JPH05223678A - 圧力・差圧伝送器 - Google Patents
圧力・差圧伝送器Info
- Publication number
- JPH05223678A JPH05223678A JP2558192A JP2558192A JPH05223678A JP H05223678 A JPH05223678 A JP H05223678A JP 2558192 A JP2558192 A JP 2558192A JP 2558192 A JP2558192 A JP 2558192A JP H05223678 A JPH05223678 A JP H05223678A
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- JP
- Japan
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- calibration
- pressure
- transmitter
- temperature
- time
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 いかなる環境で校正作業がされたとしても、
校正環境の差異に基づく要素を除去して、正当に経年変
化の評価をすることのできる圧力・差圧伝送器を提供す
ること。 【構成】 圧力または差圧を検出できると共に、その検
出時の伝送器温度及び静圧も検出できる複合センサ１を
備えるインテリジェント形圧力・差圧伝送器であって、
機器の入力校正や静圧ゼロ校正をした時に、複合センサ
１より得られる校正時静圧及び校正時伝送器温度（又は
校正時伝送器温度のみ）を当該校正日時や校正量に対応
させて記憶するメモリ７と、メモリ７の記憶内容を必要
に応じて出力するマイクロプロセッサ４とを特徴的に備
える。
校正環境の差異に基づく要素を除去して、正当に経年変
化の評価をすることのできる圧力・差圧伝送器を提供す
ること。 【構成】 圧力または差圧を検出できると共に、その検
出時の伝送器温度及び静圧も検出できる複合センサ１を
備えるインテリジェント形圧力・差圧伝送器であって、
機器の入力校正や静圧ゼロ校正をした時に、複合センサ
１より得られる校正時静圧及び校正時伝送器温度（又は
校正時伝送器温度のみ）を当該校正日時や校正量に対応
させて記憶するメモリ７と、メモリ７の記憶内容を必要
に応じて出力するマイクロプロセッサ４とを特徴的に備
える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、工業計測用に用いら
れる圧力・差圧伝送器に関し、特に、入力校正時や静圧
ゼロ校正時に温度などを含めて記憶しておき、装置の経
年変化を正当に評価することのできる圧力・差圧伝送器
に関する。
れる圧力・差圧伝送器に関し、特に、入力校正時や静圧
ゼロ校正時に温度などを含めて記憶しておき、装置の経
年変化を正当に評価することのできる圧力・差圧伝送器
に関する。
【０００２】
【従来の技術】圧力・差圧伝送器は、適宜な間隔で入力
校正（つまり、ゼロ点校正やスパン校正等による入出力
特性の校正）や入力静圧のゼロを校正をすることによ
り、長期間にわたって使用するものである。そして、従
来の伝送器では、入力校正時や静圧ゼロ校正時には、校
正日時と校正量（例えば、校正前後のゼロ点変化量やス
パン変化量）のみを記憶していた。
校正（つまり、ゼロ点校正やスパン校正等による入出力
特性の校正）や入力静圧のゼロを校正をすることによ
り、長期間にわたって使用するものである。そして、従
来の伝送器では、入力校正時や静圧ゼロ校正時には、校
正日時と校正量（例えば、校正前後のゼロ点変化量やス
パン変化量）のみを記憶していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、圧力・差圧
伝送器の精度が向上するにつれ、その精度管理を厳格に
行う傾向がユーザ間で定着し、経年変化が少ないことが
伝送器選定の重要な要素となってきた。ここで、伝送器
の経年変化を正しく評価するためには、各校正がメーカ
推奨の環境下で行われること、或いは、少なくとも各校
正時が同じ環境下にあることが必要である。
伝送器の精度が向上するにつれ、その精度管理を厳格に
行う傾向がユーザ間で定着し、経年変化が少ないことが
伝送器選定の重要な要素となってきた。ここで、伝送器
の経年変化を正しく評価するためには、各校正がメーカ
推奨の環境下で行われること、或いは、少なくとも各校
正時が同じ環境下にあることが必要である。
【０００４】しかし、常に、メーカが推奨した環境下で
校正作業がされるとは限らない等の理由により、経年変
化が正しく評価できない場合がある。すなわち、伝送器
を取り外し、環境の安定している計器室で校正作業がさ
れるのは稀であり、一般には、機器の設置された現場で
校正作業が行われている為、校正環境の差に基づく変化
まで経年変化であると評価されてしまう恐れがある。
校正作業がされるとは限らない等の理由により、経年変
化が正しく評価できない場合がある。すなわち、伝送器
を取り外し、環境の安定している計器室で校正作業がさ
れるのは稀であり、一般には、機器の設置された現場で
校正作業が行われている為、校正環境の差に基づく変化
まで経年変化であると評価されてしまう恐れがある。
【０００５】例えば、元バルブを閉としてプロセスから
隔離し、校正用入力印加口から入力を加えて校正するよ
うな場合（図２参照）、機器の設置されている現場は一
般に周囲温度条件が厳しく、また、プロセスからの隔離
後の経過時間によってはプロセスの温度の影響も残って
しまうので、本来不必要な校正まで行ってしまうことが
ある。また、例えば、差圧伝送器においてはプロセスの
圧力を導入後、スリーバルブセットを操作して静圧印加
後にゼロ点を校正する操作をすることも多く（図２参
照）、この場合にも上記と同様のことが言える。
隔離し、校正用入力印加口から入力を加えて校正するよ
うな場合（図２参照）、機器の設置されている現場は一
般に周囲温度条件が厳しく、また、プロセスからの隔離
後の経過時間によってはプロセスの温度の影響も残って
しまうので、本来不必要な校正まで行ってしまうことが
ある。また、例えば、差圧伝送器においてはプロセスの
圧力を導入後、スリーバルブセットを操作して静圧印加
後にゼロ点を校正する操作をすることも多く（図２参
照）、この場合にも上記と同様のことが言える。
【０００６】この発明は、かかる実情に基づくものであ
り、いかなる環境において校正作業がされたとしても、
校正環境の差異に基づく要素を除去して、正当に経年変
化を評価することができる圧力・差圧伝送器を提供する
ことを目的とする。
り、いかなる環境において校正作業がされたとしても、
校正環境の差異に基づく要素を除去して、正当に経年変
化を評価することができる圧力・差圧伝送器を提供する
ことを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成する
為、この発明に係る圧力・差圧伝送器は、圧力又は差
圧の入力を検出できると共に、入力検出時における伝送
器温度及び静圧も検出できる複合センサを備えるインテ
リジェント形の圧力・差圧伝送器であって、機器の入
力校正をした時には前記複合センサより得られる校正時
静圧及び校正時温度或いは校正時温度のみを、また、機
器の静圧ゼロ校正をした時には前記複合センサより得ら
れる校正時温度を、当該校正日時や校正量に対応させて
記憶する校正時データ記憶手段と、この校正時データ
記憶手段の記憶内容を、必要に応じて出力する校正時デ
ータ出力手段とを特徴的に備えている。
為、この発明に係る圧力・差圧伝送器は、圧力又は差
圧の入力を検出できると共に、入力検出時における伝送
器温度及び静圧も検出できる複合センサを備えるインテ
リジェント形の圧力・差圧伝送器であって、機器の入
力校正をした時には前記複合センサより得られる校正時
静圧及び校正時温度或いは校正時温度のみを、また、機
器の静圧ゼロ校正をした時には前記複合センサより得ら
れる校正時温度を、当該校正日時や校正量に対応させて
記憶する校正時データ記憶手段と、この校正時データ
記憶手段の記憶内容を、必要に応じて出力する校正時デ
ータ出力手段とを特徴的に備えている。
【０００８】
【作用】 複合センサは、圧力または差圧を検出した時に、その
検出時の伝送器温度及び静圧も同時に検出する。 校正時データ記憶手段は、機器の入力校正時や静圧ゼ
ロ校正時に、前記複合センサより得られる校正時静圧及
び校正時温度（又は校正時温度のみ）を当該校正日時や
校正量に対応させて記憶する。
検出時の伝送器温度及び静圧も同時に検出する。 校正時データ記憶手段は、機器の入力校正時や静圧ゼ
ロ校正時に、前記複合センサより得られる校正時静圧及
び校正時温度（又は校正時温度のみ）を当該校正日時や
校正量に対応させて記憶する。
【０００９】具体的には、入力校正時には、校正日時、
校正量（校正前後におけるゼロ点変化量やスパン変化
量）の他に、校正時の伝送器温度と静圧値（但し、圧力
伝送器では伝送器温度のみ）を記憶する。また、入力静
圧のゼロを校正する時には、校正日時や校正量の他に、
校正時の伝送器温度を差圧伝送器内に記憶する。 校正時データ出力手段は、この校正時データ記憶手段
の記憶内容を、必要に応じて出力する。従って、必要に
応じて校正時の校正環境（伝送器温度や静圧）を把握す
ることができるので、機器の経年変化を評価する際に
は、例えば同じ温度、同じ静圧で評価を受けることがで
き、校正環境の差に基づく要素を経年変化分から除去す
ることができる。
校正量（校正前後におけるゼロ点変化量やスパン変化
量）の他に、校正時の伝送器温度と静圧値（但し、圧力
伝送器では伝送器温度のみ）を記憶する。また、入力静
圧のゼロを校正する時には、校正日時や校正量の他に、
校正時の伝送器温度を差圧伝送器内に記憶する。 校正時データ出力手段は、この校正時データ記憶手段
の記憶内容を、必要に応じて出力する。従って、必要に
応じて校正時の校正環境（伝送器温度や静圧）を把握す
ることができるので、機器の経年変化を評価する際に
は、例えば同じ温度、同じ静圧で評価を受けることがで
き、校正環境の差に基づく要素を経年変化分から除去す
ることができる。
【００１０】
【実施例】以下、実施例に基づいて、この発明を更に詳
細に説明する。図１は、この発明の一実施例である圧力
・差圧伝送器の回路ブロック図を示したものである。こ
の装置は、圧力センサ１-1と温度センサ１-2と静圧セン
サ１-3とを備える半導体複合センサ１と、圧力センサ１
-1と温度センサ１-2と静圧センサ１-3の出力を受け、こ
れを切り換えて出力するマルチプレクサ２と、マルチプ
レクサ２の出力をデジタル信号に変換するＡ／Ｄコンバ
ータ３と、伝送器本来の処理や校正処理をするマイクロ
プロセッサ４と、圧力・差圧データをアナログ信号に変
換するＤ／Ａコンバータ５と、Ｄ／Ａコンバータ５の出
力を受け、これを電流出力に変換するＶ／Ｉ変換器６
と、マイクロプロセッサの処理プログラムや校正時デー
タなどを記憶するメモリ７，８と、コミュニケータ（図
示せず）との送受信で動作するデジタルＩ／Ｏポート９
とで構成されている。
細に説明する。図１は、この発明の一実施例である圧力
・差圧伝送器の回路ブロック図を示したものである。こ
の装置は、圧力センサ１-1と温度センサ１-2と静圧セン
サ１-3とを備える半導体複合センサ１と、圧力センサ１
-1と温度センサ１-2と静圧センサ１-3の出力を受け、こ
れを切り換えて出力するマルチプレクサ２と、マルチプ
レクサ２の出力をデジタル信号に変換するＡ／Ｄコンバ
ータ３と、伝送器本来の処理や校正処理をするマイクロ
プロセッサ４と、圧力・差圧データをアナログ信号に変
換するＤ／Ａコンバータ５と、Ｄ／Ａコンバータ５の出
力を受け、これを電流出力に変換するＶ／Ｉ変換器６
と、マイクロプロセッサの処理プログラムや校正時デー
タなどを記憶するメモリ７，８と、コミュニケータ（図
示せず）との送受信で動作するデジタルＩ／Ｏポート９
とで構成されている。
【００１１】図２は、校正時の処理を説明するため、差
圧伝送器の校正系統図を図示したものである。ここで伝
送器１０は、図１の構成からなる差圧伝送器であり、ま
た、測定プロセスとは元バルブ１１を介して接続され、
校正用圧力導入口とは校正用バルブ１２を介して接続さ
れている。なお、１３はスリーバルブセットであり、１
４は校正用圧力基準器である。
圧伝送器の校正系統図を図示したものである。ここで伝
送器１０は、図１の構成からなる差圧伝送器であり、ま
た、測定プロセスとは元バルブ１１を介して接続され、
校正用圧力導入口とは校正用バルブ１２を介して接続さ
れている。なお、１３はスリーバルブセットであり、１
４は校正用圧力基準器である。
【００１２】図２において、直流電源１５と伝送器１０
によって電流ループが形成されており、出力された電流
値は精密抵抗１６の電圧降下として精密電圧計１７によ
り計測される。また、１８はコミュニケータである。続
いて、図２を参照しつつ、差圧伝送器１０の入力校正時
における動作を説明する。圧力基準器１４によって圧力
を計測しつつ、校正圧力導入口より入力圧を印加する。
そして、０％に相当する入力圧の状態で出力電流を４．
０００ｍＡに合わせる。具体的には精密電圧計１７で電
圧降下を監視しつつコミュニケータからの指示により出
力電流を４．０００ｍＡに校正する。
によって電流ループが形成されており、出力された電流
値は精密抵抗１６の電圧降下として精密電圧計１７によ
り計測される。また、１８はコミュニケータである。続
いて、図２を参照しつつ、差圧伝送器１０の入力校正時
における動作を説明する。圧力基準器１４によって圧力
を計測しつつ、校正圧力導入口より入力圧を印加する。
そして、０％に相当する入力圧の状態で出力電流を４．
０００ｍＡに合わせる。具体的には精密電圧計１７で電
圧降下を監視しつつコミュニケータからの指示により出
力電流を４．０００ｍＡに校正する。
【００１３】次に、校正圧力導入口より１００％に相当
する入力圧を印加し、出力電流を２０．０００ｍＡに合
わせる。以上の処理によりゼロ点やスパンが変化してい
るはずであるが、校正終了後、このゼロ点変化やスパン
変化と共に、校正日時、校正時の伝送器温度、及び静圧
が自動的にメモリ７に記憶される。このように伝送器温
度や静圧は、校正日時に対応して履歴として自動的に記
憶されるので、校正者が、わざわざ温度や静圧を計測し
て記録する必要はない。従って、校正者にとって非常に
便利であると共に記録を忘れるなどの恐れもなくなる。
する入力圧を印加し、出力電流を２０．０００ｍＡに合
わせる。以上の処理によりゼロ点やスパンが変化してい
るはずであるが、校正終了後、このゼロ点変化やスパン
変化と共に、校正日時、校正時の伝送器温度、及び静圧
が自動的にメモリ７に記憶される。このように伝送器温
度や静圧は、校正日時に対応して履歴として自動的に記
憶されるので、校正者が、わざわざ温度や静圧を計測し
て記録する必要はない。従って、校正者にとって非常に
便利であると共に記録を忘れるなどの恐れもなくなる。
【００１４】後日、例えば経年変化を評価しようとする
ときには、メモリ７に記憶されている校正日時、ゼロ点
変化量、スパン変化量、静圧、及び伝送器温度を出力さ
せることができる。従って、ゼロ点変化量やスパン変化
量は、校正環境の良否を含めて評価でき、経年変化を正
当に評価をすることができる。
ときには、メモリ７に記憶されている校正日時、ゼロ点
変化量、スパン変化量、静圧、及び伝送器温度を出力さ
せることができる。従って、ゼロ点変化量やスパン変化
量は、校正環境の良否を含めて評価でき、経年変化を正
当に評価をすることができる。
【００１５】
【発明の効果】以上説明したように、この発明に係る圧
力・差圧伝送器では、校正時静圧及び校正時温度（又は
校正時温度のみ）が当該校正日時や校正量に対応して自
動的に記憶される。そして、その記憶内容が任意に出力
できるので、必要があれば校正環境を再現することもで
き、機器の経年変化を評価する際に、校正環境の差に基
づく要素を経年変化分から除去して正当な評価をするこ
とができる。
力・差圧伝送器では、校正時静圧及び校正時温度（又は
校正時温度のみ）が当該校正日時や校正量に対応して自
動的に記憶される。そして、その記憶内容が任意に出力
できるので、必要があれば校正環境を再現することもで
き、機器の経年変化を評価する際に、校正環境の差に基
づく要素を経年変化分から除去して正当な評価をするこ
とができる。
【図１】この発明の一実施例である圧力・差圧伝送器の
回路ブロック図である。
回路ブロック図である。
【図２】差圧伝送器の校正系統図を図示したものであ
る。
る。
１ 複合センサ ２ メモリ（校正時データ記憶手段） ４ マイクロプロセッサ（校正時データ出力手
段）
段）
Claims (1)
- 【請求項１】圧力又は差圧の入力を検出できると共に、
入力検出時における伝送器温度及び静圧も検出できる複
合センサを備えるインテリジェント形の圧力・差圧伝送
器であって、 機器の入力校正をした時には前記複合センサより得られ
る校正時静圧及び校正時温度或いは校正時温度のみを、
また、機器の静圧ゼロ校正をした時には前記複合センサ
より得られる校正時温度を、当該校正日時や校正量に対
応させて記憶する校正時データ記憶手段と、 この校正時データ記憶手段の記憶内容を、必要に応じて
出力する校正時データ出力手段とを備えることを特徴と
する圧力・差圧伝送器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04025581A JP3074895B2 (ja) | 1992-02-13 | 1992-02-13 | 圧力・差圧伝送器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04025581A JP3074895B2 (ja) | 1992-02-13 | 1992-02-13 | 圧力・差圧伝送器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05223678A true JPH05223678A (ja) | 1993-08-31 |
| JP3074895B2 JP3074895B2 (ja) | 2000-08-07 |
Family
ID=12169887
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04025581A Expired - Lifetime JP3074895B2 (ja) | 1992-02-13 | 1992-02-13 | 圧力・差圧伝送器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3074895B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018179818A (ja) * | 2017-04-17 | 2018-11-15 | 日置電機株式会社 | 測定装置、測定データ処理装置および測定システム |
| US10527737B2 (en) | 2015-12-01 | 2020-01-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Dose calculation device, dose calculation method, and measurement device with dose calculation function |
-
1992
- 1992-02-13 JP JP04025581A patent/JP3074895B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10527737B2 (en) | 2015-12-01 | 2020-01-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Dose calculation device, dose calculation method, and measurement device with dose calculation function |
| JP2018179818A (ja) * | 2017-04-17 | 2018-11-15 | 日置電機株式会社 | 測定装置、測定データ処理装置および測定システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3074895B2 (ja) | 2000-08-07 |
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