JPH08265070A - アンプのゲイン自動補正装置およびゲイン自動補正方法 - Google Patents
アンプのゲイン自動補正装置およびゲイン自動補正方法Info
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- JPH08265070A JPH08265070A JP6112895A JP6112895A JPH08265070A JP H08265070 A JPH08265070 A JP H08265070A JP 6112895 A JP6112895 A JP 6112895A JP 6112895 A JP6112895 A JP 6112895A JP H08265070 A JPH08265070 A JP H08265070A
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- amplifier
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Control Of Amplification And Gain Control (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 基準電圧をアンプに入力し、このときのゲイ
ンの切り換えによる出力から正確なゲインを求め、この
ゲインを用いてゲイン補正を実施可能にする。 【構成】 アンプ１０のゲインを切り換えるゲイン切換
手段１１と、上記アンプ１０に対し基準入力を選択的に
切り換え入力する入力切換手段Ｓと、上記基準入力を入
力したときの該アンプ１０のゲインおよび出力と上記ゲ
イン切換手段１１によるゲイン切換後の上記アンプ１０
の出力とにもとづいて、ゲイン切換後のアンプ１０のゲ
インを求めるマイクロプロセッサ１３とを設けて、記憶
手段１５に上記アンプ１０のゲインおよび出力を記憶さ
せる。
ンの切り換えによる出力から正確なゲインを求め、この
ゲインを用いてゲイン補正を実施可能にする。 【構成】 アンプ１０のゲインを切り換えるゲイン切換
手段１１と、上記アンプ１０に対し基準入力を選択的に
切り換え入力する入力切換手段Ｓと、上記基準入力を入
力したときの該アンプ１０のゲインおよび出力と上記ゲ
イン切換手段１１によるゲイン切換後の上記アンプ１０
の出力とにもとづいて、ゲイン切換後のアンプ１０のゲ
インを求めるマイクロプロセッサ１３とを設けて、記憶
手段１５に上記アンプ１０のゲインおよび出力を記憶さ
せる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ガスクロマトグラフ
等を構成するアンプのゲインを自動補正するのに用いる
アンプのゲイン自動補正装置およびゲイン自動補正方法
に関する。
等を構成するアンプのゲインを自動補正するのに用いる
アンプのゲイン自動補正装置およびゲイン自動補正方法
に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４は従来のアンプのゲイン切換装置を
示し、同図において、２１は入力電圧Ｖ3 を一方の入力
端子に受け、これを増幅して出力電圧Ｖ4 として出力す
るオペアンプとしてのアンプで、このアンプ１の他方の
入力端子および出力端子間には、これらの間の抵抗値を
切り換えるためのスイッチＳ1 ，Ｓ2 ，Ｓ3 ，Ｓ4 およ
び複数のゲイン抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 ，Ｒ4 が接続され
ている。
示し、同図において、２１は入力電圧Ｖ3 を一方の入力
端子に受け、これを増幅して出力電圧Ｖ4 として出力す
るオペアンプとしてのアンプで、このアンプ１の他方の
入力端子および出力端子間には、これらの間の抵抗値を
切り換えるためのスイッチＳ1 ，Ｓ2 ，Ｓ3 ，Ｓ4 およ
