JPH0829455A - 波形解析装置 - Google Patents
波形解析装置Info
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- JPH0829455A JPH0829455A JP16373194A JP16373194A JPH0829455A JP H0829455 A JPH0829455 A JP H0829455A JP 16373194 A JP16373194 A JP 16373194A JP 16373194 A JP16373194 A JP 16373194A JP H0829455 A JPH0829455 A JP H0829455A
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- waveform
- memory
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- control circuit
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Abstract
(57)【要約】
【目的】波形表示データを自動的に分類し、しかも表示
本数に見合った最適なフォーマットで表示することので
きる波形解析装置を実現する。 【構成】多チャンネルのアナログ入力信号を個別にＡＤ
変換する複数のＡＤ変換器と、ＡＤ変換器に対して個別
にサンプルレートとデータ長を制御するアクイジション
制御回路と、ＡＤ変換された各チャンネルのデータを記
憶するメモリと、スケールおよび波形を描画するための
表示器と、アクイジション制御回路に対して各チャンネ
ルごとのサンプルレートとデータ長を指定すると共にそ
のサンプルレートとデータ長を含む設定情報をメモリに
記憶し、メモリに記憶された入力信号のデータと設定情
報を読み込みデータの個数と各データの測定時間から最
適な表示形式を決定し、スケールおよび波形データを表
示器に描画する手段を備える。
本数に見合った最適なフォーマットで表示することので
きる波形解析装置を実現する。 【構成】多チャンネルのアナログ入力信号を個別にＡＤ
変換する複数のＡＤ変換器と、ＡＤ変換器に対して個別
にサンプルレートとデータ長を制御するアクイジション
制御回路と、ＡＤ変換された各チャンネルのデータを記
憶するメモリと、スケールおよび波形を描画するための
表示器と、アクイジション制御回路に対して各チャンネ
ルごとのサンプルレートとデータ長を指定すると共にそ
のサンプルレートとデータ長を含む設定情報をメモリに
記憶し、メモリに記憶された入力信号のデータと設定情
報を読み込みデータの個数と各データの測定時間から最
適な表示形式を決定し、スケールおよび波形データを表
示器に描画する手段を備える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、波形解析装置に関し、
詳しくは多チャンネルの波形データを扱う装置の波形表
示方式の改善に関するものである。
詳しくは多チャンネルの波形データを扱う装置の波形表
示方式の改善に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、多チャンネルの波形解析装置
においては１画面上に複数の波形を同時表示させる場合
があるが、その際の波形表示方式は、オペレータの判断
により図６に示すような数種類のフォーマットから所望
のフォーマットを選択することにより表示する方式であ
った。図６（ａ）は１画面に１個のスケールで１波形表
示する場合、同図（ｂ）は２個のスケールで各１波形ず
つ表示する場合、同図（ｃ）は４個のスケールで４波形
表示ずる場合、同図（ｄ）は８個のスケールで８波形表
示する場合の表示形式をそれぞれ示す。
においては１画面上に複数の波形を同時表示させる場合
があるが、その際の波形表示方式は、オペレータの判断
により図６に示すような数種類のフォーマットから所望
のフォーマットを選択することにより表示する方式であ
った。図６（ａ）は１画面に１個のスケールで１波形表
示する場合、同図（ｂ）は２個のスケールで各１波形ず
つ表示する場合、同図（ｃ）は４個のスケールで４波形
表示ずる場合、同図（ｄ）は８個のスケールで８波形表
示する場合の表示形式をそれぞれ示す。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな表示方式では、多チャンネルになればなるほど横方
向のスケール値が多種多様になる可能性が高く、スケー
ル上に正しく波形表示させることが困難になるという欠
点があった。
うな表示方式では、多チャンネルになればなるほど横方
向のスケール値が多種多様になる可能性が高く、スケー
ル上に正しく波形表示させることが困難になるという欠
点があった。
【０００４】本発明の目的は、多チャンネルであるがゆ
えに多種多様になる波形表示データを自動的に分類し、
しかも表示本数に見合った最適なフォーマットで表示す
ることのできる表示機能を持ち、波形表示のための煩雑
な設定が不要な多チャンネルの波形解析装置を実現しよ
うとするものである。
えに多種多様になる波形表示データを自動的に分類し、
しかも表示本数に見合った最適なフォーマットで表示す
ることのできる表示機能を持ち、波形表示のための煩雑
な設定が不要な多チャンネルの波形解析装置を実現しよ
うとするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために本発明では、複数チャンネルのアナログ入力信
号を個別にデジタル信号に変換する複数のアナログ・デ
ジタル変換器と、前記アナログ・デジタル変換器に対し
て個別にサンプルレートとデータ長を制御することので
きるアクイジション制御回路と、前記デジタル変換され
た各チャンネルのデータを記憶するメモリと、スケール
および波形を描画するための表示器と、前記アクイジシ
ョン制御回路に対して各チャンネルごとのサンプルレー
トとデータ長を指定すると共にそのサンプルレートとデ
ータ長を含む設定情報をメモリに記憶し、前記メモリに
記憶された入力信号のデータと前記設定情報を読み込み
データの個数と各データの測定時間から最適な表示形式
を決定し、スケールおよび波形データを前記表示器に描
画する手段を具備したことを特徴とする。
るために本発明では、複数チャンネルのアナログ入力信
号を個別にデジタル信号に変換する複数のアナログ・デ
ジタル変換器と、前記アナログ・デジタル変換器に対し
て個別にサンプルレートとデータ長を制御することので
きるアクイジション制御回路と、前記デジタル変換され
た各チャンネルのデータを記憶するメモリと、スケール
および波形を描画するための表示器と、前記アクイジシ
ョン制御回路に対して各チャンネルごとのサンプルレー
トとデータ長を指定すると共にそのサンプルレートとデ
ータ長を含む設定情報をメモリに記憶し、前記メモリに
記憶された入力信号のデータと前記設定情報を読み込み
データの個数と各データの測定時間から最適な表示形式
を決定し、スケールおよび波形データを前記表示器に描
画する手段を具備したことを特徴とする。
【０００６】
【作用】ＣＰＵからアクイジション制御回路に各チャン
ネルのサンプルレートと測定データ長を指定する。アク
イジション制御回路はこの指定に基づきＡＤ変換器によ
りデジタル変換された入力信号をメモリを格納する。Ｃ
ＰＵはメモリから波形データと設定情報を読み込み、波
形データ数と各波形データの測定時間を算出し、最適な
表示形式を自動選択する。その後選択した表示形式に基
づいてスケールおよび波形データを表示器に描画する。
ネルのサンプルレートと測定データ長を指定する。アク
イジション制御回路はこの指定に基づきＡＤ変換器によ
りデジタル変換された入力信号をメモリを格納する。Ｃ
ＰＵはメモリから波形データと設定情報を読み込み、波
形データ数と各波形データの測定時間を算出し、最適な
表示形式を自動選択する。その後選択した表示形式に基
づいてスケールおよび波形データを表示器に描画する。
【０００７】
【実施例】以下図面を用いて本発明を詳しく説明する。
図１は本発明に係る波形解析装置の一実施例を示す構成
図である。図において、１1 〜１n はアナログ入力信
号、２1 〜２n はアナログ入力信号をデジタル信号に変
換するアナログ・デジタル変換器（以下アナログ・デジ
タル変換をＡＤ変換と略す）、３はサンプルレートとデ
ータ長を制御できるアクイジション制御回路、４はデジ
タル変換された各入力信号を記憶するメモリ、５は中央
処理装置（以下ＣＰＵという）、６はプログラムが格納
されたリード・オンリー・メモリ（ＲＯＭ）、７は内部
メモリ（通常ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）が
用いられる）、８は表示器である。
図１は本発明に係る波形解析装置の一実施例を示す構成
図である。図において、１1 〜１n はアナログ入力信
号、２1 〜２n はアナログ入力信号をデジタル信号に変
換するアナログ・デジタル変換器（以下アナログ・デジ
タル変換をＡＤ変換と略す）、３はサンプルレートとデ
ータ長を制御できるアクイジション制御回路、４はデジ
タル変換された各入力信号を記憶するメモリ、５は中央
処理装置（以下ＣＰＵという）、６はプログラムが格納
されたリード・オンリー・メモリ（ＲＯＭ）、７は内部
メモリ（通常ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）が
用いられる）、８は表示器である。
【０００８】ＡＤ変換器２1 〜２n はアクイジション制
御回路３からのサンプルレートの指定に従ってアナログ
入力信号をＡＤ変換する。各チャンネルごとの変換デー
タはメモリ４に格納される。ＣＰＵ５は、アクイジショ
ン制御回路３に対して各チャンネルごとのサンプルレー
トおよびサンプルデータ数（これを設定情報という）を
それぞれ指定する機能、メモリ４に格納されたデータを
読み込み、ＲＯＭに格納されている制御プログラムを実
行して表示器８にスケールと波形を描画する機能、メモ
リ４から読み込んだデータを必要に応じて算術加工（例
えば四則演算、高速フーリエ変換演算、データ間の演算
等）しスケールと波形を表示器８に描画する機能等を有
する。なお、上記設定情報はデータの測定開始前にメモ
リ４あるいはＲＡＭ７（本実施例ではメモリ４に格納さ
れる場合を例にとる）に格納される。その設定は図示し
ない入力回路からＣＰＵ７に入力され、メモリ４に書き
込まれる。ＲＡＭ７は一時的にデータやコマンドの保存
に利用されるメモリである。
御回路３からのサンプルレートの指定に従ってアナログ
入力信号をＡＤ変換する。各チャンネルごとの変換デー
タはメモリ４に格納される。ＣＰＵ５は、アクイジショ
ン制御回路３に対して各チャンネルごとのサンプルレー
トおよびサンプルデータ数（これを設定情報という）を
それぞれ指定する機能、メモリ４に格納されたデータを
読み込み、ＲＯＭに格納されている制御プログラムを実
行して表示器８にスケールと波形を描画する機能、メモ
リ４から読み込んだデータを必要に応じて算術加工（例
えば四則演算、高速フーリエ変換演算、データ間の演算
等）しスケールと波形を表示器８に描画する機能等を有
する。なお、上記設定情報はデータの測定開始前にメモ
リ４あるいはＲＡＭ７（本実施例ではメモリ４に格納さ
れる場合を例にとる）に格納される。その設定は図示し
ない入力回路からＣＰＵ７に入力され、メモリ４に書き
込まれる。ＲＡＭ７は一時的にデータやコマンドの保存
に利用されるメモリである。
【０００９】このような構成における動作を次に説明す
る。アクイジション制御回路３はＣＰＵ５からサンプル
レートとデータ個数が指定され、これに基づいてＡＤ変
換器を制御して入力データをサンプルすると共にメモリ
４に格納するデータの個数も制御する。メモリ４に格納
されるチャンネルごとのデータ個数とその測定時間の情
報はＲＡＭに記憶される。
る。アクイジション制御回路３はＣＰＵ５からサンプル
レートとデータ個数が指定され、これに基づいてＡＤ変
換器を制御して入力データをサンプルすると共にメモリ
４に格納するデータの個数も制御する。メモリ４に格納
されるチャンネルごとのデータ個数とその測定時間の情
報はＲＡＭに記憶される。
【００１０】次にＣＰＵ５はメモリ４に格納されている
入力信号の波形データを読み出し、ＲＯＭに書かれてい
る制御プログラムによって表示器８にスケールと波形を
描画する。また、読み込んだ波形データに対して必要に
応じて算術加工を施し、加工されたデータについてのス
ケールで波形を描画することもできる。ＣＰＵは、波形
描画の波形データをメモリ４から読み出す時、アクイジ
ション制御回路３に対して指定した設定情報（サンプル
レートとデータ数）もＲＡＭ６あるいはメモリ４から読
み込む。
入力信号の波形データを読み出し、ＲＯＭに書かれてい
る制御プログラムによって表示器８にスケールと波形を
描画する。また、読み込んだ波形データに対して必要に
応じて算術加工を施し、加工されたデータについてのス
ケールで波形を描画することもできる。ＣＰＵは、波形
描画の波形データをメモリ４から読み出す時、アクイジ
ション制御回路３に対して指定した設定情報（サンプル
レートとデータ数）もＲＡＭ６あるいはメモリ４から読
み込む。
【００１１】アクイジション制御回路３は１チャンネル
ごとにサンプルレートとデータ数の設定情報をそれぞれ
設定することができるが、複数チャンネルを単位として
共通設定するグループ設定とすることもできる。いずれ
にしても、メモリに格納されているデータの測定開始か
ら終了までの時間は各チャンネルごとあるいはグループ
ごとに異なる場合がある。例えば、入力１1 のデータは
ｍ秒間サンプルされ（このデータをデータａとする）、
入力１2はｎ秒間（ｎ＜ｍ）サンプルされ（このデータ
をデータｂとする）た場合、データａのスケールに描画
した場合は図２の（ａ）のように表示され、データｂの
スケールに描画した場合は図２の（ｂ）のように表示さ
れる。図２の（ａ）の場合はデータａ、データｂ共に見
えるが、図２（ｂ）の場合はデータａが一部しか見えな
くなってしまう。このような場合、図３に示すように表
示の種類を変えて描画すると見やすくなる。多チャンネ
ルの場合、表示の種類の選択・切り換えを手動で行うの
はすべてのデータ測定時間を知った上で行う必要があ
り、操作も煩雑である。
ごとにサンプルレートとデータ数の設定情報をそれぞれ
