JPS61243328A - 工業計器自動試験装置 - Google Patents

工業計器自動試験装置

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Publication number
JPS61243328A
JPS61243328A JP8606885A JP8606885A JPS61243328A JP S61243328 A JPS61243328 A JP S61243328A JP 8606885 A JP8606885 A JP 8606885A JP 8606885 A JP8606885 A JP 8606885A JP S61243328 A JPS61243328 A JP S61243328A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
section
industrial
test
external atmosphere
Prior art date
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Pending
Application number
JP8606885A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Yoshioka
隆 吉岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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Publication of JPS61243328A publication Critical patent/JPS61243328A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 本発明は、各種の工業計器の性能を試験する場合に好適
な工業計器自動試験装置に関する。
(ロ)従来技術とその問題点 一般に、工業計器の製品出荷やメインテナンス時等にお
いては、工業計器が所要の精度を維持しているか否かを
試験してその性能を確認する必要がある。このような場
合に工業計器自動試験装置が使用される。この種の工業
計器自動試験装置では、予め設定された試験ブロクラム
に基づく試験信号を工業計器に与え、工業計器からこの
試験信号に応答して出力される測定信号を入力し、入力
した測定信号と先に出力した試験信号とを比較するなど
して工業計器の性能を確認する。
ところで、測定対象となる工業計器は、それが配置され
る環境の温度、湿度等によってその性能が若干変化する
。そして、工業計器の性能が変化すると、得られる測定
データの値が変動する。このため、先にある一定条件下
で工業計器を試験した場合に、そのときの外部雰囲気が
分っていないと、次に、同じ工業計器について試験を行
ったときには、得られた測定データが工業計器自体の性
能変化に起因するのか、あるいは、外部雰囲気に起因し
た測定誤差か区別がつかず、工業計器自体の性能を把握
することができなくなる。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであっ
て、工業計器が配置される外部雰囲気の温度、湿度等の
データを工業計器から得られる測定データとともに印字
記録できるようにして、工業計器の性能を充分に把握で
きるようにすることを目的とする。
(ハ)問題点を解決するための手段 本発明は、このような目的を達成するために、工業計器
+E対する試験プログラムや測定レンジ等を予め設定す
る設定部と、この設定部で設定された試験プログラムに
基づく試験信号を前記工業計器に対して出力する信号出
力部と、前記工業計器から前記試験信号に応答して出力
される測定信号を入力する信号入力部と、前記工業計器
に対して入出力される前記測定信号および前記試験信号
に基づくデータを印字する印字部と、前記信号出力部お
よび前記信号入力部を選択駆動するとともに前記工業計
器に対して入出力される前記測定信号および前記試験信
号を演算処理しその演算処理後のデータを前記表示部お
よび印字部にそれぞれ出力する演算制御部とを備えた工
業計器自動試験装置において、 前記工業計器の近接位置に配置される温度センサや湿度
センサ等の外部雰囲気を検出する外部雰囲気検出手段と
、この外部雰囲気検出手段から出力される検出信号を入
力するセンサ信号入力部とを設け、このセンサ信号入力
部に入力された検出信号に基づく温度、湿度等のデータ
を工業計器の測定データとともに前記印字部に印字記録
するようにしている。
(ニ)実施例 以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明
する。
第1図は、本発明の実施例に係る工業計器自動試験装置
の全体を示すブロック図である。同図において、符号l
は工業計器、2は本発明の工業計器自動試験装置である
4は工業計器lの性能を試験するために、試験信号とし
て電気信号や空気圧信号の種別の選択、試験プログラム
の選択および測定レンジ等を予め設定するための各種の
キーを備えた設定部である。
6は上記設定部4で設定された試験プログラムに基づく
試験信号を工業計器lに対して出力する信号出力部であ
り、この信号出力部6は、本例の場合、電気信号を出力
する第!信号出力部6aと、空気圧信号を出力する第2
信号出力部6bとからなる。
8は前記信号出力部6から工業計器lに対して与えられ
る試験信号に応答して該工業計器lから出力された測定
信号を入力する信号入力部であり、この信号出力部8は
、本例の場合、電気信号を入力する第1信号入力部8a
と、空気圧信号を入力する第2信号入力部8bとからな
る。
IOは工業計器1の近接位置に配置さる外部雰囲気検出
手段であり、この外部雰囲気検出手段IOは、本例の場
合、外部温度を検出する温度センサ10aと外部湿度を
検出する湿度センサfobとからなる。
12は、外部温度検出手段10から出力され検出信号を
入力するセンサ信号入力部であり、このセンサ信号入力
部12は、温度センサ10aから出力される温度検出信
号を入力する第1センサ信号入力部12aと、湿度セン
サ10bから出力される湿度検出信号を入力する第2セ
ンサ信号入力部12bとからなる。
14は前記信号入力部8から出力される測定信号とセン
サ信号入力部12から出力される検出信号とを順次切り
換える入力側マルチプレクサ、l6は入力端マルチプレ
クサ14から入力される前記測定信号と検出信号とをデ
ジタル化するA/D変換器である。また、18は後述す
る演算制御部26から出力される試験信号をアナログ化
するD/A変換器、20はこのD/A変換器18でアナ
ログ化された試験信号を信号出力部6の第1信号入力部
6aと第2信号入力i6bとに切り換えて出力する出力
側マルチプレクサである。
22は工業計器1に対して入出力される前記試験信号、
測定信号および検出信号に基づく各データを表示する表
示部である。また、24は前記工業計器に対して入出力
される前記試験信号、測定信号および検出信号に基づく
各データを印字する印字部である。
26は信号出力部6および信号入力部8を選択駆動する
とともに工業計器lに対して入出力される前記試験信号
、測定信号および検出信号を演算処理しその演算処理後
のデータを表示部22および印字部24にそれぞれ出力
する演算制御部である。また、28は演算制御部26で
演算処理されたデータを記憶する記憶部、30は演算制
御部26のインタフェイスである。
この工業計器自動試験装置2では、設定部4により試験
対象となる工業計器lの種類に対応してたとえば電気信
号や空気圧信号等の試験信号の種別の選択するとともに
、試験プログラムの選択および測定レンジ等を予め設定
する。これらの設定信号は、インタフェイス30を介し
て演算制御部26に入力される。演算制御部26は、こ
の設定信号に基づいて出力側マルチプレクサ20および
入力側マルチプレクサ14をそれぞれ切り換えるととも
に、試験信号を出力する。この試験信号は、インタフェ
イス30を介してD/A変換器18に出力され、D/A
変換器18でアナログ化された後、出力側マルチプレク
サ20を介して選択されている第1信号信号出力部6a
あるいは第2信号信号出力部6bに入力される。予め第
1信号信号出力部6aが選択されている場合には、該第
1信号信号出力部6aからは試験信号として電気信号が
出力される。また、第2信号信号出力部6bが選択され
ている場合には、試験信号として空気圧信号が出力され
る。この電気信号あるいは空気圧信号は、工業計器1に
与えられる。
工業計器lからは、上記信号出力部6から与えられた試
験信号に応答して測定信号が出力されるが、この測定信
号が電気信号の場合には第1信号入力部8aに、空気圧
信号の場合には第2信号入力部8bにそれぞれ入力され
る。
一方、温度センナ10aで外部温度が検出されると、温
度センサ10aは、温度検出信号を第1センサ信号入力
部に出力する。また、湿度センサ10bで湿度が検出さ
れると、温度センサ10bは湿度検出信号を第2センサ
入力部12bに出力する。
信号入力部8およびセンサ信号入力部12にそれぞれ入
力された信号は、入力側マルチプレクサ14からA/D
変換器16でデジタル化された後、インタフェイス30
を介して演算制御部26に入力される。演算制御部26
は、入力された測定信号および検出信号を演算処理し、
その演算処理後の各測定データを記憶部28に記憶する
。そして、演算制御部26は、記憶部28に記憶した測
定データを所定のタイミングで読み出し、読み出した測
定データを、先に設定部4で設定された設定信号のデー
タとともに表示部22および印字部24にそれぞれ出力
する。
これにより、工業計器1に与える試験信号に基づくデー
タ、工業計器1で得られた測定信号に基づく測定データ
および外部雰囲気検出手段10で検出された検出信号に
基づく測定データがそれぞれ表示部22に表示されると
ともに、印字部24に印字記録される。
(ホ)効果 以上のように本発明によれば、工業計器が配置される外
部雰囲気の温度、湿度等のデータを工業計器から得られ
る測定データとともに印字記録できる。したがって、印
字記録された測定データを比較することで、工業計器自
体の性能変化によるものか、あるいは、外部雰囲気に起
因した測定誤差か区別できるようになる。このため、工
業計器自体の性能を常に把握することができるようにな
る等の優れた効果が発揮される。
【図面の簡単な説明】
図面は、本発明の一実施例を示す工業計器自動試験装置
の全体を示すブロック図である。 l・・・工業計器、2・・・工業計器自動試験装置、6
・信号入力部、8・・・信号入力部、lO・・・外部雰
囲気検出手段、12・・・センサ信号入力部、24・・
・印字部、26・・・演算制御部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)工業計器に対する試験プログラムや測定レンジ等
    を予め設定する設定部と、この設定部で設定された試験
    プログラムに基づく試験信号を前記工業計器に対して出
    力する信号出力部と、前記工業計器から前記試験信号に
    応答して出力される測定信号を入力する信号入力部と、
    前記工業計器に対して入出力される前記測定信号および
    前記試験信号に基づくデータを印字する印字部と、前記
    信号出力部および前記信号入力部を選択駆動するととも
    に前記工業計器に対して入出力される前記測定信号およ
    び前記試験信号を演算処理しその演算処理後のデータを
    前記表示部および印字部にそれぞれ出力する演算制御部
    とを備えた工業計器自動試験装置において、 前記工業計器の近接位置に配置される温度センサや湿度
    センサ等の外部雰囲気を検出する外部雰囲気検出手段と
    、この外部雰囲気検出手段から出力される検出信号を入
    力するセンサ信号入力部とを設け、このセンサ信号入力
    部に入力された検出信号に基づく温度、湿度等のデータ
    を工業計器の測定データとともに前記印字部に印字記録
    するようにしたことを特徴とする工業計器自動試験装置
JP8606885A 1985-04-22 1985-04-22 工業計器自動試験装置 Pending JPS61243328A (ja)

Priority Applications (1)

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JP8606885A JPS61243328A (ja) 1985-04-22 1985-04-22 工業計器自動試験装置

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JP8606885A JPS61243328A (ja) 1985-04-22 1985-04-22 工業計器自動試験装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61243328A true JPS61243328A (ja) 1986-10-29

Family

ID=13876384

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8606885A Pending JPS61243328A (ja) 1985-04-22 1985-04-22 工業計器自動試験装置

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JP (1) JPS61243328A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0587832A (ja) * 1991-09-27 1993-04-06 Nec Corp 高度・速度試験器

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0587832A (ja) * 1991-09-27 1993-04-06 Nec Corp 高度・速度試験器

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