び複数のゲイン抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 ，Ｒ4 が接続され
ている。
【０００３】なお、上記各スイッチＳ1 ，Ｓ2 ，Ｓ3 ，
Ｓ4 がマイクロプロセッサなどの制御回路からの制御指
令によってオン，オフ制御されるようになっている。
Ｓ4 がマイクロプロセッサなどの制御回路からの制御指
令によってオン，オフ制御されるようになっている。
【０００４】かかるゲイン切換装置では、上記各スイッ
チＳ1 ，Ｓ2 ，Ｓ3 ，Ｓ4 の選択的なオン，オフ制御に
よって、上記アンプ２１の上記他方の入力端子に接続さ
れるゲイン抵抗を選択的に切り換えることで、アンプ２
１のゲインを任意に調整可能にしている。しかし、この
ゲインは上記ゲイン抵抗の精度によってばらつきが生じ
る。
チＳ1 ，Ｓ2 ，Ｓ3 ，Ｓ4 の選択的なオン，オフ制御に
よって、上記アンプ２１の上記他方の入力端子に接続さ
れるゲイン抵抗を選択的に切り換えることで、アンプ２
１のゲインを任意に調整可能にしている。しかし、この
ゲインは上記ゲイン抵抗の精度によってばらつきが生じ
る。
【０００５】そこで、このようなゲイン抵抗のばらつき
を補正するために、図５に示すような回路を用いて、製
品出荷時に実際のゲインを測定して、その値を記憶して
おく方法がとられている。これは、製造用のマイクロプ
ロセッサ２２の制御下で、アンプ２１の一方の入力端子
に定電圧発生器２３からの定電圧を入力し、ゲイン切換
装置２４により上記アンプ２１のゲインを切り換えなが
ら、アンプ２１の出力をデジボル２５で読み取るという
ものである。
を補正するために、図５に示すような回路を用いて、製
品出荷時に実際のゲインを測定して、その値を記憶して
おく方法がとられている。これは、製造用のマイクロプ
ロセッサ２２の制御下で、アンプ２１の一方の入力端子
に定電圧発生器２３からの定電圧を入力し、ゲイン切換
装置２４により上記アンプ２１のゲインを切り換えなが
ら、アンプ２１の出力をデジボル２５で読み取るという
ものである。
【０００６】そして、この読み取り結果をマイクロプロ
セッサ２２内のＰＲＯＭなどの記憶装置に書き込んでお
き、この値を用いて出力値の補正を行っている。
セッサ２２内のＰＲＯＭなどの記憶装置に書き込んでお
き、この値を用いて出力値の補正を行っている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、かかる
従来のゲイン補正装置にあっては、ゲイン補正用のデー
タ（特性）を上記アンプ等を持つ電気回路の製造時や出
荷時に測定して上記ＰＲＯＭなどに書き込むことが必要
であるほか、該電気回路の稼動時にゲインが異常になっ
てもまたは経年変化によっても、上記マイクロプロセッ
サ２２はそのゲインのシフトに対応できず、十分なゲイ
ン補正が行えないなどの問題点があった。
従来のゲイン補正装置にあっては、ゲイン補正用のデー
タ（特性）を上記アンプ等を持つ電気回路の製造時や出
荷時に測定して上記ＰＲＯＭなどに書き込むことが必要
であるほか、該電気回路の稼動時にゲインが異常になっ
てもまたは経年変化によっても、上記マイクロプロセッ
サ２２はそのゲインのシフトに対応できず、十分なゲイ
ン補正が行えないなどの問題点があった。
【０００８】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたものであり、基準電圧をアンプに入力
し、このときのゲインの切り換えによる出力から正確な
ゲインを求め、このゲインを用いてゲイン補正を実施で
きるアンプのゲイン自動補正装置を得ることを目的とす
る。
ためになされたものであり、基準電圧をアンプに入力
し、このときのゲインの切り換えによる出力から正確な
ゲインを求め、このゲインを用いてゲイン補正を実施で
きるアンプのゲイン自動補正装置を得ることを目的とす
る。
【０００９】また、この発明はマイクロプロセッサによ
るアンプの入出力電圧およびゲインから切り換え後のゲ
インを求めて、このゲインを用いてゲイン補正を実施で
きるアンプのゲイン自動補正方法を得ることを目的とす
る。
るアンプの入出力電圧およびゲインから切り換え後のゲ
インを求めて、このゲインを用いてゲイン補正を実施で
きるアンプのゲイン自動補正方法を得ることを目的とす
る。
【００１０】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明に係るア
ンプのゲイン自動補正装置は、入力信号を増幅するアン
プのゲインを切り換えるゲイン切換手段と、上記アンプ
に対し上記入力信号または基準入力を選択的に切り換え
入力する入力切換手段と、上記アンプに対して上記基準
入力を入力したときの該アンプのゲインおよび出力と上
記ゲイン切換手段によるゲイン切換後の上記アンプの出
力とにもとづいて、上記ゲイン切換後の上記アンプのゲ
インを求めるマイクロプロセッサとを設けて、記憶装置
に上記アンプのゲインおよび出力を記憶させるようにし
たものである。
ンプのゲイン自動補正装置は、入力信号を増幅するアン
プのゲインを切り換えるゲイン切換手段と、上記アンプ
に対し上記入力信号または基準入力を選択的に切り換え
入力する入力切換手段と、上記アンプに対して上記基準
入力を入力したときの該アンプのゲインおよび出力と上
記ゲイン切換手段によるゲイン切換後の上記アンプの出
力とにもとづいて、上記ゲイン切換後の上記アンプのゲ
インを求めるマイクロプロセッサとを設けて、記憶装置
に上記アンプのゲインおよび出力を記憶させるようにし
たものである。
【００１１】請求項２の発明に係るアンプのゲイン自動
補正方法は、ゲイン切り換え可能なアンプに基準入力を
与え、マイクロプロセッサに、ゲイン切り換え前の上記
アンプのゲインと、ゲイン切り換え後の上記アンプの出
力を上記ゲイン切り換え前のアンプの出力で除算した値
との乗算結果から、上記ゲイン切り換え後のゲインを演
算させ、この演算結果を記憶手段に記憶させるようにし
たものである。
補正方法は、ゲイン切り換え可能なアンプに基準入力を
与え、マイクロプロセッサに、ゲイン切り換え前の上記
アンプのゲインと、ゲイン切り換え後の上記アンプの出
力を上記ゲイン切り換え前のアンプの出力で除算した値
との乗算結果から、上記ゲイン切り換え後のゲインを演
算させ、この演算結果を記憶手段に記憶させるようにし
たものである。
【００１２】
【作用】請求項１の発明におけるアンプのゲイン自動補
正装置は、通常の入力を増幅するアンプに、その入力に
代えて定期的に基準入力を入力し、このアンプのゲイン
をマイクロプロセッサの制御下でゲイン切換手段によっ
て切り換えることで、ゲイン切り換え後の正確なゲイン
を求め、これを記憶手段に記憶させて、定期的にゲイン
補正を行うことで、常に正しいゲインを維持可能にす
る。
正装置は、通常の入力を増幅するアンプに、その入力に
代えて定期的に基準入力を入力し、このアンプのゲイン
をマイクロプロセッサの制御下でゲイン切換手段によっ
て切り換えることで、ゲイン切り換え後の正確なゲイン
を求め、これを記憶手段に記憶させて、定期的にゲイン
補正を行うことで、常に正しいゲインを維持可能にす
る。
【００１３】請求項２の発明におけるアンプのゲイン自
動補正方法は、アンプの基準入力を与えて、このときの
アンプのゲインおよび出力とゲイン切り換え後のアンプ
の出力とからゲイン切り換え後の正しいゲインを、マイ
クロプロセッサにおいて演算により求め、これを記憶手
段に記憶させておく。
動補正方法は、アンプの基準入力を与えて、このときの
アンプのゲインおよび出力とゲイン切り換え後のアンプ
の出力とからゲイン切り換え後の正しいゲインを、マイ
クロプロセッサにおいて演算により求め、これを記憶手
段に記憶させておく。
【００１４】
【実施例】以下に、この発明の一実施例を図について説
明する。図１はこの発明をベースライン電圧の補正を可
能としたガスクロマトグラフに応用した場合の具体例を
示すブロック図である。
明する。図１はこの発明をベースライン電圧の補正を可
能としたガスクロマトグラフに応用した場合の具体例を
示すブロック図である。
【００１５】同図において、１はガスなどの混合試料で
あるサンプルガス、２はサンプルガス１の濃度に応じた
温度を検出して、電圧信号として出力する温度センサ
（ＴＣＤセンサ）、３は温度センサ２の出力を増幅する
アンプである。
あるサンプルガス、２はサンプルガス１の濃度に応じた
温度を検出して、電圧信号として出力する温度センサ
（ＴＣＤセンサ）、３は温度センサ２の出力を増幅する
アンプである。
【００１６】また、４は入力切換手段Ｓを構成する第１
のスイッチ、５は第１のスイッチ４を介して上記アンプ
３の出力側に一方の入力端子が接続された引算回路であ
る。
のスイッチ、５は第１のスイッチ４を介して上記アンプ
３の出力側に一方の入力端子が接続された引算回路であ
る。
【００１７】さらに、６は基準入力（電圧）発生用の基
準電圧源、７は引算回路５の上記一方の入力端子と上記
基準電圧源６との間に接続された入力切換手段Ｓを構成
する第２のスイッチ、８，９はフィルタ回路Ｆを構成す
る抵抗およびコンデンサである。
準電圧源、７は引算回路５の上記一方の入力端子と上記
基準電圧源６との間に接続された入力切換手段Ｓを構成
する第２のスイッチ、８，９はフィルタ回路Ｆを構成す
る抵抗およびコンデンサである。
【００１８】１０は上記フィルタ回路Ｆを介して引算回
路５の出力側に一方の入力端子が接続されたアンプ、１
１はこのアンプ１０の他方の入力端子と出力端子との間
に接続されたゲイン切換手段であり、後述のマイクロプ
ロセッサによりゲイン抵抗の切り換えが行われる。
路５の出力側に一方の入力端子が接続されたアンプ、１
１はこのアンプ１０の他方の入力端子と出力端子との間
に接続されたゲイン切換手段であり、後述のマイクロプ
ロセッサによりゲイン抵抗の切り換えが行われる。
【００１９】１２は上記アンプ１０の出力をディジタル
変換するアナログ／ディジタル変換器、１３は上記アン
プ１０の出力およびゲインとにもとづいて、ゲイン切り
換え後のアンプのゲインなどを演算するマイクロプロセ
ッサである。
変換するアナログ／ディジタル変換器、１３は上記アン
プ１０の出力およびゲインとにもとづいて、ゲイン切り
換え後のアンプのゲインなどを演算するマイクロプロセ
ッサである。
【００２０】また、１４はマイクロプロセッサ１３から
の後述のベースライン補正信号をアナログ変換して、上
記引算回路５の他方の入力端子に入力するディジタル／
アナログ変換器である。
の後述のベースライン補正信号をアナログ変換して、上
記引算回路５の他方の入力端子に入力するディジタル／
アナログ変換器である。
【００２１】なお、１５，１６，１７はマイクロプロセ
ッサ１３に接続されて、これの処理動作に必要な各種デ
ータやプログラム等を記憶させるためのＥＥＰＲＯＭ，
ＲＯＭ，ＲＡＭなどの記憶手段である。
ッサ１３に接続されて、これの処理動作に必要な各種デ
ータやプログラム等を記憶させるためのＥＥＰＲＯＭ，
ＲＯＭ，ＲＡＭなどの記憶手段である。
【００２２】次に動作について説明する。まず、カラム
から移送されてくるサンプルガス１の各成分が上記ＴＣ
Ｄセンサ２により検出され、この検出信号である電圧信
号Ｖ1 がアンプ３で増幅された後、マイクロプロセッサ
１３により閉とされている第１のスイッチ４を介して引
算回路５の一方の入力端子に入力される。
から移送されてくるサンプルガス１の各成分が上記ＴＣ
Ｄセンサ２により検出され、この検出信号である電圧信
号Ｖ1 がアンプ３で増幅された後、マイクロプロセッサ
１３により閉とされている第１のスイッチ４を介して引
算回路５の一方の入力端子に入力される。
【００２３】この引算回路５ではその電圧信号Ｖ1 と、
上記ディジタル／アナログ変換器１４を介してマイクロ
プロセッサ１３から入力される後述のベースライン電圧
補正用の電圧信号Ｖ2 との差をとり、ベースライン電圧
を除去して電圧信号Ｖ3 ＝Ｖ1 −Ｖ2 を得て、これをア
ンプ１０の一方の入力端子に送出する。
上記ディジタル／アナログ変換器１４を介してマイクロ
プロセッサ１３から入力される後述のベースライン電圧
補正用の電圧信号Ｖ2 との差をとり、ベースライン電圧
を除去して電圧信号Ｖ3 ＝Ｖ1 −Ｖ2 を得て、これをア
ンプ１０の一方の入力端子に送出する。
【００２４】一方、上記アンプ１０では上記電圧信号Ｖ
3 をゲイン切換手段１１から出力されるゲイン値に応じ
て増幅し、この増幅した電圧信号Ｖ4 をアナログ／ディ
ジタル変換器１２によりディジタル変換してマイクロプ
ロセッサ１３に入力する。
3 をゲイン切換手段１１から出力されるゲイン値に応じ
て増幅し、この増幅した電圧信号Ｖ4 をアナログ／ディ
ジタル変換器１２によりディジタル変換してマイクロプ
ロセッサ１３に入力する。
【００２５】マイクロプロセッサ１３では上記電圧信号
Ｖ4 のディジタルデータを読み込んで、サンプルガス１
中の所定の成分が検出されたと判断する。
Ｖ4 のディジタルデータを読み込んで、サンプルガス１
中の所定の成分が検出されたと判断する。
【００２６】ここで、上記サンプルガス１の成分によっ
ては、その電圧信号Ｖ4 のピーク電圧に高低差が生じ、
十分に検出できない場合がある。このため、マイクロプ
ロセッサ１３では各成分の電圧信号のピーク電圧を測定
する直前に、アンプ１０の出力をもとにゲイン切換手段
１１を切換制御して上記電圧信号Ｖ4 を増幅し、検出可
能な電圧信号Ｖ4 として出力可能にしている。
ては、その電圧信号Ｖ4 のピーク電圧に高低差が生じ、
十分に検出できない場合がある。このため、マイクロプ
ロセッサ１３では各成分の電圧信号のピーク電圧を測定
する直前に、アンプ１０の出力をもとにゲイン切換手段
１１を切換制御して上記電圧信号Ｖ4 を増幅し、検出可
能な電圧信号Ｖ4 として出力可能にしている。
【００２７】一方、上記マイクロプロセッサ１３はカラ
ム中に一定の周期でキャリアガスのみを流すことにより
発生する電圧信号に対し、所定の分析用シーケンスでゲ
イン切換手段１１を切換制御することにより、様々なゲ
イン切り換えを行ったり、カラム側のアナライザバルブ
の切り換えにより、この間に検出される電圧信号レベル
をベースライン電圧値として記憶する。
ム中に一定の周期でキャリアガスのみを流すことにより
発生する電圧信号に対し、所定の分析用シーケンスでゲ
イン切換手段１１を切換制御することにより、様々なゲ
イン切り換えを行ったり、カラム側のアナライザバルブ
の切り換えにより、この間に検出される電圧信号レベル
をベースライン電圧値として記憶する。
【００２８】すなわち、カラム中に定期的にキャリアガ
スのみを流入させ、キャリアガスのみが流れているとき
の分析周期内における一連のベースライン変動値を数分
析周期に亘って計測し、図２に示すように、この計測値
の平均値Ａを遂一マイクロプロセッサ１３を通じてＥＥ
ＰＲＯＭなどの記憶手段１５に記憶させる。
スのみを流入させ、キャリアガスのみが流れているとき
の分析周期内における一連のベースライン変動値を数分
析周期に亘って計測し、図２に示すように、この計測値
の平均値Ａを遂一マイクロプロセッサ１３を通じてＥＥ
ＰＲＯＭなどの記憶手段１５に記憶させる。
【００２９】この結果、そのベースライン電圧の平均値
を基準としてキャリアガス中の各成分１ａ，１ｂ，１ｃ
のピーク電圧ＶP1，ＶP2，ＶP3の高さや面積が測定で
き、ゲイン切り換え等によりベースライン電圧が変動し
ても、これに影響されない正確な測定を行うことができ
る。
を基準としてキャリアガス中の各成分１ａ，１ｂ，１ｃ
のピーク電圧ＶP1，ＶP2，ＶP3の高さや面積が測定で
き、ゲイン切り換え等によりベースライン電圧が変動し
ても、これに影響されない正確な測定を行うことができ
る。
【００３０】また、上記ゲイン切換手段のゲイン抵抗は
上記のように一般にばらつきを生じているため、この発
明では基準電圧の上記アンプ１０への入力により各ゲイ
ンの切り換え時の出力を読み取ることにより、正確なゲ
インを演算により求め、記憶させ、このゲインを利用し
てアンプ１０のゲイン補正を行っている。
上記のように一般にばらつきを生じているため、この発
明では基準電圧の上記アンプ１０への入力により各ゲイ
ンの切り換え時の出力を読み取ることにより、正確なゲ
インを演算により求め、記憶させ、このゲインを利用し
てアンプ１０のゲイン補正を行っている。
【００３１】すなわち、このゲイン補正では、上記第１
のスイッチ４を開にし、かつ上記第２のスイッチ７を閉
にして、基準入力を引算回路５を介してアンプ１０の一
方の入力端子に入力する。
のスイッチ４を開にし、かつ上記第２のスイッチ７を閉
にして、基準入力を引算回路５を介してアンプ１０の一
方の入力端子に入力する。
【００３２】次にゲイン切換手段１１のゲイン抵抗を上
記マイクロプロセッサ１３からの指令により切り換え
て、例えば図３に示すように、ゲイン１〜４について、
電圧信号Ｖ3 に対応するアンプ１０の出力側電圧信号Ｖ
a 〜Ｖf を測定する。
記マイクロプロセッサ１３からの指令により切り換え
て、例えば図３に示すように、ゲイン１〜４について、
電圧信号Ｖ3 に対応するアンプ１０の出力側電圧信号Ｖ
a 〜Ｖf を測定する。
【００３３】そして、ゲイン１＝１．０、ゲイン２＝ゲ
イン１×（Ｖb ／Ｖa ）、ゲイン３＝ゲイン２×（Ｖb
／Ｖc ）、ゲイン４＝ゲイン３×（Ｖf ／Ｖe ）とし
て、それぞれ実際のゲインを計算して、これをＥＥＰＲ
ＯＭ１５に書き込む。
イン１×（Ｖb ／Ｖa ）、ゲイン３＝ゲイン２×（Ｖb
／Ｖc ）、ゲイン４＝ゲイン３×（Ｖf ／Ｖe ）とし
て、それぞれ実際のゲインを計算して、これをＥＥＰＲ
ＯＭ１５に書き込む。
【００３４】例えば、いま、ゲイン抵抗によるゲイン切
り換え可能なアンプ１０の入力に上記基準入力を与え、
このときのアンプ１０の出力をＶ０、ゲインをＧ０と
し、ゲイン切り換え後の出力をＶ１としたとき、上記ア
ンプ１０にゲイン切り換え時の入力を与え、切り換え前
の出力Ｖ０と切り換え後の出力Ｖ１を記憶し、Ｇ１＝Ｇ
０×Ｖ１／Ｖ０を記憶して、これを切り換え後のゲイン
として記憶させておく。従って、この補正されたゲイン
を用いてＴＣＤセンサ２からの通常入力を増幅できる。
り換え可能なアンプ１０の入力に上記基準入力を与え、
このときのアンプ１０の出力をＶ０、ゲインをＧ０と
し、ゲイン切り換え後の出力をＶ１としたとき、上記ア
ンプ１０にゲイン切り換え時の入力を与え、切り換え前
の出力Ｖ０と切り換え後の出力Ｖ１を記憶し、Ｇ１＝Ｇ
０×Ｖ１／Ｖ０を記憶して、これを切り換え後のゲイン
として記憶させておく。従って、この補正されたゲイン
を用いてＴＣＤセンサ２からの通常入力を増幅できる。
【００３５】従って、この実施例ではゲインの異常を自
己診断でき、機器異常時の不具合箇所を特定でき、ま
た、定期的にゲインを自動測定することで、ゲインの経
年変化を自動補正することができる。
己診断でき、機器異常時の不具合箇所を特定でき、ま
た、定期的にゲインを自動測定することで、ゲインの経
年変化を自動補正することができる。
【００３６】すなわち、この実施例ではゲインを切り換
える入力電圧Ｖ3 は適当な値を決めておくことで、この
時の値をアンプ１０に与えてゲインを切り換えてみてＶ
a 〜Ｖf を求めるという操作を行うことになる。つま
り、ゲインの切り換え時点で出力の誤差がどの程度生じ
るかが分かる。
える入力電圧Ｖ3 は適当な値を決めておくことで、この
時の値をアンプ１０に与えてゲインを切り換えてみてＶ
a 〜Ｖf を求めるという操作を行うことになる。つま
り、ゲインの切り換え時点で出力の誤差がどの程度生じ
るかが分かる。
【００３７】
【発明の効果】以上のように、請求項１の発明によれ
ば、入力信号を増幅するアンプのゲインを切り換えるゲ
イン切換手段と、上記アンプに対し上記入力信号または
基準入力を選択的に切り換え入力する入力切換手段と、
上記アンプに対して上記基準入力を入力したときの該ア
ンプのゲインおよび出力と上記ゲイン切換手段によるゲ
イン切換後の上記アンプの出力とにもとづいて、上記ゲ
イン切換後の上記アンプのゲインを求めるマイクロプロ
セッサとを設けて、記憶装置に上記アンプのゲインおよ
び出力を記憶させるように構成したので、ゲインの異常
を自己診断しながらそのゲインの補正を実施できるとと
もに、定期的なゲインの自動補正によってゲインの経年
変化に対応できるものが得られる効果がある。
ば、入力信号を増幅するアンプのゲインを切り換えるゲ
イン切換手段と、上記アンプに対し上記入力信号または
基準入力を選択的に切り換え入力する入力切換手段と、
上記アンプに対して上記基準入力を入力したときの該ア
ンプのゲインおよび出力と上記ゲイン切換手段によるゲ
イン切換後の上記アンプの出力とにもとづいて、上記ゲ
イン切換後の上記アンプのゲインを求めるマイクロプロ
セッサとを設けて、記憶装置に上記アンプのゲインおよ
び出力を記憶させるように構成したので、ゲインの異常
を自己診断しながらそのゲインの補正を実施できるとと
もに、定期的なゲインの自動補正によってゲインの経年
変化に対応できるものが得られる効果がある。
【００３８】また、このようなゲイン補正を定期的また
は常時行う場合には、何らかの故障が発生した場合で
も、どこが故障したかを容易に特定できるという効果が
得られる。
は常時行う場合には、何らかの故障が発生した場合で
も、どこが故障したかを容易に特定できるという効果が
得られる。
【００３９】請求項２の発明によれば、ゲイン切り換え
可能なアンプに基準入力を与え、マイクロプロセッサ
に、ゲイン切り換え前の上記アンプのゲインと、ゲイン
切り換え後の上記アンプの出力を上記ゲイン切り換え前
のアンプの出力で除算した値との乗算結果から、上記ゲ
イン切り換え後のゲインを演算させ、この演算結果を記
憶手段に記憶させるように構成したので、マイクロプロ
セッサによるアンプの出力およびゲインの演算処理によ
って正確なゲインを得ることができる効果がある。
可能なアンプに基準入力を与え、マイクロプロセッサ
に、ゲイン切り換え前の上記アンプのゲインと、ゲイン
切り換え後の上記アンプの出力を上記ゲイン切り換え前
のアンプの出力で除算した値との乗算結果から、上記ゲ
イン切り換え後のゲインを演算させ、この演算結果を記
憶手段に記憶させるように構成したので、マイクロプロ
セッサによるアンプの出力およびゲインの演算処理によ
って正確なゲインを得ることができる効果がある。
【図１】この発明の一実施例によるアンプのゲイン自動
補正装置を示すブロック図である。
補正装置を示すブロック図である。
【図２】この発明におけるガスクロマトグラフによるサ
ンプルガスの各種成分の測定値を示す電圧波形図であ
る。
ンプルガスの各種成分の測定値を示す電圧波形図であ
る。
【図３】この発明におけるアンプの複数のゲイン切り換
え時の入出力電圧を示す電圧波形図である。
え時の入出力電圧を示す電圧波形図である。
【図４】従来のアンプのゲイン切換装置を示す回路図で
ある。
ある。
【図５】従来のアンプのゲイン補正装置を示すブロック
図である。
図である。
Ｓ 入力切換手段 １０ アンプ １１ ゲイン切換手段 １３ マイクロプロセッサ １５ 記憶手段（ＥＥＰＲＯＭ）
Claims (2)
- 【請求項１】 入力信号を増幅するアンプと、該アンプ
のゲインを切り換えるゲイン切換手段と、上記アンプに
対し上記入力信号または基準入力を選択的に切り換え入
力する入力切換手段と、上記アンプに対して上記基準入
力を入力したときの該アンプのゲインおよび出力と上記
ゲイン切換手段によるゲイン切換後の上記アンプの出力
とにもとづいて、上記ゲイン切換後の上記アンプのゲイ
ンを求めるマイクロプロセッサと、上記アンプのゲイン
および出力を記憶する記憶手段とを備えたアンプのゲイ
ン自動補正装置。 - 【請求項２】 ゲイン切り換え可能なアンプに基準入力
を与え、ゲイン切り換え前の上記アンプのゲインと、ゲ
イン切り換え後の上記アンプの出力を上記ゲイン切り換
え前のアンプの出力で除算した値との乗算結果から、上
記ゲイン切り換え後のゲインをマイクロプロセッサにて
演算し、この演算結果を記憶手段に記憶させるアンプの
ゲイン自動補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6112895A JPH08265070A (ja) | 1995-03-20 | 1995-03-20 | アンプのゲイン自動補正装置およびゲイン自動補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6112895A JPH08265070A (ja) | 1995-03-20 | 1995-03-20 | アンプのゲイン自動補正装置およびゲイン自動補正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08265070A true JPH08265070A (ja) | 1996-10-11 |
Family
ID=13162144
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6112895A Pending JPH08265070A (ja) | 1995-03-20 | 1995-03-20 | アンプのゲイン自動補正装置およびゲイン自動補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08265070A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006352793A (ja) * | 2005-06-20 | 2006-12-28 | Hochiki Corp | 信号増幅器の調整システム |
| JP2010035075A (ja) * | 2008-07-31 | 2010-02-12 | Kenwood Corp | 無線機 |
| JP2012185074A (ja) * | 2011-03-07 | 2012-09-27 | Denso Corp | アルコール濃度検出装置 |
-
1995
- 1995-03-20 JP JP6112895A patent/JPH08265070A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006352793A (ja) * | 2005-06-20 | 2006-12-28 | Hochiki Corp | 信号増幅器の調整システム |
| JP2010035075A (ja) * | 2008-07-31 | 2010-02-12 | Kenwood Corp | 無線機 |
| JP2012185074A (ja) * | 2011-03-07 | 2012-09-27 | Denso Corp | アルコール濃度検出装置 |
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