JP2002368572A - 圧電素子、又は電子素材、及び音響−電気変換器、及びその製造方法 - Google Patents

圧電素子、又は電子素材、及び音響−電気変換器、及びその製造方法

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JP2002368572A
JP2002368572A JP2001209997A JP2001209997A JP2002368572A JP 2002368572 A JP2002368572 A JP 2002368572A JP 2001209997 A JP2001209997 A JP 2001209997A JP 2001209997 A JP2001209997 A JP 2001209997A JP 2002368572 A JP2002368572 A JP 2002368572A
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  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 従来困難とされた、製造限界の厚みよりも薄
い、水晶、セラミックス、ニオブ酸リチウムなどの、圧
電素子、又は、シリコン、ガリウムヒ素などの、電子材
料を、3次元、立体構造体の、立体構造である、2段階
形状型、又は2段階形状型以上の、段階形状型をした、
Grooved Typeに加工するための製造方法お
よび、光学レンズの製造方法を提供する。 【解決手段】 外周である、保持部分は、厚くて、中心
部分に向かうほどに、2段階形状型、又は2段階形状型
以上の、段階形状に、中心部分に向かうほどに、薄くな
っている形状の、共振子(振動子)であることを特徴と
する圧電素子。水晶基板に対してエッチング加工等の多
段階加工により所望の段階飛状に加工した後、エッチン
グ歪み除去のため基板の上下から圧力をかけて研磨加工
すると、水晶振動子(共振子)の中心部分が理想的な凸
レンズ形状に仕上げられる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、固有振動数を、飛
躍的に高めることのできる、水晶、セラミックスなど
の、圧電素子、又はシリコン、ガリウムヒ素などの、電
子材料、及び電子素材、及びその製造方法に関する。
又、光学レンズの製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】圧電素子の一種である水晶振動子は、通
信機器や計測機器の基準周波数の発振源をはじめ、汎用
コンピュータ、OA情報機器、家電製品用のマイコンの
クロック発生など、その用途は多岐にわたっているが、
情報の処理・伝達能力の高性能化のため、振動子(共振
子)の厚さを薄くし、その固有振動周波数を、上昇させ
ることが求められている。また高品質の振動子(共振
子)を得る目的で、レンズ形状に仕上げることが提案さ
れ、比較的低い周波数領域では実績を上げている。
【0003】水晶振動子(水晶共振子)は、通信機器や
コンピュータなどのデジタル機器には、欠かすことので
きない電子デバイスである。情報の処理・伝達能力の高
性能化のため、振動子(共振子)の厚さを薄くし、その
固有振動周波数を、上昇させることが求められている。
しかも移動体通信機器においては、小型化、省電力化の
ため、基本周波数での高周波数化が求められている。
【0004】水晶振動子(水晶共振子)の製作法として
は、一般的に、機械的ポリッシング加工と、化学的な、
Wetエッチング加工が利用されている。前者は、加工
表面性状に優れるが、30μm以下の厚さにすることが
出来ない。後者は、原理的には加工変質層のない、薄片
化に適する方法であるが、Etch channels
の発生などで、この方法も、薄片化に限界がある。一
方、反応性イオンエッチング加工である、Reacti
ve Ion Etching(RIE)、又はInd
uctively Coupled Plasma E
tching(ICP)又はプラズマエッチング(略し
て、化学的な、Dry Etchingとする)は、イ
オンダメージが導入されるものの、表面粗さの悪化のな
い薄片化が可能である。
【0005】高周波水晶振動子の製作法として、これら
の加工方法の長所を有効に活用することにより、量産可
能な製造方法を開発することが出来た。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、振動子
(共振子)の厚さを薄くする場合の問題として、両面研
磨加工機械(両面ラップ盤)による製造法では、現在3
0.0μm(=55.6MHz)に製造の限界がある。
【0007】また、振動子(共振子)をレンズ形状に仕
上げる場合では、薄片上に曲面を創成することは非常に
困難であり、今まで、安いコストで、多量生産すること
が出来る加工手段が存在しなかった。
【0008】そこで本発明が解決しようとする課題は、
従来困難とされた、製造限界の厚みよりも薄い、レンズ
形状の圧電素子及びその製造方法を提供することであ
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めの、本発明の圧電素子の製造方法は、最終厚みよりも
厚い圧電材料の両端表面に、最終目標のプロフィルの形
状を形成した後、反応性イオンエッチング加工(Dry
Etching加工)により、前記圧電材料の両端の
表面を、当該圧電材料の中心方向に向かって、均一に厚
みが、相対的に、相似形状に、減少するようにエッチン
グ加工し、目的とする最終厚み及びプロフィルの振動部
を形成することを特徴とするものである。
【0010】また、圧電材料からなる棒状体の両端表面
に、最終目標のプロフィルの形状を形成した後、反応性
イオンエッチング加工(Dry Etching加工)
により、前記棒状体の端面の表面を、当該棒状体の周壁
の厚み部分を残し、当該棒状体の中心方向に向かって均
一に厚みが、相対的に、相似形状に、減少するようにエ
ッチング加工し、筒状体になった棒状体の内部中央に、
前記最終厚み及びプロフィルの振動部分を形成すること
を特徴とするものである。
【0011】また、振動部の両面中央に一対の電極を蒸
着し、各電極に金線の先端を接着し、金線をリード線と
して引き出す。
【0012】
【発明の実施の形態】図1は本発明の製造方法を示すも
のである。まず、人工水晶から厚さ50μmの水晶基板
100(図1(a))をカットし、次いで同基板の片面
(上面)の一部をフッ化水素を使ったエッチングで溶か
して断面から見て凹形状のくぼみ101を作る(図1
(b))。このくぼみ101の底面から水晶基板100
の下面までの薄い部分が高周波を生み出す振動部、残り
の部分が電極を付けるフレーム部102となる。ここま
では従来の製法と同じである。
【0013】続いて、水晶基板100の下面全体をフッ
素ガスを利用したDry Etching加工(以下、
イオンエッチング加工とする)で加工し、同基板をさら
に薄くする(図1(c))。イオンエッチング加工と
は、プラズマ状態にして結合を切ったフッ素ガスの原子
に電圧をかけて加速、水晶基板100にぶつけて表面の
二酸化ケイ素中ケイ素の、原子をはじき出す加工法であ
る。
【0014】化学的な、wetエッチング加工だけでは
上述のように、厚さを20μmにしかできない。その
後、イオンエッチング加工を経て10.3μm程度に薄
くする。目指す厚さは10μmである。しかし、イオン
エッチング加工を使っても、その目標には届かない。イ
オンエッチング加工は薄くできる半面、原子同士の衝突
を利用することから、単結晶の表面に、非結晶成分や原
因不明の欠陥である「イオンダメージ層」を残す弱点が
あるためである。同層は0.2〜0.3μmの厚さを持
つ。
【0015】そこで、機械研磨を行う。0.3μm程度
の削りしろを残し、最後の両面研磨盤を使用した、両面
研磨加工(図1(d))に移る。両面研磨盤は遊星歯車
機構と似た構造となっている。まず、遊星歯車に相当
し、自転しながら公転する鋼製の、キャリア106に水
晶基板100を収め、下定盤104と上定盤103との
間に挟む。両定盤には発泡ポリウレタンの、研磨パッド
105を貼り付ける。
【0016】ここで水に溶かした、酸化セリウムの砥粒
を流しながら、キャリア106で保持した、水晶基板1
00を上下定盤103,104の間を自転させるととも
に、上定盤103を回転すると、水晶基板100の上下
両面が磨かれる。
【0017】図1(e)に示すように、この両面研磨加
工、工程後の水晶基板100は、下面が曲率を持って、
膨んで凸状レンズの形状となる。こうしたレンズ形状に
すれば、電子機器が誤作動を起こす原因となる、余分な
振動(副振動)をなくし、より安定した振動を得ること
ができることが分かっている。
【0018】なぜレンズ形状になるのか、その理由を図
2を参照して説明する。
【0019】研磨量は研磨圧力に比例する。イオンエッ
チング加工後の凹形水晶基板100は、フレーム部10
2が上下両定盤103,104から、大きな研磨圧力を
受け、振動部となる凹部101は、下定盤104のみか
ら小さな研磨圧力を受ける。しかも、凹形構造だから凹
部101が受ける、研磨圧力は中心部に向かうほど小さ
くなる〔図2(a)〕。従って、研磨量は凹部101の
中心で最小、フレーム部102で最大となり、両部分の
間の研磨量は、球面の一部のように曲率を持って変化す
る。その結果、凸レンズ形状の水晶振動子(水晶共振
子)ができあがる〔図2(b)〕。最も厚いレンズ中央
部の厚さが10μmである。
【0020】理解できるように、両面研磨加工工程では
0.3μmしか削っていない。このわずかな研磨量で、
上記のダメージ層を取り除き、凸レンズ形状に加工する
のである。いわば、化学的な、エッチング加工とDry
Etching加工が粗加工、両面研磨加工が仕上げ
加工である。
【0021】本発明は、これらの研磨加工方法を、組み
合わせることにより、従来の技術の製造限界の厚みより
も、薄い圧電素子が製造でき、さらに、凸レンズ形状の
振動部により、副振動のない、電気的に、特性が、安定
した振動を得ることができる。
【0022】
【実施例】化学的な、Wet Etching(略し
て、Chemical Etchingとする)、Re
active Ion Etching(略してRIE
とする),Inductively Coupled
Plasma Etching(略して、Dry Et
chingとする)、Mechanical Poli
shingの長所を有効に活用した、高周波用水晶振動
子の製作方法を発明した。その結果、一段階形状型をし
た、Single−Sided Inverted M
esa Typeの、Quartz Blankを加工
素材とすることにより、広く普及している、両面ラップ
盤で、Plano−Convex Typeの、高周波
水晶振動子の製作が出来た。
【0023】図3(a)に示しているのはRIE、イオ
ンミーリング、又はプラズマエッチング(略して、Dr
y Etchingとする)で作られた、水晶振動子の
リアクタンス周波数特性の例を示している。固有振動周
波数を示している、ピークに近接するところに、有害な
ピークが生じている。これはDry Etching加
工の、イオンダメージによるものと考えられる。このD
ry Etching加工処理面を手研磨したところ、
図3(b)に示しているように変化し、有害なピーク
は、解消されて、電気的な特性の改善が図られた。
【0024】このことから、Dry Etching加
工のイオンダメージ層は0.3μm以下と、極く薄く、
Mechanical Polishing加工で除去
可能であることがわかった。
【0025】図4に示しているのは、Chemical
Etching加工による、一段階形状型をしたSi
ngle−Sided Inverted Mesa
Typeの、Quartz Blankの作製、多量生
産を考え、Quartz Waferにマスキングを行
ない、Chemical Etchingで作製したも
のを使用した。その形状を、図4(a)に示す。73.
4μmのQuartzWaferに、Chemical
Etching加工で振動部分の厚さを、32.68
μmとした物であり、このChemical Etch
ing加工の深さは、表面の粗さを良好に保った、限界
の深さである。
【0026】この素材のReactance−freq
uency Characteristicを、図4
(b)に示す。図3(a)のDry Etching加
工にて、作成したものと似た、特性となっている。
【0027】図5に示しているのは、Dry Etch
ing加工による薄片化、さらに、高い周波数のため
に、薄片化にDry Etching加工を利用した。
しかし、次の工程の、両面ラップ盤による、Mecha
nical Polishing加工で、イオンダメー
ジ層を除去するために、Dry Etching加工処
理面は、Single Inverted Mesa
Typeの、Quartz Blankの平面側とし
た。このRIE処理条件は、通常の条件で処理した。R
Fpowerを下げる、Pressuerを上昇させる
ことで、イオンダメージを少なくすることが可能であ
る。しかし、Etching Rateを下げてしまう
ことに繋がり、first Dry Etching加
工では高能率、third Dry Etching加
工では、ダメージの少ない条件と、3つの条件で処理し
た。なお、除去量の調節はfirst Dry Etc
hing加工の、処理時間で行なった。この一連の、処
理により、得られた加工素材のReactance−f
requency Characteristicを、
図5に示す。
【0028】こうした結果、Chemical Etc
hing加工のみによるもの、1種類と、これをDry
Etching加工の加工手段にて加工したもの3種
類、合計4種類の加工素材を作製した。
【0029】図6に示しているのは、Polishin
g Conditionsと、Mechanical
Polishing加工の結果で、前述の加工方法で得
られた、加工素材とする、一段階形状型をした、Sin
gle−Sided Inverted Mesa T
ypeの、Quartz Blankを、Dual−f
ace Lapping Machineで研磨加工を
行なう。このときの研磨加工の条件は、一般的な、加工
条件にて研磨加工を行なった。ただし、薄い振動部分の
破損、形状への影響を調べるため、Upper Lap
ping Plateを、鉄とアルミのものの、2種類
を使用した。鉄のUpper Lapping Pla
teを用いた場合の、水晶に加わる荷重は、アルミに対
し1.8倍となる。
【0030】両面研磨加工機械を使用して、Mecha
nical Polishing研磨加工を、実施した
結果、第1点の、薄い振動部分の破損については、全く
発生せず、加工可能であった。第2点の、形状形成につ
いても、大きな成果を得た。その結果を図6に示す。こ
の図6は、一段階形状型をした、Single−Sid
ed Inverted Mesa Typeの、Qu
artz Blankの、平面側の振動部分を、干渉顕
微鏡で形状を測定したものである。これから、振動部分
は、凸レンズ形状に飛び出した、形状が形成されている
ことがわかる。非常にきれいな球形状をしており、この
反対側は、基本的には、平面が維持されている。このこ
とから、平面を形成するための、Dual−face
Lapping Machineであっても、一段階形
状型をした、Single−Sided Invert
ed Mesa Typeの、Quartz Blan
kを加工素材とすれば、Plano−Convex T
ypeの、QuartzOs c illatorが作
製できると言える。
【0031】この形状形成の原理は、次の通りである。
振動部分だけが、薄い構造となっている、一段階形状型
をした、Single−Sided Inverted
Mesa Typeは、研磨圧力を受けることによ
り、空洞部分の方向に、たわみを生じ、あまり研磨され
ずに、加工が進行していく。加工が終了し、研磨圧力を
除去すると、今度は、反対方向に復元し、飛び出した、
凸レンズ形状となるものである。
【0032】図7は、4種類の加工素材と、2種類の加
工圧力で、研磨を実施したものの、Reactance
−frequency Characteristic
を示している。研磨前に対し、電気的特性は、飛躍的に
向上した上で、高周波化が図られている。研磨前に、み
られたSpurious Resonanceは、研磨
加工により解消され、Sharp Resonance
Curveを描いている。しかし、厚さが薄くなる、
あるいは研磨圧力を大きくすると、Resonance
Curveの鋭さは、維持されるものの、Spuri
ous Resonanceを、生じるようになる。適
正な研磨圧力ならびに口径/厚さの比がある。
【0033】図8は、振動部分の厚さが、Form及び
Surface Roughnessに与える影響、振
動部分の厚さによる、振動部の中心部分の1.44×
1.31mmの範囲で、peak to valley
(P−V)の変化を調べた結果を示す。又、形成され
た、凸レンズ形状の、曲率半径の逆数の変化を、図9に
示す。アルミの定盤を用いた場合、両図とも同じ変化で
あるが、鉄製定盤の場合には、変化が異なっていること
から、アルミニウムの場合、きれいな球形状に対し、鉄
の場合は、歪んだ球形状と思われる。一方、一段階形状
型をした、Single−Sided Inverte
d Mesa Typeの、Concave側は、厚さ
の変化により、凹面の度合いが増していった。これは、
平面側に、凸レンズ形状が、形成される時の、加工歪み
の、度合いを示すものと考えられる。最適研磨条件の選
定、熱処理などにより、改善が可能であると考えられ、
電気的特性の改善にも、繋がるものと期待している。
【0034】Concave側の中心部分の、表面の粗
さの変化を、図10に示す。Polishing pa
dの接しない部分に対しても、遊離砥粒は作用し、表面
粗さに変化を与えている。Chemical Etch
ing加工のものは、Ra2.6nmであったものが、
研磨により、Chemical Etching加工特
有の、縞状の、凹凸が顕在化し、Ra7nmまで、悪化
してくる。表面粗さが、悪化しない、Dry Etch
ing加工でConcave(一段階形状型をした、S
ingle−Sided Inverted Mesa
Type、又は一段階形状型をした、Double−
Sided Inverted Mesa Type)
を形成後、0.3μmから0.4μm程度を、Mech
anical Polishing加工で、イオンダメ
ージ層を除去することにより、この改善が可能である。
【0035】尚、図10に示している結果から、Dry
Etching加工の加工手段により作製した、一段
階形状型をした、Double−Sided Inve
rted Mesa Typeでも、一段階形状型をし
た、Single−Sided Inverted M
esa Typeと同じく、両面研磨加工機械を使用し
て、特性の改善が、出来ることが証明された。
【0036】これらの結果から、口径に対する厚さの比
(d/t)を、50から150とする、最適の比率であ
る、80程度にすることにより、電気的特性に優れた、
334MHz以上の、高周波水晶振動子(共振子)の作
製が可能になることが判明した。
【0037】次に、本発明の圧電素子の応用例として、
音響−電気変換器について説明する。従来の、地震探査
・予知には、現在、海洋観測、地下構造探査、地球磁気
観測、GPSによる観測、2点間の距離のレーザ測定に
よる、地核の移動測定などが行われているが、地震や津
波による、空気の振動を観測することも、一つの予知方
法である。
【0038】空気の振動を、記録や分析が、容易な電気
信号に変換する手段として、集音マイクがあるが、雑音
を拾いやすく、目的の振動数の音波を検出することが困
難である。
【0039】図11(a)〜(e)は、本発明の圧電素
子を利用した、音響−電気変換器の、各実施例を示すも
のである。図11において、円筒21及び54は、水晶
又はニオブ酸リチウム又はその他の単結晶、又は、チタ
ン酸バリウム又はその他のセラミックスなどの圧電効果
を有する材質からなる。この円筒21及び54の中央部
に受圧面22を形成し、その受圧面22に一対の電極2
3,24を金属蒸着等により形成し、金線26を電極2
3,24に導電性接着剤などで接着し、電極23,24
間の誘起電圧を測定するための、増幅器25を接続して
いる。(電極23,24及び増幅器25は図11(a)
のみ図示している)。図11(a)は両凸レンズ(bi
−convex)型、(b)は両凹レンズ型、(c)は
平面型、(d)は片凸片凹レンズ型、(e)は片凸(p
lano−convex)型を示している。図11
(a)に示しているように、栓55を2個使用して円筒
21内部を密封して、A室を形成し、円筒54内部を密
封してB室を形成する。A室内部も、B室内部も、とも
に減圧(出来れば真空状態、又は不活性ガスを封入)し
た構造の、左右の円筒21及び円筒54が、横軸方向及
び縦軸方向の、振動をキャッチする構造とすることで、
受圧面22を、円筒21及び円筒54に、形成しない場
合に比較すると、受圧面22が、より強く振動をキャッ
チする。なお、上記の理由から、円筒21及び円筒54
の直径が小さく、長さが長いほど、外部からの振動を受
圧面22が受けやすくなるので、精度の高い、圧力セン
サーが出来ることになる。
【0040】尚、A室及びB室内部を減圧させない場合
には、不活性ガスを注入するとよい。
【0041】図12は、図11(a)及び(e)に示し
ている、音響−電気変換器の上面図であり、穴又は空間
部分47が、受圧面22に形成されている。こうする
と、左右の円筒21及び円筒54を振動させた振動が、
図11(a)及び(e)に示している、Aの部分からB
の部分に、又は、Bの部分からAの部分に、両端から自
由に移動することで、Aの部分を振動させた振動と、B
の部分を振動させた振動が、中心部分において、共鳴し
て共鳴現象を起すことで、穴又は空間部分47を形成し
ない場合に比較すると、より強く、中心部分に形成して
いる受圧面22を振動させることができる。なお、穴又
は空間部分47を形成しないでよい場合もある。
【0042】次に、受圧面22の、機械的形成方法につ
いて、本願出願人が先に提案した方法をまず説明する。
基本的には、図13に示すように、水晶又は、チタン酸
バリウム又は、ニオブ酸リチウム又は、その他のセラミ
ックスなどの、圧電効果を有する材質からなる材質の丸
棒30を、旋盤などの加工機械のチャック31で把持
し、また金属球の表面にダイヤモンド砥粒を付着させた
砥石32を先端に回転自在に設けた加工工具33を、ツ
ール保持具34で把持する。砥石32は、図14に示す
ように、対向面がカットされた球体であり、支持アーム
35の先端に、軸受け36を介して回転自在に取り付け
られている。砥石32の周面には、図15(a)及びそ
のA−A拡大断面図である、図15(b)に示すよう
に、V字状溝32aが形成されており、溝32aの内壁
の一方が、砥石32の中心を通る面に含まれるような方
向性を有している。この砥石32は、エアノズル40か
ら、砥石32の周面に対して、接線方向に噴射される、
空気のジェット流により高速回転(好ましくは8.00
0〜50.000rpm)され、被研削面をゆっくり
と、時間を掛けて(例えば、毎分1μm)削っていく。
この研削時に、噴水ノズル41から水を噴射して、砥石
32の冷却と、削り屑の排出を行う。丸棒30は、砥石
32が回転駆動されるとき、図13に示すように、軸心
の回りに回転駆動され、従って砥石32により、円形形
状又は、円筒形状の穴が形成される。
【0043】また、図16に示しているような、受圧面
22の研磨面が、凸状の場合は、図17((a)は正面
図、(b)は平面図)に示すように、鼓型の砥石32’
を使用する。受圧面22の研磨面が、フラットな場合
は、図17(c)に示すような、フラットな砥石32″
を使用する。あるいは、図18に示すように、穴径より
も、ずっと小さい径の、砥石32を用い、図14に示す
ものと、同じ加工工具33を、NC装置などで、受圧面
22の曲面に沿って、移動させながら、砥石32を回転
させる。同時に、チャック31を回転させて、丸棒30
を回転させながら、受圧面を加工する。又、穴又は空間
部分47を形成する手段としては、図17(d)に示す
ような、形状の砥石32″を使用すると、保持部分47
を残して、容易に穴又は空間部分47を加工することが
出来る。又、穴又は空間部分47を形成する手段として
は、通常のダイヤモンドを電着した、ドリルを使用して
も、穴又は空間部分47を形成することは、可能であ
る。
【0044】尚、円形形状の穴の加工には、通常の軸の
回りに回転する、工具も使用でき、図19に示すよう
な、球面形状の砥石や、図20に示す、円板面形状の砥
石も使用できる。又、砥石32を使用して、研削加工が
終了したならば、砥石32と同じ構造をした、研磨用の
研磨用砥石32″″を、フェルト又はバフなどの素材を
使用して製作し、研磨用砥石32″″と砥石32を取り
換えて、研磨用砥石32″″を使用して研磨加工する
と、仕上加工が出来る。フェルト又はバフで出来ている
研磨用砥石32″″の回転駆動の手段も、砥石32を回
転駆動させる手段と同じく、フェルト又はバフに溝32
(a)を形成して、エアノズル40を使用しての回転駆
動とすると、容易に研磨加工を行うことが出来る。
【0045】図21及び図22に示しているのは、図1
4に示している構造をした、研削及び研磨装置の製作図
である。実際に製作した砥石32の直径は20mmで、
溝32(a)の深さは1mmで、溝の数を16個形成し
た構造の、研削及び研磨装置に、エアノズル40から、
砥石32の周面に対して接線方向に噴射したときの空気
圧と、砥石32の回転数を実測した実測値の数字を以下
に示す。
【0046】 空気圧が0.5気圧の場合の、砥石3
2の回転数は、約12,200rpmである。
【0047】 空気圧が1.0気圧の場合の、砥石3
2の回転数は、約22,000rpmである。
【0048】 空気圧が2.0気圧の場合の、砥石3
2の回転数は、約37,500rpmである。
【0049】 空気圧が3.0気圧の場合の、砥石3
2の回転数は、約47,800rpmである。
【0050】 空気圧が4.0気圧の場合の、砥石3
2の回転数は、ベアリングが耐えることが出来る限界で
ある、約50,000rpmである。
【0051】なお、図21及び図22に示している構造
の研削及び研磨装置に取り付ける研削用の砥石32の代
わりに、鉄、アルミニウム、銅などの金属又は、バフ又
はフェルト又は、ガラス又はプラスチック又はセラミッ
クス又は、その他の研磨用材質で製作された、図17
(e)に示している研磨用砥石32″″を使用すること
ができる。この研磨用砥石32″″と、ダイヤモンドペ
ースト又は酸化セリウム又はアルミナ又はGC又は、そ
の他の研磨剤を使用して、図13に示している加工方法
により、図11に示しているような各種形状に、水晶な
どの圧電素材の研削及び研磨加工を同時に行う構成とす
る。
【0052】研削と研磨を同時に行うことが出来る理由
としては、図17(e)に示す研磨用砥石32″″の回
転数を、ベアリングが耐えることが出来る限界である5
0,000rpmまでの回転数まで、容易に駆動させる
ことが出来るためである。研磨加工だけでも、極く短い
時間に、能率よく行うことができるため、極く薄い、水
晶などの圧電素材であれば、フェルト、バフ、鉄などで
出来ている、研磨用砥石32″″を使用して、研削と研
磨加工の、2つの加工を、同時に行うことが出来る。
【0053】以上は、先の本願出願人により、提案され
た、製造方法の説明であるが、新たに、発明した、音響
−電気変換器を加工する、加工方法について説明する。
【0054】まず、図11(a)に示す、円筒形状の圧
電材料の中心部に、凸レンズ形状の受圧面(振動面)2
2を形成する方法を、図23に基づいて説明する。
【0055】(a)円柱形状の圧電材料20の両端部分
を、機械的な研磨加工や、エッチング加工、又はその他
の手段を使用して、目的とする、凸レンズ形状20aに
形成し、第1加工品を製作する。
【0056】(b)第1加工品の、円柱形状に形成して
いる、凸レンズ形状の部分だけがDry Etchin
g(RIE加工、又はCIP加工)加工され、凸レンズ
形状の部分以外は、Dry Etching加工されな
いようにする。その方法は、ガラス、石英、水晶、タン
グステン・シーサイト、ニッケル、純鉄,プラスチック
ス、又はその他の素材でできている、リング形状のマス
クを、円柱形状の圧電材料20の、端部に取り付けるこ
とで行うことができる。
【0057】(c)これを、図23(c)に示すよう
に、圧電材料20の中央部に達するまで行う。
【0058】(d)Dry Etching加工が進ん
で、中央部の所定の長さに達したら、圧電材料20の反
対面から、同様に、Dry Etching加工を行
う。実際には、Dry Etching加工設備は動か
さず、圧電材料20を反転させて加工する。
【0059】(e)図23(e)に示すように、圧電材
料20の中央部付近に、凸レンズ形状が形成されたら、
Dry Etching加工により発生した0.2μm
〜0.3μm程のイオンダメージ層を、機械的な、研磨
加工手段を使用して、除去することにより、図23
(f)に示すように、電気的な特性が良好な、レンズ形
状を円筒形状の中心部に形成した、レンズ形状をともな
った、Ring−Support形状の、共振子(振動
子)を製作することができる。
【0060】図24は、片面が凸レンズ形状、他の面
が、フラットな形状の受圧面(振動面)を、加工する場
合の工程を示している。
【0061】図25は、片面が凸レンズ形状、他の面
が、凹レンズ形状の受圧面(振動面)を、加工する場合
の工程を示している。
【0062】図26は、両面ともフラットな形状の、受
圧面(振動面)を加工する場合の工程を示している。
【0063】図27は、筒型共振子(振動子)の、他の
製造方法を示すものである。工程順に説明する。(a)
円柱形状の圧電材料20の、両端部分の中央部に、機械
的な研磨加工や、エッチング加工、又はその他の手段を
使用して、目的とする凸レンズ形状20aを形成し、第
1加工品を製作する。
【0064】(b)第1加工品の、円柱形状に形成して
いる、凸レンズ形状の部分だけがDry Etchin
g加工され、凸レンズ形状の部分以外はDry Etc
hingされないようにする。その方法は、圧電材料2
0の外径よりも小さい径の、ガラス、石英、水晶、タン
グステン・シーサイト、ニッケル、純鉄、プラスチック
ス又はその他の素材でできている筒52を、円柱形状の
圧電材料20の端部に当てる。次いで、Dry Etc
hing加工を、圧電材料20の筒52の、内部と外部
に同時に行う。同時に、筒52の端面も削られていく。
【0065】(c)これを、図27(c)に示すよう
に、圧電材料20の中央部に達するまで行う。
【0066】(d)Dry Etching加工が進ん
で、中央部の所定の長さに達したら、圧電材料20の反
対面から、同様に、Dry Etching加工を行
う。実際には、Dry Etching加工設備は動か
さず、圧電材料20を反転させて加工する。
【0067】(e)図27(e)に示すように、圧電材
料20の中央部付近に、凸レンズ形状が形成されたら、
Dry Etching加工により発生した、0.2μ
m〜0.3μm程のイオンダメージ層を、機械的な、研
磨加工手段を使用して除去することにより、図27
(f)に示すように、電気的な特性が、良好なレンズ形
状を円筒形状の中心部に形成した、レンズ形状を中心部
にともなった、外周にRing−Support形状
の、保持部分を一体形成した、共振子(振動子)を製作
することができる。
【0068】なお、図27では、両凸レンズ形状を加工
する、例を示したが、他の形状に置いても、同様に、初
期の形状を保ったまま、加工を行うことで、所望の、任
意の形状の共振子(振動子)を製造することができる。
【0069】次に、リング状の保持部の内部に、凸レン
ズ形状振動部(共振部)を、極く薄い連結部を介して形
成する加工方法について説明する。
【0070】図28、及び図29は、その加工方法を示
すものであり、順に説明を行う。
【0071】(1)厚板形状の圧電材料20の両端部分
を、機械的な研磨加工やエッチング加工、又はその他の
手段を使用して、目的とする凸レンズ形状20aに形成
し、第1加工品を製作する。このときの圧電材料の厚み
は、目的とする厚みよりも、相当厚い。
【0072】(2)第1加工品の、円柱形状に形成して
いる、凸レンズ形状の部分だけがDry Etchin
g加工され、凸レンズ形状の部分以外は、Dry Et
ching加工されないようにする。その方法は、第1
加工品の真上にガラス、石英、水晶、タングステン・シ
ーサイト、ニッケル、純鉄、プラスチックス又はその他
の素材でできている、円筒形状の加工補助具50を置
き、Dry Etching加工により、第1加工品の
両側を同時に、または一方ずつ(本例では一方ずつ)、
Dry Etching加工により、加工補助具50も
同時に、表面を一様に蝕刻していく。これにより、円筒
形状の中心部分に極く薄い、凸レンズ形状に加工した
後、Dry Etching加工により発生した0.2
μm〜0.3μm程のイオンダメージ層を、機械的な、
研磨加工手段を使用して除去することにより、電気的な
特性が良好な、レンズ形状を円筒形状の中心部に形成し
た、レンズ形状を中心部分にともなった、外周にRin
g−Support形状の、保持部分を一体形成した、
振動部(共振部)を製作することができる。
【0073】なお、図28、及び図29では両、凸レン
ズ形状の加工方法を示したが、圧電材料20の両面の、
初期の形状をフラット、凹レンズ形状、又はその他の形
状に加工することにより、初期の形状を、保ったまま、
Dry Etching加工により、厚みを薄くするこ
とで、片凸レンズ、両フラット形状、片凸片凹形状、又
はその他の任意の形状に加工することができる。
【0074】図29は、リング状の保持部の内部に、凸
レンズ形状振動部(共振部)を、極く薄い連結部を介し
て形成する、別の加工方法を示すものである。順に説明
する。
【0075】(1)円板形状の圧電材料20の両端部分
に、先に機械的な、研磨加工、又はプレス成型(レンズ
を製作する方法)や、エッチング加工、又はその他の手
段を使用して、目的とする凸レンズ形状に加工した、補
助型材51を密着させて取り付けるか、又はレジスト
(例えば、東京応化工業株式会社が製造している、OS
PRというレジスト)などの接着剤を使用して、圧電材
料20に補助型材51を貼り付ける。なお、補助型材5
1の材質としては、ガラス、光学ガラス、レンズ、石
英、水晶、タングステン・シーサイト、ニッケル、純
鉄、プラスチックス、又はその他の素材を使用する。
【0076】(2)補助型材51の凸レンズ形状の部分
だけが、Dry Etching加工され、凸レンズ形
状の部分以外は、Dry Etching加工されない
ように、補助型材51の真上に、ガラス、光学ガラス、
石英、水晶、タングステン・シーサイト、ニッケル、純
鉄、プラスチックス、又はその他の素材でできている、
円筒形状の加工補助具50を置き、Dry Etchi
ng加工により、加工補助具50も、同時に、表面を一
様に蝕刻していく。これにより、最初は、補助型材51
の表面が蝕刻されていき、次いで、圧電材料20の表面
が蝕刻されて、円筒形状の中心部分に極く薄い、凸レン
ズ形状が加工される。、その後、DryEtching
加工により発生した0.2μm〜0.3μm程のイオン
ダメージ層を、機械的な、研磨加工手段を使用して除去
することにより、電気的な特性が、良好なレンズ形状を
円筒形状の中心部に形成した、レンズ形状を中心部分に
ともなった、外周にRing−Support形状の、
保持部分を一体形成した、振動部(共振部)を製作する
ことができる。
【0077】図30に示しているのが、図28、及び図
29と異なるのは、補助型剤51の形状が、レンズ形状
を、中心部分にともなった、外周に、Ring−Sup
port形状(枠付き形状)の、保持部分を一体形成し
た、光学レンズを、プレス形成、又はその他の加工手段
を使用して製作した、補助型材51を使用しているとこ
ろが、図28、及び図29と、図30の相違点である。
図30の加工方法であれば、図28、及び図29にて説
明した、ガラス、光学ガラス、石英、水晶、タングステ
ン・シーサイト、ニッケル、純鉄、プラスチックス、又
はその他の素材で出来ている、円筒形状の加工補助具5
0を使用することなく、容易に図30(f)に示してい
るような、レンズ形状を中心部分にともなった、外周
に、Ring−Support形状の、保持部分を一体
形成した、水晶振動子(水晶共振子)を製作することが
出来る。
【0078】補助型材51の材質としては、ガラス、石
英、水晶、タングステン・シーサイト、ニッケル、純
鉄、プラスチックス、又はその他の素材でもよいが、最
もよいのは、水晶と同じ材質である、石英ガラスを使用
して、プレス成型した補助材51を使用するとよいが、
他の材質を使用してもよい。
【0079】なお、図30では圧電材料20の両面に、
凸レンズ形状の、補助型材51を密着させて、取り付け
るか、又はレジストなどの接着剤を使用して、貼り付け
て、Dry Etching加工を行ったが、補助型材
51の形状を、凸レンズ形状、又は凹レンズ形状、又は
その他の形状に加工することにより、初期の形状を保っ
たまま、Dry Etching加工により、厚みを薄
くすることで、片凸レンズ、両面フラット形状、片凸片
凹形状、両凸形状、または、その他の、任意の形状に加
工することができる。
【0080】以上のようにして製造した、振動部(共振
部)の両面に、図31に示すように、Al,Ag,Au
等の、金属を蒸着して電極23,24を形成する。さら
に、ボンデイングマシン、あるいは導電性接着剤を使用
して、極く細い金線26(例えば、18μm程度)を、
電極に接着する。通常であれば、蒸着だけを使用して電
極及びリードを形成するのであるが、円筒形状部の直径
が、極く、小さくて、長さが、長い場合には、蒸着だけ
では、電極及びリードの、形成ができないので、電極の
みを、蒸着で形成し、その後に、金線を電極に接着する
ようにした。
【0081】次に、図32、図33、図34及び図35
に示しているのは、化学的な、Wet Etching
加工、又はDry Etching加工による、2段階
形状型をした、Double−Sided Groov
ed Typeの、Quartz Blankの作製、
多量生産を考え、Quartz Waferにマスキン
グを行ない、Chemical Etching加工、
又はDry Etching加工で作製したものを使用
した。その形状を、図32(a)、図33、図34
(a)、及び図35(a)に示す。80μmの Qua
rtz Waferに、Chemical Etchi
ng加工、又はDry Etching加工で振動部分
の厚さを、最初に、第1回目のマスキングを行ない、図
32(b)、図33(b)、図34(b)、及び図35
(b)に示しているように、Quartz Wafer
の両側から25μmずつ、Chemical Etch
ing加工、又はDry Etching加工を行な
い、振動部分の厚さを30μmとした後、第2回目のマ
スキングを行ない、図32(c)、図33(c)、図3
4(c)、及び図35(c)に示しているように、30
μm残っている振動部分の厚さを、さらに、両側から1
3μmずつChemical Etching加工、又
はDry Etching加工を行ない、振動部分の厚
さを4μmとしている。
【0082】図32、及び図33に示しているように、
最初に、第1回目のマスキングで、Quartz Wa
ferに図32(a)、及び図33(a)に示している
丸型形状、又は図34(a)に示している、6角形状、
又は図35(a)に示している、4角形、状、又はその
他の形状の振動部分の厚さが、30μmのQuartz
Blankを、Chemical Etching加
工、又はDry Etching加工にて形成した後、
第2回目のマスキングを行ない、図32(c)、図33
(c)、図34(c)、及び図35(c)に示している
ような、振動部分の厚さを4μmとする加工、手段なら
ば、下記のような利点がある。
【0083】 外周の形状が4角形状、又は長方形状
でも、電気的な特性がよい形状である、振動部分の形状
を、真円形状、又は丸型形状にすることが出来る。
【0084】 図32、及び図33に示しているよう
に、Quartz Blankの、外周の形状が4角形
状、又は長方形状の場合、振動部分の形状を、真円形
状、又は丸型形状にすると、水晶の結晶方向の、目印が
ない為に、結晶方向を判断することが出来なくなるの
で、振動部分の形状を丸型形状に加工する場合には、図
32(a)、及び図33(a)に示しているような形状
に、Etching加工して、結晶方向の目印とする必
要性がある。
【0085】 図32、図33、図34、及び図35
に示している、外周の形状が、4角形状であれば、多量
生産を考えた場合、外周の形状が、丸型形状の場合と比
較すると、切断が容易であるが為に、多量生産が容易で
ある。
【0086】 外側(外周)の形状は、4角形状でも
よいが、振動部分の形状は、真円形状、又は丸型形状の
場合のほうが、水晶振動子(水晶共振子)としての、電
気的な、特性が、最も良好な形状となる。
【0087】 図32(c)、図33(c)、図34
(c)、及び図35(c)に示しているように、振動部
分の厚さを4μmとした場合、最も良好な、電気的な特
性を発揮させるには、口径に対する厚さの比(d/t)
を80前後とする必要性がある。最適の口径比(d/
t)を80とした場合、振動部分の厚さが4μmなら
ば、振動部分の直径は、4μm×80→0.32mm
が、最適の振動部分の直径となる。振動部分の直径が
0.32mmで、振動部分の厚さが4μmで、振動部分
の形状が、真円形状、又は丸型形状のQuartz B
lankを、最初の厚さが80μmの素材から、1回だ
けのマスキングにて、76μmの深さを、Chemic
al Etching加工することは、不可能である。
振動部分の直径が0.32mmと小さくなると、Che
mical Etching加工の場合、フッ化水素酸
などの溶液の表面張力の作用、及び結晶の異方性が発生
することにより、均一なChemical Etchi
ng加工が、出来ないが為である。段階的に、少なくと
も、2段階、又は2段階以上のChemical Et
ching加工するのであれば、直径が0.32mm以
下の加工が出来る。
【0088】 Dry Etching加工を使用す
るのであれば、振動部分の直径が、0.32mmと小さ
くても問題はない。
【0089】 2段階形状、又は2段階形状以上に、
段階的に、薄くした、2段階形状型をした、Groov
ed Typeであれば、Chemical Etch
ing加工、又はDry Etching加工で発生し
たダメージ層を、機械的な、研磨加工で除去することが
容易となる。
【0090】図36、図37、図38、及び図39に示
しているのは、図32、図33、図34、及び図35に
示しているのとは、形状が異なり、2段階形状型をし
た、Single−Sided Grooved Ty
peの、Quartz Blankの作製、多量生産を
考え、Quartz Waferにマスキングを行な
い、Chemical Etching加工、又はDr
y Etching加工で作製したものを使用した。そ
の形状を、図36(a)、図37(a)、図38
(a)、及び図39(a)に示す。80μmのQuar
tz Waferに、Chemical Etchin
g加工、又はDry Etching加工で振動部分の
厚さを、最初に、第1回目のマスキングを行ない、図3
6(b)、図37(b)、図38(b)、及び図39
(b)に示しているように、Quartz Wafer
の片側から60μm、Chemical Etchin
g加工、又はDry Etching加工を行ない、振
動部分の厚さを20μmとした後、第2回目のマスキン
グを行ない、図36(c)、図37(c)、図38
(c)、及び図39(c)に示しているように、20μ
m残っている振動部分の厚さを、さらに、16μm C
hemical Etching加工、又はDry E
tching加工を行ない、振動部分の厚さを4μmと
している。図36、図37、図38、及び図39に示し
ている、振動部分の厚さを4μmとする加工手段ならば
図32、図33、図34、及び図35にて説明したと同
様の、利点があるのと、図32、図33、図34、及び
図35にて説明した利点以外の、下記のような利点もあ
る。
【0091】 2回、又は2回以上の複数回、マスキ
ングを行なって、口径比を大きくする、Chemica
l Etching加工、又はDry Etching
加工を行なっても、最終的に、口径比(d/t)を、電
気的な、特性が最適な80前後とすることで、図2
(a)にて説明した、凹部構造なので、機械的な研磨加
工を行なうことで、図38(c)に示しているように、
圧力分布を広くとることが出来る、凹部構造とすること
になり、一段と、曲率の大きい、Plano−Conv
ex形状というよりも、Concavo−Convex
形状、又はBi−Convex形状に、極く、近い、理
想的な、凸レンズ形状となり、電気的な、特性が、大変
によくて、振動部分の、厚さが、0.5μm以下で、例
えば、BTcutの場合、基本波で、約5,0GHz
と、極く、薄い、水晶振動子(水晶共振子)が出来あが
る。
【0092】 目的とする口径比である、振動部分の
外周に、別の凹部構造を形成することで、目的とする、
振動部分の直径が、極く小さくても、階段形状の構造な
ので、電極の形成が容易となる。
【0093】 Chemical Etching加
工、又はDry Etching加工が終了した後、E
tching加工により発生した、ダメージ層(加工変
質層)を除去する為の、機械的な、研磨加工を行なうの
に、Quartz Blankの形状が、段階的に、中
心部分に向かって、薄くなっている構造なので、研磨加
工が容易となる。
【0094】図40、図41、図42、及び図43に示
しているのは、2段階形状型をした、Single−S
ided Grooved Typeの、加工方法を示
している、図40(b)、図41(b)、図42
(b)、及び図43(b)に示しているように、最初
に、厚さが80μmのQuartz Wafer に、
第1回目のマスキングを行なって、Chemical
Etching加工、又はDry Etching加工
を使用して、片側から、直径が0.32mmの、真円形
状、又は丸型形状、又は4角形状、又は6角形状、又は
その他の形状で、Etching加工の深さが、片側か
ら、16μmの深さの加工を行なった後、図40
(c)、図41(c)、図42(c)、及び図43
(c)に示しているように、第2回目のマスキングを行
なって、図中に示しているように、再度、Chemic
al Etching加工、又はDry Etchin
g加工を使用して、直径が1.6mmで、形状は丸型形
状の形状、又は4角形状の形状、又は6角形状で、Et
ching加工の深さが、片側から60μmの深さの加
工を行なうことにより、振動部分の直径は、0.32m
mで、振動部分の厚さが4μmとなる加工方法を示して
いる。
【0095】尚、図40(c)、図41(c)、図42
(c)、及び図43(c)に示しているような形状を、
Chemical Etching加工、又はDry
Etching加工にて形成した後、Etching加
工により発生した、ダメージ層を除去する目的で、機械
的な、研磨加工を行なうことで、より一段と、電気的
な、特性を向上させることが出来る。
【0096】図44、図45、図46、及び図47に示
しているのは、2段階形状型をした、Double−S
ided Grooved Typeの、加工方法を示
している、図44(b)、図45(b)、図46
(b)、及び図47(b)に示しているように、最初
に、厚さが80μmのQuartz Waferに、第
1回目のマスキングを行なって、Chemical E
tching加工、又はDryEtching加工を使
用して両側から、直径が0.32mmの、真円形状、又
は丸型形状で、Etching加工の、片側の深さが、
12μmの深さの加工を行なった後、図44(c)、図
45(c)、図46(c)、及び図47(c)に示して
いるように、第2回目のマスキングを行なって、図中に
示しているように、再度Chemical Etchi
ng加工、又はDry Etching加工を使用し
て、直径が1.6mmで、形状は、丸型形状、又は4角
形状の形状、又は6角形状の形状で、Etching加
工の深さが、両側から、26μmずつの深さの加工を行
なうことにより、振動部分の直径が0.32mmで、振
動部分の厚さが4μmとなる加工方法を示している。
【0097】尚、図48に示しているのは、振動部分の
厚さが、0.8μmとなる形状の、最適な寸法図を示し
ている。ATcutの場合、0.8μmは、約2.1G
Hzとなる水晶振動子(水晶共振子)を作製することが
出来る。これは、次世代の携帯電話を、極く小さくする
ことになる。
【0098】図44(c)、図45(c)、図46
(c)、図47及び図48(c)に示しているような形
状を、Chemical Etching加工、又はD
ry Etching加工にて形成した後、Etchi
ng加工により発生した、ダメージ層を除去する目的
で、機械的な、研磨加工を、両面研磨加工機械(ラップ
盤)、又はその他の研磨加工手段を使用して、両面の研
磨加工を行なう場合、図44(c)、図45(c)、図
46(c)、図47及び図48(c)に示しているよう
に、Quartz Blankに形成している形状が、
段階的に形成されていることと、振動部分の直径が2段
階以上で、広く構成されていることにより、ラップ盤、
又はバレル研磨加工、又は超音波研磨加工、又はその他
の研磨加工手段を、使用して研磨加工を行なうときに、
酸化セリウムなどの研磨剤が、上下から、進入しやすく
なるので、機械的な、研磨加工が、一段と、しやすくな
ることになり、より一段と、電気的な、特性が向上し
た、水晶振動子(水晶共振子)を製作することが出来
る。
【0099】図49、図50、図51、図52、及び図
53に示しているのは、多量生産を行なう場合の問題点
として、下記の3点が発生する。この3つの問題点を解
決するための形状、及び寸法図の、例題を図示してい
る。
【0100】 2段階形状型をした、Single−
Single Grooved Typeを、Plan
o−Convex形状にすると、口径比(d/t)は8
0前後が、最適と、実験結果から、判断することが出来
る。
【0101】 1inch×1inch以上の wa
ferを使用するので、板厚の厚さは、80μm以上の
厚さとなる。
【0102】 水晶の結晶状態の、異方性のために、
振動部分の、口径の直径に対して、1/20以上の深さ
の、Chemical Etching加工を行なう
と、異方性が露出する。
【0103】上記の3点を解決する手段としては、図4
9、図50、図51、図52、及び図53に示している
ように、二段階で、Chemical Etching
加工を行なって、中心部分に形成している、小さい口径
の、第1の振動部分を、最初に加工して、第1の振動部
分の外周に形成している、大きい口径の、第2の振動部
分(第2の溝部分)を、2番目に加工して、第1の振動
部分と、第2の溝部分(第2の溝部分)を、相対的に、
Chemical Etching加工すれば、上記の
3点は、解決することが出来る。
【0104】第1の振動部分の、口径の直径に対して、
1/20以上の深さの、Chemical Etchi
ng加工を行なうと、水晶の結晶状態の、異方性が露出
するので、第1の振動部分の、口径の、直径に対して、
1/20以上の深さの、Chemical Etchi
ng加工を行なうことは出来ないことと、2段階形状型
をした、Single−Sided Grooved
Typeを、上下から圧力をかけて、研磨加工を行なっ
て、Plano−Convex形状にすると、口径比
(d/t)は、80前後が、最適といえるので、上記の
2つの、条件を、満足させる、形状、及び寸法図として
は、図49、図50、図51、図52、及び図53に示
しているような、寸法図となる。
【0105】さらに、図49、図50、図51、図5
2、及び図35に示しているような、2段階形状型をし
た、Single−Sided Grooved Ty
peの、 Quartz Crystal Unit
の、形状を、図1にて説明しているような手段にて、両
面研磨加工の加工手段、又は片面研磨加工の加工手段、
又はその他の加工手段を使用して、上下から圧力をかけ
て、研磨加工を行なうと、電気的な特性が、理想的な、
図49、図50、図51、図52、及び図53に示して
いるように、Chemical Etching 加工
を行なっている側の、反対側である、平面側に、凸レン
ズ形状が形成されて、Plano−Convex形状と
いうよりも、Concavo−Convex形状、又は
Bi−Convex形状に、極く、近い、理想的な、凸
レンズ形状が形成されている。
【0106】図55、及び図56に示しているのは、図
54に示している、製作図面を、もとにして、製作し
た、2段階形状型をした、Single−Sided
Grooved Typeの、水晶振動子の製作例1
を、干渉顕微鏡で形状を測定した、形状測定図である。
図55、及び図56に示している、形状測定図によれ
ば、Peak to Vallayを見れば、判るよう
に、表面(おもてめん)の表面精度は、0.002μm
前後の、表面精度で加工されている。又、形状精度も、
ほぼ真円形状が、維持されて、加工されている。さら
に、図56に示している、計測図から、判ることは、平
行精度は、第1の振動部分を中心として、0.02μm
前後、盛り上がっているが、これは、水晶振動子の、電
気的な、特性には、悪い、影響を与えない。
【0107】図57に示しているのは、図55及び図5
6に示している、2段階形状型をした、Single−
Sided Grooved Typeの、水晶振動子
の製作例1の、写真(ノマルスキマイクログラフ)であ
る。図57に示している、製作例1の、写真を見るかぎ
り、水晶の異方性は、全く発生していないと、判断する
ことが出来る。
【0108】図58に示しているのは、上下から、圧力
をかけて、研磨加工をしたときに、図54(c)に示し
ている形状が、図58(c)に示している、凸レンズ形
状に、変化する状態を示している。
【0109】図60、及び図61に示しているのは、図
59に示している、製作図面を、もとにして、製作し
た、2段階形状をした、Single−Sided G
rooved Typeの、水晶振動子の製作例2を、
干渉顕微鏡で形状を測定した、形状測定図である。図6
0及び図61に示している、形状測定図も、図55、及
び図56に示している、形状測定図と同じく、Peak
to Valleyを見れば、判るように、表面の表
面精度は、0.003μm前後の、表面精度で加工され
ている。又、形状精度も、ほぼ真円形状が、維持されて
いることを、判断することが出来る。さらに、図61に
示している形状精度も、図56に示している、形状精度
と、同様に、平行精度は、第1の振動部分を中心とし
て、外周よりも、0.02μm前後、盛り上がっている
が、これは、Bi−Convex形状となっているが、
ために、逆に、水晶振動子の、電気的な、特性には、よ
い影響を与える。
【0110】図62に示しているのは、図60及び図6
1に示している、2段階形状型をした、Single−
Sided Grooved Typeの、水晶振動
子の製作例2の、写真(ノマルスキマイクログラフ)で
ある。図62に示している、製作例2の、写真を見るか
ぎり、図57に示している、製作例1の、写真と同じ
く、水晶の異方性は、全く発生していないと、判断する
ことが出来る。
【0111】図63に示しているのは、上下から、圧力
をかけて、研磨加工したときに、図59(c)に示して
いる形状が、図63(c)に示している、凸レンズ形状
に、変化する状態を示している。
【0112】図65、及び図66に示しているのは、図
64に示している、製作図面を、もとにして、製作し
た、2段階形状型をした、Double−Sided
Grooved Typeの、水晶振動子の製作例3の
表面(おもてめん)を、干渉顕微鏡で形状を測定した、
形状測定図である。図65、及び図66に示している、
形状測定図も、図55、及び図56に示している、形状
測定図と同じく、Peak to Valleyを見れ
ば、判るように、製作例3の、表面の表面精度は、0.
003μm前後の、表面精度で加工されている。又、形
状精度も、ほぼ、真円形状が、維持されて、加工されて
いることを、判断することが出来る。さらに、図66に
示している、形状精度も、図56と同様に、平行精度
は、第1の振動部分を中心として、外周よりも、0.0
2μm前後、盛り上がっているが、これは、Bi−Co
nvex形状となっているが、ために、逆に、水晶振動
子の、電気的な、特性には、よい影響を与える。
【0113】図67、及び図68に示しているのは、2
段階形状型をした、Double−Sided Gro
oved Typeの、水晶振動子の製作例3の裏面
(うらめん)を、干渉顕微鏡で形状を測定した、形状測
定図である。図67、及び図68に示している、形状測
定図も、図55、及び図56に示している、形状測定図
と同じく、Peak to Valleyを見れば、判
るように、製作例3の、表面とも同じく、製作例3の、
裏面の表面精度は、0.004μm前後の、表面精度で
加工されている。又、形状精度も、ほぼ真円形状が、維
持されて、加工されていることを、判断することが出来
る。さらに、図68に示している、裏面も、図66に示
している、表面と同様に、第1の振動部分を中心とし
て、外周よりも、0.02μm前後、盛り上がっている
ことが、判る。
【0114】図69に示しているのは、図65、及び図
66に示している、2段階形状型をした、Double
−Sided Grooved Typeの、水晶振動
子の製作例3の、表面の、写真(ノマルスキマイクログ
ラフ)である。図69に示している、製作例3の、表面
の写真を、見る限り、図57に示している、写真と同じ
く、水晶の異方性は、全く発生していないと、判断する
ことが出来る。
【0115】図71に示しているのは、図70に示して
いる、製作図面を、もとにして、製作した、2段階形状
型をした、Double−Sided Grooved
Typeの、水晶振動子の製作例4の表面(おもてめ
ん)を、干渉顕微鏡で形状を測定した、形状測定図であ
る。図71に示している、形状測定図は、図55、及び
図56に示している、形状測定図とは、全く異なり、P
eak to Vallayを見れば、判るように、製
作例4の、表面の表面精度は、1.0μm前後の、表面
精度で加工されていることが判る。又、形状精度は、真
円形状が、維持されずに、歪な、円型形状(楕円形状)
となっていることが判る。
【0116】図72に示しているのは、図70に示して
いる、製作図面を、もとにして、製作した、2段階形状
型をした、Double−Sided Grooved
Typeの、水晶振動子の製作例4の裏面(うらめ
ん)を、干渉顕微鏡で形状を測定した、形状測定図であ
る。図72に示している、形状測定図も、図55、及び
図56に示しているいる、形状測定図とは、全く異な
り、Peak to Vallyを見れば、判るよう
に、製作例4の、裏面の表面精度は、図71に示してい
る、表面の表面精度よりも、より一段と悪い、2.0μ
m前後の、表面精度で加工されていることが判る。又、
形状精度は、図71に示している、形状精度と同じく、
真円形状が維持されずに、歪な、円型形状(楕円形状)
となっていることが判る。
【0117】図73、及び図74に示しているのは、図
71、及び図72に示している、2段階形状型をした、
Double−Sided Grooved Type
の、水晶振動子の製作例4の、表面と、裏面の、写真
(ノマルスキマイクログラフ)である。図73、及び図
74に示している、製作例4の表面と、裏面の、写真
を、見る限り、製作例4の表面、及び裏面ともに、図5
7に示している、写真とは、全く異なり、水晶の異方性
が、発生しているがために、真円形状が、全く維持され
ずに、歪な、円型形状(楕円形状)となっていることが
判る。
【0118】図76に示しているのは、図75に示して
いる、製作図面を、もとにして、製作した、2段階形状
型をした、Single−Sided Grooved
Typeの、水晶振動子の製作例5を、干渉顕微鏡で
形状を測定した、形状測定図である。図76に示してい
る、形状測定図も、図55、及び図56に示している、
形状測定図とは、全く、異なり、Peak to Va
lly を見れば、判るように、全く、測定が不可能な
ほどに、悪い、表面精度であることが判る。又、形状精
度は、図71、及び図72に示している、製作例4の、
形状精度よりも、より、一段と、歪な、円型形状(楕円
形状)となっていることが判る。
【0119】図77に示しているのは、図76に示して
いる、2段階形状型をした、Single−Sided
Grooved Typeの、水晶振動子の製作例5
の、写真(ノマルスキマイクログラフ)である。図77
に示している、製作例5の写真を、見るかぎり、図57
に示している、写真とは、全く異なり、水晶の異方性
が、発生しているがために、真円形状が、全く維持され
ずに、歪な、円型形状(楕円形状)となっていることが
判る。
【0120】図78、及び図79に示しているのは、米
国の、Hoffman社が、現在、販売している、従来
の、振動部分の厚さが、約5μmの、一段階形状型をし
た、Double−Sided Inverted M
esa Typeの、水晶振動子の製作例6の表面を、
干渉顕微鏡で形状を測定した、形状測定図である。図7
8、及び図79に示している、形状測定図によれば、P
eak to Vallayを見れば、判るように、表
面の表面精度は、0.008μm前後の、表面精度で加
工されているが、図56、図61、図66、及び図68
に示している、2段階形状型をした、Grooved
Typeよりは、表面精度は、悪い。さらに、振動部分
の、表面上に、大きい、うねりが、発生していること
が、判る。
【0121】図80、及び図81に示しているのは、図
78、及び図79に示している、1段階形状型をした、
Double−Sided Inverted Mes
aTypeの、振動部分の厚さが、約5μmの、製作例
6の裏面を、干渉顕微鏡で形状を測定した、形状測定図
である。図78、及び図79に示している、形状測定図
と、同じく、Peak to Vallayを見れば、
判るように、製作例6の裏面は、製作例6の表面より
も、より、一段と悪い、表面の表面精度は、0.025
μm前後の、表面精度で加工されている。さらに、図5
6、図61、図66、及び図68に示している、2段階
形状型をした、Grooved Type よりも、表
面精度は、1桁、表面精度が低下している。又、振動部
分の、表面上に、大きい、うねりが、発生していること
が、判る。上記のことから、一段階形状型をした、In
verted Mesa Typeよりも、2段階形状
型をした、Grooved Typeのほうが、表面精
度、及び平行精度が、よいと、判断することが出来る。
【0122】図82に示しているのは、図78、及び図
79に示している、1段階形状型をした、Double
−Sided Inverted Mesa Type
の、水晶振動子の製作例6の、表面の、写真(ノマルス
キマイクログラフ)である。
【0123】結論として、上記のことから、判断する
ことが出来ることは、図55、及び56に示している、
2段階形状型をした、Single−Sided Gr
ooved Typeの、水晶振動子の製作例1と、図
60、及び61に示している、2段階形状型をしSin
gle−Sided Grooved Typeの、水
晶振動子の製作例2と、図65、及び図66に示してい
る、2段階形状型をした、Double−Sided
Grooved Typeの、水晶振動子の製作例3に
示している、製作例1と、製作例2と、製作例3は、い
ずれも、水晶の異方性は、発生していないと、判断する
ことが出来る。
【0124】結論として、上記のことから、同じく、
判断することが出来ることは、図71に示している、2
段階形状型をした、Double−Sided Gro
oved Typeの、水晶振動子の製作例4と、図7
6に示している、2段階形状型をした、Single−
Sided Grooved Typeの、水晶振動子
の製作例5に示している、製作例4と、製作例5を、製
作例1と、製作例2と、製作例3と、比較すると、表面
精度、及び形状精度は、数段、低下していることが判明
した。この理由は、製作例4と、製作例5は、水晶の異
方性が発生したためであると、判断することが出来る。
【0125】結論として、さて、それでは、何故に、
製作例1と、製作例2と、製作例3は、水晶の異方性
が、発生せずに、製作例4と、製作例5では、水晶の異
方性が、発生したのか、その理由は、製作例1と、製作
例2と、製作例3は、図54、図59、及び図64に示
しているように、最初に、直径が大きい、第2の溝部分
(第2の振動部分)を、Chemical Etchi
ng加工して、次ぎに、直径が小さい、第1の振動部分
を加工したのに、対して、製作例4と、製作例5に示し
ているのは、図70、及び図75に示しているように、
最初に、直径が小さい、第1の振動部分を、Chemi
cal Etching加工したあと、次ぎに、直径が
大きい、第2の溝部分(第2の振動部分)を、Chem
icalEtching加工して、第1の振動部分と、
第2の溝部分(第2の振動部分)を、相対的に、同時
に、Chemical Etching加工を、行なっ
ている、ことの相違点が、水晶の異方性が、発生するの
か、どうかの、異なる、理由であることが、判明した。
【0126】結論として、上記のことから、判断する
ことが出来ることは、製作例1と、製作例2と、製作例
3は、超々精密加工が、出来たと、判断が、出来たのに
対して、製作例4と、製作例5は、超々精密加工が、出
来たとは、判断することが、出来なかったが、ほどほど
の、加工は出来たので、あまり、精度が、要求されな
い、水晶振動子の、製造方法としては、利用することが
出来る。これに対して、製作例1と、製作例2と、製作
例3は、製作例4と、製作例5に対して、2桁から、3
桁、精度が、上回っていることが、判明した。超々精密
加工が、必要な、水晶振動子を、製作する場合には、製
作例1と、製作例2と、製作例3を、加工するのに使用
した、加工手段である。図54、図59、及び図64に
示している、加工方法を、選択するとよいことが、判明
した。
【0127】2段階形状型をした、水晶振動子の周波
数、波型、及び、共振特性を下記に示す。
【0128】 図83、図84、図85、及び図86
に示しているのは、図59、図64、及び図70に示し
ている、図面をもとにして製作した、2段階形状型をし
た、Single−Sided Grooved Ty
peの、製作例2と、2段階形状型をした、Doubl
e−Sided Grooved Typeの、製作例
3、及び製作例4の、共振特性を測定した、測定図であ
る。
【0129】 図83、図84、図85、及び図86
に示している、共振特性を測定した、測定図は、図54
(c)、図64(c)、及び図70(c)に示してい
る、第1の振動部分を測定したのであって、図54
(b)、図64(b)、及び図70(c)に示してい
る、大きい面積の、第2の溝部分(第2の振動部分)を
測定したのではない。
【0130】 図83、及び図84に示しているの
は、図59に示している、図面にもとづいて、製作し
た、2段階形状型をした、Single−Sided
Grooved Typeの、製作例2の、共振特性の
測定図である。この図83、及び図84に示している、
共振特性から、判断することが出来ることは、図83に
示している、共振点が、184.872MHzのもの
と、図84に示している、共振点が、181.232M
Hzの、ものとしては、世界最高の、電気的な、特性が
よいものと、判断することが出来る。
【0131】 図85に示しているのは、図70に示
している、図面にもとづいて、製作した、2段階形状型
をした、Double−Sided Grooved
Typeの、製作例4の、共振特性の測定図である。こ
の図85に示している、共振特性から、判断することが
出来ることは、共振点が、257.369MHzの、も
のとしては、世界最高の、電気的な、特性がよいもの
と、判断することが出来る。
【0132】 図86に示しているのは、図64に示
している、図面にもとづいて、製作した、2段階形状型
をした、Double−Sided Grooved
Typeの、製作例3の、共振特性の測定図である。こ
の図86に示している、共振特性から、判断することが
出来ることは、共振点が、283.178MHzの、も
のとしては、世界最高の、電気的な、特性がよいもの
と、判断することが出来る。
【0133】 図87に示しているのは、米国の、H
offman社が、現在、販売している、従来の、1段
階形状型をした、Double−Sided Inve
rted Mesa Typeの、振動部分の厚さが、
約5μmの、製作例6の、共振特性を測定した、測定図
である。
【0134】 図83、及び図84に示している、2
段階形状型をした、Single−Sided Gro
oved Typeと、図85、及び図86に示してい
る、2段階形状型をした、Double−Sided
Grooved Typeの、共振特性の測定図と、図
87に示している、1段階形状型をした、Double
−Sided Inverted Mesa Type
の、共振特性の測定図とを、比較すると、図83、図8
4、及び図86と、図87に示している、周波数は、そ
れぞれ、異なるけれども、図83、図84、図85、及
び図86と、図87に示している、共振特性の測定図
の、電気的な、特性を、比較すると、図83、図84、
図85及び図86に示している、共振特性の、電気的
な、特性のほうが、一段と、よいことが、判断すること
が出来る。
【0135】 図83、図84、図85、及び図86
に示している、2段階形状型をした、Single−S
ided Grooved Type(略して、Gro
oved Typeとする)と、2段階形状型をした、
Double−Sided Grooved Type
(略して、Grooved Typeとする)の、共振
特性と、図87に示している、米国の、Hoffman
社が、製造している、1段階形状型をした、Doubl
e−Sided Inverted MesaType
の、共振特性を、比較すると、図83、図84、図8
5、及び図86に示している、共振特性の、特性のほう
が、圧倒的に、よいのは、今回、考察の、2段階形状型
をした、階段形状型Grooved Typeと、した
ことによると、判断することが出来る。
【0136】 図59(b)、図64(b)、及び図
70(c)に示している、2段階形状型をした、Gro
oved Typeの、立体構造をした、広い面積の、
第2の溝部分(第2の振動部分)を、振動させることな
く、極く、直径が小さい、口径の、第1の振動部分だけ
を、振動させて、第1の振動部分だけの、共振特性を、
得ることが出来たという、現象が、判明した。
【0137】▲10▼ 上記にて、説明したことは、将
来、大変に、高い、例えば、、BTcutの場合、基本
波で、160GHz以上(厚さで、約0.015μm)
という、周波数を、発振させることが出来て、しかも、
電気的な特性がよい。2段階形状型をした、Singl
−Sided Grooved Typeで、しかも、
Plano−Convx形状というよりも、さらに、一
段と、電気的な、特性が、理想的な、Concavo−
Convex形状をした、凸レンズ形状の、水晶振動子
が、出来ることになる、可能性が、高くなったことを意
味する。
【0138】
【発明の効果】上述したように、本発明によれば下記の
効果を奏する。
【0139】(1)円柱形状の段階にて、最終的に必要
とする目的のレンズ形状、片面凸レンズ形状、片面凹レ
ンズ形状、平板形状等の形状を円柱形状の両端に最初に
形成しておけば、Dry Etching加工により端
部から厚みを円形に均等に削っていくことにより、最終
段階で所定の厚みの振動部を筒状の圧電素子の内部に形
成できる。
【0140】(2)凸レンズ形状、又は凹レンズ形状を
した、補助型材を、平板形状の圧電材料に取り付ける
か、又はレジスト液、又はその他の接着剤を使用して、
圧電材料に補助型材を貼り付けた後、Dry Etch
ing加工を使用して、補助型材の形状を、圧電材料の
端面に、転写する加工技術を開発したことにより、光学
ガラス材料を使用して、光学レンズをプレス成型した、
外周に、Ring−Support形状(枠付き形状)
の、保持部分を一体形成した、片面がフラットで、片面
が凸レンズ形状、又は片面がフラットで、片面が凹レン
ズ形状の光学レンズを、プレス成型を使用して加工し、
この光学レンズである、補助型材を、平板形状の圧電材
料に取り付けて、Dry Etching加工すること
で、プレス成型にて製作した、光学レンズ、又は枠付き
光学レンズの表面精度、又はその他の機械的な、研磨加
工手段を使用して製作した、光学レンズの表面精度と、
同じ表面精度を有する、レンズ形状と、全く同じレンズ
形状を、平板形状の圧電材料の表面上に、転写すること
が出来るので、容易に、超高精度で、表面精度が高く
て、しかも、中心部分に、レンズ形状をともない、さら
に、外周に、Ring−Support形状(枠付き形
状、又は竹の筒形状)の、保持部分を一体形成した、水
晶振動子(水晶共振子)を製作することが出来る。
【0141】(3)又、容易に、水晶の結晶軸と、光学
レンズの加工軸を合致させることが出来る、加工手段な
ので、電気的な特性が、一段と、良好な水晶振動子が出
来る。
【0142】(4)出来上がりの表面精度は、最初に、
円柱形状の両端に形成した、表面精度と同じ精度で出来
上がる。ただし、Dry Etching加工にて発生
するイオンダメージ層を除去しなければ、圧電素子本来
の、電気的な特性は回復しない。
【0143】(5)円柱形状に、機械的な加工手段だけ
を使用して、円筒形状を加工すると、厚みが限りなく薄
く、また、掘削の深さが、深い穴を加工するには限界が
ある。
【0144】(6)Dry Etching加工を使用
して、円柱形状の、圧電材料に円筒形状を形成するので
あれば、穴径が10mm前後で、穴の長さが、1.0c
mから15cmぐらいまでの、長さで、肉厚が1mm程
度の円筒形状の中心部分に、レンズ形状の振動子(共振
子)を加工することができる。
【0145】(7)機械加工では、円筒を形成する際
に、肉厚の厚さを、薄くするのに、ある一定の限界があ
るが、Dry Etching加工を使用した、本発明
の方法を使用することにより、限りなく薄い、肉厚の竹
の筒形状、レンズ形状を中心部分にともなった、外周
に、Ring−Support形状(竹の筒形状)の、
保持部分を一体形成した、レンズ形状を加工することが
出来るので、限りなく感度の良い共振子(振動子)を製
作することができる。
【0146】(8)竹の筒形状、(Ring−Supp
ort形状)又は円筒形状の外周部分も、竹の筒形状の
内部を、Dry Etching加工するときに、同時
に、Dry Etching加工することが、できるこ
とにより、竹の筒形状を構成している、肉厚部分の厚さ
を、限りなく薄く、加工することが可能となる。
【0147】(9)Dry Etching加工(RI
E加工、又はCIP加工)により発生する、イオンダメ
ージ層を考慮しなければ、最初に、円柱形状の両端に形
成した加工精度にて、両端から厚みを、相対的に、相似
形状に減少させて、極く薄い、レンズ形状を加工するこ
とができる。
【0148】(10)極く肉厚が薄くて、穴径の直径が
小さくて、さらに、穴の長さが長い竹の筒形状で、中心
部分に、凸または、凹レンズ形状を形成した受圧面を形
成している、枠付きの、レンズ形状をともなった構造
の、共振子(振動子)の製作ができるので、音波をキャ
ッチする性能が高くなる。
【0149】(11)竹の筒形状(円筒形状)の、外形
の直径が、例えば1/2インチ以下の、直径が極く小さ
い、共振子(振動子)を製作することができるので、石
油、またはメタンガスなどの、極く深い地下層を掘削し
ている、例えば、地下5000m以上の、深さのパイプ
の、内部に挿入して、地中深く吊り下げて、石油、メタ
ンガスなどの圧力、又は温度を、同時に、常時、測定す
ることができるようになる。
【0150】(12)なお、現在、使用している圧力セ
ンサ(別名クオーツセンサ)は、直径が3/4インチ
と、大きいものが使用されているので、石油、メタンガ
スの地層を掘削している、パイプなどの内部に、常時入
れることができない。
【0151】(13)圧力センサの性能が向上するほど
に、地中深くにある石油、メタンガス等の、地下資源の
探査をすることができる。
【0152】2段階形状型をした、Single−Si
ded Grooved Type、又はDouble
−Sided Grooved Type(略して、G
rooved Type、又はGrooved Res
onators Typeとする)であれば、4角形
状、又は長方形状の Quartz Blankの内
部、又は中心部分に、第1に、圧電材料の結晶方向を識
別することが出来る形状をした、丸型形状の形状、又は
3角形状の形状、又は4角形状の形状、又は6角形状の
形状、又はその他の形状をした、第2の振動部分(第2
の溝部分)を形成した後、Quartz Blankに
形成した、第2の振動部分(第2の溝部分)を形成して
いる、丸型形状の形状、又は3角形状、又は4角形状の
形状、又は6角形状の形状、又はその他の形状を形成し
た、第2の振動部分(第2の溝部分)の、内部、又は中
心部分に、さらに、第1の、真円形状、又は丸型形状、
又は3角形状、又は4角形状、又は6角形状、又はその
他の形状の、第1の、振動部分を形成することにより、
下記のような効果がある。
【0153】 4角形状のQuartz Blank
の形状でも、真円形状、又は丸型形状、又はその他の形
状の振動部分を形成することが出来るので、より一段
と、電気的な、特性が良い、圧電素子を製作することが
出来る。
【0154】 振動部分を真円形状、又は丸型形状に
しても、Quartz Blankの外側形状を、4角
形状にすることが出来るので、Quartz Wafe
rから切断するのを、自動化することが出来るが為に、
多量生産が容易となる。
【0155】 振動部分の形状を、真円形状、又は丸
型形状の形状にしても、結晶軸の方向が、容易に判断出
来る。
【0156】 極く小さい、振動部分をChemic
al Etching加工を使用して製作する場合、段
階的に、Etching加工することにより、表面張
力、及び結晶の異方性の影響を、回避することが出来る
形状とすることが出来る。
【0157】 真円形状、又は丸型形状の振動部分が
発振する、最も理想的な、周波数の振動エネルギーを、
さらに、真円形状、又は丸型形状の振動部分の、外周に
形成している、真円形状、又は丸型形状、又は4角形
状、又は6角形状、又はその他の形状などの、2次振動
部分(第2の溝部分)により、段階的に、振動エネルギ
ーを、外周に、発散させる構造の、圧電素子を、製作す
ることが出来るので、電気的な、特性が理想的な、圧電
素子を製作することが出来る。
【0158】 段階的に、薄くして、振動部分を形成
することにより、口径比(d/t)を80とする、極く
小さい、振動部分を形成することが出来るので、ATc
utの場合、基本波で、400MHz以上(ATcut
の場合、厚さが4μm以下)で、電気的な、特性が良い
水晶振動子(水晶共振子)を製作することが出来る。
【0159】 Quartz Blankを4角形状
にして、第1に、4角形状の内部、又は中心部分に真円
形状、又は丸型形状の、第1の、振動部分を形成して、
第1の、真円形状、又は丸型形状で、結晶方向を識別す
ることが出来る、振動部分の内部、又は中心部分に、さ
らに、別の、第2の、真円形状、又は丸型形状の、第2
の振動部分(第2の溝部分)を形成しても、結晶軸の方
向を見分けるために必要な、図32(a)、図36
(a)、図40(a)、及び図44(a)に示してい
る、位置決め用の、スリットを入れるか、又は図33
(a)、図37(a)、図41(b)、及び図45
(b)に示しているような、三日月形状にすることで、
電気的な、特性がよい形状である。第1の振動部分の形
状も、第2の振動部分(第2の溝部分)の形状も、真円
形状、又は丸型形状を形成することが出来ることと、Q
uartz Waferから、Quartz Blan
kを切断するのが、容易で、多量生産が可能な、外周の
形状が、4角形状とすることが出来る。
【0160】 第1の振動部分と、第2の振動部分
(第2の溝部分)と、相対的に、Chemical E
tching加工して、少なくとも2段階以上で、段階
的に、薄くして、目的とする、振動部分を形成しなけれ
ば、Quartz Waferの厚さが、80μmと厚
いので、周波数が高い振動部分、例えば、ATcut
で、2.1GHzの場合、振動部分の厚さは、約0.8
μmなので、最も、良い波形の発振をさせるには、口径
比が80前後と判明しているので、振動部分の、直径
は、0.8μm×80倍→64μmと、極く振動部分
の、直径が、小さくなるが為に、段階的に、Chemi
cal Etching加工して、薄くしなければ、C
hemical Etching加工に使用する、フッ
化水素酸などの、溶液の表面張力、又は結晶の異方性の
作用により、均一な、Chemical Etchin
g加工による、振動部分の形成ができない。
【0161】 さらに、口径の直径が、64μmの場
合、フッ化水素酸を使用しての、Chemical E
tching加工で溶かす深さは、最大でも、3.2μ
mの深さ(例えば、口径の直径に対して1/20前後)
を溶解させるのが限界である。 これ以上の深さを、
Chemical Etching加工すると、水晶の
結晶状態の、異方性が出現するので、平面精度を維持す
ることが出来なくなる。このことからも、超高周波の水
晶振動子の形状の構造としては、電気的に、特性が良好
な水晶振動子を製作するには、口径比が80前後が、電
気的に、特性が、最も良いと判っているので、二段階形
状で、Chemical Etching加工を行なう
か、又は二段階以上の、階段形状を形成して、水晶振動
子を製作する必要性がある。
【0162】▲10▼ さらに、第1の振動部分の直径
が、64μmから、0.32mm前後と、第1の振動部
分の、直径が、極く小さくなると、Chemical
Etching加工にて形成する場合、第2の振動部分
の形状としては、真円形状か、又は円型形状以外の、例
えば、3角形状、4角形状、又は6角形状などの形状で
もよいが、形状としては、あまりにも、小さくなるの
で、真円形状か、円型形状のほうが良い形状といえる
が、3角形状か、又は4角形状か、又は6角形状か、又
はその他の形状でもよい。
【0163】▲11▼ さらに、直径が、0.32mm
前後と、極く小さい、真円形状、又は円型形状の、第1
の振動部分の中心部分だけに、フォト、レジストChe
mical Etching加工を使用して、第2の振
動部分だけを、振動させるための電極を、第1の振動部
分の、表と裏に形成することにより、第2に形成した、
第2の振動部分(第2の溝部分)は振動させない構造と
しているので、より、一段と、高い周波数を発振させる
ことが出来て、しかも、副振動をともなわない、電気的
に、理想的な、発振子(共振子)を製作することが出来
る構造とすることが出来る。
【0164】▲12▼ さらに、二段階形状、又は三段
階形状、又はそれ以上の、複数回の段数を使用して、相
対的に、Chemical Etching加工するこ
とにより、水晶の結晶状態の、異方性による、問題点で
ある、振動部分の、口径の直径の、1/20以上の深さ
の、Chemical Etching加工を可能とす
ることになる。
【0165】▲13▼ 特に、第1に、中心部分に、例
えば、第1の振動部分の口径の、直径が、0.32mm
で、深さが16μmの、真円形状、又は円型形状の、形
状を、最初に、第1のChemical Etchin
g加工した後、第2に、真円形状、又は円型形状の外周
に、直径が、1.6mmで、形状を識別することが出来
る。形状の、4角形状、又は6角形状、又はその他の形
状を、形成する目的にて、第1の振動部分と、第2の振
動部分(第2の溝部分)を、相対的に、同時に、段階的
に、Chemical Etching加工すると、結
晶の異方性の問題を、解決することが出来る。
【0166】▲14▼ 上記のように、二段階で、Ch
emical Etching加工することにより、水
晶の結晶状態の、異方性のために、口径の直径に対し
て、1/20以上の深さの、Chemical Etc
hing加工を行なうと、異方性が露出する、この問題
を、相対的に、2段階で、Chemical Etch
ingを行なうことで、解決することが出来るので、板
厚が、80μm以上で、1inch×1inch以上
の、サイズの、waferを使用しての、超高周波の、
水晶振動子の、多量生産を行なうことが出来る。
【0167】2段階形状、又は、2段階形状以上の、階
段形状の形状で、ChemicalEtching加工
で作製された、Single−Sided Groov
ed Typeの、Quartz Crystal U
nitを加工素材とし、これを、Reactive I
on Etching(RIE)加工した後、両面ラッ
プ盤で研磨加工することによって、Fundament
al Frequency 467MHz以上の、AT
cutを素材とした、水晶振動子が製造できる、加工方
法を開発した。この加工方法で、作製される水晶振動子
は、Plano−convex Typeというよりも
Concavo−Convex形状、又はBi−Con
vex形状に、極く、近い、理想的な、凸レンズ形状と
なり、優れたリアクタンス周波数特性を示す。
【0168】本加工方法では、水晶振動子の振動部分の
口径dと、厚さtの比、d/tの最適値は、80の場合
が最適であると判明している。その結果、Plano−
convexの場合、限りなく、周波数が高い、水晶振
動子を作製しようとすれば、厚さtも、限りなく、薄く
なるので、厚さtに比例して、口径dである、直径dが
小さくなる。口径dが小さくなると、quartz w
aferの性質である、異方性という問題が発生して、
口径dの1/20以上の、深さを、Chemical
Etching加工すると、Chemical Etc
hing加工による、平行面の面精度を、維持すること
が出来なくなる。この問題を、下記のような方法にて解
決した。最初に、第1のChemical Etchi
ng加工にて、目的とする周波数の、厚さtに対して8
0倍ある、口径dに対して、口径dの1/20以内の深
さを、第1の振動部分の、口径dの深さとして、第1
に、Chemical Etching加工した後、そ
の次に、第2の、Chemical Etching加
工にて、第1の振動部分を中心とした、外周に、厚みに
対する、口径比d:tが、80:1に拘束されることの
ない、第1の振動部分よりも、溝部分(第2の振動部
分)の直径が、一段と大きい、第2の溝部分(第2の振
動部分)を、第1の振動部分を中心とした、外周に、C
hemicalEtching加工して、第1の振動部
分と、第2の溝部分(第2の振動部分)を2段階で、相
対的に、同時に、Chemical Etching加
工するのであれば、水晶の性質である、異方性の問題を
解決することが出来る。
【0169】なお、素材である、quartz waf
erの、厚さが厚くても、口径dが、極く小さい、振動
部分を形成することが出来る。これにより、限りなく、
厚さtが、薄くて、しかもPlano−Convex
Typeで、電気的な特性が、理想的な、超高周波の水
晶振動子を、多量生産することが出来る、こととなっ
た。
【0170】次ぎに、2段階形状、又は2段階形状以上
の、Chemical Etching加工を使用し
て、Double−Sided Grooved Ty
peのResonators を作成する方法を説明す
る。Double−Sided Inverted M
esa Type では、水晶振動子の振動部分の口径
dと、厚さtの比、d/tは、80倍から、100倍あ
れば、水晶振動子としての機能は十分と、されている。
その結果、Double−Sided Grooved
Typeの場合、限りなく周波数が高い、水晶振動子
を作製しようとすれば、厚さtも、限りなく、薄くなる
ので、厚さtに比例して、口径dである、直径dが小さ
くなる。口径dが小さくなると、quartz waf
erの性質である、異方性という問題が発生して、口径
dの1/20以上の、深さを、Chemical Et
ching加工すると、Chemical Etchi
ng加工による、平行面の面精度を、維持することが出
来なくなる。この問題を、下記のような方法にて解決し
た。最初に、第1のChemical Etching
加工にて、目的とする周波数の、厚さtに対して80倍
から、100倍ある、口径dに対して、口径dの1/2
0以内の深さを、第1の振動部分の、口径dの深さとし
て、第1に、Chemical Etching加工し
た後、その次に、第2の、Chemical Etch
ing加工にて、第1の振動部分を中心とした、外周
に、厚みにたいする、口径比d:tが、80:1、又は
100:1に拘束されることのない、第1の振動部分よ
りも、溝部分(第2の振動部分)の直径が、一段と大き
い、第2の溝部分(第2の振動部分)を、第1の振動部
分を中心とした、外周に、Chemical Etch
ing加工して、第1の振動部分と、第2の溝部分(第
2の振動部分)を、2段階で、相対的に、同時にChe
mical Etching加工するのであれば、水晶
の性質である、異方性の問題を解決することが出来る。
【0171】上記にて説明した手段とは異なり、図3
2、図33、図34、図35、図36、図37、及び図
38にて説明しているように、第2の溝部分(第2の振
動部分)を、最初に、Chemical Etchin
g加工、又はDry Etching加工を行なって、
第2の溝部分を形成した後、第2に、中心部分に形成す
る、真円形状、又は円型形状の、第1の振動部分を、形
成するのであれば、上記にて説明した、水晶の性質であ
る、異方性の問題は、全く発生しないので、この方法
が、一段と、すぐれていることが、判明した。
【0172】なお、素材である、quart wafe
rの、厚さが厚くても、口径dが極く小さい、振動部分
を形成することが出来る。これにより、限りなく、厚さ
tが、薄くて、しかも、Double−Sided G
rooved Type、又はSingle−Side
d Grooved Typeで、電気的な特性が、理
想的な、超高周波の水晶振動子を、多量生産することが
出来る、こととなった。
【0173】さらに、米国特許証番号3,694,67
7号にあるように、1972年9月26日に、米国陸軍
の、Dr.Gunter K.Guttwein,D
r.Arthur D.Ballato,Dr.The
odre J.Lukaszekの、3人が発明した、
水晶振動子の、Single−Sided Inver
ted Mesa Type、及び Double−S
ided Inverted Mesa Type(以
下、略して、Inverted Mesa Typeと
する)を、一段階形状型の、Inverted Mes
a Typeとするならば、今回、考案した内容は、水
晶板の加工に際して、ChemicalEtching
加工、又はDry Etching加工を使用して、さ
らに改良した、2段階形状に、製作された、2段階形状
型の、Grooved Typeに、関するものであ
る。一段階形状型の、Inverted Mesa T
ypeと、今回、考案した、2段階形状型をした、Gr
ooved Typeと、比較すると、2段階形状型、
Grooved Typeには、下記のような、利点が
あることが判った。
【0174】 口径比(d/t)を、最適とすること
により、振動面の面積を、必要、最小限度の面積とする
ことが出来る。これにより、振動面を、5μm以下と、
極く、薄くした場合、振動面の表面上に、発生する、う
ねり(起伏する波)を、小さく、又は防止することが出
来る。さらに、表面精度が、1桁よくなる。
【0175】 水晶板の、板厚に関係なく、最適の、
口径比80:1(d/t)を、条件としても、水晶の異
方性を、回避することが出来るので、面精度が向上す
る。
【0176】 水晶板の板厚、及び振動面の厚さに関
係なく、最適の口径比(d/t)を、常に、80:1と
した、構造の設計を、選択することが出来る。
【0177】 水晶板の、板厚を厚く、することが出
来ることにより、構造物の、力学的な、強度が向上する
ので、力学的shockや、加速に強い、Resona
torsを製作することが出来る。さらに、2段階形状
以上の、階段形状とすることで、より、一段と、力学的
shockや、加速に強くなる、Resonators
を、製作することが出来る。
【0178】 一段階形状の場合、一段階形状型をし
た、Single−Sided Inverted M
esa Type、及びDouble−Sided I
nverted Mesa Typeともに、ピンホー
ルの発生が、起こりやすいが為に、振動面の厚さが、5
μm以下のものの、量産が出来ないけれども、2階段形
状型をした、Grooved Typeであれば、振動
面の厚さが、5μm以下のものの、量産が出来る。
【0179】 2段階形状型をした、Double−
Sided Grooved Typeの場合、2段階
形状型をした、Grooved Typeの、製造工程
は、従来の、一段型形状をした、Inverted M
esa Typeの、製造工程と、比較すると、Che
mical Etching加工の、回数が、1回では
なくて、2回となるという、煩雑さは、あるけれども、
電気的な、特性が、よくなることにより、70MH以上
のものは、極く、近い時期に、2段階形状型、又は2段
階形状型以上の、階段形状型をした、Double−S
ided Grooved Typeとなる。
【0180】 一段階形状型の場合、Single−
Sided Inverted Mesa Type、
又はDouble−Sided Inverted M
esaTypeでは、5μm以下と、極く、薄くなる
と、水晶の異方性のために、口径(d)と、厚さ(t)
の比である、口径比(d/t)を大きくしなくては、出
来ないので、結果として、振動部分の、表面上に、うね
り(起伏する波)が、発生する。又、振動部分の、表面
精度が、0.02μm以上と、悪くなる。
【0181】 2段階形状型をした、Grooved
Typeの場合では、うねりの、発生が小さいこと
と、表面精度は、0.003μm前後と、1段階形状型
をした、Inverted Mesa Typeと、比
較すると、1桁、精度がよいことが、判明した。
【0182】 2段階形状型、又は2段階形状型以上
の、階段形状型をした、Grooved Typeであ
れば、第2の溝部分(第2の振動部分)、又は第3の溝
部分(第3の振動部分)を、形成することが、出来るこ
とにより、中心部分に、位置する、1番、直径が小さ
い、第1の振動部分(電圧をかける振動表面)に印加し
た、振動エネルギーを、第2の溝部分(第2の振動部
分)から、第3の溝部分(第3の振動部分)へと、段階
的に、振動エネルギーを、スムーズに、外部方向に、向
かって、効率的に、利用することが出来るので、電気的
な、特性が、理想的に、よい、Resonatorsが
出来る、ことになる。
【0183】▲10▼ 2段階形状型をした、Sing
le−Sided GroovedTypeであれば、
5μm以下のものが、量産が出来る。最初に、振動面の
厚さが、5μm以下のものを、製作したあと、ラップ盤
を使用して、上下から、圧力をかけて、研磨加工によ
り、研磨加工することで、Plano−Convex形
状と、いうよりも、Concavo−Convex形
状、又はBi−Convex形状に、極く、近い、理想
的な、凸レンズ形状となり、電気的な、特性が、大変に
よくて、振動部分の、厚さが、0.5μm以下で、例え
ば、BTcutの場合、基本波で、約5.0GHzと、
極く、薄いものが出来ることになった。さらに、近い将
来、0.015μm前後(BTcutの場合、基本波
で、160GHz)の、水晶振動子を、開発することが
出来る、可能性がある。
【0184】今回、考案した、2段階形状型をした、S
ingle−Sided Inverted Mesa
Typeと、Double−Sided Inver
tedMesa Typeの、正確な呼び名(名称)
は、2段階形状型をした、Single−Sided
Grooved Type、又はDouble−Sid
ed Grooved Type(略して、Groov
ed Type、又はGrooved Resonat
ors Typeとする)という、呼び名のほうが、S
ingle−Sided Inverted Mesa
Type、及びDouble−Sided Inve
rted Mesa Typeと、いうよりも、下記の
理由により、正確な呼び名である。
【0185】 外周の形状を、4角形状としても、中
心部分に形成する、振動面の形状を、電気的な、特性が
よい、真円形状とすることが出来る。
【0186】 中心部分に位置する、1番、直径が小
さい、第1の振動部分に印加した、振動エネルギーを、
第2の溝部分(第2の振動部分)から、第3の溝部分
(第3の振動部分)を経由して、振動エネルギーを、ス
ムーズに、外部方向に向かって、発散させることが出来
る。
【0187】 電極を、極く、ゆるやかに、階段形状
に、形成することが出来る。
【0188】 水晶板の板厚を、厚くすることが出来
て、しかも、振動部分は、極く、薄く、加工することが
出来る。
【0189】 上記のことから、米国陸軍が開発し
た、1段階形状型をした、Inverted Mesa
Typeと、Grooved Type、又はGro
ovedResonators Typeとを、比較す
ると、内容的に、全く、異なるので、呼び名を、Gro
oved Type、又はGrooved Reson
ators Typeとする、ことにする。
【0190】尚、振動部分の厚さと、振動部分の直径と
の、最も良好な、電気的な、特性を、発揮させるには、
口径に対する、厚さの比(d/t)を、80前後とした
場合が、最も良好な、電気的な、特性を、発揮させるこ
とが出来るという、発見(証明)に関しては、下記の学
会にて、論文を発表している。
【0191】 1999 IEEE Interna
tional FrequencyControl S
ymposium, pp.425−428
【0192】 21st(1999)Piezoel
ectric Devices Conference
and Exhibition,pp.4/1−4/
【0193】 2000 IEEE/EIA Int
ernational Frequency Cont
rol Symposium & Exhibitio
n,pp.255−259
【0194】Chemical Etching加工、
又はその他の、加工技術を使用して、2段階形状型、又
は2段階形状型以上の、3次元、立体構造体の、段階形
状型をした、立体構造である、Grooved Typ
eを形成する、加工技術は、水晶、ニオブ酸リチウムな
どの、圧電材料だけに、とどまることなく、シリコン、
ガリウムヒ素などの、半導体材料である、電子材料など
の、広い分野にも、応用することが出来る技術でもあ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の製造工程を示す流れ図である。
【図2】 本発明による圧電素子の凸レンズ形状が形成
される説明図である。
【図3】 表材はATカットで、厚みが厚い水晶振動子
のリアクタンス周波数特性図である。
【図4】 表材はATカットで、厚みが厚い水晶振動子
のリアクタンス周波数特性図と、それを発振させた、一
段階形状型をした、Single−Sided Inv
erted Mesa Typeの、水晶振動子の、上
面図と、縦断面図である。
【図5】 表材はATカットで、厚みが薄い水晶振動子
のリアクタンス周波数特性図である。
【図6】 水晶振動子を、干渉顕微鏡で形状を測定し
た、形状測定図である。
【図7】 表材はATカットで、厚みが薄い水晶振動子
のリアクタンス周波数特性図である。
【図8】 Peak to Valley(P−V)の
変化を示した、グラフである。
【図9】 一段階形状型をした、Single−Sid
ed Inverted Mesa Typeに形成さ
れた、凸レンズ形状の、曲率半径の、逆数の変化を示し
た、グラフである。
【図10】 一段階形状型をした、Single−Si
ded Inverted Mesa Typeの、C
oncave側の中心部分の、表面粗さの変化を示し
た、グラフである。
【図11】 本発明の音響−電気変換器の実施例を示す
断面図である。
【図12】 先の提案による実施例を示す上面図であ
る。
【図13】 先の提案によるによる加工方法を示す断面
図である。
【図14】 先の提案による実施例における加工工具を
示す側面図である。
【図15】 先の提案による実施例における砥石の実施
例を示す側面図及びそのA−A断面図である。
【図16】 先の提案による実施例における加工された
実施例を示す断面図である。
【図17】 先の提案によるの実施例における砥石の他
の例を示す側面図及び平面図である。
【図18】 先の提案による実施例における加工工具の
他の例を示す断面図である。
【図19】 先の提案による実施例における加工工具の
他の例を示す断面図である。
【図20】 先の提案による実施例における加工工具の
他の例を示す断面図である。
【図21】 先の提案による実施例における加工工具
の、実際の製作図を示す側面図及び上面図である。
【図22】 先の提案による実施例における加工工具
の、実際の製作図を示す拡大図の断面図及び側面図であ
る。
【図23】 本発明の音響−電気変換器、又はその他の
目的に使用する共振子(発振子)の製造工程を示す断面
図である。
【図24】 本発明の音響−電気変換器、又はその他の
目的に使用する共振子(発振子)の製造工程を示す断面
図である。
【図25】 本発明の音響−電気変換器、又はその他の
目的に使用する共振子(発振子)の製造工程を示す断面
図である。
【図26】 本発明の音響−電気変換器、又はその他の
目的に使用する共振子(発振子)の製造工程を示す断面
図である。
【図27】 本発明の音響−電気変換器、又はその他の
目的に使用する共振子(発振子)の製造工程を示す断面
図である。
【図28】 本発明の音響−電気変換器、又はその他の
目的に使用する共振子(発振子)の製造工程を示す断面
図である。
【図29】 本発明の音響−電気変換器、又はその他の
目的に使用する共振子(発振子)の製造工程を示す断面
図である。
【図30】 本発明の音響−電気変換器、又はその他の
目的に使用する共振子(発振子)の製造工程を示す断面
図である。
【図31】 本発明により振動部分に電極及び金線リー
ドを形成した状態の正面図である。
【図32】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図33】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図34】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図35】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図36】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図37】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図38】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図39】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図40】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図41】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図42】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図43】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図44】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図45】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図46】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図47】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図48】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図49】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図50】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図51】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図52】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図53】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図54】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図55】 2段階形状型をした、Single−Si
ded Grooved Typeの、水晶振動子の製
作例1を、干渉顕微鏡(レーザー干渉計ともいう)で形
状を測定した、形状測定図である。
【図56】 2段階形状型をした、Single−Si
ded Grooved Typeの、水晶振動子の製
作例1を、干渉顕微鏡で、拡大して測定した、形状測定
図である。
【図57】 図55、及び図56に示している、2段階
形状型をした、Single−Sided Groov
ed Typeの、水晶振動子の製作例1の、写真(ノ
マルスキマイクログラフ、又は微分干渉顕微鏡ともい
う)である。
【図58】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図59】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図60】 2段階形状型をした、Single−Si
ded Grooved Typeの、水晶振動子の製
作例2を、干渉顕微鏡で形状を測定した、形成測定図で
ある。
【図61】 図60に示している、2段階形状型をし
た、Single−Sided Grooved Ty
peの、水晶振動子の製作例2を、干渉顕微鏡で拡大し
て測定した、形状測定図である。
【図62】 図60、及び図61に示している、2段階
形状型をした、Single−Sided Groov
ed Typeの、水晶振動子の製作例2の、写真(ノ
マルスキマイクログラフ)である。
【図63】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図64】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図65】 2段階形状型をした、Double−Si
ded Grooved Typeの、水晶振動子の製
作例3の表面を、干渉顕微鏡で形状を測定した、形状測
定図である。
【図66】 図65に示している、2段階形状型をし
た、Double−Sided Grooved Ty
peの、水晶振動子の製作例3の表面を、干渉顕微鏡
で、拡大して測定した、形状測定図である。
【図67】 図65に示している、2段階形状型をし
た、Double−Sided Grooved Ty
peの、水晶振動子の製作例3の裏面を、干渉顕微鏡で
形状を測定した、形状測定図である。
【図68】 図63に示している、2段階形状型をし
た、Double−Sided Grooved Ty
peの、水晶振動子の製作例3の裏面を、干渉顕微鏡
で、拡大して測定した、形状測定図である。
【図69】 図65、及び図66に示している、2段階
形状型をした、Double−Sided Groov
ed Typeの、水晶振動子の製作例3の表面の、写
真(ノマルスキマイクログラフ)である。
【図70】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図71】 2段階形状型をした、Double−Si
ded Grooved Typeの、水晶振動子の製
作例4の表面を、干渉顕微鏡で形状を測定した、形状測
定図である。
【図72】 図71に示している、2段階形状型をし
た、Double−Sided Grooved Ty
peの、水晶振動子の製作例4の裏面を、干渉顕微鏡で
形状を測定した、形状測定図である。
【図73】 図71に示している、2段階形状型をし
た、Double−Sided Grooved Ty
peの、水晶振動子の製作例4の表面の、写真(ノマル
スキマイクログラフ)である。
【図74】 図72に示している、2段階形状型をし
た、Double−Sided Grooved Ty
peの、水晶振動子の製作例4の裏面の、写真(ノマル
スキマイクログラフ)である。
【図75】 本発明の発振子(共振子)の実施例を示す
上面図及びその断面図である。
【図76】2段階形状型をした、Single−Sid
ed Grooved Typeの、水晶振動子の製作
例5を、干渉顕微鏡で形状を測定した、形状測定図であ
る。
【図77】 図76に示している、2段階形状型をし
た、Single−Sided Grooved Ty
peの、水晶振動子の製作例5の、写真(ノマルスキマ
イクログラフ)である。
【図78】 米国の、Hoffman社製の、従来の、
1段階形状型をした、Double−Sided In
verted Mesa Typeの、水晶振動子の製
作例6の表面を、干渉顕微鏡で形状を、測定した、形状
測定図である。
【図79】 図78に示している、米国の、Hoffm
an社製の、従来の、1段階形状型をした、Doubl
e−Sided Inverted Mesa Typ
eの、水晶振動子の製作例6の表面を、干渉顕微鏡で、
拡大して測定した、形状測定図である。
【図80】 図78に示している、米国の、Hoffm
an社製の、従来の、1段階形状型をした、Doubl
e−Sided Inverted Mesa Typ
eの、水晶振動子の製作例6の裏面を、干渉顕微鏡で形
状を、測定した、形状測定図である。
【図81】 図78に示している、米国の、Hoffm
an社製の、従来の、1段階形状型をした、Doubl
e−Sided Inverted Mesa Typ
eの、水晶振動子の製作例6の裏面を、干渉顕微鏡で、
拡大して測定した、形状測定図である。
【図82】 図78に示している、米国の、Hoffm
an社製の、従来の、1段階形状型をした、Doubl
e−Sided Inverted Mesa Typ
eの、水晶振動子の製作例6の表面の、写真(ノマルス
キマイクログラフ)である。
【図83】 素材は、ATcutで、2段階形状型をし
た、Single−Sided Grooved Ty
peの、水晶振動子の、最も薄い、中心部分の、リアク
タンス周波数特性図である。
【図84】素材は、ATcutで、2段階形状型をし
た、Single−Sided Grooved Ty
peの、水晶振動子の、最も薄い、中心部分の、リアク
タンス周波数特性図である。
【図85】 素材は、ATcutで、2段階形状型をし
た、Double−Sided Grooved Ty
peの、水晶振動子の、リアクタンス周波数特性図であ
る。
【図86】 素材は、ATcutで、2段階形状型をし
た、Double−Sided Grooved Ty
peの、水晶振動子の、リアクタンス周波数特性図であ
る。
【図87】 素材は、ATcutで、1段階形状型をし
た、米国の、Hoffman社製の、従来の、Doub
le−Sided Inverted Mesa Ty
peの、水晶振動子の、リアクタンス周波数特性図であ
る。
【符号の説明】
21,54 円筒 22 受圧面 23,24 電極 25 増幅器 26 金線 50 加工補助具 51 補助型材 100 水晶基板 101 くぼみ 102 フレーム部 103 上定盤 104 下定盤 105 研磨パッド 106 キャリア
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 41/18 101A (72)発明者 長浦 善昭 福岡県筑紫野市大字上古賀246−1(コン フォート天拝104) Fターム(参考) 5J108 BB02 CC03 CC05 CC11 FF01 FF10 KK01 MM11 NA01 NA02

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一面は、平面形状で、その反対側は、外
    周である、保持部分が、一番、厚くて、中心部分に向か
    うほどに、2段階形状型、又は2段階形状型以上の、段
    階形状型に、中心部分に向かうほどに、薄くなっている
    形状の、共振子(振動子)であることを特徴とする圧電
    素子。
  2. 【請求項2】 一面は、平板形状で、その反対側は、外
    周である、保持部分が、一番、厚くて、中心部分に向か
    うほどに、2段階形状型、又は2段階形状型以上の、段
    階形状型に、中心部分に向かうほどに、薄くなってい
    る、形状でありながら、最も薄くなっている、振動部分
    の形状が、Plano−Convex形状、又はCon
    cavo−Convex形状、又はBi−Convex
    形状などの、レンズ形状をした、共振子(振動子)であ
    ることを特徴とする圧電素子。
  3. 【請求項3】 外周である、保持部分が、一番、厚く
    て、中心部分に向かうほどに、両面から、2段階形状
    型、又は2段階形状型以上の、段階形状型に、中心部分
    に向かうほどに、両面から、薄くなっている形状の、共
    振子(振動子)であることを特徴とする圧電素子。
  4. 【請求項4】 圧電材料からなる、リング状の保持部の
    内部に、薄肉の振動部分が、一体に形成された圧電素
    子。
  5. 【請求項5】 圧電材料からなる、筒状体の内部中央
    に、薄肉の振動部分が、一体に形成された圧電素子。
  6. 【請求項6】 振動部分の両面中央に、一対の電極が蒸
    着され、各電極に金線がリード線として、引き出されて
    いることを特徴とする圧電素子。
  7. 【請求項7】 4角形状、又は長方形状のQuartz
    Blankの内部に、Single Inverte
    d Mesa Typeで、丸型形状の形状、4角形状
    の形状、又は6角形状の形状、又はその他の形状を形成
    した後、Quartz Blankに形成した、丸型形
    状の形状、又は4角形状の形状、又は6角形状の形状、
    又はその他の形状を形成した内部に、さらに、真円形
    状、又は丸型形状、又は3角形状、又は4角形状、又は
    6角形状、又はその他の形状の、振動部分を形成した、
    圧電素子。
  8. 【請求項8】 4角形状の Quartz Blank
    の内部に、Double Inverted Mesa
    Typeで、丸型形状の形状、4角形状の形状、又は
    6角形状の形状、又はその他の形状を形成した内部に、
    さらに、真円形状、又は丸型形状、又は3角形状、又は
    4角形状、又は6角形状、又はその他の形状の振動部分
    を形成した、圧電素子。
  9. 【請求項9】 4角形状、又は長方形状の Quart
    z Blankの、中心部分に、第1に、圧電材料の結
    晶方向を、識別することが出来る形状の、振動部分を形
    成した後、第2に、第1に形成した、結晶方向を、識別
    することが出来る、形状を形成した、第1の、振動部分
    の、中心部分に、第2の、真円形状、又は丸型形状、又
    は3角形状、又は4角形状、又は6角形状、又はその他
    の形状の振動部分を形成した圧電素子。
  10. 【請求項10】 圧電材料からなる、筒状体の内部中央
    に、筒状体の内径と、全く等しい、凸レンズ形状の振動
    部分を形成して、さらに、凸レンズ形状の振動部分を保
    持している、筒状体に対して、直角、又は鋭角の角度に
    て、凸レンズ形状の振動部分を、筒状体の、両端から等
    しい距離の内部中央に形成していることを特徴とする音
    響−電気変換器。
  11. 【請求項11】 圧電材料からなる、筒状体の内部中央
    に、筒状態の内径と全く等しい、凸レンズ形状の振動部
    分を形成して、筒状体の内径を、1とした場合、筒状態
    の左右の、入り口から、筒状体の内部中央に形成してい
    る、凸レンズ形状までの、長さが、それぞれともに、1
    以上の長さとすることを特徴とする音響−電気変換器。
  12. 【請求項12】 最終厚みよりも、厚い圧電材料の表面
    に、最終目標の、プロフィルの形状を形成した後、反応
    性イオンエッチング加工により、前記圧電材料の両端の
    表面を、当該圧電材料の、中心方向に向かって、均一
    に、厚みが減少するようにエッチング加工し、目的とす
    る、最終厚み、及びプロフィルの、振動部分を形成する
    ことを特徴とする音響−電気変換器の製造方法。
  13. 【請求項13】 圧電材料からなる、棒状体の表面に、
    最終目標の、プロフィルの形状を形成した後、反応性イ
    オンエッチング加工(Dry Etching加工)に
    より、前記棒状体の表面を、当該棒状体の周壁の厚み部
    分を残し、当該棒状体の中心方向に向かって、均一に厚
    みが減少するようにエッチング加工し、筒状体になった
    棒状体の内部中央に、前記最終厚み及びプロフィルの振
    動部分を形成することを特徴とする圧電素子の製造方
    法。
  14. 【請求項14】 最終厚みよりも、厚い圧電材料の両
    端表面に、最終目標の、プロフィルの、形状を形成した
    後、反応性イオンエッチング加工(Dry Etchi
    ng加工)により、前記圧電材料の、両端の表面を、当
    該圧電材料の、中心方向に向かって、均一に厚みが、減
    少するようにエッチング加工し、目的とする、最終厚
    み、及びプロフィルの、振動部分を、形成することを特
    徴とする音響−電気変換器の製造方法。
  15. 【請求項15】 圧電材料からなる、棒状体の両端表
    面に、最終目標のプロフィルの、形状を形成した後、反
    応性イオンエッチング加工(Dry Etching加
    工)により、前記棒状体の、端面の表面を、当該棒状体
    の、周壁の厚み部分を残し、当該棒状体の中心方向に向
    かって、均一に、厚みが、減少するようにエッチング加
    工し、筒状体になった、棒状体の内部中央に、前記最終
    厚み、及びプロフィルの、振動部分を、形成することを
    特徴とする圧電素子の製造方法。
  16. 【請求項16】 圧電材料からなる、棒状体の両端表
    面に、最終目標のプロフィルの、形状を形成している。
    レンズ形状に加工した、補助型材を密着させて、取り付
    けた後、反応性イオンエッチング加工(Dry Etc
    hing加工)により、前記棒状体の表面上に、密着さ
    せて取り付けている、レンズ形状に加工した、補助型材
    の表面を、蝕刻していき、これにより、最初は、補助型
    材の表面が、蝕刻されていき、次いで、圧電材料の表面
    が、蝕刻されて、補助型材と同じ形状をした、レンズ形
    状に圧電材料を、形成することを特徴とする圧電素子の
    加工方法。
  17. 【請求項17】 圧電材料からなる、棒状体の両端表
    面に、最終目標のプロフィルの、形状を形成している。
    中心部分に、レンズ形状をともない、さらに、その外周
    に、Ring−Support形状(枠付き形状)の、
    保持部分を一体形成した、枠付きの、レンズ形状の、光
    学ガラスで出来ている、補助型材を密着させて取り付け
    た後、反応性イオンエッチング加工(Dry Etch
    ing加工)により、前記棒状態の表面上に、密着させ
    て取り付けている、枠付きの、レンズ形状に加工した、
    補助型材の表面を、蝕刻していき、これにより、最初
    は、補助型材の表面が、蝕刻されていき、次いで、圧電
    材料の表面が、蝕刻されて、補助型材と、全く同じ形状
    をした、枠付きの、レンズ形状に、圧電材料を形成する
    ことを特徴とする、圧電素子の加工方法。
  18. 【請求項18】 4角形状、又は長方形状のQuart
    z Blankの、中心部分に、第1に、圧電材料の結
    晶方向を、識別することが出来る形状の、振動部分を形
    成した後、第2に、第1に形成した、結晶方向を識別す
    ることが出来る、形状を形成した、第1の振動部分の中
    心部分に、圧電材料の結晶方向を、識別することが出来
    ない形状である。第2の真円形状、又は丸型形状、又は
    3角形状、又は4角形状、又は6角形状、又はその他の
    形状の振動部分を形成する、圧電素子の加工方法。
  19. 【請求項19】 4角形状、又は長方形状のQuart
    z Blankの、中心部分に、第1に、圧電材料の結
    晶方向を、識別することが出来ない形状である、真円形
    状、又は丸型形状の振動部分を形成した後、第2に、第
    1に形成した、結晶方向を、識別することが出来ない、
    真円形状、又は丸型形状を形成した、第1の振動部分を
    中心とした外周部分に、圧電材料の結晶方向を、識別す
    ることが出来る、第2の、丸型形状、又は3角形状、又
    は4角形状、又は6角形状をした、第2の振動部分を、
    第1の振動部分の外周に形成する、圧電素子の加工方
    法。
  20. 【請求項20】 振動部分の、両面中央に、一対の、電
    極を蒸着し、各電極に、金線の先端を接着し、金線を、
    リード線として、引き出すことを特徴とする請求項7か
    ら13に記載の圧電素子の製造方法。
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