個以上の入力端子と、
1つ以上の上記入力端子とそれぞれ結合され、1つ以上の上記被試験信号のデジタル・サンプルを対応する1つ以上のデータ記録として蓄積する1個以上の取込みメモリと、
1個以上の上記取込みメモリに結合され、蓄積された上記デジタル・サンプルを受けて、1つ以上の上記被試験信号に関連した少なくとも1つの波形を描画する表示器と、
1個以上の上記入力端子に結合された入力端を有し、第1トリガ条件に基づいて1つ以上の上記被試験信号内の少なくとも1つのライブ・トリガ・イベントを検出し、少なくとも1つの上記ライブ・トリガ・イベントの時点に適合するように少なくとも1つの上記波形を自動調整するトリガ回路と、
上記被試験信号の取込みを休止する入力制御器と、
少なくとも1つの上記ライブ・トリガ・イベントを検出するための上記第1トリガ条件を設定すると共に、少なくとも1つのポスト・トリガ・イベントを検出するための第2トリガ条件を設定するトリガ制御器と
を具え、
上記トリガ回路は、上記取込みを休止すると、上記第2トリガ条件に基づいて1つ以上の上記データ記録から少なくとも1つのポスト取込みトリガ・イベントを検出し、少なくとも1つの上記ポスト取込みトリガ・イベントの時点と適合するように少なくとも1つの上記波形を自動調整し、
もし上記第2トリガ条件が上記被試験信号の取込み休止中に変更されると、上記被試験信号の取込み再開後に、上記第1トリガ条件を上記第2トリガ条件と同じにすることを特徴とする試験測定機器。 - 試験測定機器上でポスト取込みトリガに関連した波形を表示する方法であって、
第1トリガ条件に基づいて被試験信号からデータを取り込んで、データ記録として取込みメモリに蓄積する処理と、
上記データを取込みながら、上記被試験信号に関連した波形を表示する処理と、
上記データ記録の取込みを休止した後、標準トリガ制御器を調整して第2トリガ条件を選択する処理と、
上記第2トリガ条件に基づいて上記データ記録中のポスト取込みトリガ・イベントを検出する処理と、
上記ポスト取込みトリガ・イベントの時点に適合するように、上記波形の位置を自動的にシフトする処理と
もし上記第2トリガ条件が上記被試験信号の取込み休止中に変更されると、上記被試験信号の取込み再開後に、上記第1トリガ条件を上記第2トリガ条件と同じに設定する処理と
を具えた波形表示方法。 - 表示された上記波形の以前のトリガ・ポイントの直前のトリガ・ポイントをトリガ回路の第1メモリ中に蓄積する処理と、
上記以前のトリガ・ポイントの直後のトリガ・ポイントを上記トリガ回路の第2メモリ中に蓄積する処理と、
上記以前のトリガ・イベントの直前の上記トリガ・イベントを上記以前のトリガ・イベントと比較すると共に、上記以前のトリガ・イベントの直後の上記トリガ・イベントを上記以前のトリガ・イベントと比較する処理と、
新しいトリガ・イベントとして、上記以前のトリガ・イベントに最も近い上記トリガ・イベントを選択する処理と
を更に具える請求項4記載の波形表示方法。
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