設定することができるが、複数チャンネルを単位として
共通設定するグループ設定とすることもできる。いずれ
にしても、メモリに格納されているデータの測定開始か
ら終了までの時間は各チャンネルごとあるいはグループ
ごとに異なる場合がある。例えば、入力１1 のデータは
ｍ秒間サンプルされ（このデータをデータａとする）、
入力１2はｎ秒間（ｎ＜ｍ）サンプルされ（このデータ
をデータｂとする）た場合、データａのスケールに描画
した場合は図２の（ａ）のように表示され、データｂの
スケールに描画した場合は図２の（ｂ）のように表示さ
れる。図２の（ａ）の場合はデータａ、データｂ共に見
えるが、図２（ｂ）の場合はデータａが一部しか見えな
くなってしまう。このような場合、図３に示すように表
示の種類を変えて描画すると見やすくなる。多チャンネ
ルの場合、表示の種類の選択・切り換えを手動で行うの
はすべてのデータ測定時間を知った上で行う必要があ
り、操作も煩雑である。
【００１２】本発明では次のような動作によりこれを自
動的に行う。ＣＰＵ５は波形解析装置で表示可能な表示
形式（例えば、図６に示すようなＳＩＮＧＬＥ，ＤＵＡ
Ｌ，ＱＵＡＤ，ＯＣＴＡＬ等の表示形式）と表示する波
形の本数から最適なものを選出する。またＣＰＵ５はメ
モリ４に格納されているデータと設定情報から、データ
の個数、各データの測定時間の情報を作成し、この情報
と表示形式とを組み合わせて表示する。例えば、測定時
間が２種類（ｍ秒とｎ秒）のデータがそれぞれ８個ずつ
合計１６個（１６チャンネル分）あった場合、図３に示
すように４組のグラフ（１組当たり４個の波形が表示さ
れる）でなる表示形式となる。また同様にデータが３２
個（３２チャンネル分）あった場合は図４に示すような
表示形式となる。
動的に行う。ＣＰＵ５は波形解析装置で表示可能な表示
形式（例えば、図６に示すようなＳＩＮＧＬＥ，ＤＵＡ
Ｌ，ＱＵＡＤ，ＯＣＴＡＬ等の表示形式）と表示する波
形の本数から最適なものを選出する。またＣＰＵ５はメ
モリ４に格納されているデータと設定情報から、データ
の個数、各データの測定時間の情報を作成し、この情報
と表示形式とを組み合わせて表示する。例えば、測定時
間が２種類（ｍ秒とｎ秒）のデータがそれぞれ８個ずつ
合計１６個（１６チャンネル分）あった場合、図３に示
すように４組のグラフ（１組当たり４個の波形が表示さ
れる）でなる表示形式となる。また同様にデータが３２
個（３２チャンネル分）あった場合は図４に示すような
表示形式となる。
【００１３】図５はメモリ４からデータを読み出し波形
描画までの動作を示すフロー図である。設定情報を読み
込んだ後、データ加工を行うものは所定のデータ加工を
施し、スケールの描画と波形の描画を行うようになって
いる。どのデータについてどのような加工を施すかは予
め設定できる。例えばその情報はＲＡＭ７に記憶され、
ＣＰＵ５により適宜参照できるようになっている。
描画までの動作を示すフロー図である。設定情報を読み
込んだ後、データ加工を行うものは所定のデータ加工を
施し、スケールの描画と波形の描画を行うようになって
いる。どのデータについてどのような加工を施すかは予
め設定できる。例えばその情報はＲＡＭ７に記憶され、
ＣＰＵ５により適宜参照できるようになっている。
【００１４】なお、データ加工でＦＦＴ演算を行った場
合には、横軸が周波数軸となる。この場合も横軸の値が
異なるデータについては表示形式の最適な組合せが自動
的に選択される。
合には、横軸が周波数軸となる。この場合も横軸の値が
異なるデータについては表示形式の最適な組合せが自動
的に選択される。
【００１５】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、多
チャンネルのデータを表示するに際し横軸の値（スケー
ル）が異なるデータについては自動的に最適な表示形式
を選出し表示することができ、表示に関する複雑な操作
を必要とせず、マンマシンインターフェースも簡易なも
のにできるという効果がある。
チャンネルのデータを表示するに際し横軸の値（スケー
ル）が異なるデータについては自動的に最適な表示形式
を選出し表示することができ、表示に関する複雑な操作
を必要とせず、マンマシンインターフェースも簡易なも
のにできるという効果がある。
【図１】本発明に係る波形解析装置の一実施例を示す構
成図。
成図。
【図２】スケールの異なる波形の表示例を示す図。
【図３】スケールが４個の場合の表示形式を示す図。
【図４】スケールが８個の場合の表示形式を示す図。
【図５】データ読み込みから波形描画までの処理フロー
を示す図。
を示す図。
【図６】各種表示形式を示す図。
１1 〜１n 入力信号 ２1 〜２n ＡＤ変換器 ３ アクイジション制御回路 ４ メモリ ５ ＣＰＵ ６ ＲＯＭ ７ ＲＡＭ ８ 表示器
Claims (1)
- 【請求項１】複数チャンネルのアナログ入力信号を個別
にデジタル信号に変換する複数のアナログ・デジタル変
換器と、 前記アナログ・デジタル変換器に対して個別にサンプル
レートとデータ長を制御することのできるアクイジショ
ン制御回路と、 前記デジタル変換された各チャンネルのデータを記憶す
るメモリと、 スケールおよび波形を描画するための表示器と、 前記アクイジション制御回路に対して各チャンネルごと
のサンプルレートとデータ長を指定すると共にそのサン
プルレートとデータ長を含む設定情報をメモリに記憶
し、前記メモリに記憶された入力信号のデータと前記設
定情報を読み込みデータの個数と各データの測定時間か
ら最適な表示形式を決定し、スケールおよび波形データ
を前記表示器に描画する手段を具備したことを特徴とす
る波形解析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06163731A JP3112230B2 (ja) | 1994-07-15 | 1994-07-15 | 波形解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06163731A JP3112230B2 (ja) | 1994-07-15 | 1994-07-15 | 波形解析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0829455A true JPH0829455A (ja) | 1996-02-02 |
| JP3112230B2 JP3112230B2 (ja) | 2000-11-27 |
Family
ID=15779600
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06163731A Expired - Lifetime JP3112230B2 (ja) | 1994-07-15 | 1994-07-15 | 波形解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3112230B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6915223B2 (en) | 2003-02-27 | 2005-07-05 | Yokogawa Electric Corporation | Waveform display equipment and waveform displaying method |
| JP2006162436A (ja) * | 2004-12-07 | 2006-06-22 | Hioki Ee Corp | 記録装置および表示方法 |
| JP2013072880A (ja) * | 2011-09-28 | 2013-04-22 | Tektronix (China) Co Ltd | オシロスコープ用取込みシステム及びこれに用いる方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1014397A (ja) * | 1996-07-03 | 1998-01-20 | Daisuke Goie | 樹木の接ぎ木方法 |
-
1994
- 1994-07-15 JP JP06163731A patent/JP3112230B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6915223B2 (en) | 2003-02-27 | 2005-07-05 | Yokogawa Electric Corporation | Waveform display equipment and waveform displaying method |
| JP2006162436A (ja) * | 2004-12-07 | 2006-06-22 | Hioki Ee Corp | 記録装置および表示方法 |
| JP4579661B2 (ja) * | 2004-12-07 | 2010-11-10 | 日置電機株式会社 | 測定結果表示装置および測定結果表示方法 |
| JP2013072880A (ja) * | 2011-09-28 | 2013-04-22 | Tektronix (China) Co Ltd | オシロスコープ用取込みシステム及びこれに用いる方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3112230B2 (ja) | 2000-11-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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