JP2017223629A - プローブピン - Google Patents
プローブピン Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017223629A JP2017223629A JP2016121152A JP2016121152A JP2017223629A JP 2017223629 A JP2017223629 A JP 2017223629A JP 2016121152 A JP2016121152 A JP 2016121152A JP 2016121152 A JP2016121152 A JP 2016121152A JP 2017223629 A JP2017223629 A JP 2017223629A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pair
- contact
- portions
- probe pin
- leg portions
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 67
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 29
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 12
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 6
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000005323 electroforming Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
- G01R1/06722—Spring-loaded
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0416—Connectors, terminals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06733—Geometry aspects
- G01R1/06738—Geometry aspects related to tip portion
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Geometry (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Description
長手方向に沿って伸縮する弾性部と、
前記弾性部の一端から前記長手方向に沿って延在しかつ互いに接近する方向に撓み可能な一対の脚部を有し、前記一対の脚部の先端に配置されかつ前記一対の脚部を介して前記弾性部により前記長手方向に沿った方向に付勢されかつ検査対象物の凹接点に接触可能な一対の接点部を有する第1接触部と、
前記弾性部により前記第1接触部の付勢方向とは反対方向に付勢され、前記第1接触部と電気的に接続された第2接触部と、
を備え、
前記一対の脚部の間に、隙間を有している。
長手方向に沿って伸縮する弾性部と、
前記弾性部の一端から前記長手方向に沿って延在しかつ互いに接近する方向に撓み可能な一対の脚部を有し、前記一対の脚部の先端に配置されかつ前記一対の脚部を介して前記弾性部により前記長手方向に沿った方向に付勢されかつ検査対象物の凹接点に接触可能な一対の接点部を有する第1接触部と、
前記弾性部の他端に配置されかつ前記弾性部により前記第1接触部の付勢方向とは反対方向に付勢されかつ前記第1接触部と電気的に接続された第2接触部と、
を備え、
前記一対の脚部の間に、隙間を有している。
前記一対の脚部の前記一対の接点部を連結する接点連結部を有している。
前記第1接触部が、前記一対の脚部と前記一対の接点部との境界に設けられ、前記一対の脚部を連結する脚連結部を有する、請求項1または2に記載のプローブピン。
前記一対の脚部の前記長手方向沿いの中心線と、前記弾性部の前記長手方向沿いの中心線とがずれている。
前記第1接点部の前記一対の脚部の前記一対の接点部の各々が、湾曲面を有している。
前記第1接触部の前記一対の脚部の前記一対の接点部の相互に向かい合う面とは反対側の面の少なくとも一方に、前記弾性部の付勢方向に向かうに従って互いに接近する傾斜面を有している。
2 収納部
3 溝部
4 貫通孔
10 プローブピン
20 弾性部
120 コイルばね
21 直線部
22 湾曲部
23 貫通孔
221 第1湾曲部
222 第2湾曲部
30,130 第1接触部
31 支持部
32,33、132,133 脚部
321,331 接点部
34 隙間
35 湾曲面
36 傾斜面
37 挿入部
38 貫通孔
40,140 第2接触部
41 基部
42 突出部
43 貫通孔
44,45 弾性片
46,47 突起
70 接点連結部
71 脚連結部
72 湾曲面
73 傾斜面
80 検査対象物
81 凹接点
82,83 接点部
84 隙間
90 基板
91 端子
CL0 中心線(ソケット)
CL1 中心線(弾性部)
CL2 中心線(一対の脚部)
L1 (第1湾曲部の頂点を結ぶ)直線
L2 (第2湾曲部の頂点を結ぶ)直線
W1 弾性部の幅
W2 支持部の幅
P1 (隣接プローブピンの突出部間の)ピッチ
P2 (隣接するプローブピンの脚部間の)ピッチ
Claims (6)
- 長手方向に沿って伸縮する弾性部と、
前記弾性部の一端から前記長手方向に沿って延在しかつ互いに接近する方向に撓み可能な一対の脚部を有し、前記一対の脚部の先端に配置されかつ前記一対の脚部を介して前記弾性部により前記長手方向に沿った方向に付勢されかつ検査対象物の凹接点に接触可能な一対の接点部を有する第1接触部と、
前記弾性部の他端に配置されかつ前記弾性部により前記第1接触部の付勢方向とは反対方向に付勢されかつ前記第1接触部と電気的に接続された第2接触部と、
を備え、
前記一対の脚部の間に、隙間を有している、プローブピン。 - 前記第1接触部が、前記一対の脚部の前記一対の接点部を連結する接点連結部を有している、請求項1に記載のプローブピン。
