JP6432929B2 - 信号状態分析方法及び信号状態分析システム用プログラム - Google Patents
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Description
信号の1つ以上のレイヤを表示する処理と、
上記信号の表示された上記レイヤの少なくとも1つにそれぞれ関連する1つ以上の課題インジケータを表示する処理と、
表示された上記レイヤから、表示された課題インジケータを有する1つを選択する処理と、
選択され表示された上記レイヤ内の信号中に1つ以上の上記課題位置インジケータを表示する処理と
を具えている。
表示された複数の上記課題位置インジケータから1つを選択する処理と、
選択され表示された上記課題位置インジケータに関する1つ以上のメッセージを表示する処理と
を更に具えている。
表示された複数の上記課題位置インジケータから次の1つを選択する処理と、
選択された表示された次の上記課題位置インジケータに関する1つ以上のメッセージを表示する処理と
を更に具えている。
1つ以上の表示された上記レイヤから次のレイヤを選択する処理と、
選択された次の上記レイヤ内の信号中に1つ以上の課題位置インジケータを表示する処理と
を更に具えている。
表示された複数の上記課題位置インジケータから次のもの又は前に選択されたものを選択する処理と、
選択された次又は前に選択された上記課題位置インジケータに関連する1つ以上のメッセージを表示する処理と
を更に具えている。
1つ以上の上記表示されたレイヤから次のレイヤ又は前に表示されたレイヤを選択する処理と、
選択された次又は前に選択された上記レイヤ内の信号中の1つ以上の課題位置インジケータを表示する処理と
を更に具えている。
表示された複数の上記課題位置インジケータから1つを選択する処理と、
選択された上記課題位置インジケータに関連する信号の領域を視覚的に変更する処理と
を更に具えている。
表示された上記レイヤの少なくとも1つとそれぞれ関連する1つ以上の選択可能な拡張型インジケータを表示する処理と、
上記拡張型インジケータから1つ以上を選択する処理と、
選択された上記拡張型インジケータと関連する表示された上記レイヤの少なくともデバック及びコンプライアンス情報に関係する情報を含み、選択された上記拡張型インジケータと関連する視覚物を表示する処理と
を更に具えている。
複数の上記選択可能な状態フィールドから1つを選択する処理と、
選択された上記状態フィールドに関連する表示されたレイヤ内の信号中に1つ以上の課題位置インジケータを表示する処理と
を更に具えている。
実行可能な命令を記憶するよう機能するプログラム・メモリと、
信号の1つ以上のレイヤを表示し、
上記信号の表示された上記レイヤの少なくとも1つにそれぞれ関連する1つ以上の課題インジケータを表示し、
表示された上記レイヤから、表示された上記課題インジケータを有する1つを選択し、
選択され表示された上記レイヤ内の信号中に1つ以上の課題位置インジケータを表示するために、
上記メモリ内に記憶された上記命令を実行するよう動作するプロセッサと
を具えている。
表示された複数の上記課題位置インジケータから1つを選択し、
選択され表示された上記課題位置インジケータに関する1つ以上のメッセージを表示するために、
上記メモリ内に記憶された上記命令を実行するよう動作することを特徴としている。
表示された複数の上記課題位置インジケータから次の1つを選択し、
選択された表示された次の上記課題位置インジケータに関する1つ以上のメッセージを表示するために、
上記メモリ内に記憶された上記命令を実行するよう動作することを特徴としている。
1つ以上の表示された上記レイヤから次のレイヤを選択し、
選択された次の上記レイヤ内の信号中に1つ以上の課題位置インジケータを表示するために、
上記メモリ内に記憶された上記命令を実行するよう動作することを特徴としている。
表示された複数の上記課題位置インジケータから次のもの又は前に選択されたものを選択し、
選択された次又は前に選択された上記課題位置インジケータに関連する1つ以上のメッセージを表示するために、
上記メモリ内に記憶された上記命令を実行するよう動作することを特徴としている。
1つ以上の上記表示されたレイヤから次のレイヤ又は前に表示されたレイヤを選択し、
選択された次又は前に選択された上記レイヤ内の信号中の1つ以上の課題位置インジケータを表示するために、
上記メモリ内に記憶された上記命令を実行するよう動作することを特徴としている。
表示された複数の上記課題位置インジケータから1つを選択し、
選択された上記課題位置インジケータに関連する信号の領域を視覚的に変更するために、
上記メモリ内に記憶された上記命令を実行するよう動作することを特徴としている。
表示された上記レイヤの少なくとも1つとそれぞれ関連する1つ以上の選択可能な拡張型インジケータを表示し、
上記拡張型インジケータから1つ以上を選択し、
選択された上記拡張型インジケータと関連する表示された上記レイヤの少なくともデバック及びコンプライアンス情報に関係する情報を含み、選択された上記拡張型インジケータと関連する視覚物を表示するために、
上記メモリ内に記憶された上記命令を実行するよう動作することを特徴としている。
複数の上記選択可能な状態フィールドから1つを選択し、
選択された上記状態フィールドに関連する表示されたレイヤ内の信号中に1つ以上の課題位置インジケータを表示するために、
上記メモリ内に記憶された上記命令を実行するよう動作することを特徴としている。
2a アナログ・チャンネル 入力部
2b デジタル・チャンネル 入力部
3 取込み部
3a 取込みメモリ
4 プロセッサ
4a プログラム・メモリ
5 入力部
6 表示部
7 インターフェース部
8a 入力経路
8b 入力経路
10a 経路
10b 経路
11 操作インターフェース
61〜65 制御キー
100 バス信号の波形
101a〜d レイヤ・インジケータ
102a〜b 課題インジケータ
103 拡張型インジケータ
104a〜d レイヤの表示
105a〜d サブ・レイヤの表示
110 バス信号関連表示
201 ダッシュボード
202a〜c 選択型状態フィールド(チェック・ボックス)
203a〜c 種々の情報
204 表示信号インジケータ
301 被試験信号の波形
302a〜b 課題位置インジケータ
Claims (6)
- 信号中の複数のレイヤのそれぞれに対応する選択可能な複数のレイヤ・インジケータを表示する処理と、
表示された上記レイヤ・インジケータの少なくとも1つにそれぞれ関連する1つ以上の課題インジケータを表示する処理と、
表示された上記レイヤ・インジケータから、表示された上記課題インジケータを有する1つを選択する処理と、
選択された上記レイヤ・インジケータに対応する上記レイヤのレイヤ信号を表示するともに、上記レイヤ信号中の課題のある位置に選択可能な課題位置インジケータを表示する処理と、
表示された上記課題位置インジケータから1つを選択する処理と、
選択された上記課題位置インジケータに関する1つ以上のメッセージを表示する処理と
を具える信号状態分析方法。 - 表示された上記課題インジケータの少なくとも1つとそれぞれ関連する1つ以上の選択可能な拡張型インジケータを表示する処理と、
上記拡張型インジケータから1つ以上を選択する処理と、
選択された上記拡張型インジケータと関連する上記レイヤの少なくともデバック及びコンプライアンス情報に関係する情報を含み、選択された上記拡張型インジケータと関連する視覚物を表示する処理と
を更に具える請求項1記載の信号状態分析方法。 - 信号中の複数のレイヤのそれぞれに対応する選択可能な複数のレイヤ・インジケータを表示する処理と、
表示された上記レイヤ・インジケータの少なくとも1つにそれぞれ関連する1つ以上の課題インジケータを表示する処理と、
表示された上記課題インジケータの少なくとも1つとそれぞれ関連する1つ以上の選択可能な拡張型インジケータを表示する処理と、
上記拡張型インジケータから1つ以上を選択する処理と、
選択された上記拡張型インジケータと関連する上記レイヤの少なくともデバック及びコンプライアンス情報に関係する情報及び選択可能な状態フィールドを含み、選択された上記拡張型インジケータと関連する視覚物を表示する処理と、
選択された上記拡張型インジケータに関連する上記レイヤのレイヤ信号を表示するともに、選択された上記状態フィールドに応じて、上記レイヤ信号中の課題のある位置に選択可能な課題位置インジケータを表示する処理と、
表示された上記課題位置インジケータから1つを選択する処理と、
選択された上記課題位置インジケータに関する1つ以上のメッセージを表示する処理と
を具える信号状態分析方法。 - 信号状態分析システムのためのプログラムであって、上記信号状態分析システム中のプロセッサによって実行されると、上記信号状態分析システムが、
信号中の複数のレイヤにそれぞれに対応する選択可能な複数のレイヤ・インジケータを表示する処理と、
表示された上記レイヤ・インジケータの少なくとも1つにそれぞれ関連する1つ以上の課題インジケータを表示する処理と、
表示された上記レイヤ・インジケータから、表示された上記課題インジケータを有する1つを選択可能にする処理と、
選択された上記レイヤ・インジケータに対応する上記レイヤのレイヤ信号を表示するともに、上記レイヤ信号中の課題のある位置に選択可能な課題位置インジケータを表示する処理と、
表示された上記課題位置インジケータから1つを選択可能にする処理と、
選択された上記課題位置インジケータに関する1つ以上のメッセージを表示する処理と
を行う信号状態分析システム用プログラム。 - 上記信号状態分析システム中の上記プロセッサによって実行されると、上記信号状態分析システムが、更に、
表示された上記課題インジケータの少なくとも1つとそれぞれ関連する1つ以上の選択可能な拡張型インジケータを表示する処理と、
上記拡張型インジケータから1つ以上を選択可能する処理と、
選択された上記拡張型インジケータと関連する上記レイヤの少なくともデバック及びコンプライアンス情報に関係する情報を含み、選択された上記拡張型インジケータと関連する視覚物を表示する処理と
を行う請求項4記載の信号状態分析システム用プログラム。 - 信号状態分析システムのためのプログラムであって、上記信号状態分析システム中のプロセッサによって実行されると、上記信号状態分析システムが、
信号中の複数のレイヤのそれぞれに対応する選択可能な複数のレイヤ・インジケータを表示する処理と、
表示された上記レイヤ・インジケータの少なくとも1つにそれぞれ関連する1つ以上の課題インジケータを表示する処理と、
表示された上記課題インジケータの少なくとも1つとそれぞれ関連する1つ以上の選択可能な拡張型インジケータを表示する処理と、
上記拡張型インジケータから1つ以上を選択する処理と、
選択された上記拡張型インジケータと関連する上記レイヤの少なくともデバック及びコンプライアンス情報に関係する情報及び選択可能な状態フィールドを含み、選択された上記拡張型インジケータと関連する視覚物を表示する処理と、
選択された上記拡張型インジケータに関連する上記レイヤのレイヤ信号を表示するともに、選択された上記状態フィールドに応じて、上記レイヤ信号中の課題のある位置に選択可能な課題位置インジケータを表示する処理と、
表示された上記課題位置インジケータから1つを選択する処理と、
選択された上記課題位置インジケータに関する1つ以上のメッセージを表示する処理と
を行う信号状態分析システム用プログラム。
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US4639934A (en) * | 1985-04-11 | 1987-01-27 | Paradyne Corporation | Line impairment display for digital modems |
JP3184832B2 (ja) * | 1990-03-30 | 2001-07-09 | アンリツ株式会社 | 精細な波形観測を簡易に実現する波形表示装置 |
US5611044A (en) | 1993-11-01 | 1997-03-11 | Hewlett-Packard Company | System and method for cross-triggering a software logic analyzer and a hardware analyzer |
US6442730B1 (en) * | 1997-01-27 | 2002-08-27 | Lecroy Corporation | Recording medium failure analysis apparatus and method |
US5953009A (en) * | 1997-05-27 | 1999-09-14 | Hewlett-Packard Company | Graphical system and method for invoking measurements in a signal measurement system |
US6229536B1 (en) * | 1998-03-05 | 2001-05-08 | Agilent Technologies, Inc. | System and method for displaying simultaneously a main waveform display and a magnified waveform display in a signal measurement system |
US6195617B1 (en) * | 1998-03-09 | 2001-02-27 | Lecroy, S.A. | Digital storage oscilloscope with simultaneous primary measurement and derived parameter display on common time axis and method therefor |
US6088029A (en) * | 1998-06-26 | 2000-07-11 | Tektronix, Inc. | Enhanced display of a control window in a measurement instrument |
US6374388B1 (en) * | 1999-09-10 | 2002-04-16 | Agilent Technologies, Inc. | Equivalent time capture scheme for bit patterns within high data rate signals |
US6570592B1 (en) * | 1999-10-29 | 2003-05-27 | Agilent Technologies, Inc. | System and method for specifying trigger conditions of a signal measurement system using graphical elements on a graphical user interface |
US6799127B1 (en) * | 2000-08-08 | 2004-09-28 | Agilent Technologies, Inc. | Signal transition and stable regions diagram for positioning a logic analyzer sample |
CN2492883Y (zh) * | 2000-09-06 | 2002-05-22 | 中国科学院光电技术研究所 | 动态信号分析仪 |
US6701459B2 (en) * | 2000-12-27 | 2004-03-02 | Egurkha Pte Ltd | Root-cause approach to problem diagnosis in data networks |
JP4061634B2 (ja) * | 2000-12-27 | 2008-03-19 | 横河電機株式会社 | 波形測定器 |
US6876941B2 (en) * | 2001-04-12 | 2005-04-05 | Arm Limited | Testing compliance of a device with a bus protocol |
US6839650B2 (en) * | 2001-11-19 | 2005-01-04 | Agilent Technologies, Inc. | Electronic test system and method |
US7047442B2 (en) * | 2002-04-23 | 2006-05-16 | Agilent Technologies, Inc. | Electronic test program that can distinguish results |
US20030222873A1 (en) * | 2002-05-28 | 2003-12-04 | Gilles Ritter | Sequence display |
US7005846B2 (en) * | 2002-07-17 | 2006-02-28 | Agilent Technologies, Inc. | System and method for application control in measurement devices |
US7437624B2 (en) * | 2002-09-30 | 2008-10-14 | Lecroy Corporation | Method and apparatus for analyzing serial data streams |
US7434113B2 (en) * | 2002-09-30 | 2008-10-07 | Lecroy Corporation | Method of analyzing serial data streams |
JP2005000409A (ja) * | 2003-06-12 | 2005-01-06 | Omron Healthcare Co Ltd | 心電計および心電波形表示方法 |
JP2005050093A (ja) * | 2003-07-28 | 2005-02-24 | Keyence Corp | 検索結果表示プログラム |
US7403560B2 (en) * | 2004-02-09 | 2008-07-22 | Lecroy Corporation | Simultaneous physical and protocol layer analysis |
US20050201488A1 (en) * | 2004-03-12 | 2005-09-15 | Duff Christopher P. | Display of digital interface symbol information from an analog signal |
US7120545B2 (en) * | 2004-05-25 | 2006-10-10 | Agilent Technologies, Inc. | Method and apparatus for displaying a current configuration of test instruments to a user |
US7483477B2 (en) * | 2005-04-27 | 2009-01-27 | Agilent Technologies, Inc. | User interface for selection of sampling parameters in a logic analyzer whose data receivers are in groups each having a separate threshold that is common to the channels within each group |
US7801206B2 (en) * | 2005-04-29 | 2010-09-21 | Tektronix, Inc. | Encoded serial data bit error detector |
WO2007114206A1 (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-11 | Anritsu Corporation | 被試験信号解析装置 |
US7836352B2 (en) * | 2006-06-30 | 2010-11-16 | Intel Corporation | Method and apparatus for improving high availability in a PCI express link through predictive failure analysis |
US8131489B2 (en) * | 2006-10-27 | 2012-03-06 | Tektronix, Inc. | Long data record analysis |
US8085812B2 (en) * | 2006-12-19 | 2011-12-27 | Tektronix, Inc. | Symbolic representation of protocol-layer information |
US20080303820A1 (en) * | 2007-06-05 | 2008-12-11 | Lecroy Corporation | Common Phase Error vs. Time Display |
WO2009143040A1 (en) * | 2008-05-19 | 2009-11-26 | Disetronic Medical Systems Ag | Computer research tool for the organization, visualization and analysis of metabolic-related clinical data and method thereof |
US8055464B2 (en) * | 2008-09-08 | 2011-11-08 | Tektronix, Inc. | Method of processing waveform data from one or more channels using a test and measurement instrument |
US9031803B2 (en) * | 2008-11-26 | 2015-05-12 | Keysight Technologies, Inc. | Waveform display method and a signal measurement system implementing the same |
US20110286506A1 (en) * | 2010-01-29 | 2011-11-24 | Lecroy Corporation | User Interface for Signal Integrity Network Analyzer |
US9129045B2 (en) * | 2010-04-23 | 2015-09-08 | C Speed, Llc | Interactive magnification tool |
JP5412367B2 (ja) * | 2010-04-28 | 2014-02-12 | アンリツ株式会社 | データ信号品質評価装置 |
US9208050B2 (en) * | 2010-07-21 | 2015-12-08 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Methods and apparatus to manage system performance information |
US8705601B2 (en) * | 2010-08-30 | 2014-04-22 | Tektronix, Inc. | Apparatus and method for varying inter symbol interference and bandwidth extension pre-emphasis on a high speed digital signal |
BR112013026610A2 (pt) * | 2011-04-15 | 2016-12-27 | Abb Technology Ag | sistema de controle de processo de monitoramento |
US9178792B2 (en) * | 2011-11-16 | 2015-11-03 | Tektronix, Inc. | Protocol sensitive visual navigation apparatus |
US10073750B2 (en) * | 2012-06-11 | 2018-09-11 | Tektronix, Inc. | Serial data link measurement and simulation system |
US9389981B2 (en) * | 2012-09-12 | 2016-07-12 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Hierarchical live graphs for performance data display |
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