CN109254014A - 摄像头传感器芯片检测机构及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种摄像头传感器芯片检测机构，包括传动导轨、检测装置、清洁装置以及用于放置并传动摄像头传感器芯片的工作台，清洁装置及检测装置设置于传动导轨上方，工作台可移动设置于传动导轨上，工作台在传动导轨上往返运动时将摄像头传感器芯片传动至检测装置以及清洁装置所在的工位。本发明提出的一种摄像头传感器芯片检测机构，通过检测装置对摄像头传感器芯片进行检测，当摄像头传感器芯片上沾有灰尘时，通过清洁装置进行清洗，清洗后再传送至检测装置处进行检测，直到灰尘被清洗干净。本发明无需人工进行干预，提高了自动化程度，实现了在一台设备上实现自动检测、自动清洁、再检测，将人工完全节省，避免人工清洁出现的上述各种问题。

Description

摄像头传感器芯片检测机构及方法

技术领域

本发明涉及摄像头组装领域，尤其涉及一种摄像头传感器芯片检测机构以及一种摄像头传感器芯片检测方法。

背景技术

摄像头传感器芯片是一种较为精密的电子元器件，通常都是在无尘车间生产，但芯片上粘有粉尘是生产过程中在所难免。摄像头传感器芯片组装环境特别敏感，芯片上如果有粉尘，将直接影响摄像头的拍照效果。并且由于芯片的制造成本较高，如果把粘有粉尘的芯片直接报废，会造成极大的浪费，所以有必要进行自动化检测并进行自动清洁粉尘来提高生产良率。

传统对摄像头传感器芯片污点、粉尘的检测只能依靠人工通过显微镜检测与清除污点、粉尘。人工利用显微镜检测，效率较低，容易造成视觉疲劳，出错率高等一些不足。

目前国外个别厂家半自动检测的设备用于检测摄像头传感器芯片的粉尘，但自动化程度低，需要人工将产品放入到检测区域内。如果出现有灰尘的产品，人工再放入到显微镜下用粘尘棒清洁粉尘，然后再把芯片拿回设备复检，这种操作严重影响效率，并且在搬运过程中容易出现二次灰尘污染，不能在一台机器上从检测到自动清洁的工作。也不能将检测设备做成在线式，前后端分别对接其他设备来提高生产效率。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种摄像头传感器芯片检测机构，旨在解决现有技术中清理摄像头传感器芯片灰尘技术的自动化程度低，清洁效率低的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供一种摄像头传感器芯片检测机构，所述摄像头传感器芯片检测机构包括传动导轨、检测装置、清洁装置以及用于放置并传动摄像头传感器芯片的工作台，所述清洁装置及所述检测装置设置于所述传动导轨上方，所述工作台可移动设置于所述传动导轨上，所述工作台在所述传动导轨上往返运动时将摄像头传感器芯片传动至所述检测装置以及所述清洁装置所在的工位。

优选地，所述清洁装置包括：清洁件及夹取组件，所述夹取组件可移动设置于所述清洁件与所述工作台之间，所述夹取组件相对所述工作台水平移动。

优选地，所述夹取组件包括：夹取支架、夹取件、夹取驱动件、第一传动件及第二传动件，所述夹取驱动件驱动所述夹取件夹紧或松开所述清洁件；所述夹取支架设置于所述第二传动件上，所述第二传动件移动时带动所述夹取支架沿所述传动导轨的垂直方向做升降运动，所述第二传动件设置于所述第一传动件上，所述第一传动件移动时带动所述第二传动件沿水平方向移动。

优选地，所述第二传动件上设有压力传感器，所述压力传感器用于检测所述第二传动件上的压力。

优选地，所述清洁件包括清洁棒固定件、清洁棒及旋转驱动件，所述旋转驱动与所述清洁棒固定件连接，所述旋转驱动件驱动所述清洁棒盒转动，以使所述清洁棒固定件上的清洁棒与所述夹取组件位置对应。

优选地，所述检测装置包括固定结构及若干图像采集器，所述固定结构包括支撑件以及由支撑件延伸于所述导轨上方的固定件，所述固定件上设有若干固定部，各个所述固定部对应固定一个图像采集器。

优选地，所述固定部包括固定架及转动齿轮，所述固定架铰接于所述固定件上，所述图像采集器设置于所述固定架上，所述转动齿轮设置于所述固定件上，并与所述固定架啮合，所述转动齿轮转动时带动所述固定架以铰接点为中心水平转动。

优选地，所述支撑架上具有导向件，所述图像采集器可移动设置于所述导向件上，所述图像采集器移动时沿所述传动导轨的垂直方向运动。

优选地，所述工作台包括滚动支架、多个滚动连接在所述滚动支架上的滚筒以及控制滚筒旋转的控制电机，所述控制电机控制所述滚筒在所述滚动支架上持续旋转时带动所述摄像头传感器芯片往所述滚筒的旋转方向移动。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种摄像头传感器芯片检测方法，所述摄像头传感器芯片检测方法包括以下步骤：

通过所述检测装置采集摄像头传感器芯片的图像信息，并判断所述摄像头传感器芯片上是否有污点；

当所述摄像头传感器芯片上有污点时，通过所述传动导轨将所述摄像头传感器芯片传动至清洁装置工位，所述清洁装置对所述摄像头传感器芯片进行清洗；

所述传动导轨将清洗后的摄像头传感器芯片传送至所述检测装置工位，所述检测装置重新采集所述清洗后的摄像头传感器芯片的图像信息，并判断是否有污点；

当有污点时，所述传动导轨将所述摄像头传感器芯片传动至清洁装置工位重新清洗，当没有污点时，所述传动导轨将所述摄像头传感器芯片传出所述摄像头传感器芯片检测机构。

本发明实施例提出的一种摄像头传感器芯片检测机构，通过检测装置对摄像头传感器芯片进行检测，当摄像头传感器芯片上沾有灰尘时，通过清洁装置进行清洗，清洗后再传送至检测装置处进行检测，直到灰尘被清洗干净。本发明无需人工进行干预，提高了自动化程度，实现了在一台设备上实现自动检测-自动清洁-再检测，将人工完全节省，大大提高了效率，避免人工清洁出现的上述各种问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明摄像头传感器芯片检测方法的流程示意图；

图2为本发明摄像头传感器芯片检测机构的整体结构示意图；

图3为本发明摄像头传感器芯片检测机构的清洁装置具体结构示意图；

图4为本发明摄像头传感器芯片检测机构的检测装置具体结构示意图。

附图标号说明：

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，若本发明实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

在本发明实施例中，请参照图2，本发明的一种摄像头传感器芯片检测机构，所述摄像头传感器芯片检测机构包括传动导轨40、检测装置10、清洁装置20以及用于放置并传动摄像头传感器芯片的工作台30，所述清洁装置20及所述检测装置10设置于所述传动导轨40上方，所述工作台30可移动设置于所述传动导轨40上，所述工作台30在所述传动导轨40上往返运动时将摄像头传感器芯片传动至所述检测装置10以及所述清洁装置20所在的工位。

所述摄像头传感器芯片检测机构还包括上料装置，所述上料装置内装有待检测的摄像头传感器芯片载板，所述摄像头传感器芯片载板上装有若干待检测的摄像头传感器芯片，所述上料装置设置于所述传动导轨40的首端，所述工作台30位于起始工位时，与所述上料装置对接，所述上料装置将待检测的摄像头传感器芯片载板传动至所述工作台30上，从而完成上料工序。可以理解，所述上料装置还可以采用接驳台来替代，所述接驳台与外部结构对接，从而使得摄像头传感器芯片能从其他工序中直接流入到本发明中进行检测，从而提高本发明的广泛适应性。

所述工作台30获取到摄像头传感器芯片载板之后，将所述摄像头传感器芯片载板传递至所述检测装置10工位进行检测。为了进一步提高本发明的检测效率，在所述工作台30上设有X移动轴及Y移动轴，所述X移动轴可移动设置于所述传动导轨40上，所述Y移动轴可移动设置于所述X移动轴上，所述X轴的移动方向与所述传动导轨40的移动方向相同。将多个摄像头传感器芯片放置在摄像头传感器芯片载板中，在检测时，通过X移动轴与Y移动轴之间的调整，使所述摄像头传感器芯片载板内所有的摄像头传感器芯片能够移动到检测装置10下进行检测。从而实现一次性完成对多个摄像头传感器芯片的检测，从而避免所述工作台30多趟往返浪费时间，从而提高检测效率。

为了进一步提高本发明的检测效率，所述检测装置10上设有污点芯片标记笔，所述污点芯片标记笔用于标记有污点的摄像头传感器芯片，当所述检测装置10检测到所述摄像头传感器芯片上有污点时，所述污点芯片标记笔则在该摄像头传感器芯片上进行标记，从而使得后续清洁装置只对标记过的摄像头传感器芯片进行清洁。从而提高清洁效率。

当检测完毕后，所述工作台30移动至所述清洁装置20工位，所述清洁装置20包括：清洁件21及夹取组件22，所述夹取组件22可移动设置于所述清洁件21与所述工作台30之间，所述夹取组件22相对所述工作台30水平移动。所述工作台30到达清洁装置20工位时，所述夹取组件22移动至所述清洁件21处并夹取所述清洁件21，再移动至所述工作台30处对所述工作台30上的摄像头传感器芯片进行清洁，待清洁完毕后，所述工作台30重新回到所述检测装置10下方，对清洁后的摄像头传感器芯片进行检测，当所有摄像头传感器芯片上都不具有污点时，则清洁完成，否则所述工作台30将其再次传动至所述清洁装置20处重新进行清洁。通过上述方案从而保证了本发明的清洁合格率。

本发明实施例提出的一种摄像头传感器芯片检测机构，通过检测装置10对摄像头传感器芯片进行检测，当摄像头传感器芯片上沾有灰尘时，通过清洁装置20进行清洗，清洗后再传送至检测装置10处进行检测，直到灰尘被清洗干净。本发明无需人工进行干预，提高了自动化程度，实现了在一台设备上实现自动检测-自动清洁-再检测，将人工完全节省，大大提高了效率，避免人工清洁出现的上述各种问题。

具体的，请参照图2及图3，所述夹取组件22包括：夹取支架221、夹取件222、夹取驱动件、第一传动件223及第二传动件224，所述夹取驱动件驱动所述夹取件222夹紧或松开所述清洁件；所述夹取支架221设置于所述第二传动件224上，所述第二传动件224移动时带动所述夹取支架221沿所述传动导轨40的垂直方向做升降运动，所述第二传动件224设置于所述第一传动件223上，所述第一传动件223移动时带动所述第二传动件224沿水平方向移动。

所述第一传动件223的传动方向与所述传动导轨40的传动方向相同，所述第二传动件224设置于所述第一传动件223上，所述夹取支架221设置于所述第二传动件224上，所述夹取件222设置于所述夹取支架221上，因此，当所述第一传动件223带动所述第二传动件224移动时，间接带动所述价区间222移动，所述第二传动件224的传动方向与所述传动导轨40的传动方向垂直，所述第二传动件224带动所述夹取支架221移动时，间接带动所述夹取件222移动。当所述夹取件222随所述第一传动件223移动时，所述夹取件222则靠近或远离所述清洁件，当夹取件222靠近所述清洁件时，所述夹取驱动件驱动所述夹取件222夹紧或松开所述清洁件，至此完成夹取清洁件的动作。

当所述夹取件222夹取到清洁件21时，所述第一传动件223将所述夹取件222传动至所述摄像头传感器芯片上方，所述第二传动件224带动所述夹取件222升降运动。由于夹取件222其夹取的位置存在偏差，使得清洁件21的高度存在偏差，因此，所述夹取组件22还可以包括探高件24，所述探高件24对清洁件21的高度进行探高，确定清洁件抓取后的高度。从而进一步提高本发明清洁的精度，避免清洁件21过短，从而未对摄像头传感器芯片擦拭。所述抓取件222将清洁件21抵接在所述摄像头传感器芯片上时，轻微在各方向上抖动，从而实现模拟对存在污点的芯片进行擦抹的动作。

具体的，所述第二传动件224上设有压力传感器23，所述压力传感器23用于检测所述第二传动件224上的压力。在所述第二传动件224下降到所述摄像头传感器芯片上擦抹时，所述压力传感器23对清洁件21下压在摄像头传感器芯片上的压力进行反馈，避免压坏摄像头传感器的芯片。

具体的，所述清洁件21包括清洁棒固定件、清洁棒及旋转驱动件，所述旋转驱动与所述清洁棒固定件连接，所述旋转驱动件驱动所述清洁棒盒转动，以使所述清洁棒固定件上的清洁棒与所述夹取组件位置对应。所述清洁棒设置在所述清洁棒固定件的边缘，便于所述夹取件222抓取，当所述清洁棒被夹取后，所述旋转驱动件驱动所述清洁棒固定件转动，从而使下一根清洁棒旋转至所述夹取件222对应的夹取位置。同时，所述清洁棒固定件可拆卸，当所述请结盒中的清洁棒用完时，将所述清洁棒固定件取下更换上新的清洁棒固定件即可。在本实施例中，所述清洁棒固定件预先调整清洁棒的位置，从而调整本发明的清洁节拍，提高清洁效率。需要说明的是，所述清洁件还可以包括清洁棒回收盒，用于收集使用过的清洁棒，当所述夹取件222清洁完毕后，移动至所述清洁棒回收盒的位置，将所述使用后的清洁棒放置在所述清洁棒回收盒中。所述清洁棒回收盒可以设置于外界连接件上。

具体的，请参照图2及图4，所述检测装置10包括固定结构及若干图像采集器11，所述固定结构包括支撑件以及由支撑件延伸于所述导轨上方的固定件，所述固定件上设有若干固定部，各个所述固定部对应固定一个图像采集器。所述固定件为圆盘形，所述图像采集器11围绕所述固定件的边缘间隔设置，从而保证所述图像采集器11能够从多个角度对所述摄像头传感器芯片进行拍摄，从而提高本发明检测污点的精度，避免误检测。

具体的，所述固定部包括固定架12及转动齿轮13，所述固定架12铰接于所述固定件上，所述图像采集器11设置于所述固定架12上，所述转动齿轮13设置于所述固定件上，并与所述固定架12啮合，所述转动齿轮13转动时带动所述固定架12以铰接点为中心水平转动。由于所述固定架12与所述固定件交接，所述转动齿轮13转动时带动所述固定架12转动，从而间接带动安装在所述固定架12上的图像采集器11转动。从而提高本发明中所述图像采集器11的拍摄角度，提高了兼容性。

具体的，所述固定架12上具有导向件，所述图像采集器11可移动设置于所述导向件上，所述图像采集器移动时沿所述传动导轨的垂直方向运动。所述图像采集器11沿所述传动导轨40的垂直方向运动，从而对所述图像采集器11的焦距进行调节，提高拍摄清晰度，提高采集精度。

具体的，所述工作台30包括滚动支架、多个滚动连接在所述滚动支架上的滚筒以及控制滚筒旋转的控制电机，所述控制电机控制所述滚筒在所述滚动支架上持续旋转时带动所述摄像头传感器芯片往所述滚筒的旋转方向移动。

此外，为了达到上述目的，本发明还提出一种摄像头传感器芯片检测方法，请参照图1，图1是本发明摄像头传感器芯片检测方法的流程示意图，所述摄像头传感器芯片检测方法包括以下步骤：

步骤S10：通过所述检测装置采集摄像头传感器芯片的图像信息，并判断所述摄像头传感器芯片上是否有污点；

步骤S20：当所述摄像头传感器芯片上有污点时，通过所述传动导轨将所述摄像头传感器芯片传动至清洁装置工位，所述清洁装置对所述摄像头传感器芯片进行清洗；

步骤S30：所述传动导轨将清洗后的摄像头传感器芯片传送至所述检测装置工位，所述检测装置重新采集所述清洗后的摄像头传感器芯片的图像信息，并判断是否有污点；

步骤S40：当有污点时，所述传动导轨将所述摄像头传感器芯片传动至清洁装置工位重新清洗，当没有污点时，所述传动导轨将所述摄像头传感器芯片传出所述摄像头传感器芯片检测机构。

所述摄像头传感器芯片检测机构还包括上料装置，所述上料装置内装有待检测的摄像头传感器芯片载板，所述摄像头传感器芯片载板上装有若干待检测的摄像头传感器芯片，所述上料装置设置于所述传动导轨40的首端，所述工作台30位于起始工位时，与所述上料装置对接，所述上料装置将待检测的摄像头传感器芯片载板传动至所述工作台30上，从而完成上料工序。

可以理解，为了提高本发明摄像头传感器芯片检测机构的兼容性，可分别在所述传动导轨40的首端设置第一接驳台代替所述上料机构、在所述传动导轨40的尾端设置第二接驳台以实现下料，所述第一接驳台、所述第二接驳台以及所述传动导轨40之间形成一条流水线，从而使得本发明摄像头传感器芯片检测机构能够通过所述第一接驳台以及所述第二接驳台与外部结构对接，从而使得摄像头传感器芯片能在其他工序完成后通过所述第一接驳台被传送到本发明的摄像头传感器芯片检测机构中进行检测，检测完毕后通过所述第二接驳台再流入到下一工序中，从而提高本发明的广泛适应性。需要说明的是，在实际运用中，所述摄像头传感器芯片检测机构的上料装置以及下料装置可设置在所述传动导轨40的一侧，从而绕开所述第一接驳台以及所述第二接驳台，从而无需在对接时临时进行拆卸，从而进一步提高本发明的兼容性。

所述工作台30获取到摄像头传感器芯片载板之后，将所述摄像头传感器芯片载板传递至所述检测装置10工位进行检测。为了进一步提高本发明的检测效率，在所述工作台30上设有X移动轴及Y移动轴，所述X移动轴可移动设置于所述传动导轨40上，所述Y移动轴可移动设置于所述X移动轴上，所述X轴的移动方向与所述传动导轨40的移动方向相同。将多个摄像头传感器芯片放置在摄像头传感器芯片载板中，在检测时，通过X移动轴与Y移动轴之间的调整，使所述摄像头传感器芯片载板内所有的摄像头传感器芯片能够移动到检测装置10下进行检测。从而实现一次性完成对多个摄像头传感器芯片的检测，从而避免所述工作台30多趟往返浪费时间，从而提高检测效率。

为了进一步提高本发明的检测效率，所述检测装置10上设有污点芯片标记笔，所述污点芯片标记笔用于标记有污点的摄像头传感器芯片，当所述检测装置10检测到所述摄像头传感器芯片上有污点时，所述污点芯片标记笔则在该摄像头传感器芯片上进行标记，从而使得后续清洁装置只对标记过的摄像头传感器芯片进行清洁。从而提高清洁效率。

当检测完毕后，所述工作台30移动至所述清洁装置20工位，所述清洁装置20包括：清洁件21及夹取组件22，所述夹取组件22可移动设置于所述清洁件21与所述工作台30之间，所述夹取组件22相对所述工作台30水平移动。所述工作台30到达清洁装置20工位时，所述夹取组件22移动至所述清洁件21处并夹取所述清洁件21，再移动至所述工作台30处对所述工作台30上的摄像头传感器芯片进行清洁，待清洁完毕后，所述工作台30重新回到所述检测装置10下方，对清洁后的摄像头传感器芯片进行检测，当所有摄像头传感器芯片上都不具有污点时，则清洁完成，否则所述工作台30将其再次传动至所述清洁装置20处重新进行清洁。通过上述方案从而保证了本发明的清洁合格率。

本发明实施例提出的一种摄像头传感器芯片检测机构，通过检测装置10对摄像头传感器芯片进行检测，当摄像头传感器芯片上沾有灰尘时，通过清洁装置20进行清洗，清洗后再传送至检测装置10处进行检测，直到灰尘被清洗干净。本发明无需人工进行干预，提高了自动化程度，实现了在一台设备上实现自动检测-自动清洁-再检测，将人工完全节省，大大提高了效率，避免人工清洁出现的上述各种问题。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种摄像头传感器芯片检测机构，其特征在于，所述摄像头传感器芯片检测机构包括传动导轨、检测装置、清洁装置以及用于放置并传动摄像头传感器芯片的工作台，所述清洁装置及所述检测装置设置于所述传动导轨上方，所述工作台可移动设置于所述传动导轨上，所述工作台在所述传动导轨上往返运动时将摄像头传感器芯片传动至所述检测装置以及所述清洁装置所在的工位。

2.如权利要求1所述的摄像头传感器芯片检测机构，其特征在于，所述清洁装置包括：清洁件及夹取组件，所述夹取组件可移动设置于所述清洁件与所述工作台之间，所述夹取组件相对所述工作台水平移动。

3.如权利要求2所述的摄像头传感器芯片检测机构，其特征在于，所述夹取组件包括：夹取支架、夹取件、夹取驱动件、第一传动件及第二传动件，所述夹取驱动件驱动所述夹取件夹紧或松开所述清洁件；

所述夹取支架设置于所述第二传动件上，所述第二传动件移动时带动所述夹取支架沿所述传动导轨的垂直方向做升降运动，所述第二传动件设置于所述第一传动件上，所述第一传动件移动时带动所述第二传动件沿水平方向移动。

4.如权利要求3所述的摄像头传感器芯片检测机构，其特征在于，所述第二传动件上设有压力传感器，所述压力传感器用于检测所述第二传动件上的压力。

5.如权利要求2所述的摄像头传感器芯片检测机构，其特征在于，所述清洁件包括清洁棒固定件、清洁棒及旋转驱动件，所述旋转驱动与所述清洁棒固定件连接，所述旋转驱动件驱动所述清洁棒盒转动，以使所述清洁棒固定件上的清洁棒与所述夹取组件位置对应。

6.如权利要求1所述的摄像头传感器芯片检测机构，其特征在于，所述检测装置包括固定结构及若干图像采集器，所述固定结构包括支撑件以及由支撑件延伸于所述导轨上方的固定件，所述固定件上设有若干固定部，各个所述固定部对应固定一个图像采集器。

7.如权利要求6所述的摄像头传感器芯片检测机构，其特征在于，所述固定部包括固定架及转动齿轮，所述固定架铰接于所述固定件上，所述图像采集器设置于所述固定架上，所述转动齿轮设置于所述固定件上，并与所述固定架啮合，所述转动齿轮转动时带动所述固定架以铰接点为中心水平转动。

8.如权利要求7所述的摄像头传感器芯片检测机构，其特征在于，所述固定架上具有导向件，所述图像采集器可移动设置于所述导向件上，所述图像采集器移动时沿所述传动导轨的垂直方向运动。

9.如权利要求1所述的摄像头传感器芯片检测机构，其特征在于，所述工作台包括滚动支架、多个滚动连接在所述滚动支架上的滚筒以及控制滚筒旋转的控制电机，所述控制电机控制所述滚筒在所述滚动支架上持续旋转时带动所述摄像头传感器芯片往所述滚筒的旋转方向移动。

10.一种摄像头传感器芯片检测方法，其特征在于，所述摄像头传感器芯片检测方法包括以下步骤：

通过所述检测装置采集摄像头传感器芯片的图像信息，并判断所述摄像头传感器芯片上是否有污点；

当所述摄像头传感器芯片上有污点时，通过所述传动导轨将所述摄像头传感器芯片传动至清洁装置工位，所述清洁装置对所述摄像头传感器芯片进行清洗；

所述传动导轨将清洗后的摄像头传感器芯片传送至所述检测装置工位，所述检测装置重新采集所述清洗后的摄像头传感器芯片的图像信息，并判断是否有污点；

当有污点时，所述传动导轨将所述摄像头传感器芯片传动至清洁装置工位重新清洗，当没有污点时，所述传动导轨将所述摄像头传感器芯片传出所述摄像头传感器芯片检测机构。