JPH02136754A - 微小電気信号を測定する方法と装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （技術分野） 本発明は計算機で支援されたエラー補償測定回路（ｃｏ
ｍｐｕｔｏｒ−ｓｕｐｐｏｒｔｅｄ　ｅｒｒｏｒ−ｃｏ
ｍｐｅｎｓａｔｌｎｇ　ｍｅａｓｕｒｉｎｇ　ｃｉｒｃ
ｕｉｔ）による微小電気信号測定方法に関連し、またこ
の方法を遂行する装置にも関連している。

（背景技術） そのような方法とこの方法を遂行する装置はタイプＫＳ
４４００あるいはＫＳ４４５０のフィリップス工業用調
整器（Ｐｈｉｌｉｐｓ　Ｉｎｄｕｓｔｒｉａｌ　Ｒｅｇ
ｕｌａｔｏｒ）から既知である。これらのデバイスは例
えば電圧分割器および／あるいは分路（ｓｈｕｎｔ）に
より電流を測定する回路あるいは例えば液体の温度を記
録し、従って熱電対電圧（ｔｈｅｒｍｏｅｌｅｍｅｎｔ
　ｖｏｌｔａｇｅ）を測定するのに役立つ回路を通して
大きい電圧を測定する回路を具えている。測定すべき電
圧は非反転増幅器の入力に接続され、一方、他の入力は
零電位に接続されている。この信号は増幅器に続くアナ
ログ対ディジタル変換器（Ａ／Ｄ変換器）に供給され、
そこでディジタル形で示される。ポテンショメーターの
調整により、測定範囲の始めと終わりは調整され、一方
、測定範囲を同時に抑制する。またポテンショメーター
を通して、熱電対電圧の測定の場合には、温度補償は調
整され、一方、信号の必要な線形化について複雑なアナ
ログ回路が備えられ、この回路はいくつかの素子からな
り、かつ測定範囲を例えば５つのセグメントで線形化し
ている。

この既知の方法と装置において、回路の高い程度の複雑
性とそのような装置の開発に関連する努力は、特に測定
範囲計算指令を考慮する場合に不利である。さらに、増
幅器エラーと増幅器詣よびＡ／Ｄ変換器のオフセットエ
ラーは補償すべきである。そのような方法と装置は値段
の安いレベルの装置（これは今後いわゆる低価格装置と
名付けよう）の使用に適していない。さらに大きい欠点
はいわゆる長時間ドリフトに対する感度である。

西ドイツ公開特許第３６３４０５２号は抵抗決定（ｒｅ
ｓｉｓｔａｎｃｅ　ｄｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎ）の方
法と回路配列を開示している。この回路配列によると、
電流源とセンサー抵抗器と基準抵抗器を具える回路がマ
ルチプレクサ−の入力側に備えられている。抵抗値を決
定するために、すなわち最後にこの抵抗器にわたる電圧
を決定するために、まづこの電圧が決定され、その後で
回路配列に流れる電流を記録するために導線により構成
された抵抗器にわたる電圧が決定され、引き続いて基準
抵抗器にわたる電圧が決定される。引き続いて、マルチ
プレクサ−に続く計器増幅器（ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔ　
ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）の入力は零電位に接続され、この
値は計算デバイスのためにＡ／Ｄ変換器を通してディジ
タル化される。

この測定は温度ドリフトフよび影響を及ぼす他のファク
ターによる測定電圧の偏移を決定するのに役立っている
。マルチプレクサ−の切り替えにより、これらの測定は
繰り返して遂行され、従って所要の計算は計算デバイス
で遂行できる。この方法とこの回路配列により、特にオ
フセットと増幅エラーはそれぞれ考慮できる。

（発明の開示） 本発明の目的は、低価格素子の使用によりかつ計算デバ
イスが回路の最小の量のハードウェアーを要求し、かつ
オフセットエラーとそれらの変動を考慮に入れて正確な
測定結果を生じるような方法を与えることである。本発
明によると、この目的はクレーム１の特徴項により達成
されている。

本発明による方法は主として電流、電圧および熱電対電
圧の測定に役立っている。十分な解像度と温度ドリフト
の自由度を持つＡ／Ｄ変換器がかなりの価格ファクター
を示しているのに応じて、本発明によると低価格レベル
の複傾斜法（ｄｕａｌｓｌｏｐｅ　ｍｅｔｈｏｄ）に従
うＡ／Ｄ変換器（今後いわゆる低価格複傾斜変換器と名
付ける）は低価格レベルの別の素子と共に使用される。

