JP5347856B2 - 分析装置制御システム及び該システム用プログラム - Google Patents
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Description
後段の質量分析器では、時間的に分離されて導入されてくる試料全体を対象として同一の測定を実行するのではなく、ピークが存在している個所など、クロマトグラムに変化がみられる個所のみを対象として、即ち一又は複数の時間範囲のみを対象として、それぞれ所定の測定を実行するのが普通である。
・ある測定条件に対応する測定の時間範囲を手動で指定する必要があったため、作業が繁雑になりやすく、また、入力ミスが生じるおそれもあった。
・制御用アプリケーションの種類によっては、測定の時間範囲を、例えば0〜10、10〜20、20〜30(分)のように、等間隔でしか設定することができないものがあり、測定時間の設定の自由度が低かった。
・参照用クロマトグラムを表示させるためには、モニタにおいて別のウインドウを開かなければならず、面倒であるとともに、測定の時間範囲とクロマトグラムとの関係が分かりにくかった。
・ある時間において複数の測定を並行して実行するような場合に、測定間の互いの関係がわかりにくかった。
a)予め用意されている、前記測定対象試料に対応する参照用クロマトグラムを表示部に表示するクロマトグラム表示部と、
b)表示されている参照用クロマトグラムに対し、測定を実行する一又は複数の時間範囲をそれぞれ範囲バーとして時間的に重畳して表示する時間範囲表示部と、
c)ユーザによる指示に基づき、前記時間範囲表示部によって表示されている範囲バーの時間的位置及び/又は長さを変更する範囲変更部と、
d)前記範囲変更部によって範囲バーの時間的位置及び/又は長さが変更されたことに基づき、該範囲バーに対応する測定の時間範囲を再設定する測定時間再設定部と、
e)各範囲バーに対応する測定名を、範囲バーと測定名とが視覚的に結びつくように表示する測定名表示部と
を備えることを特徴としている。
ここで、「時間的に重畳」とは、クロマトグラムと範囲バーとが画面上で直接重なり合う場合の他、強度軸方向に分離しつつも、時間軸方向では両者が対応する時間範囲において重なっている場合のことをいう。
f)個々の測定に関する測定条件を、前記クロマトグラム表示部によってクロマトグラムが表示されている画面においてユーザが設定可能なように表示する測定条件表示部を更に備えた構成とするのがよい。
a)予め用意されている、前記測定対象試料に対応する参照用クロマトグラムを表示部に表示するクロマトグラム表示部と、
b)表示されている参照用クロマトグラムに対し、測定を実行する一又は複数の時間範囲をそれぞれ範囲バーとして時間的に重畳して表示する時間範囲表示部と、
c)ユーザによる指示に基づき、前記時間範囲表示部によって表示されている範囲バーの時間的位置及び/又は長さを変更する範囲変更部と、
d)前記範囲変更部によって範囲バーの時間的位置及び/又は長さが変更されたことに基づき、該範囲バーに対応する測定の時間範囲を再設定する測定時間再設定部と、
e)各範囲バーに対応する測定名を、範囲バーと測定名とが視覚的に結びつくように表示する測定名表示部と
して動作させる分析装置制御プログラムを提供する。
・マウスなどの入力部を操作して、ユーザが表示部上に表示されている範囲バーの長さを調節したり時間的位置を変更したりするだけで、当該測定を実行する時間範囲を変更することができるため、高い自由度で以て時間範囲を設定できるとともに、時間範囲を手動で入力する場合と比べて操作性が高く、設定ミスの減少も期待できる。
本実施形態では、既に測定番号1〜5の合計5つの測定が入力されており、測定番号1の「プロダクトイオンスキャン」が39-42分の時間範囲、測定番号2の「MRM」が31-34分の時間範囲、測定番号3の「プリカーサイオンスキャン」が27-33分の時間範囲、測定番号4の「プロダクトイオンスキャン」が同じく27-33分の時間範囲、測定番号5の「ニュートラルロススキャン」が4-10分の時間範囲に実行されるよう設定されているものとする。これに対応して時間範囲表示部32は、測定番号1〜5のそれぞれに関する範囲バーB1〜B5を、クロマトグラム表示領域41の参照用クロマトグラムに時間的に重畳して表示する。各範囲バーB1〜B5は、参照用クロマトグラムの時間軸(横軸)において、上述したそれぞれの時間範囲に対応した位置に、各測定が実行される時間の長さに対応した横軸方向の長さを持って示されている。
10…CPU
12…メモリ
14…モニタ
16…入力部
18…I/F
20…記憶部
21…分析装置制御システム用プログラム
22…参照用クロマトグラム記憶部
23…OS
31…クロマトグラム表示部
32…時間範囲表示部
33…範囲変更部
34…測定時間再設定部
35…測定条件表示部
36…測定名表示部
37…重なり案内部
38…測定関連付設定部
A1…分析装置
Claims (8)
- 測定対象試料をクロマトグラフによって時間的に分離しつつ、全測定時間内の一又は複数の部分時間範囲のそれぞれにおいて所定の測定を実行するように分析装置を制御するためのシステムであって、
a)予め用意されている、前記測定対象試料に対応する参照用クロマトグラムを表示部に表示するクロマトグラム表示部と、
b)表示されている参照用クロマトグラムに対し、測定を実行する一又は複数の時間範囲をそれぞれ範囲バーとして時間的に重畳して表示する時間範囲表示部と、
c)ユーザによる指示に基づき、前記時間範囲表示部によって表示されている範囲バーの時間的位置及び/又は長さを変更する範囲変更部と、
d)前記範囲変更部によって範囲バーの時間的位置及び/又は長さが変更されたことに基づき、該範囲バーに対応する測定の時間範囲を再設定する測定時間再設定部と、
e)各範囲バーに対応する測定名を、範囲バーと測定名とが視覚的に結びつくように表示する測定名表示部と
を備えることを特徴とする分析装置制御システム。 - f)個々の測定に関する測定条件を、前記クロマトグラム表示部によって参照用クロマトグラムが表示されている画面においてユーザが設定可能なように表示する測定条件表示部
を更に備えることを特徴とする請求項1に記載の分析装置制御システム。 - 前記時間範囲表示部が、複数の測定に関する範囲バーを、互いに重なり合わないように、前記参照用クロマトグラムの強度軸方向にずらして表示する
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の分析装置制御システム。 - 複数の測定が時間的に重なっている時間範囲を検出し、該時間範囲において範囲バーの重なりが存在していることを視覚的に表示する重なり案内部
を更に備えたことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の分析装置制御システム。 - ユーザの指示又は予め定められた条件に基づき複数の測定を関連付ける測定関連付設定部を更に備え、
前記範囲変更部が、前記測定関連付け部によって関連付けられている測定の一つに対応する範囲バーの時間的位置及び/又は長さが変更されると、該測定に関連付けられている他の測定に対応する範囲バーの時間的位置及び/又は長さも同様に変更する
ことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の分析装置制御システム。 - 測定対象試料をクロマトグラフによって時間的に分離しつつ、全測定時間内の一又は複数の部分時間範囲のそれぞれにおいて所定の測定を実行するように分析装置を制御するためのシステム用のプログラムであって、該プログラムを実行するコンピュータを、
a)予め用意されている、前記測定対象試料に対応する参照用クロマトグラムを表示部に表示するクロマトグラム表示部と、
b)表示されている参照用クロマトグラムに対し、測定を実行する一又は複数の時間範囲をそれぞれ範囲バーとして時間的に重畳して表示する時間範囲表示部と、
c)ユーザによる指示に基づき、前記時間範囲表示部によって表示されている範囲バーの時間的位置及び/又は長さを変更する範囲変更部と、
d)前記範囲変更部によって範囲バーの時間的位置及び/又は長さが変更されたことに基づき、該範囲バーに対応する測定の時間範囲を再設定する測定時間再設定部と、
e)各範囲バーに対応する測定名を、範囲バーと測定名とが視覚的に結びつくように表示する測定名表示部と
して動作させることを特徴とする分析装置制御システム用プログラム。 - コンピュータを、更に、
f)個々の測定に関する測定条件を、前記クロマトグラム表示部によって参照用クロマトグラムが表示されている画面においてユーザが設定可能なように表示する測定条件表示部
として動作させることを特徴とする請求項6に記載の分析装置制御システム用プログラム。 - 前記時間範囲表示部が、複数の測定に関する範囲バーを、互いに重なり合わないように、前記参照用クロマトグラムの強度軸方向にずらして表示する
ことを特徴とする請求項6又は7に記載の分析装置制御システム用プログラム。
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