CN100420956C - 多个测试端口的快速校准方法 - Google Patents

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Abstract

一种多个测试端口的快速校准方法,将N个相同的校准件同时连接到扩展测试端口1~N上;计算机通过通信接口将矢量网络分析仪设置为M种状态中的一种状态,并控制所述矢量网络分析仪对校准件进行测试,由计算机对获得的测试数据进行存储;重复上述步骤,直至M种状态下的校准件均被测试;计算机接通另一个扩展测试端口,重复上述步骤,直至N个扩展测试端口上的所述校准件测试结束;将N个相同的另一校准件同时连接到扩展后的测试端口1~N上,重复前述步骤,直至全部校准件均测试结束;由所述计算机对按规定地址存储的数据进行整理,形成M*N个误差数组,对应M个状态下的N个扩展测试端口的误差数组。这种方法可以大大缩短操作时间,提高工作效率。

Description

多个测试端口的快速校准方法
技术领域
本发明涉及多个测试端口的快速校准方法,属电缆测试技术领域。
背景技术
在矢量网络分析仪的校准中,必须先设定好分析仪的参数,如频率、功率、带宽等,然后在设置后的状态下测量校准件(如开路、短路、负载和直通校准件)的值,并据此形成一个误差数组。该误差数组存于矢量网络分析仪中。在测试时,测试数据将利用这个误差数组进行误差修正,得到正确的测试数据。如果矢量网络分析仪的任何设置被改变,误差数组将在精确测试中失效。此时,必须在此设置状态下重新进行校准。大多数矢量网络分析仪都有通讯接口,计算机可以通过这个接口控制矢量网络分析仪,从矢量网络分析仪读取或向矢量网络分析仪发送各种数据(包括误差数组)。现有技术中完成一次校准操作,只形成一种设定状态下的误差数组。要改变设置,必须进行另一次校准操作。在某些测试中,可能要求使用多种不同设定状态,此时,必须在每个设定状态下分别进行校准。如果测试端口被扩展的数量较多时,校准操作工作量将非常大。
在矢量网络分析仪的端口扩展应用中,计算机通过通讯接口与矢量网络分析仪进行通信,矢量网络分析仪的测试端口PORT1和测试端口PORT2连接到端口扩展开关上,由计算机通过控制线控制端口扩展开关选择测试通道。假设要在测试端口PORT1扩展后的测试端口1~N上进行M种不同设置状态下的单端口校准操作。矢量网络分析仪的单端口校准是通过分别测试三种校准件并形成误差数组完成的。这三种校准件是:开路校准件、短路校准件、负载校准件。利用传统的方法,在某种设置状态下,对三种校准件进行测试,然后形成误差数组。在此过程中,校准件的连接操作次数为3次。完成N个测试端口的操作次数为3*N次。然后改变设置,重复上述操作,直至M个状态都校准完毕,总操作次数为3*N*M。
发明内容
本发明提供一种多个测试端口的快速校准方法,它能够实现快速完成多项不同设置状态的校准。
为达上述目的,本发明是这样实现的,
一种多个测试端口的快速校准方法,
a)将N个相同的校准件同时连接到扩展测试端口1~N上;
b)计算机通过控制线选择要进行校准的扩展测试端口;
c)计算机通过通信接口将矢量网络分析仪设置为M种状态中的一种状态,并控制所述矢量网络分析仪对校准件进行测试,测试数据通过通信接口被传输到计算机,并由计算机将该数据存于规定的存储器中;
d)计算机改变设置状态,重复步骤c),直至M种状态下的校准件均被测试;
e)计算机通过控制线控制端口扩展开关,使其接通另一个扩展测试端口,重复步骤c)、步骤d),直至N个扩展测试端口上的所述校准件测试结束;
f)将N个相同的另一校准件同时连接到扩展后的测试端口1~N上,重复步骤b)、步骤c)、步骤d)、步骤e),直至全部校准件均测试结束;
g)由所述计算机对按规定地址存储的数据进行整理,形成M*N个误差数组,对应M个状态下的N个扩展测试端口的误差数组。
所述校准件可以为开路校准件、短路校准件、负载校准件和直通校准件中的一种或多种校准件。
上述步骤中,除校准件的连接操作外,其余都由计算机控制下完成,校准件的连接次数为3*N次,是传统方法的1/M。在测试端口扩展数量大,要求设置状态多,且需频繁校准的场合,这种方法可以大大缩短操作时间,提高工作效率。同时,操作次数少,还可减少误操作的发生。
附图说明
图1为多个测试端口的快速校准原理图
标号说明:
1矢量网络分析仪
2测试端口一
3测试端口二
4计算机
5端口扩展开关
6扩展测试端口
7通信接口,
8控制线
具体实施方式
以下结合附图进一步说明本发明。
如图1所示,一种多个测试端口的快速校准方法,其中两个端口扩展开关5与矢量网络分析仪的测试端口一2和测试端口二3相联,该方法包括以下步骤,
1)将N个相同的校准件9同时连接到扩展测试端口6的1~N上;
2)计算机4通过控制线8选择要进行校准的扩展测试端口6;
3)计算机4通过通信接口7将矢量网络分析仪1设置为M种状态中的一种状态,并控制所述矢量网络分析仪1对校准件9进行测试,测试数据通过通信接口7被传输到计算机4,并由计算机4将该数据存于规定的存储器中;
4)计算机4改变设置状态,重复步骤3),直至M种状态下的校准件9均被测试;
5)计算机4通过控制线8控制端口扩展开关5,使其接通另一个扩展测试端口6,重复步骤3)、步骤4),直至N个扩展测试端口6上的所述校准件9测试结束;
6)将N个相同的另一校准件9同时连接到扩展测试端口6的1~N上,重复步骤2)、步骤3)、步骤4)、步骤5),直至全部校准件9均测试结束;
7)由所述计算机4对按规定地址存储的数据进行整理,形成M*N个误差数组,对应M个状态下的N个扩展测试端口6的误差数组。
其中所述校准件9为开路校准件、短路校准件、负载校准件和直通校准件。

Claims (2)

1. 一种多个测试端口的快速校准方法,其包括以下步骤,
1)将N个相同的校准件同时连接到扩展测试端口1~N上;
2)计算机通过控制线选择要进行校准的扩展测试端口;
3)计算机通过通信接口将矢量网络分析仪设置为M种状态中的一种状态,并控制所述矢量网络分析仪对校准件进行测试,测试数据通过通信接口被传输到计算机,并由计算机将该数据存于规定的存储器中;
4)计算机改变设置状态,重复步骤3),直至M种状态下的所述校准件均被测试;
5)计算机通过控制线控制端口扩展开关,使其接通另一个扩展测试端口,重复步骤3)、步骤4),直至N个扩展测试端口上的所述校准件测试结束;
6)将N个相同的另一校准件同时连接到扩展后的测试端口1~N上,重复步骤2)、步骤3)、步骤4)、步骤5),直至全部校准件均测试结束;
7)由所述计算机对按规定地址存储的数据进行整理,形成M*N个误差数组,对应M个状态下的N个扩展测试端口的误差数组。
2. 根据权利要求1所述的多个测试端口的快速校准方法,其特征在于:所述校准件为开路校准件、短路校准件、负载校准件和直通校准件中的一种或多种校准件。
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Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101046492B (zh) * 2006-03-28 2010-05-12 华为技术有限公司 一种双端口网络参数测试方法
CN101369825B (zh) * 2007-08-15 2011-11-23 中国科学院半导体研究所 四端口微带传输线网络串扰测量装置
CN103513206B (zh) * 2012-06-29 2016-08-24 中国船舶重工集团公司第七0九研究所 一种用于集成电路测试系统中微安级直流电流的校准装置及其方法
CN103336254A (zh) * 2013-06-06 2013-10-02 三维通信股份有限公司 一种简单方便的矢量网络分析仪校准装置
CN103368669A (zh) * 2013-06-21 2013-10-23 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种电子校准件及其校准系统
CN103364751B (zh) * 2013-07-11 2016-09-07 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种矢量网络分析仪电子校准件及校准方法
CN103605094B (zh) * 2013-11-15 2016-04-27 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种多端口矢量网络分析仪简化校准方法
CN105162535B (zh) * 2015-08-11 2018-09-11 上海原动力通信科技有限公司 隔离度测试装置及测试方法
CN109683041A (zh) * 2018-12-27 2019-04-26 中电科仪器仪表有限公司 一种高速数字互连部件复杂参数测试的方法
CN109782208A (zh) * 2019-03-04 2019-05-21 上海精密计量测试研究所 矢量网络分析仪自动化校准装置及校准方法
CN110806507B (zh) * 2019-10-24 2023-01-10 成都飞机工业(集团)有限责任公司 集束射频电缆与lrm模块化接口原位自动测试方法
CN111337871A (zh) * 2020-02-29 2020-06-26 贵州电网有限责任公司 一种电能表及终端通讯模块io口电平可调节电路
CN114137467A (zh) * 2021-12-02 2022-03-04 上海创远仪器技术股份有限公司 针对电子校准件实现多通信连接的系统及其方法
CN118625241A (zh) * 2024-08-12 2024-09-10 深圳市鼎阳科技股份有限公司 一种电子校准件和一种矢量网络分析仪的端口校准方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5467021A (en) * 1993-05-24 1995-11-14 Atn Microwave, Inc. Calibration method and apparatus
US5587934A (en) * 1993-10-21 1996-12-24 Wiltron Company Automatic VNA calibration apparatus
US20040064774A1 (en) * 2001-02-10 2004-04-01 Hans-Joachim Fabry Method for correcting errors by de-embedding dispersion parameters network analyst and switching module

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5467021A (en) * 1993-05-24 1995-11-14 Atn Microwave, Inc. Calibration method and apparatus
US5587934A (en) * 1993-10-21 1996-12-24 Wiltron Company Automatic VNA calibration apparatus
US20040064774A1 (en) * 2001-02-10 2004-04-01 Hans-Joachim Fabry Method for correcting errors by de-embedding dispersion parameters network analyst and switching module

Non-Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
矢量网络分析仪的校准方法. 樊中山.国外电子测量技术,第5期. 2003
矢量网络分析仪的校准方法. 樊中山.国外电子测量技术,第5期. 2003 *
自动矢量网络分析仪10个误差模型自校准技术. 方子文等.北京理工大学学报,第17卷第6期. 1997
自动矢量网络分析仪10个误差模型自校准技术. 方子文等.北京理工大学学报,第17卷第6期. 1997 *

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