JP3057290B2 - 多チャンネル波形測定装置 - Google Patents
多チャンネル波形測定装置Info
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- JP3057290B2 JP3057290B2 JP7174527A JP17452795A JP3057290B2 JP 3057290 B2 JP3057290 B2 JP 3057290B2 JP 7174527 A JP7174527 A JP 7174527A JP 17452795 A JP17452795 A JP 17452795A JP 3057290 B2 JP3057290 B2 JP 3057290B2
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、多チャンネルの波形測
定装置に関し、更に詳言すれば低速／高速現象を同時，
かつ確実に測定することの出来るディジタル方式の多チ
ャンネル波形測定装置に関するものである。
定装置に関し、更に詳言すれば低速／高速現象を同時，
かつ確実に測定することの出来るディジタル方式の多チ
ャンネル波形測定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来のこの種の波形測定装置において
は、例えば複数チャンネルを１つのグループとし、各グ
ループ毎にデータ長及びサンプル・レートが設定できる
ようになっており、更にその複数グループに分けた内の
１つのグループを基準とし、その基準のグループの時間
長に合うように各グループのサンプルレートに見合うデ
ータ長で内部動作を行こなわせるようになっていた。そ
の為、被測定対象に高速／低速現象が混在するような場
合、両現象を同時，かつ確実に測定することが難しいも
のとなっていた。
は、例えば複数チャンネルを１つのグループとし、各グ
ループ毎にデータ長及びサンプル・レートが設定できる
ようになっており、更にその複数グループに分けた内の
１つのグループを基準とし、その基準のグループの時間
長に合うように各グループのサンプルレートに見合うデ
ータ長で内部動作を行こなわせるようになっていた。そ
の為、被測定対象に高速／低速現象が混在するような場
合、両現象を同時，かつ確実に測定することが難しいも
のとなっていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明はこのような問
題点を解決する為になされたもので、高速／低速現象の
測定を同時，かつ確実に行うことの出来る多チャンネル
の波形測定装置を提供することを目的としたものであ
る。
題点を解決する為になされたもので、高速／低速現象の
測定を同時，かつ確実に行うことの出来る多チャンネル
の波形測定装置を提供することを目的としたものであ
る。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、サンプルレー
ト及びデータ長を各グループ毎に設定し、データ長／サ
ンプルレートからデータの取り込み時間を求め、この取
り込み時間の最も長いグループに合わせて各チャネルの
波形を表示部で実時間表示させるようにしたことを特徴
とする。
ト及びデータ長を各グループ毎に設定し、データ長／サ
ンプルレートからデータの取り込み時間を求め、この取
り込み時間の最も長いグループに合わせて各チャネルの
波形を表示部で実時間表示させるようにしたことを特徴
とする。
【０００５】
【作用】このような本発明では、各チャネルの実時間関
係を保ったまま高速及び低速現象の波形を表示させるこ
とができる。
係を保ったまま高速及び低速現象の波形を表示させるこ
とができる。
【０００６】
【実施例】以下図面を用いて本発明を説明する。図１は
本発明に係わる測定装置の一実施例を示す構成図であ
る。図において、１０はアナログ入力回路で、実施例で
は全部で３２チャネル（ＣＨ）を有し、この３２チャネ
ルは各単位が夫々４チャネル（ＣＨ１〜ＣＨ４）…（Ｃ
Ｈ２９〜ＣＨ３２）の８グループに分割されている。各
チャネルの入力回路１０は、夫々前置増幅器ＡＭＰとア
ナログ・デジタル変換器Ａ／Ｄが備えられている。な
お、ＣＨ３，ＣＨ４は電圧入力ユニット（高速タイプ）
用チャネルで、このチャネルは２チャネルで１個のＡ／
Ｄ変換器を兼用している。２０はそのサンプルレートが
各グループ毎に同じ値に設定されたサンプリング・クロ
ックを発生するタイムベース回路で、その出力クロック
は各Ａ／Ｄ変換器に与えられている。
本発明に係わる測定装置の一実施例を示す構成図であ
る。図において、１０はアナログ入力回路で、実施例で
は全部で３２チャネル（ＣＨ）を有し、この３２チャネ
ルは各単位が夫々４チャネル（ＣＨ１〜ＣＨ４）…（Ｃ
Ｈ２９〜ＣＨ３２）の８グループに分割されている。各
チャネルの入力回路１０は、夫々前置増幅器ＡＭＰとア
ナログ・デジタル変換器Ａ／Ｄが備えられている。な
お、ＣＨ３，ＣＨ４は電圧入力ユニット（高速タイプ）
用チャネルで、このチャネルは２チャネルで１個のＡ／
Ｄ変換器を兼用している。２０はそのサンプルレートが
各グループ毎に同じ値に設定されたサンプリング・クロ
ックを発生するタイムベース回路で、その出力クロック
は各Ａ／Ｄ変換器に与えられている。
【０００７】３０は各Ａ／Ｄ変換器から出力された波形
データが取り込まれるアクイジョン・メモリで、このア
クイジョン・メモリは８個，即ちグループ毎に同じメモ
リ長のものとなっている。４０はメインプロセッサ・シ
ステム、５０はこのプロセッサ・システムの制御の基に
アクイジョン・メモリ３０の出力がデータバス４１を介
して与えられる表示メモリ、５１はこの表示メモリの出
力が与えられ、各チャネル毎に入力波形を表示する表示
部である。６０は本測定装置に備えられた各種機能で、
６１はプロセッサ・システム、６２はキーボード、６３
はGB-1Bインタフェース、６４はRS-232-Cインタフェー
ス、６５はSCSIインタフェース、６６はフロッピーディ
スクドライブ、６７は光磁気ディスクドライブ、６８は
プリンタで、これらはバス６９を介してプロセッサ・シ
ステム４０及び表示メモリ５０に結合されている。７０
はチャネルＣＨ１とＣＨ３２のトリガ入力、及び外部ト
リガが与えられるトリガ検出回路である。
データが取り込まれるアクイジョン・メモリで、このア
クイジョン・メモリは８個，即ちグループ毎に同じメモ
リ長のものとなっている。４０はメインプロセッサ・シ
ステム、５０はこのプロセッサ・システムの制御の基に
アクイジョン・メモリ３０の出力がデータバス４１を介
して与えられる表示メモリ、５１はこの表示メモリの出
力が与えられ、各チャネル毎に入力波形を表示する表示
部である。６０は本測定装置に備えられた各種機能で、
６１はプロセッサ・システム、６２はキーボード、６３
はGB-1Bインタフェース、６４はRS-232-Cインタフェー
ス、６５はSCSIインタフェース、６６はフロッピーディ
スクドライブ、６７は光磁気ディスクドライブ、６８は
プリンタで、これらはバス６９を介してプロセッサ・シ
ステム４０及び表示メモリ５０に結合されている。７０
はチャネルＣＨ１とＣＨ３２のトリガ入力、及び外部ト
リガが与えられるトリガ検出回路である。
【０００８】このような構成の波形測定装置において、
各チャネルの被測定入力は夫々入力回路１０における前
置増幅器ＡＭＰを介してＡ／Ｄ変換器に与えられ、この
Ａ／Ｄ変換器でタイムベース回路２０より与えられるサ
ンプリング・クロックに応じてディジタル信号に変換さ
れる。このＡ／Ｄ変換器より得られる波形データはアク
イジョン・メモリ３０に格納される。アクイジョン・メ
モリ３０に取り込まれた波形データはメインプロセッサ
・システム４０の制御のもとに表示メモリ５０を介して
表示部５１に与えられ、この表示部５１において各チャ
ネル毎に入力波形が表示される。
各チャネルの被測定入力は夫々入力回路１０における前
置増幅器ＡＭＰを介してＡ／Ｄ変換器に与えられ、この
Ａ／Ｄ変換器でタイムベース回路２０より与えられるサ
ンプリング・クロックに応じてディジタル信号に変換さ
れる。このＡ／Ｄ変換器より得られる波形データはアク
イジョン・メモリ３０に格納される。アクイジョン・メ
モリ３０に取り込まれた波形データはメインプロセッサ
・システム４０の制御のもとに表示メモリ５０を介して
表示部５１に与えられ、この表示部５１において各チャ
ネル毎に入力波形が表示される。
【０００９】ここで、チャネルＣＨ１〜ＣＨ４をグルー
プＡとし、ＣＨ２９〜ＣＨ３２をグループＨとした場
合、従来の測定装置におけるユーザが設定するデータの
取り込み条件を例えば表１に示すようにし、かつ基準と
なるグループをＨとする。このように各条件をユーザが
設定した場合、測定器の内部でメインプロセッサ・シス
テム４０の制御の基にデータ取り込み条件は表２に示す
ように変換される。 即ち、データ取り込み時間とサンプルレート及びデータ
長との間には データ取り込み時間＝データ長／サンプルレート …（１） の関係があるが、従来の方法では基準となるグループＨ
のデータ取り込み時間である２０mSecを基準とし、他の
グループ，例えばＡグループのデータ取り込み時間も２
０mSecになるようにデータ長を１Ｋから２Ｋデータに変
更するようにしていた。その為、表示部５１で表示され
るＡ，Ｈグループの波形は図２に示されるように時間軸
を横軸にとると、フルスケールが２０mSecで表示される
ようになっていた。なお、図２においては、Ａ，Ｈグル
ープは、共にそれぞれのグループの内の１つのチャネル
に入力された信号の波形を示してある。ここで、Ａグル
ープの入力が高速現象で、Ｈグループの入力が低速現象
となるが、上記の従来方式においては低速現象のＨグル
ープを基準として設定したので、Ａグループではデータ
の取り込み時間をＨグループに合わせる為、Ａグループ
のサンプルレートに見合ったデータ長がアクイジョン・
メモリ３０の残り容量を越え、その為データの取り込み
が出来なくなる場合がある。一方、高速現象入力である
Ａグループを基準グループに設定すると、表３に示すよ
うにＨグループのデータ長は５００となる為、アクイジ
ョン・メモリ３０の残り容量を越えるということはない
が、低速現象を捉える前に測定が終了してしまう恐れが
ある。 このように、従来方式においては高速／低速現象を同時
に測定する場合、基準となるグループを設定する為に、
その基準となるグループの選定によって他のグループの
測定が出来なくなる場合が生じる恐れがあった。
プＡとし、ＣＨ２９〜ＣＨ３２をグループＨとした場
合、従来の測定装置におけるユーザが設定するデータの
取り込み条件を例えば表１に示すようにし、かつ基準と
なるグループをＨとする。このように各条件をユーザが
設定した場合、測定器の内部でメインプロセッサ・シス
テム４０の制御の基にデータ取り込み条件は表２に示す
ように変換される。 即ち、データ取り込み時間とサンプルレート及びデータ
長との間には データ取り込み時間＝データ長／サンプルレート …（１） の関係があるが、従来の方法では基準となるグループＨ
のデータ取り込み時間である２０mSecを基準とし、他の
グループ，例えばＡグループのデータ取り込み時間も２
０mSecになるようにデータ長を１Ｋから２Ｋデータに変
更するようにしていた。その為、表示部５１で表示され
るＡ，Ｈグループの波形は図２に示されるように時間軸
を横軸にとると、フルスケールが２０mSecで表示される
ようになっていた。なお、図２においては、Ａ，Ｈグル
ープは、共にそれぞれのグループの内の１つのチャネル
に入力された信号の波形を示してある。ここで、Ａグル
ープの入力が高速現象で、Ｈグループの入力が低速現象
となるが、上記の従来方式においては低速現象のＨグル
ープを基準として設定したので、Ａグループではデータ
の取り込み時間をＨグループに合わせる為、Ａグループ
のサンプルレートに見合ったデータ長がアクイジョン・
メモリ３０の残り容量を越え、その為データの取り込み
が出来なくなる場合がある。一方、高速現象入力である
Ａグループを基準グループに設定すると、表３に示すよ
うにＨグループのデータ長は５００となる為、アクイジ
ョン・メモリ３０の残り容量を越えるということはない
が、低速現象を捉える前に測定が終了してしまう恐れが
ある。 このように、従来方式においては高速／低速現象を同時
に測定する場合、基準となるグループを設定する為に、
その基準となるグループの選定によって他のグループの
測定が出来なくなる場合が生じる恐れがあった。
【００１０】これに対して、本発明においては従来のよ
うにデータ取り込み時間の基準を定めず、サンプルレー
ト及びデータ長をグループ毎に設定し、データ長／サン
プルレートからデータの取り込み時間を求め、この取り
込み時間の最も長いグループに合わせて各チャネルの波
形を表示させるようにしたものである。
うにデータ取り込み時間の基準を定めず、サンプルレー
ト及びデータ長をグループ毎に設定し、データ長／サン
プルレートからデータの取り込み時間を求め、この取り
込み時間の最も長いグループに合わせて各チャネルの波
形を表示させるようにしたものである。
【００１１】即ち、本発明においては、例えば表１の条
件では常にデータ取り込み時間が長いＨグループを基準
とし、このＨグループのデータ取り込み時間である２０
mSecに合わせてＡグループの波形を表示をさせることに
なる。従って、その波形表示は図３のようになり、高速
現象波形Ａも低速現象波形Ｈも夫々各波形の実時間関係
を保ったままの表示が可能になる。このように、本発明
においては取り込み時間の最も長いグループに合わせて
他の取り込み時間の短いグループの波形を実時間で表示
させるようにしたので、表１においてＡグループを基準
とすることはなく、その為表３で説明したような不都合
が生じる事はなくなる。なお、図３においても、Ａ，Ｈ
グループ共に、各グループの内の１つのチャネルに入力
された信号の波形を示してある。
件では常にデータ取り込み時間が長いＨグループを基準
とし、このＨグループのデータ取り込み時間である２０
mSecに合わせてＡグループの波形を表示をさせることに
なる。従って、その波形表示は図３のようになり、高速
現象波形Ａも低速現象波形Ｈも夫々各波形の実時間関係
を保ったままの表示が可能になる。このように、本発明
においては取り込み時間の最も長いグループに合わせて
他の取り込み時間の短いグループの波形を実時間で表示
させるようにしたので、表１においてＡグループを基準
とすることはなく、その為表３で説明したような不都合
が生じる事はなくなる。なお、図３においても、Ａ，Ｈ
グループ共に、各グループの内の１つのチャネルに入力
された信号の波形を示してある。
【００１２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
常にデータ取り込み時間が長いグループに合わせて他の
グループの波形を表示させるように構成したので、各チ
ャネルの実時間関係を保ったまま高速及び低速現象の波
形を極めて確実に同時に表示させることができる多チャ
ンネル波形測定装置を簡単な構成によって得ることがで
きる。
常にデータ取り込み時間が長いグループに合わせて他の
グループの波形を表示させるように構成したので、各チ
ャネルの実時間関係を保ったまま高速及び低速現象の波
形を極めて確実に同時に表示させることができる多チャ
ンネル波形測定装置を簡単な構成によって得ることがで
きる。
【図１】本発明に係わる測定装置の一実施例を示したブ
ロック図である。
ロック図である。
【図２】従来の測定装置で得られる表示波形の一例の説
明図である。
明図である。
【図３】本発明に係わる測定装置で得られる表示波形の
一例の説明図である。
一例の説明図である。
１０ 入力回路 ２０ タイムベース回路 ３０ アクイジョン・メモリ ４０ メインプロセッサ・システム ５０ 表示メモリ ５１ 表示部 ６０ 各種機能 ７０ トリガ検出回路
Claims (1)
- 【請求項１】複数のチャネルを幾つかのグループに分割
しサンプルレートに従って被測定入力をディジタル信号
に変換するＡ／Ｄ変換器と、このＡ／Ｄ変換器の出力を
被測定の波形データとして取り込むアクイジョン・メモ
リと、このアクイジョン・メモリに格納されたデータを
プロセッサシステムの制御の基に波形として表示するよ
うにした表示部よりなる波形測定装置において、 前記サンプルレート及びデータ長を各グループ毎に設定
し、データ長／サンプルレートからデータの取り込み時
間を求め、この取り込み時間の最も長いグループに合わ
せて各チャネルの波形を前記表示部で実時間表示させる
ようにしたことを特徴とする多チャンネル波形測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7174527A JP3057290B2 (ja) | 1995-07-11 | 1995-07-11 | 多チャンネル波形測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7174527A JP3057290B2 (ja) | 1995-07-11 | 1995-07-11 | 多チャンネル波形測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0926439A JPH0926439A (ja) | 1997-01-28 |
| JP3057290B2 true JP3057290B2 (ja) | 2000-06-26 |
Family
ID=15980092
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7174527A Expired - Fee Related JP3057290B2 (ja) | 1995-07-11 | 1995-07-11 | 多チャンネル波形測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3057290B2 (ja) |
-
1995
- 1995-07-11 JP JP7174527A patent/JP3057290B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0926439A (ja) | 1997-01-28 |
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