CN113156180A - 一种波形参数的调整方法、装置及可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种波形参数的调整方法、装置及可读存储介质，该方法包括：获取测试波形；计算测试波形的特性值，特性值包括幅值平均值和幅值最大值；若当前幅值最大值大于第一预设倍数的幅值平均值，设置第二预设倍数的幅值最大值作为测试波形的触发值；等待第一预设时长后，停止获取测试波形；统计示波器当前屏幕上显示的测试波形中幅值大于触发值的波形个数；根据波形个数计算测试波形的周期；将第三预设倍数的周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔。通过实施本发明，可以实现测试波形的横轴的刻度间隔的自动化调整，将波形调整到满足测试报告需求的状态显示出来，可以提高示波器的自动化程度，大大提高示波器的测试效率。

Description

一种波形参数的调整方法、装置及可读存储介质

技术领域

本申请涉及示波器技术领域，尤其涉及一种波形参数的调整方法、装置及可读存储介质。

背景技术

目前，采用示波器对电子产品进行波动、变换、噪声等项测试时，需要根据实际测试波形手动调整示波器上测试波形的参数，例如，x刻度间隔，y刻度间隔，触发电压值等，使得示波器上显示的测试波形能够满足测试报告需求。但是不同的能量和测试项目的测试波形差异较大，每次测试时，都需要手动逐步调整测试波形的参数，速度慢，效率低。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例通过提供一种波形参数的调整方法、装置及可读存储介质，用以解决现有技术中通过手动调整测试波形的参数，速度慢，效率低的问题。

为了解决上述问题，第一方面，本发明实施例提供了一种波形参数的调整方法，应用于示波器，包括：获取测试波形；计算测试波形的特性值，特性值包括幅值平均值和幅值最大值；若当前幅值最大值大于第一预设倍数的幅值平均值，设置第二预设倍数的幅值最大值作为测试波形的触发值；等待第一预设时长后，停止获取测试波形；统计示波器当前屏幕上显示的测试波形中幅值大于触发值的波形个数；根据波形个数计算测试波形的周期；将第三预设倍数的周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔。

可选地，若当前幅值最大值小于或等于第一预设倍数的幅值平均值，设置第四预设倍数的幅值最大值作为测试波形的触发值。

可选地，在将第三预设倍数的周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔之后，波形参数的调整方法还包括：再次获取测试波形；等待第一预设时长后，停止获取测试波形；再次执行统计示波器当前屏幕上显示的测试波形中幅值大于触发值的波形个数；根据波形个数计算测试波形的周期；将第三预设倍数的周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔，以对测试波形的横轴的刻度间隔进行优化。

可选地，波形参数的调整方法还包括：将当前幅值平均值设置为测试波形的纵轴的原点，将第五预设倍数的幅值平均值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔。

可选地，在将幅值平均值设置为测试波形的纵轴的原点，将第五预设倍数的幅值平均值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔之后，在停止获取测试波形之前，波形参数的调整方法还包括：多次重复执行将当前幅值平均值设置为测试波形的纵轴的原点，将第五预设倍数的幅值平均值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔，以对测试波形的纵轴的原点和测试波形的纵轴的刻度间隔进行优化。

可选地，波形参数的调整方法还包括：获取测试波形峰峰值；将第六预设倍数的峰峰值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔。

可选地，在将第六预设倍数的峰峰值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔之后，波形参数的调整方法还包括：多次重复执行获取测试波形峰峰值，将第六预设倍数的峰峰值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔，以对测试波形的纵轴的刻度间隔进行优化。

第二方面，本发明实施例提供了一种波形参数的调整装置，应用于示波器，包括：获取单元，用于获取测试波形；第一计算单元，用于计算测试波形的特性值，特性值包括幅值平均值和幅值最大值；第一设置单元，用于若当前幅值最大值大于第一预设倍数的幅值平均值，设置第二预设倍数的幅值最大值作为测试波形的触发值；停止单元，用于等待第一预设时长后，停止获取测试波形；统计单元，用于统计示波器当前屏幕上显示的测试波形中幅值大于触发值的波形个数；第二计算单元，用于根据波形个数计算测试波形的周期；第二设置单元，用于将第三预设倍数的周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔。

第三方面，本发明实施例提供了一种示波器，包括：至少一个处理器；以及与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的指令，指令被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器执行如第一方面或第一方面任意实施方式中的波形参数的调整方法。

第四方面，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机指令，计算机指令用于使计算机执行如第一方面或第一方面任意实施方式中的波形参数的调整方法。

本发明实施例提供的波形参数的调整方法、装置及可读存储介质，通过获取测试波形；计算测试波形的特性值，特性值包括幅值平均值和幅值最大值；若当前幅值最大值大于第一预设倍数的幅值平均值，设置第二预设倍数的幅值最大值作为测试波形的触发值；等待第一预设时长后，停止获取测试波形；统计示波器当前屏幕上显示的测试波形中幅值大于触发值的波形个数；根据波形个数计算测试波形的周期；将第三预设倍数的周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔；从而可以实现测试波形的横轴的刻度间隔的自动化调整，将波形调整到满足测试报告需求的状态显示出来，可以提高示波器的自动化程度，大大提高示波器的测试效率。

上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。

附图说明

图1为本发明实施例中一种波形参数的调整方法的流程示意图；

图2为本发明实施例中一种波形参数的调整装置的结构示意图；

图3为本发明实施例中一种示波器的硬件结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例提供了一种波形参数的调整方法，应用于示波器，如图1所述，波形参数的调整方法包括：

S101.获取测试波形；具体地，采用示波器对电子进行波动、变换、噪声等项测试时，需要先对示波器的参数进行设置，包括示波器各个通道的测试项及示波器中原始坐标系横轴的刻度间隔、纵轴的刻度间隔等。然后开始测试，基于设置好的参数开始抓取测试波形。在本发明实施例中，仅以获取示波器一个通道的测试波形为例进行说明，在其他实施例中，可以同时获取多个通道的测试波形，并采用其中一个或几个测试通道的测试波形进行测试波形的横轴的刻度间隔的调整。

S102.计算测试波形的特性值，特性值包括幅值平均值和幅值最大值；具体地，在获取到测试波形后，可以实时地量测示波器当前屏幕上显示的测试波形的幅值平均值和幅值最大值。

S103.若当前幅值最大值大于第一预设倍数的幅值平均值，设置第二预设倍数的幅值最大值作为测试波形的触发值；具体地，第一预设倍数可以优选为2倍，第二预设倍数可以优选为0.8倍。可以实时比较当前幅值最大值与2倍的幅值平均值的大小，如果当前幅值最大值大于2倍的幅值平均值，则可以取0.8倍的幅值最大值作为该通道测试波形的触发值。否则取第四预设倍数的幅值最大值作为测试波形的触发值。第四预设倍数可以优选为0.2。通过重新设置测试波形的触发值，可以稳定示波器上显示的测试波形。

S104.等待第一预设时长后，停止获取测试波形；具体地，在设置第二预设倍数的幅值最大值作为测试波形的触发值之后，可以清除示波器屏幕上显示的波形，然后重新抓取测试波形，等待第一预设时长后，再停止获取测试波形，可以使得示波器当前屏幕上显示的测试波形都是在重新设置测试波形的触发值之后获取的。

S105.统计示波器当前屏幕上显示的测试波形中幅值大于触发值的波形个数；

S106.根据波形个数计算测试波形的周期；具体地，由于示波器中原始坐标系横轴具有10个刻度，且横轴刻度间隔已知，因此，通过计算式：(横轴刻度间隔)*10/N，可以计算到测试波形的周期。

S107.将第三预设倍数的周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔。具体地，第三预设倍数可以优选为0.8倍。计算到测试波形的周期之后，可以将原始坐标系中的横轴刻度间隔调整为0.8倍的周期，从而测试波形的横轴的刻度间隔调整到合适间隔，使得示波器上显示的测试波形能够满足测试报告需求。

本发明实施例提供的波形参数的调整方法，通过获取测试波形；计算测试波形的特性值，特性值包括幅值平均值和幅值最大值；若当前幅值最大值大于第一预设倍数的幅值平均值，设置第二预设倍数的幅值最大值作为测试波形的触发值；等待第一预设时长后，停止获取测试波形；统计示波器当前屏幕上显示的测试波形中幅值大于触发值的波形个数；根据波形个数计算测试波形的周期；将第三预设倍数的周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔；从而可以实现测试波形的横轴的刻度间隔的自动化调整，将波形调整到满足测试报告需求的状态显示出来，可以提高示波器的自动化程度，大大提高示波器的测试效率。

在一个可选的实施例中，在步骤S107，将第三预设倍数的周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔之后，波形参数的调整方法还包括：再次获取测试波形；等待第一预设时长后，停止获取测试波形；再次执行统计示波器当前屏幕上显示的测试波形中幅值大于触发值的波形个数；根据波形个数计算测试波形的周期；将第三预设倍数的周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔，以对测试波形的横轴的刻度间隔进行优化。

具体地，由于计算测试波形的周期时，第一次计算可能不准确，因此，可以通过对测试波形的周期进行多次的计算，来提高测试波形的周期的计算准确度。因此，对测试波形的横轴的刻度间隔进行一次调整后，可以基于第三预设倍数的周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔的参数条件下，清除示波器屏幕上的测试波形，然后重新启动测试，重新抓取测试波形，在等待第一预设时长后，停止获取测试波形，然后再次执行步骤S105-S107的步骤，以对测试波形的横轴的刻度间隔进行优化。该对测试波形的横轴的刻度间隔进行优化的步骤，可以执行多次，以达到较优的显示效果。

在一个可选的实施例中，波形参数的调整方法还包括：将当前幅值平均值设置为测试波形的纵轴的原点，将第五预设倍数的幅值平均值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔。

具体地，对于一些测试波形，在对测试波形设置了横轴的刻度间隔之后，可能还不能满足测试规格需求，为了使得测试波形满足测试规格需求，还需要对测试波形的纵轴的原点和刻度间隔进行调整。在对测试波形的纵轴的原点和刻度间隔进行调整时，可以是在基于第三预设倍数的周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔的参数条件下，清除示波器屏幕上的测试波形，然后重新启动测试，重新抓取测试波形，来对测试波形的纵轴的原点和刻度间隔进行调整，也可以是在对测试波形的横轴的刻度间隔进行调整的同时，对测试波形的纵轴的原点和刻度间隔进行调整。在本发明实施例中，以在对测试波形的横轴的刻度间隔进行调整的同时，对测试波形的纵轴的原点和刻度间隔进行调整为例进行说明。

在本发明实施例中，第五预设倍数可以为1/15倍，在调整测试波形的纵轴的原点时，可以将当前幅值平均值设置为测试波形的纵轴的原点，将测试波形的纵轴的原点设置为当前幅值平均值，可以将测试波形偏移到测试波形的横轴附近。在调整测试波形的纵轴的刻度间隔时，可以将1/15的当前幅值平均值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔，将测试波形的纵轴的刻度间隔设置为1/15的当前幅值平均值，可以适当对测试波形进行放大，将测试波形调整到满足测试报告需求的状态显示出来。

在一个可选的实施例中，在将幅值平均值设置为测试波形的纵轴的原点，将第五预设倍数的幅值平均值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔之后，在停止获取测试波形之前，波形参数的调整方法还包括：多次重复执行将当前幅值平均值设置为测试波形的纵轴的原点，将第五预设倍数的幅值平均值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔，以对测试波形的纵轴的原点和测试波形的纵轴的刻度间隔进行优化。

具体地，为了精确地量测该通道的幅值平均值以及实现精确地偏移测试波形，可以在将幅值平均值设置为测试波形的纵轴的原点，将第五预设倍数的幅值平均值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔之后，多次将当前幅值平均值设置为测试波形的纵轴的原点，将第五预设倍数的幅值平均值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔。

在一个可选的实施例中，波形参数的调整方法还包括：获取测试波形峰峰值；将第六预设倍数的峰峰值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔。

具体地，第六预设倍数可以优选为0.5倍。测试波形峰峰值为测试波形的最大幅值与最小幅值的差值。在对测试波形的纵轴的原点和测试波形的纵轴的刻度间隔进行优化之后，还可以获取测试波形峰峰值，然后将0.5倍的峰峰值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔，以对测试波形的纵轴的刻度间隔进行优化。

在一个可选的实施例中，在将第六预设倍数的峰峰值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔之后，波形参数的调整方法还包括：多次重复执行获取测试波形峰峰值，将第六预设倍数的峰峰值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔，以对测试波形的纵轴的刻度间隔进行优化。

具体地，为了对测试波形的纵轴的刻度间隔进行进一步的优化，可以多次重复执行获取测试波形峰峰值，将第六预设倍数的峰峰值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔，直至示波器上显示的测试波形为合适的大小。

本发明实施例还提供了一种波形参数的调整装置，应用于示波器，如图2所示，波形参数的调整装置包括：

获取单元21，用于获取测试波形；具体的实施方式详见上述方法实施例步骤S101的描述，在此不再赘述。

第一计算单元22，用于计算测试波形的特性值，特性值包括幅值平均值和幅值最大值；具体的实施方式详见上述方法实施例步骤S102的描述，在此不再赘述。

第一设置单元23，用于若当前幅值最大值大于第一预设倍数的幅值平均值，设置第二预设倍数的幅值最大值作为测试波形的触发值；具体的实施方式详见上述方法实施例步骤S103的描述，在此不再赘述。

停止单元24，用于等待第一预设时长后，停止获取测试波形；具体的实施方式详见上述方法实施例步骤S104的描述，在此不再赘述。

统计单元25，用于统计示波器当前屏幕上显示的测试波形中幅值大于触发值的波形个数；具体的实施方式详见上述方法实施例步骤S105的描述，在此不再赘述。

第二计算单元26，用于根据波形个数计算测试波形的周期；具体的实施方式详见上述方法实施例步骤S106的描述，在此不再赘述。

第二设置单元27，用于将第三预设倍数的周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔。具体的实施方式详见上述方法实施例步骤S107的描述，在此不再赘述。

本发明实施例提供的波形参数的调整装置，通过获取测试波形；计算测试波形的特性值，特性值包括幅值平均值和幅值最大值；若当前幅值最大值大于第一预设倍数的幅值平均值，设置第二预设倍数的幅值最大值作为测试波形的触发值；等待第一预设时长后，停止获取测试波形；统计示波器当前屏幕上显示的测试波形中幅值大于触发值的波形个数；根据波形个数计算测试波形的周期；将第三预设倍数的周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔；从而可以实现测试波形的横轴的刻度间隔的自动化调整，将波形调整到满足测试报告需求的状态显示出来，可以提高示波器的自动化程度，大大提高示波器的测试效率。

基于与前述实施例中一种波形参数的调整方法同样的发明构思，本发明还提供一种示波器，如图3所示，包括：处理器31和存储器32，其中处理器31和存储器32可以通过总线或者其他方式连接，图3中以通过总线连接为例进行说明。

处理器31可以为中央处理器(Central Processing Unit，CPU)。处理器31还可以为其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等芯片，或者上述各类芯片的组合。

存储器32作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序、非暂态计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例中的波形参数的调整方法对应的程序指令/模块。处理器31通过运行存储在存储器32中的非暂态软件程序、指令以及模块，从而执行处理器的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例中的波形参数的调整方法。

存储器32可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储处理器31所创建的数据等。此外，存储器32可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施例中，存储器32可选包括相对于处理器31远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至处理器31。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

上述的一个或者多个模块存储在存储器32中，当被处理器31执行时，执行如图1所示实施例中的波形参数的调整方法。

上述示波器具体细节可以对应参阅图1所示的实施例中对应的相关描述和效果进行理解，此处不再赘述。

本领域技术人员可以理解，实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)、随机存储记忆体(Random AccessMemory，RAM)、快闪存储器(Flash Memory)、硬盘(Hard Disk Drive，缩写：HDD)或固态硬盘(Solid-State Drive，SSD)等；所述存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程信息处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程信息处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程信息处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程信息处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种波形参数的调整方法，其特征在于，应用于示波器，包括：

获取测试波形；

计算所述测试波形的特性值，所述特性值包括幅值平均值和幅值最大值；

若当前所述幅值最大值大于第一预设倍数的所述幅值平均值，设置第二预设倍数的所述幅值最大值作为测试波形的触发值；

等待第一预设时长后，停止获取测试波形；

统计示波器当前屏幕上显示的测试波形中幅值大于触发值的波形个数；

根据所述波形个数计算测试波形的周期；

将第三预设倍数的所述周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔。

2.根据权利要求1所述的波形参数的调整方法，其特征在于，

若当前所述幅值最大值小于或等于第一预设倍数的所述幅值平均值，设置第四预设倍数的所述幅值最大值作为测试波形的触发值。

3.根据权利要求1所述的波形参数的调整方法，其特征在于，在将第三预设倍数的所述周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔之后，还包括：

再次获取测试波形；

等待第一预设时长后，停止获取测试波形；

再次执行统计示波器当前屏幕上显示的测试波形中幅值大于触发值的波形个数；根据所述波形个数计算测试波形的周期；将第三预设倍数的所述周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔，以对测试波形的横轴的刻度间隔进行优化。

4.根据权利要求1-3任一项所述的波形参数的调整方法，其特征在于，还包括：

将当前所述幅值平均值设置为测试波形的纵轴的原点，将第五预设倍数的所述幅值平均值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔。

5.根据权利要求4所述的波形参数的调整方法，其特征在于，在将所述幅值平均值设置为测试波形的纵轴的原点，将第五预设倍数的所述幅值平均值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔之后，在停止获取测试波形之前，还包括：

多次重复执行将当前所述幅值平均值设置为测试波形的纵轴的原点，将第五预设倍数的所述幅值平均值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔，以对测试波形的纵轴的原点和测试波形的纵轴的刻度间隔进行优化。

6.根据权利要求5所述的波形参数的调整方法，其特征在于，还包括：

获取测试波形峰峰值；

将第六预设倍数的所述峰峰值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔。

7.根据权利要求6所述的波形参数的调整方法，其特征在于，在将第六预设倍数的所述峰峰值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔之后，还包括：

多次重复执行获取测试波形峰峰值，将第六预设倍数的所述峰峰值设置为测试波形的纵轴的刻度间隔，以对测试波形的纵轴的刻度间隔进行优化。

8.一种波形参数的调整装置，其特征在于，应用于示波器，包括：

获取单元，用于获取测试波形；

第一计算单元，用于计算所述测试波形的特性值，所述特性值包括幅值平均值和幅值最大值；

第一设置单元，用于若当前所述幅值最大值大于第一预设倍数的所述幅值平均值，设置第二预设倍数的所述幅值最大值作为测试波形的触发值；

停止单元，用于等待第一预设时长后，停止获取测试波形；

统计单元，用于统计示波器当前屏幕上显示的测试波形中幅值大于触发值的波形个数；

第二计算单元，用于根据所述波形个数计算测试波形的周期；

第二设置单元，用于将第三预设倍数的所述周期设置为测试波形的横轴的刻度间隔。

9.一种示波器，其特征在于，包括：

至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行如权利要求1-7任意一项所述的波形参数的调整方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使计算机执行如权利要求1-7任意一项所述的波形参数的调整方法。

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