JPS62167432A - 材料試験機 - Google Patents

材料試験機

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JPS62167432A
JPS62167432A JP29792285A JP29792285A JPS62167432A JP S62167432 A JPS62167432 A JP S62167432A JP 29792285 A JP29792285 A JP 29792285A JP 29792285 A JP29792285 A JP 29792285A JP S62167432 A JPS62167432 A JP S62167432A
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JP
Japan
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load
calibration
measured value
value
detection device
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JP29792285A
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JPH0795022B2 (ja
Inventor
Takaaki Mayumi
真弓 高明
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Shimadzu Corp
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Shimadzu Corp
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  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
  • Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野1 本発明は、荷重や変位量を検出する検出装置を用いて材
料試験を行ない、得られたデータを校正する場合等に用
いられる測定圃の校正方法に関する。
[従来技術1 例えば、材料試験1幾では荷@検出器(ロードセル)か
らの荷重信号を荷車増幅器で増幅し、A/D変換器でA
y’D変換し、デーク思理装置で演算処理して荷重値を
求めている。そして、前記vJ重増幅器にはvJ車測測
定倍率レンジ)を数段用意して適正に荷重測定を行なっ
ているのが一般的でおる。
このような(オ料試験殿において、実荷重をロードセル
に与えて荷重増幅器で筒雪校正を行なう場合、通常は第
2図に示すように校正用可変抵抗1を用いて校正倍率1
点のみで測定前に1回校正を行なっている。そして、測
定レンジ2を切換えて他の測定倍率に設定しても同じ増
幅率によって校正するようにしている。しかしなから、
実際にはロードセル固有の直線陣特性を補正するため、
第3図に示すように、各測定レンジごとに佼正用可変抵
抗1を設けて調整必要があった。これは第4図に示すロ
ードセルの特性曲線において、例えば×1のレンジで校
正し、×2のレンジを使用して×2のフルスケール実荷
重を与えると出力は49X2=98となり、ロードセル
の直線性を保つために+2の補正が必要となるからでお
る。
[発明が解決しようとする問題点コ しかしながら、上記のような校正方法では、校正用可変
抵抗等を設けることから回路が復維になるとともに、校
正精度の低下をもたらすといった問題点があった。しか
も、1つの荷重増幅器に対して複数個のロードセルを切
換的に使用する場合、個々のロードセルの直線性特性が
異なるため、上記のように校正用可変抵抗等による校正
では各々のロードセルに対する適切な、校正が得られな
いという問題点もめった。
そこで本発明は、校正用可変抵抗等を用いて行なう従来
の調整操作を不要にして校正精度を向上させるとともに
、複数個のロードセル等の、検出装置を使用する場合で
も個々の検出装置で測定された測定1直を校正すること
かできる測定値の校正方法を提供することを目的とする
[問題点を解決するだめの手段] 本発明は上記問題点を解決するため、次のような、@成
を採用した。
すなわち、本発明にかかる測定値の校正方法は、材料試
験等にあける変化量を検出する検出装置からの検出信号
を増幅器で増幅し、A/D変換して後マイクロコンピュ
ータで演算処理することによって求められる測定値の校
正方法で必って、あらかじめマイクロコンピュータに検
出装置の種別と各検出装置の測定レンジを記憶させてお
くとともに、各検出装置の各測定レンジごとに対応する
校正係数を記′怠させておき、測定を行なう際にマイク
ロコンピュータに検出装置の種別と使用測定レンジを判
別させ、検出装置からの出力信号に記・厖された校正係
数を1赴は合わせて測定値を校正する演算を行なわせる
ことを特徴とする。
[作用1 複数の検出装置を使用する場合でも、各検出装置の各測
定レンジごとに校正係数が記憶されてあり、測定に使用
する検出装置からの検出信号に所定の校正係数か掛け合
わされて演算処理されるので、使用装置の測定レンジを
マイクロコンピュータに指示するだけで測定値ごとに遇
切な校正か行なわれる。
[実施例] 以下本発明を材料試験のVJ重測測定実施した場合を例
にとって説明する。
第1図は、本発明の実施に使用する材料試験機の校正を
示すブロック図で、ロードセル5(>、□0.1からx
o、nまでn個切換的に使用される。)からの荷重信号
は荷重増幅器6で増幅されA/′D変換器7に入力され
る。ここでA、’D変換された荷重信号XはCPU8に
人力され演算処理される。CPU8で演算処理された荷
重値Xoutかレコーダ13に出力され、レコーダ13
で記憶される。
CPU8のメモリ10には、使用するNo、 1〜N。
nまでのロー1−セルの種別と、ロー1〜セルごとに測
定レンジ並ひ′に測定レンジに対応する校正係数が記′
ll!されてあり、荷重値Xoutを求める際に適宜必
要な校正係数が読み出される。
演算処理は、荷重信号のA/D変換値Xに対して校正係
数をJXとすると、荷重値XoutをX○ut=JX−
Xとして算出するように行なわれる。
ここで校正係数JXは、荷重増幅器7の最高感度測定レ
ンジ例えば×100において、そのフルスケール実荷重
を与えた時、Xoutかフルスケ−、ル1直fになるよ
うに設定されるものである。かかるレンジ以外で、その
設定フルスケール荷重をロードセルに与えた局舎を仮定
すればXoutはロードセルの直線性の影響からf十α
を示すことになる。すなわち、フルスケールに対してα
の誤差を生じることになる。そこで、このレンジにおけ
る校正係数をJx−f/<f+α)とすれば、xout
はフルスケール値fとなる このようにして求められる校正係数を当聰測定レンジに
対応した係数として、各ロードセルの測定レンジごとに
メモリ10に記憶させるもので市表1 ×10Q  ’  JXn □ CPU8のメモリ10には、上記のように各百−トセル
の測定レンジごとに校正係数が記lされているか、必要
な校正係数を読み出すには、ロードセル5の種別を指示
するロードセル種別指示手段11と荷重検出器6におけ
る測定レンジを指示する測定レンジ指示手段12とから
の指令に基づいて行なわれる。これらの指示手段11.
12としては、例えば切換スイッチ等を利用することか
できる。
このように+オ料試験を11なう際に、使用するロード
セルとその測定レンジとかCPU8で判別され、必要な
、校正係数か読み出され、測定荷重値ごとに校正か行な
われることになる。
上記実、駈例ては?オ料試験殿のロードセルの荷重増幅
器の出力(交正について説明したが、伸び計およびその
伸び増幅器の出力校正に関しても同様な方式を用いて実
施できる。また材わl試験のみならず、分析搬器など各
種測定殿にも実施できる。
[発明の効果1 上記説明から明らかなように、本発明は、校正用可変抵
抗等を用いて行なわれる調整操作なしに測定値の校正か
行なえるのて:債度を高めることができ、しかも複数個
の検出装置を切換えて使用する場合でも検出装置の各々
に対して、増幅器の測定レンジごとに通性かつ確実な校
正を行なうことかできることになった。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の実施に用いる装置の構成を示すブロ
ック図、第2図乃至第4図は従来の校正方法を説明する
図である。 5・・・ロードセル    6・・・荷重増幅器7・・
・A 、/ D変換器   8・・・CPU10・・・
メモリ  11・・・ロードセル種別指示手段12・・
・測定レンジ指示手段

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)材料試験等における変化量を検出する検出装置か
    らの検出信号を増幅器で増幅し、A/D変換して後マイ
    クロコンピュータで演算処理することによって求められ
    る測定値の校正方法であって、あらかじめマイクロコン
    ピュータに検出装置の種別と各検出装置の測定レンジを
    記憶させておくとともに、各検出装置の各測定レンジご
    とに対応する校正係数を記憶させておき、測定を行なう
    際にマイクロコンピュータに検出装置の種別と使用測定
    レンジを判別させ、検出装置からの出力信号に記憶され
    た校正係数を掛け合わせて測定値を校正する演算を行な
    わせることを特徴とする測定値の校正方法。
JP60297922A 1985-12-28 1985-12-28 材料試験機 Expired - Lifetime JPH0795022B2 (ja)

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