JP2004258031A - 波形表示装置、ユーザ・インタフェース及びオシロスコープ - Google Patents

波形表示装置、ユーザ・インタフェース及びオシロスコープ Download PDF

Info

Publication number
JP2004258031A
JP2004258031A JP2004045860A JP2004045860A JP2004258031A JP 2004258031 A JP2004258031 A JP 2004258031A JP 2004045860 A JP2004045860 A JP 2004045860A JP 2004045860 A JP2004045860 A JP 2004045860A JP 2004258031 A JP2004258031 A JP 2004258031A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
display
grid
signal
waveform
range
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004045860A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4439942B2 (ja
Inventor
John J Pickerd
ジョン・ジェイ・ピッカード
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tektronix Japan Ltd
Original Assignee
Tektronix Japan Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tektronix Japan Ltd filed Critical Tektronix Japan Ltd
Publication of JP2004258031A publication Critical patent/JP2004258031A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4439942B2 publication Critical patent/JP4439942B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/02Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
    • G01R13/029Software therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Controls And Circuits For Display Device (AREA)

Abstract

【課題】信号取り込み装置の表示手段上で波形をズームした場合、ズームに応じて垂直目盛り(水平線)の数及び間隔を自動的に調整する。
【解決手段】前置増幅器110、トラック/ホールド回路120、A/D変換器130、デシメータ140により取り込んだ被試験信号のサンプルをメモリ150に蓄積する。蓄積されたサンプルの波形を目盛りであるグリッドと共に表示装置190に表示する際、処理及び表示制御器160は、振幅レンジ・パラメータに応じて、波形とグリッドの関係を調整する。グリッドが波形にロックされている場合、波形のズームに応じてグリッドの間隔及び数が制御され、グリッドが表示フレームにロックされている場合、波形のズームによってグリッドは変化しない。
【選択図】図1

Description

本発明は、一般に、信号取込み装置に関し、特に、垂直表示パラメータの制約制御を行う方法及び装置(波形表示装置、ユーザ・インタフェース及びオシロスコープ)に関する。
デジタル蓄積オシロスコープ(DSO)の如き信号取込み装置は、垂直方向に8分割され水平方向に10分割された表示グリッド(碁盤目状の目盛り)を用いている。8×10分割のグリッドは、初期のアナログ・オシロスコープに使用された陰極線管(CRT)のガラスに初めにエッチングされたグリッドと同じ大きさである。グラフ・データを必要とするほとんどのエンジニアリング・アプリケーションが8×10の目盛りに制限されないのにもかかわらず、8×10分割グリッドが依然用いられている。すなわち、事実上、科学の総ての分野においては、典型的にはデータがグラフ化されて、かかるデータの理解を容易にするのに適する外見を与える目盛りを用いている。
特公平4−3829号公報
既存の標準オシロスコープの欠点は、データを表示上でズームしても、目盛りが依然8×10で固定されて、取込んだ波形のパラメータに対して一定の表示フレームを提供できないことである。本発明は、従来技術の上述及びその他の欠点を解決するものである。
本発明の波形表示装置は、振幅レンジ・パラメータに応じて被試験信号を制約して、取込んだサンプルのストリーム(取込みサンプル・ストリーム)を発生する信号取込み手段(110、120、130)と;表示手段(190)での利用に適し、振幅セグメント指標と視覚的に協働する被試験信号波形画像を含む表示信号を発生する制御手段(160)とを具え;この制御手段は、第1動作モードにて、振幅レンジ・パラメータに応じて振幅セグメント指標の数を適合させることを特徴としている。
また、本発明は、波形レーヤ及びグリッド・レーヤを有する表示信号を発生する信号取込み装置(100)に用いるのに適したユーザ・インタフェースであって;取込んだ被試験信号を波形が表すのに適するように振幅レンジ取込みパラメータのユーザ選択を可能にする第1ユーザ操作可能領域(330)と;表示グリッドの振幅部分が波形に重なるのに適するように振幅表示パラメータのユーザ選択を可能にする第2ユーザ操作可能領域(340)とを具えている。
さらに、本発明は、少なくとも1つのレンジ制御の信号に応答して少なくとも1つの被試験信号の複数のサンプルを取込む信号取込み手段(110、120、130)と;取込んだサンプル及び対応する表示グリッドの少なくとも一部を表示する信号表示手段(190)と;第1ユーザ命令に応答して少なくとも1つのレンジ制御を変更すると共に、第2ユーザ命令に応答して表示グリッドを変更する制御手段(160)とを具え;表示グリッドの変更は、振幅グリッド・ラインの数の選択と、1振幅グリッド・ライン当たりの単位の選択との少なくとも一方を行うことを特徴としている。
本発明の方法及び装置は、1目盛り当たりのボルト(電圧)及び分解能などの垂直パラメータを制約して、データがより有用な方法で表示されるようにしている(即ち、データの解析を容易にするために目盛り(スケール)及び/又は目盛り線(グラティキュール)を適切にする)。
本発明による技術は、添付図を参照した以下の詳細説明から容易に理解できよう。なお、理解を容易にするために、同じ参照符号は、各図に共通な同じ要素を示す。
デジタル蓄積オシロスコープ(DSO)の如き信号取込み装置に関連して、本発明を説明する。しかし、本発明は、他の信号取込み装置、特に、取込んだデータ又は他の情報の時間に基づいた表示を行う信号取込み装置又は表示装置にも適用可能であることが理解できよう。
本発明は、制御及び簡単な利用を容易にする方法で、表示パラメータと関連させて振幅パラメータの測定をイネーブル(付勢)する。例えば、DSOに適用する本発明は、より直感的なユーザの相互作用(対話)をイネーブルすると共に、DSOの保守及び設計を簡略化する。
本発明は、2つのモードの各々で異なる動作をする「1目盛り当たりのボルトを制御する手段」(振幅/目盛りの制御手段)を実現する。第1モードでは、表示グリッド(振幅セグメント指標:delineator)が波形に拘束される。また、第2モードでは、表示グリッドが表示フレームに拘束される。
図1は、本発明の実施例による信号取込み装置100のブロック図である。特に、図1の装置100は、被試験信号SUT1〜SUTN(これら信号を集合的にSUTで表す)で示す複数の被試験入力信号SUTを受ける。
図1の装置100は、複数の前置増幅器1101〜110N(集合的には、前置増幅器110)と、トラック及びホールド回路120と、複数のアナログ・デジタル(A/D)変換器1301〜130N(集合的には、A/D変換器130)と、複数のデシメータ1401〜140N(集合的には、デシメータ140)と、複数の取り込みメモリ1501〜150N(集合的には、メモリ150)と、処理及び表示の制御手段(処理及び表示制御器)160と、入力装置170と、タイムベース手段180と、表示装置(表示手段)190とを具えている。なお、デシメータは、入力信号を間引きする機能を果たす。また、前置増幅器110、トラック及びホールド回路120、A/D変換器140は、信号取り込み手段を形成する。図1の装置100は、N入力チャネルとして実現されているが(Nは整数)、本発明の環境では単一チャネルで実現してもよいことに留意されたい。
N入力チャネルの各々は、夫々被試験信号SUTを受ける。この被試験信号SUTは、前置増幅器110の各々により増幅され、トラック及びホールド回路120により処理される。アナログ・マルチプレックサ(MUX)として示すトラック及びホールド回路120は、A/D変換器130による取り込みをイネーブルするのに充分な時間だけ、各SUTを安定に保持する。
前置増幅器110は、処理及び表示制御器160が供給する前置増幅器制御信号PACに応答して、減衰機能、増幅機能、レンジ調整機能、レンジ・オフセット機能の総て又はその内の任意の機能を実行する。動作の1つのモードでは、前置増幅器制御信号PACにより、前置増幅器110は、対応するA/D変換器のほぼ総てのダイナミック・レンジを利用するのに充分なレベルにまで被試験信号を増幅する。動作の他のモードでは、本発明の垂直制御の観点に関して一層詳細に後述するように、前置増幅器110は、各被試験信号を増幅して正規化するか、又は、増幅結果の取り込みサンプル・ストリームを所望の垂直パラメータに適合させる。
A/D変換器130は、タイムベース手段180が発生したサンプリング・クロック信号Sに応答して、各被試験信号を受けてデジタル化し、デジタルのサンプル・ストリームの各々を発生する。サンプリング・クロック信号Sは、好ましくは、A/D変換器130が最高サンプリング・レートで動作するのに適合するクロック信号であるが、他のサンプリング・レートを選択してもよい。タイムベース手段180は、制御器160が発生したタイムベース制御信号TBCに応答して、サンプリング・クロック信号Sに関連した周波数及び/又はパルス幅のパラメータを変化させる。オプションとして、A/D変換器130は、制御可能な電圧基準源(図示せず)を含んでいる。この電圧基準源は、A/D変換器130が用いる電圧基準を発生して、入力信号レンジのフル・スケール電圧レンジを確立する(即ち、前置増幅器110が発生する信号の最大電圧レベルによって、A/D変換器が最大デジタル出力を供給する)。制御可能な電圧基準源は、処理及び表示制御器160が発生する信号REFCONにより制御される。A/D変換器が使用する基準電圧レベルを減少させることにより、最大値出力サンプルを発生する被試験信号SUTの振幅が減る。同様に、A/D変換器が使用する基準電圧レベルを増加させることにより、最大値出力サンプルを発生する被試験信号SUTの振幅が増える。
A/D変換器130が生じたサンプル・ストリームは、デシメータ140に夫々供給される。デシメータ140の各々は、サブサンプリング・モード、ピーク検出モード(例えば、最大/最小検出モード)、高分解能モード(例えば、ボックスカー平均モード)、又は、他の数学関数アルゴリズム又はモードの如き各処理アルゴリズム又はデシメーション・モードに応じて、受信したデジタル化被試験信号を処理する。各デシメーション140の動作モードは、用途特定集積回路(ASIC)又はフィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ(FPGA)などを用いて予めプログラムされているか、又は、処理及び表示制御器160が発生するデシメータ制御信号DCに応答して「オンザフライ(on the fly:進行中)」でプログラムしてもよい。デシメータ140は、異なる関数の各々、同じ関数又はこれらの組合せを用いてもよい。
デシメータ140は、受信した各サンプル・ストリームを処理して、受信サンプル・ストリームの各々に応答してデシメーションされたサンプル・ストリームを発生する。例えば、第1A/D変換器1301からのデジタル・サンプル・ストリームに応答して、第1デシメータ1401は、対応するデシメーション済みサンプル・ストリームを発生する。他のA/D変換器及びデシメータの動作も同様である。デシメータ140が発生したデシメーション済みサンプル・ストリームは、取り込みメモリ150の対応する部分に蓄積される。取り込みメモリ150の各々は、隣接したメモリ領域でもよいし、非隣接のメモリ領域でもよいし、更にオプションとしては、独立したメモリをデシメータ140の各々に割り当ててもよい。
制御及び表示制御器160を用いて、信号取り込み装置100の種々の動作を管理する。処理及び表示制御器160は、取り込みメモリ150内に蓄積されたデータ・サンプルに対して種々の処理及び分析の動作を実行する。図2を参照して、処理及び表示制御器160の具体例を更に説明する。
処理及び表示制御器160は、例えばキーパッド又はポインティング・デバイスなどの入力装置170を介してユーザ命令を受ける。処理及び表示制御器160は、画像に関連したデータを表示装置190に供給する。この表示装置190は、例えば、陰極線管(CRT)、液晶表示器(LCD)又は他の表示装置である。表示装置190は、タッチ・スクリーン装置を具えて、ユーザからの入力及びユーザへの出力の両方の機能性を果たしてもよい。タッチ・スクリーンの場合、詳細に後述するようにユーザ・インタフェース機能性において特に有用である。
処理及び表示制御器160は、水平制御機能162及び垂直制御機能164を含んでいる。垂直制御機能162は、表示装置190により表示する波形の水平表示パラメータ(即ち、信号時間パラメータ)を適合させたり、及び/又は制約する。垂直制御機能164は、表示装置190により表示される波形の垂直表示パラメータ(即ち、信号振幅パラメータ)を適合させたり、及び/又は制約する。これら水平制御機能162及び垂直制御機能164については、図2〜6を参照して詳細に後述する。
本発明において、ここで説明する種々の動作は、表示装置が用いるのに適切な表示信号を発生するように概念化されており、多数の層(レーヤ)に関連した画像が得られる。特に、波形レーヤは、波形画像データを含んでもよいし、制御レーヤは、制御画像データを含んでもよいし、グリッド(振幅セグメント指標)レーヤは、グリッド画像データを含んでもよい。本発明の一実施例において、制御及びグリッドのレーヤ情報を1つのレーヤにまとめている。他の実施例においては、単一の画像レーヤを用いて、波形、制御及びグリッド情報を含む総て情報を表す。
図2は、図1の信号取り込み装置100に用いるのに適する制御器のブロック図を示す。特に、図2の制御器200を用いて、処理及び表示制御器160の機能を実現してもよい。また、ソフトウェア及び/又はファームウェアの機能性で説明した図1の装置100内の種々の機能を、制御器200を用いて実現してもよい。
図2の制御器200は、プロセッサ230及びメモリ240を具えており、このメモリ240は、種々の制御プログラマブルやその他のプログラム244と、データ246とを蓄積している。また、メモリ240は、米国ワシントン州レッドモンドのマイクロソフト・コーポレーションが開発したWindows(登録商標)オペレーティング・システム242の如く、プログラム244を支援するオペレーティング・システムを蓄積してもよい。本明細書で述べるタスクを実行するのに適する他のオペレーティング・システム、フレームワーク及び環境が当業者には理解できるだろうし、本発明の技術の範囲内である。例えば、米国カリフォルニア州クパーチノのアップル・コンピュータ・コーポレーションが使用している種々のオペレーティング・システムや、種々のUNIX(登録商標)派生のオペレーティング・システムを本発明の技術範囲内で使用できる。
プロセッサ230は、電源、クロック回路、キャッシュ・メモリなどや、メモリ240に蓄積されたソフトウェア・ルーチンの実行を支援する回路の如き従来の補助回路220と協働する。ソフトウェア処理として説明するいくつかのステップは、ハードウェア内でも実現できる。例えば、かかるハードウェアには、プロセッサ230と協働して種々のステップを実現できる回路がある。また、制御器200は、制御器200と通信を行う種々の機能要素の間のインタフェースを形成する入出力(I/O)回路210を含んでいる。制御器200は、本発明により種々の制御機能を実行するようにプログラムされた汎用コンピュータを表しているが、用途限定集積回路(ASIC)又はフィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ(FPGA)の如きハードウェアで実現することもできる。ここで説明する処理ステップは、ソフトウェア、ハードウェア又はこれらの組合せにより等化的に実行できることも意図している。
メモリ240に蓄積されたプログラム244は、処理及び表示制御器160が供給する水平制御機能162及び垂直制御機能164を実現するのに適するプログラムを含むことができる。このプログラム244は、ここで説明する種々のユーザ・インタフェース機能、システム制御機能、及び表示/画像変更機能を提供するのに適するプログラムも含むことができる。
図1の信号取り込み装置100は、一般に、被試験信号(SUT)を受ける。この被試験信号は、デジタル化され、デシメーションされ、更に処理されて、表示用の各波形を導出する。表示された波形は、水平パラメータ及び垂直パラメータに関連させられる。水平パラメータは、時間パラメータから成る。一方、垂直パラメータは、振幅パラメータから成る。制御回路は、ユーザ入力に応答して、タイムベース(即ち、1水平目盛り当たりの時間)を調整すると共に、表示される波形の振幅(即ち、1垂直目盛り当たりのボルト(電圧))を調整する。すなわち、グリッド・パターンを含む表示装置を有するオシロスコープにおいて、ユーザは、各垂直セグメントが表すボルトの値と、各水平セグメントが表す時間量を選択できる。
本発明の概念において、ユーザ・インタフェースにより、垂直チャネル・レンジ・パラメータを制御する。垂直チャネル・レンジ・パラメータは、特定チャネルの垂直増幅器及びA/D変換器の使用可能な電圧レンジを特定する。垂直チャネル・レンジ・パラメータを調整すると、この垂直チャネル・レンジ・パラメータは、入力チャネル減衰及び/又は垂直増幅器の利得設定を変更する。図1の信号取り込み装置100において、処理及び表示制御器160が発生する前置増幅器制御信号(PAC)を用いて、前置増幅器利得設定により、受信被試験信号に影響する利得関数を減衰及び/又は増加させる。既知の垂直スケーリング制御とは異なり、垂直チャネル・レンジ・パラメータを固定の表示グラティキュール(目盛り)に連繋させない。例えば、既存のデジタル蓄積オシロスコープでは、垂直スケール制御は、典型的には、固定表示グリッドである1目盛り当たりのボルトの単位により与える。これとは対照に、本発明により可変、即ち制御可能な表示グリッドを提供することにより、ボルト、アンペア、オーム又は被試験信号に適する他の単位で垂直レンジ制御を特定する。なお、入力プローブが被試験信号を与える。垂直レンジは、クリッピングすることなく垂直チャネルが通過させる信号の最大のピーク・ピークである。この場合の1目盛り当たりのボルトとは、垂直レンジにわたって分布された表示目盛りの数により決まる。
垂直チャネル・オフセット・パラメータは、特定の垂直レンジ内でゼロ基準をどこに配置するかを制御する。よって、垂直チャネル・オフセット・パラメータは、対応する被試験信号を処理するA/D変換器のレンジ内で入力波形の垂直位置を制御する。
表示フレームは、取り込み波形がそのグラティキュールに沿って表示される領域の範囲を定める表示スクリーン上の領域である。動作のズーム・モードがアクティブでない場合、取り込んだ信号の垂直レンジは、好ましくは、表示フレームの垂直の高さの全部にわたる表示に対応する。数学関数又は基準波形のように導出した波形は、使用するグリッドの数及び垂直フレームに対して、垂直スケール及びオフセット・パラメータが夫々定まる。表示リードアウトのスケールは、好ましくは、1目盛り当たりの単位として特定される。表示フレームの垂直の高さは、ここでは、垂直表示レンジとして参照される。さらに、任意の数の表示フレームを実質的に同時に表示上に存在させてもよい。ここで、表示フレームは、種々のサイズ及び割合でもよい。
取り込んだ被試験信号に基づいて数学的に導出した波形のように求めた波形は、ユーザが特定したレンジ及びオフセット・パラメータによりフレーム内に表示される。この場合、レンジは、最大クリッピング・レンジを意味するのではなく、ユーザが選択した数学関数の垂直レンジであって、表示フレームの垂直レンジ内で適合するレンジを意味する。
本発明における表示パラメータ「1目盛り当たりの垂直単位」によって、垂直利得は一定に維持されるが、垂直フレームをカバーするグリッドの数と垂直グリッドの間の距離とが変化する。水平ラインが示す垂直グリッドは、1目盛り当たりの垂直単位の制御に応答して、互いの相対距離を増加又は減少させる。ユーザは、垂直レンジ制御を用いて、入力チャネルの垂直利得を変更できるが、表示装置上の1目盛り当たりの電圧は一定に維持される。1目盛り当たりの垂直単位を制御する方法にはいくつかがある。すなわち、(1)従来の「良好な」値の1−2−5順序により1目盛り当たりの垂直単位を選択する。(2)入力装置により任意の値を割り当てできるようにする。(3)表示フレームの垂直レンジ内に適合するように垂直グリッド・ラインの数をユーザが特定できるようにする。最初の2つの方法は、好ましくは、表示波形に対する一定の基準点にグリッドがロックされている。第3の方法では、好ましくは、グリッドがフレームに対してロックされて、従来のオシロスコープ表示と同様な動作となる。
本発明により、1フレーム内で、異なるスケールの多数の波形を表示することができる。実施例において、異なる表示グリッドの各々に沿って、異なるスケールの多数の波形が同じ表示フレーム内に描かれる。波形が選択されると、その波形用のグリッドも表示される。これは、既存のDSOの動作にいくらか類似しており、グラティキュール・スケール・リードアウトの数字が現在表示されている波形用となる。
垂直グリッド・オフセット・パラメータは、波形垂直基準マーカに対する垂直グリッド・ラインの位置を特定する。よって、垂直グリッド・オフセットにより、表示グリッドが垂直に移動できる一方、波形及びフレームは、表示上の位置に固定される。垂直グリッド・オフセット・パラメータは、上述の動作の第3モードに対しては適切ではなく、グリッドがフレームに対して固定される。
図3は、本発明の実施例に用いるのに適するユーザ・インタフェースを示す。図3のユーザ・インタフェース300は、例えば、図1を参照して上述した如きタッチ・スクリーン表示装置上での表示に適する。すなわち、ユーザ・インタフェース(及びそのサブメニュー)内に表示された対象は、オプション的にユーザの操作に直接応答して、ここで説明した種々の機能性を与える。
図3のユーザ・インタフェースは、波形表示領域310及び制御領域320を具えている。波形表示領域310は、ユーザが制御したピーク・ピーク振幅又はレンジにおいて1つ以上の波形を表示する。波形表示領域310は、図示のように、垂直表示レンジの独立した個別の部分を表す複数の水平線を有する。1目盛り当たりのボルト(又は他の単位)に関するパラメータは、近接する水平線の間のレンジの部分により表す。また、波形表示領域310には、基準マーカも表示され、初期垂直グリッド指標が位置する表示可能なレンジ内の点を指示する。図示していないが、1目盛り当たりの時間を示す垂直線は、通常、水平線と共に表示されて、表示グリッドが形成される。ズーム・モードがオフのとき表示フレームの幅及び高さに夫々一致するように適合した継続時間パラメータ及びレンジ・パラメータにより、取り込んだ波形が表示される。
制御領域320は、水平信号取り込み制御領域(第1ユーザ操作可能領域)330と、表示制御領域(第2ユーザ操作可能領域)340とを具えている。表示制御領域340は、波形にロックしたグリッド(GRID LOCK WFM)制御342、表示フレームにロックしたグリッド(GRID LOCK FRAME)制御344、位置(POSITION)制御346、1目盛り当たりの単位(Units/Division)制御348を具えている。波形にロックしたグリッド制御342がイネーブルされると(オン:ON)、信号取り込み装置は第1動作モードになる。この第1動作モードでは、1目盛り当たりのボルトのパラメータを示すグリッド・ライン(グリッドの線)が波形にロックされるので、レンジ・パラメータの増加により、かかるグリッド・ラインの数が増加する。表示フレームにロックされるグリッド制御344がイネーブルされると、信号取り込み装置は、第2動作モードになる。この第2動作モードでは、1目盛り当たりのボルト・パラメータを示す水平グリッド・ラインが表示フレームにロックされるので、レンジ・パラメータの増加により、かかるグリッド・ラインの数は増加しない。位置制御346は、表示された波形の電圧又はオフセットをイネーブルする。かかる電圧オフセットは、表示された波形の関心部分をグリッド・ラインに合わせるのに特に有用であり、ユーザが波形を分析するのを助ける。1目盛り当たりの単位の制御348を用いて、1目盛り当たりの表示ボルト・パラメータを制御する。
垂直(VERTICAL)信号制御領域330は、位置(POSITION)制御332及びレンジ(RANGE)制御334を含んでいる。位置制御332を用いて、垂直グリッド・オフセット・パラメータを制御して、表示された波形の垂直オフセットを通常位置から増加又は減少させる。表示フレーム内の表示波形の初期位置の実際の位置は、波形表示領域310内の基準マーカにより指示される。レンジ制御334は、処理された被試験信号の垂直レンジを決めて、表示波形を発生する。垂直レンジ制御334は、前置増幅器110による被試験信号の増幅又は減衰を行う。A/D変換器130が用いる基準電圧を変更して被試験信号の増幅又は減衰を行うし、及び/又は、デシメータ140内の処理能力を用いて被試験信号の増幅又は減衰を行うこともできる。
第1動作モードにおいて、グリッド・ラインは、波形にロックされる。この動作モードにおいて、「1目盛り当たりのボルト」パラメータを調整することにより、取り込んだ波形のレンジをカバーするグリッドの数が可変となる。グリッドが波形にロックする制御342をオン位置にユーザが選択することにより、グリッドが波形にロックされる動作モードが呼び出される。この制御を用いる利点は、スクリーン上の1目盛り当たりのボルトの特定値により要求されるレンジ・パラメータの制約から開放されることである。よって、ユーザは、表示上で1目盛り当たりのボルトを一定に維持したまま、垂直レンジを変更できる。この点は、従来のオシロスコープでは、レンジ及び表示の制約制御により可能ではなかった。この方法によって、スクリーン上でより広い信号レンジを実現できるようにレンジ・パラメータを良好に制御できる一方、1グリッド当たりの電圧を一定に維持してグリッドの数が増加する。
好ましくは、「グリッド・オフセット」又は位置制御がゼロに設定されると、基準マーカ位置にて基準グリッドを描く。水平線で示される他の総ての垂直グリッドは、基準グリッド位置に対して間隔を置く。位置制御を調整することにより、基準マーカ位置に対してグリッドが移動する。表示ズーム機能を使用すると、グリッドが波形に応じてスケーリング(拡大/縮小)し、波形に対して同じ関係を維持する。1目盛り当たりの単位制御348の如きつまみによりこの値を増加させると、1目盛り当たりのボルトが、正確に1−2−5順序で特定される。しかし、ユーザは、キーボード又はポインティング・デバイスなどの他の装置により、1目盛り当たりのボルト情報を入力できることが理解できよう。
第2動作モードにおいて、グリッドが表示フレームにロックされる。この動作モードにおいて、「1目盛り当たりのボルト」パラメータを調整すると、取り込んだ波形レンジをカバーするグリッドの数が変化しない。この動作モードは、例えば、グリッドを表示フレームにロックさせる制御344を「オン」の位置にユーザが選択することにより、呼び出される。このモードにより、ユーザは、現在のオシロスコープと同様に波形を観察できるが、更に、いくつかの付加機能がある。特に、第2動作モードにおいて、水平に描かれた垂直グリッド・ラインが表示フレームに対して固定される。この違いにより、ユーザにとって、既存のオシロスコープのように8個又は10個の目盛りに限定されることがない。むしろ、ユーザは、任意のグリッド・ラインの数、及び/又はグリッド・ライン間の1目盛り当たりのボルトを選択できる。1目盛り当たりのボルト・パラメータの調整により、取り込みパラメータが変化しないことに留意されたい。1目盛り当たりのボルトは、表示グリッドの制御であり、取り込みパラメータの制御ではない。レンジの制御のみにより、取り込みパラメータの変化が生じる。
1目盛り当たりのボルトを特定すること(表示された垂直グリッドの数を決定すること)には、発明者が意図したいくつかの技術がある。第1技術において、描かれた垂直グリッド・ラインの数をユーザが直接特定する。レンジ選択に関連したこの第1技術は、1目盛り当たりのボルトの読取りを決定する。この第1技術を用いてグリッド・ラインの数を固定すると、1目盛り当たりのボルトの値を用いてレンジを分割する。すなわち、オシロスコープに共通の従来の1−2−5順序の値は、この技術を用いて選択した1目盛り当たりのボルト値には必然的にならない。第2技術において、1目盛り値の特定のボルト値を入力することにより、グリッドの数を特定する。この方法において、1目盛り当たりのボルトのグリッド値を非常に良好に又は従来のように達成できる。これらグリッド値は、従来の1−2−5値でも構成できるし、ユーザが望む任意の他の値でも構成できる。この入力方法により、表示フレームに固定されたグリッドの数は、現在のレンジ及び要求された1目盛り当たりのボルトにより決まる。
図4は、レンジ制御の典型的なユーザ・インタフェース構成を示す。図3のユーザ・インタフェース300の垂直信号制御領域330内の制御の1つを選択することにより、図4の垂直チャネル(VERTICAL CHANNEL)サブメニューを呼び出せる。図4の垂直チャネル・サブメニュー400は、直接選択してもよいし、遠隔のコンピュータ装置によりアクセスしてもよい。特に、図4の垂直チャネル制御インタフェース400は、レンジ及びオフのパラメータをユーザが選択できるようにする。
選択されたレンジ(Range)の表示対象領域には、現在選択されているレンジ(図では10.0ボルト)が表示される。レンジの表示対象領域の近傍にある増加対象(上向き矢印)及び減少対象(下向き矢印)を用いて、選択されたレンジを増加又は減少させる。上述の如く、選択されたレンジの増加又は減少は、受信した被試験信号SUTの増幅又は減衰であるか、又は、対応するA/D変換器の基準電圧の変更である。
選択されたオフセット(Offset)の表示対象領域に、現在選択されているオフセット(図では、0.0ボルト)を表示する。オフセット表示対象領域の近傍にある増加対象(上向き矢印)及び減少対象(下向き矢印)を用いて、オフセットを増加又は減少できる。
図5は、垂直グリッド(VERTICAL GRIDS)制御の典型的なユーザ・インタフェース構造を示す。特に、図5の垂直グリッド制御インタフェース500により、ユーザは、1目盛り当たりのボルト(Volts/Div)、グリッド位置(Position)、グリッドの数(Num Grids)、及びグリッド・ロック(Grid Lock)モードを選択できる。
選択された位置又はオフセット表示対象領域は、基準位置(図では、第1又は元のグリッド指標、フレーム位置の中央、又はフレーム位置の端)からのオフセットとしてグリッド位置(図では、0.0ボルト)を表示する。位置表示対象領域に近傍の増加対象(上向き矢印)及び減少対象(下向き矢印)を用いて、基準位置からのグリッドの電圧オフセットを増加又は減少させる。
選択された1目盛り当たりのボルトの表示対象領域は、現在選択されている1目盛り当たりのボルトを表示する(図では、1.0ボルト)。1目盛り当たりのボルト表示対象領域に近傍の増加対象(上向き矢印)及び減少対象(下向き矢印)を用いて、各垂直目盛りに関連する1目盛り当たりの選択されたボルトを増加又は減少させる。
選択されたグリッドの数(Num Grids)の表示対象領域を用いて、現在選択されているグリッドの数(図では、10)を表示する。グリッドの数の表示対象領域に近傍の増加対象(上向き矢印)及び減少対象(下向き矢印)を用いて、グリッドの選択した数を増加又は減少させる。
グリッド・ロック(Grid Lock)モード指示対象領域を用いて、現在選択されているグリッド・ロック・モード(図では、波形であるWaveform)を表示する。上述の如く、グリッドを(制御342により)波形にロックできるし、(制御344により)表示フレームにもロックできる。グリッドを非ロックに維持することもできる。
図6は、本発明の実施例による方法の流れ図を示す。図6の方法600は、本発明によるユーザ制御機能性を提供するために、図1の信号取り込み装置100にて使用するのに適している。特に、図6の方法600は、ステップ605から開始し、レンジ、増幅及び/又は減衰、A/D基準レベル、デシメータ関数、グリッド・ラインの数、1目盛り当たりの電圧などの値を選択する。ステップ605は、例えば、被試験信号を最初に取り込むのに適した自動トリガ・ルーチンの一部として実現できる。デフォルト値を選択又は最新の値を用いることにより、ステップ605を実現することもできる。
ステップ610にて、取り込んだ波形を表示する。すなわち、ステップ610では、ステップ605で最初に選択したレンジ・パラメータ及びグリッド表示パラメータを用いるか、又は、その後のステップ615〜660に関して後述するようにパラメータを変更して、1つ以上の取り込み被試験信号に関連した波形を表示する。
ステップ615にて、方法600は、ユーザ命令(コマンド)を待つ。ユーザ命令を受けると、ステップ620にて、受信したユーザ命令がレンジ命令で構成されているか否かの判断を行う。命令がレンジ命令でない(ノー)場合、ステップ640にて、ユーザ命令が表示命令で構成されているか否かを判断する。ユーザ命令がタイムベース命令又は表示命令でない(ステップ640でノー)場合、ステップ660にて、方法600は、いくつかの他の命令(例えば、スクリーン輝度、システム・セットアップ、システム構成など)を実行し、ステップ610に戻る。
レンジ命令(ステップ620でイエス)の場合、ステップ625にて、レンジ制御メニューを表示する。すなわち、ステップ625にて、図4を参照して上述したレンジ制御メニューの如きユーザ・インタフェースをユーザとの対話(相互作用)のために表示する。ステップ630にて、方法600は、上述の種々の制約内でレンジ制御メニューとのユーザ対話を許可する。ステップ630でのユーザ対話の結論により、方法600は、ステップ635にて、取り込み装置100の種々のレンジ・パラメータをステップ630でのパラメータに適合させる。この方法600は、ステップ610に戻り、新たなレンジ・パラメータに応じて取り込んだ波形を表示する。
表示命令(ステップ640でイエス)の場合、ステップ645にて、図5に関して上述した表示制御メニューの如きユーザ・インタフェースをユーザ対話用に表示する。ステップ650にて、方法600は、上述した種々の制約内で表示制御メニューとのユーザ対話を許可する。ステップ650でのユーザ対話の結論により、方法600は、ステップ655にて、取り込み装置100の種々の表示パラメータをステップ650で選択されたパラメータに適合させる。方法600は、ステップ610に戻り、新たな表示パラメータにより取り込み波形を表示する。
以下の例は、種々のパラメータの制御が波形、表示フレーム及びグリッドの表示にどのように影響するかを示す。これらは、基準グリッド位置に対してグリッドが固定され、表示フレームから独立している(即ち、グリッドが波形にロックされている)。
グリッドがフレームにロックされる動作モードにおいて、垂直グリッド・ラインは、表示フレームに対する位置に固定される。ユーザは、フレーム内で描画されるグリッドの数を特定できる。したがって、フレームの頂部から底部までの距離は、垂直レンジ制御により決まり、この制御が上述の如くチャネル利得を調整する。表示の目盛り当たりの電圧は、フレーム内で特定されるグリッドの数により決まる。ユーザがグリッド・ラインの数を8に特定すると、この動作モードでの表示は、標準のオシロスコープと同様になる。ユーザは、1目盛り当たりの単位を調整して、正確な1−2−5順序の選択を特定できる。また、ユーザは、1目盛り当たりの単位を任意に特定できる。1目盛り当たりの単位の調整は、垂直チャネルの利得を変化させない。かかる調整は、表示フレーム内のグリッドに影響するのみである。
グリッドを波形にロックさせる動作モードにおいて、垂直表示グリッドは、波形に対してロックされ、表示フレームにはロックされない。基準グリッド・ラインは、波形接地基準マーカの位置で水平に描画される。残りのグリッドは、グリッド・スケール(即ち、1目盛り当たりのボルト、1目盛り当たりのアンペア、1目盛り当たりのオームなど)が決定した基準グリッド・マーカから間隔を空けて描画される。グリッドを波形にロックする動作モードは、図7A〜図7Eを参照して後述する。
図7Aは、レンジ(R)が1.0ボルトで、1目盛り当たりの電圧(V/D)が1目盛り当たり0.1ボルトで表示された正弦波関数の典型的な表示である。1.0ボルトのレンジが、10個の0.1ボルトとの目盛りに分割されているのが判る。
図7Bは、ユーザが垂直レンジ制御を変更して、2.0ボルトの設定を選択した後の図7Aの正弦波関数表示である。すなわち、図7Bは、図7Aの正弦波関数を示しているが、レンジ(R)が2.0ボルトで、1目盛り当たりのボルト(V/D)が1目盛り当たり0.1ボルトである。2ボルトの垂直レンジを12個の0.1ボルトのセグメントに分割していることが判る。
図7Cは、レンジ(R)が2.0ボルトで、1目盛り当たりのボルト(V/D)が1目盛り当たり0.2ボルトの場合における図7Aの正弦波関数の典型的な表示を示す。この図7Cの表示は、図7Bの表示期間中にユーザが操作した結果であり、垂直レンジが2.0ボルトのままであるが、1目盛り当たりのボルトのパラメータが1目盛り当たり0.2ボルトに設定されている。よって、指標のグリッドの数が係数2だけ(即ち、2分の1に)減っている。図7A〜図7Cの表示の各々に示す正弦波は、0ボルトの位置から開始すること(即ち、基準グリッドがレンジの中央に位置すること)に留意されたい。
図7Dは、レンジ(R)が2.0ボルトで、1目盛り当たりのボルト(V/D)が1目盛り当たり0.4ボルトで、垂直オフセット(OFF)を0.15ボルトの条件で、図7Aの正弦波関数を典型的に表示した場合である。この波形のピーク・ピークの高さは図7C及び図7Dの間で変化していないが、(1目盛り当たりの電圧が2倍となったため)グリッドの数が半分になっており、垂直オフセット・パラメータのユーザ設定によりフレーム内で全体の波形及びグリッドが0.15ボルトだけオフセットされていることに留意されたい。
図7Eは、レンジ(R)が1.0ボルトで、1目盛り当たりのボルト(V/D)が1目盛り当たり0.4ボルトで、垂直オフセット(OFF)を0.15ボルトの条件で、図7Aの正弦波関数を典型的に表示した場合である。図7Eの波形のピーク・ピークの高さは、垂直レンジが2.0ボルトから1.0ボルトに変化したため、図7Dの2倍になっている点に留意されたい。さらに、1目盛り当たりのボルトの制御が一定であるため、表示フレームに表示されたグリッドが少なくなっている。最後に、垂直オフセットが依然0.15ボルトなので、波形基準マーカ及びゼロ・グリッド・ラインがフレームに対して移動している。
上述の如く、本発明は、レンジ及びオフセットの高レベルのユーザ・インタフェース・パラメータによって、また、1目盛り当たりの単位とグリッドの数とについての表示パラメータによって、増幅器利得又は減衰、A/D変換器基準値、及びデシメーション関数の如き主要な垂直取り込みパラメータの制御を均一にする手段を効果的に提供する。グリッドを波形にロックするとき、ズーム機能を用いる場合は、グリッドを波形にスケーリングさせる。本発明は、オシロスコープ又は他の信号取り込み装置の設計者を設計の制約から解放し、オシロスコープ又は信号取り込み装置の垂直制御回路での可能な入力チャネル・レンジに対して一層多くの選択可能性を与える。その一方、本発明によれば、上述したレンジ及びオフセットの制御により示す改良垂直制御及び表示モデルを割合直接的に実現できる。
また、本発明は、表示パラメータと分離した取り込みチャネル用の新規でより意味のある利得制御単位をユーザに提供する。入力チャネルがその出力端にて取り込みメモリに供給できるピーク・ピーク電圧を表す垂直レンジとして示される新たなパラメータにより、利得を特定できる。市場における既存のオシロスコープのようには、利得の特定がもはや不明瞭ではない(例えば、既存のDSOでは、レンジが何であるかを決定するためにズームがオフのとき、特定のある数の目盛りにわたって垂直チャネル・レンジを固定されていることを知る必要がある)。さらに、既存のオシロスコープでズーム・モードがアクティブのとき、レンジを計算するためにズーム・スケール係数を含めなければならない。これとは対照的に、本発明では、レンジをユーザ・インタフェース制御により直接的に特定してもよく、垂直レンジとして示される。これは、メニューに直接的に読み出される。
さらに、本発明は、垂直繰りを表示上で制御する方法により、柔軟性を高める。ユーザは、フレームに対して固定された垂直グリッドの数を任意に特定できる。これは、既存の8でなくてもよい。また、この新たなモデルでは、新規なアプローチにより、ユーザは、波形の基準マーカに対してある位置に固定されたグリッド用に、1目盛り当たりのボルトを指定できる。これは、D/A変換器の出力を使用するステップのレベルにおいて、グリッド間の間隔を空けるよう指定する能力の如く、ユーザの利用性を改善する。これらステップに対する新たなグリッドは、D/A変換器ステップの直線性及び平坦性を視覚的に指示する。
本発明の好適実施例について上述したが、本発明の要旨を逸脱することなく種々の実施例に本発明を適用できる。
本発明の好適実施例による信号取込み装置のブロック図である。 図1の信号取り込み装置に用いるのに適する処理及び表示制御器のブロック図である。 本発明の実施例に用いるのに適するユーザ・インタフェースのスクリーンを示す図である。 本発明の実施例に用いるのに適するユーザ・インタフェースのスクリーンを示す図である。 本発明の実施例に用いるのに適するユーザ・インタフェースのスクリーンを示す図である。 本発明の実施例による方法を示す流れ図である。 本発明を理解するのに有用な波形図である。
符号の説明
100 信号取り込み装置
110 前置増幅器(信号取り込み手段)
120 トラック及びホールド回路(信号取り込み手段)
130 A/D変換器(信号取り込み手段)
140 デシメータ
150 取り込みメモリ
160 処理及び表示制御器(制御手段)
162 水平制御機能
164 垂直制御機能
170 入力装置
180 タイムベース
190 表示装置(表示手段)
200 制御器
210 入出力(I/O)回路
220 補助回路
230 プロセッサ
240 メモリ
242 オペレーティング・システム
244 プログラム
246 データ
300 ユーザ・インタフェース
310 波形表示領域
320 び制御領域
330 水平信号制御領域(第1ユーザ操作可能領域)
332 分解能制御
334 継続時間制御
340 表示制御領域(第2ユーザ走査可能領域)
342 波形にロックしたグリッド制御
344 表示フレームにロックしたグリッド制御
346 位置制御
348 1目盛り当たりの単位の制御
400 タイムベース制御インタフェース
500 水平グリッド制御インタフェース

Claims (3)

  1. 振幅レンジ・パラメータに応じて被試験信号を制約して、取込んだサンプルのストリーム(取込みサンプル・ストリーム)を発生する信号取込み手段と、
    表示手段での利用に適し、振幅セグメント指標と視覚的に協働する被試験信号波形画像を含む表示信号を発生する制御手段とを具え、
    該制御手段は、第1動作モードにて、上記振幅レンジ・パラメータに応じて上記振幅セグメント指標の数を適合させることを特徴とする波形表示装置。
  2. 波形レーヤ及びグリッド・レーヤを有する表示信号を発生する信号取込み装置に用いるのに適したユーザ・インタフェースであって、
    取込んだ被試験信号を波形が表すのに適するように振幅レンジ取込みパラメータのユーザ選択を可能にする第1ユーザ操作可能領域と、
    表示グリッドの振幅部分が上記波形に重なるのに適するように振幅表示パラメータのユーザ選択を可能にする第2ユーザ操作可能領域と
    を具えたユーザ・インタフェース。
  3. 少なくとも1つのレンジ制御の信号に応答して少なくとも1つの被試験信号の複数のサンプルを取込む信号取込み手段と、
    取込んだ上記サンプル及び対応する表示グリッドの少なくとも一部を表示する信号表示手段と、
    第1ユーザ命令に応答して上記少なくとも1つのレンジ制御を変更すると共に、第2ユーザ命令に応答して上記表示グリッドを変更する制御手段とを具え、
    上記表示グリッドの変更は、振幅グリッド・ラインの数の選択と、1振幅グリッド・ライン当たりの単位の選択との少なくとも一方を行うことを特徴とするオシロスコープ。
JP2004045860A 2003-02-25 2004-02-23 波形表示装置 Expired - Fee Related JP4439942B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/374,416 US7155355B2 (en) 2003-02-25 2003-02-25 Method of constraints control for oscilloscope vertical subsection and display parameters

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004258031A true JP2004258031A (ja) 2004-09-16
JP4439942B2 JP4439942B2 (ja) 2010-03-24

Family

ID=32771446

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004045860A Expired - Fee Related JP4439942B2 (ja) 2003-02-25 2004-02-23 波形表示装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7155355B2 (ja)
EP (1) EP1452874A1 (ja)
JP (1) JP4439942B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015513727A (ja) * 2012-02-16 2015-05-14 マイクロソフト コーポレーション 記憶媒体及び処理方法
CN113156180A (zh) * 2021-04-07 2021-07-23 合肥联宝信息技术有限公司 一种波形参数的调整方法、装置及可读存储介质

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7401007B1 (en) * 2003-04-28 2008-07-15 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Method, computer program and apparatus for extracting large size signal data samples with an automatically adjusted decimation ratio
KR100940207B1 (ko) * 2003-12-30 2010-02-10 삼성전자주식회사 마우스 포인팅 방법 및 제어 장치
US8127242B1 (en) 2010-08-12 2012-02-28 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Graphic user interface and software for processing large size signal data samples in a small buffer using automatically adjusted decimation ratio
US20080143317A1 (en) * 2006-12-19 2008-06-19 Lecroy Corporation Resizable display
JP5295679B2 (ja) * 2008-08-01 2013-09-18 株式会社キーエンス 波形観測装置
US9646395B2 (en) 2014-02-27 2017-05-09 Change Healthcare Llc Method and apparatus for comparing portions of a waveform
CN109716144A (zh) * 2017-03-15 2019-05-03 三菱电机株式会社 显示控制装置及显示控制方法
US11415602B2 (en) 2018-12-03 2022-08-16 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Method for operating an oscilloscope as well as oscilloscope
CN111695264B (zh) * 2020-06-16 2023-03-03 中国空气动力研究与发展中心高速空气动力研究所 一种用于音爆传播计算的多波系同步推进波形参数方法
USD987459S1 (en) 2021-04-26 2023-05-30 Yokogawa Electric Corporation Spectrum analyzer
US12085590B2 (en) * 2021-07-14 2024-09-10 Tektronix, Inc. Swept parameter oscilloscope

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4578640A (en) * 1982-09-14 1986-03-25 Analogic Corporation Oscilloscope control
US4812996A (en) 1986-11-26 1989-03-14 Tektronix, Inc. Signal viewing instrumentation control system
US5495168A (en) * 1994-09-12 1996-02-27 Fluke Corporation Method of signal analysis employing histograms to establish stable, scaled displays in oscilloscopes
US5517105A (en) * 1994-10-25 1996-05-14 Tektronix, Inc. Dual linked zoom boxes for instrument display
JP3311889B2 (ja) * 1995-02-10 2002-08-05 株式会社日立国際電気 サンプリング信号発生回路
US6229536B1 (en) * 1998-03-05 2001-05-08 Agilent Technologies, Inc. System and method for displaying simultaneously a main waveform display and a magnified waveform display in a signal measurement system
US6473701B1 (en) * 1999-11-22 2002-10-29 Tektronix, Inc. Alternate triggering in digital oscilloscopes
US6356849B1 (en) * 2000-01-28 2002-03-12 Agilent Technologies, Inc. Method for automatically scaling sampled representations of single-valued and multi-valued waveforms
US6278268B1 (en) * 2000-02-11 2001-08-21 Agilent Technologies, Inc. Method for controlling scale parameters of an instrument in response to input to an event-generating control sensor
US6947043B1 (en) * 2000-03-27 2005-09-20 Tektronix, Inc. Method of operating an oscilloscope
US6615148B2 (en) * 2000-05-17 2003-09-02 Tektronix, Inc. Streaming distributed test and measurement instrument

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015513727A (ja) * 2012-02-16 2015-05-14 マイクロソフト コーポレーション 記憶媒体及び処理方法
US9552557B2 (en) 2012-02-16 2017-01-24 Microsoft Technology Licensing, Llc Visual representation of chart scaling
CN113156180A (zh) * 2021-04-07 2021-07-23 合肥联宝信息技术有限公司 一种波形参数的调整方法、装置及可读存储介质
CN113156180B (zh) * 2021-04-07 2022-06-10 合肥联宝信息技术有限公司 一种波形参数的调整方法、装置及可读存储介质

Also Published As

Publication number Publication date
US20040164984A1 (en) 2004-08-26
JP4439942B2 (ja) 2010-03-24
EP1452874A1 (en) 2004-09-01
US7155355B2 (en) 2006-12-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4439941B2 (ja) 波形表示装置
EP0701138B1 (en) Method of signal analysis employing histograms
US6229536B1 (en) System and method for displaying simultaneously a main waveform display and a magnified waveform display in a signal measurement system
JP4439942B2 (ja) 波形表示装置
US6947043B1 (en) Method of operating an oscilloscope
US6681191B1 (en) Frequency domain analysis system for a time domain measurement instrument
US6201384B1 (en) Graphical system and method for automatically scaling waveforms in a signal measurement system
US20070027675A1 (en) Spectrum analyzer control in an oscilloscope
KR20110025611A (ko) 검사 및 측정 기구 및 획득 후 트리거 제어 및 프레젠테이션을 제공하기 위한 방법
KR20110025610A (ko) 검사 및 측정 기구 및 획득 후 트리거 제어 및 프레젠테이션을 제공하기 위한 방법
US9031803B2 (en) Waveform display method and a signal measurement system implementing the same
KR100725212B1 (ko) 마스크 줌 특징이 있는 원격 통신 마스크 시험 성능을가진 시험 및 측정 기기
US5352976A (en) Multi-channel trigger dejitter
EP1111396B1 (en) Frequency domain analysis system for a time domain measurement instrument
JP5273715B2 (ja) 波形表示方法及び試験測定機器
US8214163B2 (en) Envelope generation algorithm
US6928374B2 (en) Methods for displaying jitter and other anomalies in long acquisition data records
US20230221353A1 (en) Test and measurement instrument having spectrogram with cursor time correlation
US20230221352A1 (en) Automatic determination of spectrum and spectrogram attributes in a test and measurement instrument
JP3861675B2 (ja) 波形表示装置
JP3654783B2 (ja) 自動停止機能付きオシロスコープ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060616

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20080123

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20080123

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090217

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090518

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100105

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100106

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130115

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees