JPH0533723B2 - - Google Patents
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- JPH0533723B2 JPH0533723B2 JP61017825A JP1782586A JPH0533723B2 JP H0533723 B2 JPH0533723 B2 JP H0533723B2 JP 61017825 A JP61017825 A JP 61017825A JP 1782586 A JP1782586 A JP 1782586A JP H0533723 B2 JPH0533723 B2 JP H0533723B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 29
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 39
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 3
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 2
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- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
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- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、複数の被測定物の変位を同時に検出
できる変位測定装置に係わり、特に信号増幅器と
サンプルホールド回路とA/D変換器との零点変
動およびA/D変換器の入力信号レベル変動によ
る精度低下を改善した変位測定装置に関する。
できる変位測定装置に係わり、特に信号増幅器と
サンプルホールド回路とA/D変換器との零点変
動およびA/D変換器の入力信号レベル変動によ
る精度低下を改善した変位測定装置に関する。
[従来の技術]
例えば、被測定物としての物体を変位を定量的
に測定し、得られた変位データを処理装置で演算
処理して、この物体の動作位置を制御する制御系
にフイードバツクさせるような制御システムにお
いては、作動トランス等を組込んだ変位検出器で
被測定物の変位を電気信号に変換する。そして、
この変位検出器から出力された検出信号を信号増
幅器で増幅した後、A/D変換器でもつてデジタ
ルの変位データに変換する。処理装置はこのデジ
タルに変換された変位データでもつて種々の演算
処理を実行する。
に測定し、得られた変位データを処理装置で演算
処理して、この物体の動作位置を制御する制御系
にフイードバツクさせるような制御システムにお
いては、作動トランス等を組込んだ変位検出器で
被測定物の変位を電気信号に変換する。そして、
この変位検出器から出力された検出信号を信号増
幅器で増幅した後、A/D変換器でもつてデジタ
ルの変位データに変換する。処理装置はこのデジ
タルに変換された変位データでもつて種々の演算
処理を実行する。
また、複数の被測定物の変位を同時に測定する
場合においては、各被測定物毎に専用の変位検出
器を取付け、各変位検出器から出力される検出信
号を信号切換回路によつて時分割して取出して信
号増幅器を介してA/D変換器へ入力するように
している。したがつて、処理装置には一定周期毎
に各変位データが順次入力することになる。
場合においては、各被測定物毎に専用の変位検出
器を取付け、各変位検出器から出力される検出信
号を信号切換回路によつて時分割して取出して信
号増幅器を介してA/D変換器へ入力するように
している。したがつて、処理装置には一定周期毎
に各変位データが順次入力することになる。
このような変位測定装置に用いられる変位検出
器は例えば第3図aに示すように変位検出器本体
51と可動棒52とで構成されている。可動棒5
2の先端の移動範囲は基準位置Pを中心として上
下に(W/2)づつの合計Wである。そして、こ
の変位検出器から、基準位置Pからの移動量に対
応した電圧Aが検出信号として出力される。
器は例えば第3図aに示すように変位検出器本体
51と可動棒52とで構成されている。可動棒5
2の先端の移動範囲は基準位置Pを中心として上
下に(W/2)づつの合計Wである。そして、こ
の変位検出器から、基準位置Pからの移動量に対
応した電圧Aが検出信号として出力される。
そこで、第3図bに示すように、被測定物53
を載置する測定基準台54の位置に可動棒52の
基準位置Pを合わせると、出力電圧は(0+A)
で表現できる。また、第3図cに示すように、測
定基準台54を可動棒52の基準位置Pより電圧
換算で所定量A0だけ下方へ移動させた場合には、
出力電圧は(A0+A)で表現できる。
を載置する測定基準台54の位置に可動棒52の
基準位置Pを合わせると、出力電圧は(0+A)
で表現できる。また、第3図cに示すように、測
定基準台54を可動棒52の基準位置Pより電圧
換算で所定量A0だけ下方へ移動させた場合には、
出力電圧は(A0+A)で表現できる。
この場合、第3図bは第3図cの特殊な条件
(A0=0)であると見なすことが可能であるの
で、第3図b,cにおいては、被測定物53の絶
対値的な変位が測定可能である。そして、出力電
圧は(A0+A)と表現できる。
(A0=0)であると見なすことが可能であるの
で、第3図b,cにおいては、被測定物53の絶
対値的な変位が測定可能である。そして、出力電
圧は(A0+A)と表現できる。
これに対して、第3図dに示すように、測定基
準台54を可動棒52の移動範囲Wの下限位置よ
り下方へ移動させた場合には、被測定物53の絶
対値的な変位を測定できないので、出力電圧は
(0+A)と表現できる。さらに第3図eに示す
ように、測定基準台54をさらに下方へ移動させ
ると、被測定物53の上端が可動棒52の移動範
囲Wを外れるので、測定自体が不可能になる。そ
こで、補助台55を用いて被測定物53の上端が
移動範囲Wに入るように調整する。しかし、この
場合において補助台55の絶対値が不明であるの
で、被測定物53の絶対値的な変位を測定でな
い。そして、出力電圧は(A0+A)と表現でき
る。
準台54を可動棒52の移動範囲Wの下限位置よ
り下方へ移動させた場合には、被測定物53の絶
対値的な変位を測定できないので、出力電圧は
(0+A)と表現できる。さらに第3図eに示す
ように、測定基準台54をさらに下方へ移動させ
ると、被測定物53の上端が可動棒52の移動範
囲Wを外れるので、測定自体が不可能になる。そ
こで、補助台55を用いて被測定物53の上端が
移動範囲Wに入るように調整する。しかし、この
場合において補助台55の絶対値が不明であるの
で、被測定物53の絶対値的な変位を測定でな
い。そして、出力電圧は(A0+A)と表現でき
る。
前述と同様に、第3図dは第3図eの特殊な条
件(A0=0)であると見なすことが可能である
ので、第3図d,eにおいては、被測定物53の
相対値的な変位のみが測定可能である。そして、
出力電圧は(A0±A)と表現できる。
件(A0=0)であると見なすことが可能である
ので、第3図d,eにおいては、被測定物53の
相対値的な変位のみが測定可能である。そして、
出力電圧は(A0±A)と表現できる。
なお、上述した2種類の測定形態のうちの一方
の絶対値的な変位測定は被測定物53の寸法の絶
対値測定に適用され、他方の相対値的な変位測定
は被測定物53の基準ゲージに対する偏差値測定
に適用される。
の絶対値的な変位測定は被測定物53の寸法の絶
対値測定に適用され、他方の相対値的な変位測定
は被測定物53の基準ゲージに対する偏差値測定
に適用される。
したがつて、各変位検出器から出力される
(A0+A)又は(A0±A)で表現できる電圧値の
検出信号は次段の信号増幅器でもつてα倍に増幅
されて、A/D変換器へ入力される。
(A0+A)又は(A0±A)で表現できる電圧値の
検出信号は次段の信号増幅器でもつてα倍に増幅
されて、A/D変換器へ入力される。
そして、このA/D変換器でもつてデジタルの
変位データへ変換される。
変位データへ変換される。
[発明が解決しようとする問題点]
しかしながら上記のような変位測定装置におい
ては次のような問題点があつた。すなわち、一般
にA/D変換器の入力信号レベルには最適入力信
号レベル範囲が存在する。ところで、一般的に
A/D変換後の分解能を向上させるために、信号
増幅器で上記最適信号レベル範囲の限界まで増幅
している。しかし、信号増幅器からの出力信号レ
ベルは、前述したように変位検出器の使用形態で
定まる初期設定の方法によつて2種類の信号レベ
ルα(A0+A)又は(A0±A)となる。
ては次のような問題点があつた。すなわち、一般
にA/D変換器の入力信号レベルには最適入力信
号レベル範囲が存在する。ところで、一般的に
A/D変換後の分解能を向上させるために、信号
増幅器で上記最適信号レベル範囲の限界まで増幅
している。しかし、信号増幅器からの出力信号レ
ベルは、前述したように変位検出器の使用形態で
定まる初期設定の方法によつて2種類の信号レベ
ルα(A0+A)又は(A0±A)となる。
そこで、前者が最適信号レベル範囲に入るよう
に増幅器αを調整すると、後者の場合は飽和し
て、測定誤差が生じてしまう。逆に、後者が最適
信号レベル範囲に入るように増幅度αを調整する
と、前者に対する分解能が低下してしまう。
に増幅器αを調整すると、後者の場合は飽和し
て、測定誤差が生じてしまう。逆に、後者が最適
信号レベル範囲に入るように増幅度αを調整する
と、前者に対する分解能が低下してしまう。
したがつて、信号増幅器の増幅度α調整のみに
よつて常にA/D変換器の入力信号レベルを最適
値に維持することが困難である。このような原因
から、A/D変換器の機能を有効に使用できない
ので、得られた変位データの有効桁数が不足した
り、データが飽和する問題が生じる。特に、信号
増幅器の信号入力端における検出信号に例えば+
x(又は−y)の零点変動が生じていた場合は、
A/D変換器に入力される検出信号の信号レベル
は、α(A0+A+x、−y)又はα(A0±A+x、
−y)となり、前記最適入力信号レベル範囲から
大きく外れる確立が多い。また、信号増幅器の信
号出力端で同じく+x(又は−y)の零点変動が
生じていた場合は、A/D変換器に入力される検
出信号の信号レベルは、[α(A0+A)+x、−y)
又は[α(A0±A)+x、−y]となり、やはり前
記最適入力信号レベル範囲から外れる確立が多
い。
よつて常にA/D変換器の入力信号レベルを最適
値に維持することが困難である。このような原因
から、A/D変換器の機能を有効に使用できない
ので、得られた変位データの有効桁数が不足した
り、データが飽和する問題が生じる。特に、信号
増幅器の信号入力端における検出信号に例えば+
x(又は−y)の零点変動が生じていた場合は、
A/D変換器に入力される検出信号の信号レベル
は、α(A0+A+x、−y)又はα(A0±A+x、
−y)となり、前記最適入力信号レベル範囲から
大きく外れる確立が多い。また、信号増幅器の信
号出力端で同じく+x(又は−y)の零点変動が
生じていた場合は、A/D変換器に入力される検
出信号の信号レベルは、[α(A0+A)+x、−y)
又は[α(A0±A)+x、−y]となり、やはり前
記最適入力信号レベル範囲から外れる確立が多
い。
さらに、信号増幅器やA/D変換器等の直流信
号を扱う電子機器は前述したような零点変動が起
りやすいので、測定開始前に、各変位検出器の可
動棒を変位検出器本体の基準位置に機械的に合せ
た状態で信号増幅器の入力信号および出力信号を
零ボルトの合せる零点調整を実施する必要があ
る。しかし、連続して多数の被測定物の変位を測
定する必要のある場合は、短周期で上記零点調整
を実施することは困難である。
号を扱う電子機器は前述したような零点変動が起
りやすいので、測定開始前に、各変位検出器の可
動棒を変位検出器本体の基準位置に機械的に合せ
た状態で信号増幅器の入力信号および出力信号を
零ボルトの合せる零点調整を実施する必要があ
る。しかし、連続して多数の被測定物の変位を測
定する必要のある場合は、短周期で上記零点調整
を実施することは困難である。
また、零点変動の少ない電子機器を用いれば装
置全体が高価格になる問題もある。
置全体が高価格になる問題もある。
本発明はこのような事情に基づいてなさたもの
であり、その目的とするところは、A/D変換器
の入力信号が動作可能最適信号レベル範囲に入る
ように信号増幅器の入力信号にバイアス電圧を加
えるとともに周期的に接地電位を測定することに
よつて、A/D変換器を最適条件で動作させると
ともに零点変動に起因する誤差を最少限に抑制で
き、測定能率を低下することなく測定精度を向上
できる変位測定装置を提供することにある。
であり、その目的とするところは、A/D変換器
の入力信号が動作可能最適信号レベル範囲に入る
ように信号増幅器の入力信号にバイアス電圧を加
えるとともに周期的に接地電位を測定することに
よつて、A/D変換器を最適条件で動作させると
ともに零点変動に起因する誤差を最少限に抑制で
き、測定能率を低下することなく測定精度を向上
できる変位測定装置を提供することにある。
[問題点を解決するための手段]
本発明は、基準位置に対する被測定物の絶対値
的な変位(A0+A)または基準位置から所定量
離れた位置に対する被測定物の相対値的な変位
(A0±A)を検出し電気信号に変換する複数の変
位検出器と、各変位検出器から出力される各検出
信号を択一的に出力する信号切換回路と、この信
号切換回路から出力された信号を所定の信号レべ
ルに増幅する信号増幅器と、この信号増幅器の入
力端にバイアス電圧を印加するバイアス電圧発生
回路と、信号増幅器にて増幅された信号をA/D
変換するA/D変換器とを備えた変位測定装置に
おいて、 信号切換回路は、各変位検出器から出力される
各検出信号とともに接地信号も受けて、これらの
信号の中から一つの信号を択一的に出力するよう
に構成し、 さらに、A/D変換器へ入力される信号の信号
レベルがこのA/D変換器の動作可能最適入力信
号レベル範囲に入るようにバイアス電圧発生回路
のバイアス電圧を、各変位検出器の絶対値的な変
位を測定する場合と相対値的な変位を測定する場
合にとに応じて切換設定するバイアス切換手段
と、A/D変換器から出力された各変位検出器の
検出信号に対応する各検出データおよび接地信号
に対応する接地データを読取るデータ読取手段
と、このデータ読取手段にて読取られた各データ
を一時記憶する記憶手段と、この記憶手段に記憶
された各検出データから接地データを差引いて各
被測定物の変位データを算出するデータ演算手段
とを備えたものである。
的な変位(A0+A)または基準位置から所定量
離れた位置に対する被測定物の相対値的な変位
(A0±A)を検出し電気信号に変換する複数の変
位検出器と、各変位検出器から出力される各検出
信号を択一的に出力する信号切換回路と、この信
号切換回路から出力された信号を所定の信号レべ
ルに増幅する信号増幅器と、この信号増幅器の入
力端にバイアス電圧を印加するバイアス電圧発生
回路と、信号増幅器にて増幅された信号をA/D
変換するA/D変換器とを備えた変位測定装置に
おいて、 信号切換回路は、各変位検出器から出力される
各検出信号とともに接地信号も受けて、これらの
信号の中から一つの信号を択一的に出力するよう
に構成し、 さらに、A/D変換器へ入力される信号の信号
レベルがこのA/D変換器の動作可能最適入力信
号レベル範囲に入るようにバイアス電圧発生回路
のバイアス電圧を、各変位検出器の絶対値的な変
位を測定する場合と相対値的な変位を測定する場
合にとに応じて切換設定するバイアス切換手段
と、A/D変換器から出力された各変位検出器の
検出信号に対応する各検出データおよび接地信号
に対応する接地データを読取るデータ読取手段
と、このデータ読取手段にて読取られた各データ
を一時記憶する記憶手段と、この記憶手段に記憶
された各検出データから接地データを差引いて各
被測定物の変位データを算出するデータ演算手段
とを備えたものである。
[作用]
このように構成された変位測定装置であれば、
信号増幅器で増幅されたのちA/D変換器へ入力
される信号の信号レベルは、信号増幅器の入力端
に印加されたバイアス信号にて、A/D変換器の
最適入力信号レベル範囲に入るので、A/D変換
器は最適条件で使用される。また、データ演算部
にてA/D変換器から得られた各検出データから
接地電位の基準電位となる接地信号に対応する接
地データを差引いた値を被測定物の変位データと
しているので、この変位データにおいては信号切
換回路以降を信号増幅器、A/D変換器の零点変
動に起因する測定誤差は排除されている。
信号増幅器で増幅されたのちA/D変換器へ入力
される信号の信号レベルは、信号増幅器の入力端
に印加されたバイアス信号にて、A/D変換器の
最適入力信号レベル範囲に入るので、A/D変換
器は最適条件で使用される。また、データ演算部
にてA/D変換器から得られた各検出データから
接地電位の基準電位となる接地信号に対応する接
地データを差引いた値を被測定物の変位データと
しているので、この変位データにおいては信号切
換回路以降を信号増幅器、A/D変換器の零点変
動に起因する測定誤差は排除されている。
[実施例]
以下本発明の一実施例を図面を用いて説明す
る。
る。
第1図は実施例の変位測定装置の概略構成を示
すブロツク図である。図中11〜1oはそれぞれ図
示しないn個の被測定物の各変位を測定するn個
の変位検出器であり、各変位検出器1は、差動ト
ランス等が組込まれており、変位検出器本体1a
と被測定物の変位に連動して移動する可動棒1b
とで構成されている。そして、可動棒1bが変位
検出器本体の基準位置から移動するとその移動量
に比例した検出信号を出力する。各変位検出器1
1〜1oから出力された検出信号はそれぞれ増幅器
21〜2oにて増幅されたのち、ローパスフイルタ
31〜3oにて雑音成分が除去されて直流の検出信
号とし信号切換回路4の各入力端子51〜5oに入
力される。
すブロツク図である。図中11〜1oはそれぞれ図
示しないn個の被測定物の各変位を測定するn個
の変位検出器であり、各変位検出器1は、差動ト
ランス等が組込まれており、変位検出器本体1a
と被測定物の変位に連動して移動する可動棒1b
とで構成されている。そして、可動棒1bが変位
検出器本体の基準位置から移動するとその移動量
に比例した検出信号を出力する。各変位検出器1
1〜1oから出力された検出信号はそれぞれ増幅器
21〜2oにて増幅されたのち、ローパスフイルタ
31〜3oにて雑音成分が除去されて直流の検出信
号とし信号切換回路4の各入力端子51〜5oに入
力される。
この信号切換回路4の第0番目の入力端子50
は接地されている。したがつて、この第0番目の
入力端子50には電位が接地レベル(0電位)の
接地信号が入力される。各入力端子51〜5oはそ
れぞれ接点S0〜Soを介して共通の出力端子6に接
続されている。前記各接点S0〜Soはそれぞれのア
ナログスイツチで構成されており、外部から入力
される制御信号にてオン・オフ制御される。な
お、同時に2個以上の接点Sが閉成されるとはな
い。したがつて、この信号切換回路4は0番目か
らn番目までの各入力端子51〜5oに入力した信
号を出力端子6から択一的に取出す。
は接地されている。したがつて、この第0番目の
入力端子50には電位が接地レベル(0電位)の
接地信号が入力される。各入力端子51〜5oはそ
れぞれ接点S0〜Soを介して共通の出力端子6に接
続されている。前記各接点S0〜Soはそれぞれのア
ナログスイツチで構成されており、外部から入力
される制御信号にてオン・オフ制御される。な
お、同時に2個以上の接点Sが閉成されるとはな
い。したがつて、この信号切換回路4は0番目か
らn番目までの各入力端子51〜5oに入力した信
号を出力端子6から択一的に取出す。
信号切換回路4の出力端子6から出力された出
力信号は信号増幅器7の信号入力端子へ入力され
る。信号増幅器7のバイアス入力端子にはバイア
ス電圧発生回路8から出力された所定のバイアス
電圧が印加されている。このバイアス電圧発生回
路8においては、図示しない電源回路から出力さ
れた直流基準電圧VRの電源端子と接地間にそれ
ぞれ抵抗値が異なる可変抵抗9a,9bが介挿さ
れている。各可変抵抗9a,9bの可変端子は切
換スイツチ10の選択端子a,bぴ接続され、切
換スイツチ10の共通端子cは前記信号増幅器7
のバイアス入力端子へ接続されている。前記切換
スイツチ10は信号増幅器7に印加するバイアス
電圧を、各変位検出器11〜1oの検出信号の信号
レベルが前述した、絶対値(A0+A)レベルで
あるのか、偏差値(A0±A)レベルであるのか
を測定開始前に、上述した各変位検出器11〜1o
における絶対値測定か又は偏差値測定であるのか
の使用形態に応じて予め手動で、選択設定してお
くものである。
力信号は信号増幅器7の信号入力端子へ入力され
る。信号増幅器7のバイアス入力端子にはバイア
ス電圧発生回路8から出力された所定のバイアス
電圧が印加されている。このバイアス電圧発生回
路8においては、図示しない電源回路から出力さ
れた直流基準電圧VRの電源端子と接地間にそれ
ぞれ抵抗値が異なる可変抵抗9a,9bが介挿さ
れている。各可変抵抗9a,9bの可変端子は切
換スイツチ10の選択端子a,bぴ接続され、切
換スイツチ10の共通端子cは前記信号増幅器7
のバイアス入力端子へ接続されている。前記切換
スイツチ10は信号増幅器7に印加するバイアス
電圧を、各変位検出器11〜1oの検出信号の信号
レベルが前述した、絶対値(A0+A)レベルで
あるのか、偏差値(A0±A)レベルであるのか
を測定開始前に、上述した各変位検出器11〜1o
における絶対値測定か又は偏差値測定であるのか
の使用形態に応じて予め手動で、選択設定してお
くものである。
信号増幅器7で増幅された信号はサンプル・ホ
ールド(S/H)回路11にてサンプリングされ
る。このサンプル・ホールド回路11でサンプリ
ングされたアナログのデータは次段のA/D変換
器12にてデジタル値のデータに変換される。
A/D変換器12から出力されたデータはデータ
演算部を構成するI/Oポート13へ入力され
る。
ールド(S/H)回路11にてサンプリングされ
る。このサンプル・ホールド回路11でサンプリ
ングされたアナログのデータは次段のA/D変換
器12にてデジタル値のデータに変換される。
A/D変換器12から出力されたデータはデータ
演算部を構成するI/Oポート13へ入力され
る。
このデータ演算部には図示するように各種演算
処理を実行するCPU(中央処理装置)14が組込
まれており、このCPU14はバスライン15を
介して変位データの演算や信号切換回路4の切換
制御を実施するための制御プログラム等を記憶す
るROM16、データ読取手段としてのI/Oポ
ート13等から入力したデータ等の可変データを
一時記憶するRAM17を制御する。また、前記
データが入力されるI/Oポート13、信号切換
回路4へ切換信号を送出するI/Oポート18、
算出された変位データを印字出力するプリンタ1
9へ印字データをするI/Oポート20等が前記
バスライン15を介してCPU14に接続されて
いる。
処理を実行するCPU(中央処理装置)14が組込
まれており、このCPU14はバスライン15を
介して変位データの演算や信号切換回路4の切換
制御を実施するための制御プログラム等を記憶す
るROM16、データ読取手段としてのI/Oポ
ート13等から入力したデータ等の可変データを
一時記憶するRAM17を制御する。また、前記
データが入力されるI/Oポート13、信号切換
回路4へ切換信号を送出するI/Oポート18、
算出された変位データを印字出力するプリンタ1
9へ印字データをするI/Oポート20等が前記
バスライン15を介してCPU14に接続されて
いる。
そして、このような構成において、測定開始前
に各変位検出器11〜1oにおいて可動棒1bを変
位検出器本体1aの基準位置に初期設定する絶対
値測定の場合はバイアス電圧発生回路8の切換ス
イツチ10を選択端子a側に設定し、可動棒1b
を前記基準位置から所定量だけ移動させた位置に
合せた偏差値測定の場合は切換スイツチ10を選
択端子b側に設定する。
に各変位検出器11〜1oにおいて可動棒1bを変
位検出器本体1aの基準位置に初期設定する絶対
値測定の場合はバイアス電圧発生回路8の切換ス
イツチ10を選択端子a側に設定し、可動棒1b
を前記基準位置から所定量だけ移動させた位置に
合せた偏差値測定の場合は切換スイツチ10を選
択端子b側に設定する。
しかして、このデータ演算部のCPU14は外
部から各被測定物に対する測定開始を指示するス
タート信号が入力されると、第2図に示すよう
に、I/Oポート18を介して信号切換回路4へ
制御信号を送出して、接点S0,S0,S2,…,Soを
順番に期間T0つづ閉成させる。すると、信号増
幅器7の信号入力端子には接地信号および各検出
信号が期間T0づつ入力される。バイアス入力端
子には切換スイツチ10で選択設定されたバイア
ス電圧が印加されているので、信号増幅器7は入
力信号にバイアス電圧を加算した信号を例えばα
倍に増幅してサンプル・ホールド回路11へ送出
する。サンプル・ホールド回路11は入力信号を
サンプリングしてA/D変換器12へ送出する。
A/D変換器12は入力したデータをデジタル・
データに変換する。したがつて、I/Oポート1
3には図示するように、接地信号に対する接地デ
ータD0、各検出信号に対する検出データD1,D2,
…,Doが順次読取られる。そして、この読取ら
れた各データは一旦RAM17に書込まれる。
部から各被測定物に対する測定開始を指示するス
タート信号が入力されると、第2図に示すよう
に、I/Oポート18を介して信号切換回路4へ
制御信号を送出して、接点S0,S0,S2,…,Soを
順番に期間T0つづ閉成させる。すると、信号増
幅器7の信号入力端子には接地信号および各検出
信号が期間T0づつ入力される。バイアス入力端
子には切換スイツチ10で選択設定されたバイア
ス電圧が印加されているので、信号増幅器7は入
力信号にバイアス電圧を加算した信号を例えばα
倍に増幅してサンプル・ホールド回路11へ送出
する。サンプル・ホールド回路11は入力信号を
サンプリングしてA/D変換器12へ送出する。
A/D変換器12は入力したデータをデジタル・
データに変換する。したがつて、I/Oポート1
3には図示するように、接地信号に対する接地デ
ータD0、各検出信号に対する検出データD1,D2,
…,Doが順次読取られる。そして、この読取ら
れた各データは一旦RAM17に書込まれる。
CPU14は、各検出データD1〜Doから最初に
入力した接地データD0を減算して各被測定物に
対する各変位データ(D1−D0)、(D2−D0)、…、
(Do−D0)を求めて、プリンタ19にて印字出力
する。
入力した接地データD0を減算して各被測定物に
対する各変位データ(D1−D0)、(D2−D0)、…、
(Do−D0)を求めて、プリンタ19にて印字出力
する。
このように構成された変位測定装置であれば、
例えばA/D変換器12の最適入力信号レベルが
(−B〜+B)の場合においては、このA/D変
換器12に入力する各データ値、すなわちサンプ
リング・ホールド回路11へ入力される信号レベ
ル範囲が上記(−B〜+B)に入るようにバイア
ス電圧発生回路8の各可変抵抗9a,9bの抵抗
値および信号増幅器7の増幅率αを調整すること
が可能である。そして、この調整作業は測定開始
前に1度だけ実施すればよい。したがつて、A/
D変換器12を常に最適条件で動作させることが
可能であるので、測定精度を向上できる。
例えばA/D変換器12の最適入力信号レベルが
(−B〜+B)の場合においては、このA/D変
換器12に入力する各データ値、すなわちサンプ
リング・ホールド回路11へ入力される信号レベ
ル範囲が上記(−B〜+B)に入るようにバイア
ス電圧発生回路8の各可変抵抗9a,9bの抵抗
値および信号増幅器7の増幅率αを調整すること
が可能である。そして、この調整作業は測定開始
前に1度だけ実施すればよい。したがつて、A/
D変換器12を常に最適条件で動作させることが
可能であるので、測定精度を向上できる。
さらに、実施例においては各変位検出器11〜
1oの前述した絶対値測定および偏差値測定の2
種類の使用形態に対応して2種類のバイアス電圧
値を各可変抵抗9a,9bに予め設定しておき必
要に応じて切換スイツチ10にて切換設定できる
ようにしているので、測定作業能率を向上でき
る。
1oの前述した絶対値測定および偏差値測定の2
種類の使用形態に対応して2種類のバイアス電圧
値を各可変抵抗9a,9bに予め設定しておき必
要に応じて切換スイツチ10にて切換設定できる
ようにしているので、測定作業能率を向上でき
る。
また、入力ポート13に入力される接地信号に
対する接地データD0には、バイアス電圧発生回
路8から入力されるバイアス電圧、信号増幅器7
の零点変動分、サンプル・ホールド回路11を零
点変動分、A/D変換器12の零点変動2分等が
含まれる。一方、入力ポート13に入力される各
検出データには、各変位検出器1から出力された
検出信号、増幅器2の零点変動分、ローパスフイ
ルタ3の零点変動分、および前記バイアス電圧、
信号増幅器7の零点変動分、サンプル・ホールド
回路11の零点変動分、A/D変換器12の零点
変動分等が含まれる。したがつて、算出された各
変位データ(D1−D0)、…、(Do−D0)には各検
出器1の検出信号、各増幅器2の零点変動分よお
びローパスフイルタ3の零点変動分のみが含まれ
ることになり、信号切換回路4以降の各構成部材
に起因する零点変動に起因する誤差は排除され
る。したがつて、変位測定装置全体の測定精度を
向上できる。
対する接地データD0には、バイアス電圧発生回
路8から入力されるバイアス電圧、信号増幅器7
の零点変動分、サンプル・ホールド回路11を零
点変動分、A/D変換器12の零点変動2分等が
含まれる。一方、入力ポート13に入力される各
検出データには、各変位検出器1から出力された
検出信号、増幅器2の零点変動分、ローパスフイ
ルタ3の零点変動分、および前記バイアス電圧、
信号増幅器7の零点変動分、サンプル・ホールド
回路11の零点変動分、A/D変換器12の零点
変動分等が含まれる。したがつて、算出された各
変位データ(D1−D0)、…、(Do−D0)には各検
出器1の検出信号、各増幅器2の零点変動分よお
びローパスフイルタ3の零点変動分のみが含まれ
ることになり、信号切換回路4以降の各構成部材
に起因する零点変動に起因する誤差は排除され
る。したがつて、変位測定装置全体の測定精度を
向上できる。
また、前記接地信号のレベル測定は各被測定物
の変位測定の1測定毎に自動的に実施されるの
で、測定精度を低下させることなく測定作業能率
を向上することが可能である。
の変位測定の1測定毎に自動的に実施されるの
で、測定精度を低下させることなく測定作業能率
を向上することが可能である。
さらに、前述したように各測定毎に接地信号を
測定することによつて零点変動の補正を実施して
いるので、バイアス電圧発生回路8、信号増幅器
7、サンプル・ホールド回路11およびA/D変
換器12は零点変動の少ない高価な電子機器を使
用する必要ないので、変位測定装置全体の製造費
を低減できる。
測定することによつて零点変動の補正を実施して
いるので、バイアス電圧発生回路8、信号増幅器
7、サンプル・ホールド回路11およびA/D変
換器12は零点変動の少ない高価な電子機器を使
用する必要ないので、変位測定装置全体の製造費
を低減できる。
[発明の効果]
以上説明したように本発明によれば、バイアス
切換設定手段によつて、各変位検出器の絶対値測
定と偏差値測定との2種類の使用形態に応じて、
信号増幅器に入力される信号にバイアス電圧を印
加するバイアス電圧発生回路のバイアス電圧を切
換設定している。また、測定毎に接地電位を測定
するようにしている。したがつて、被測定物に対
する絶対値測定と偏差値測定のいずれの場合にお
いても、A/D変換器の最適条件で動作させると
共に、バイアス電圧発生回路のバイアス電圧の変
動も含めた回路全体の零点変動に起因する誤差を
最小に抑制でき、測定能率を低下することなく測
定精度を向上できる。
切換設定手段によつて、各変位検出器の絶対値測
定と偏差値測定との2種類の使用形態に応じて、
信号増幅器に入力される信号にバイアス電圧を印
加するバイアス電圧発生回路のバイアス電圧を切
換設定している。また、測定毎に接地電位を測定
するようにしている。したがつて、被測定物に対
する絶対値測定と偏差値測定のいずれの場合にお
いても、A/D変換器の最適条件で動作させると
共に、バイアス電圧発生回路のバイアス電圧の変
動も含めた回路全体の零点変動に起因する誤差を
最小に抑制でき、測定能率を低下することなく測
定精度を向上できる。
第1図は本発明の一実施例に係わる変位測定装
置の概略構成を示すブロツク図、第2図は同実施
例の動作を説明するためのタイムチヤート、第3
図は変位測定器における絶対値測定と偏差値測定
との各使用形態を示す図である。 11〜1o……変位検出器、21〜2o……増幅
器、31〜3o……ローパスフイルタ、4……信号
切換回路、50〜5o……入力端子、6……出力端
子、7……信号増幅器、8……バイアス電圧発生
回路、9a,9b……可変抵抗、10……切換ス
イツチ、11……サンプル・ホールド回路、12
……A/D変換器、13,18……I/Oポー
ト、14……CPU。
置の概略構成を示すブロツク図、第2図は同実施
例の動作を説明するためのタイムチヤート、第3
図は変位測定器における絶対値測定と偏差値測定
との各使用形態を示す図である。 11〜1o……変位検出器、21〜2o……増幅
器、31〜3o……ローパスフイルタ、4……信号
切換回路、50〜5o……入力端子、6……出力端
子、7……信号増幅器、8……バイアス電圧発生
回路、9a,9b……可変抵抗、10……切換ス
イツチ、11……サンプル・ホールド回路、12
……A/D変換器、13,18……I/Oポー
ト、14……CPU。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 基準位置に対する被測定物の絶対値的な変位
(A0+A)または前記基準位置から所定量離れた
位置に対する前記被測定物の相対値的な変位
(A0±A)を検出し電気信号に変換すると共に、
前記被測定物が前記基準位置に位置した状態で前
記電気信号の信号レベル零が出力される複数の変
位検出器(11〜1o)と、この各変位検出器から
出力される各検出信号を択一的に出力する信号切
換回路4と、この信号切換回路から出力された信
号を所定の信号レべルに増幅する信号増幅器7
と、この信号増幅器の入力端にバイアス電圧を印
加するバイアス電圧発生回路8と、前記信号増幅
器にて増幅された信号をA/D変換するA/D変
換器12とを備えた変位測定装置において、 前記信号切換回路は、前記各変位検出器から出
力される各検出信号とともに接地信号も受けて、
これらの信号の中から一つの信号を択一的に出力
するように構成され、 さらに、前記A/D変換器へ入力される信号の
信号レベルがこのA/D変換器の動作可能最適入
力信号レベル範囲に入るように前記バイアス電圧
発生回路のバイアス電圧を、前記各変位検出器の
絶対値的な変位を測定する場合と相対値的な変位
を測定する場合にとに応じて切換設定するバイア
ス切換手段10と、前記A/D変換器から出力さ
れた前記各変位検出器の検出信号に対応する各検
出データおよび前記接地信号に対応する接地デー
タを読取るデータ読取手段13と、このデータ読
取手段にて読取られた各データを一時記憶する記
憶手段17と、この記憶手段に記憶された前記各
検出データから前記接地データを差引いて前記各
被測定物の変位データを算出するデータ演算手段
14とを備えた変位測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1782586A JPS62177406A (ja) | 1986-01-31 | 1986-01-31 | 変位測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1782586A JPS62177406A (ja) | 1986-01-31 | 1986-01-31 | 変位測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62177406A JPS62177406A (ja) | 1987-08-04 |
JPH0533723B2 true JPH0533723B2 (ja) | 1993-05-20 |
Family
ID=11954498
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1782586A Granted JPS62177406A (ja) | 1986-01-31 | 1986-01-31 | 変位測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62177406A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3022165U (ja) * | 1995-08-30 | 1996-03-22 | 株式会社ダイアン総合研究所 | 抗菌抗黴機能を有するベッド用パッド |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2765602B2 (ja) * | 1991-10-30 | 1998-06-18 | 日本電気株式会社 | 心電図解析装置のオートドリフトキャンセル回路 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5769215A (en) * | 1980-10-20 | 1982-04-27 | Toshiba Corp | Water level measuring device for unclear reactor |
JPS58131554A (ja) * | 1981-10-28 | 1983-08-05 | ザ・バブコック・アンド・ウイルコックス・カンパニー | 直線化回路および該回路較正方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57168011U (ja) * | 1981-04-17 | 1982-10-22 |
-
1986
- 1986-01-31 JP JP1782586A patent/JPS62177406A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5769215A (en) * | 1980-10-20 | 1982-04-27 | Toshiba Corp | Water level measuring device for unclear reactor |
JPS58131554A (ja) * | 1981-10-28 | 1983-08-05 | ザ・バブコック・アンド・ウイルコックス・カンパニー | 直線化回路および該回路較正方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3022165U (ja) * | 1995-08-30 | 1996-03-22 | 株式会社ダイアン総合研究所 | 抗菌抗黴機能を有するベッド用パッド |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62177406A (ja) | 1987-08-04 |
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