JPH08178962A - 波形測定システム - Google Patents
波形測定システムInfo
- Publication number
- JPH08178962A JPH08178962A JP32250594A JP32250594A JPH08178962A JP H08178962 A JPH08178962 A JP H08178962A JP 32250594 A JP32250594 A JP 32250594A JP 32250594 A JP32250594 A JP 32250594A JP H08178962 A JPH08178962 A JP H08178962A
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- JP
- Japan
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】サンプルレートの異なる計測モジュールが混在
した場合でも容易に同一時間軸上での波形解析ができる
波形測定システムを 【構成】複数の計測モジュールで計測したデータを低速
のサンプルレートで集中アクイジョンメモリに記憶し、
個別メモリ計測モジュールで計測したデータを高速のサ
ンプルレートで個別のアクイジョンメモリに記憶し、ア
クイジョンメモリに記憶されたデータを読み出して表示
装置に表示できるように構成した波形測定システムにお
いて、前記個別メモリ計測モジュールの計測データを個
別のアクイジョンメモリに記憶すると共に前記低速のサ
ンプルレートで前記集中アクイジョンメモリにも記憶で
きるように構成する。
した場合でも容易に同一時間軸上での波形解析ができる
波形測定システムを 【構成】複数の計測モジュールで計測したデータを低速
のサンプルレートで集中アクイジョンメモリに記憶し、
個別メモリ計測モジュールで計測したデータを高速のサ
ンプルレートで個別のアクイジョンメモリに記憶し、ア
クイジョンメモリに記憶されたデータを読み出して表示
装置に表示できるように構成した波形測定システムにお
いて、前記個別メモリ計測モジュールの計測データを個
別のアクイジョンメモリに記憶すると共に前記低速のサ
ンプルレートで前記集中アクイジョンメモリにも記憶で
きるように構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、複数の計測モジュール
により計測した波形データをアクイジョンメモリに一旦
格納しその後格納データを適宜に呼び出し画面に表示す
る波形測定システムに関し、詳しくはサンプリングレー
トの異なる計測モジュールが混在した場合のアクイジョ
ンおよび表示方式に関するものである。
により計測した波形データをアクイジョンメモリに一旦
格納しその後格納データを適宜に呼び出し画面に表示す
る波形測定システムに関し、詳しくはサンプリングレー
トの異なる計測モジュールが混在した場合のアクイジョ
ンおよび表示方式に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来よりこの種の波形測定システムとし
ては、大別して、集中アクイジョンメモリシステムとモ
ジュール分散アクイジョンメモリシステムがあった。集
中アクイジョンメモリシステムは、図４に示すように複
数の計測モジュール１1 〜１n とアクイジョンメモリ２
がバス３（ここではデータバスのみを示す）を介して接
続されていて、各計測モジュールで計測したデータがデ
ータバス３経由でアクイジョンメモリ２に記憶できるよ
うに構成されたものである。アクイジョンメモリ２に格
納したデータは必要に応じてデータ処理を施し表示装置
（図示せず）に表示する。このようなシステムでは、デ
ータバス３を時分割で利用してアクイジョンできるサン
プルレートまでは、例えばＤＭＡ（直接メモリアクセ
ス）方式等でアクイジョンメモリ２に計測データを記憶
させることができる。
ては、大別して、集中アクイジョンメモリシステムとモ
ジュール分散アクイジョンメモリシステムがあった。集
中アクイジョンメモリシステムは、図４に示すように複
数の計測モジュール１1 〜１n とアクイジョンメモリ２
がバス３（ここではデータバスのみを示す）を介して接
続されていて、各計測モジュールで計測したデータがデ
ータバス３経由でアクイジョンメモリ２に記憶できるよ
うに構成されたものである。アクイジョンメモリ２に格
納したデータは必要に応じてデータ処理を施し表示装置
（図示せず）に表示する。このようなシステムでは、デ
ータバス３を時分割で利用してアクイジョンできるサン
プルレートまでは、例えばＤＭＡ（直接メモリアクセ
ス）方式等でアクイジョンメモリ２に計測データを記憶
させることができる。
【０００３】他方モジュール分散アクイジョンメモリシ
ステムは、各計測モジュール内にアクイジョンメモリを
備え、データバス３に流せないような高速のサンプルレ
ートでデータをアクイジョンしその内部のアクイジョン
メモリに保存することができるようになっている。保存
したデータの表示は上記の集中アクイジョンメモリーシ
ステムと同様に表示装置に表示することができる。
ステムは、各計測モジュール内にアクイジョンメモリを
備え、データバス３に流せないような高速のサンプルレ
ートでデータをアクイジョンしその内部のアクイジョン
メモリに保存することができるようになっている。保存
したデータの表示は上記の集中アクイジョンメモリーシ
ステムと同様に表示装置に表示することができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記２
つのシステムに用いられるような計測モジュールが混在
するようなシステム（本発明ではこのようなシステム構
成を対象とする）では、同時に測定を行っても、サンプ
ルレートの違いのため同じ時間軸上の解析が困難である
という問題がある。
つのシステムに用いられるような計測モジュールが混在
するようなシステム（本発明ではこのようなシステム構
成を対象とする）では、同時に測定を行っても、サンプ
ルレートの違いのため同じ時間軸上の解析が困難である
という問題がある。
【０００５】本発明の目的は、サンプルレートの異なる
計測モジュールが混在した場合でも容易に同一時間軸上
での波形解析ができる波形測定システムを提供すること
にある。
計測モジュールが混在した場合でも容易に同一時間軸上
での波形解析ができる波形測定システムを提供すること
にある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために本発明では、複数の計測モジュールで計測した
データを低速のサンプルレートで集中アクイジョンメモ
リに記憶し、個別メモリ計測モジュールで計測したデー
タを高速のサンプルレートで個別のアクイジョンメモリ
に記憶し、アクイジョンメモリに記憶されたデータを読
み出して表示装置に表示できるように構成した波形測定
システムにおいて、前記個別メモリ計測モジュールの計
測データを個別のアクイジョンメモリに記憶すると共に
前記低速のサンプルレートで前記集中アクイジョンメモ
リにも記憶できるように構成したことを特徴とする。
るために本発明では、複数の計測モジュールで計測した
データを低速のサンプルレートで集中アクイジョンメモ
リに記憶し、個別メモリ計測モジュールで計測したデー
タを高速のサンプルレートで個別のアクイジョンメモリ
に記憶し、アクイジョンメモリに記憶されたデータを読
み出して表示装置に表示できるように構成した波形測定
システムにおいて、前記個別メモリ計測モジュールの計
測データを個別のアクイジョンメモリに記憶すると共に
前記低速のサンプルレートで前記集中アクイジョンメモ
リにも記憶できるように構成したことを特徴とする。
【０００７】
【作用】集中アクイジョンメモリと個別アクイジョンメ
モリを持つ異種の計測モジュールとが混在するとき、個
別アクイジションメモリを持つ計測モジュールの波形デ
ータを高速に個別のアクイジョンメモリに格納すると共
に低速のサンプルレートで集中アクイジションメモリに
も書き込むようにする。集中アクイジションメモリには
同じサンプルレートでデータが集録できているため、異
種の計測モジュールであっても計測データを同時表示し
て同一時間軸上での波形解析を容易に行うことができ
る。
モリを持つ異種の計測モジュールとが混在するとき、個
別アクイジションメモリを持つ計測モジュールの波形デ
ータを高速に個別のアクイジョンメモリに格納すると共
に低速のサンプルレートで集中アクイジションメモリに
も書き込むようにする。集中アクイジションメモリには
同じサンプルレートでデータが集録できているため、異
種の計測モジュールであっても計測データを同時表示し
て同一時間軸上での波形解析を容易に行うことができ
る。
【０００８】
【実施例】以下図面を用いて本発明を詳しく説明する。
図１は本発明に係る波形測定システムの一実施例を示す
構成図である。図において、１０1 〜１０n は計測モジ
ュール、２０は個別メモリ計測モジュール、３０は集中
アクイジション部、４０は処理装置、５０は表示装置、
６０はバスである。
図１は本発明に係る波形測定システムの一実施例を示す
構成図である。図において、１０1 〜１０n は計測モジ
ュール、２０は個別メモリ計測モジュール、３０は集中
アクイジション部、４０は処理装置、５０は表示装置、
６０はバスである。
【０００９】計測モジュール１０1 は増幅器１１とアナ
ログ・デジタル変換器（以下ＡＤ変換器という）１２を
備え、所定のサンプル速度で増幅器１１経由の被測定信
号をサンプルしデジタル変換する。なお、計測モジュー
ル１０1 〜１０n は同様の構成である。各計測モジュー
ル１０1 〜１０n の出力データはバス６０を介して集中
アクイジション部３０のアクイジョンコントローラ３１
の制御のもとに集中アクイジョンメモリ３２に格納され
る。
ログ・デジタル変換器（以下ＡＤ変換器という）１２を
備え、所定のサンプル速度で増幅器１１経由の被測定信
号をサンプルしデジタル変換する。なお、計測モジュー
ル１０1 〜１０n は同様の構成である。各計測モジュー
ル１０1 〜１０n の出力データはバス６０を介して集中
アクイジション部３０のアクイジョンコントローラ３１
の制御のもとに集中アクイジョンメモリ３２に格納され
る。
【００１０】個別メモリ計測モジュール２０は、増幅器
２１と高速のＡＤ変換器２２とアクイジョンコントロー
ラ２３とアクイジョンメモリ２４を備えている。ＡＤ変
換器２２は増幅器２１経由の被測定信号を高速にサンプ
リングしデジタル変換する。アクイジョンコントローラ
２３はＡＤ変換器２２の出力を高速のサンプルレートで
アクイジョンメモリ２４に格納するためのコントローラ
である。また、ＡＤ変換器２２の出力データは、集中ア
クイジション部３０のアクイジョンコントローラ３１の
制御のもとに計測モジュール１０1 〜１０n と同様に低
速のサンプルレートで集中アクイジョンメモリ３２に格
納される。
２１と高速のＡＤ変換器２２とアクイジョンコントロー
ラ２３とアクイジョンメモリ２４を備えている。ＡＤ変
換器２２は増幅器２１経由の被測定信号を高速にサンプ
リングしデジタル変換する。アクイジョンコントローラ
２３はＡＤ変換器２２の出力を高速のサンプルレートで
アクイジョンメモリ２４に格納するためのコントローラ
である。また、ＡＤ変換器２２の出力データは、集中ア
クイジション部３０のアクイジョンコントローラ３１の
制御のもとに計測モジュール１０1 〜１０n と同様に低
速のサンプルレートで集中アクイジョンメモリ３２に格
納される。
【００１１】集中アクイジション部３０はアクイジョン
コントローラ３１と集中アクイジョンメモリ３２を備
え、アクイジョンコントローラ３１の制御により計測モ
ジュール１０1 〜１０n および個別メモリ計測モジュー
ル２０のＡＤ変換器出力をメモリ３２に保存する。
コントローラ３１と集中アクイジョンメモリ３２を備
え、アクイジョンコントローラ３１の制御により計測モ
ジュール１０1 〜１０n および個別メモリ計測モジュー
ル２０のＡＤ変換器出力をメモリ３２に保存する。
【００１２】なお、個別メモリ計測モジュール２０のア
クイジョンコントローラ２３および集中アクイジション
部３０のアクイジョンコントローラ３１がＡＤ変換器よ
り計測データを読み取っている間はＡＤ変換器の出力は
固定され更新されないように制御されている。
クイジョンコントローラ２３および集中アクイジション
部３０のアクイジョンコントローラ３１がＡＤ変換器よ
り計測データを読み取っている間はＡＤ変換器の出力は
固定され更新されないように制御されている。
【００１３】処理装置４０は、集中アクイジョンメモリ
３２および個別メモリ計測モジュール２０のアクイジョ
ンメモリ２４から時系列の計測データを読み込み表示装
置５０の表示画面上に表示する。
３２および個別メモリ計測モジュール２０のアクイジョ
ンメモリ２４から時系列の計測データを読み込み表示装
置５０の表示画面上に表示する。
【００１４】このような構成における動作を次に説明す
る。計測モジュール１０1 〜１０nでは図２に示すよう
に被測定信号を所定のサンプル周期で（低速のサンプル
レート）サンプリングしＡＤ変換する（図中の印の点が
サンプルポイントである）。集中アクイジション部３０
のアクイジョンコントローラ３１はＡＤ変換されたデー
タをバス６０経由で順次読み取り、集中アクイジョンメ
モリ３２に記憶する。他方、個別メモリ計測モジュール
２０では、図３に示すようにＡＤ変換器２２で被測定信
号を高速にサンプリングし（図中の×印点）、ＡＤ変換
したデータをアクイジョンメモリ２４に記憶している
が、同時に集中アクイジション部３０のアクイジョンコ
ントローラ３１からこのＡＤ変換器２２の出力を計測モ
ジュール１０1 〜１０n と同じ低速のサンプルレートで
読み取り（図中の印点）集中アクイジョンメモリ３２に
記憶する。
る。計測モジュール１０1 〜１０nでは図２に示すよう
に被測定信号を所定のサンプル周期で（低速のサンプル
レート）サンプリングしＡＤ変換する（図中の印の点が
サンプルポイントである）。集中アクイジション部３０
のアクイジョンコントローラ３１はＡＤ変換されたデー
タをバス６０経由で順次読み取り、集中アクイジョンメ
モリ３２に記憶する。他方、個別メモリ計測モジュール
２０では、図３に示すようにＡＤ変換器２２で被測定信
号を高速にサンプリングし（図中の×印点）、ＡＤ変換
したデータをアクイジョンメモリ２４に記憶している
が、同時に集中アクイジション部３０のアクイジョンコ
ントローラ３１からこのＡＤ変換器２２の出力を計測モ
ジュール１０1 〜１０n と同じ低速のサンプルレートで
読み取り（図中の印点）集中アクイジョンメモリ３２に
記憶する。
【００１５】処理装置４０は、集中アクイジション部３
０の集中アクイジョンメモリ３２または個別メモリ計測
モジュール２０のアクイジョンメモリ２４に記憶された
計測データを任意に読み出して表示装置５０に表示する
ことができる。なお、処理装置４０には通常マイクロコ
ンピュータが使用される。
０の集中アクイジョンメモリ３２または個別メモリ計測
モジュール２０のアクイジョンメモリ２４に記憶された
計測データを任意に読み出して表示装置５０に表示する
ことができる。なお、処理装置４０には通常マイクロコ
ンピュータが使用される。
【００１６】なお本発明は実施例に限定されるものでは
ない。例えば個別メモリ計測モジュールは２個以上接続
してもよい。また、計測モジュールの内部構成について
も何ら制約はなく、各種の機能を付け加えてよい。
ない。例えば個別メモリ計測モジュールは２個以上接続
してもよい。また、計測モジュールの内部構成について
も何ら制約はなく、各種の機能を付け加えてよい。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、集
中アクイジション部の集中アクイジョンメモリに個別メ
モリ計測モジュールのデータも記憶するため、波形解析
時等に全計測モジュールの信号を同一時間軸上にすべて
波形表示することができる。従来、高速サンプリングの
波形解析は別に行うか、または個別メモリの記憶時間分
しか低速波形と同時解析ができなかっが、本発明によれ
ば低速波形との同時解析が容易に行えると同時に、急変
する波形も個別メモリ計測モジュールのメモリに記憶さ
れるようになっているため時間軸のダイナミックレンジ
の広い計測を一度に行うことができるという効果があ
る。
中アクイジション部の集中アクイジョンメモリに個別メ
モリ計測モジュールのデータも記憶するため、波形解析
時等に全計測モジュールの信号を同一時間軸上にすべて
波形表示することができる。従来、高速サンプリングの
波形解析は別に行うか、または個別メモリの記憶時間分
しか低速波形と同時解析ができなかっが、本発明によれ
ば低速波形との同時解析が容易に行えると同時に、急変
する波形も個別メモリ計測モジュールのメモリに記憶さ
れるようになっているため時間軸のダイナミックレンジ
の広い計測を一度に行うことができるという効果があ
る。
【図１】本発明に係る波形測定システムの一実施例を示
す構成図である。
す構成図である。
【図２】計測モジュール１０1 〜１０n のアクイジショ
ン動作を説明するための図である。
ン動作を説明するための図である。
【図３】個別メモリ計測モジュールのアクイジション動
作を説明するための図である。
作を説明するための図である。
【図４】従来の集中アクイジションメモリシステムの一
例を示す構成図である。
例を示す構成図である。
１０1 〜１０n 計測モジュール ２０ 個別メモリ計測モジュール ３０ 集中アクイジション部 ４０ 処理装置 ５０ 表示装置
Claims (1)
- 【請求項１】複数の計測モジュールで計測したデータを
低速のサンプルレートで集中アクイジョンメモリに記憶
し、個別メモリ計測モジュールで計測したデータを高速
のサンプルレートで個別のアクイジョンメモリに記憶
し、アクイジョンメモリに記憶されたデータを読み出し
て表示装置に表示できるように構成した波形測定システ
ムにおいて、 前記個別メモリ計測モジュールの計測データを高速のサ
ンプルレートで個別のアクイジョンメモリに記憶すると
共に前記低速のサンプルレートで前記集中アクイジョン
メモリにも記憶できるように構成したことを特徴とする
波形測定システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32250594A JPH08178962A (ja) | 1994-12-26 | 1994-12-26 | 波形測定システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32250594A JPH08178962A (ja) | 1994-12-26 | 1994-12-26 | 波形測定システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08178962A true JPH08178962A (ja) | 1996-07-12 |
Family
ID=18144407
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32250594A Pending JPH08178962A (ja) | 1994-12-26 | 1994-12-26 | 波形測定システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08178962A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019049199A1 (ja) * | 2017-09-05 | 2019-03-14 | 三菱電機株式会社 | データ表示システム、表示装置およびデータ表示方法 |
| JP2020041863A (ja) * | 2018-09-07 | 2020-03-19 | 横河電機株式会社 | デジタル波形表示装置、デジタル波形表示システム、デジタル波形表示方法、及びプログラム |
| JP2020046363A (ja) * | 2018-09-20 | 2020-03-26 | グラフテック株式会社 | 波形表示装置及び波形表示プログラム |
-
1994
- 1994-12-26 JP JP32250594A patent/JPH08178962A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019049199A1 (ja) * | 2017-09-05 | 2019-03-14 | 三菱電機株式会社 | データ表示システム、表示装置およびデータ表示方法 |
| JPWO2019049199A1 (ja) * | 2017-09-05 | 2019-11-07 | 三菱電機株式会社 | データ表示システム、表示装置およびデータ表示方法 |
| JP2020041863A (ja) * | 2018-09-07 | 2020-03-19 | 横河電機株式会社 | デジタル波形表示装置、デジタル波形表示システム、デジタル波形表示方法、及びプログラム |
| JP2020046363A (ja) * | 2018-09-20 | 2020-03-26 | グラフテック株式会社 | 波形表示装置及び波形表示プログラム |
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