JP4717692B2 - リミッタ回路 - Google Patents

リミッタ回路 Download PDF

Info

Publication number
JP4717692B2
JP4717692B2 JP2006111627A JP2006111627A JP4717692B2 JP 4717692 B2 JP4717692 B2 JP 4717692B2 JP 2006111627 A JP2006111627 A JP 2006111627A JP 2006111627 A JP2006111627 A JP 2006111627A JP 4717692 B2 JP4717692 B2 JP 4717692B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
voltage
mos transistor
limiter circuit
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2006111627A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007288392A (ja
Inventor
隼人 小川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Electronics Corp
Original Assignee
Renesas Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Electronics Corp filed Critical Renesas Electronics Corp
Priority to JP2006111627A priority Critical patent/JP4717692B2/ja
Priority to US11/723,025 priority patent/US7629834B2/en
Priority to TW096110396A priority patent/TWI339009B/zh
Priority to KR1020070035377A priority patent/KR100885830B1/ko
Priority to CN2007100961511A priority patent/CN101060317B/zh
Publication of JP2007288392A publication Critical patent/JP2007288392A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4717692B2 publication Critical patent/JP4717692B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03GCONTROL OF AMPLIFICATION
    • H03G11/00Limiting amplitude; Limiting rate of change of amplitude ; Clipping in general
    • H03G11/04Limiting level dependent on strength of signal; Limiting level dependent on strength of carrier on which signal is modulated
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03GCONTROL OF AMPLIFICATION
    • H03G11/00Limiting amplitude; Limiting rate of change of amplitude ; Clipping in general
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/01Shaping pulses
    • H03K5/08Shaping pulses by limiting; by thresholding; by slicing, i.e. combined limiting and thresholding

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Tone Control, Compression And Expansion, Limiting Amplitude (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Description

本発明は、出力信号を所定の範囲に制限するリミッタ回路に関する。
近年、LSIの微細化・高集積化にともない、低電圧で動作する回路が増えてきている。また、1つのLSI内に動作電圧の異なる複数の回路を搭載する場合がある。この場合、低電圧で動作する回路に所定の動作電圧以上の過電圧を印加すると、回路に過電流が流れるために回路破壊を招くことがある。このため、高電圧で動作する回路から低電圧で動作する回路へ信号を出力する際には、リミッタ回路によって出力電圧の電圧レベルに制限をかける必要がある。
異なる電圧で動作する2つの回路、及びリミッタ回路による装置の構成例を図10に示す。図10において、第一の回路1は電源電圧VDD1で動作する回路である。第二の回路2は、電圧VDD1より低い電源電圧VDD2で動作する回路である。リミッタ回路3は、接地レベル0Vから電源電圧VDD1までの電圧範囲で変動する第一の回路1の出力電圧を入力とし、電源電圧VDD2以下に電圧レベルを制限して第二の回路2に対して出力する。
第1の回路1の具体的な構成例を図11に示す。図11において、差動増幅回路5は入力電圧VINを逆相入力とし、差動増幅回路5の出力はPch−MOSトランジスタMP1のゲートに接続されている。トランジスタMP1のソースは電源電圧VDD1に接続されている。トランジスタMP1のドレインは、第1の回路1の出力電圧VOUT1を出力するとともに、差動増幅回路5の正相入力及び定電流源4に接続されている。定電流源4のもう一端は接地されている。このような構成において、トランジスタMP1を飽和領域で動作させ、かつ、差動増幅回路5のループ利得が十分大きいときには、差動増幅回路5の差動入力電圧は小さくなり、出力電圧VOUT1≒入力電圧VINが成り立つ。
また、リミッタ回路3の構成例として、特許文献1に開示された構成を図12に示す。図12に記載のリミッタ回路3において、QL、QLL及びQDはNch−MOSトランジスタである。パルス生成回路100の入力端子には第1の回路1からの入力電圧が入力され、パルス生成回路100の正相出力はトランジスタQLのゲートに、逆相出力はトランジスタQDのゲートに接続されている。また、トランジスタQLLのゲートには電圧コンバータ101によって一定電圧VLLが印加されている。トランジスタQLのドレインは電源電圧VCCに接続され、ソースはトランジスタQLLのドレインに接続されている。また、トランジスタQLLのソースはトランジスタQDのドレインに接続され、トランジスタQDのソースは接地されている。さらに、トランジスタQDのドレインがリミッタ回路3の出力電圧として出力される。
パルス生成回路100に対する入力電圧VOUT1が高電位になると、パルス生成回路100の動作によってトランジスタQDのゲート電圧が高電位から接地レベルに変化する。このため、トランジスタQDはオフ状態になり、同時に、トランジスタQLのゲート電圧は接地レベルから電源電圧レベルVCCに変化する。この結果、トランジスタQLはオン状態になる。
ここで、トランジスタQLLのゲートには一定電圧VLLが印加されているので、出力電圧VOUT2がVLL−VTHを超えるとトランジスタQLLがオフ状態となる。このため、リミッタ回路3は、出力電圧VOUT2がVLL−VTHを超えないように動作する。ここで、電圧VTHは、トランジスタQLLの閾値電圧である。
つまり、リミッタ回路3においてトランジスタQL、QDで決まるリミッタ回路3の閾値電圧をVTQとすると、入力電圧VOUT1がVTQより高い場合に出力電圧VOUT2はVLL−VTHに制限される。また、入力電圧VOUT1がVTQより低い場合に出力電圧VOUT2は接地レベルとなる。入力電圧VOUT1と出力電圧VOUT2の関係を図13に示す。
図14は、別の方法で出力電圧の電圧レベルに制限をかけるためのリミッタ回路3の構成図である。図14記載のリミッタ回路3において、バッファ回路200とバッファ回路201は入力された信号とほぼ等しい信号を出力する。つまり、バッファ回路200は入力インピーダンスを大きくするために挿入され、バッファ回路201は出力インピーダンスを小さくするために挿入されている。抵抗Rは、ダイオードDが導通状態のとき、バッファ回路200から電圧源6へ過電流が流れるのを防ぐ電流制限の役割を担う。
図14の回路において、電圧源6の電圧値をVLとし、ダイオードDの順方向電圧をVDTとすると、入力電圧VOUT1がVL+VDT以下の場合に出力電圧VOUT2が入力電圧VOUT1とほぼ等しくなる。一方、入力電圧VOUT1がVL+VDTより大きい場合には、ダイオードDは順方向バイアスとなり導通する。このため、図14のリミッタ回路3は、出力電圧VOUT2がVL+VDTを超えないように動作する。
特開昭58−70482号公報
上述した従来のリミッタ回路は、出力電圧に誤差を生じ易いという問題がある。
具体的には、図12に示したリミッタ回路は、トランジスタQL及びQDによって定まる閾値電圧VTQを境界として、出力電圧VOUT2が接地レベル0Vから制限電圧VLL−VTHまで変化するため、出力電圧の電圧レベルが下限値である接地レベル0V又は上限値であるVLL−VTHに限定される。このように、図12に示したリミッタ回路は、下限値0Vと上限値VLL−VTHとの間の中間電位を出力することができないため、入力電圧がアナログ信号である場合に、入力電圧を出力側に正しく伝達することができないという問題がある。
また、図14に示したリミッタ回路は、多くの素子で構成されているため、抵抗R、ダイオードD、バッファ回路200及び201の特性ばらつきに起因する信号伝達誤差が生じ易いという問題がある。
本発明の第1の態様にかかるリミッタ回路は、入力信号を逆相入力とする差動増幅回路と、前記差動増幅回路の出力を入力とする駆動回路と、前記駆動回路の出力をソース又はドレインのいずれか一端に接続し、ゲートに所定電圧を印加するMOSトランジスタと、前記MOSトランジスタのソース又はドレインの他の一端に接続される負荷回路とを備え、前記MOSトランジスタの前記他の一端が前記差動増幅回路の正相入力に接続される構成を有する。
このように、本発明の第1の態様にかかるリミッタ回路は、駆動回路の出力を、所定電圧がゲートに印加されたMOSトランジスタ及び差動増幅回路を介して駆動回路の入力に帰還する構成としている。このような構成により、当該リミッタ回路は、入力信号の電圧がMOSトランジスタのゲートに印加される所定電圧によって定まる上限値以下であるときは、出力電圧が入力電圧に追随して変化し、入力電圧が上限値に達した以降は、出力電圧が上限値に制限されるよう動作する。このため、入力電圧が中間電位を含むアナログ信号である場合にも、電圧制限を行うことができる。
また、上述した第1の態様にかかるリミッタ回路は、図11に示した第1の回路1の出力部に、所定電圧がゲートに印加されるMOSトランジスタを挿入した単純な構成によって出力電圧制限を可能としている。さらに、上述した帰還制御を行うことによって、出力電圧の誤差を抑制している。このため、本発明の第1の態様にかかるリミッタ回路は、図14のリミッタ回路に比べて信号伝達誤差を抑制することができる。
本発明の第2の態様にかかるリミッタ回路は、入力信号を逆相入力とする差動増幅回路と、前記差動増幅回路の出力を入力とする駆動回路と、前記駆動回路の出力をソース又はドレインのいずれか一端に接続し、ゲートに所定電圧を印加するMOSトランジスタと、前記MOSトランジスタのソース又はドレインの他の一端に接続される負荷回路とを備え、前記駆動回路の出力を前記差動増幅回路の正相入力に接続する構成を有する。
このように、本発明の第2の態様にかかるリミッタ回路は、上述した第1の態様にかかるリミッタ回路と同様に、駆動回路の出力が差動増幅回路を介して駆動回路の入力に帰還される構成としいている。このため、入力電圧がアナログ信号である場合にも、電圧制限を行うことができる。また、本態様にかかるリミッタ回路の出力電圧を所定のレベル以下に制限するように動作するMOSトランジスタを挿入した単純な構成によって出力電圧制限を可能としているため、図14のリミッタ回路に比べて信号伝達誤差を抑制することができる。
本発明の第3の態様にかかるリミッタ回路は、出力信号を所定の範囲に制限するリミッタ回路であって、入力信号を逆相入力とする差動増幅回路と、前記差動増幅回路の出力を入力とする駆動回路と、前記駆動回路の出力を前記差動回路の正相入力に接続する帰還経路と、前記リミッタ回路の出力信号を所定の制限値以下に制限するよう動作するスイッチ素子とを備える。
このように、本発明の第3の態様にかかるリミッタ回路は、上述した第1の態様にかかるリミッタ回路と同様に、駆動回路の出力が差動増幅回路を介して駆動回路の入力に帰還される構成としいている。このため、入力電圧がアナログ信号である場合にも、電圧制限を行うことができる。また、本態様にかかるリミッタ回路の出力電圧を所定のレベル以下に制限するように動作するスイッチ素子を挿入した単純な構成によって出力電圧制限を可能としているため、図14のリミッタ回路に比べて信号伝達誤差を抑制することができる。
本発明により、アナログ信号に対する電圧制限が可能であり、出力電圧の誤差が抑制されたリミッタ回路を提供することができる。
以下では、本発明を適用した具体的な実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。各図面において、同一要素には同一の符号が付されており、説明の明確化のため、必要に応じて重複説明は省略する。
発明の実施の形態1.
図1は本実施の形態にかかるリミッタ回路10の構成を示すブロック図である。図1において、差動増幅回路5の逆相入力に入力電圧VINが入力されていること、差動増幅回路5の出力をトランジスタMP1のゲートに接続していること、トランジスタMP1のソースを電源電圧VDD1に接続していることは、図11に示した第1の回路の構成と同じである。
さらに、本実施の形態のリミッタ回路10では、トランジスタMP1のドレインが別のNch−MOSトランジスタM1のドレインに接続され、トランジスタM1のソースが定電流源4の一端に接続されるとともに差動増幅回路5の正相入力に接続され、差動増幅回路5、トランジスタMP1、及びトランジスタM1によって帰還経路が構成されている。また、トランジスタM1のゲートには、電圧源6が生成する一定電圧VLが印加され、トランジスタM1のソースをリミッタ回路10の出力電圧VOUTとしている。
リミッタ回路10において、トランジスタMP1は出力電圧VOUTを駆動する駆動回路としての役割を持ち、定電流源4は駆動回路のための負荷回路の役割を持つ。
なお、図1の回路構成は一例であり、他の構成によっても等価な作用を実現できる。例えば、図2に示すように、駆動回路として機能するトランジスタMP1をNch−MOSトランジスタに変更し、負荷回路として機能する定電流源4と駆動回路との位置を入れ替えた構成でも同じ作用を実現できる。
図2に示すリミッタ回路10において、差動増幅回路5は入力電圧VINを逆相入力とし、差動増幅回路5の出力をNch−MOSトランジスタMN1のゲートに接続し、トランジスタMN1のソースを接地している。トランジスタMN1のドレインはNch−MOSトランジスタM1のソースに接続されるとともに、差動増幅回路5の正相入力に接続され、差動増幅回路5、トランジスタMN1で帰還経路が構成されている。また、トランジスタMN1のドレインをリミッタ回路10の出力電圧VOUTとしている。
トランジスタM1のドレインは定電流源4の一端に接続され、定電流源4の他の一端は電源電圧VDD1に接続されている。なお、電圧源6で一定電圧VLを生成し、トランジスタM1のゲートに印加することは図1の構成と同一である。
次に、図1に示したリミッタ回路10の動作について詳しく説明する。なお、以下の説明においては、トランジスタM1の閾値電圧をVT1とする。
図1のリミッタ回路10は、トランジスタMP1のドレインを、トランジスタM1及び差動増幅回路5を介してトランジスタMP1のゲートに帰還させている。このため、トランジスタMP1及びM1を飽和領域で動作させ、かつ、差動増幅回路5のループ利得が十分大きいときには、差動増幅回路5の差動入力電圧は小さくなり、リミッタ回路10は出力電圧VOUT≒入力電圧VINが成り立つように動作する。
一方、帰還経路に含まれるトランジスタM1のゲートには一定電圧VLが印加されているので、VL−VT1を超えるソース電圧を出力しようとするとトランジスタM1がオフ状態になってしまう。つまり、入力電圧VINがVL−VT1を超えるとトランジスタM1がオフ状態となるため、トランジスタMP1のゲートへの帰還が働かなくなる。このため、リミッタ回路10の出力電圧VOUTの電圧範囲は、VL−VT1以下に制限される。上述したリミッタ回路10の入力電圧VINと出力電圧VOUTの関係を図3に示す。
つまり、図1に示すリミッタ回路10において出力電圧VOUTの上限をVLM以下に制限する場合は以下の(1)式を満たすように、電圧源6の生成電圧VLを決定すればよい。具体的には、電圧源6の生成電圧VLを、VLM+VT1以下とすればよい。
VL−VT1≦VLM・・・・(1)
図12に示した従来のリミッタ回路は、入力電圧がアナログ信号である場合に、出力電圧の誤差が大きいという問題があった。これに対して、本実施の形態にかかるリミッタ回路10は、トランジスタMP1のドレインを、一定電圧VLがゲートに印加されたトランジスタM1及び差動増幅回路5を介してトランジスタMP1のゲートに帰還する構成とすることにより、入力電圧VINが上限値以下であるときは、出力電圧VOUTが入力電圧に追随して変化し、入力電圧VINが上限値VLMに達した以降は、出力電圧VOUTが上限値VLMに制限されるよう動作する。このため、入力電圧がアナログ信号である場合にも、誤差が抑制された出力電圧を得ることができる。
また、図14に示した従来のリミッタ回路は、多くの素子で構成されているため、抵抗R、ダイオードD、バッファ回路200及び201の特性ばらつきに起因する信号伝達誤差が生じ易いという問題があった。これに対して、本実施の形態かかるリミッタ回路10は、図11に示した第1の回路1の出力部に対して、一定電圧VLがゲートに印加されるトランジスタM1を挿入した単純な構成によって出力電圧の電圧制限を可能としている。さらに、上述した帰還制御を行うことによって、出力電圧の誤差を抑制している。このため、リミッタ回路10は、図14のリミッタ回路に比べて信号伝達誤差を抑制することができる。
また、図14に示した従来のリミッタ回路は、インピーダンス調整のためのバッファ回路200及び201を挿入する必要があるため、消費電流が大きいという問題がある。これに対して、本実施の形態にかかるリミッタ回路10は、図11に示した第1の回路1の出力部に対して、一定電圧VLがゲートに印加されるトランジスタM1を挿入した構成であるため、図14に示した従来のリミッタ回路で使用するバッファ回路200及び201を使用しないため、図14に示した従来のリミッタ回路に比べて消費電力を削減できる。
発明の実施の形態2.
本実施の形態にかかるリミッタ回路20の構成を図4に示す。図4において、差動増幅回路5の逆相入力に入力電圧VINが入力されていること、差動増幅回路5、トランジスタMP1及びトランジスタM1によって帰還経路を構成していること、トランジスタM1のソースが定電流源4の一端に接続されていること、並びに、トランジスタM1のソースをリミッタ回路20の出力(出力電圧VOUT)としていることは、図1に示した発明の実施の形態1にかかるリミッタ回路10と同一である。
また、図4において、第二の回路2は電源電圧VDD2で動作する回路である。本実施の形態にかかるリミッタ回路20は、リミッタ回路20の出力電圧を入力する第二の回路2の電源電圧VDD2を、トランジスタM1のゲートに印加する構成としている。このため、発明の実施の形態1にかかるリミッタ回路10において、トランジスタM1のゲートに接続していた電圧源6を省略することができる。
なお、リミッタ回路20では、トランジスタM1のゲートに電源電圧VDD2が印加されている。このため、リミッタ回路20は、出力電圧VOUTの上限がVDD2−VT1以下に制限されるように動作する。ここで、電圧VT1は、トランジスタM1の閾値電圧である。上述したリミッタ回路20の入力電圧VINと出力電圧VOUTの関係を図5に示す。
発明の実施の形態3.
本実施の形態にかかるリミッタ回路30の構成を図6に示す。図6において、MDEP1は負の閾値電圧を特徴とするデプレッション型Nch−MOSトランジスタである。リミッタ回路30と、図1に示した発明の実施の形態1にかかるリミッタ回路10との相違点は、トランジスタM1をデプレッション型のトランジスタMDEP1としている点である。
具体的には、トランジスタMP1のドレインがトランジスタMDEP1のドレインに接続され、電圧源6の出力がトランジスタMDEP1のゲートに接続され、トランジスタMDEP1のソースが定電流源4の一端に接続されるとともに、差動増幅回路5の正相入力に接続されており、差動増幅回路5、トランジスタMP1及びトランジスタMDEP1によって帰還経路が構成されている。また、トランジスタMDEP1のソースをリミッタ回路30の出力(出力電圧VOUT)としている。
リミッタ回路30においては、トランジスタMDEP1がデプレッション型となっている。つまり、トランジスタMDEP1の閾値電圧VT2は負の値である。このため、発明の実施の形態1のリミッタ回路10が有するトランジスタM1をデプレッション型のトランジスタMDEP1とすることによって、リミッタ回路30の出力電圧VOUTの電圧範囲の上限VLMは、VL−VT2=VL+|VT2|以下に制限される。リミッタ回路30の入力電圧VINと出力電圧VOUTの関係を図7に示す。
このように、本実施の形態にかかるリミッタ回路30では、出力電圧VOUTの上限がVL+|VT2|以下に制限されるため、電圧源6によって同じ電圧VLを供給した場合に、発明の実施の形態1にかかるリミッタ回路10に比べて高い電圧を出力することが可能となる。
なお、図4に示したリミッタ回路20におけるトランジスタM1をデプレッション型のトランジスタMDEP1としてもよい。
発明の実施の形態4.
本実施の形態にかかるリミッタ回路40の構成を図8に示す。図8において、差動増幅回路5の逆相入力に入力電圧VINが入力されていること、差動増幅回路5の出力がトランジスタMP1のゲートに接続されていること、トランジスタMP1のソースが電源電圧VDD1に接続されていることは、図1に示した発明の実施の形態1にかかるリミッタ回路10と同じである。
さらに、トランジスタMP1のドレインがトランジスタM1のドレインに接続されていること、トランジスタM1のソースが定電流源4の一端に接続されていること、電圧源6の出力がトランジスタM1のゲートに接続されていること、並びに、トランジスタM1のソースをリミッタ回路40の出力電圧VOUTとしていることも、図1に示した発明の実施の形態1にかかるリミッタ回路10と同一である。
一方、リミッタ回路40は、入力された信号を増幅する増幅回路7を有している。具体的には、トランジスタM1のソースを増幅回路7に接続し、増幅回路7の出力を差動増幅回路5の正相入力に接続することにより、差動増幅回路5、トランジスタMP1、トランジスタM1、及び増幅回路7によって帰還経路を構成している。
次に、リミッタ回路40の動作を説明する。なお、以下の説明において、増幅回路7の利得をGとする。リミッタ回路40では、トランジスタMP1のドレインを、トランジスタM1、増幅回路7、及び差動増幅回路5を介してトランジスタMP1のゲートに帰還させている。このため、トランジスタMP1及びM1を飽和領域で動作させ、かつ、差動増幅回路5のループ利得が十分大きいときには、差動増幅回路5の差動入力電圧は小さくなる。
さらに、リミッタ回路40では、出力電圧VOUTを増幅回路7によってG倍した信号を差動増幅回路5の正相入力としている。このため、差動増幅回路5の差動入力電圧が小さい場合には、出力電圧VOUT≒VIN/Gが成り立つように動作する。
一方、帰還経路に含まれるトランジスタM1のゲートには一定電圧VLが印加されているので、VL−VT1を超えるソース電圧を出力しようとするとトランジスタM1がオフ状態になってしまう。つまり、入力電圧VINがG×(VL−VT1)を超えるとトランジスタM1がオフ状態となるため、トランジスタMP1のゲートへの帰還が働かなくなる。このため、上述したリミッタ回路10と同様に、リミッタ回路40の出力電圧VOUTの電圧範囲は、VL−VT1以下に制限される。リミッタ回路40の入力電圧VINと出力電圧VOUTの関係を図9に示す。
このように、本実施の形態にかかるリミッタ回路40は、出力電圧VOUTの電圧レベルを入力電圧VINの電圧レベルより低くできることが特徴である。このため、入力電圧VINが第二の回路2の入力電圧の上限値より大きい場合でも、リミッタ回路40によって出力電圧VOUTの電圧レベルを下げることができる。したがって、リミッタ回路40は、出力電圧VOUTに波形歪みを生じさせることなく、後段の回路に対して信号伝達することが可能となる。
さらに、本発明は上述した実施の形態のみに限定されるものではなく、既に述べた本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能であることは勿論である。
本発明の第1の実施形態にかかるリミッタ回路の構成を示す図である。 図1に示したリミッタ回路と等価な動作を実現する他の構成を示す図である。 本発明の第1の実施形態におけるリミッタ回路における入力電圧と出力電圧の関係を示す図である。 本発明の第2の実施形態にかかるリミッタ回路の構成を示す図である。 本発明の第2の実施形態にかかるリミッタ回路における入力電圧と出力電圧の関係を示す図である。 本発明の第3の実施形態にかかるリミッタ回路の構成を示す図である。 本発明の第3の実施形態にかかるリミッタ回路における入力電圧と出力電圧の関係を示す図である。 本発明の第4の実施形態にかかるリミッタ回路の構成を示す図である。 本発明の第4の実施形態にかかるリミッタ回路における入力電圧と出力電圧の関係を示す図である。 従来の第一の回路、第二の回路及びリミッタ回路による装置の構成例を示す図である。 従来の第一の回路の構成を示す図である。 従来のリミッタ回路の構成を示す図である。 図12記載の従来のリミッタ回路における入力電圧と出力電圧の関係を示す図である。 従来のリミッタ回路の構成を示す図である。
符号の説明
10、20、30、40 リミッタ回路
4 定電流源
5 差動増幅回路
6 電圧源
7 増幅回路
MP1 Pch−MOSトランジスタ
M1 Nch−MOSトランジスタ
MN1 Nch−MOSトランジスタ
MDEP1 デプレッション型Pch−MOSトランジスタ

Claims (14)

  1. 入力信号を逆相入力とする差動増幅回路と、
    前記差動増幅回路の出力を入力とする駆動回路と、
    前記駆動回路の出力ソース又はドレインのいずれか一端に接続され、ゲートに所定電圧印加されるMOSトランジスタと、
    前記MOSトランジスタのソース又はドレインの他の一端に接続される負荷回路と、
    を備え、
    前記MOSトランジスタの前記他の一端が前記差動増幅回路の正相入力に接続されると共に、前記他の一端の電圧値は、前記入力信号の電圧値が所定の値以下である場合には前記MOSトランジスタがオンすることにより前記入力信号の電圧値に応じて変化する一方で、前記入力信号の電圧値が前記所定の値を超える場合には前記MOSトランジスタがオフすることにより前記入力信号の電圧値に関わらず一定となるリミッタ回路。
  2. 入力信号を逆相入力とする差動増幅回路と、
    前記差動増幅回路の出力を入力とする駆動回路と、
    前記駆動回路の出力ソース又はドレインのいずれか一端に接続され、ゲートに所定電圧印加されるMOSトランジスタと、
    前記MOSトランジスタのソース又はドレインの他の一端に接続される負荷回路とを備え、
    前記駆動回路の出力が前記差動増幅回路の正相入力に接続されると共に、前記駆動回路の出力の電圧値は、前記入力信号の電圧値が所定の値以下である場合には前記MOSトランジスタがオンすることにより前記入力信号の電圧値に応じて変化する一方で、前記入力信号の電圧値が前記所定の値を超える場合には前記MOSトランジスタがオフすることにより前記入力信号の電圧値に関わらず一定となるリミッタ回路。
  3. 前記MOSトランジスタはデプレッション型である請求項1又は2に記載のリミッタ回路。
  4. 前記MOSトランジスタのソース又はドレインと、前記差動増幅回路の正相入力との間に増幅回路を備える請求項1又は2に記載のリミッタ回路。
  5. 前記駆動回路はNch−MOSトランジスタである請求項1乃至4のいずれかに記載のリミッタ回路。
  6. 前記駆動回路はPch−MOSトランジスタである請求項1乃至4のいずれかに記載のリミッタ回路。
  7. 前記負荷回路は定電流源である請求項1乃至4のいずれかに記載のリミッタ回路。
  8. 請求項1乃至7のいずれかに記載のリミッタ回路と、
    前記リミッタ回路の動作電圧を供給する第1の電圧源と、
    前記リミッタ回路の出力信号入力される第2の回路と、
    前記リミッタ回路の動作電圧より低い前記第2の回路の動作電圧を供給する第2の電圧源とを備え、
    前記MOSトランジスタのゲートが前記第2の電圧源に接続される半導体装置。
  9. 出力信号を所定の範囲に制限するリミッタ回路であって、
    入力信号を逆相入力とする差動増幅回路と、
    前記差動増幅回路の出力を入力とする駆動回路と、
    前記駆動回路の出力を前記差動回路の正相入力に接続する帰還経路と、
    前記リミッタ回路の出力信号の電圧値を、前記入力信号の電圧値が所定の値以下の場合には前記電圧値に応じて変化するように制御し、前記入力信号の電圧値が前記所定の値を超える場合には前記入力信号の電圧値に関わらず一定電圧となるように制御するスイッチ素子と、
    を備えるリミッタ回路。
  10. 前記スイッチ素子は、前記駆動回路と前記差動増幅回路の正相入力との間に設けられ、前記正相入力に対する入力信号が前記所定の値を超える場合に、前記リミッタ回路の出力信号を前記一定電圧に制限するよう動作する請求項9に記載のリミッタ回路。
  11. 前記スイッチ素子はMOSトランジスタであって、
    当該MOSトランジスタのソース又はドレインのいずれか一端が前記駆動回路の出力に接続され、
    当該MOSトランジスタのソース又はドレインの他端が前記差動増幅回路の正相入力に接続され、
    前記制限値を規定するための電圧が当該MOSトランジスタのゲートに印加される請求項9に記載のリミッタ回路。
  12. 前記駆動回路に動作電圧を供給する電圧源をさらに備え、
    前記スイッチ素子はMOSトランジスタであって、
    当該MOSトランジスタのソース及びドレインのいずれか一端が前記駆動回路の出力に接続され、
    当該MOSトランジスタのソース又はドレインの他端が前記電圧源に接続され、前記制限値を規定するための電圧が当該MOSトランジスタのゲートに印加される請求項9に記載のリミッタ回路。
  13. 前記MOSトランジスタはデプレッション型である請求項11又は12に記載のリミッタ回路。
  14. 前記帰還経路に挿入された増幅回路を備える請求項9に記載のリミッタ回路。
JP2006111627A 2006-04-14 2006-04-14 リミッタ回路 Expired - Fee Related JP4717692B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006111627A JP4717692B2 (ja) 2006-04-14 2006-04-14 リミッタ回路
US11/723,025 US7629834B2 (en) 2006-04-14 2007-03-16 Limiter circuit
TW096110396A TWI339009B (en) 2006-04-14 2007-03-26 Limiter circuit
KR1020070035377A KR100885830B1 (ko) 2006-04-14 2007-04-11 리미터 회로
CN2007100961511A CN101060317B (zh) 2006-04-14 2007-04-13 限幅电路和半导体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006111627A JP4717692B2 (ja) 2006-04-14 2006-04-14 リミッタ回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007288392A JP2007288392A (ja) 2007-11-01
JP4717692B2 true JP4717692B2 (ja) 2011-07-06

Family

ID=38660665

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006111627A Expired - Fee Related JP4717692B2 (ja) 2006-04-14 2006-04-14 リミッタ回路

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7629834B2 (ja)
JP (1) JP4717692B2 (ja)
KR (1) KR100885830B1 (ja)
CN (1) CN101060317B (ja)
TW (1) TWI339009B (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5471172B2 (ja) * 2008-10-16 2014-04-16 富士電機株式会社 信号増幅回路
CN101964212B (zh) * 2010-08-11 2015-06-17 上海华虹宏力半导体制造有限公司 负电压斜率控制电路
CN103066991A (zh) * 2012-12-07 2013-04-24 湖南城市学院 一种用于提高电压驱动能力的缓冲器
CN103915829B (zh) * 2012-12-28 2017-02-15 北京谊安医疗系统股份有限公司 一种过压吸收保护电路
JP6270711B2 (ja) * 2014-12-26 2018-01-31 アルプス電気株式会社 出力回路及びこれを有する電流センサ
CN105071637B (zh) * 2015-08-12 2017-11-17 上海贝岭股份有限公司 一种开关电源输出幅度调节电路

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6421519U (ja) * 1987-07-27 1989-02-02
JPH02130009A (ja) * 1988-11-09 1990-05-18 Mitsubishi Electric Corp クリップ回路
JPH0424813A (ja) * 1990-05-21 1992-01-28 Seiko Epson Corp 定電圧回路
JPH06104659A (ja) * 1992-09-22 1994-04-15 Fuji Electric Co Ltd 電圧・電流変換回路
JPH08190437A (ja) * 1994-08-04 1996-07-23 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置および電源電圧発生回路
JPH1027026A (ja) * 1995-11-28 1998-01-27 Mitsubishi Electric Corp 内部電源電位供給回路、昇圧電位発生システム、出力電位供給回路及び半導体記憶装置
JPH11338563A (ja) * 1998-05-27 1999-12-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd バッファ装置
JP2000077936A (ja) * 1998-08-28 2000-03-14 Toshiba Corp 電流発生回路
JP2003142999A (ja) * 2001-10-31 2003-05-16 Nec Electronics Corp 内部降圧回路
JP2005018311A (ja) * 2003-06-25 2005-01-20 Rohm Co Ltd 電源回路

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5870482A (ja) 1981-10-23 1983-04-26 Hitachi Ltd 半導体集積回路
US4482985A (en) 1981-04-17 1984-11-13 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit
JPS58108814A (ja) * 1981-12-23 1983-06-29 Rohm Co Ltd ピ−ククリツプ回路
JPS592487A (ja) * 1982-06-28 1984-01-09 Toshiba Corp リニアクリツプ回路
JPH0758886B2 (ja) * 1986-06-04 1995-06-21 株式会社日立製作所 クリツプ回路
JPS6421519A (en) * 1987-07-16 1989-01-24 Nippon Denki Home Electronics Pen for inputting character graphic
US5311069A (en) * 1991-09-06 1994-05-10 Silicon Systems, Inc. Driver circuitry for commutated inductive loads
JPH05251970A (ja) * 1992-03-04 1993-09-28 Yokogawa Electric Corp クランプ回路
JPH06204772A (ja) * 1992-12-30 1994-07-22 Sony Corp 過大入力保護回路
US5793239A (en) * 1995-06-29 1998-08-11 Analog Devices, Inc. Composite load circuit
FR2749939B1 (fr) * 1996-06-13 1998-07-31 Sgs Thomson Microelectronics Detecteur de gamme de tension d'alimentation dans un circuit integre
US5936393A (en) * 1997-02-25 1999-08-10 U.S. Philips Corporation Line driver with adaptive output impedance
JP3802239B2 (ja) * 1998-08-17 2006-07-26 株式会社東芝 半導体集積回路
US6356141B1 (en) * 1999-04-06 2002-03-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Constant-current output circuit
JP3693528B2 (ja) * 1999-06-15 2005-09-07 ローム株式会社 電源装置
US6448916B1 (en) * 2000-05-31 2002-09-10 Cygnal Integrated Products, Inc. Dual sub-DAC resistor strings with analog interpolation
JP4976624B2 (ja) * 2000-09-01 2012-07-18 セイコーインスツル株式会社 相補型mos半導体装置およびその製造方法
JP2003283279A (ja) 2002-03-27 2003-10-03 Sanyo Electric Co Ltd リミッタ回路及びそれを備えたノコギリ波発生器
JPWO2004077665A1 (ja) 2003-02-25 2006-06-08 日本電信電話株式会社 リミッタアンプ

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6421519U (ja) * 1987-07-27 1989-02-02
JPH02130009A (ja) * 1988-11-09 1990-05-18 Mitsubishi Electric Corp クリップ回路
JPH0424813A (ja) * 1990-05-21 1992-01-28 Seiko Epson Corp 定電圧回路
JPH06104659A (ja) * 1992-09-22 1994-04-15 Fuji Electric Co Ltd 電圧・電流変換回路
JPH08190437A (ja) * 1994-08-04 1996-07-23 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置および電源電圧発生回路
JPH1027026A (ja) * 1995-11-28 1998-01-27 Mitsubishi Electric Corp 内部電源電位供給回路、昇圧電位発生システム、出力電位供給回路及び半導体記憶装置
JPH11338563A (ja) * 1998-05-27 1999-12-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd バッファ装置
JP2000077936A (ja) * 1998-08-28 2000-03-14 Toshiba Corp 電流発生回路
JP2003142999A (ja) * 2001-10-31 2003-05-16 Nec Electronics Corp 内部降圧回路
JP2005018311A (ja) * 2003-06-25 2005-01-20 Rohm Co Ltd 電源回路

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007288392A (ja) 2007-11-01
TWI339009B (en) 2011-03-11
CN101060317B (zh) 2012-07-04
KR100885830B1 (ko) 2009-02-26
TW200746620A (en) 2007-12-16
US20070257730A1 (en) 2007-11-08
KR20070102406A (ko) 2007-10-18
US7629834B2 (en) 2009-12-08
CN101060317A (zh) 2007-10-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8575986B2 (en) Level shift circuit and switching regulator using the same
JP4805699B2 (ja) 半導体装置
US7863982B2 (en) Driving circuit capable of enhancing response speed and related method
JP4968327B2 (ja) インバータ回路
JP4717692B2 (ja) リミッタ回路
JP2009070211A (ja) 電圧発生回路
US7525359B2 (en) Duty cycle correction amplification circuit
JP2009130879A (ja) レベルシフト回路
US8957708B2 (en) Output buffer and semiconductor device
JP2006042136A (ja) 終端回路、半導体装置、及び電子機器
US8866550B2 (en) Amplifier circuit with overshoot suppression
KR101705159B1 (ko) 전류스위치 구동회로 및 디지털 아날로그 신호변환기
EP3041141B1 (en) I/o driving circuit and control signal generating circuit
US11290061B2 (en) Amplifier circuit with overshoot suppression
US6501252B2 (en) Power supply circuit
JP2006295322A (ja) レベルシフタ回路
US20170108883A1 (en) Voltage regulator with regulated-biased current amplifier
JP2008010940A (ja) 電圧制御回路及び電圧制御回路を有する半導体集積回路
US7816989B2 (en) Differential amplifier
US8823446B2 (en) Current mirror with immunity for the variation of threshold voltage and the generation method thereof
JPWO2007114379A1 (ja) 可変遅延回路、試験装置および電子デバイス
JP2006352726A (ja) 出力バッファ回路
US20100327919A1 (en) Differential amplifier circuit
JP5203809B2 (ja) 電流ミラー回路
JP2014026390A (ja) 半導体集積回路装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090311

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100720

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100727

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100825

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110329

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110330

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140408

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees