JP4311144B2 - カット装置およびカット方法 - Google Patents
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Description
(a)セラミック積層ブロックを載置するためのテーブルと、
(b)テーブルの上方に配置されたカット手段と、
(c)カット手段を上下運動させるカット駆動部と、
(d)カット手段の位置を検出するカット手段位置検出部と、
(e)セラミック積層ブロックのカット跡と次のカット予定位置を同一視野に含む撮像画像を得るカメラと、
(f)撮像画像に基づいて、カット予定位置の中心線を算出し、中心線からカット跡までの距離を算出して、セラミック積層ブロックのカット予定位置を検出するカット予定位置検出部と、
(g)テーブルとカット手段を相対的に平行移動させる平行駆動部と、
(h)カット手段位置検出部により検出する上昇中のカット手段の刃先が前記セラミック積層ブロックから出る位置に達すると、セラミック積層ブロックの撮像及びカット予定位置の検知を行った後、テーブルとカット手段の相対的な平行移動を行う制御部と、
を備えたことを特徴とする。
積層セラミックコンデンサの製造は、一般に、多数の内部電極を表面に設けたマザーのセラミックグリーンシートを複数枚積層し、これを加圧密着させて未焼成のセラミック積層ブロックを形成するプレス成形工程と、セラミック積層ブロックを内部電極の配置に合わせてカットし、個々の積層セラミックチップを切り出すカット工程と、カットした積層セラミックチップを焼成する工程と、焼成した積層セラミックチップに外部電極を形成する工程とを順次経て行われる。
次に、カット装置1の動作をセラミック積層ブロックのカット手順とともに説明する。図3は積層セラミック電子部品(本実施例では、積層セラミックコンデンサ)製造用のマザーのセラミックグリーンシートの一例を示す平面図である。このマザーのセラミックグリーンシート25には、後の工程で切り出される複数の積層セラミックコンデンサ用内部電極26と、カット予定位置検出用電極28が印刷されている。図3におけるグリーンシート25の上下端縁に形成されている電極28は、Y方向にカット刃22を移動させる際の予定位置検出用のものである。X方向にカット刃22を移動させる際の予定位置検出用には、グリーンシート25の左右端縁に形成されているコンデンサ用内部電極26が利用される。この内部電極26は左右端縁においてその長手方向端部をカットされた状態で左右端縁に露出している。
なお、本発明に係るカット装置およびカット方法は、前記実施例に限定するものではなく、その要旨の範囲内で種々に変更することができる。
2…メモリ
3…演算部
4…画像処理部
5a,5b…CCDカメラ
6…表示部
7…データ入力部
8…モータ制御部
9…カット手段駆動用モータ
10,11…テーブル駆動用モータ
12…トリガ信号発生部
13…エンコーダ
21…テーブル
23…カット刃
26…コンデンサ用内部電極
27,29…非露出部分
28…カット予定位置検出用電極
30…セラミック積層ブロック
Claims (5)
- 複数の内部電極が形成されたセラミック積層ブロックをカットするカット装置であって、
前記セラミック積層ブロックを載置するためのテーブルと、
前記テーブルの上方に配置されたカット手段と、
前記カット手段を上下運動させるカット駆動部と、
前記カット手段の位置を検出するカット手段位置検出部と、
前記セラミック積層ブロックのカット跡と次のカット予定位置を同一視野に含む撮像画像を得るカメラと、
前記撮像画像に基づいて、前記カット予定位置の中心線を算出し、該中心線から前記カット跡までの距離を算出して、前記セラミック積層ブロックのカット予定位置を検出するカット予定位置検出部と、
前記テーブルと前記カット手段を相対的に平行移動させる平行駆動部と、
前記カット手段位置検出部により検出する上昇中の前記カット手段の刃先が前記セラミック積層ブロックから出る位置に達すると、前記セラミック積層ブロックの撮像及び前記カット予定位置の検知を行った後、前記テーブルと前記カット手段の相対的な平行移動を行う制御部と、
を備えたことを特徴とするカット装置。 - 前記カット駆動部が、回転運動を上下運動に変換するカム機構を有していることを特徴とする請求項1に記載のカット装置。
- 前記カット位置検出部は、前記カム機構の回転角度を計測するエンコーダであること、
を特徴とする請求項2に記載のカット装置。 - 前記カット手段位置検出部により検出する下降中の前記カット手段の位置が、該カット手段の刃先が前記セラミック積層ブロックに入る前の所定の位置に達すると、前記制御部が前記テーブルと前記カット手段の相対的平行移動が完了しているかどうかを確認し、完了していない場合には前記カット駆動部を一時停止させることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれかに記載のカット装置。
- 複数の内部電極が形成されたセラミック積層ブロックをカットするカット方法であって、
カット手段が一定の速度で上下運動して前記セラミック積層ブロックをカットしており、カット毎に、上昇中の前記カット手段の刃先がセラミック積層ブロックから出る位置に達すると、前記セラミック積層ブロックのカメラによるカット跡と次のカット予定位置を同一視野に含む撮像画像の撮像及び該撮像に基づいて、該カット予定位置の中心線を算出し、該中心線から該カット跡までの距離を算出して、カット予定位置の検知を行った後、テーブルと前記カット手段の相対的な平行移動を行うことを特徴とするカット方法。
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