JPH04102070U - デイジタルオシロスコープ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 予め測定箇所、測定のためのパネル設定、測
定箇所の基準波形及び測定順序が明らかな測定を行う場
合、パネル設定を自動化して操作性を良好にすることを
目的とする。 【構成】 測定順序に各データを格納するパネル設定メ
モリ５と参照データメモリ６とコメントメモリ７と、測
定時に各メモリのデータが制御部１１により転送される
パネル設定レジスタ８と参照レジスタ９とコメントレジ
スタ１２と、入力データと参照レジスタ９からの基準波
形とを比較する比較器１０と、前記各メモリから各レジ
スタへのデータ転送を行うと共に比較器１０からの出力
により測定箇所の波形が正常であるかどうかを判断し、
正常でない場合表示器４にアラームを表示させる制御部
１１とを具備して構成される。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は被測定装置の測定箇所における波形を観察してその良否の判定を行な うディジタルオシロスコープに関し、更に詳しくはパネル設定を改善したディジ タルオシログラフに関する。

【０００２】

【従来の技術】

従来、ディジタルオシロスコープでは、感度、サンプルレート、トリガ条件等 の複数のパネル設定条件を予め記憶しておき、それを選択することにより、パネ ル設定を変更する機能を有するものがある。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】

併し、製品検査や保守のように予め測定のためのパネル設定や、期待される測 定結果が分っている場合に、多数の測定箇所を順次測っていくのであるが、一つ の測定が終って次の測定に移る度に、その都度次の測定のためのスイッチ操作を 行う必要があって、操作性の点で満足できる状態ではなかった。

【０００４】 本考案は、上記の点に鑑みてなされたもので、その目的は、予め、測定箇所、 測定のためのパネル設定、測定箇所の基準波形及び測定順序が明らかな場合に、 パネル設定を自動化することのできるディジタルオシロスコープを実現すること である。

【０００５】

【課題を解決しようとする手段】

前記の課題を解決する本考案は、アナログ入力信号をディジタル信号に変換す るＡＤ変換部と、その出力データを格納するデータメモリと、該データメモリか らの出力データをＣＲＴ表示のための処理をする処理部と、表示器とで構成され 、被測定回路の複数の測定箇所から得られる波形信号を基準波形と比較して前記 波形信号の良否を判断するディジタルオシロスコープにおいて、複数のパネル設 定条件を格納するパネル設定メモリと、該パネル設定メモリに格納されているパ ネル設定条件が転送されて格納し、格納されたパネル設定条件により前記ＡＤ変 換部を制御するパネル設定レジスタと、各測定箇所の基準波形である複数の参照 データを格納する参照データメモリと、該参照データメモリに格納されている参 照データが測定毎に転送されて格納する参照レジスタと、測定箇所を示す複数の コメントを格納するコメントメモリと、該コメントメモリに格納されているコメ ントが転送されて格納し、前記表示器にコメントを表示させるコメントレジスタ と、前記データメモリからのデータと参照レジスタからの基準波形データとを比 較する比較器と、前記パネル設定メモリと前記参照データメモリと前記コメント メモリとに格納されているデータを、測定順序に従ってそれぞれ前記パネル設定 レジスタと前記参照レジスタと前記コメントレジスタとに転送させると共に、前 記比較器で得た比較結果が正常でない場合にアラームを前記表示器に表示させる 制御部とを具備することを特徴とするものである。

【０００６】

【作用】

制御部はパネル設定メモリ、参照データメモリ及びコメントメモリに格納され ているデータを測定毎にパネル設定レジスタ、参照レジスタ、コメントレジスタ にそれぞれ転送し、コメントレジスタは測定箇所に関するコメントを表示器に表 示させる。コメントに従って測定されて得られたデータはパネル設定レジスタの 制御によりＡＤ変換部においてディジタル信号に変換され、比較器において参照 レジスタの出力の基準波形と比較される。比較の結果制御部が測定データを正常 でないと判断すれば表示器にアラームを表示する。

【０００７】

【実施例】

以下、図面を参照して本考案の実施例を詳細に説明する。

【０００８】 図１は本考案の一実施例の装置のブロック図である。図において、１は入力信 号のコンディショニングを行うと共に、アナログ信号の入力信号をディジタル信 号に変換するＡＤ変換部、２はディジタル信号に変換された入力信号のデータを 記憶するデータメモリである。３はデータメモリ２に格納されているデータを読 み出してＣＲＴ表示のための処理を行う処理部で、処理したデータを表示器４に 表示させる。５は設定された感度、サンプルレート、トリガ条件等の複数のパネ ル設定条件を記憶するパネル設定メモリ、６は入力データの参照データとして基 準波形を格納している参照データメモリ、７は測定箇所の指示のためのコメント を記憶するコメントメモリである。このコメントは、例えば被測定回路基板に印 刷されたシルク記号に対応させる。

【０００９】 ８はパネル設定メモリ５に格納されているパネル設定条件から１組のパネル設 定データを受けて一旦格納し、ＡＤ変換部１にデータを供給して入力信号のコン ディショニングを行わせるパネル設定レジスタ、９は参照データメモリ６に格納 されている基準波形である参照データを１組読み出し、比較器１０に出力する参 照レジスタである。比較器１０はデータメモリ２の内容と参照レジスタ９の内容 とを比較し、結果を制御部１１に出力する。

【００１０】 １２はコメントメモリ７に格納されている測定箇所に関するコメント中１組の コメントを受けて表示器４に出力して、測定箇所の表示をさせるコメントレジス タである。

【００１１】 次に、上記のように構成された実施例の動作を説明する。測定対象の回路は予 め分っているものなので、測定箇所、パネル設定、各測定箇所と設定されたパネ ル条件における正常な場合の波形及び測定順序が決められている。そこで、これ らのデータを決められた測定順序に従って次のように格納する。即ち、パネル設 計条件をパネル設定メモリ５に、正常な場合の基準波形を参照データメモリ６に 、測定箇所をコメントメモリ７に測定順序に格納する。

【００１２】 先ず、第１回目の測定のための設定が制御部１１の制御により行われ、第１の 測定の参照データが参照データメモリ６から参照レジスタ９にセットされる。又 、コメントメモリ７からコメントレジスタ１２を経て測定箇所が表示器４に表示 される。

【００１３】 測定者は表示器４に表示されたコメントに従いプローブを測定箇所にセットし 、測定を実行する。この測定結果は入力信号としてＡＤ変換部１に入力され、こ こでディジタル信号に変換されると共に、パネル設定メモリ５からパネル設定レ ジスタ８を経て入力される感度、サンプルレート等のパネル設定条件に従って信 号処理をされてデータメモリ２に格納される。

【００１４】 比較器１０はデータメモリ２からデータを読み出し、参照レジスタ９から読み 出された参照データとしての基準波形と比較して比較結果を制御部１１に入力す る。制御部１１は入力された比較結果に基づいて正常か否かを判断し、正常であ れば第２の測定に進むため、制御部１１はパネル設定メモリ５、参照データメモ リ６、コメントメモリ７から２番目に格納されているデータをパネル設定レジス タ８、参照レジスタ９、コメントレジスタ１２に転送し、コメントレジスタ１２ から表示器４に第２の測定箇所を表示させる。測定者はこのコメントに従って第 ２の測定に進む。測定結果が正常でない場合、制御部１１は表示器４にアラーム 情報を送ってアラーム表示をして測定者に通告した後、第２の測定のためのセッ ティングを上記のように行い、測定者は第２の測定に進む。このようにして測定 は自動的に進められ、測定者は表示器４に表示されるコメントに従って測定を進 めれば所定の測定が終了する。

【００１５】

【考案の効果】

以上、詳細に説明したように本考案によれば、予め測定箇所、パネル条件、正 常な場合の波形及び測定順序等が分っている場合、各条件を測定順序に従って格 納しておくと、測定順序に従って設定変更及び合否判断が自動的に行われ、又、 次の測定箇所がコメントとして表示されるため、操作性が改善されて実用上の効 果は大きい。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例の装置のブロック図である。

【符号の説明】

１ ＡＤ変換部 ２ データメモリ ３ 処理部 ４ 表示器 ５ パネル設定メモリ ６ 参照データメモリ ７ コメントメモリ ８ パネル設定レジスタ ９ 参照レジスタ １０ 比較器 １１ 制御部 １２ コメントレジスタ

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 アナログ入力信号をディジタル信号に変
   換するＡＤ変換部（１）と、その出力データを格納する
   データメモリ（２）と、該データメモリ（２）からの出
   力データをＣＲＴ表示のための処理をする処理部（３）
   と、表示器（４）とで構成され、被測定回路の複数の測
   定箇所から得られる波形信号を基準波形と比較して前記
   波形信号の良否を判断するディジタルオシロスコープに
   おいて、複数のパネル設定条件を格納するパネル設定メ
   モリ（５）と、該パネル設定メモリ（５）に格納されて
   いるパネル設定条件が転送されて格納し、格納されたパ
   ネル設定条件により前記ＡＤ変換部（１）を制御するパ
   ネル設定レジスタ（８）と、各測定箇所の基準波形であ
   る複数の参照データを格納する参照データメモリ（６）
   と、該参照データメモリ（６）に格納されている参照デ
   ータが測定毎に転送されて格納する参照レジスタ（９）
   と、測定箇所を示す複数のコメントを格納するコメント
   メモリ（７）と、該コメントメモリ（７）に格納されて
   いるコメントが転送されて格納し、前記表示器（４）に
   コメントを表示させるコメントレジスタ（１２）と、前
   記データメモリ（２）からのデータと参照レジスタ
   （９）からの基準波形データとを比較する比較器（１
   ０）と、前記パネル設定メモリ（５）と前記参照データ
   メモリ（６）と前記コメントメモリ（７）とに格納され
   ているデータを、測定順序に従ってそれぞれ前記パネル
   設定レジスタ（８）と前記参照レジスタ（９）と前記コ
   メントレジスタ（１２）とに転送させると共に、前記比
   較器（１０）で得た比較結果が正常でない場合にアラー
   ムを前記表示器（４）に表示させる制御部（１１）とを
   具備することを特徴とするディジタルオシロスコープ。