本発明による方法は正確な測定結果を達成するために実
際的な態様で費用の掛からない測定回路、特にその蓄積
ユニットでしばしば使用された計算デバイスを利用して
いる。それは調整点以外に、すなわち較正値あるいは測
定範囲点あるいはそれと関連する補正値以外に、いわゆ
る零ボルト測定（ｚｅｒｏ　ｖｏｌｔ　ｍｅａｓｕｒｍ
ｅｎｔ）の結果、すなわちマルチプレクサ−に続いて使
用されかつ増幅器とＡ／Ｄ変換器を具える回路の短絡回
路が、製造におけるデバイスの調整の間にまず実行され
、かつディジタル化された信号値が計算デバイスに蓄積
されると言う事実に基づいている。そこで計算デバイス
は操作の間に遂行された実際の繰り返し零ボルト測定の
結果と蓄積された零ボルト測定の結果とを比較し、かつ
この基本的状態から実際の測定値を補正する。このよう
にして、オフセットエラーの自由度とそれらの変動はＡ
／Ｄ変換器と増幅器で保証される。これは調整の間の零
ボルト測定と操作の間のこの測定との間の差が決定され
、これが実際のオフセットドリフトに対応し、かつエラ
ー補償に役立つことを意味している。

例えば本発明により分路を介してたとえ電流が間接的に
測定できても、今後電位が測定されるものと仮定されて
いる。熱電対電圧の測定は電圧測定の特殊ケースを表し
ている。と言うのは、決定された熱電対電圧値から端子
温度の測定より生じる電圧値が減算されなければならず
、引き続いて熱電対電圧と温度の間の非線形関係のため
に線形化が起こるからである。本発明によると、熱電対
電圧の測定が決定され、一方、測定すべき最小信号と最
大信号の測定と零電圧測定とが考慮され、かつ端子温度
の測定が補正値の考慮のみで決定され、これは測定すべ
き最小および最大温度信号の測定から生じている。

本発明のさらに好ましい方法のステップはクレーム２か
ら８で明らかである。

クレームｌから８のいずれか１つに記載されている方法
を遂行する本発明による装置は、マルチプレクサー、そ
れに続く増幅器、アナログ対ディジタル変換器および計
算デバイスを具え、それはクレーム９の特徴項により与
えられている。

この装置は測定回路を構成し、その入力端には測定すべ
き１つあるいはそれ以上の電圧が印加でき、かつその出
力側では測定入力量は表示・制御ユニットに伝えること
ができる。本発明による非常に簡単な実施例に従うと、
低価格素子の使用による測定信号の低オフセツトドリフ
トを有する正確な測定は、２つのスイッチが一方では測
定電圧に対して入力側で印加され、かつ他方では短絡さ
れかつ増幅器（好ましくはいわゆる計器増幅器）の入力
に対して出力側で接続されることで得ることができる。

この増幅器にはいわゆる低価格複傾斜変換器、すなわち
低価格レベルの複傾斜法（二重積分法）によるＡ／Ｄ変
換器が続いている。後者は十分な解像度でアナログ入力
信号を対応ディジタル値に変換する。再びＡ／Ｄ変換器
には計算デバイスが続き、これはそれ自身の表示ユニッ
トを具えるか、あるいはそのようなユニットもしくは制
御ユニットで動作できるかのいずれかである。

本発明の特定の実施例によると、揮発性メモリと非揮発
性メモリを具える高性能ないわゆるマイクロコンピュー
タが使用できる。非揮発性メモリは最終的に補正値を蓄
積するために役立ち、それは長時間ドリフトと温度オフ
セットドリフトを補償するために要求されている。これ
らの補正値は例えば温度依存抵抗器の特性曲線の上昇の
ようにアプリオリに知られているか、あるいは最初の測
定により決定される（従って調整に役立っている）かの
いずれかである。この最初の測定の間に、最小および最
大許容値は同時に測定範囲限界を固定するために使用さ
れるのが好ましい。別の本質的な補正値は第１零ボルト
測定から決定されかつ蓄積される。さらに、計算ユニッ
トにおいて、少なくとも１つの線形化テーブルによる少
なくとも１つの線形化プログラムは送信量と測定量との
間に存在する任意の非線形性を除去するために設定され
る。

異なる測定信号が処理できるためには、スイッチがマル
チプレクサ−により置き換えられよう。

熱電対電圧の測定の間に温度補償を保証するために、入
力端子の少なくとも１つの別のペアーがマルチプレクサ
−に備えられ、かつ端子温度記録回路がこのペアーに接
続されている。この端子温度測定に対して、実例として
使用された温度依存抵抗器の特性曲線の上昇値のように
、補正値が決定されかつ非揮発性メモリに蓄積される。

本発明のさらに好ましい実施例はクレーム１０゜１１お
よび１２から分かる。

本発明の実施例を添付図面を参照してさらに十分説明す
る。

（実施例） 第１図は本発明による測定回路１０すなわち装置を示し
、これは主として電圧Ｕ１の測定に用いられ、この電圧
はハウジングに取り付けられた端子ス）　ＩＪツブ１１
の端子１，２の間に印加されている。

いくつかの電圧、すなわち電圧ＵｌからＵｎを測定する
ために、入力端子１，２．・・・、ｎ−１，ｎを装置に
取り付けられた端子ストリップ１１に備えることができ
る。端子ｌからｎは導線Ｌ１からＬｎを通しておの右の
マルチプレクサー、３の入力端子に接続されている。も
ちろん、電流の測定を許すために各端子ベアーの間に分
路を備えることができる。マルチプレクサー、３は別の
ペアーの入力端子Ａ、Ｂを有し、これはブリッジ１４を
通して相互接続されている。１つの電圧０１を測定する
だけなら、マルチプレクサー、３は双投スイッチとして
構成できる。

マルチプレクサ−は測定すべき種々の電圧信号Ｕ１から
Ｕｎを追随増幅器１５につなぐ（ｓｗｉｔｃｈｔｈｒｏ
ｕｇｈ）。同様に、零電圧測定信号、すなわちマルチプ
レクサー、３の入力端子Ａ、　８間の信号は繰り返して
つながれる。これはあまり頻繁に起こせない、すなわち
、もしも零電圧測定信号がつながれなければならないな
ら、測定信号がスイッチされる度毎ではない。増幅器１
５は計器増幅器として構成されることが好ましい。この
増幅器１５はＡ／Ｄ変換器を従え、これは低価格複傾斜
変換器であることが好ましい。この変換器はアナログ形
式で測定された信号を対応するディジタル信号に変換し
、次にそれらを計算ユニット１７に供給する。計算デバ
イス１７は高性能で安価なマイクロコンピュータであり
、ここには非揮発性メモリと揮発性メモリが存在し、か
つ種々の計算プログラムが設定されている。計算デバイ
ス１７はそれ自身の表示ユニットを具えるかあるいはそ
のようなユニットもしくは制御デバイスにデータを供給
する。

測定が遂行できるように、測定回路１０は本発明に従っ
て調整されなければならない。これは今後Ｆで示される
調整値が計算ユニット１７のメモリユニットに蓄積され
ることで実行される。このように、測定範囲Ｍの始め（
０％Ｆ）に対して、０％の送信量における調整の時点に
おける対応ディジタル値Ｄ（０％Ｆ）が蓄積され、かつ
測定範囲Ｍの終わり（１００％Ｆ）に対して、内部零ボ
ルト入力電圧Ｕ（ＯＶＦ）の時点における対応ディジタ
ル値Ｄ（１００％Ｆ）と調整時点における対応ディジタ
ル値Ｄ（ＯＶＦ）は非揮発性メモリに蓄積される。Ｍは
測定範囲に関連し、すなわちＭは送信量である電流、電
圧等を示している。

既に述べたように、調整によって測定範囲限界に関連す
る０％と１００％の入力量が入力端子ｌからｎに印加さ
れ、かつ関連ディジタル測定値Ｄ（０％Ｆ）とＤ（１０
０％Ｆ）がメモリユニットに蓄積される。零ボルト測定
は対応する態様で実行される。引き続く測定の実際のデ
ィジタル値Ｄ　（ａｋｔ　）は以下のような態様で測定
量に依存している。

＋Ｄ　（０％）　＋ｄｅｌｔａ ここでＵ　（ＯＶ）は操作中の内部零ボルト測定電圧を
示し、Ｄ　（ＯＶ）は対応ディジタル値を示している。

Ｍ　（ａｋｔ　）は実際の測定量を示している。

付加項ｄｅｌｔａは調整回路１０の調整による付加的に
起こるオフセットエラーを表している。従って値ｄｅｌ
ｔａは差Ｄ　（ＯＶ）フイナスＤ　（ＯＶＦ）である。

このように、以下の決定方程式が測定値に対して得られ
る。

Ｍ（ａｋｔ）　　＝ｍ　（Ｄ（ａｋｔ）　−Ｄ　（ＯＶ
）　＋ｂここでＭは所望の電圧あるいは所望の電流であ
り得るし、あるいは標準量として表され得る。この線形
方程式のパラメータｍ、　　ｂは調整値と係数との比較
により決定でき、かつ以下の各測定の補正値として役立
っている。もし送信量と測定量の間に非線形な関係が存
在するなら、最終物理値は計算デバイス１７に設定され
た線形化プログラムと線形化テーブルにより決定される
。

第２図は本発明による第１図の測定回路１０の別の好ま
しい実施例を示している。この実施例は端子温度記録回
路１８の出力端子の接続のためにマルチプレクサー、３
の入力の別のベアーに関連を持っている。端子温度記録
回路は端子ｌからｎにおける熱電対電圧の測定の間の温
度補償に役立っている。端子温度記録回路１８は入力Ｅ
を有し、これは入力端子ｎ−１，ｎのすべてのベアーへ
の迅速測定シーケンスを考慮して熱的に結合されている
。

端子温度記録回路１８はＰＴＣ抵抗器、電流源、および
送信器（Ｕ中のＴ）を線形化する抵抗網から構成でき、
電圧はこのように測定回路ｌＯの端子温度に比例してい
る。この関係式の上昇はｍｐｔｃであると仮定され、か
つ計算デバイス１７のメモリを通して利用可能である。

第２図の測定回路１０の別の技術構成は第１図の構成に
対応している。

第３図はセンサー温度を決定する計算ステップを線図的
に示している。第１図に記載された計算と同様な態様で
、メンバー１９を介して実際の熱電対電圧Ｕ　（ａｋｔ
　）はディジタル化された実際の電圧測定値Ｄ（ａｋｔ
）とディジタル化された零ボルト測定値Ｄ　（ＯＶ）か
ら決定される。温度補償のために、端子温度測定から生
じた電圧値はそれから減算される。熱電対電圧と温度と
の間の非線形関係のために、線形化がメンバー２３で起
こる。このメンバー２３の出力に右いて、センサー温度
は表示値として利用可能である。電圧Ｕ１からＵｎが異
なる種類の熱電対から生じる限り、異なる線形化テーブ
ルが計算デバイス１７に設定でき、これは対応的に適用
される。

第１図で述べられた決定方程式の中で、対応する量Ｕ１
すなわちミリボルトで表された送信量に対する量Ｍの交
換により、以下の決定方程式が得られる。

Ｕ（ａｋｔ）　　＝ｍｔｈ（Ｄ（ａｋｔ）　−Ｄ　（Ｏ
Ｖ））＋ｂｔｈこれは上昇ｒｎｔｈと零通過（ｚｅｒｏ
　ｐａｓｓａｇｅ）ｂｔｈを持つ実際の熱電対電圧に対
するものである。この計算はメンバー１９で遂行される
。端子温度から生じる電圧の決定はメンバー２０．２１
および２２で遂行される。メンバー２０において、まず
端子温度記録回路１８のＰＴＣ抵抗から生じる電圧が計
算される。入力ＵｌからＵｎと同様な態様で、第１調整
測定が遂行されるが、しかし同時に零電圧測定無しで最
小値と最大値が考慮されている。補正値ｍｔｋとｂｔｋ
はそれから生じ、これは計算デバイス１７のメモリに蓄
積される。次にメンバー２０は以下の式に従って計算を
遂行する。

Ｕｔｋ＝ｍｔｋ　　Ｄ（ａｋｔ）　　十ｂｔｋ既に述べ
たように、上昇ｍｐｔｃは計算デバイス１７のメモリ中
に既に存在し、従って温度の線形方程式を表示できるよ
う１つの別の点のみが要求される。

この目的で、例えば既知の調整温度Ｔ（例えば２５°Ｃ
）における電圧Ｕである値の所定の既知のベアーが使用
できる。そこで決定方程式は、Ｔ＝ｍｐｔｃ　（Ｕ（ｔ
ｋ）−Ｕ（２５））　十Ｔ（２５）となる。

この計算はメンバー２１で遂行される。温度値は適応す
る熱電対の特性曲線と後の減算とに適応すべきである。

温度補償が電圧値を通して遂行され、かつ温度値を通し
て遂行されず、かつメンバー２１による温度と電圧の間
の関係が非線形であるので、補償電圧は前述の線形化プ
ログラムを通してメンバー２２で決定される。この値は
次に熱電対電圧から減算され、最終的にメンバー２３の
線形化を通して所望の結果となる。

本発明のさらに好ましい実施例によると、測定すべき最
小信号と最大信号に対する基準電圧は与えることができ
、これは以下の方程式に従って実際の測定信号を補正す
るための長時間ドリフトと温度ドリフトの決定に役立っ
ている。

（Ｄ（ａｋｔ）　−Ｄ　（０％））＋Ｕ（０％Ｒ）ここ
でＲは基準電圧に関連する値を特性化している。

上記の説明、第１．　２．　３図、およびクレームに記
載された本発明の特徴は個別的ならびにその任意の組み
合わせの双方のその種々の実施例で本発明を実現するた
めに本質的であり得る。

（要約） 計算機で支援されたエラー補償測定回路（１０）による
微小電気信号測定方法と装置であって、それはマルチプ
レクサ−（１３）、追随増幅器（１５）、アナログ対デ
ィジタル変換器（１６）および計算デバイス（１７）を
具え、マルチプレクサ−（１３）は少なくとも一対の測
定信号入力端子（ｎ−１，ｎ）と一対の零ボルト入力端
子（Ａ、Ｂ）を有し、かつそれらを信号記録のために追
随増幅器（１５）に繰り返し接続し、かつ第１測定信号
から決定された補正値により実際の測定信号を計算デバ
イス（１７）によって補正するためにディジタル化され
た信号のメモリが存在し、従ってオフセットエラーとそ
れらの変動に無関係に正確な表示値が生成できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は微小電気信号を測定する本発明による装置を示
し、 第２図は熱電対電圧を測定する本発明による装置を示し
、 第３図は第２図に示された装置でディジタル化された信
号の信号処理変化を線図的に示している。 １〜ｎ−１，ｎ　・・・入力端子 １０・・・測定回路 １１・・・端子ストリップ １３・・・マルチプレクサ− １４・・・ブリッジ １５・・・追随増幅器 １６・・・Ａ／Ｄ変換器 １７・・・計算デバイスあるいは計算ユニット１８・・
・端子温度記録回路

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、計算機で支援されたエラー補償測定回路による微小
   電気信号測定方法において、 測定回路（１０）の少なくとも１つの入力の第１および
   第２端子（ｎ−１、ｎ）の間で測定すべき最小信号と最
   大信号の第１測定結果が零ボルト測定の第１測定結果と
   同様に、決定されかつ蓄積されること、および 別の各測定結果が信号測定により、かつ蓄 積された第１測定結果と少なくとも１つの別の零ボルト
   測定との引き続く比較計算により補正され、かつ表示さ
   れること、 を特徴とする方法。 ２、測定回路（１０）の入力の端子（ｎ−１、ｎ）にお
   ける電気信号が増幅器（１５）により記録され、かつ次
   のアナログ対ディジタル変換器 （１６）でディジタル値に変換され、かつ式Ｍ（ａｋｔ
   ）＝ｍ（Ｄ（ａｋｔ）−Ｄ（ＯＶ））＋ｂによって実際
   の補正表示値Ｍ（ａｋｔ）を計算するメモリを備える計
   算デバイス（１７）に供給され、ここでＤ（ａｋｔ）対
   応ディジタル値であり、Ｄ（ＯＶ）は各零ボルト測定の
   ディジタル値であり、ｍ、ｂは蓄積された第１測定結果
   から一定であること、 を特徴とする請求項１に記載の方法。 ３、測定操作の間に遂行された零ボルト測定が電気信号
   の測定と無関係に実行され、かつ 毎回最後の測定が計算に使用されること、 を特徴とする請求項１あるいは２に記載の方法。 ４、測定すべき信号の最終物理値が電気信号と対応送信
   量の間に非線形関係の存在する限り線形化テーブルによ
   る線形化プログラムを通して決定されることを特徴とす
   る請求項１から３のいずれか１つに記載の方法。 ５、計算デバイス（１７）で決定されかつ温度補償のた
   めに補正された熱電対の電圧Ｕ（ａｋｔ）から、付加的
   に記録された補償電圧が減算され、これは端子温度に対
   応し、かつ それから生じる信号が線形化テーブルによ る線形化プログラムを通して表示可能なセンサー温度に
   対する値に変換されること、 を特徴とする請求項１から４のいずれか１つに記載の方
   法。 ６、補償電圧が線形化テーブルによる線形化プログラム
   を通して決定され、かつ 各入力温度値が端子温度の温度記録回路 （１８）、測定範囲制限値による修正、および計算デバ
   イス（１７）を通して以前に測定された電圧と温度の値
   のペアーにより決定されること、を特徴とする請求項５
   に記載の方法。 ７、異なるタイプの熱電対において、毎回対応する線形
   化テーブルが計算デバイス（１７）中に設定され、かつ
   各表示値を決定するために使用されることを特徴とする
   請求項６に記載の方法。 ８、測定すべき最小信号と最大信号に対応する基準信号
   の繰り返し測定結果が決定され、かつ実際の測定信号の
   ドリフト補正の比較計算のために供給されることを特徴
   とする請求項１から７のいずれか１つに記載の方法。 ９、請求項１から８のいずれか１つに記載の計算機で支
   援されたエラー補償測定回路を有する微小電気信号測定
   方法を遂行する装置であって、マルチプレクサー、追随
   増幅器、アナログ対ディジタル変換器および計算デバイ
   スを具えるものにおいて、 マルチプレクサは少なくとも一対の測定信 号入力端子（ｎ−１、ｎ）と一対の零ボルト入力端子（
   Ａ、Ｂ）を有し、かつそれらを信号記録のために追随増
   幅器（１５）に繰り返し接続し、 非揮発性メモリはアナログ対ディジタル変 換器（１６）でディジタル化された第１記録信号の計算
   デバイス（１７）に存在し、かつ 記録されかつディジタル化されたすべての 別の信号に対して、計算デバイス（１７）による比較計
   算の少なくともその間に別のメモリが配設されること、 を特徴とする装置。 １０、電気信号電圧（Ｕｎ）が測定信号入力端子（ｎ−
   １、ｎ）のペアーに印加され、 増幅器（１５）が計器増幅器として構成され、比較計算
   プログラムと少なくとも１つの線 形化テーブルによる少なくとも１つの線形化プログラム
   が計算デバイス（１７）中に設定され、かつ 決定された物理信号値を表示するためにイ ンターフェースが表示デバイスに備えられていること、 を特徴とする請求項９に記載の装置。 １１、一対の測定信号入力端子（ｎ−１、ｎ）における
   電気信号電圧が熱電対電圧（Ｕｎ）であり、 マルチプレクサー（１３）がさらに入力端子の別のペア
   ーを有し、その入力端子の別のペアーは温度記録回路（
   １８）の出力端子に接続され、温度記録回路（１８）は
   測定信号入力端子（ｎ−１、ｎ）に入力側で熱的に結合
   され、 計算デバイス（１７）は温度記録回路（１８）の記録さ
   れかつディジタル化された第１信号、すなわち温度と電
   圧の値の以前に測定されたペアーおよび温度記録回路（
   １８）の以前から既知の上昇ｍｐｔｃの最小信号値と最
   大信号値における信号に対する非揮発性メモリが、温度
   記録回路（１８）の別のすべての信号に対する揮発性メ
   モリと同様に備えられること、 を特徴とする請求項１０に記載の装置。 １２、マルチプレクサー（１３）が入力端子のペアーを
   有し、それに対して測定すべき最小信号と最大信号に対
   応する基準電圧が印加され、かつ計算デバイス（１７）
   がこれらの信号を処理するプログラムとメモリを有する
   ことを特徴とする請求項９から１１のいずれか１つに記
   載の装置。