JP6174310B2 - オシロスコープ用取込みシステム及びこれに用いる方法 - Google Patents
オシロスコープ用取込みシステム及びこれに用いる方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6174310B2 JP6174310B2 JP2012217340A JP2012217340A JP6174310B2 JP 6174310 B2 JP6174310 B2 JP 6174310B2 JP 2012217340 A JP2012217340 A JP 2012217340A JP 2012217340 A JP2012217340 A JP 2012217340A JP 6174310 B2 JP6174310 B2 JP 6174310B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory
- channels
- acquisition
- sampling rate
- controller
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/02—Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
- G01R13/0218—Circuits therefor
- G01R13/0272—Circuits therefor for sampling
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/02—Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
- G01R13/0218—Circuits therefor
- G01R13/0236—Circuits therefor for presentation of more than one variable
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/02—Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
- G01R13/029—Software therefor
Description
a.異なる入力信号を取込み又は測定する複数のチャンネルと、
b.複数の上記チャンネルから被試験信号を夫々受けて、デジタル・サンプルにデジタル化する複数のA/Dコンバータ(2.1、2.2、・・・、2.n)と、
c.複数の上記A/Dコンバータに結合され、複数の上記A/Dコンバータからの上記デジタル・サンプルを記憶する取込みメモリ(10)と、
d.複数の上記チャンネルの選択された少なくとも1つについて、上記取込みメモリ内に1つ以上のメモリ長(又はレコード長)を割り当てるメモリ割当プロセッサ(4)とを具えている。
複数の上記チャンネルのサンプリング・レートを制御するサンプリング・レート・コントローラを更に具えている。
上記取込みメモリ中に記憶された選択された上記チャンネルに関する上記デジタル・サンプルを処理及び表示するための表示プロセッサを更に具えている。
a.異なる入力信号を取込み又は測定する複数のチャンネルから1つ以上のチャンネルを選択するステップと、
b.複数の上記チャンネルの選択に応じて、1つ以上のメモリ長で取込みメモリ(10)を区分けすることによって、上記取込みメモリ(10)中のメモリ・リソースを選択された上記チャンネルに割り当てるステップとを具えている。
a.複数の上記チャンネルから被試験信号を夫々受けて、デジタル・サンプルにデジタル化する複数のA/Dコンバータ(2.1、2.2、・・・、2.n)と、
b.複数の上記チャンネルからの信号の速度(又は周波数)に基いて、複数の上記A/Dコンバータについてサンプリング・レートを制御するサンプリング・レート・コントローラ(7)と、
c.複数の上記A/Dコンバータからの上記デジタル・サンプルを記憶する取込みメモリ (10)とを具えている。
a.複数のチャンネルについてサンプル・レート又はサンプリング・レートを指定するステップと、
b.指定されたサンプル・レート又はサンプリング・レートを用いて入力信号をデジタル化したサンプル・データに変換するステップと、
c.指定された上記サンプリング・レートに応じて、取込みメモリ(10)を複数のメモリ長に区分けすることによって、上記取込みメモリ(10)中のメモリ・リソースを複数の上記チャンネルに割り当てるステップとを具えている。
a.複数のチャンネルから取り込まれた信号について周波数を検出するステップと、
b.検出された上記周波数に応じて、複数の上記チャンネルについてサンプリング・レートを指定するステップと、
c.指定されたサンプリング・レートを用いて入力信号をデジタル化したサンプル・データに変換するステップと、
d.指定された上記サンプリング・レートに応じて、取込みメモリ(10)を複数のメモリ長に区分けすることによって、上記取込みメモリ(10)中のメモリ・リソースを複数の上記チャンネルに割り当てるステップとを具えている。
異なる入力信号を取込み又は測定する複数のチャンネルと、
複数の上記チャンネルから被試験信号を夫々受けて、デジタル・サンプルにデジタル化する複数のA/Dコンバータと、
複数の上記A/Dコンバータに結合され、複数の上記A/Dコンバータからの上記デジタル・サンプルを記憶する取込みメモリと
を具えたオシロスコープのための取込みシステムで用いる方法であって、
複数のチャンネルから取り込んだ入力信号について速度を検出するステップと、
検出された上記速度に応じて複数の上記チャンネルについてサンプリング・レートを指定するステップと、
指定された上記サンプリング・レートを用いて上記入力信号をデジタル化したサンプル・データに変換するステップと、
指定された上記サンプリング・レートに応じて上記取込みメモリを複数のメモリ長に区分けすることによって上記取込みメモリ中のメモリ・リソースを割り当てるステップとを具え、
上記メモリ・リソースを割り当てるステップにおいて、選択された上記チャンネルについて、指定された上記サンプリング・レートが高いほど、より長いメモリ長を割り当てることを特徴としている。
B.i=Integer [S.i/S.min] (i=1、2、・・・、n)
T=B.1+B.2+・・・+B.n
M.i=B.i/T (i=1、2、・・・、n)
L.i=メモリ・サイズ×M.i(i=1、2、・・・、n)
3 サンプリング・データ・プロセッサ
4 メモリ割当プロセッサ
4’メモリ割当プロセッサ
5 表示プロセッサ
6 データ取込みコントローラ
8 メモリ割当パラメータ・レジスタ
9 メモリ割当コントローラ
10 取込みメモリ
11 表示コントローラ
12 システム・プロセッサ
13 前面パネル
14 通信インタフェース
15 表示パラメータ・レジスタ
16 表示バッファ
18 メモリR/W回路
19 デマルチプレクサ・ユニット
20 間引き論理回路
24 波形プロセッサ
25 制御線
40 可変サンプリング・パルス発生部
42 発振回路
43 可変パルス発生部
44 制御コード・レジスタ
46 可変サンプリング・パルス発生部の出力端子
100 オシロスコープ
Claims (2)
- 異なる入力信号を取込み又は測定する複数のチャンネルと、
複数の上記チャンネルから被試験信号を夫々受けて、デジタル・サンプルにデジタル化する複数のA/Dコンバータと、
複数の上記A/Dコンバータに結合され、複数の上記A/Dコンバータからの上記デジタル・サンプルを記憶する取込みメモリと、
複数のチャンネルから取り込んだ上記被試験信号夫々について速度を検出し、検出された上記速度に応じて、異なるサンプリング・レートと上記取込みメモリ内に異なるメモリ長とを複数の上記チャンネルの夫々に割り当てるメモリ割当プロセッサと
を具えるオシロスコープ用取込みシステム。 - 異なる入力信号を取込み又は測定する複数のチャンネルと、
複数の上記チャンネルから被試験信号を夫々受けて、デジタル・サンプルにデジタル化する複数のA/Dコンバータと、
複数の上記A/Dコンバータに結合され、複数の上記A/Dコンバータからの上記デジタル・サンプルを記憶する取込みメモリと
を具えたオシロスコープ用取込みシステムに用いる方法であって、
複数のチャンネルから取り込んだ入力信号について速度を検出するステップと、
検出された上記速度に応じて複数の上記チャンネルについてサンプリング・レートを指定するステップと、
指定された上記サンプリング・レートを用いて上記入力信号をデジタル化したサンプル・データに変換するステップと、
指定された上記サンプリング・レートに応じて上記取込みメモリを複数のメモリ長に区分けすることによって上記取込みメモリ中のメモリ・リソースを割り当てるステップとを具え、
上記メモリ・リソースを割り当てるステップにおいて、選択された上記チャンネルについて、指定された上記サンプリング・レートが高いほど、より長いメモリ長を割り当てることを特徴とするオシロスコープ用取込みシステムに用いる方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201110312584.2 | 2011-09-28 | ||
CN201110312584.2A CN103034585B (zh) | 2011-09-28 | 2011-09-28 | 数字存储示波器的采集内存分配 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013072880A JP2013072880A (ja) | 2013-04-22 |
JP6174310B2 true JP6174310B2 (ja) | 2017-08-02 |
Family
ID=47008371
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012217340A Expired - Fee Related JP6174310B2 (ja) | 2011-09-28 | 2012-09-28 | オシロスコープ用取込みシステム及びこれに用いる方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9891248B2 (ja) |
EP (1) | EP2574936B1 (ja) |
JP (1) | JP6174310B2 (ja) |
CN (1) | CN103034585B (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103425803B (zh) * | 2013-08-10 | 2016-06-01 | 福州大学 | 利用低频采集卡采集脉冲信号的方法 |
US9874858B2 (en) * | 2014-03-18 | 2018-01-23 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Automation control system and a method in an automation control system |
DE102014205632A1 (de) * | 2014-03-26 | 2015-10-01 | Ford Global Technologies, Llc | Einzelradaufhängung sowie Hinterachse mit Einzelradaufhängungen für ein Fahrzeug und entsprechend ausgestattetes Fahrzeug |
CN104965936A (zh) * | 2015-06-16 | 2015-10-07 | 中国科学院微电子研究所 | 多通道数据采集与测试系统 |
EP3388844B1 (en) * | 2017-04-14 | 2019-12-25 | Tektronix, Inc. | Analog transitional storage |
US10845389B2 (en) * | 2018-03-05 | 2020-11-24 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Measurement device and method for visualization of multiple channels |
US20210063488A1 (en) * | 2019-08-28 | 2021-03-04 | Tektronix, Inc. | Signal path calibration of a hardware setting in a test and measurement instrument |
JP7404133B2 (ja) | 2020-03-27 | 2023-12-25 | 横河電機株式会社 | 計測システム、及びその制御方法 |
CN115083036A (zh) * | 2022-04-29 | 2022-09-20 | 杭州北导科技有限公司 | 全旅程交通安全管理装置 |
CN114898877B (zh) * | 2022-05-06 | 2023-07-04 | 上海铂桐医疗科技有限公司 | 适用于多维度健康数据的处理方法及系统 |
CN116048426B (zh) * | 2023-03-27 | 2023-06-27 | 南京芯驰半导体科技有限公司 | 信号处理方法、装置、电子设备及存储介质 |
CN116483013B (zh) * | 2023-06-19 | 2023-09-05 | 成都实时技术股份有限公司 | 一种基于多通道采集器的高速信号采集系统及方法 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2039432B (en) * | 1978-10-02 | 1983-01-26 | Lloyd Instr | Electronic memory unit |
JP2605896B2 (ja) * | 1989-11-30 | 1997-04-30 | 横河電機株式会社 | デジタルオシロスコープ |
JPH07234882A (ja) * | 1994-02-25 | 1995-09-05 | Yokogawa Electric Corp | 波形測定器 |
JP3112230B2 (ja) * | 1994-07-15 | 2000-11-27 | 横河電機株式会社 | 波形解析装置 |
JPH0980078A (ja) * | 1995-09-11 | 1997-03-28 | Yokogawa Electric Corp | ディジタルオシロスコープ |
US6459256B1 (en) | 2000-05-17 | 2002-10-01 | Tektronix, Inc. | Digital storage oscilloscope |
US6807496B2 (en) | 2002-05-02 | 2004-10-19 | Tektronix, Inc. | Acquisition system for a long record length digital storage oscilloscope |
US6748335B2 (en) * | 2002-05-06 | 2004-06-08 | Tektronix, Inc. | Acquisition system for a multi-channel relatively long record length digital storage oscilloscope |
US7158137B2 (en) | 2002-06-06 | 2007-01-02 | Tektronix, Inc. | Architecture for improved display performance in a signal acquisition and display device |
US7957938B2 (en) * | 2002-10-24 | 2011-06-07 | Lecroy Corporation | Method and apparatus for a high bandwidth oscilloscope utilizing multiple channel digital bandwidth interleaving |
CN200989914Y (zh) * | 2006-08-23 | 2007-12-12 | 王悦 | 一种数字存储示波器 |
CN101226339B (zh) * | 2007-12-28 | 2010-08-25 | 上海微电子装备有限公司 | 一种多采集通道的先进先出数据存储系统及其方法 |
US8324885B2 (en) | 2009-09-17 | 2012-12-04 | Tektronix, Inc. | Mixed signal acquisition system for a measurement instrument |
-
2011
- 2011-09-28 CN CN201110312584.2A patent/CN103034585B/zh not_active Expired - Fee Related
-
2012
- 2012-08-30 US US13/600,093 patent/US9891248B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2012-09-28 JP JP2012217340A patent/JP6174310B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2012-09-28 EP EP12186671.9A patent/EP2574936B1/en not_active Not-in-force
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2574936B1 (en) | 2018-11-07 |
CN103034585B (zh) | 2017-09-05 |
JP2013072880A (ja) | 2013-04-22 |
US9891248B2 (en) | 2018-02-13 |
EP2574936A3 (en) | 2017-02-22 |
US20130231882A1 (en) | 2013-09-05 |
EP2574936A2 (en) | 2013-04-03 |
CN103034585A (zh) | 2013-04-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6174310B2 (ja) | オシロスコープ用取込みシステム及びこれに用いる方法 | |
US8374811B2 (en) | High waveform throughput with a large acquisition memory | |
JP4408026B2 (ja) | デジタル・オシロスコープ及びその取込み装置 | |
US8024141B2 (en) | Test and measurement instrument and method for providing post-acquisition trigger control and presentation | |
US6615148B2 (en) | Streaming distributed test and measurement instrument | |
JP5817041B2 (ja) | 試験測定機器及び波形表示方法 | |
JP3670956B2 (ja) | 交互トリガ・モードを有するデジタル・ストレージ・オシロスコープ及び交互トリガ方法 | |
JP4439941B2 (ja) | 波形表示装置 | |
JP2000329793A (ja) | デジタル・ピーク検出器並びに最大値及び最小値検出方法 | |
US9589377B1 (en) | Real-time gap free time domain density histogram display with arbitrary sample rate | |
US8482564B2 (en) | Region overlap control for autorange/autoset functions | |
CN117368571B (zh) | 一种实时频谱分析仪及其数据处理方法 | |
JP5412787B2 (ja) | 波形表示装置及び波形表示方法 | |
JP4924882B2 (ja) | 波形測定装置 | |
US20230358788A1 (en) | Oscilloscope post processing system, method and measurement device | |
JP3057290B2 (ja) | 多チャンネル波形測定装置 | |
JP2021173646A (ja) | デジタルオシロスコープ | |
JP3651261B2 (ja) | 繰返し信号測定装置 | |
JPH04366770A (ja) | 波形解析装置 | |
JPH0755843A (ja) | 電気信号表示装置 | |
JP2009097979A (ja) | 波形測定装置 | |
HU177002B (hu) | Berendezés Akciós potenciálok, előnyösen EKG jelek televíziós képernyőn való megjelenítésére |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A625 | Written request for application examination (by other person) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A625 Effective date: 20150824 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160617 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160628 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20160928 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20161125 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170502 |
|
R155 | Notification before disposition of declining of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R155 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170706 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6174310 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |