JPH03237374A - テスト検出率表示装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） この発明は、基板テストにおけるテスト検出率を表示す
るテスト検出率表示装置に関するものである。

〔従来の技術〕

第３図は従来のエミュレーションテストの構成を示す図
であり、図において、（１）はテスタをコントロールす
るコントローラ、（２）は表示装置、（３）はディスク
、（４）はプローバ、（５）はエミュレーションテスト
機能を持つテスタ、（６）はテスト対象基板とコミュニ
ケーションをとる接続部、（７）はテスト対象の基板、
（８）はキーボードである。

次に動作について説明する。基板（７）とテスタ（５）
を接続部（６）により接続する。コントローラ（１）は
、テスタ（３）を制御し、基板（７）をテストする。こ
の際、テストの内容及び結果を表示する表示装置（２）
とキーボード（８）とでコントローラ（１，）のインタ
フェースをとり制御する。基板（７）が不良と判定され
れば、故障解析を行うため、コントローラ（１）からテ
スタ（５）を制御し、基板（７）に信号変化が起るよう
なステイミュラス（刺激）を与えてやり、その信号波形
をプローバ（４）で測定する。また、予めディスク（３
）には良品基板Ｃ対して同じようにステイミュラスを与
えて変化した信号波形をプローバ（４）で測定した値が
記憶されている。このディスク（３）に記憶している測
定値と、不良基板から測定した値とを比較し、その結果
を基に、ディスク（３）に記憶している基板の接続情報
から故障箇所の絞込みと次に測定する信号の指定をコン
トローラ（１）で行い、不良箇所の指摘を行う。

〔発明が解決しようとする課題〕

従来の表示装置はテストの内容とその結果を表示するだ
けであるため、良品基板からの信号波形の測定時に、ど
の信号を測定して、どの信号がまだ測定していないのか
、またはステイミュラスを与えた時（、信号の変化があ
ったか否かを一目で判断できるように表示するものがな
く、人間が憶えていなければならない等の問題点があっ
た。

この発明は上記のような問題点を解消するため（なされ
たもので、良品基板からの信号波形の測定時に測定の有
無を表示できると共に、測定対象基板の測定時に信号変
化の有無を一目でわかるように表示でき、かつその信号
変化の数より検出率の算出もできるテスト検出率表示装
置を得ることを目的とする。

〔課題を解決するための手段） この発明に係るテスト検出率表示装置は、エミュレーシ
ョンテスト機能を持つテスタをコントロールするコント
ローラと、基板における信号の波形を測定するプローバ
と、測定した信号の波形や回路の接続情報等を記憶して
いる記憶部と、それら情報表示の制御を行うキーボード
とを備えたテスト検出率表示装置において、上記コント
ローラに、良品基板からの信号波形測定時に、表示装置
上に、未測定信号表示画面の基板外形から未測定信号線
を消去すると共に、未測定信号と全測定信号の割合を表
示し、測定対象基板の信号波形測定時に信号変化のない
信号線を表示すると共に、信号変化の信号数と全測定信
号数の割合でなるテスト検出率を表示させる表示制御手
段とを備えたものである。

〔作用〕

この発明において、コントローラは、表示装置に信号波
形の測定の有無を表示させ、また、信号変化の有無を表
示させることにより、どの信号が変化していないのかが
わかり、検出率も自動的に算出して表示する。

（実施例〕 以下、この発明の一実施例を国定ついて説明する。本実
施例における構成としては、第３図構成と同様なものを
備えるが、このうちコントローラ（１）には、表示装置
（２）上に、良品基板からの信号波形測定時に、未測定
信号表示画面の基板外形から未測定信号線を消去すると
共に、未測定信号と全測定信号の割合を表示し、測定対
象基板の信号波形測定時に信号変化のない信号線を表示
すると共に、信号変化の信号数と全測定信号数の割合で
なるテスト検出率を表示させる表示制御手段とを備えて
いる。

第１図は良品基板の測定時に表示装置（２）上に表示さ
れる表示画面を示すもので、（９）は未測定信号表示画
面、（１０）は基板の外形、（１１）は測定時に表示さ
れる未測定信号線、（１２）は測定した信号数と全信号
との割合を示すカウンタである。

また、第２図は上記良品基板の信号波形測定後の測定対
象基板の測定時表示画面例を示し、（１３）は検出率表
示画面、（１４）は全信号に対して良品基板の信号波形
測定時に比し信号変化のない信号線、（１５）は信号変
化のない信号数と全信号との割合、つまり検出率である
。

本実施例におけるテストシステムには、故障解析を行う
時に、ディスク（３）に良品基板からの信号波形をプロ
ーバ（４）を使って測定し、その測定値が記憶されてい
る必要があり、その良品基板からの信号波形測定時に表
示装置（２）の未測定信号表示画面（９）に基板の外形
（１０）を表示させ、その中に未測定信号線（１２）を
表示させる。また、未測定信号表示画面（９）に未測定
の信号数と全信号数の割合をカウンタ（１２）に表示さ
せる。

良品基板からの信号波形をブローμ（４）で順に測定す
ると、未測定信号表示画面（９）から順に未測定信号線
（１１）が消えていき、全信号を測定し終った時には、
未測定信号表示画面（９）に未測定信号！　（１１）が
表示されなくなり、カウンタ（１２）の値が１になる。

このようにして、良品基板から全信号を測定した後に、
キーボード（２）を操作することにより、検出率表示画
面（１３）に切り換え、そこに基板の外形（１０）を表
示させ、その中に良品基板から測定した信号波形に対し
、これに比し信号変化のない信号線（１４）を表示させ
る。また、検出率表示画面（１３）に信号変化のなかっ
た信号数と全信号数の割合、つまり検出率（１５）を表
示させる。

（発明の効果） 以上のように、この発明によれば、良品基板からの信号
波形測定時に表示装置を見ることにより、信号を測定し
忘れるという事がなくなり、また、全信号を測定し終っ
た時に表示装置に検出率を表示して信号変化のない信号
線が把握でき、より検出率の高いステイミュラスを作成
することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図と第２図はこの発明の一実施例による表示装置上
での表示例の説明図、第３図は表示装置を含むテストシ
ステムの構成図を示す。 （１）はコントローラ、（２）は表示装置、（３）はデ
ィスク、（４）はブローμ、（５）はテスタ、（６）は
接続部、（７）は基板、（８）はキーボード。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. エミュレーションテスト機能を持つテスタをコントロー
   ルするコントローラと、基板における信号の波形を測定
   するプローバと、測定した信号の波形や回路の接続情報
   等を記憶している記憶部と、それら情報表示の制御を行
   うキーボードとを備えたテスト検出率表示装置において
   、上記コントローラに、良品基板からの信号波形測定時
   に、表示装置上に、未測定信号表示画面の基板外形から
   未測定信号線を消去すると共に、未測定信号と全測定信
   号の割合を表示し、測定対象基板の信号波形測定時に信
   号変化のない信号線を表示すると共に、信号変化の信号
   数と全測定信号数の割合でなるテスト検出率を表示させ
   る表示制御手段とを備えたことを特徴とするテスト検出
   率表示装置。