JP4133580B2 - 圧電材料の加工方法 - Google Patents

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Description

【技術分野】
【0001】
本発明は、水晶,PZT(チタン酸ジルコン酸鉛),LiNbO3等の圧電材料を任意形状に加工し、超音波振動の制御,振動特性の改善を可能にした加工方法に関する。
【背景技術】
【0002】
圧電素子は基準周波数の発振源,電子電気機器用クロック等、広範な分野で使用されており、情報処理・伝達能力を高性能化するための薄型化や高品質化のためのレンズ形状への加工法に関する研究・開発が進められている。
電極直径が数mm以上の大型振動子では、湿式エッチング後で整形した凸部の端面を機械研磨等で曲面に加工する方法が採用されている。電極直径1mm以下の小型振動子では、凹面加工により支持損失を低減した高品質の振動子を製作している。凹面加工の一形態として、最終目標に近いプロフィールに成形した後でドライエッチングする方法も紹介されている(特許文献1)。
【特許文献1】
特開2002−368572号公報
【0003】
機械研磨では、定盤に取り付けた研磨布で圧電材料の表面を研磨しているが、圧電材料の結晶にダメージを与えやすい。また、研磨台に配置した小さな振動子全てを目標形状に仕上げることは不可能であり、形状の自由度も低い。凹面加工では、薄層化による高周波化,支持損失の低減による高いQ値を得やすいが、三次元形状への加工が困難なため振動子中央部に大きな質量を分布させ難い。その結果、質量負荷に対して振動が不安定になりやすい。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
本発明は、このような問題を解消すべく案出されたものであり、目標形状に対応する膜厚分布をもつマスクを圧電材料(被加工材)の表面に設けた後でドライエッチングすることにより、大面積への対応,超小型化,集積化,加工自由度の全てに優れ、高精度で三次元形状に加工された圧電材料を得ることをを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本発明に従った加工方法では、圧電材料に比較して加工速度が異なるマスク材料から成膜されたマスクを圧電材料の被加工面に設ける。パターニングされたマスク材料の加熱溶融等により、マスクに所定の膜厚分布を付与する。マスクの形成に先立って、加工速度比を増幅させる薄膜を圧電材料/マスクの界面に介在させても良い。
マスクが設けられた圧電材料をドライエッチングすると、マスクの膜厚分布に倣った形状に圧電材料が加工される。ドライエッチングの初期に選択反応性の低いガス組成を使用してマスク,圧電材料の表面層をエッチング除去した後、圧電材料に対する選択反応性の高いガス組成に切り替えると、マスクの膜厚分布が増幅された三次元形状に圧電材料が加工される。
すなわち、本発明によれば、圧電材料基板の表面にマスク材料の膜を形成した後、前記マスク材料の膜をパターニングした後、加熱溶融によりリフローさせることにより、前記マスク材料の膜にコンベックス形状に対応する膜厚分布を持たせ、この膜厚分布を持つマスク材料の膜および前記圧電材料基板をドライエッチングして、前記圧電材料基板の表面を、前記マスク材料の膜の膜厚分布を反映したコンベックス形状に加工することを特徴とする圧電材料基板の加工方法が提供される。
【発明の効果】
【0006】
ドライエッチングされた圧電材料は、マスクの膜厚分布を反映した三次元形状に加工される。圧電材料との関係でマスク材料を選択して圧電材料,マスクの加工速度比を調節し、或いは反応性の低いガス組成から圧電材料に対する選択反応性の高いガス組成に切り替えながらドライエッチングするとき、マスクの膜厚分布を増幅させた三次元形状にも加工できる。大面積の圧電材料であっても、複雑で任意の形状への加工が容易である。しかも、ドライエッチングによる加工であるため、結晶欠陥の原因となる歪みの導入や異物の混入がなく、面内方向の質量分布がニーズに応じて制御された高品質の圧電素子が得られる。
【0007】
振動エネルギーが質量に依存する特性を示す圧電素子では、予めニーズに対応した面内質量分布を適正化して電極を配置するとき、電気エネルギーから機械振動エネルギーへの効率的な変換が促進される。そのため、大きな負荷がかかる吸着物の測定,外界への振動の伝播等の目的に対応した優れた振動子を実現する上で、質量分布を三次元的に整形する加工技術が重要である。
【0008】
機械加工,レーザ加工によるとき加工自由度は高くなるが、大半の圧電材料は脆性材料であり、加工時の熱で結晶構造が変化する虞もある。そのため、高品位振動子の作製に適した加工法が要求される。この点、加工時に機械的,熱的な応力の導入がないドライエッチングによるとき、結晶構造に悪影響を与えることなく圧電材料を目標とする三次元形状に高精度加工できる。ドライエッチング法は、他の方法に比較して、小型化,大量一括生産にも適している。
【発明を実施するための最良の形態】
【0009】
コンベックス型水晶振動子マイクロバランスの加工を例にとって本発明を具体的に説明する。
先ず、被加工基板11(圧電材料基板)に加工速度比増幅膜12を介しマスク13を形成する(図1A)。増幅膜12は、被加工基板11と加工速度が異なる無機質金属,セラミック等から成膜され、ドライエッチングによる被加工基板11,マスク13の加工速度比を調整するために必要に応じて設けられる。
【0010】
フォトレジストから成膜されるマスク13では、たとえば圧電材料基板11にフォトレジストを塗布した後、周縁部に照射される光量が中央部より少なくなる条件下でレジスト膜を露光し、現像することにより、厚膜の中央部から周縁部に向けて薄くなる膜厚分布をもつマスク14に整形できる。圧電材料(被加工基板11)に比較してフォトレジスト製マスク14のエッチング速度は一般的に低いので、通常条件下のドライエッチングで形成される凹凸が浅くなる。
【0011】
より立体的な形状の転写が要求される場合、錫,低融点ガラス,フリット等、低融点の無機質金属やセラミックスをリフローすることにより、被加工基板11に比較して加工速度が低いマスク14を形成する(図1B)。マスク14は、フォトレジスト製マスク13の上に積層しても良い。
【0012】
別な基板に予め形成した精密型15をマスク13に圧着し、膜厚分布が制御されたマスク14に整形する方法も採用できる(図1C)。精密型15を使用する場合、マスク13に対向する精密型15の作用面に剥離紙16を敷き、整形されたマスク14から精密型15の分離を容易にすることが好ましい。
リフロー,精密型15の圧着何れによる場合でも、厚い中央部から周縁部に向けて徐々に薄くなる膜厚分布をもつマスク14に整形される。
【0013】
膜厚分布が制御されたマスク14を設けた被加工基板11をドライエッチングすると、マスク14の膜厚分布が反映された形状(図1D)に被加工基板11の表面層が加工され、目標形状(図1E)をもつ圧電素子素材17が得られる。
被加工基板11に転写される三次元形状の凹凸は、被加工基板11とマスク14の加工速度比調節によっても制御される。たとえば、ドライエッチングでは、被加工基板11を選択的に加工又は脆弱化するラジカル等の供給源としてPFC(パーフルオロカーボン),SF6,塩素,ヨウ素系のガス(以下、選択反応性ガスという)と選択性のない物理的エッチング作用を呈するAr,Kr,Xe等のガス(以下、非選択性ガスという)が使用されるが、選択反応性ガスと非選択性ガスの比率を変えることにより加工速度比を制御できる。或いは、プラズマ発生の投入パワーによっても加工速度比が制御される。
【0014】
たとえば、整形されたフォトレジスト製マスク14をドライエッチングする途中で、非選択性ガスの多いガス組成から選択反応性ガスの多いガス組成に切り替える。非選択性ガスの比率が高いドライエッチングでは、マスク14の膜厚分布が被加工基板11に転写される。選択反応性ガスの比率が高いドライエッチングでは、被加工基板11が優先的にエッチングされる。その結果、マスク14の膜厚分布が増幅された三次元形状に被加工基板11を加工できる。
【実施例1】
【0015】
PZTを圧電材料基板11に使用し、ポジ型レジストをスピンコート法で塗布し、膜厚7μmのレジスト膜を形成した。濃淡のあるグレーティングマスクでフォトレジストを露光することにより膜厚分布が制御されたマスク14に整形した。整形されたマスク14は、断面が周期的なノコギリ歯形状になった膜厚分布をもっていた。
次いで、反応性ドライエッチングによりマスク14の膜厚分布を被加工基板11に転写した。SF6をエッチングガスに用いて10Pa以下の減圧雰囲気でドライエッチングしたところ、フォトレジスト,PZTの加工速度比は0.2程度であり、PZTの加工速度は0.1〜0.2μm/分であった。その結果、1μm程度の周期的なパターンをPZTに転写できた。
ドライエッチングされたPZTに電極をパターニングし、電圧を印加すると、基板上の微小物体を一定方向に運動させることができた。
【実施例2】
【0016】
圧電材料基板11に水晶を使用し、ポジ型レジストをスピンコート法で塗布し、膜厚4μmのレジスト膜を形成した。レジスト膜をパターニングしてコンベックス形状に整形した後、熱処理を施した。熱処理では、加熱温度を徐々に上げることによりレンズ形状にレジストをリフローさせることにより、膜厚分布が制御されたマスク14とした。
【0017】
次いで、反応性ドライエッチングによりマスク14の膜厚分布を被加工基板11に転写した。SF6,Xeの混合ガスをエッチングガスに用いて10Pa以下の減圧雰囲気でドライエッチングしたところ、フォトレジスト,水晶の加工速度比は0.3程度であり、水晶の加工速度は0.4〜0.6μm/分であった。その結果、マスク14のレンズ形状を倣った三次元形状に水晶を加工できた。
マスク14のレンズ高さを1.6μm程度にすると、振動特性が大幅に向上した圧電素子が得られ、未加工時に比較してQ値が2倍以上も高くなった。作製された圧電素子では、副振動も一桁近く低減されていた。
【実施例3】
【0018】
圧電材料基板11に水晶を使用し、ポジ型レジストをスピンコート法で塗布し、膜厚4μmのレジスト膜を形成した。レジスト膜をパターニングしてコンベックス形状に整形した後、熱処理を施した。熱処理では、加熱温度を徐々に上げることによりレンズ形状にレジストをリフローさせることにより、膜厚分布が制御されたマスク14とした。
【0019】
次いで、10Pa以下の減圧雰囲気で反応性ドライエッチングすることによりマスク14の膜厚分布を被加工基板11に転写した。エッチングガスには、SF6,Xeの混合ガスを用いた。エッチング初期に混合ガスの組成比をSF6:Xe=9:1として3分間エッチングすることにより、マスク14のコンベックスと水晶板との境界に高さ1μmの斜面を形成した。その後、ガス流量制御装置で数秒以内に組成比を1:1に変更したところ、加工速度比が0.4→0.2,水晶の加工速度が0.4μm/分→0.2μm/分以下と大幅に低下した。加工速度比,加工速度の低下に伴い、マスク14/水晶板の境界が緩やかな勾配をもつ斜面に整形された。
作製された圧電素子は、中央部に付与された曲面分布のため、共振周波数の鈍化が抑制された素子として使用できた。
【産業上の利用可能性】
【0020】
膜厚分布が制御されたマスク14を設けた圧電材料基板11をドライエッチングしているため、従来の湿式エッチング−機械研磨に比較して目標三次元形状に高精度で加工でき、中央部に大きな質量を分布させることも容易である。このように加工された圧電材料から作成される圧電素子は、質量負荷に対する振動が安定しているので、極微量のバイオ,化学物質を検出する分子認識センサ等を始めとして広範な分野で使用される。
【図面の簡単な説明】
【図1】 圧電材料を三次元加工する工程のフロー図
【符号の説明】
11:被加工基板(圧電材料) 12:加工速度比増幅膜 13:マスク
14:整形されたマスク 15:精密型 16:剥離紙 17:圧電素子素材(加工後)

Claims (1)

  1. 圧電材料基板の表面にマスク材料の膜を形成した後、前記マスク材料の膜をパターニングした後、加熱溶融によりリフローさせることにより、前記マスク材料の膜にコンベックス形状に対応する膜厚分布を持たせ、この膜厚分布を持つマスク材料の膜および前記圧電材料基板をドライエッチングして、前記圧電材料基板の表面を、前記マスク材料の膜の膜厚分布を反映したコンベックス形状に加工することを特徴とする圧電材料基板の加工方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0585571U (ja) * 1992-04-23 1993-11-19 リョービ株式会社 打撃工具のノーズ部

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4012156B2 (ja) 2004-02-02 2007-11-21 独立行政法人科学技術振興機構 圧電素子の製造方法
US7955516B2 (en) 2006-11-02 2011-06-07 Applied Materials, Inc. Etching of nano-imprint templates using an etch reactor
JP2008270416A (ja) * 2007-04-18 2008-11-06 Sanken Electric Co Ltd 物体に粗面を形成する方法
KR20130130681A (ko) * 2010-07-26 2013-12-02 후지필름 가부시키가이샤 만곡된 압전막을 갖는 장치의 형성
EP2676459B1 (en) 2011-02-15 2022-03-30 Fujifilm Dimatix, Inc. Piezoelectric transducers using micro-dome arrays
FR2988911A1 (fr) * 2012-04-02 2013-10-04 St Microelectronics Crolles 2 Plaque incurvee et son procede de fabrication
FR2988912A1 (fr) 2012-04-02 2013-10-04 St Microelectronics Crolles 2 Dispositif de recuperation d'energie
US9306137B2 (en) 2012-04-26 2016-04-05 Toray Industries, Inc. Method of producing crystalline substrate having concave-convex structure
JP7029640B2 (ja) * 2018-07-03 2022-03-04 パナソニックIpマネジメント株式会社 板材の加工方法および素子チップの製造方法
JP7146499B2 (ja) * 2018-07-17 2022-10-04 東京計器株式会社 3次元構造部材の製造方法、加速度ピックアップ部材の製造方法、加速度ピックアップ部材、及び加速度センサ
JP7456264B2 (ja) 2020-04-24 2024-03-27 セイコーエプソン株式会社 振動素子の製造方法、振動素子および振動子
CN111875378A (zh) * 2020-07-14 2020-11-03 中国船舶重工集团公司第七一五研究所 一种pzt基高居里温度压电陶瓷及制备方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2795126B2 (ja) * 1993-04-16 1998-09-10 株式会社デンソー 曲面加工方法及びその装置
US6562523B1 (en) * 1996-10-31 2003-05-13 Canyon Materials, Inc. Direct write all-glass photomask blanks
US5920786A (en) * 1998-04-15 1999-07-06 Advanced Micro Devices Method for fabricating shallow isolation trenches using angular photoresist profiles to create sloped isolation trench walls
JP3731348B2 (ja) * 1998-06-09 2006-01-05 松下電器産業株式会社 圧電振動子
JP2000232095A (ja) * 1999-02-12 2000-08-22 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体表面の微細パターン形成方法
JP2001111129A (ja) * 1999-10-09 2001-04-20 Yoshiaki Nagaura 圧電素子及びその加工方法
US6420202B1 (en) * 2000-05-16 2002-07-16 Agere Systems Guardian Corp. Method for shaping thin film resonators to shape acoustic modes therein
JP2002368572A (ja) * 2001-06-05 2002-12-20 Yoshiaki Nagaura 圧電素子、又は電子素材、及び音響−電気変換器、及びその製造方法
JP2002048907A (ja) * 2000-08-01 2002-02-15 Canon Inc 回折光学素子の製作方法
JP2002090980A (ja) * 2000-09-20 2002-03-27 Ricoh Opt Ind Co Ltd 濃度分布マスクとその製造方法
JP2003060481A (ja) * 2001-08-16 2003-02-28 Citizen Watch Co Ltd 圧電振動素子とその製造方法、および圧電デバイス
JP4968999B2 (ja) * 2001-09-17 2012-07-04 リコー光学株式会社 三次元構造体の製造方法
US6849558B2 (en) * 2002-05-22 2005-02-01 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Replication and transfer of microstructures and nanostructures

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0585571U (ja) * 1992-04-23 1993-11-19 リョービ株式会社 打撃工具のノーズ部

Also Published As

Publication number Publication date
EP1632466A4 (en) 2009-06-17
KR100847321B1 (ko) 2008-07-21
JP2004349365A (ja) 2004-12-09
US20070000864A1 (en) 2007-01-04
EP1632466A1 (en) 2006-03-08
CN1791565A (zh) 2006-06-21
WO2004103932A1 (ja) 2004-12-02
KR20060028386A (ko) 2006-03-29

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