- 前記第1接触部が、前記一対の脚部と前記一対の接点部との境界に設けられ、前記一対の脚部を連結する脚連結部を有する、請求項1または2に記載のプローブピン。
- 前記一対の脚部の前記長手方向沿いの中心線と、前記弾性部の前記長手方向沿いの中心線とがずれている、請求項1から3のいずれか1つに記載のプローブピン。
- 前記第1接触部の前記一対の脚部の前記一対の接点部の各々が、湾曲面を有している、請求項1から4のいずれか1つに記載のプローブピン。
- 前記第1接触部の前記一対の脚部の前記一対の接点部の相互に向かい合う面とは反対側の面の少なくとも一方に、前記弾性部の付勢方向に向かうに従って互いに接近する傾斜面を有している、請求項1から5のいずれか1つに記載のプローブピン。
Priority Applications (9)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016121152A JP6737002B2 (ja) | 2016-06-17 | 2016-06-17 | プローブピン |
CN201780002575.9A CN107850624B (zh) | 2016-06-17 | 2017-03-14 | 探针 |
KR1020187002900A KR101910123B1 (ko) | 2016-06-17 | 2017-03-14 | 프로브 핀 |
DE112017003011.0T DE112017003011T5 (de) | 2016-06-17 | 2017-03-14 | Prüfstift |
PCT/JP2017/010192 WO2017217042A1 (ja) | 2016-06-17 | 2017-03-14 | プローブピン |
US15/751,193 US20200158753A1 (en) | 2016-06-17 | 2017-03-14 | Probe pin |
CN202110232986.5A CN113030533A (zh) | 2016-06-17 | 2017-03-14 | 探针和检查单元 |
KR1020187029724A KR102099139B1 (ko) | 2016-06-17 | 2017-03-14 | 프로브 핀 |
JP2020107476A JP6988954B2 (ja) | 2016-06-17 | 2020-06-23 | プローブピン |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016121152A JP6737002B2 (ja) | 2016-06-17 | 2016-06-17 | プローブピン |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020107476A Division JP6988954B2 (ja) | 2016-06-17 | 2020-06-23 | プローブピン |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017223629A true JP2017223629A (ja) | 2017-12-21 |
JP6737002B2 JP6737002B2 (ja) | 2020-08-05 |
Family
ID=60664546
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016121152A Active JP6737002B2 (ja) | 2016-06-17 | 2016-06-17 | プローブピン |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20200158753A1 (ja) |
JP (1) | JP6737002B2 (ja) |
KR (2) | KR102099139B1 (ja) |
CN (2) | CN113030533A (ja) |
DE (1) | DE112017003011T5 (ja) |
WO (1) | WO2017217042A1 (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101903319B1 (ko) | 2018-01-11 | 2018-10-01 | 오므론 가부시키가이샤 | 프로브 핀, 검사 지그, 검사 유닛 및 검사 장치 |
WO2019138504A1 (ja) * | 2018-01-11 | 2019-07-18 | オムロン株式会社 | プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置 |
KR20190095867A (ko) * | 2018-02-07 | 2019-08-16 | 오므론 가부시키가이샤 | 프로브 핀, 검사 지그, 검사 유닛 및 검사 장치 |
JP2020076664A (ja) * | 2018-11-08 | 2020-05-21 | オムロン株式会社 | プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置 |
JP2020091298A (ja) * | 2020-02-12 | 2020-06-11 | オムロン株式会社 | プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置 |
JP2020180888A (ja) * | 2019-04-25 | 2020-11-05 | オムロン株式会社 | プローブピン、検査治具および検査ユニット |
KR102683627B1 (ko) | 2021-12-01 | 2024-07-10 | (주)아이윈 | 롱 스트로크를 가진 포고핀 |
KR102689455B1 (ko) | 2021-10-06 | 2024-07-29 | (주)포인트엔지니어링 | 전기 전도성 접촉핀 및 이를 구비하는 검사장치 |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6988954B2 (ja) * | 2016-06-17 | 2022-01-05 | オムロン株式会社 | プローブピン |
TWM587751U (zh) * | 2018-11-02 | 2019-12-11 | 旺矽科技股份有限公司 | 適用於具有傾斜導電接點之多待測單元的探針模組 |
JP7354534B2 (ja) * | 2018-11-08 | 2023-10-03 | オムロン株式会社 | プローブピンおよび検査治具 |
JP2020180889A (ja) * | 2019-04-25 | 2020-11-05 | オムロン株式会社 | プローブピン、検査治具および検査ユニット |
KR102429358B1 (ko) * | 2020-01-16 | 2022-08-04 | 주식회사 플라이업 | 프로브 핀 및 이를 구비하는 회로 검사장치 |
CN111579833B (zh) * | 2020-05-18 | 2022-12-23 | 武汉精毅通电子技术有限公司 | 一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器 |
CN111579836B (zh) * | 2020-05-18 | 2023-01-17 | 武汉精毅通电子技术有限公司 | 一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器 |
CN111579837B (zh) * | 2020-05-18 | 2022-09-20 | 武汉精毅通电子技术有限公司 | 一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器 |
CN111579830B (zh) * | 2020-05-18 | 2023-06-02 | 武汉精毅通电子技术有限公司 | 一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器 |
CN112305395B (zh) * | 2020-11-06 | 2021-05-28 | 法特迪精密科技(苏州)有限公司 | 一种探针结构及其安装方法、闭路方法、抗干扰方法 |
US11387587B1 (en) | 2021-03-13 | 2022-07-12 | Plastronics Socket Partners, Ltd. | Self-retained slider contact pin |
KR102606892B1 (ko) * | 2021-06-15 | 2023-11-29 | (주)포인트엔지니어링 | 검사 소켓용 지지 플레이트, 검사 소켓용 소켓핀 및 이들을 구비하는 검사 소켓 |
WO2023188165A1 (ja) * | 2022-03-30 | 2023-10-05 | 日本電子材料株式会社 | プローブカード |
CN114924103A (zh) * | 2022-05-10 | 2022-08-19 | 武汉精立电子技术有限公司 | 一种导通机构及压接治具 |
Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09229964A (ja) * | 1996-02-20 | 1997-09-05 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | スルーホール用プローブ |
JP2001091537A (ja) * | 1999-09-24 | 2001-04-06 | Isao Kimoto | 接触子及びこれを用いた接触子組立体 |
JP2004138405A (ja) * | 2002-10-15 | 2004-05-13 | Renesas Technology Corp | 半導体装置測定用プローブ |
US20050110505A1 (en) * | 2003-11-26 | 2005-05-26 | Asm Assembly Automation Ltd. | Spring contact probe device for electrical testing |
WO2008015868A1 (en) * | 2006-07-31 | 2008-02-07 | Tokyo Electron Limited | Probe pin |
JP2008175762A (ja) * | 2007-01-22 | 2008-07-31 | Micronics Japan Co Ltd | プローブおよびそれを用いた電気的接続装置 |
WO2015194385A1 (ja) * | 2014-06-16 | 2015-12-23 | オムロン株式会社 | プローブピン |
JP6515877B2 (ja) * | 2016-06-17 | 2019-05-22 | オムロン株式会社 | プローブピン |
JP6531438B2 (ja) * | 2015-03-13 | 2019-06-19 | オムロン株式会社 | プローブピン、および、これを備えたプローブユニット |
JP6583582B2 (ja) * | 2019-04-16 | 2019-10-02 | オムロン株式会社 | プローブピン |
JP6628002B2 (ja) * | 2019-07-19 | 2020-01-08 | オムロン株式会社 | プローブピン |
JP6658952B2 (ja) * | 2019-07-19 | 2020-03-04 | オムロン株式会社 | プローブピン |
Family Cites Families (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2426337A1 (de) * | 1974-05-29 | 1975-12-11 | Siemens Ag | Kontaktiervorrichtung zum simultanen abtasten von kontaktstellen |
JPH11133060A (ja) * | 1997-10-31 | 1999-05-21 | Tani Denki Kogyo Kk | テスト用端子 |
JP4414017B2 (ja) * | 1999-05-25 | 2010-02-10 | モレックス インコーポレイテド | Icソケット |
CN1267733C (zh) * | 2000-05-01 | 2006-08-02 | 日本发条株式会社 | 导电性探针及电探测装置 |
JP2001318119A (ja) * | 2000-05-02 | 2001-11-16 | Fujitsu Ltd | Icパッケージの接続方法及びicコンタクタ |
JP3942823B2 (ja) | 2000-12-28 | 2007-07-11 | 山一電機株式会社 | 検査装置 |
WO2004102207A1 (ja) * | 2003-05-13 | 2004-11-25 | Kabushiki Kaisha Nihon Micronics | 通電試験用プローブ |
KR100584225B1 (ko) | 2004-10-06 | 2006-05-29 | 황동원 | 전자장치용 콘택트 |
KR100741930B1 (ko) * | 2004-12-30 | 2007-07-23 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 패키지 검사용 어셈블리 및 소켓 핀 |
JP4173145B2 (ja) | 2005-02-28 | 2008-10-29 | 株式会社センサータ・テクノロジーズジャパン | コンタクトアッセンブリおよびこれを用いた半導体パッケージ用ソケット |
CN100516885C (zh) * | 2005-03-22 | 2009-07-22 | 旺矽科技股份有限公司 | 弹性微接触元件及其制造方法 |
KR101012712B1 (ko) * | 2005-06-10 | 2011-02-09 | 델라웨어 캐피탈 포메이션, 인코포레이티드 | 컴플라이언트 전기적 상호접속체 및 전기적 접촉 프로브 |
TWI284209B (en) * | 2005-12-30 | 2007-07-21 | Ind Tech Res Inst | A method of fabricating vertical probe head |
JP4907191B2 (ja) * | 2006-02-17 | 2012-03-28 | 日本発條株式会社 | 導電性接触子ユニット |
JP5037869B2 (ja) | 2006-07-07 | 2012-10-03 | 株式会社日本総合研究所 | 廃棄処理管理装置、廃棄処理管理方法、および廃棄処理管理プログラム |
US7400135B1 (en) * | 2007-02-23 | 2008-07-15 | Quality One Test Fixturing, Inc. | Test fixture and method for circuit board testing |
KR100908810B1 (ko) * | 2007-06-11 | 2009-07-21 | 주식회사 제이엠엘 | 마이크로 팁 및 니들의 제조방법과 이에 따라 얻어진프로브 카드용 버티칼형 프로브 |
KR20080110037A (ko) * | 2007-06-14 | 2008-12-18 | 서수정 | 프로브 카드용 버티칼형 프로브 어셈블리 및 그의 제조방법 |
JP2009014480A (ja) * | 2007-07-04 | 2009-01-22 | Koyo Technos:Kk | 検査冶具 |
JP5260119B2 (ja) * | 2008-04-02 | 2013-08-14 | 東京エレクトロン株式会社 | アライメント方法 |
JP5291585B2 (ja) * | 2008-11-07 | 2013-09-18 | 株式会社日本マイクロニクス | 接触子及び電気的接続装置 |
JP2010139344A (ja) * | 2008-12-11 | 2010-06-24 | Yokowo Co Ltd | コンタクトピン及びコンタクトプローブ |
JP2010156595A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-07-15 | Nhk Spring Co Ltd | プローブユニット |
US8324919B2 (en) * | 2009-03-27 | 2012-12-04 | Delaware Capital Formation, Inc. | Scrub inducing compliant electrical contact |
JP5346712B2 (ja) | 2009-06-30 | 2013-11-20 | 株式会社アドバンテスト | コネクタ及びコネクタを備える半導体試験装置 |
JP5724095B2 (ja) * | 2010-11-17 | 2015-05-27 | 有限会社シーズ | スプリングプローブ及びその製造方法 |
US8970238B2 (en) * | 2011-06-17 | 2015-03-03 | Electro Scientific Industries, Inc. | Probe module with interleaved serpentine test contacts for electronic device testing |
JP2013148433A (ja) * | 2012-01-18 | 2013-08-01 | Nhk Spring Co Ltd | コンタクトプローブおよびプローブユニット |
JP5896786B2 (ja) * | 2012-03-02 | 2016-03-30 | 株式会社ヨコオ | 電気コネクタ |
JP2013205190A (ja) * | 2012-03-28 | 2013-10-07 | Nidai Seiko:Kk | スプリングプローブ |
CN104755943B (zh) * | 2012-12-04 | 2018-04-27 | 日本电子材料株式会社 | 电接触构件 |
JP2014119435A (ja) * | 2012-12-19 | 2014-06-30 | Enplas Corp | プローブピンユニット及びicソケット |
CN203178323U (zh) * | 2013-02-21 | 2013-09-04 | 政云科技有限公司 | 检测探针 |
US9459285B2 (en) * | 2013-07-10 | 2016-10-04 | Globalfoundries Inc. | Test probe coated with conductive elastomer for testing of backdrilled plated through holes in printed circuit board assembly |
-
2016
- 2016-06-17 JP JP2016121152A patent/JP6737002B2/ja active Active
-
2017
- 2017-03-14 US US15/751,193 patent/US20200158753A1/en not_active Abandoned
- 2017-03-14 DE DE112017003011.0T patent/DE112017003011T5/de active Pending
- 2017-03-14 CN CN202110232986.5A patent/CN113030533A/zh active Pending
- 2017-03-14 KR KR1020187029724A patent/KR102099139B1/ko active IP Right Grant
- 2017-03-14 CN CN201780002575.9A patent/CN107850624B/zh active Active
- 2017-03-14 KR KR1020187002900A patent/KR101910123B1/ko active IP Right Grant
- 2017-03-14 WO PCT/JP2017/010192 patent/WO2017217042A1/ja active Application Filing
Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09229964A (ja) * | 1996-02-20 | 1997-09-05 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | スルーホール用プローブ |
JP2001091537A (ja) * | 1999-09-24 | 2001-04-06 | Isao Kimoto | 接触子及びこれを用いた接触子組立体 |
JP2004138405A (ja) * | 2002-10-15 | 2004-05-13 | Renesas Technology Corp | 半導体装置測定用プローブ |
US20050110505A1 (en) * | 2003-11-26 | 2005-05-26 | Asm Assembly Automation Ltd. | Spring contact probe device for electrical testing |
WO2008015868A1 (en) * | 2006-07-31 | 2008-02-07 | Tokyo Electron Limited | Probe pin |
JP2008175762A (ja) * | 2007-01-22 | 2008-07-31 | Micronics Japan Co Ltd | プローブおよびそれを用いた電気的接続装置 |
WO2015194385A1 (ja) * | 2014-06-16 | 2015-12-23 | オムロン株式会社 | プローブピン |
JP6531438B2 (ja) * | 2015-03-13 | 2019-06-19 | オムロン株式会社 | プローブピン、および、これを備えたプローブユニット |
JP6515877B2 (ja) * | 2016-06-17 | 2019-05-22 | オムロン株式会社 | プローブピン |
JP6583582B2 (ja) * | 2019-04-16 | 2019-10-02 | オムロン株式会社 | プローブピン |
JP6628002B2 (ja) * | 2019-07-19 | 2020-01-08 | オムロン株式会社 | プローブピン |
JP6658952B2 (ja) * | 2019-07-19 | 2020-03-04 | オムロン株式会社 | プローブピン |
Cited By (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2019138504A1 (ja) * | 2018-01-11 | 2020-06-11 | オムロン株式会社 | プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置 |
WO2019138504A1 (ja) * | 2018-01-11 | 2019-07-18 | オムロン株式会社 | プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置 |
KR102058152B1 (ko) * | 2018-01-11 | 2019-12-23 | 오므론 가부시키가이샤 | 프로브 핀, 검사 지그, 검사 유닛 및 검사 장치 |
KR20190141116A (ko) * | 2018-01-11 | 2019-12-23 | 오므론 가부시키가이샤 | 프로브 핀, 검사 지그, 검사 유닛 및 검사 장치 |
KR101903319B1 (ko) | 2018-01-11 | 2018-10-01 | 오므론 가부시키가이샤 | 프로브 핀, 검사 지그, 검사 유닛 및 검사 장치 |
KR102103370B1 (ko) * | 2018-01-11 | 2020-04-22 | 오므론 가부시키가이샤 | 프로브 핀, 검사 지그, 검사 유닛 및 검사 장치 |
WO2019138505A1 (ja) * | 2018-01-11 | 2019-07-18 | オムロン株式会社 | プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置 |
CN111033273A (zh) * | 2018-01-11 | 2020-04-17 | 欧姆龙株式会社 | 探针、检查工具、检查单元和检查装置 |
JPWO2019138505A1 (ja) * | 2018-01-11 | 2020-08-06 | オムロン株式会社 | プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置 |
US10962564B2 (en) | 2018-02-07 | 2021-03-30 | Omron Corporation | Probe pin, inspection jig, inspection unit and inspection device |
KR20190095867A (ko) * | 2018-02-07 | 2019-08-16 | 오므론 가부시키가이샤 | 프로브 핀, 검사 지그, 검사 유닛 및 검사 장치 |
KR102091947B1 (ko) * | 2018-02-07 | 2020-03-20 | 오므론 가부시키가이샤 | 프로브 핀, 검사 지그, 검사 유닛 및 검사 장치 |
JP2020076664A (ja) * | 2018-11-08 | 2020-05-21 | オムロン株式会社 | プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置 |
KR102648231B1 (ko) | 2019-04-25 | 2024-03-18 | 오므론 가부시키가이샤 | 프로브 핀, 검사 지그 및 검사 유닛 |
JP2020180888A (ja) * | 2019-04-25 | 2020-11-05 | オムロン株式会社 | プローブピン、検査治具および検査ユニット |
KR20210129706A (ko) * | 2019-04-25 | 2021-10-28 | 오므론 가부시키가이샤 | 프로브 핀, 검사 지그 및 검사 유닛 |
JP7318297B2 (ja) | 2019-04-25 | 2023-08-01 | オムロン株式会社 | プローブピン、検査治具および検査ユニット |
JP2020091298A (ja) * | 2020-02-12 | 2020-06-11 | オムロン株式会社 | プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置 |
KR102689455B1 (ko) | 2021-10-06 | 2024-07-29 | (주)포인트엔지니어링 | 전기 전도성 접촉핀 및 이를 구비하는 검사장치 |
KR102683627B1 (ko) | 2021-12-01 | 2024-07-10 | (주)아이윈 | 롱 스트로크를 가진 포고핀 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE112017003011T5 (de) | 2019-02-28 |
JP6737002B2 (ja) | 2020-08-05 |
KR20180016616A (ko) | 2018-02-14 |
CN107850624A (zh) | 2018-03-27 |
US20200158753A1 (en) | 2020-05-21 |
CN107850624B (zh) | 2021-05-14 |
KR102099139B1 (ko) | 2020-04-09 |
KR20190009277A (ko) | 2019-01-28 |
CN113030533A (zh) | 2021-06-25 |
KR101910123B1 (ko) | 2018-10-22 |
WO2017217042A1 (ja) | 2017-12-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO2017217042A1 (ja) | プローブピン | |
JP6515877B2 (ja) | プローブピン | |
JPWO2019138505A1 (ja) | プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置 | |
JPWO2019138507A1 (ja) | プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置 | |
JP6583582B2 (ja) | プローブピン | |
JP6658952B2 (ja) | プローブピン | |
WO2020250637A1 (ja) | プローブピン、検査治具および検査ユニット | |
CN113892036A (zh) | 探针、检查工具和检查单元 | |
JP2019207245A (ja) | プローブピン | |
JP6988954B2 (ja) | プローブピン | |
JP2018072157A (ja) | 電気接触子、および、それを備える電気接続装置 | |
WO2018042931A1 (ja) | プローブピン | |
CN111856090B (zh) | 探针、检查夹具及检查组件 | |
KR20200112889A (ko) | 검사 유닛 및 검사 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190206 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20191210 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191220 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200616 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200629 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6737002 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |