JP5817042B2 - 試験測定機器 - Google Patents
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Description
(1)被試験信号を受ける入力端子と;該入力端子に関連して上記被試験信号を受け、上記被試験信号からデジタル・サンプルを発生する1個以上のアナログ・デジタル変換器と;上記被試験信号のデジタル・サンプルをデータ記録として蓄積する取込みメモリと;上記被試験信号に関連した表示器と;上記入力端子に結合した入力端を有し、第1トリガ条件に基づいて上記被試験信号内のライブ・イベントを検出して、上記ライブ・トリガ・イベントの時点に適合するように上記波形の自動調整を行う第1トリガ回路と;第2トリガ条件に基づいて上記データ記録から1つ以上のポスト取込みトリガ・イベントを検出する第2トリガ回路とを具え;上記表示器が1つ以上の設定可能なトリガ制御に応じて上記1つ以上のポスト取込みトリガ・イベントと上記データ記録に関連した波形との表示を調整することを特徴とする試験測定機器。
(2)上記1個以上のトリガ制御器は、2つ以上のポスト取込みトリガ・イベント又は2つ以上の波形を同時に表示させる態様1の試験測定機器。
(3)上記2つ以上のポスト取込みトリガ・イベントの各々が上記波形の対応する1つに関連する態様2の試験測定機器。
(4)上記1つ以上のトリガ制御器により、上記データ記録に関連した全てのポスト取込みトリガ・イベントを同時に表示する態様1の試験測定機器。
(5)上記1個以上のトリガ制御器により、上記データ記録に関連したN個のポスト取込みトリガ・イベントを同時に表示する態様1の試験測定機器。
(6)上記1個以上のトリガ制御器が、上記データ記録に関連し同時に表示するポスト取込みトリガ・イベントの数のレンジを調整する態様1の試験測定機器。
(7)上記1個以上のトリガ制御器が、上記データ記録に関連し同時に表示する波形の数のレンジを調整する態様6の試験測定機器。
(8)単一の波形及び単一のポスト取込みトリガ・イベントが表示されるまで、上記1個以上のトリガ制御器が上記レンジを調整する態様7の試験測定機器。
(9)上記1個以上のトリガ制御器が、(a)上記データ記録に関連する次のポスト取込みトリガ・イベントを見つけて表示する、(b)上記データ記録に関連する以前のポスト取込みトリガ・イベントを見つけて表示する、(c)上記データ記録に関連する第1ポスト取込みトリガ・イベントを見つけて表示する、(d)上記データ記録に関連する最後のポスト取込みトリガ・イベントを見つけて表示することの少なくとも1つを行う態様1の試験測定機器。
(10)上記第2トリガ回路は、3つ以上のポスト取込みトリガ・イベントを蓄積するメモリを更に具える態様1の試験測定機器。
(11)上記メモリが上記3つ以上のポスト取込みトリガ・イベントの各々の時点又は位置を蓄積する態様10の試験測定機器。
(12)上記第2トリガ回路がN個のポスト取込みトリガ・イベントを蓄積するメモリを更に具え、Nが上記データ記録に関連したポスト取込みトリガ・イベントの総数未満である態様1の試験測定機器。
(13)上記第2トリガ回路が複数のメモリ位置を有するメモリを更に具え、上記メモリ位置の各々が上記表示器の対応する1列に関連し、上記対応する1列の時点又は位置にてポスト取込みトリガ・イベントが生じたかを示す情報を上記メモリの各々が蓄積する態様1の試験測定機器。
(14)上記表示器がこの表示器の頂部領域方向の図形マーカにより上記ポスト取込みトリガ・イベントの各々をマークし、上記図形マーカが上記ポスト取込みトリガ・イベントのトリガ時点に対応する態様1の試験測定機器。
(15)被試験信号を受ける入力端子と;上記被試験信号のデジタル・サンプルをデータ記録として蓄積する取込みメモリと;上記被試験信号に関連した複数の波形を描画する表示器と;第1トリガ条件に基づいて上記被試験信号内の第1トリガ・イベントを検出し、ライブ・トリガ・モード期間中に複数の波形の少なくとも1つを調整して上記第1トリガ・イベントの時点に適合させる検出器と;第2トリガ条件に基づいて上記データ記録内の第2トリガ・イベントを検出する第2検出器と;上記第1トリガ条件又は上記第2トリガ条件を設定する第1トリガ制御器と;上記第2トリガ・イベント又は波形のいずれを上記表示器に表示させるかを設定する第2トリガ制御器とを具えた試験測定機器。
(16)上記第1トリガ制御器が標準トリガ制御器を有する態様15の試験測定機器。
(17)上記第2トリガ制御器がポスト取込みモード特定トリガ制御器を有する態様15の試験測定機器。
(18)被試験信号を受ける入力端子と;該入力端子に関連し、上記被試験信号を受けて、上記被試験信号からデジタル・サンプルを発生する1個以上のアナログ・デジタル変換器と;上記被試験信号のデジタル・サンプルをデータ記録として蓄積する取込みメモリと;上記被試験信号に関連した1つ以上の波形を描画する表示器と;上記入力端子に結合した入力端を有し、第1トリガ条件に基づいて上記被試験信号内のライブ・トリガ・イベントを検出し、上記ライブ・トリガ・イベントの時点に適合するように上記1つ以上の波形を自動調整するアナログ・トリガ回路と;上記取込みメモリからの上記デジタル・サンプルを受けて、変換されたアナログ信号を発生する1つ以上のデジタル・アナログ変換器とを具え;上記アナログ・トリガ回路が上記変換されたアナログ信号を受け、第2トリガ条件に基づいて上記データ記録内のポスト取込みトリガ・イベントを検出し、上記1つ以上の波形を自動調整して上記ポスト取込みトリガ・イベントの時点に適合させることを特徴とする試験測定機器。
(19)上記ライブ・トリガ・イベントを検出するために上記第1トリガ条件を設定し、上記ポスト取込みトリガ・イベントを検出するために上記第2トリガ条件を設定する第1トリガ制御器を更に具えた態様18の試験測定機器。
(20)上記表示器に上記トリガ・イベント又は波形のいずれを表示するかを設定する第2トリガ制御器を更に具えた態様19の試験測定機器。
105 取込み及びトリガ・ユニット
108 アナログ・デジタル変換器
110 入力端子
115 取込みメモリ
117 データ記録
120 ライブ・トリガ回路
125 ポスト取込みトリガ回路
130 制御器
135 表示ユニット
205 プローブ
208 アナログ・デジタル変換器
210 プロセッサ
215 入力/出力回路
220 サポート回路
225 メモリ
230 トリガ制御器
232 標準制御器
240 処理回路
245 メモリ
250 表示器
252 特定制御器
705 第1メモリ
710 第2メモリ
715 比較器
750、755、760 トリガ・メモリ
1400 試験測定機器
1405 トリガ・ユニット
1412 デジタル・アナログ変換器
1415 取込みメモリ
1417 データ記録
1420 アナログ・トリガ回路
1430 制御器
1435 表示ユニット
1600 表示
Claims (2)
- 被試験信号を受ける入力端子と、
該入力端子に関連して上記被試験信号を受け、上記被試験信号からデジタル・サンプルを発生する1個以上のアナログ・デジタル変換器と、
上記被試験信号のデジタル・サンプルをデータ記録として蓄積する取込みメモリと、
上記取込みメモリに結合され、蓄積された上記デジタル・サンプルを受け、上記被試験信号に関連した波形を表示する表示器と、
上記入力端子に結合した入力端を有し、第1トリガ条件に基づいて上記被試験信号内のライブ・トリガ・イベントを検出して、上記ライブ・トリガ・イベントの時点に適合するように上記波形の自動調整を行う第1トリガ回路と、
上記第1トリガ条件と異なる第2トリガ条件に基づいて上記データ記録から1つ以上のポスト取込みトリガ・イベントを検出する第2トリガ回路とを具え、
上記表示器が1つ以上のトリガ制御器の設定変更に応じて、上記ライブ・トリガ・イベントの時点に適合する上記波形の表示を維持しながら、上記データ記録に関連した上記ポスト取込みトリガ・イベントに基づく第2波形の表示を上記時点に適合するよう調整することを特徴とする試験測定機器。 - 被試験信号を受ける入力端子と、
該入力端子に関連して上記被試験信号を受け、上記被試験信号からデジタル・サンプルを発生する1個以上のアナログ・デジタル変換器と、
上記被試験信号のデジタル・サンプルをデータ記録として蓄積する取込みメモリと、
上記取込みメモリに結合され、蓄積された上記デジタル・サンプルを受け、上記被試験信号に関連した波形を表示する表示器と、
上記入力端子に結合した入力端を有し、第1トリガ条件に基づいて上記被試験信号内のライブ・トリガ・イベントを検出して、上記ライブ・トリガ・イベントの時点に適合するように上記波形の自動調整を行う第1トリガ回路と、
上記第1トリガ条件と異なる第2トリガ条件に基づいて上記データ記録から1つ以上のポスト取込みトリガ・イベントを検出する第2トリガ回路とを具え、
上記表示器が1つ以上のトリガ制御器の設定変更に応じて、上記データ記録に関連した上記ポスト取込みトリガ・イベントに基づく第2波形の表示を上記時点に適合するよう調整すると共に、表示される上記第2波形の数を調整することを特徴とする試験測定機器。
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