JP4893946B2 - デバイステストデータ表示装置 - Google Patents

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Description

本発明は、デバイステストデータ表示装置に関し、詳しくは測定データが波形として表示された少なくとも2つの波形について関数演算を行うに際し、操作の容易化をはかったデバイステストデータ表示装置に関するものである。
液晶駆動ドライバ等のIC,LSI等のデバイスの特性測定に際しては、ICテスタ用解析ソフトウエアを使用して、ICテスタにおける測定データの解析を行っている。
その場合、例えばICテスタでICの特性を測定し、その測定データを表示装置に波形として表示している。
図3(a)はそのような波形の一例を示す表示装置の正面図である。この例においては#1〜#4の4種類の波形データが一つの表示装置1に別々に表示された例を示している。
なお、テストデータは一つのICから複数のデータを得る場合の外に複数のICから得たデータを表示する場合もある。図2(b)は3つの測定データを一つの表示装置1aに表示した例を示すものである。
(a,b)において、オペレータは波形表示後、演算を行いたいデータ波形を選択する。次に、解析ソフトウェアを用いて解析したい測定データの波形を指定する(図の例では矢印Y、Y’で指定された#2と#3およびW2とW3)。
次に、図では省略するが、演算内容が記載された別の画面を呼び出し、その中から実行したい演算を選択する。その結果、表示装置1に内蔵(または別に用意)された演算手段により選択した2つの波形の演算が実行される。その演算結果は別のデータとして生成され、結果のデータ波形が表示装置に追加表示される(演算結果の波形は省略している)。
ところで、上述の従来例においては、別画面に表示した実行したい演算の選択については、文字列によるリスト形式や演算の機能を意味する文字列の表示されたボタンアイコン等を選択することにより行っていた。そのため実行する演算を感覚的に指定することが難かしいという問題があった。
また演算対象のデータ波形選択、実行する演算の選択、演算実行という手続きを経る必要があり、操作が煩雑になるという問題があった。
従って本発明は、実行したい演算を視覚的に選択、指定できるようにし、少ない手順で容易に実行できるよう操作性の改善をはかったデバイステストデータ表示装置を実現することを目標としている。
このようなデバイステストデータ表示装置の先行技術としては例えば、下記の先行技術文献が知られている。
特開2001−337133号公報 特開2002−221553号公報
本発明は上記問題点を解決するためになされたもので、請求項1記載のデバイステストデータ表示装置の発明においては、
ICテスタで測定した複数のデータを複数の波形として表示し、表示した複数の波形を演算して別の波形として表示するデバイステストデータ表示装置において、この表示装置に前記複数の波形の関数演算を行うための演算式表示エリアを設け、この演算式表示エリアには前記複数の波形データのうち選択された演算すべき波形の波形名を表示すると共に、それらの波形を演算する複数の演算式を表示し、選択した所望の演算式により演算を行って生成した波形データを前記表示装置に追加表示することを特徴とする。
請求項2においては請求項1に記載のデバイステストデータ表示装置において、
前記演算式表示エリアには、標準装備として用意された演算ボタンの他に任意の関数演算を行うための演算ボタンを設けたことを特徴とする。
以上説明したことから明らかなように本発明の請求項1によれば、次のような効果がある。
ICテスタで測定した複数のデータを複数の波形として表示し、表示した複数の波形を演算して別の波形として表示するデバイステストデータ表示装置において、この表示装置に前記複数の波形の関数演算を行うための演算式表示エリアを設け、この演算式表示エリアには前記複数の波形データのうち選択された演算すべき波形の波形名を表示すると共に、それらの波形を演算する複数の演算式を表示し、選択した所望の演算式により演算を行って生成した波形データを前記表示装置に追加表示するようにしたので、実行したい演算を視覚的に選択、指定できるようになり操作性が向上する
また、演算式を選択後、演算を実行するという手順が1つの操作で実行できるようになり操作性が向上する。
請求項2によれば、演算式表示エリアには、標準装備として用意された演算ボタンの他に任意の関数演算を行うための演算ボタンを設けたので、ユーザが独自の式に基づいて解析したい場合も容易に操作することができる。
図1(a,b)は本発明の一実施例を示すもので、図3に示す従来例とは表示装置1,1aの画面の下方に演算式表示エリア2,2aを設けた点のみが異なっている。
この演算式表示エリア2,2aには選択した波形番号(#2と#3およびW2とW3)と演算式を示した複数のボタン(アイコン)3,3aが表示され、所望のボタン(アイコン)を押圧することにより、そのボタンに示された演算が行われる。
なお、図では簡略のために四則演算の式のみのボタンを示しているが、実際にはここに示したほかに多数の関数式からなるボタンが表示されている。
図2は他の実施例を示すもので、この例においては演算式表示エリアの演算ボタンの中に標準仕様とは異なるユーザ独自の演算ボタンAを表示したものである。
なお、演算結果は別のデータとして生成され、結果のデータ波形が表示装置に追加表示される(演算結果の波形は省略している)。
上述の構成によれば、実行したい演算を視覚的に選択、指定できるようにしたので、選択した波形の演算を少ない手順で容易に実行でき、操作性の改善をはかことができる。
なお、以上の説明は、本発明の説明および例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎない。例えば、演算式表示エリアは画面内であればどこにあってもよい。また、実施例では表示波形を4つ、または3つとしたが、この数よりも多くても少なくても良い。従って本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形を含むものである。
本発明のデバイステストデータ表示装置の一実施例を示す正面図である。 本発明のデバイステストデータ表示装置の他の実施例を示す正面図である。 従来のデバイステストデータ表示装置の一例を示す正面図である。
符号の説明
1 表示装置
2 演算式表示エリア
3 演算ボタン

Claims (2)

  1. ICテスタで測定した複数のデータを複数の波形として表示し、表示した複数の波形を演算して別の波形として表示するデバイステストデータ表示装置において、この表示装置に前記複数の波形の関数演算を行うための演算式表示エリアを設け、この演算式表示エリアには前記複数の波形データのうち選択された演算すべき波形の波形名を表示すると共に、それらの波形を演算する複数の演算式を表示し、選択した所望の演算式により演算を行って生成した波形データを前記表示装置に追加表示することを特徴とするデバイステストデータ表示装置。
  2. 前記演算式表示エリアには、標準装備として用意された演算ボタンの他に任意の関数演算を行うための演算ボタンを設けたことを特徴とする請求項1に記載のデバイステストデータ表示装置。
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