WO2024117390A1 - 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법 - Google Patents
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- WO2024117390A1 WO2024117390A1 PCT/KR2023/003342 KR2023003342W WO2024117390A1 WO 2024117390 A1 WO2024117390 A1 WO 2024117390A1 KR 2023003342 W KR2023003342 W KR 2023003342W WO 2024117390 A1 WO2024117390 A1 WO 2024117390A1
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- G01R15/12—Circuits for multi-testers, i.e. multimeters, e.g. for measuring voltage, current, or impedance at will
Definitions
- the present invention relates to an apparatus and method for expanding a test instrument for electronic equipment, and more specifically, to providing a plurality of expanded test ports so that multiple test samples can be measured simultaneously with a single test instrument in the field of electronic equipment.
- Automated test equipment such as Automated Test Equipment (ATE) is equipment that automatically tests the function and performance of electronic equipment consisting of various types of circuit assemblies with minimal operator intervention and identifies faulty items among internal components. am.
- ATE Automated Test Equipment
- This automated test equipment conducts tests sequentially by connecting multiple pieces of equipment to internal test resources (measuring instruments, etc.) through an electrical interface based on a single ICA (Inter Connect Adapter). This allows multiple test objects to be tested simultaneously. It's impossible.
- test equipment can only test one test device at a time, in the case of complex electronic equipment, various measuring instruments are required and there are many input/output ports to be tested, so there is a problem in that test time is long.
- Patent Publication No. 10-2010-0058149 by performing parallel communication that shares memory rather than direct communication using a communication protocol between the instrument and the main controller, resources required for communication are reduced and data
- a modular instrument integration system that can transmit data very quickly and, in particular, can allocate the CPU resources of the instrument and main controller to other processing.
- the purpose of the present invention is to provide a number of expanded test ports in the field of electronic equipment so that multiple test samples can be measured simultaneously with a single test instrument, thereby reducing the cost and time of testing test samples.
- the present invention divides the screen on the display of the test instrument to display test results for a plurality of test samples, while displaying each divided screen on the individual display of the corresponding expansion measurement terminal, thereby Another purpose is to provide a test instrument expansion device and method for electronic equipment that allows users to test test samples at the same time.
- a test instrument expansion device for electronic equipment can measure a plurality of test samples simultaneously, and includes a switch for selecting and switching one channel of the expansion test ports for the test port of the test instrument; A test instrument capable of measuring multiple test samples simultaneously and displaying the measurement results of different test samples separately on a single display screen; an expansion measurement terminal that performs a test on a test sample through the expansion test port and displays the results; and a controller that controls the switch, the test instrument, and the extended measurement terminal.
- the controller may control the switch, the test measuring device, and the extended measuring terminal so that at least one of the extended measuring terminals is operated.
- controller may switch the switch so that the test port of the test instrument is connected to any one channel of the expansion measurement terminals as an expansion test port.
- controller may set the channel by setting parameters of the test instrument for the selected channel.
- controller may control measurement start, measurement, and end of measurement of the test instrument so that measurement is performed at the extended measurement terminal.
- the controller may receive the screen of the test measuring device, divide it, and retransmit the divided screen to the corresponding extended measuring terminal so that it is displayed on the display of the corresponding extended measuring terminal.
- the controller may provide a predetermined delay time after controlling the end of the measurement before starting a test through another channel.
- the switch includes a test port consisting of at least two ports; a first level distributor that divides the test port into two; and a second level distributor that redistributes the output of the first level distributor into two to form four expanded test ports.
- all cables connected between the test port and the first level distributor use the same length
- all cables connected between the first level distributor and the second level distributor use the same length
- the first level distributor uses the same length.
- All cables between the two-level distributor and the expansion test port can also be of the same length.
- the controller ensures that the characteristics between the test port and the plurality of expansion test ports are the same, so that the error (gain and phase of the expansion test port) is the same.
- a predetermined calibration can be performed to correct the difference.
- a method of expanding a test instrument for electronic equipment includes a switch control step in which a controller selects one channel among the expansion measurement terminals and switches a switch so that the test port of the test instrument is connected as an expansion test port; A channel setting step in which the controller sets a channel by setting parameters of a test instrument for the selected channel; A measurement step in which the controller controls measurement start, measurement, and end of measurement of the test instrument so that measurement is performed at the extended measurement terminal; and a delay step in which the controller has a predetermined delay time after controlling the end of the measurement and before starting the test through another channel.
- test instrument can measure multiple test samples simultaneously and can be configured to divide and display different characteristics on one screen.
- the controller may receive the screen of the test instrument, divide it, and retransmit the divided screen to the corresponding extended measurement terminal to be displayed on the display of the corresponding extended measurement terminal.
- test instrument expansion device and method for electronic equipment provides a plurality of expanded test ports so that multiple test samples can be measured simultaneously with one test instrument in the field of electronic equipment, thereby reducing the cost and time of testing test samples. It can be reduced.
- test instrument expansion device and method for electronic equipment divides the screen on the display of the test instrument to display test results for a plurality of test samples, while displaying the expansion measurement terminal corresponding to each divided screen. By marking on the screen, multiple users can test test samples simultaneously with one test instrument.
- FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a test instrument expansion device for electronic equipment according to an embodiment of the present invention.
- FIG. 2 is a diagram showing the switch in FIG. 1 in detail.
- Figure 3 is a screen showing measurement results for multiple test samples by dividing the display screen of the test instrument in Figure 1.
- FIG. 4 is a screen showing measurement results of the test sample corresponding to the displays of the first to fourth extended measurement terminals of FIG. 1.
- Figure 5 is a flowchart showing a method of expanding a test instrument for electronic equipment according to an embodiment of the present invention.
- first and second may be used to describe various components, but the components may not be limited by the terms. Terms are intended only to distinguish one component from another. For example, a first component may be referred to as a second component, and similarly, the second component may be referred to as a first component without departing from the scope of the present invention.
- Figure 1 is a schematic configuration diagram of a test instrument expansion device for electronic equipment according to an embodiment of the present invention
- Figures 2 to 4 are detailed drawings for explaining Figure 1 in detail.
- test instrument expansion device for electronic equipment according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 4.
- the test instrument expansion device for electronic equipment includes a switch 200 for selecting and switching one channel of the expansion test ports for the test port of the test instrument, a plurality of Test samples (100) can be measured at the same time and the measurement results of different test samples can be divided and displayed on one display screen. Tests on test samples (500) are performed using the expanded test port. It consists of an extended measurement terminal 400 that displays the results, and a controller 300 that controls the switch 200, the test instrument 100, and the extended measurement terminal 400.
- the controller 300 can control the switch 200, the test measuring device 100, and the extended measuring terminal 400 so that at least one of the extended measuring terminals 400 is operated.
- the controller 300 selects any one channel of the expansion measurement terminal 400, switches the switch 200 so that the test port of the test instrument 100 is connected as an expansion test port, and switches the test instrument 100 for the selected channel. ) Set the channel by setting the parameters.
- the controller 300 transmits a measurement start command to the test instrument 100 so that the expansion measurement terminal 400 can measure, and when the measurement by the test instrument 100 is completed, a measurement end command is sent to the test instrument 100. can be transmitted to ensure that there is sufficient delay time before testing through other channels begins.
- the test instrument 100 can simultaneously measure a plurality of test samples 500, that is, the first test sample 510 to the fourth test sample 540, and can also display different characteristics on one screen. It is designed so that it can be divided and displayed at the same time.
- the controller 300 receives the screen of the test instrument 100 and divides it to display the extended measurement terminal 400 that is testing the test sample 500. ), the corresponding split screen can be retransmitted and displayed on the display of the extended measurement terminal 400.
- controller 300 divides the screen of the test instrument 100 and retransmits the test sample 500 to the expanded measurement terminal 400 being tested to be displayed will be described in detail in FIGS. 3 and 4.
- FIG. 2 is a diagram showing the switch 200 of FIG. 1 in detail.
- the switch 200 of the present invention includes a test port 230 consisting of at least two ports, a first level distributor 250 that distributes the test port 230 into two, and a first level distributor 250 that divides the test port 230 into two. It includes a second level distributor 260 that redistributes the output of the level distributor 250 into two to form four expanded test ports 240.
- the test port 230 consists of two ports (A, B). At this time, in order to expand the test instrument 100 to be used by four users, the test port 230 is connected to port (A). ,B) Distribution is 4 per party.
- the present invention includes a first port distributor 210 that distributes one port (A) into four and a second port distributor 220 that distributes one port (B) into four.
- the first port distributor 210 performs 2 distribution using the first level 2 splitter 211 in order to distribute the port (A) into 4, and the output of the first level 2 splitter 211 is divided into 2 levels respectively. Two distributions are performed using two splitters (212, 213), and through this, a total of four ports (A) are distributed.
- the second port splitter 220 also performs 2 distribution using the first level 2 splitter 221 in order to distribute the port (B) into 4, and the output of the first level 2 splitter 221 is divided into 4, respectively.
- 2 distribution is performed using 2 level 2 splitters (222, 223), through which a total of 4 ports (B) are distributed.
- the first expansion port 241 is composed of one of the final outputs of the first port distributor 210 and one of the final outputs of the second port distributor 220, and similarly, the second expansion ports 242 to The fourth expansion port 244 is formed of either one of the final outputs of the first port distributor 210 and one of the final outputs of the second port distributor 220 in the same manner as described above.
- all cables connected between the test port 230 and the first level distributor 250 use the same length
- all cables connected between the first level distributor 250 and the second level distributor 260 use the same length
- all cables between the second level distributor 260 and the expansion test port 240 also use the same length, so that all characteristics of the expansion test port 240 can be made the same.
- the expansion test port 240, the first expansion port 241 to the fourth expansion port 244 also use the same length, so that all expansion test ports 240 have the same characteristics. can do.
- the cables between the test port 230 and the plurality of expansion test ports 240 may use different lengths.
- the test port 230 and the plurality of expansion test ports 240 A predetermined calibration can be performed in the controller 300 to correct the error (difference between gain and phase) for each expansion test port 240 so that the characteristics of the test ports 240 are the same.
- the gain and phase characteristics between the test port 230 and the first expansion port 241 are different.
- the controller 300 performs calibration so that the gain and phase characteristics of the test port 230 and the first expansion port 241 are changed to the gain and phase characteristics of the test port 230 and the second expansion port 242.
- the gain and phase characteristics of the test port 230 and the third expansion port 243, and the gain and phase characteristics of the test port 230 and the fourth expansion port 244 can be made to be the same. .
- FIG. 3 is a screen showing measurement results for a plurality of test samples 500 by dividing the display screen 110 of the test instrument 100 of FIG. 1.
- the test instrument 100 can simultaneously measure a plurality of test samples 500, that is, the first test samples 510 to the fourth test samples 540.
- test instrument 100 can divide and display four different characteristics simultaneously on one screen, and Figure 3 shows an example of measuring the first test sample 510 and displaying the measurement results on a four-split screen. This indicates the status indicated in the upper right corner of .
- the controller 300 uses a remote monitoring function for the test instrument 100 to display the screen 110 of the test instrument 100 on the controller 300, and through this, the present invention provides a separate It has the advantage of being able to acquire data to be displayed simply in real time without a protocol.
- FIG. 4 is a screen showing measurement results for each corresponding test sample 500 on the displays of the first to fourth extended measurement terminals 410 to 440 of FIG. 1 .
- the controller 300 of the present invention divides the screen obtained from the test measuring device 100 into four, and displays the first extended measurement terminal 410, the second extended measurement terminal 420, and the third extended measurement terminal 410. Screen data corresponding to the extended measurement terminal 430 and the fourth extended measurement terminal 440 are divided and transmitted.
- Expanded measurement terminal display 431, and the fourth expanded measurement terminal display 441 of the fourth expanded measurement terminal 440, each of the measurements in the first extended measurement terminal 410 to the fourth extended measurement terminal 440 The measurement results of the test sample 500 being tested may be displayed differently.
- the present invention can achieve the same effect as if the first extended measurement terminal 410 to the fourth extended measurement terminal 440 each use a separate test measuring device.
- Figure 5 is a flowchart showing a method of expanding a test instrument for electronic equipment according to an embodiment of the present invention.
- the controller 300 selects any one channel of the expansion measurement terminal 400 so that the test port of the test instrument 100 is an expansion test port.
- the present invention can measure multiple test samples (500) simultaneously with one test instrument (100).
- the test instrument 100 can be configured to divide and display different characteristics simultaneously on one display screen, and the controller 300 uses a remote monitoring function for the test instrument 100.
- the controller 300 uses a remote monitoring function for the test instrument 100.
- the controller 300 of the present invention divides the screen obtained from the test measuring device 100 into a first extended measurement terminal 410, a second extended measurement terminal 420, a third extended measurement terminal 430, and Screen data corresponding to the fourth extended measurement terminal 440 can be transmitted in segments.
- the test instrument expansion device and method for electronic equipment provides a plurality of expanded test ports so that multiple test samples can be measured simultaneously with one test instrument in the electronic equipment field, thereby reducing the test sample cost. and time can be reduced, and by dividing the screen on the display of the test instrument to display test results for multiple test samples, respectively, and displaying each divided screen on the display of the corresponding expansion measurement terminal, With the test instrument, multiple users can test test samples at the same time.
- the present invention relates to an apparatus and method for expanding a test instrument for electronic equipment, and can be used in the field of a test instrument for electronic equipment.
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Abstract
본 발명은 전자장비 분야에서 하나의 시험계측기로 다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있도록 다수의 확장된 시험포트를 제공하는 것으로서, 본 발명에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 장치는 시험계측기의 시험포트에 대해 확장 시험포트 중 어느 하나의 채널을 선택하여 스위칭하는 스위치, 다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있으며, 하나의 디스플레이 화면에 서로 다른 시험시료의 측정 결과를 분할하여 표시할 수 있도록 이루어져 있는 시험계측기, 상기 확장 시험포트로 시험시료에 대한 시험을 수행하고 그 결과를 디스플레이 하는 확장 계측단말, 및 상기 스위치, 상기 시험계측기, 및 상기 확장 계측단말을 제어하는 제어기로 이루어진다.
Description
본 발명은 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법에 관한 것으로서, 상세하게는, 전자장비 분야에서 하나의 시험계측기로 다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있도록 다수의 확장된 시험포트를 제공하는 것이다.
통상적으로 RF 시스템을 생산하기 위해 여러 대의 계측기를 사용하고 이를 자동으로 운용하기도 한다. 자동시험장비(Automated Test Equipment; ATE)와 같은 자동화 시험장비는 다양한 종류의 회로 조립체로 이루어진 전자장비의 기능 및 성능을 운용자의 개입을 최소화하여 자동으로 시험하고, 내부 구성품 중 고장품목을 식별하는 장비이다.
이러한 자동화 시험장비는 다수의 장비가 하나의 ICA(Inter Connect Adapter)를 기준으로 내부 시험자원(계측기 등)과 전기적 인터페이스로 연결되어 순차적으로 시험을 진행하게 되며, 이로 인해 여러 시험대상을 동시에 시험하는 것을 불가능하다.
즉, 기존의 자동화 시험장비는 한번에 하나의 시험장치만 시험이 가능하기 때문에, 복잡한 전자장비의 경우에는 다양한 계측기가 요구되고 시험대상 입출력 포트가 많아 시험시간이 길게 소요되는 문제점이 있다.
또한, 기존의 자동화 시험장비는 특정 시험대상에 최적화하여 장비 개발이 이루어지기 때문에, 추가적인 시험대상을 위한 확장성이 부족한 문제점이 있어 이에 대한 연구가 지속되어 왔다.
그 일례로, 공개특허공보 제10-2010-0058149호에서는 계측기와 메인 컨트롤러 사이에 통신 프로토콜을 이용한 직접 통신을 하지 않고 메모리를 공유하는 병렬 방식의 통신을 수행함으로써, 통신시 소요되는 자원을 줄이고 데이터를 매우 빠르게 전송할 수 있으며, 특히 계측기 및 메인 컨트롤러의 CPU 자원을 다른 처리에 할당할 수 있는 모듈형 계측기 통합 시스템을 제안하였다.
그러나 이 경우에도 한번에 하나의 시험장치만 사용할 수 있어 시험 비용과 시간이 과다하게 소요되는 문제점이 있다.
본 발명의 목적은, 전자장비 분야에서 하나의 시험계측기로 다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있도록 다수의 확장된 시험포트를 제공함으로써, 시험시료의 시험 비용 및 시간을 저감할 수 있는 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법을 제공하는 것이다.
본 발명은 시험계측기의 디스플레이 상의 화면을 분할하여 다수의 시험시료에 대한 시험 결과를 각각 디스플레이 하는 한편, 분할된 각 화면을 대응하는 확장 계측단말의 개별 디스플레이 상에 표시함으로써, 하나의 시험계측기로 다수의 사용자가 동시에 시험시료를 시험할 수 있는 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법을 제공하는데 또 다른 목적이 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 장치는 다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있으며, 시험계측기의 시험포트에 대해 확장 시험포트 중 어느 하나의 채널을 선택하여 스위칭하는 스위치; 다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있으며, 하나의 디스플레이 화면에 서로 다른 시험시료의 측정 결과를 분할하여 표시할 수 있도록 이루어져 있는 시험계측기; 상기 확장 시험포트로 시험시료에 대한 시험을 수행하고 그 결과를 디스플레이 하는 확장 계측단말; 및 상기 스위치, 상기 시험계측기, 및 상기 확장 계측단말을 제어하는 제어기;를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 제어기는, 상기 확장 계측단말 중 적어도 어느 하나가 운용 되도록 상기 스위치, 상기 시험계측기, 및 상기 확장 계측단말을 제어할 수 있다.
또한, 상기 제어기는, 상기 확장 계측단말 중 어느 하나의 채널로 상기 시험계측기의 시험포트가 확장 시험포트로서 연결되도록 상기 스위치를 스위칭할 수 있다.
또한, 상기 제어기는, 선택된 채널에 대해 상기 시험계측기의 파라미터를 설정하여 채널을 설정할 수 있다.
또한, 상기 제어기는, 상기 확장 계측단말에서 측정이 이루어지도록 상기 시험계측기의 측정시작, 측정, 및 측정종료를 제어할 수 있다.
한편, 상기 제어기는, 상기 시험계측기의 화면을 전송받고 이를 분할해 대응하는 확장 계측단말로 분할된 화면을 재전송하여 상기 대응하는 확장 계측단말의 디스플레이에 표시되도록 할 수 있다.
또한, 상기 제어기는, 상기 측정종료를 제어한 후 다른 채널을 통한 시험 개시 전에 소정의 지연 시간을 갖도록 할 수 있다.
한편, 상기 스위치는, 적어도 두 개의 포트로 이루어진 시험포트; 상기 시험포트를 2개로 분배하는 제1 레벨 분배기; 및 상기 제1 레벨 분배기의 출력을 2개로 재분배하여 4개의 확장 시험포트를 형성하는 제2 레벨 분배기;를 포함할 수 있다.
또한, 상기 시험포트와 상기 제1 레벨 분배기 간에 연결되는 모든 케이블은 서로 동일한 길이를 사용하고, 상기 제1 레벨 분배기와 상기 제2 레벨 분배기 간에 연결되는 모든 케이블은 서로 동일한 길이를 사용하고, 상기 제2 레벨 분배기와 상기 확장 시험포트 간의 모든 케이블도 서로 동일한 길이를 사용할 수 있다.
한편, 상기 제어기는, 시험포트와 다수의 상기 확장 시험포트 간 케이블이 서로 상이한 길이를 사용할 경우 상기 시험포트와 다수의 상기 확장 시험포트 간 특성이 동일하도록 상기 확장 시험포트 별 오차(이득과 위상의 차)를 보정하기 위한 소정의 캘리브레이션을 수행할 수 있다.
한편, 본 발명의 다른 실시예에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 방법은 제어기가 확장 계측단말 중 어느 하나의 채널을 선택하여 시험계측기의 시험포트가 확장 시험포트로서 연결되도록 스위치를 스위칭하는 스위치 제어 단계; 상기 제어기가 선택된 채널에 대해 시험계측기의 파라미터를 설정하여 채널을 설정하는 채널 설정 단계; 상기 확장 계측단말에서 측정이 이루어지도록 상기 제어기가 상기 시험계측기의 측정시작, 측정, 및 측정종료를 제어하는 측정 단계; 및 상기 제어기가 상기 측정종료를 제어한 후 다른 채널을 통한 시험 개시 전에 소정의 지연 시간을 갖는 지연 단계;를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 시험계측기는, 다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있으며, 하나의 화면에 서로 다른 특성을 분할하여 표시할 수 있도록 이루어져 있을 수 있다.
이때, 상기 측정 단계에서, 상기 제어기는 상기 시험계측기의 화면을 전송받고 이를 분할해 대응하는 확장 계측단말로 분할된 화면을 재전송하여 상기 대응하는 확장 계측단말의 디스플레이에 표시되도록 할 수 있다.
본 발명에 의한 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법은 전자장비 분야에서 하나의 시험계측기로 다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있도록 다수의 확장된 시험포트를 제공함으로써, 시험시료의 시험 비용 및 시간을 저감할 수 있다.
또한, 본 발명에 의한 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법은 시험계측기의 디스플레이 상의 화면을 분할하여 다수의 시험시료에 대한 시험 결과를 각각 디스플레이 하는 한편, 분할된 각 화면을 대응하는 확장 계측단말의 디스플레이 상에 표시함으로써, 하나의 시험계측기로 다수의 사용자가 동시에 시험시료를 시험할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 장치의 개략 구성도이다.
도 2는 도 1에서의 스위치를 상세히 나타낸 도면이다.
도 3은 도 1에서의 시험계측기의 디스플레이 화면을 분할하여 다수의 시험시료에 대한 측정 결과를 나타낸 화면이다.
도 4는 도 1의 제1 확장 계측단말 내지 제4 확장 계측단말의 디스플레이에 대응하는 해당 시험시료의 측정 결과를 나타낸 화면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 방법을 나타낸 순서도이다.
이하, 본 발명의 실시를 위한 구체적인 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 설명한다.
본 발명을 설명함에 있어서 제 1, 제 2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 구성요소들은 용어들에 의해 한정되지 않을 수 있다. 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제 1 구성요소는 제 2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제 2 구성요소도 제 1 구성요소로 명명될 수 있다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 연결되어 있다거나 접속되어 있다고 언급되는 경우는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해될 수 있다.
본 명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함할 수 있다.
본 명세서에서, 포함하다 또는 구비하다 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것으로서, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해될 수 있다.
또한, 도면에서의 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법에 대해 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 장치의 개략 구성도이며, 도 2 내지 도 4는 도 1을 상세히 설명하기 위한 세부 도면 이다.
이하, 도 1 내지 도 4를 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 장치를 설명한다.
먼저, 도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 장치는 시험계측기의 시험포트에 대해 확장 시험포트 중 어느 하나의 채널을 선택하여 스위칭하는 스위치(200), 다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있으며, 하나의 디스플레이 화면에 서로 다른 시험시료의 측정 결과를 분할하여 표시할 수 있도록 이루어져 있는 시험계측기(100), 확장 시험포트로 시험시료(500)에 대한 시험을 수행하고 그 결과를 디스플레이 하는 확장 계측단말(400), 및 스위치(200), 시험계측기(100), 및 확장 계측단말(400)를 제어하는 제어기(300)로 이루어진다.
여기서, 제어기(300)는 확장 계측단말(400) 중 적어도 어느 하나가 운용 되도록 스위치(200), 시험계측기(100), 및 확장 계측단말(400)을 제어할 수 있다.
제어기(300)는 확장 계측단말(400) 중 어느 하나의 채널을 선택하여 시험계측기(100)의 시험포트가 확장 시험포트로서 연결되도록 스위치(200)를 스위칭하고, 선택된 채널에 대해 시험계측기(100)의 파라미터를 설정하여 채널을 설정한다.
또한, 제어기(300)는 확장 계측단말(400)에서 측정할 수 있도록 시험계측기(100)로 측정시작 명령을 전송하고, 시험계측기(100)에 의한 측정이 끝나면 시험계측기(100)로 측정종료 명령을 전송하여 다른 채널을 통한 시험이 개시되기 전에 충분한 지연 시간을 갖도록 할 수 있다.
한편, 본 발명에서는 시험계측기(100)가 다수의 시험시료(500), 즉 제1 시험시료(510) 내지 제4 시험시료(540)를 동시에 측정할 수 있으며, 또한 하나의 화면에 서로 다른 특성을 동시에 분할하여 표시할 수 있도록 이루어져 있다.
이때, 제어기(300)는 시험계측기(100)에 의해 시험시료(500)를 시험 시, 시험계측기(100)의 화면을 전송받고 이를 분할하여 시험시료(500)를 시험하고 있는 확장 계측단말(400)로 대응하는 분할 화면을 재전송하여 확장 계측단말(400)의 디스플레이에 표시되도록 할 수 있다.
상기한 제어기(300)가 시험계측기(100)의 화면을 분할하여 시험시료(500)를 시험하고 있는 확장 계측단말(400)로 재전송하여 표시되도록 하는 것에 대해서는 도 3 및 도 4 에서 상세히 설명한다.
도 2는 도 1의 스위치(200)를 상세히 나타낸 도면이다. 도 2에서 볼 수 있는 바와 같이, 본 발명의 스위치(200)는 적어도 두 개의 포트로 이루어진 시험포트(230), 시험포트(230)를 2개로 분배하는 제1 레벨 분배기(250), 및 제1 레벨 분배기(250)의 출력을 2개로 재분배하여 4개의 확장 시험포트(240)를 형성하는 제2 레벨 분배기(260)를 포함한다.
즉, 본 발명에서 시험포트(230)는 두개의 포트(A,B)로 이루어지며, 이때 4 곳의 사용자에게 시험계측기(100)를 사용할 수 있도록 확장하기 위해 시험포트(230)를 포트(A,B) 당 4분배를 한다.
이를 위해, 본 발명에서는 포트(A)를 4분배하는 제1 포트 분배기(210) 및 다른 하나의 포트(B)를 4분배하는 제2 포트 분배기(220)를 구비한다.
제1 포트 분배기(210)는 포트(A)를 4분배하기 위하여 제1 레벨 2분배기(211)를 사용하여 2분배를 수행하고, 제1 레벨 2분배기(211)의 출력에 대해 각각 제2 레벨 2분배기(212,213)를 사용하여 2분배를 수행하며, 이를 통해 포트(A)는 총 4분배된다.
이와 마찬가지로 제2 포트 분배기(220)도 포트(B)를 4분배하기 위하여 제1 레벨 2분배기(221)를 사용하여 2분배를 수행하고, 제1 레벨 2분배기(221)의 출력에 대해 각각 제2 레벨 2분배기(222,223)를 사용하여 2분배를 수행하며, 이를 통해 포트(B)는 총 4분배된다.
따라서, 제1 확장포트(241)는 제1 포트 분배기(210)의 최종 출력 중 어느 하나와 제2 포트 분배기(220)의 최종 출력 중 어느 하나로 이루어지고, 이와 마찬가지로 제2 확장포트(242) 내지 제4 확장포트(244)도 상술한 바와 동일한 방법으로 제1 포트 분배기(210)의 최종 출력 중 어느 하나와 제2 포트 분배기(220)의 최종 출력 중 어느 하나로 이루어진다.
한편, 본 발명에서는 시험포트(230)와 제1 레벨 분배기(250) 간에 연결되는 모든 케이블은 서로 동일한 길이를 사용하고, 제1 레벨 분배기(250)와 제2 레벨 분배기(260) 간에 연결되는 모든 케이블은 서로 동일한 길이를 사용하고, 제2 레벨 분배기(260)와 확장 시험포트(240) 간의 모든 케이블도 서로 동일한 길이를 사용함으로써, 확장 시험포트(240)의 모든 특성을 동일하게 할 수 있다.
즉, 시험포트(230)와 제1 레벨 분배기(250)인 제1 레벨 2분배기(211,221) 간 구성되는 두 개의 케이블은 서로 동일한 길이를 사용하고, 제1 레벨 분배기(250)인 제1 레벨 2분배기(211,221)와 제2 레벨 분배기(260)인 제2 레벨 2분배기(212,213,222,223) 간 구성되는 4개의 케이블도 서로 동일한 길이를 사용하고, 제2 레벨 분배기(260)인 제2 레벨 2분배기(212,213,222,223)와 확장 시험포트(240)인 제1 확장포트(241) 내지 제4 확장포트(244) 간 구성되는 8개의 케이블도 서로 동일한 길이를 사용함으로써, 모든 확장 시험포트(240)가 동일한 특성을 갖도록 할 수 있다.
한편, 구현예에 따라서 시험포트(230)와 다수의 상기 확장 시험포트(240) 간 케이블이 서로 상이한 길이를 사용할 수도 있으며, 이 경우 상기 시험포트(230)와 다수의 상기 확장 시험포트(240) 간 특성이 동일하도록 상기 확장 시험포트(240) 별 오차(이득과 위상의 차)를 보정하기 위한 소정의 캘리브레이션을 제어기(300)에서 수행할 수 있다.
일예로, 시험포트(230)와 제1 확장포트(241)까지 상이한 길이의 케이블을 사용하게 되어 시험포트(230)와 제1 확장포트(241)까지의 이득과 위상의 특성이 달라지더라도, 제어기(300)는 캘리브레이션을 수행하여 시험포트(230)와 제1 확장포트(241)까지의 이득과 위상의 특성이 시험포트(230)와 제2 확장포트(242)까지의 이득과 위상의 특성, 시험포트(230)와 제3 확장포트(243)까지의 이득과 위상의 특성, 및 시험포트(230)와 제4 확장포트(244)까지의 이득과 위상의 특성과 동일하게 되도록 할 수 있다.
도 3은 도 1의 시험계측기(100)에서 디스플레이 화면(110)을 분할하여 다수의 시험시료(500)에 대한 측정 결과를 나타내는 화면이다.
도 3에서 알 수 있는 바와 같이, 본 발명에서는 시험계측기(100)가 다수의 시험시료(500), 즉 제1 시험시료(510) 내지 제4 시험시료(540)를 동시에 측정할 수 있다.
또한, 시험계측기(100)는 하나의 화면에 서로 다른 특성 4개를 동시에 분할하여 표시할 수 있으며, 도 3은 그 일예로 제1 시험시료(510)를 측정하고 그 측정 결과를 4 분할된 화면의 우상단에 표시한 상태를 나타낸 것이다.
한편, 표시되는 특성데이터를 시험계측기(100)로 수신하기 위해 통상적으로 각 특성에 대해 프로토콜을 사용하게 되는데, 이러한 방식은 실시간으로 수행하기에는 속도가 느린 단점이 있다.
따라서, 본 발명에서는 제어기(300)가 시험계측기(100)에 대해 원격모니터링 기능을 사용해 시험계측기(100)의 화면(110)이 제어기(300)에 그대로 표시되게 하며, 이를 통해 본 발명은 별도의 프로토콜 없이 간단히 표시할 데이터를 실시간으로 획득할 수 있는 장점이 있다.
도 4는 도 1의 제1 확장 계측단말(410) 내지 제4 확장 계측단말(440)의 디스플레이에서 각각의 해당 시험시료(500)에 대한 측정 결과를 나타낸 화면이다.
도 4에서 볼 수 있는 바와 같이, 본 발명의 제어기(300)는 시험계측기(100)에서 획득한 화면을 4 분할하여 제1 확장 계측단말(410), 제2 확장 계측단말(420), 제3 확장 계측단말(430), 및 제4 확장 계측단말(440)에 해당되는 화면 데이터를 분할 전송한다.
따라서, 제1 확장 계측단말(410)의 제1 확장 계측단말 디스플레이(411), 제2 확장 계측단말(420)의 제2 확장 계측단말 디스플레이(421), 제3 확장 계측단말(430)의 제3 확장 계측단말 디스플레이(431), 및 제4 확장 계측단말(440)의 제4 확장 계측단말 디스플레이(441)에는, 제1 확장 계측단말(410) 내지 제4 확장 계측단말(440)에서 각각 측정하고 있는 시험시료(500)의 측정 결과가 서로 다르게 표시될 수 있다.
이를 통해, 본 발명은 제1 확장 계측단말(410) 내지 제4 확장 계측단말(440)이 각각 별도의 시험계측기를 사용하고 있는 것과 같은 효과를 얻을 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 방법을 나타낸 순서도이다.
도 5에서 알 수 있는 바와 같이, 본 발명의 전자장비용 시험계측기 확장 방법은 제어기(300)가 확장 계측단말(400) 중 어느 하나의 채널을 선택하여 시험계측기(100)의 시험포트가 확장 시험포트로 연결되도록 스위치(200)를 스위칭하는 스위치 제어 단계(S100), 제어기(300)가 선택된 채널에 대해 시험계측기(100)의 파라미터를 설정하여 채널을 설정하는 채널 설정 단계(S200), 확장 계측단말(400)에서 측정이 이루어지도록 제어기(300)가 시험계측기(100)의 측정시작, 측정, 및 측정종료를 제어하는 측정 단계(S300), 및 제어기(300)가 측정종료를 제어한 후 다른 채널을 통한 시험 개시 전에 소정의 지연 시간을 갖는 지연 단계(S400)를 포함한다.
본 발명은 이를 통해 하나의 시험계측기(100)로 다수의 시험시료(500)를 동시에 측정할 수 있다.
이때, 시험계측기(100)는 하나의 디스플레이 화면에 서로 다른 특성을 동시에 분할해 표시하도록 이루어질 수 있으며, 또한 제어기(300)는 시험계측기(100)에 대해 원격모니터링 기능을 사용해 시험계측기(100)의 화면이 제어기(300)에 그대로 표시되게 함으로써, 별도의 프로토콜 없이 간단히 표시할 데이터를 실시간으로 획득할 수 있다.
또한, 본 발명의 제어기(300)는 시험계측기(100)에서 획득한 화면을 분할하여 제1 확장 계측단말(410), 제2 확장 계측단말(420), 제3 확장 계측단말(430), 및 제4 확장 계측단말(440)에 해당되는 화면 데이터를 분할 전송할 수 있다.
따라서, 제1 확장 계측단말(410)의 제1 확장 계측단말 디스플레이(411), 제2 확장 계측단말(420)의 제2 확장 계측단말 디스플레이(421), 제3 확장 계측단말(430)의 제3 확장 계측단말 디스플레이(431), 및 제4 확장 계측단말(440)의 제4 확장 계측단말 디스플레이(441)에는, 제1 확장 계측단말(410) 내지 제4 확장 계측단말(440)에서 각각 측정하고 있는 시험시료(500)들의 측정 결과가 표시될 수 있어, 제1 확장 계측단말(410) 내지 제4 확장 계측단말(440)마다 별도의 시험계측기를 사용하고 있는 것과 같은 효과를 얻을 수 있다.
이상과 같이 본 발명에 따른 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법은 전자장비 분야에서 하나의 시험계측기로 다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있도록 다수의 확장된 시험포트를 제공함으로써, 시험시료의 시험 비용 및 시간을 저감할 수 있고, 또한 시험계측기의 디스플레이 상의 화면을 분할하여 다수의 시험시료에 대한 시험 결과를 각각 디스플레이 하는 한편, 분할된 각 화면을 대응하는 확장 계측단말의 디스플레이 상에 표시함으로써, 하나의 시험계측기로 다수의 사용자가 동시에 시험시료를 시험할 수 있다.
상술한 것은 하나 이상의 실시예의 실례를 포함한다. 물론, 상술한 실시예들을 설명할 목적으로 컴포넌트들 또는 방법들의 가능한 모든 조합을 기술할 수 있는 것이 아니라, 당업자들은 다양한 실시예의 많은 추가 조합 및 치환할 수 있음을 인식할 수 있다. 따라서 설명한 실시예들은 첨부된 청구범위의 진의 및 범위 내에 있는 모든 대안, 변형 및 개조를 포함하는 것이다.
본 발명은 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법에 관한 것으로서, 전자장비용 시험계측기 분야에 이용가능 하다.
Claims (13)
- 시험계측기의 시험포트에 대해 확장 시험포트 중 어느 하나의 채널을 선택하여 스위칭하는 스위치;다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있으며, 하나의 디스플레이 화면에 서로 다른 시험시료의 측정 결과를 분할하여 표시할 수 있도록 이루어져 있는 상기 시험계측기;상기 확장 시험포트로 상기 시험시료에 대한 시험을 수행하고 그 결과를 디스플레이 하는 확장 계측단말; 및상기 스위치, 상기 시험계측기, 및 상기 확장 계측단말을 제어하는 제어기;를 포함하는 전자장비용 시험계측기 확장 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 제어기는,상기 확장 계측단말 중 적어도 어느 하나가 운용 되도록 상기 스위치, 상기 시험계측기, 및 상기 확장 계측단말을 제어하는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 제어기는,상기 확장 계측단말 중 어느 하나의 채널을 선택하여 상기 시험계측기의 시험포트가 확장 시험포트로서 연결되도록 상기 스위치를 스위칭하는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 장치.
- 제 3항에 있어서,상기 제어기는,선택된 채널에 대해 상기 시험계측기의 파라미터를 설정하여 채널을 설정하는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 장치.
- 제 4항에 있어서,상기 제어기는,상기 확장 계측단말에서 측정이 이루어지도록 상기 시험계측기의 측정시작, 측정, 및 측정종료를 제어하는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 장치.
- 제 5항에 있어서,상기 제어기는,상기 시험계측기의 화면을 전송받고 이를 분할해 대응하는 확장 계측단말로 분할된 화면을 재전송하여 상기 대응하는 확장 계측단말의 디스플레이에 표시되도록 하는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 장치.
- 제 5항에 있어서,상기 제어기는,상기 측정종료를 제어한 후 다른 채널을 통한 시험 개시 전에 소정의 지연 시간을 갖는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 스위치는,적어도 두 개의 포트로 이루어진 시험포트;상기 시험포트를 2개로 분배하는 제1 레벨 분배기; 및상기 제1 레벨 분배기의 출력을 2개로 재분배하여 4개의 확장 시험포트를 형성하는 제2 레벨 분배기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 장치.
- 제 8항에 있어서,상기 시험포트와 상기 제1 레벨 분배기 간에 연결되는 모든 케이블은 서로 동일한 길이를 사용하고, 상기 제1 레벨 분배기와 상기 제2 레벨 분배기 간에 연결되는 모든 케이블은 서로 동일한 길이를 사용하고, 상기 제2 레벨 분배기와 상기 확장 시험포트 간의 모든 케이블도 서로 동일한 길이를 사용하는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 장치.
- 제 8항에 있어서,상기 제어기는,상기 시험포트와 다수의 상기 확장 시험포트 간 케이블이 서로 상이한 길이를 사용할 경우 상기 시험포트와 다수의 상기 확장 시험포트 간 특성이 동일하도록 상기 확장 시험포트 별 오차(이득과 위상의 차)를 보정하기 위한 소정의 캘리브레이션을 수행하는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 장치.
- 제어기가 확장 계측단말 중 어느 하나의 채널을 선택하여 시험계측기의 시험포트가 확장 시험포트로서 연결되도록 스위치를 스위칭하는 스위치 제어 단계;상기 제어기가 선택된 채널에 대해 상기 시험계측기의 파라미터를 설정하여 채널을 설정하는 채널 설정 단계;상기 확장 계측단말에서 측정이 이루어지도록 상기 제어기가 상기 시험계측기의 측정시작, 측정, 및 측정종료를 제어하는 측정 단계; 및상기 제어기가 상기 측정종료를 제어한 후 다른 채널을 통한 시험 개시 전에 소정의 지연 시간을 갖는 지연 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 방법.
- 제 11항에 있어서,상기 시험계측기는,다수의 시험시료를 동시에 측정할 수 있으며, 하나의 화면에 서로 다른 특성을 분할하여 표시할 수 있도록 이루어져 있는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 방법.
- 제 12항에 있어서,상기 측정 단계에서,상기 제어기는 상기 시험계측기의 화면을 전송받고 이를 분할해 대응하는 확장 계측단말로 분할된 화면을 재전송하여 상기 대응하는 확장 계측단말의 디스플레이에 표시되도록 하는 것을 특징으로 하는 전자장비용 시험계측기 확장 방법.
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Families Citing this family (1)
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Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20170130250A (ko) * | 2016-05-18 | 2017-11-28 | (주) 에스에스피 | 반도체설비용 디스플레이의 인터페이스 자동 변환 방법 |
KR20180060675A (ko) * | 2016-11-29 | 2018-06-07 | 국방과학연구소 | 전자장비 입출력신호 및 sw 성능 시험 장치 및 방법 |
KR20180084380A (ko) * | 2017-01-17 | 2018-07-25 | 한국항공우주산업 주식회사 | 다중 시험대상체 동시시험을 위한 자동시험장비의 운용 시스템 |
KR20190009148A (ko) * | 2017-07-18 | 2019-01-28 | 한화시스템 주식회사 | 분석 장치 |
KR20200055269A (ko) * | 2018-11-13 | 2020-05-21 | 한국전기연구원 | 복수 신호의 위상차 측정 시스템 및 방법 |
KR102483371B1 (ko) * | 2022-12-01 | 2022-12-30 | (주)이랑텍 | 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4507740A (en) * | 1981-09-08 | 1985-03-26 | Grumman Aerospace Corporation | Programmable signal analyzer |
US6263290B1 (en) * | 1995-02-22 | 2001-07-17 | Michael K. Williams | Process and machine for signal waveform analysis |
KR100219392B1 (ko) * | 1997-04-30 | 1999-09-01 | 전주범 | 기능 검사가 가능한 범용 계측기 |
US5939877A (en) * | 1997-05-27 | 1999-08-17 | Hewlett-Packard Company | Graphical system and method for automatically scaling waveforms in a signal measurement system |
US7913002B2 (en) * | 2004-08-20 | 2011-03-22 | Advantest Corporation | Test apparatus, configuration method, and device interface |
KR101033160B1 (ko) | 2008-11-24 | 2011-05-11 | (주)둔포기계 | 수직형 기판 이송장치 |
US20110060540A1 (en) * | 2009-09-04 | 2011-03-10 | Tektronix, Inc. | Test and Measurement Instrument and Method For Providing Post-Acquisition Trigger Control and Presentation |
KR101984874B1 (ko) * | 2012-05-23 | 2019-05-31 | 에스케이플래닛 주식회사 | 사용자단말과 외부장치 간 연결 시스템 및 방법 |
CN105334364B (zh) * | 2014-08-04 | 2020-04-14 | 特克特朗尼克公司 | 具有状态的串行比特流正则表达式 |
US9651579B2 (en) * | 2014-09-12 | 2017-05-16 | Tektronix, Inc. | Multi-scope control and synchronization system |
KR101785829B1 (ko) * | 2016-02-22 | 2017-10-17 | 호남대학교 산학협력단 | 저전력 광역 통신망을 이용한 ami 원격 모니터링 시스템 |
US10209276B2 (en) * | 2016-08-15 | 2019-02-19 | Tektronix, Inc. | Jitter and eye contour at BER measurements after DFE |
-
2022
- 2022-12-01 KR KR1020220166159A patent/KR102483371B1/ko active IP Right Grant
-
2023
- 2023-03-13 WO PCT/KR2023/003342 patent/WO2024117390A1/ko unknown
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20170130250A (ko) * | 2016-05-18 | 2017-11-28 | (주) 에스에스피 | 반도체설비용 디스플레이의 인터페이스 자동 변환 방법 |
KR20180060675A (ko) * | 2016-11-29 | 2018-06-07 | 국방과학연구소 | 전자장비 입출력신호 및 sw 성능 시험 장치 및 방법 |
KR20180084380A (ko) * | 2017-01-17 | 2018-07-25 | 한국항공우주산업 주식회사 | 다중 시험대상체 동시시험을 위한 자동시험장비의 운용 시스템 |
KR20190009148A (ko) * | 2017-07-18 | 2019-01-28 | 한화시스템 주식회사 | 분석 장치 |
KR20200055269A (ko) * | 2018-11-13 | 2020-05-21 | 한국전기연구원 | 복수 신호의 위상차 측정 시스템 및 방법 |
KR102483371B1 (ko) * | 2022-12-01 | 2022-12-30 | (주)이랑텍 | 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법 |
Also Published As
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KR102483371B9 (ko) | 2024-02-08 |
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