JP2018160564A - ダイボンディング装置および半導体装置の製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
本開示の課題は、コレットに付着する異物の飛散を低減し、異物を除去可能なダイボンディング装置を提供することである。
その他の課題と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
すなわち、ダイボンディング装置は、先端に設けたコレットの吸着面にダイの素子形成面側を吸着させてウェハから前記ダイをピックアップするピックアップヘッドと、前記吸着面の異物を除去するブラシと前記異物を吸引する吸引部と前記吸着面に沿って前記ブラシを回転させる駆動部とを有するクリーニング装置と、前記ピックアップヘッドと前記クリーニング装置とを制御する制御部と、を備える。前記ブラシのブラシ面は長方形状である。前記制御部は、前記ブラシと前記吸着面とを接触させ、前記コレットの吸着面を直線状にまたは前記コレットの吸着面の中心が円を描くように移動させると共に前記ブラシを回転させ、前記吸引部により除去した異物を吸引する。
ダイボンダ10は、大別して、基板Pに実装するダイDを供給するダイ供給部1と、ダイ供給部1からダイをピックアップし、ピックアップされたダイDを基板P又は既にボンディングされたダイの上にボンディングするボンディング部4と、コレット6のダイ吸着面の異物をクリーニングするコレットクリーニング装置60と、基板Pをボンディング位置に搬送する搬送部5、搬送部5に基板Pを供給する基板供給部9Kと、実装された基板Pを受け取る基板搬出部9Hと、各部の動作を監視し制御する制御部7と、を有する。
従って、コレットクリーニング装置60の好適の設置位置は、ボンディング動作中のボンディングヘッド41の移動ルートの、妨げにならない位置に設けることが望ましい。しかしながら、ボンディング動作の妨げになる、または設置場所が十分に取れないときは、通常のルートの両端外側、または通常のルートの基板の搬送方向にオフセットした位置でもよい。要は、ボンディングヘッド41の可動範囲に設けられていればよい。
制御部7は上記のフローを予定しているダイ数をボンディングするまで繰り返す(ステップJ3)。
さらに、コレット6のクリーニングを行うタイミングとしては、ダイが複数行に亘り保持されているウェハ11上のダイの行が変わる毎に、または2行おきにコレットクリーニングを自動的に実行するようにしてもよい。また、作業者が、必要な時にダイボンダを操作して随時実行するようにしてもよい。
以下、代表的な変形例について、幾つか例示する。以下の変形例の説明において、上述の実施例にて説明されているものと同様の構成および機能を有する部分に対しては、上述の実施例と同様の符号が用いられ得るものとする。そして、かかる部分の説明については、技術的に矛盾しない範囲内において、上述の実施例における説明が適宜援用され得るものとする。また、上述の実施例の一部、および、複数の変形例の全部または一部が、技術的に矛盾しない範囲内において、適宜、複合的に適用され得る。
実施例ではコレット6を回転させブラシ61を直線移動させたが、変形例1ではコレット6を直線移動させブラシ61を回転させる。
図10は、変形例1に係るコレットクリーニング装置を示す図である。図10(a)は、図1において矢印Aの方向から見た図である。図10(b)は、図10(a)において矢印A3の方向から見た図である。図11(a)は、コレットクリーニング装置のブラシおよびブラシホルダの上面図である。図11(b)は、図11(a)のA4−A5線における断面図である。図11(c)は、図11(a)のA6−A7線における断面図である。図12は図10(a)に対応する図で、コレットクリーニング装置の本体を上昇させてピックアップヘッドに接触させ、クリーニング動作の状態を示す図である。
変形例2に係るブラシはエアブロー機能を備える。図15は変形例2に係るコレットクリーニング装置を説明する図であり、図11(c)に対応する断面図である。
変形例3に係るブラシは垂直面に沿って回転することによりブラシ面の新面を交換する。図16は変形例3に係るコレットクリーニング装置を説明する図である。図16(a)は、図11(b)に対応する断面図である。図16(b)は、図11(c)に対応する断面図である。
変形例3ではブラシをクリーニングする特別な機構を有していないが、変形例4ではブラシをクリーニングする機構を有する。図17は変形例4に係るコレットクリーニング装置を説明する図である。図17(a)は、図16(a)に対応する断面図である。図17(b)は、図16(b)に対応する断面図である。
変形例5のブラシ61のブラシ部61Hの毛丈(HH)は実施例および変形例1よりも長くしている。変形例5に係るコレットクリーニング装置について図18を用いて説明する。図18(a)は、コレットクリーニング装置のブラシの上面図である。図18(b)は、図18(a)のB1−B2線における断面図である。図18(c)は、図18(a)のB3−B4線における断面図である。
変形例1ではブラシ61と共に吸引溝63c(ブラシホルダ64)を回転させたが、変形例6では吸引部63(枠部62)を回転させずブラシ61を回転させる。図19は変形例6に係るコレットクリーニング装置の構成を示す図である。図19(a)は、コレットクリーニング装置を図1において矢印Aの方向から見た図である。図19(b)は、図19(a)において、コレットクリーニング装置を矢印B5の方向から見た図である。図19(c)、図19(d)は、それぞれ図19(a)、図19(b)に対応する図で、コレットクリーニング装置の本体を上昇させてボンディングヘッド41に接触させ、クリーニング動作の状態を示す図である。図20(a)は、コレットクリーニング装置の上面図である。図20(b)は、図20(a)において矢印B6の方向から見た図である。図20(c)は、図20(a)において矢印B7の方向から見た図である。
変形例7ではダイ供給部1とボンディング部4との間にピックアップ部2を備える。図21は、変形例7に係るダイボンダの構成を示す概略上面図である。図22は、図21において矢印G方向から見たときに、ピックアップヘッドおよびボンディングヘッド41の動作を説明する図である。
ピックアップヘッド21のコレット6にウェハ11から異物等が付着するので、上述したようにコレットクリーニング装置60は、中間ステージ31とダイDのピックアップ位置の間に設けられている点である。なお、中間ステージ31が存在するダイボンダにおいて、ボンディングヘッド41に関しても、同様にコレットクリーニングを行う必要がある場合には、中間ステージ31とダイDのボンディングの位置の間に設けてもよい。
変形例8のブラシ61では、ブラシ部61Hの中央部の一部を取り除いている。変形例8に係るコレットクリーニング装置について図27を用いて説明する。図27(a)は、コレットクリーニング装置のブラシおよびブラシホルダの上面図である。図27(b)は、図27(a)のA4−A5線における断面図である。図27(c)は、図27(a)のA6−A7線における断面図である。
また、実施例ではピックアップヘッドおよびボンディングヘッドをそれぞれ1つ備えているが、それぞれ2つ以上であってもよい。また、実施例では中間ステージを備えているが、中間ステージがなくてもよい。この場合、ピックアップヘッドとボンディングヘッドは兼用してもよい。
2:ピックアップ部
21:ピックアップヘッド
31:中間ステージ
4:ボンディング部
41:ボンディングヘッド
44:基板認識カメラ
45:ダイ姿勢認識カメラ
6:コレット
7:制御部
10:ダイボンダ
11:ウェハ
12:ピックアップ装置
13:突き上げユニット
18:ダイアタッチフィルム(DAF)
60:コレットクリーニング装置
61:ブラシ
62:枠部
63:吸引部
64:ブラシホルダ
65:駆動部
67:昇降装置
D:ダイ
P:基板
Claims (20)
- 先端に設けたコレットの吸着面にダイの素子形成面側を吸着させてウェハから前記ダイをピックアップするピックアップヘッドと、
前記吸着面の異物を除去するブラシと前記異物を吸引する吸引部と前記吸着面に沿って前記ブラシを回転させる駆動部とを有するクリーニング装置と、
前記ピックアップヘッドと前記クリーニング装置とを制御する制御部と、
を備え、
前記ブラシのブラシ面は長方形状であり、
前記制御部は、前記ブラシと前記吸着面とを接触させ、前記コレットの吸着面を直線状にまたは前記コレットの吸着面の中心が円を描くように移動させせると共に前記ブラシを回転させ、前記吸引部により除去した異物を吸引するダイボンディング装置。 - 請求項1において、
前記クリーニング装置は、さらに、前記ブラシを保持するブラシホルダを有し、
前記ブラシは、前記コレットと接触するブラシ部と、前記ブラシ部を保持するブラシ台と、を有し、
前記吸引部は前記ブラシホルダと前記ブラシ台との間の隙間で構成されるダイボンディング装置。 - 請求項2において、
前記ブラシは、前記ブラシ台を前記吸着面とは垂直な面に沿って回転させる回転軸を有し、
前記ブラシ台の複数の面にブラシ部を有するダイボンディング装置。 - 請求項3において、
前記ブラシホルダが前記ブラシ台と対向する面に前記ブラシ部をクリーニングする突起またはブラシ部を有するダイボンディング装置。 - 請求項2において、
前記ブラシ台は前記ブラシ部にエアを噴き出す孔を有するダイボンディング装置。 - 請求項1において、
前記クリーニング装置は、前記ピックアップヘッドの可動範囲に設けられているダイボンディング装置。 - 請求項6において、
前記クリーニング装置は、前記ダイの前記ウェハからピックアップするピックアップ位置と前記ダイを載置する位置との間であって、前記吸着面の異物を除去する時に前記吸着面に対面する位置に設けられるダイボンディング装置。 - 請求項1において、
前記制御部は、前記コレット又は前記ブラシが昇降して前記吸着面に前記ブラシを接触させ、前記ブラシの押し込み量を0〜1mmとするダイボンディング装置。 - 請求項1において、
前記ブラシは十μmから数百μmの線幅を有する金属のブラシを複数束ねて構成されるダイボンディング装置。 - 請求項1において、
前記ブラシは、前記吸着面に一辺の長さを長辺とするブラシ部を有するダイボンディング装置。 - 請求項1において、
前記ピックアップヘッドは、ボンディングヘッドを兼ね、前記ウェハから前記ダイを直接基板または既にボンディングされたダイの上にボンディングするダイボンディング装置。 - 請求項1において、
さらに、ピックアップしたダイを基板又は既にボンディングされたダイの上にボンディングするボンディングヘッドを備え、
前記ピックアップヘッドは中間ステージに前記ダイを一度載置し、前記ボンディングヘッドは前記中間ステージから該ダイをピックアップし、前記基板にボンディングするダイボンディング装置。 - 請求項1において、
前記ブラシの回転中心部には所定の幅でブラシ面がない部分を設けるダイボンディング装置。 - 請求項13において、
前記所定の幅は1〜6mmとするダイボンディング装置。 - (a)請求項1乃至14のいずれか一つのダイボンディング装置を準備する工程と、
(b)ダイが貼付されたダイシングテープを保持するウェハリングホルダを搬入する工程と、
(c)基板を準備搬入する工程と、
(d)ダイをピックアップする工程と、
(e)前記ピックアップしたダイを前記基板または既にボンディングされたダイの上にボンディングする工程と、
(f)前記クリーニング装置により前記コレットをクリーニングする工程と、
を備える半導体装置の製造方法。 - 請求項15において、さらに、
(g)前記ブラシをクリーニングする工程を備え、
前記(g)工程は、
(g1)突起またはブラシ部を有するブラシクリーニング板を前記ピックアップヘッドに装着する工程と、
(g2)前記ブラシクリーニング板と前記ブラシを接触させる工程と、
(g3)前記ピックアップヘッドまたは前記ブラシを移動させる共に、前記吸引部により吸引して前記ブラシをクリーニングする工程と、
を備える半導体装置の製造方法。 - 請求項16において、さらに、
(h)前記ブラシを交換する工程を備え、
前記(h)工程は、
(h1)ブラシ交換治具を前記ピックアップヘッドに装着する工程と、
(h2)前記ブラシ交換治具により前記ブラシを把持し前記ブラシホルダから取り出す工程と、
を備える半導体装置の製造方法。 - 請求項16において、さらに、
(h)前記ブラシを交換する工程を備え、
前記(h)工程は、前記回転軸を回転させてブラシ面を交換する半導体装置の製造方法。 - 請求項15において、
前記(d)工程は前記ダイシングテープ上の前記ダイを前記ピックアップヘッドでピックアップし、
前記(e)工程は前記ピックアップヘッドでピックアップしたダイを前記基板または既にボンディングされたダイの上にボンディングする半導体装置の製造方法。 - 請求項15において、
前記(d)工程は、
(d1)前記ダイシングテープ上のダイをピックアップヘッドでピックアップする工程と、
(d2)前記ピックアップヘッドでピックアップしたダイを中間ステージに載置する工程、
を有し、
前記(e)工程は、
(e1)前記中間ステージに載置されたダイをボンディングヘッドでピックアップする工程と、
(e2)前記ボンディングヘッドでピックアップしたダイを前記基板に載置する工程と、
を備える半導体装置の製造方法。
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