JP3899098B2 - デュアル・エッジ・プログラマブル遅延ユニット - Google Patents

デュアル・エッジ・プログラマブル遅延ユニット Download PDF

Info

Publication number
JP3899098B2
JP3899098B2 JP2004349506A JP2004349506A JP3899098B2 JP 3899098 B2 JP3899098 B2 JP 3899098B2 JP 2004349506 A JP2004349506 A JP 2004349506A JP 2004349506 A JP2004349506 A JP 2004349506A JP 3899098 B2 JP3899098 B2 JP 3899098B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
output
input
inverter
providing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004349506A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005168029A (ja
Inventor
カイ・ディー・フェン
ホンフェイ・ウー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by International Business Machines Corp filed Critical International Business Machines Corp
Publication of JP2005168029A publication Critical patent/JP2005168029A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3899098B2 publication Critical patent/JP3899098B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/13Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
    • H03K5/131Digitally controlled
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/01Shaping pulses
    • H03K5/04Shaping pulses by increasing duration; by decreasing duration
    • H03K5/06Shaping pulses by increasing duration; by decreasing duration by the use of delay lines or other analogue delay elements
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/13Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K2005/00013Delay, i.e. output pulse is delayed after input pulse and pulse length of output pulse is dependent on pulse length of input pulse
    • H03K2005/00019Variable delay
    • H03K2005/00058Variable delay controlled by a digital setting
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K2005/00293Output pulse is a delayed pulse issued after a rising or a falling edge, the length of the output pulse not being in relation with the length of the input triggering pulse

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Pulse Circuits (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Description

本発明は、プログラマブル遅延ユニットに関し、更に具体的には、デュアル・エッジ・プログラマブル遅延ユニットの提供に関する。
Hui等による米国特許第5,933,039号(Hui‘039)の「Programmable Delay Line」は、電圧比較器−RSレジスタに基づく遅延ラインに関するものである。信号チェーンは長く、最小遅延は5ナノ秒(ns)もの長さである。このため、Hui’039の遅延ラインは、高速回路では使用不可能である。立ち上がりおよび立ち下がりは、同一の遅延時間を有し、このため、オン・チップのタイミング調節ユニットとして用いることができない。電流源は、増幅器−抵抗器に基づき、選択した抵抗および寄生容量に応じて、設定時間は極めて長い。Hui‘039の遅延ラインの動作は、「リセット信号」に基づく。プログラム・コード保護機能は全く設けられず、このため、リアル・タイムおよびオン・チップの動作には使用不可能である。従って、Hui等の遅延ライン・ユニットは、本発明のものとは異なる適用分野および異なる回路構造に関するものである。
Hui等による米国特許第5,355,038号(Hui‘038)の「Architecture for Programmable Delay Line Integrated Circuit」は、概念およびシステム構造の点でHui’039に類似しているが、回路の実施はいくぶん異なる。遅延ラインは、電圧−比較器およびRSレジスタに基づく。最小遅延ラインは長く、10nsであり、このため、高速回路では機能することができない。立ち上がりおよび立ち下がりは、別個の遅延設定を有することができないので、オン・チップのタイミング調整ユニットとして使用不可能である。増幅器−抵抗器に基づく電流源を用い、選択した抵抗および寄生容量に応じて、設定時間は極めて長い。Hui‘038の遅延ラインの動作は、「リセット信号」に基づき、プログラム・コードの保護機能は存在しないので、リアル・タイムおよびオン・チップの動作に用いることはできない。従って、Hui’038の遅延ライン・ユニットは、本発明のものとは異なる適用分野および異なる回路構造に関するものである。
Philipsによる、「DelayCircuit and Method」と題する米国特許第5,936,451号は、本発明のものとは全く異なる分野であるパワー・モータ、ソレノイド等、極めて低速の用途に関する遅延ラインについて記載している。Philipsの特許の主な目的は、NFETおよびPFETが電源と接地との間に固定された場合に、それらが同時にオンするのを回避することである。Philipsの特許の目標は、大きなコンデンサまたは大きな抵抗器を必要とすることなく長い遅延を得ることであり、これは本発明の目的および目標とは全く異なる。Philipsの特許の遅延回路は、立ち上がりおよび立ち下がりについて別個に異なる遅延時間を設定する機能を有しない。従って、この特許の遅延回路の概念、目的、および機能は、本発明のものとは異なる。
Hiltonによる、「Delay andInterpolation Timing Structures and Methods」と題する米国特許第6,124,745号は、2つのコンデンサを有する差動増幅器に基づいた遅延回路について記載している。回路構造および動作原理は、本発明のものとは全く異なる。Hiltonの特許の遅延回路は、立ち上がりおよび立ち下がりについて別個に異なる遅延時間を設定する機能を有しない。従って、Hiltonの特許における遅延ラインの回路構造、動作原理、および機能は、本発明のものとは異なる。
図1は、現在、業界において広く用いられているタイプの従来技術のプログラマブル遅延ユニット10の概略回路図を示す。遅延ユニットは、直列の「n」個のインバータに基づいた遅延要素IP1、IP2、・・・、IPn、直列接続された「n」個の送信ゲートTG1、TG2、・・・、TGn−1、TGnの集合、および、「n」ビット・ラッチ27から成る。インバータに基づく遅延要素IP1は、直列接続されたインバータ14および16を含み、入力ライン12上の入力信号INを受信し、遅延した出力を供給し、これが、ノード17を介して送信ゲートTG1のソース/ドレイン回路およびインバータ18の入力に接続される。インバータに基づく遅延要素IP2は、直列接続されたインバータ18および20を含み、その入力はノード17に接続され、その出力はノード21を介して送信ゲートTG2のソース/ドレイン回路に、および、ノード21を介して図示しない次段のインバータの入力に接続される。更に、遅延ユニット10の終端に近付くと、送信ゲートTGn−1のソース/ドレイン回路に、ノード23が接続されている。プログラマブル遅延ユニット10における最終段のインバータに基づく遅延要素IPnは、直列接続されたインバータ24および26を含み、その入力はノード23に接続され、その出力は送信ゲートTGnのソース/ドレイン回路に接続されている。送信ゲートTG1、TG2、・・・、TGn−1、TGnのソース/ドレイン回路は、ノード22および出力ライン29に接続されている。ラッチ27は、バスライン28上の制御ワードの関数として、「n」個の送信ゲートTG1、TG2、・・・、TGn−1、TGnの対応する1つのゲート電極に対するラインL1、L2、・・・、Ln−1、Lnのうち選択した1つに、ターンON信号を供給する。
制御ワード・バス28上の制御ワードがラッチ27にラッチされると、送信ゲートTG1、TG2、・・・、TGn−1、TGnのうち1つが選択され、すなわちターン・オンされ、遅延要素IP1、IP2、・・、IPnの1つの対応する出力が選択されて、選択された送信ゲートTG1、TG2、・・・、TGn−1、TGnのソース/ドレイン回路の1つを介して、ノード22を通って、更に出力ライン29を介して、出力信号OUTを供給するように接続される。
米国特許第5,933,039号 米国特許第5,355,038号 米国特許第5,936,451号 米国特許第6,124,745号
図1に示す種類の遅延ユニットに伴う問題は、立ち上がり遅延時間および立ち下がり遅延時間が別個に設定されないことである。通常、各遅延要素の2つの遅延時間は同一ではない。この結果、直列の遅延要素の2つ以上が選択された場合、遅延時間の差が蓄積される。このため、問題は、図1に示す回路のタイプから、入力パルスおよび出力パルスにパルス幅のひずみが生じることである。
本発明の典型的な適用は、Kai D.FengおよびHongfei Wuによる「Glitch Free Receiver For High Speed Simultaneous Bidirectional DataBus」と題する同時係属中の米国特許出願連続番号第10/692192号(IBM整理番号第EN920030078US1)に記載されている。
本発明は、極めて短い信号チェーンを特徴とし、このため、初期遅延時間または最小遅延時間が極めて小さく、(2つのインバータ遅延時間を)ピコ秒(ps)範囲にまで短縮可能である、インバータに基づく遅延ユニットを提供することによって、図1に関して上述した問題に対する解決策を提供する。これは、高速集積回路のオン・チップのタイミング調整の用途として使用可能である。
本発明によれば、デュアル・エッジ・プログラマブル遅延ユニットが提供される。これは、高速設定時間、極めて短い最小遅延時間、独立した立ち上がりおよび立ち下がり遅延時間設定を有する回路を含む。本発明のプログラマブル遅延ユニットは、高速システムにおいて、リアル・タイムのオン・チップ・タイミング調整ユニットとして使用可能である。
更に、本発明によれば、入力信号に応答してデュアル・エッジ・プログラマブル遅延ユニットのプログラミングを行うための方法および装置が提供される。バッファ制御回路が含まれており、これは、立ち上がり時間および立ち下がり時間を有する入力信号を受信し、出力信号の立ち上がりと立ち下がり時間との間に可変遅延を有する出力信号を供給し、プログラマブル制御源(PCS)が、第1の可変立ち上がり時間プログラマブル制御源(RTPCS:Rise Time Programmable Control Source)に別個の制御入力を供給するようにプログラムされている。可変立ち下がり時間プログラマブル制御源(FTPCS:Fall TimeProgrammable Control Source)は、第1の出力電流を供給し、これがバッファにおいてコンデンサを充電し、RTPCSは、第2の出力電流を供給し、これがバッファ回路においてコンデンサを放電する。PCSに、可変制御信号が供給される。入力信号が論理ハイから論理ローに遷移した場合、FTPCSはバッファ回路を介して出力電流を供給し、入力信号が論理ローから論理ハイに遷移した場合、RTPCSはバッファ回路を介して出力電流を供給する。入力信号が論理ハイから論理ローに遷移した場合、バッファ制御回路はFTPCSを介して出力電流に応答し、または、入力信号が論理ローから論理ハイに遷移した場合、RTPCSを介して出力電流に応答する。
好ましくは、P側およびN側に、2つの別個の制御されたプログラマブル電流源がある。P側プログラマブル源は、ゲート容量への充電電流を設定するので、(入力信号VAが論理ハイから論理ローに変化した場合に)立ち下がりでの遅延時間を制御することができる。N側プログラマブル源は、ゲート容量からの放電電流を設定するので、(入力信号VAが論理ローから論理ハイに変化した場合に)立ち上がりでの遅延時間を制御することができる。従って、2つの遅延時間は独立して調整することができる。デュアル・エッジ遅延時間は別個にプログラム可能であるので、遅延ユニットは立ち上がりおよび立ち下がりについて異なる遅延時間を設定することができ、これは、集積回路のタイミングを調整する際に特に有用な特徴である。
好ましくは、プログラマブル電流源は、ピコ秒(ps)のオーダーで極めて高速でターン・オンまたはターン・オフすることができる1対の切り替え電流ミラーまたは切り替え電流源から成る。遅延ユニットにはコード保護回路があり、これは、入力信号VAが論理ハイにある間のみ、電流設定コードを変更するようにP側電流源を制限する。また、遅延ユニットのコード保護回路は、入力信号VAが論理ローにある場合にのみ、電流設定コードのみを変更するようにN側電流源を制限する。このため、全ての遅延時間は予想可能である。なぜなら、2つの設定間に遅延時間は生じないからである。デュアル・エッジ・プログラマブル遅延ユニットの性能向上のため、集積回路においてリアル・タイムおよびオン・チップ・タイミング調整のために用い、グリッチの無い状態を実現することができる。
バッファ回路が設けられ、これは、1対のインバータを含む。第2のインバータは、シュミット・トリガ回路であり、正のフィードバックのため、高速の立ち上がり時間および高速の立ち下がり時間を有する。
好ましくは、バッファ制御回路は、第1のインバータおよび第2のインバータを含み、各々は入力および出力を有し、第1のインバータは第1の入力および第1の出力を有し、第2のインバータは第2の入力および第2の出力を有する。入力信号が論理ハイから論理ローに遷移してFTPCSと第1の出力との間を接続する場合、第1のインバータはFTPCSに応答する。入力信号が論理ローから論理ハイに遷移してRTPCSと第1の出力との間を接続する場合、RTPCSに応答するように第1のインバータを設ける。第1のインバータの第1の出力を、第2のインバータの第2の入力に接続されたノードに接続し、第2のインバータが、第2のインバータから、第2の出力において出力信号を供給する。ノードと基準電池の間にコンデンサを接続する。第2のインバータとしてシュミット・トリガ回路を設ける。FTPCSおよびRTPCSに電流ミラー回路を設ける。第1の制御ワードを第1のラッチに供給し、このラッチは次いで第1の可変制御信号をFTPCSに供給する。第2の制御ワードを第2のラッチに供給し、このラッチは次いで第2の可変制御信号をRTPCSに供給する。FTPCSにFETフィンガを設けるステップであって、各フィンガは第1のラッチにおいてレジスタからの出力によって制御される。第2のRTPCSにFETフィンガを設けるステップであって、各フィンガは対応するラッチにおいてレジスタからの出力によって制御される。
本発明の別の態様によれば、信号入力、信号出力、PSPC接続ライン、およびNSPC接続ラインを含むバッファ制御回路を有するプログラマブル遅延ユニットを用いたデュアル・エッジ・プログラミングが提供される。P側プログラマブル電流(PSPC)入力と、PSPC接続ラインを介してバッファに接続されたPSPC電流ラインとを有するP側源を設ける。N側(NS)制御ワードおよびN側書き込み信号の入力を受信し、N側制御ワードの関数であるN側切り替え信号の出力を受信するように構成されたN側ラッチを設ける。NSラッチが、N側制御ワードの関数であるN側切り替え信号の出力を供給し、N側切り替え信号の出力はNSPC源の入力に供給される。N側プログラマブル電流(NSPC)源入力と、NSPC接続ラインを介してバッファに接続されたNSPC電流ラインとを有するNSPC源を設ける。P側(PS)制御ワードおよびP側書き込み信号の入力を受信し、P側制御ワードの関数であるP側切り替え信号の出力を受信するように構成されたP側ラッチを設ける。PSラッチが、P側制御ワードの関数であるP側切り替え信号の出力を供給し、P側切り替え信号の出力はPSPC源の入力に供給される。
バッファ制御回路は、第1のインバータおよび第2のインバータを含む。第1のインバータおよび第2のインバータをバッファ回路に設け、各インバータは入力および出力を有し、第1のインバータは第1の入力および第1の出力を有し、第2のインバータは第2の入力および第2の出力を有する。入力信号が論理ハイから論理ローに遷移して第1のPSPC源と第1の出力との間を接続する場合、第1のPSPC源に応答するように第1のインバータを設ける。入力信号が論理ローから論理ハイに遷移して第2のPSPC源と第1の出力との間を接続する場合、第2のPSPC源に応答するように第1のインバータを設ける。第1のインバータの第1の出力を、第2のインバータの第2の入力に接続されたノードに接続する。
第2のインバータは、第2のインバータから、第2の出力において出力信号を供給する。第1のインバータにおいてPMOS FETおよびNMOS FETを設け、それらのソース・ドレイン回路の第1の端部は第1のインバータの出力に接続されている。第1のインバータに対する入力を、PMOS FETおよびNMOS FETのゲート電極に接続する。PMOS FETおよびNMOS FETのソース・ドレイン回路の対向端部を、第1のPSPC源および第2のPSPC源の出力に接続する。
本発明の更に別の態様によれば、入力信号に応答するデュアル・エッジ・プログラマブル遅延ユニットが提供される。バッファ制御回路は、立ち上がり時間および立ち下がり時間を有する入力信号を受信する。バッファ制御回路は、第1および第2のプログラマブル制御源(PCS)に設けられたプログラミングの関数として、出力信号の立ち上がり時間と立ち下がり時間との間の可変遅延を出力信号に与える。FTPCSに対する第1の制御入力、および、RTPCSに対する別個の第2の制御信号がある。FTPCSの各々は、第1の可変出力電流を供給するようにプログラムされる。RTPCSの各々は、第2の可変出力電流を供給するようにプログラムされる。FTPCSに対する第1の可変制御信号、および、RTPCSに対する第2の可変制御信号。
(a)FTPCSを介して出力電流が流れ、入力信号が論理ハイから論理ローに遷移した場合、または(b)RTPCSを介して出力電流が流れ、入力信号が論理ローから論理ハイに遷移した場合、バッファ制御回路は応答する。入力信号が論理ハイから論理ローに遷移した場合、FTPCSは、出力電流をバッファ回路に供給するように構成されている。入力信号が論理ローから論理ハイに遷移した場合、RTPCSは、出力電流をバッファ回路に供給するように構成されている。
本発明の前述およびその他の態様および利点は、添付図面を参照して以下に説明し記載する。
図2は、本発明によるプログラマブル遅延ユニット30の概略ブロック図であり、これは、入力信号VAに応答して生成される出力信号VADの立ち上がり遅延時間および立ち下がり遅延時間の双方を独立して調整することができる。
図2に示すプログラマブル遅延ユニット30は、5つのサブ回路から成る。それらの回路のうち第1のものは、バッファ回路U1であり、入力信号VAを受信し出力信号VADを生成する。また、プログラマブル遅延ユニット30は、P側プログラマブル電流(PSPC:P side Programmable Current)源U2、P側(PS:P Side)ラッチU3、N側プログラマブル電流(NSPC:N side Programmable Current)源U4、およびN側(NS:N Side)ラッチU5を含む。
ラッチU3は、コンピュータ制御システム(図示せず)の制御の元で、P側制御ワード入力バス40からのデジタル入力に応答して、PSPC源U2にデジタル信号を供給して、入力信号VAの立ち下がり時間に対する出力信号VADの立ち下がり遅延時間の調整を制御する。次いで、PSPC源U2は、ライン36上でバッファ回路U1に供給される電流を発生する。この電流の可変振幅が、PSラッチU3からのデジタル立ち下がり遅延制御信号に応じて、出力信号VADの立ち下がり遅延時間を制御する。
ラッチU5は、コンピュータ制御システム(図示せず)の制御の元で、N側制御ワード入力バス50からのデジタル入力に応答して、NSPC源U4にデジタル信号を供給して、入力信号VAの立ち上がり時間に対する出力信号VADの立ち上がり遅延時間の調整を制御する。次いで、NSPC源U4は、ライン38上でバッファ回路U1に供給される電流を発生する。この電流の可変振幅が、NSラッチU5からのデジタル立ち上がり遅延制御信号に応じて、出力信号VADの立ち上がり遅延時間を制御する。
このため、入力信号VAの立ち下がりおよび立ち上がり時間に対する出力信号VADの立ち下がり遅延時間および立ち上がり遅延時間は、独立して制御される。
バッファU1、PSPC源U2、PSラッチU3、NSPC源U4、およびNSラッチU5を含む全てのサブ回路に、接続ノードを介して、ライン31によって、電圧VCC(正の電圧)を有する電源が接続されている。電源の接地または基準電位(0V)は、バッファU1、PSPC源U2、PSラッチU3、NSPC源U4、およびNSラッチU5を含む全てのサブ回路に、接続ノードを介してライン32によって接続されている。
P側制御ワードは、デジタル信号として、バスライン40上でPSラッチU3に供給され、書き込み信号はライン66上でこれに供給される。バスライン40上のP側制御ワードおよびライン66上の書き込み信号は、システム・コントローラ(図示せず)によって、PSラッチU3に供給される。システム・コントローラは、マイクロプロセッサ、位相検出器、マイクロコントローラ、またはグリッチ検出器とすることができ、当業者には充分に理解されよう。
PSラッチU3は、ライン41、42、43上で、デジタル切り替え信号PL1、・・・、PLn−1、PLnの集合をPSPC源U2に供給する。これは、U2によってU1バッファ入力ライン36に接続されて、バッファU1にアナログ電流を供給する。US2を介してU1バッファ入力ライン36に至るアナログ電流は、ライン40上のP側制御ワードの関数として変動し、これはP側ラッチU3によって登録されている。
N側制御ワードは、デジタル信号として、バスライン50上でNSラッチU5に供給され、書き込み信号はライン76上でこれに供給される。バスライン50上のN側制御ワードおよびライン76上の書き込み信号は、システム・コントローラ(図示せず)によって供給される。システム・コントローラは、マイクロプロセッサ、位相検出器、マイクロコントローラ、またはグリッチ検出器とすることができ、当業者には充分に理解されよう。
NSラッチU5は、ライン51、52、53上で、デジタル切り替え信NL1、・・・、NLn−1、NLnの集合をNSPC源U4に供給し、これは、ライン38によってバッファU1にアナログ電流を供給する。ライン38を通過するアナログ電流は、ライン50上のN側制御ワードの関数として変動し、これはN側ラッチU5によって登録されている。
入力信号VAは、ライン12’を介してバッファU1に接続され、ライン12’からPSラッチU3へのライン46に、また、ライン12’からNSラッチU5へのライン56に接続されている。バッファU1は、ライン39上に出力信号VADを供給する。
1.バッファ回路
図3を参照すると、バッファ回路U1は、2つのインバータI1およびI2ならびにコンデンサCから成る。第1のインバータI1は、その入力がライン12’上の入力信号VAを受信し、更に、その出力をノード37に供給するように接続されている。PSPC源U2からのライン36およびNSPC源38からのライン38は、第1のインバータI1に接続する。
コンデンサCの一方の端子は、第1のインバータI1の出力および第2のインバータI2の入力に、ノード/ライン37を介して接続されている。コンデンサCの他方の端子は、ノード/ライン32を介して基準電位(0V)に接続されている。
図4に詳細に示す第2のインバータI2は、シュミット・トリガ(Schmitt trigger)回路であり、その入力はノード/ライン37に接続され、その出力は出力ライン39に接続されて、出力信号VADを供給する。更に、第2のインバータI2は、ライン31によって電源電圧VCCおよび、ライン32を介して基準電位(0V)に接続されている。
図3を参照すると、第1のインバータI1は、PFET PAおよびNFET NAから成るFETデバイスのCMOS対を含む。これらのソース・ドレイン回路は直列に接続され、これらのドレインはノード37において接続されている。PFET PAのソース端子は、ライン36を介してPSPC源U2に接続されている。NFET NAのソース端子は、ライン38を介してNSPC源U4に接続されている。
ライン12’上の入力信号が論理ハイから論理ローに遷移すると、インバータI1において、PFET PAがオンし、NFET NAがオフする。PFET PAがオンすると、アナログ電流がライン36から流れる。ライン36を流れるアナログ電流は、バスライン40上のP側デジタル制御ワードの関数として変動し、PFET PAのソース/ドレイン回路を介してノード37に流れ、基準電位に対して入力容量Cを充電する。換言すると、コンデンサCまたは第2のインバータI2の入力容量を充電する電流は、ライン36を流れるソース電流であり、これは(上述のように)、図5に示すように、PSPC源U2に接続されている。
充電電流が大きい場合、容量Cを介したノード37上の電圧は急速に増大し、第2のインバータI2の出力は論理ハイから論理ローに早期に変化する。このため、出力信号VADの立ち下がりの遅延時間は短い。一方、充電電流が小さい場合、容量Cを介したノード37上の電圧はゆっくりと増大し、第2のインバータI2の出力VADは論理ハイから論理ローに遅い時期に変化する。このため、出力信号VADの立ち下がりの遅延時間は長い。
入力信号VAが論理ローから論理ハイに遷移すると、インバータI1において、PFET PAはオフになり、NFET NAはオンになる。NFET NAがオンすると、アナログ電流が、コンデンサCからノード37およびライン38を介してバッファU1とNSPC U4との間を流れる。アナログ電流は、バスライン50上のデジタルN側制御ワードの関数として変動し、アナログ・シンク電流がライン38を流れる結果として、第2のインバータI2の入力において入力容量Cを放電し、これは(上述のように)、図7に示すように、NSPC源U4に接続されている。
放電電流が大きい場合、容量C上の電圧は急速に降下し、第2のインバータI2の出力VADは論理ローから論理ハイに早期に変化し、出力信号VADの立ち上がりの遅延時間は短い。放電電流が小さい場合、容量C上の電圧はゆっくりと降下し、第2のインバータI2の出力は論理ローから論理ハイに遅い時期に変化し、出力信号VADの立ち上がりの遅延時間は長い。
第2のインバータI2に対する入力容量Cは、図3に示すように、別個のコンデンサCとすることができる。あるいは、入力容量Cは、第1のインバータI1の出力回路および第2のインバータI2の入力回路の寄生容量から成るものとすることができる。
PSPC源U2が立ち下がり遅延時間を決定し、NSPC源U4が立ち上がり遅延時間を決定することは明らかである。上述のように、PSPC源U2およびNSPC源U4は別個に制御されるので、立ち下がり遅延時間および立ち上がり遅延時間は、独立して設定することができる。
図4は、第2のインバータI2の概略回路図の好適な実施形態の詳細を示し、これは、シュミット・トリガ構成に接続された、PMOS FETデバイスPB、PC、およびPD、ならびにNMOS FETデバイスNB、NC、およびNDを含む。第2のインバータI2は、正のフィードバックのため、インバータの出力信号VADの立ち上がり時間および立ち下がり時間を短縮することができる。ノード/ライン37は、第2のインバータI2に対する入力として機能し、ノード/ライン61を介して、PMOS FET PBおよびPCのゲートならびにNMOS FET NBおよびNCのゲートに接続する。
電源電圧VCCは、ライン31を介してノード/ライン66に接続され、これによって、PMOS FET PBのソースおよびNMOS FET NDのドレインに接続する。基準電位0Vは、ライン32を介してノードおよびライン65に接続され、これは、NMOS FET NCのソースおよびPMOS FET PDのドレインに接続する。
PMOS FET PBおよびPCならびにNMOS FET NBおよびNCのソース/ドレイン回路は、ノード66(VCC)とノード65(0V)との間で、この順序で直列に接続されている。PMOS FET PBのドレインは、ノードおよびライン62を介して、PMOS FET PDおよびPCのソースに接続されている。NMOS FET NCのドレインは、ノードおよびライン63を介して、NMOS FET NBおよびNDのソースに接続されている。PMOS FET PCおよびNMOS FET NBのドレインは、ノードおよびライン64ならびに出力ライン39を介して、出力信号VADの端子およびPMOS FET PDおよびNMOS FET NDのゲートに接続されている。
2.P側プログラマブル電流(PSPC)源U2
図5は、図2のPSPC源U2の概略回路図である。これは、P型電流ミラーであり、PFラッチU3からのライン41〜43上のデジタル入力信号を、出力ライン36を介してアナログ電流に変換する。電流ミラーの主要部分は、固定電流源IP、および、ミラーされる電流を供給する最初のPMOS FET P0を含む。PMOS FET P0のソースは、ライン/ノード71を介して、電源電圧VCCへのライン31に接続されている。PMOS FET P0のドレインおよびゲートは、ノード/ライン72および固定電流源IPの上端に相互接続されている。固定電流源IPの下端は、ライン32を介して電源の基準電位(0V)端子に接続されている。
P型電流ミラーの補助的な部分は、プログラマブル電流源を備えたPMOS FETフィンガP1、・・・、Pn−1、Pnの集合を含む。これらは、PSラッチU3からライン41、42、43上で各デジタル切り替え信号PL1、・・・、PLn−1、PNを受信するように接続されたスイッチ回路によって切り替えられる。P型電流ミラーの補助的部分は、更に、デフォルトPFET PDを含む。PMOS FET P0、切り替えられたPMOS FET P1、・・・、Pn−n、Pn、およびPMOSデフォルトFET PDは、同じチャネル長を有するが、全て異なるチャネル幅を有する。フィンガP1、・・・、Pn−1の各々を介したアナログ電流は、固定電流源IPを介した電流と、PMOS FET P0のチャネル幅に対する特定のフィンガにおけるPMOS FETのチャネル幅の比との積である。
スイッチ回路は、インバータIP1、・・・、IPn−1、IPnの集合を備え、PMOS FET P1_1、P1_2、・・・、Pn−1_1、Pn−1_2、Pn_1、およびPn_2の対応する直列接続対が、ライン41、42、43上の信号PL1、PLn−1、PLnに応答して、フィンガP1、・・・Pn−1、Pnの各々をオンまたはオフする。PMOS FET P1_1およびP1_2、PFET Pn−1_1およびPFET Pn−1_2、PFET Pn_1およびPFET Pn_2は、直列対として接続され、それらのソース/ドレイン回路は直列に接続されている。上方のPMOS FET P1_1、Pn−1_1、およびPn_1のソースは、ライン/ノード71およびライン31を介して電源VCCに接続されている。PFET P1_2、Pn−1_2、およびPn_2のドレインは、ライン/ノード72を介して、PMOS FETP0のゲートおよび電流源IPの上端に接続されている。PMOS FET P1、Pn−1、Pnのドレインは、ライン/ノード79および出力ライン36を介して、バッファU1に接続されている。
P側ラッチU3からのライン41上の第1の入力PL1は、第1のスイッチ回路のノード73に接続し、これは、PMOS FET P1_2のゲートおよび、出力をPMOS FET P1_1のゲートに供給するインバータIP1の入力に接続する。PSラッチU3からのライン42上のn−1番目の入力PLn−1は、n−1番目のスイッチ回路のノード75に接続し、これはPMOS FET Pn−1_2のゲートおよび、出力をPMOS FET Pn−1_1のゲートに供給するインバータIPn−1の入力に接続する。PSラッチU3からのライン43上のn番目の入力PLnは、n番目のスイッチ回路のノード77に接続し、これはPMOS FET Pn_2のゲートおよび、出力をPMOS FET Pn_1のゲートに供給するインバータIPnの入力に接続する。
例えば、PSラッチU3からのPL1ライン41上の制御信号が論理ローである場合、第1のスイッチ回路において、PMOS FET P1_1はオフになり、PMOS FET P1_2はオンになって、PMOS FET P1をオンさせ、このため、PMOS FET P1を介してミラーされた電流はオンになり、電流が、電圧源VCCから、ライン31、ノード71、フィンガP1のソース/ドレイン、およびノード79を介して流れることができ、ライン36を介して電流の出力流がバッファU1に供給される。一方、PL1ライン41上の制御信号が論理ハイである場合、PMOS FET P1_1はオンになり、PMOS FET P1_2はオフになり、そのため、PMOS FET P1はオフになるので、ミラーされた電流は、フィンガP1のソース/ドレイン回路を介して、ライン79およびライン36を経て、バッファU1に供給されない(すなわち流れない)。
PMOS FET PDは、デフォルトのフィンガであり、そのゲート電極にスイッチ回路は接続されていない。バッファU1のPMOS FET PAがオンされると、PMOS FET PDは常に充電電流を供給し、そのため、全てのプログラマブル・フィンガがオフされると、PMOS FET PDは、ライン/ノード79を介して、ライン36を経て、バッファU1に充電電流を供給する。全てのインバータ(IP1、・・・、IPn−1、IPn)は、電源VCCおよび0Vによって電力供給される。
3.P側(PS)ラッチU3
図6は、図2のPSラッチU3の概略回路図である。PSラッチU3は、「n」個のD型レジスタPD1、・・、PDn−1、PDnの集合から成る。D型レジスタまたはDレジスタは、デジタル回路において極めてよく知られたユニットである。かかるレジスタは、2つの入力、すなわちDおよびCLKを有する。CLK入力にパルスを印加すると、入力D上の論理ステータスが、レジスタ出力Qに読み込まれる。D型レジスタのデータ端子は、バスライン40において個別のラインPCW1、・・・PCWn−1、PCDWnに接続され、これは、P側制御ワードのビットを、レジスタPD1、・・・、PDn−1、PDnの各々に接続する。レジスタPD1、・・・、PDn−1、PDnの補足出力−Qは、P側PSPC源U2に対してライン41〜43上でデジタル制御信号PL1、・・・、PLn−1、PLnを供給する。
バスライン40上のP側制御ワードを、ライン66上の書き込み信号によって書き込む場合、(ライン66上の「書き込み」信号によって、AND45を介して、ライン/ノード44を経てレジスタPD1、・・・、PDn−1、PDnのCLK入力に接続するノードに接続された)フィンガP1、Pn−1、Pnの制御信号の論理ステータスを変化させることができる。例えば、ラインPCW1上のビットが論理ハイであり、レジスタPD1に書き込まれると、PLライン41は論理ローであり、P側PSPC源U2のフィンガP1をオンする。しかしながら、ラインPCW1上のビットが論理ローであり、レジスタPD1に書き込まれると、PL1ライン41は論理ハイであり、これはPSPC源U2のフィンガP1をオフにする。
ANDゲート45は、保護を提供するので重要であり、AND45に対するライン46上の入力信号VAが論理ハイである場合(バッファU1の第1のインバータI1のPMOS FET PAがオフされるので)、ライン66上の「書き込み」信号は、P側制御ワードの新しいステータスを、レジスタPD1、・・・、PDn−1、PDnに書き込んで、フィンガP1、P1n−1、Pnの論理ステータスを変更することができる。
この保護機能によって、入力信号VAの入力パルスの各立ち下がりの遅延時間のタイミングが予想可能かつ制御可能であることが保証される。この機能によって、遅延ユニットは、オン・ラインおよびリアル・タイムの双方で高速システムのタイミングを調整することが可能となる。
全てのD型レジスタ(PD1、・・・、PDn−1、PDn)およびANDゲート45は、電源VCCおよび0Vによって電力供給される。(D型レジスタ上の接続31および32を消去してください)。
4.N側プログラマブル電流(NSPC)源U4
図7は、図2のNSPC源U4の概略回路図である。これは、N型電流ミラーであり、NSラッチU5からのライン51〜53上のデジタル入力信号を、出力ライン38を介してアナログ電流に変換する。電流ミラーの主要部分は、固定電流源IN、および、ミラーされる電流を供給する最初のNMOS FET N0を含む。NMOS FET P0のソースは、ライン/ノード81を介して、基準電位(0V)へのライン32に接続されている。NMOS FET N0のドレインおよびゲートは、ノード/ライン82および固定電流源INの下端に相互接続されている。固定電流源INの上端は、ライン31を介して、電源電圧VCCの端子に接続されている。
図7に示すNSPC源U4は、N型電流ミラーである。電流ミラーの主要部分は、固定電流源INおよびPMOS FET N0である。電流ミラーU4の補助的部分は、切り替えられたNMOS FETフィンガN1、・・・Nn−1、Nnの集合およびデフォルトNMOS FET NDである。NFET N0、N1、・・・、Nn−1、Nn、NDは、同じチャネル長を有するが、異なるチャネル幅を有し、各フィンガを介した電流は、固定電流源INを介する電流と、PMOS FET N0のチャネル幅に対する特定のフィンガにおけるNMOS FETのチャネル幅の比との積である。
IN1、・・・INn−1、INnのインバータ、NMOS FET N1_1、N1_2、・・・Nn−1_1、Nn−1_2、Nn_1、Nn_2を用いて、フィンガの各々をオンまたはオフにする。例えば、NSラッチU5からのNL1ライン51上の制御信号が論理ハイである場合、NMOS FETN1_1はオフになり、NMOS FET N1_2はオンになるので、NMOS FET N1はオフになり、NMOS FET N1を介したミラー電流はオンになる。NL1ライン51上の制御信号が論理ローである場合、NMOS FET N1_1はオンになり、NMOS FET N1_2はオフになり、NMOS FET N1はオフになり、このため、ミラーされた電流は、フィンガN1から、NSPC源U4のフィンガのソース/ドレインを介して、ライン89および38を経て、バッファU1に供給されない(すなわち流れない)。
NMOS FET NDは、デフォルトのフィンガであり、ゲートにスイッチ回路は存在しない。バッファU1のNMOS FET NAがオンされると、NMOS FET NDは常に放電電流を供給し、このため、全てのプログラマブル・フィンガがオフすると、NMOS FET NDは放電電流を供給する。全てのインバータ(IN1、・・・、INn−1、INn)は、電源VCCおよび基準電位(0V)を通る接続によって電力供給される。
5.N側(NS)ラッチU5
図8に示すNSラッチU5は、D型レジスタND1、・・・、DNn−1、NDnの集合から成り、レジスタのデータ端子は、N側制御ワードNCW1、・・・、NCWn−1、NCWnのビットに接続されている。レジスタND1、・・・、NDn−1、NDnの出力は、NSPC源U4に対するライン51〜53上のデジタル制御信号NL1、・・・、NLn−1、NLnを供給する。レジスタND1、・・・、NDn−1、NDnのCLK入力に接続されているノードおよびライン54にAND55を介して送信されるライン76上の「書き込み」信号によって、バスライン50上の制御ワードをレジスタND1、・・・、NDn−1、NDnに書き込む場合、レジスタNL1、NLn−1、NLnの制御信号の論理ステータスを変更することができる。
例えば、P側制御バスライン50からのラインNCW1上の制御ワードビットが論理ハイであり、レジスタND1に書き込まれると、NL1ライン51上の制御信号は論理ハイであり、NSPC源U4のフィンガN1をオンする。NCW1のビットが論理ローであり、レジスタND1に書き込まれる場合、NL1は論理ローであり、NSPC源U4のフィンガN1をオフにする。
インバータ57およびANDゲート55の組み合わせによって、重要な保護が提供される。入力信号VAが論理ローである場合にのみ、バッファU1のNMOS FET NAはオフになり、信号「書き込み」が、レジスタND1、・・・、NDn−1、NDnにN側制御ワードの新しいステータスを書き込んで、ラインNL1、・・・、NLn−1、NLn上の論理ステータスを変更することができる。
この保護機能によって、入力信号VAの入力パルスの各立ち上がりの遅延時間が予想可能かつ制御可能であることが保証される。この機能によって、遅延ユニットは、オン・ラインおよびリアル・タイムの双方で高速システムのタイミングを調整することが可能となる。
全てのD型レジスタ(ND1、・・・、NDn−1、NDn)およびANDゲート55およびインバータ57は、電源VCCおよび基準電位(0V)によって電力供給される。
本発明について、上述の具体的な実施形態に関連付けて説明したが、本発明は特許請求の範囲の精神および範囲内で変更して実施し得ること、すなわち、本発明の精神および範囲から逸脱することなく形態および詳細において変更を行い得ることは、当業者には認められよう。従って、全てのかかる変更は、本発明の範囲内であり、本発明は、特許請求の範囲の主題を包含する。
従来技術のプログラマブル遅延ユニットの概略回路図である。 本発明によるプログラマブル遅延ユニットの概略ブロック図であり、入力信号VAから出力信号VADまでの立ち上がり遅延時間および立ち下がり遅延時間を独立して調整することができる。 図2に示すバッファ回路の概略図であり、2つのインバータおよびコンデンサから成る。 図3のバッファ回路の第2のインバータであるシュミット・トリガ回路を示す。 P型電流ミラーである、図2のP側プログラマブル電流源を示す。 「n」個のD型レジスタ集合およびANDゲートから成る図2のP側ラッチを示す。 N型電流ミラーである、図2のN側プログラマブル電流源を示す。 「n」個のD型レジスタ集合およびANDゲートから成る図2のN側ラッチを示す。

Claims (20)

  1. デュアル・エッジ・プログラマブル遅延ユニットのプログラミングを提供する方法であって、
    バッファ入力信号を受信するように構成されたバッファ回路を設けるステップであって、前記バッファ入力信号は入力信号立ち下がり時間で立ち下がり、前記バッファ入力信号は入力信号立ち上がり時間で立ち上がる、ステップと、
    前記バッファ回路が、出力信号立ち下がり時間で立ち下がりバッファ出力信号を供給し、出力信号立ち上がり時間で立ち上がりバッファ出力信号を供給するステップと、
    第1ラッチが前記入力信号を受信し、前記入力信号が論理ハイである場合に、可変立ち下がり時間制御入力を供給するステップと、
    第2ラッチが前記入力信号を受信し、前記入力信号が論理ローである場合に、可変立ち上がり時間制御入力を供給するステップと、
    前記立ち下がり時間制御入力の関数として、前記バッファ回路に対する可変立ち下がり時間プログラマブル制御源(FTPCS)信号をプログラミングするためのFTPCSを設けるステップと、
    前記立ち上がり時間制御入力の関数として、前記バッファ回路に対する可変立ち上がり時間プログラマブル制御源(RTPCS)信号をプログラミングするためのRTPCSを設けるステップと、
    前記バッファ回路が、前記可変FTPCS信号の関数として、前記入力信号立ち下がり時間と前記出力信号立ち下がり時間との間の立ち下がり時間遅延を前記バッファ出力信号に与える、ステップと、
    前記バッファ回路が、前記可変RTPCS信号の関数として、前記入力信号立ち上がり時間と前記出力信号立ち上がり時間との間の立ち上がり時間遅延を前記バッファ出力信号に与える、ステップと、
    を備える、方法。
  2. 前記バッファ回路は第1のインバータおよび第2のインバータを含む、請求項1に記載の方法。
  3. 第1のインバータおよび第2のインバータを前記バッファ回路に設けるステップと、
    前記バッファ入力信号を中間ノードを介して受信する入力を有するように前記第1のインバータを設けるステップと、
    第2のインバータ入力に対する入力に応答して前記バッファ出力信号を発生するように第2のインバータ出力を設けるステップと、
    前記第2のインバータ入力に接続された第1のインバータ出力を有するように前記第1のインバータを設けるステップと、
    前記入力信号が論理ハイから論理ローに遷移して前記立ち下がり時間遅延を開始させる場合、前記FTPCSに応答するように前記第1のインバータを設けるステップと、
    前記入力信号が論理ローから論理ハイに遷移して前記立ち上がり時間遅延を開始させる場合、前記RTPCSに応答するように前記第1のインバータを設けるステップと、
    前記立ち下がり時間遅延の終了時に前記立ち下がりバッファ出力信号を開始し、立ち上がり時間遅延の終了時に前記立ち上がりバッファ出力信号を開始するように前記第2のインバータのトリガを発生するステップと、
    を含む、請求項1に記載の方法。
  4. 前記ノードと基準電位との間にコンデンサを接続するステップを含む、請求項3に記載の方法。
  5. 前記ノードと基準電位との間にコンデンサを接続するステップと、
    前記第2のインバータとしてシュミット・トリガ回路を設けるステップと、
    を含む、請求項3に記載の方法。
  6. 前記バッファ回路が、
    a.前記入力信号が論理ハイから論理ローに遷移した場合に前記FTPCSからの出力電流に応答し、
    b.前記入力信号が論理ローから論理ハイに遷移した場合に前記RTPCSを介した出力電流に応答する、
    ように設けられるステップを含む、請求項3に記載の方法。
  7. 第1の制御ワードを前記第1のラッチに供給し、このラッチは次いで第1の可変制御信号を前記FTPCSに供給するステップと、
    第2の制御ワードを前記第2のラッチに供給し、このラッチは次いで第2の可変制御信号を前記RTPCSに供給するステップと、
    を含む、請求項3に記載の方法。
  8. 前記FTPCSにFETフィンガを設けるステップであって、各フィンガは前記第1のラッチにおいてレジスタからの出力によって制御される、ステップと、
    前記RTPCSにFETフィンガを設けるステップであって、各フィンガは対応するラッチにおいてレジスタからの出力によって制御される、ステップと、
    を含む、請求項7に記載の方法。
  9. 前記FTPCSおよび前記RTPCSにおいて電流ミラー回路を設けるステップと、
    第1の制御ワードを第1のラッチに供給し、このラッチは次いで第1の可変制御信号を前記FTPCSに供給する、ステップと、
    第2の制御ワードを第2のラッチに供給し、このラッチは次いで第2の可変制御信号を前記RTPCSに供給する、ステップと、
    前記FTPCSにFETフィンガを設けるステップであって、各フィンガは前記第1のラッチにおいてレジスタからの出力によって制御される、ステップと、
    前記RTPCSにFETフィンガを設けるステップであって、各フィンガは対応するラッチにおいてレジスタからの出力によって制御される、ステップと、
    を含む、請求項3に記載の方法。
  10. 前記ノードと基準電位との間にコンデンサを接続するステップを含む、請求項9に記載の方法。
  11. 前記ノードと基準電位との間にコンデンサを接続するステップと、
    前記第2のインバータとしてシュミット・トリガ回路を設けるステップと、
    を含む、請求項9に記載の方法。
  12. 前記FTPCSおよび前記RTPCSにおいて電流ミラー回路を設けるステップを含む、請求項9に記載の方法。
  13. 第1の制御ワードを第1のラッチに供給し、このラッチは次いで第1の可変制御信号を前記FTPCSに供給する、ステップと、
    第2の制御ワードを第2のラッチに供給し、このラッチは次いで第2の可変制御信号を前記RTPCSに供給する、ステップと、
    を含む、請求項9に記載の方法。
  14. 前記FTPCSにFETフィンガを設けるステップであって、各フィンガは前記第1のラッチにおいてレジスタからの出力によって制御される、ステップと、
    前記RTPCSにおいてFETフィンガを設けるステップであって、各フィンガは対応するラッチにおいてレジスタからの出力によって制御される、ステップと、
    を含む、請求項13に記載の方法。
  15. プログラマブル遅延ユニットにおいてデュアル・エッジ・プログラミングを提供する方法であって、
    バッファ回路に、信号入力、信号出力、PSPC接続ライン、およびNSPC接続ラインを供給するステップと、
    P側プログラマブル電流(PSPC)入力と、前記PSPC接続ラインを介して前記バッファに接続されたPSPC電流ラインとを有するPSPC源を設けるステップと、
    前記入力信号、N側(NS)制御ワードおよびN側書き込み信号の入力を受信し、前記N側制御ワードの関数であるN側切り替え信号の出力を送信するように構成されたN側ラッチを設けるステップと、
    前記NSラッチが、前記入力信号が論理ハイである場合に、前記N側制御ワードの関数であるN側切り替え信号の出力を供給し、前記N側切り替え信号の出力は前記NSPC源の前記入力に供給される、ステップと、
    N側プログラマブル電流(NSPC)源入力と、前記NSPC接続ラインを介して前記バッファに接続されたNSPC電流ラインとを有するNSPC源を設けるステップと、
    前記入力信号、P側(PS)制御ワードおよびP側書き込み信号の入力を受信し、前記P側制御ワードの関数であるP側切り替え信号の出力を送信するように構成されたP側ラッチを設けるステップと、
    前記PSラッチが、前記入力信号が論理ローである場合に、前記P側制御ワードの関数であるP側切り替え信号の出力を供給し、前記P側切り替え信号の前記出力は前記PSPC源の前記入力に供給される、ステップと、
    を備える、方法。
  16. 前記バッファ回路は第1のインバータおよび第2のインバータを含む、請求項1に記載の方法。
  17. 第1のインバータおよび第2のインバータを前記バッファ回路に設けるステップであって、各インバータは入力および出力を有し、前記第1のインバータは第1の入力および第1の出力を有し、前記第2のインバータは第2の入力および第2の出力を有する、ステップと、
    前記入力信号が論理ハイから論理ローに遷移して前記PSPC源と前記第1の出力との間を接続する場合、前記PSPC源に応答するように前記第1のインバータを設けるステップと、
    前記入力信号が論理ローから論理ハイに遷移して前記NSPC源と前記第1の出力との間を接続する場合、前記NSPC源に応答するように前記第1のインバータを設けるステップと、
    前記第1のインバータの前記第1の出力を、前記第2のインバータの前記第2の入力に接続されたノードに接続するステップと、
    前記第2のインバータが、前記第2のインバータから、前記第2の出力において前記出力信号を供給する、ステップと、
    を含む、請求項15に記載の方法。
  18. 前記第1のインバータにおいてPMOS FETおよびNMOS FETを設けるステップであって、それらのソース・ドレイン回路の第1の端部は前記第1のインバータの前記出力に接続されている、ステップと、
    前記第1のインバータに対する前記入力を、前記PMOS FETおよび前記NMOS FETのゲート電極に接続するステップと、
    を含む、請求項15に記載の方法。
  19. 前記PMOS FETおよび前記NMOS FETの前記ソース・ドレイン回路の対向端部を、前記PSPC源および前記NSPC源の出力に接続するステップを含む、請求項18に記載の方法。
  20. デュアル・エッジ・プログラマブル遅延回路であって、
    バッファ入力信号を受信するように構成されたバッファ回路であって、前記バッファ入力信号は入力信号立ち下がり時間で立ち下がり、前記バッファ入力信号は入力信号立ち上がり時間で立ち上がる、バッファ回路と、
    前記バッファ回路が、出力信号立ち下がり時間で立ち下がりバッファ出力信号を供給し、出力信号立ち上がり時間で立ち上がりバッファ出力信号を供給し、
    前記入力信号を受信し、前記入力信号が論理ハイである場合に、可変立ち上がり時間制御入力を供給する第1のラッチと、
    前記入力信号を受信し、前記入力信号が論理ローである場合に、可変立ち下がり時間制御入力を供給する第2のラッチと、
    前記立ち下がり時間制御入力の関数として、前記バッファ回路に対する可変立ち下がり時間プログラマブル制御源(FTPCS)信号をプログラミングするためのFTPCSと、
    前記立ち上がり時間制御入力信号の関数として、前記バッファ回路に対する可変立ち上がり時間プログラマブル制御源(RTPCS)信号をプログラミングするためのRTPCSと、
    を備え、
    前記バッファ回路が、前記可変FTPCS信号の関数として、前記入力信号立ち下がり時間と前記出力信号立ち下がり時間との間の立ち下がり時間遅延を前記バッファ出力信号に与え、
    前記バッファ回路が、前記可変RTPCS信号の関数として、前記入力信号立ち上がり時間と前記出力信号立ち上がり時間との間の立ち上がり時間遅延を前記バッファ出力信号に与える、デュアル・エッジ・プログラマブル遅延ユニット。
JP2004349506A 2003-12-04 2004-12-02 デュアル・エッジ・プログラマブル遅延ユニット Expired - Fee Related JP3899098B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/729,779 US6914467B2 (en) 2003-12-04 2003-12-04 Dual edge programmable delay unit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005168029A JP2005168029A (ja) 2005-06-23
JP3899098B2 true JP3899098B2 (ja) 2007-03-28

Family

ID=34634031

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004349506A Expired - Fee Related JP3899098B2 (ja) 2003-12-04 2004-12-02 デュアル・エッジ・プログラマブル遅延ユニット

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6914467B2 (ja)
JP (1) JP3899098B2 (ja)
KR (1) KR100604772B1 (ja)
CN (1) CN100344058C (ja)
TW (1) TWI330942B (ja)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7250800B2 (en) * 2005-07-12 2007-07-31 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Clock pulse width control circuit
US7733146B2 (en) * 2006-02-06 2010-06-08 Aeroflex Colorado Springs Inc. SET and SEGR resistant delay cell and delay line for Power-On Reset circuit applications
JP2007228044A (ja) 2006-02-21 2007-09-06 Sony Corp デジタルdll回路
US7622972B2 (en) * 2008-02-05 2009-11-24 Nanya Technology Corp. System and apparatus for generating ideal rise and fall time
US8219950B2 (en) * 2009-03-20 2012-07-10 Arm Limited Propagation delay time balancing in chained inverting devices
US8054101B2 (en) * 2009-05-07 2011-11-08 Faraday Technology Corp. Current source applicable to a controllable delay line and design method thereof
US8762611B2 (en) * 2012-02-15 2014-06-24 Infineon Technologies Ag System comprising a bus, and method to transmit data over a bus system
CN105162455A (zh) * 2015-09-02 2015-12-16 合肥工业大学 一种新型逻辑电路
CN106936415B (zh) * 2015-12-31 2022-03-22 紫光同芯微电子有限公司 一种低功耗应用延时电路
CN109088622B (zh) * 2018-08-02 2023-10-31 深圳市精嘉微电子有限公司 一种细粒度延迟输出控制的电路和方法
US10622979B2 (en) 2018-08-20 2020-04-14 Texas Instruments Incorporated Delay cell
CN111030647B (zh) * 2019-12-26 2024-03-26 普冉半导体(上海)股份有限公司 双边延时电路
CN114006605B (zh) * 2021-12-31 2022-05-10 峰岹科技(深圳)股份有限公司 单边沿延时电路
US20230421156A1 (en) * 2022-06-24 2023-12-28 Qualcomm Incorporated Glitch absorbing buffer for digital circuits
CN115016593B (zh) * 2022-06-30 2023-10-20 华大半导体有限公司 可编程修调比特实现电路及驱动电路

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2951930C2 (de) 1979-12-21 1982-10-28 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Impulsformer
US4888062A (en) * 1987-08-31 1989-12-19 Canon Kabushiki Kaisha Pin junction photovoltaic element having I-type semiconductor layer comprising non-single crystal material containing at least Zn, Se and H in an amount of 1 to 4 atomic %
US5144173A (en) * 1989-06-30 1992-09-01 Dallas Semiconductor Corporation Programmable delay line integrated circuit having programmable resistor circuit
US5175452A (en) * 1991-09-30 1992-12-29 Data Delay Devices, Inc. Programmable compensated digital delay circuit
US5650739A (en) * 1992-12-07 1997-07-22 Dallas Semiconductor Corporation Programmable delay lines
US5572159A (en) * 1994-11-14 1996-11-05 Nexgen, Inc. Voltage-controlled delay element with programmable delay
US5936451A (en) * 1994-12-29 1999-08-10 Stmicroeletronics, Inc. Delay circuit and method
US6133751A (en) * 1998-08-05 2000-10-17 Xilinx, Inc. Programmable delay element
KR100261215B1 (ko) * 1997-07-29 2000-07-01 윤종용 클럭 버퍼 및 이를 포함하는 메모리 로직 복합 반도체장치
US6031401A (en) * 1998-06-08 2000-02-29 Tritech Microelectronics, Ltd. Clock waveform synthesizer
US6111796A (en) * 1999-03-01 2000-08-29 Motorola, Inc. Programmable delay control for sense amplifiers in a memory
US6124745A (en) * 1999-05-19 2000-09-26 Analog Devices, Inc. Delay and interpolation timing structures and methods
US6271682B1 (en) * 1999-09-01 2001-08-07 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for high-speed edge-programmable timing signal generator
US6417713B1 (en) * 1999-12-30 2002-07-09 Silicon Graphics, Inc. Programmable differential delay circuit with fine delay adjustment
US6348827B1 (en) 2000-02-10 2002-02-19 International Business Machines Corporation Programmable delay element and synchronous DRAM using the same
US6535057B2 (en) * 2000-05-29 2003-03-18 Stmicroelectronics Ltd. Programmable glitch filter
KR100446291B1 (ko) * 2001-11-07 2004-09-01 삼성전자주식회사 카스 레이턴시를 이용하여 락킹 레졸루션 조절이 가능한지연동기 루프 회로
US6603339B2 (en) 2001-12-14 2003-08-05 International Business Machines Corporation Precision aligned multiple concurrent duty cycles from a programmable duty cycle generator
US6798186B2 (en) * 2002-05-08 2004-09-28 Lsi Logic Corporation Physical linearity test for integrated circuit delay lines

Also Published As

Publication number Publication date
TWI330942B (en) 2010-09-21
CN1625054A (zh) 2005-06-08
JP2005168029A (ja) 2005-06-23
CN100344058C (zh) 2007-10-17
TW200539573A (en) 2005-12-01
KR100604772B1 (ko) 2006-07-28
US6914467B2 (en) 2005-07-05
US20050122151A1 (en) 2005-06-09
KR20050054437A (ko) 2005-06-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3899098B2 (ja) デュアル・エッジ・プログラマブル遅延ユニット
EP0678983B1 (en) Output buffer current slew rate control integrated circuit
US6593795B2 (en) Level adjustment circuit and data output circuit thereof
US6624672B2 (en) Output buffer with constant switching current
KR100706576B1 (ko) 슬루율이 제어된 출력 구동회로
KR100266011B1 (ko) 히스테리시스입력버퍼
JPH06303116A (ja) 論理出力ドライバ
US6184703B1 (en) Method and circuit for reducing output ground and power bounce noise
JPH06204823A (ja) 補償回路と遅延を補償する方法
KR100370233B1 (ko) 입력버퍼 회로
US6417708B1 (en) Resistively-loaded current-mode output buffer with slew rate control
KR20030002305A (ko) 반도체 집적 회로
US6958626B2 (en) Off chip driver
KR100579045B1 (ko) 슬루율 제어가 가능한 전송선 드라이버 및 전송선 구동방법
JPH1079194A (ja) スキューロジック回路装置
JP4876553B2 (ja) 出力回路
JP4641219B2 (ja) 出力バッファ回路
KR100434966B1 (ko) 출력 드라이버
KR100346948B1 (ko) 씨모스 출력 버퍼 회로
JP4031373B2 (ja) 小振幅出力バッファ
KR100365425B1 (ko) 정적 전류를 줄이고 고속 동작이 가능한 레퍼런스 신호 발생 회로
KR100304970B1 (ko) 인버터 회로
JP3119601B2 (ja) 出力バッファ
JP2005217860A (ja) 遅延回路
JP3665560B2 (ja) 半導体集積回路

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060516

RD12 Notification of acceptance of power of sub attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7432

Effective date: 20060606

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20060606

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20060814

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20060821

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061113

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20061205

RD14 Notification of resignation of power of sub attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7434

Effective date: 20061205

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20061222

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100105

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110105

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120105

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130105

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees