JP2017223629A - プローブピン - Google Patents

プローブピン Download PDF

Info

Publication number
JP2017223629A
JP2017223629A JP2016121152A JP2016121152A JP2017223629A JP 2017223629 A JP2017223629 A JP 2017223629A JP 2016121152 A JP2016121152 A JP 2016121152A JP 2016121152 A JP2016121152 A JP 2016121152A JP 2017223629 A JP2017223629 A JP 2017223629A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pair
contact
portions
probe pin
leg portions
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016121152A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6737002B2 (ja
Inventor
宏真 寺西
Hirosane Teranishi
宏真 寺西
貴浩 酒井
Takahiro Sakai
貴浩 酒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP2016121152A priority Critical patent/JP6737002B2/ja
Application filed by Omron Corp, Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Corp
Priority to PCT/JP2017/010192 priority patent/WO2017217042A1/ja
Priority to CN201780002575.9A priority patent/CN107850624B/zh
Priority to KR1020187002900A priority patent/KR101910123B1/ko
Priority to DE112017003011.0T priority patent/DE112017003011T5/de
Priority to US15/751,193 priority patent/US20200158753A1/en
Priority to CN202110232986.5A priority patent/CN113030533A/zh
Priority to KR1020187029724A priority patent/KR102099139B1/ko
Publication of JP2017223629A publication Critical patent/JP2017223629A/ja
Priority to JP2020107476A priority patent/JP6988954B2/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6737002B2 publication Critical patent/JP6737002B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716Elastic
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716Elastic
    • G01R1/06722Spring-loaded
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416Connectors, terminals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733Geometry aspects
    • G01R1/06738Geometry aspects related to tip portion
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

【課題】凹接点に安定して接続できるプローブピンを提供すること。【解決手段】プローブピン(10)が、弾性部(20)と、弾性部(20)の一端から長手方向に沿って延在しかつ互いに接近する方向に撓み可能な一対の脚部(32,33)を有し、一対の脚部(32,33)の先端に配置されかつ一対の脚部(32,33)を介して弾性部(20)により長手方向に沿った方向に付勢されかつ検査対象物の凹接点に接触可能な一対の接点部(321,331)を有する第1接触部(30)と、弾性部(20)の他端に配置されかつ第1接触部(30)と電気的に接続された第2接触部(40)と、を備え、一対の脚部(32,33)の間に、隙間(34)を有している。【選択図】図4

Description

本発明は、プローブピンに関する。
カメラあるいは液晶パネル等の電子部品モジュールでは、一般に、その製造工程において、導通検査および動作特性検査等が行われる。これらの検査は、プローブピンを用いて、電子部品モジュールに設置されている本体基板と接続するためのFPC接触電極、あるいは、実装された基板対基板コネクタ等の電極部と検査装置とを接続することにより行われる。
このようなプローブピンとしては、例えば、特許文献1に記載されたものがある。このプローブピンは、長手方向に伸縮する弾性部と、この弾性部の長手方向の両端にそれぞれ設けられた1つの接点部とで構成されている。
特開2008−516398号公報
しかし、前記プローブピンでは、検査対象物および検査装置と1つの接点部とで接触するため、例えば、検査対象物の端子が基板対基板コネクタの雌側のコネクタ等の凹接点である場合、プローブピンの接点部と検査対象物の凹接点とを安定して接続することができず、接触信頼性を確保できない場合がある。
そこで、本発明は、凹接点に安定して接続できるプローブピンを提供することを課題とする。
本発明のプローブピンは、
長手方向に沿って伸縮する弾性部と、
前記弾性部の一端から前記長手方向に沿って延在しかつ互いに接近する方向に撓み可能な一対の脚部を有し、前記一対の脚部の先端に配置されかつ前記一対の脚部を介して前記弾性部により前記長手方向に沿った方向に付勢されかつ検査対象物の凹接点に接触可能な一対の接点部を有する第1接触部と、
前記弾性部により前記第1接触部の付勢方向とは反対方向に付勢され、前記第1接触部と電気的に接続された第2接触部と、
を備え、
前記一対の脚部の間に、隙間を有している。
本発明のプローブピンによれば、一対の脚部が凹接点に対して接近する方向に撓みつつ、一対の脚部の一対の接点部が凹接点に接触するので、凹接点に安定して接続できる。
本発明の一実施形態のプローブピンの使用状態を説明するための斜視図。 図1のII−II線に沿った断面図。 本発明の一実施形態のプローブピンの斜視図。 図3のプローブピンの平面図。 図3のプローブピンの雌コネクタの凹接点に接触する前の状態を示す断面図。 図3のプローブピンの雌コネクタの凹接点に接触した状態を示す断面図。 図3のプローブピンの第1の例を示す平面図。 図3のプローブピンの第2の例を示す平面図。 図8のプローブピンの雌コネクタの凹接点に接触した状態を示す断面図。 図3のプローブピンの第3の例を示す平面図。 図3のプローブピンの第4の例を示す斜視図。
以下、本発明の一実施形態を添付図面に従って説明する。なお、以下の説明では、必要に応じて特定の方向あるいは位置を示す用語(例えば、「上」、「下」、「右」、「左」を含む用語)を用いるが、それらの用語の使用は図面を参照した発明の理解を容易にするためであって、それらの用語の意味によって本発明の技術的範囲が限定されるものではない。また、以下の説明は、本質的に例示に過ぎず、本発明、その適用物、あるいは、その用途を制限することを意図するものではない。さらに、図面は模式的なものであり、各寸法の比率等は現実のものとは必ずしも合致していない。
本発明の第1実施形態のプローブピン10は、例えば、図1に示すように、検査装置の基板90に取り付けられたソケット1に収納された状態で使用され、ソケット1と共に検査ユニットを構成している。このソケット1では、図2に示すように、複数対の収納部2が中心線CL0に対して対称に設けられており、この収納部2にプローブピン10が収納されている。
各収納部2は、プローブピン10を収納可能な溝部3と、溝部3の底面に設けられた貫通孔4とで構成されており、図1に示すように、ソケット1の中心線CL0に沿って等間隔で配置されている。
プローブピン10は、図3に示すように、弾性部20と、この弾性部20の長手方向の両端に設けられた第1,第2接触部30,40とを備えている。このプローブピン10は、薄板で導電性を有し、例えば電鋳法で一体に形成されている。
なお、以下の説明において、プローブピン10の板面の幅方向をX方向、X方向に直交するプローブピン10の板厚方向をY方向、XY方向に直交する弾性部20の長手方向をZ方向とする。
弾性部20は、図4に示すように、Z方向に沿って直線部21と湾曲部22とが交互に連続する蛇行形状を有し、Z方向に沿って伸縮するようになっている。
直線部21は、図4に示す無負荷状態では、X方向に対して平行になっている。湾曲部22は、X方向の右側に位置する第1湾曲部221と、X方向の左側に位置する第2湾曲部222とを有し、隣接する第1湾曲部221の頂点同士を結ぶ接線としての直線L1と、隣接する第2湾曲部222の頂点同士を結ぶ接線としての直線L2とが、X方向に対して平行になっている。
また、弾性部20の各直線部21の幅方向の中間部と各湾曲部22の幅方向の中間部には、板厚方向(Y方向)に貫通しかつ蛇行形状に沿って延びる貫通孔23が設けられている。これにより、弾性部20のばね性を高めている。
第1接触部30は、図4に示すように、弾性部20のZ方向の下端に連結された支持部31と、この支持部31からZ方向の下側に延びて撓み可能な一対の脚部32,33と、検査対象物の凹接点に接触可能に一対の脚部32,33の先端に配置された一対の接点部321,331とを有している。この一対の接点部321,331は、連結部70により連結されていると共に、一対の脚部32,33を介して、弾性部20によりZ方向の下側に向かって付勢可能である。
支持部31は、Y方向に沿った平面視において略矩形状を有し、ソケット1の収納部2にプローブピン10を収納したときに、収納部2の溝部3に当接して、プローブピン10を支持する。この支持部31は、弾性部20の長手方向に隣接する第2湾曲部222同士を結ぶ接線である直線L1と、弾性部20の長手方向に隣接する第1湾曲部221同士を結ぶ接線である直線L2との間の最短距離である幅W1と略同じ幅W2を有している。
支持部31のX方向の左側かつZ方向の上側には、弾性部20のZ方向の下端が連結されている。また、支持部31のX方向の左側かつZ方向の下側には、一対の脚部32,33が連結されている。すなわち、弾性部20のZ方向に延びるX方向の中心線CL1と、一対の脚部32,33のZ方向に伸びるX方向の中心線CL2とは、一致せず、互いにずれている。言い換えれば、弾性部20のZ方向に延びるX方向の中心線CL1から外れた支持部31のX方向の一端部を介して、弾性部20と一対の脚部32,33とが連結されている。
一対の脚部32,33の各々は、Z方向に沿って延びており、X方向の中心線CL2に対して非対称に設けられている。この一対の脚部32,33の間には、互いに接近する方向に変形可能な隙間34が設けられている。また、一対の脚部32,33は、脚連結部71により連結されている。この脚連結部71は、一対の脚部32,33と一対の接点部321,331との境界に設けられており、隙間34をZ方向に2分割している。一対の脚部32,33側(Z方向上側)の隙間34により、一対の脚部32,33の方向付けを調整できるので、例えば、一対の脚部32,33を凹接点に接触させるときの一対の接点部321,331と凹接点との間の位置ずれを調整できる。
また、一対の脚部32,33の各々は、一対の脚部32,33のX方向の中心線CL2に近づく方向に(すなわち、互いに接近する方向に)撓み可能になっている。すなわち、X方向左側の脚部32は、X方向の右側に向かって、X方向右側の脚部33は、X方向の左側に向かって、撓み可能である。言い換えれば、一対の脚部32,33が検査対象物の凹接点に挿入されるとき、一対の脚部32,33の先端の一対の接点部321,331の各々が、凹接点と接触しながら互いに接近する方向に摺動可能としている。
一対の脚部32,33の先端(Z方向の下端)の一対の接点部321,331の各々には、凹接点に接触可能な湾曲面35が設けられている。この一対の接点部321,331の湾曲面35は、接点連結部70を介して一体化されている。すなわち、接点連結部70は、一対の接点部321,331の湾曲面35と連続する湾曲面72を有し、一対の脚部32,33を枠状に連結している。
また、一対の脚部32,33のX方向左側の接点部321のX方向右側の接点部331に向かい合う内面とは反対側の外面に、弾性部20の付勢方向、すなわち、Z方向の下側に向かうに従って互いに接近する平面または湾曲凹面の傾斜面36が設けられている。
第2接触部40は、弾性部20のZ方向の上端に連結された基部41と、この基部41からZ方向の上側に突出した一対の突出部42とを有し、第1接触部30と電気的に接続されている。この第2接触部40は、弾性部20によりZ方向の上側に向かって、すなわち、第1接触部30の付勢方向とは反対方向に付勢される。
基部41は、Y方向に沿った平面視において略矩形状を有している。この基部41のX方向の左側かつZ方向の下側には、弾性部20のZ方向の上端が連結されている。
一対の突出部42は、弾性部20のX方向の中心線CL1に対して対称に設けられている。この一対の突出部42の各々は、その先端(Z方向の上端)が、Z方向上側に突出するように湾曲しており、ソケット1に収納された状態で、検査装置の基板90に設けられた端子91(図2に示す)に接触するようになっている。
また、一対の突出部42の各々には、板厚方向(Y方向)に貫通した貫通孔43が設けられている。これにより、各突出部42が、基板90の端子91に接触したときに弾性変形して、その弾性力により端子91を押圧するので、プローブピン10と検査装置との間の接触信頼性を高めることができる。
なお、一対の突出部42を基部41の両端に設けることによって、プローブピン10をソケット1に収納したときに、図2に示すように、Y方向に隣接するプローブピン10の突出部42との間のピッチP1を小さくすることができる。また、突出部42を一対とすることで、検査装置の基板90に対する安定した接触が可能になる。
次に、図5,図6を参照して、2本のプローブピン10をソケット1の一対の収納部2に収納した状態で、検査対象物80の隣接した2つの凹接点81に接触させる場合の動作について説明する。なお、凹接点81は、検査対象物80の凹部内の対向する面において、プローブピン10の挿入方向(Z方向)に対して交差する方向(X方向)に相互に対向する一対の接点部82,83を有している。そして、この一対の接点部82,83の間には、変形可能な隙間84が設けられている。
図5に示すように、各プローブピン10の一対の脚部32,33が、凹接点81の一対の接点部82,83の間の隙間84に位置した状態で、各プローブピン10を検査対象物80に向かって近づけていくと、一対の脚部32,33の一対の接点部321,331の各湾曲面35の外面と凹接点81の一対の接点部82,83とが接触する。
各プローブピン10を検査対象物80に向かってさらに近づけて、検査対象物80の各凹接点81の一対の接点部82、83の間の隙間84に、各プローブピン10の一対の脚部32,33を挿入していくと、図6に示すように、一対の脚部32,33が、凹接点81の一対の接点部82、83を互いに離れる方向に押し広げる一方、押し広げられた凹接点81の一対の接点部82、83が、一対の脚部32,33を互いに接近する方向に撓ませる。このとき、一対の脚部32,33は、その外面が凹接点81の一対の接点部82、83と接触した状態で、滑りながら移動する。
一方、各プローブピン10を検査対象物80から離して、一対の脚部32,33を検査対象物80の凹接点81の隙間84から抜去していくと、凹接点81の一対の接点部82,83が互いに接近する方向に復帰すると共に、一対の脚部32,33が互いに離れる方向に復帰する。このとき、一対の脚部32,33は、その外面が凹接点81の一対の接点部82、83と接触した状態で、滑りながら移動する。
このように、一実施形態のプローブピン10では、プローブピン10の検査対象物80への挿抜時に、一対の脚部32,33が、凹接点81の一対の接点部82、83と接触した状態で滑りながら、すなわち、ワイピングしながら移動する。このため、一対の脚部32,33の一対の接点部321,331の一対の外面上あるいは凹接点81の一対の接点部82,83の表面上に異物が付着している場合であっても、一対の脚部32,33の一対の接点部321,331と凹接点81の一対の接点部82,83との間のワイピングにより異物を擦り取るので、異物による導通不良を回避して、接触信頼性を確保できる。
また、一対の脚部32,33の各々が、互いに接近する方向に撓み可能になっており、この一対の脚部32,33の間に、互いに接近する方向に変形可能な隙間34を有している。これにより、一対の脚部32,33の一対の接点部321,331が、凹接点81の一対の接点部82,83に接触した状態で移動する距離を長くすることができ、ワイピング効果を高めることができる。
また、第1接触部30が、一対の脚部32,33を連結する脚連結部71を有している。脚連結部71の位置を調整することにより、一対の脚部32,33の撓み量を調整できる。
また、第1接触部30が、一対の脚部32,33の一対の接点部321,331を連結する接点連結部70を有している。これにより、一対の接点部321,331が一体化されるので、一対の脚部32,33の検査対象物80の凹接点81の隙間84への挿入が容易になる。
また、弾性部20のZ方向(長手方向)に延びる中心線CL1と、一対の脚部32,33のZ方向に延びる中心線CL2とは、一致せず、互いにずれている。よって、2つのプローブピン10をソケット1の一対の収納部2に収納するとき、中心線CL2が弾性部20の中心線CL1と一致するように一対の脚部32,33を配置した状態に対して、2つのプローブピン10の各支持部31の互いに接近した側の端部に一対の脚部32,33を配置した状態では、検査対象物80の隣接する2つの凹接点81のピッチを狭くした狭ピッチに対応することができる。
また、一対の脚部32,33の先端の一対の接点部321,331に、湾曲面35が設けられ、一対の脚部32,33の外面に、弾性部20の付勢方向に向かうに従って互いに接近する平面または湾曲凹面の傾斜面36が設けられている。これにより、検査対象物80の凹接点81の隙間84に一対の脚部32,33をスムーズに案内することができる。
なお、プローブピン10は、互いに接近する方向に撓み可能な一対の脚部32,33の一対の接点部321,331の間に、互いに接近する方向に変形可能な隙間34を有していれば、安定した接触を確保し続けることができる。
例えば、一対の脚部32,33は、両方とも撓み可能な構成に限定されるものではなく、少なくとも一方が撓み可能であればよい。
また、一対の脚部32,33の湾曲面35および傾斜面36は、省略してもよいし、一対の脚部32,33のいずれか一方または両方に設けてもよい。また、湾曲面35のみ設けてもよいし、傾斜面36のみ設けてもよい。ただし、凹接点81に対する、より安定した接触を確保するためには、湾曲面35又は傾斜面36を配置したほうがよい。
また、狭ピッチに対応する必要がない場合には、弾性部20のZ方向に伸びる中心線CL1と、一対の脚部32,33のZ方向に伸びる中心線CL2とが一致するように、プローブピン10を構成してもよい。
また、接点連結部70は、湾曲面72に代えて、例えば、図7に示すように、一対の接点部321,331の湾曲面35に連続する傾斜面73を有するように構成してもよい。なお、一対の脚部32,33の間の隙間34は、分割する場合に限らず、図7に示すように、脚連結部71を省略して一体にしてもよい。
また、接点連結部70は、図8,図9に示すように、省略することができる。この場合、例えば、一対の接点部321,331の外面の各々に傾斜面36を設けることで、一対の脚部32,33の検査対象物80の凹接点81の隙間84への挿入が容易になる。
なお、一対の脚部32,33は、図8,図9に示すように、長手方向に延びる中心線CL2に対して対称に設けてもよいし、図10に示すように、長手方向の長さが異なるように設けてもよい。
また、プローブピン10は、弾性部20および第1,第2接触部30,40を一体に形成する場合に限らない。例えば、図11に示すように、第1,第2接触部130,140をそれぞれ別体に構成してもよい。
この場合、第1,第2接触部130,140の各々は、その一部が弾性体としてのコイルばね120の内部に位置し、板面が相互に直交するように連結されている。なお、図7では、第1接触部130の板面に沿った方向をY方向、第2接触部140の板面に沿った方向をX方向とし、X方向およびY方向に直交する方向をZ方向とする。
第1接触部130は、支持部31からZ方向の上側に延びると共に、コイルばね120の内部に配置される挿入部37を有している。この挿入部37には、板厚方向(X方向)に貫通しかつZ方向に沿って延びる貫通孔38が設けられている。
第2接触部140は、基部41からZ方向の下側に延びると共に、コイルばね120の内部に配置される一対の弾性片44,45を有している。この一対の弾性片44,45の間には、第1接触部130の板厚よりも大きい隙間が設けられている。一方の弾性片44の先端には、第1接触部130の貫通孔38に嵌合可能な突起46が設けられている。この突起46を貫通孔38に嵌合することで、第1,第2接触部130,140が連結されている。また、他方の弾性片45の先端には、第1,第2接触部130,140を連結したときに第1接触部130の挿入部37の貫通孔38と支持部31との間の表面に接触する突起47が設けられている。
なお、コイルばね120は、第1,第2接触部130,140を連結した状態では、その両端が第1接触部130の支持部31と第2接触部の基部41とで支持され、常時圧縮されるようになっている。
前記実施形態で述べた構成要素は、適宜、組み合わせてもよく、また、適宜、選択、置換、あるいは、削除してもよいことは、勿論である。
本発明のプローブピンは、
長手方向に沿って伸縮する弾性部と、
前記弾性部の一端から前記長手方向に沿って延在しかつ互いに接近する方向に撓み可能な一対の脚部を有し、前記一対の脚部の先端に配置されかつ前記一対の脚部を介して前記弾性部により前記長手方向に沿った方向に付勢されかつ検査対象物の凹接点に接触可能な一対の接点部を有する第1接触部と、
前記弾性部の他端に配置されかつ前記弾性部により前記第1接触部の付勢方向とは反対方向に付勢されかつ前記第1接触部と電気的に接続された第2接触部と、
を備え、
前記一対の脚部の間に、隙間を有している。
本発明のプローブピンによれば、一対の脚部が凹接点に対して接近する方向に自在に撓みつつ、一対の接点部が凹接点に接触することにより、凹接点に安定して接続できる。また、一対の脚部の一対の接点部と凹接点と相互に接触した状態で滑りながら移動するので、ワイピング効果により、一対の脚部の一対の接触部および凹接点の表面に付着した異物による導通不良を回避できる。
一実施形態のプローブピンでは、
前記一対の脚部の前記一対の接点部を連結する接点連結部を有している。
前記実施形態によれば、一対の接点部が一体化されるので、一対の脚部の検査対象物の凹接点への挿入が容易になる。
一実施形態のプローブピンでは、
前記第1接触部が、前記一対の脚部と前記一対の接点部との境界に設けられ、前記一対の脚部を連結する脚連結部を有する、請求項1または2に記載のプローブピン。
前記実施形態によれば、脚連結部の位置を調整することにより、一対の脚部の撓み量を調整できる。
一実施形態のプローブピンでは、
前記一対の脚部の前記長手方向沿いの中心線と、前記弾性部の前記長手方向沿いの中心線とがずれている。
前記実施形態のプローブピンによれば、長手方向沿いの中心線が弾性部の長手方向沿いの中心線と一致するように一対の脚部を配置した状態に対して、長手方向沿いの中心線が弾性部の長手方向沿いの中心線と一致せず、互いにずれるように一対の脚部を配置した状態では、検査対象物の隣接する2つの凹接点のピッチを狭くした狭ピッチに対応することができる。
一実施形態のプローブピンでは、
前記第1接点部の前記一対の脚部の前記一対の接点部の各々が、湾曲面を有している。
前記実施形態のプローブピンによれば、一対の脚部を凹接点にスムーズに案内することができる。
一実施形態のプローブピンでは、
前記第1接触部の前記一対の脚部の前記一対の接点部の相互に向かい合う面とは反対側の面の少なくとも一方に、前記弾性部の付勢方向に向かうに従って互いに接近する傾斜面を有している。
前記実施形態のプローブピンによれば、一対の脚部を凹接点にスムーズに案内することができる。
本発明のプローブピンは、例えば、端子として雌コネクタを有する液晶パネルの検査に用いる検査ユニットに適用できる。
1 ソケット
2 収納部
3 溝部
4 貫通孔
10 プローブピン
20 弾性部
120 コイルばね
21 直線部
22 湾曲部
23 貫通孔
221 第1湾曲部
222 第2湾曲部
30,130 第1接触部
31 支持部
32,33、132,133 脚部
321,331 接点部
34 隙間
35 湾曲面
36 傾斜面
37 挿入部
38 貫通孔
40,140 第2接触部
41 基部
42 突出部
43 貫通孔
44,45 弾性片
46,47 突起
70 接点連結部
71 脚連結部
72 湾曲面
73 傾斜面
80 検査対象物
81 凹接点
82,83 接点部
84 隙間
90 基板
91 端子
CL0 中心線(ソケット)
CL1 中心線(弾性部)
CL2 中心線(一対の脚部)
L1 (第1湾曲部の頂点を結ぶ)直線
L2 (第2湾曲部の頂点を結ぶ)直線
W1 弾性部の幅
W2 支持部の幅
P1 (隣接プローブピンの突出部間の)ピッチ
P2 (隣接するプローブピンの脚部間の)ピッチ

Claims (6)

  1. 長手方向に沿って伸縮する弾性部と、
    前記弾性部の一端から前記長手方向に沿って延在しかつ互いに接近する方向に撓み可能な一対の脚部を有し、前記一対の脚部の先端に配置されかつ前記一対の脚部を介して前記弾性部により前記長手方向に沿った方向に付勢されかつ検査対象物の凹接点に接触可能な一対の接点部を有する第1接触部と、
    前記弾性部の他端に配置されかつ前記弾性部により前記第1接触部の付勢方向とは反対方向に付勢されかつ前記第1接触部と電気的に接続された第2接触部と、
    を備え、
    前記一対の脚部の間に、隙間を有している、プローブピン。
  2. 前記第1接触部が、前記一対の脚部の前記一対の接点部を連結する接点連結部を有している、請求項1に記載のプローブピン。
  3. 前記第1接触部が、前記一対の脚部と前記一対の接点部との境界に設けられ、前記一対の脚部を連結する脚連結部を有する、請求項1または2に記載のプローブピン。
  4. 前記一対の脚部の前記長手方向沿いの中心線と、前記弾性部の前記長手方向沿いの中心線とがずれている、請求項1から3のいずれか1つに記載のプローブピン。
  5. 前記第1接触部の前記一対の脚部の前記一対の接点部の各々が、湾曲面を有している、請求項1から4のいずれか1つに記載のプローブピン。
  6. 前記第1接触部の前記一対の脚部の前記一対の接点部の相互に向かい合う面とは反対側の面の少なくとも一方に、前記弾性部の付勢方向に向かうに従って互いに接近する傾斜面を有している、請求項1から5のいずれか1つに記載のプローブピン。
JP2016121152A 2016-06-17 2016-06-17 プローブピン Active JP6737002B2 (ja)

Priority Applications (9)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016121152A JP6737002B2 (ja) 2016-06-17 2016-06-17 プローブピン
CN201780002575.9A CN107850624B (zh) 2016-06-17 2017-03-14 探针
KR1020187002900A KR101910123B1 (ko) 2016-06-17 2017-03-14 프로브 핀
DE112017003011.0T DE112017003011T5 (de) 2016-06-17 2017-03-14 Prüfstift
PCT/JP2017/010192 WO2017217042A1 (ja) 2016-06-17 2017-03-14 プローブピン
US15/751,193 US20200158753A1 (en) 2016-06-17 2017-03-14 Probe pin
CN202110232986.5A CN113030533A (zh) 2016-06-17 2017-03-14 探针和检查单元
KR1020187029724A KR102099139B1 (ko) 2016-06-17 2017-03-14 프로브 핀
JP2020107476A JP6988954B2 (ja) 2016-06-17 2020-06-23 プローブピン

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016121152A JP6737002B2 (ja) 2016-06-17 2016-06-17 プローブピン

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020107476A Division JP6988954B2 (ja) 2016-06-17 2020-06-23 プローブピン

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017223629A true JP2017223629A (ja) 2017-12-21
JP6737002B2 JP6737002B2 (ja) 2020-08-05

Family

ID=60664546

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016121152A Active JP6737002B2 (ja) 2016-06-17 2016-06-17 プローブピン

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20200158753A1 (ja)
JP (1) JP6737002B2 (ja)
KR (2) KR102099139B1 (ja)
CN (2) CN113030533A (ja)
DE (1) DE112017003011T5 (ja)
WO (1) WO2017217042A1 (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101903319B1 (ko) 2018-01-11 2018-10-01 오므론 가부시키가이샤 프로브 핀, 검사 지그, 검사 유닛 및 검사 장치
WO2019138504A1 (ja) * 2018-01-11 2019-07-18 オムロン株式会社 プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置
KR20190095867A (ko) * 2018-02-07 2019-08-16 오므론 가부시키가이샤 프로브 핀, 검사 지그, 검사 유닛 및 검사 장치
JP2020076664A (ja) * 2018-11-08 2020-05-21 オムロン株式会社 プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置
JP2020091298A (ja) * 2020-02-12 2020-06-11 オムロン株式会社 プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置
JP2020180888A (ja) * 2019-04-25 2020-11-05 オムロン株式会社 プローブピン、検査治具および検査ユニット
KR102683627B1 (ko) 2021-12-01 2024-07-10 (주)아이윈 롱 스트로크를 가진 포고핀
KR102689455B1 (ko) 2021-10-06 2024-07-29 (주)포인트엔지니어링 전기 전도성 접촉핀 및 이를 구비하는 검사장치

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6988954B2 (ja) * 2016-06-17 2022-01-05 オムロン株式会社 プローブピン
TWM587751U (zh) * 2018-11-02 2019-12-11 旺矽科技股份有限公司 適用於具有傾斜導電接點之多待測單元的探針模組
JP7354534B2 (ja) * 2018-11-08 2023-10-03 オムロン株式会社 プローブピンおよび検査治具
JP2020180889A (ja) * 2019-04-25 2020-11-05 オムロン株式会社 プローブピン、検査治具および検査ユニット
KR102429358B1 (ko) * 2020-01-16 2022-08-04 주식회사 플라이업 프로브 핀 및 이를 구비하는 회로 검사장치
CN111579833B (zh) * 2020-05-18 2022-12-23 武汉精毅通电子技术有限公司 一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器
CN111579836B (zh) * 2020-05-18 2023-01-17 武汉精毅通电子技术有限公司 一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器
CN111579837B (zh) * 2020-05-18 2022-09-20 武汉精毅通电子技术有限公司 一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器
CN111579830B (zh) * 2020-05-18 2023-06-02 武汉精毅通电子技术有限公司 一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器
CN112305395B (zh) * 2020-11-06 2021-05-28 法特迪精密科技(苏州)有限公司 一种探针结构及其安装方法、闭路方法、抗干扰方法
US11387587B1 (en) 2021-03-13 2022-07-12 Plastronics Socket Partners, Ltd. Self-retained slider contact pin
KR102606892B1 (ko) * 2021-06-15 2023-11-29 (주)포인트엔지니어링 검사 소켓용 지지 플레이트, 검사 소켓용 소켓핀 및 이들을 구비하는 검사 소켓
WO2023188165A1 (ja) * 2022-03-30 2023-10-05 日本電子材料株式会社 プローブカード
CN114924103A (zh) * 2022-05-10 2022-08-19 武汉精立电子技术有限公司 一种导通机构及压接治具

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09229964A (ja) * 1996-02-20 1997-09-05 Hitachi Electron Eng Co Ltd スルーホール用プローブ
JP2001091537A (ja) * 1999-09-24 2001-04-06 Isao Kimoto 接触子及びこれを用いた接触子組立体
JP2004138405A (ja) * 2002-10-15 2004-05-13 Renesas Technology Corp 半導体装置測定用プローブ
US20050110505A1 (en) * 2003-11-26 2005-05-26 Asm Assembly Automation Ltd. Spring contact probe device for electrical testing
WO2008015868A1 (en) * 2006-07-31 2008-02-07 Tokyo Electron Limited Probe pin
JP2008175762A (ja) * 2007-01-22 2008-07-31 Micronics Japan Co Ltd プローブおよびそれを用いた電気的接続装置
WO2015194385A1 (ja) * 2014-06-16 2015-12-23 オムロン株式会社 プローブピン
JP6515877B2 (ja) * 2016-06-17 2019-05-22 オムロン株式会社 プローブピン
JP6531438B2 (ja) * 2015-03-13 2019-06-19 オムロン株式会社 プローブピン、および、これを備えたプローブユニット
JP6583582B2 (ja) * 2019-04-16 2019-10-02 オムロン株式会社 プローブピン
JP6628002B2 (ja) * 2019-07-19 2020-01-08 オムロン株式会社 プローブピン
JP6658952B2 (ja) * 2019-07-19 2020-03-04 オムロン株式会社 プローブピン

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2426337A1 (de) * 1974-05-29 1975-12-11 Siemens Ag Kontaktiervorrichtung zum simultanen abtasten von kontaktstellen
JPH11133060A (ja) * 1997-10-31 1999-05-21 Tani Denki Kogyo Kk テスト用端子
JP4414017B2 (ja) * 1999-05-25 2010-02-10 モレックス インコーポレイテド Icソケット
CN1267733C (zh) * 2000-05-01 2006-08-02 日本发条株式会社 导电性探针及电探测装置
JP2001318119A (ja) * 2000-05-02 2001-11-16 Fujitsu Ltd Icパッケージの接続方法及びicコンタクタ
JP3942823B2 (ja) 2000-12-28 2007-07-11 山一電機株式会社 検査装置
WO2004102207A1 (ja) * 2003-05-13 2004-11-25 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics 通電試験用プローブ
KR100584225B1 (ko) 2004-10-06 2006-05-29 황동원 전자장치용 콘택트
KR100741930B1 (ko) * 2004-12-30 2007-07-23 동부일렉트로닉스 주식회사 패키지 검사용 어셈블리 및 소켓 핀
JP4173145B2 (ja) 2005-02-28 2008-10-29 株式会社センサータ・テクノロジーズジャパン コンタクトアッセンブリおよびこれを用いた半導体パッケージ用ソケット
CN100516885C (zh) * 2005-03-22 2009-07-22 旺矽科技股份有限公司 弹性微接触元件及其制造方法
KR101012712B1 (ko) * 2005-06-10 2011-02-09 델라웨어 캐피탈 포메이션, 인코포레이티드 컴플라이언트 전기적 상호접속체 및 전기적 접촉 프로브
TWI284209B (en) * 2005-12-30 2007-07-21 Ind Tech Res Inst A method of fabricating vertical probe head
JP4907191B2 (ja) * 2006-02-17 2012-03-28 日本発條株式会社 導電性接触子ユニット
JP5037869B2 (ja) 2006-07-07 2012-10-03 株式会社日本総合研究所 廃棄処理管理装置、廃棄処理管理方法、および廃棄処理管理プログラム
US7400135B1 (en) * 2007-02-23 2008-07-15 Quality One Test Fixturing, Inc. Test fixture and method for circuit board testing
KR100908810B1 (ko) * 2007-06-11 2009-07-21 주식회사 제이엠엘 마이크로 팁 및 니들의 제조방법과 이에 따라 얻어진프로브 카드용 버티칼형 프로브
KR20080110037A (ko) * 2007-06-14 2008-12-18 서수정 프로브 카드용 버티칼형 프로브 어셈블리 및 그의 제조방법
JP2009014480A (ja) * 2007-07-04 2009-01-22 Koyo Technos:Kk 検査冶具
JP5260119B2 (ja) * 2008-04-02 2013-08-14 東京エレクトロン株式会社 アライメント方法
JP5291585B2 (ja) * 2008-11-07 2013-09-18 株式会社日本マイクロニクス 接触子及び電気的接続装置
JP2010139344A (ja) * 2008-12-11 2010-06-24 Yokowo Co Ltd コンタクトピン及びコンタクトプローブ
JP2010156595A (ja) * 2008-12-26 2010-07-15 Nhk Spring Co Ltd プローブユニット
US8324919B2 (en) * 2009-03-27 2012-12-04 Delaware Capital Formation, Inc. Scrub inducing compliant electrical contact
JP5346712B2 (ja) 2009-06-30 2013-11-20 株式会社アドバンテスト コネクタ及びコネクタを備える半導体試験装置
JP5724095B2 (ja) * 2010-11-17 2015-05-27 有限会社シーズ スプリングプローブ及びその製造方法
US8970238B2 (en) * 2011-06-17 2015-03-03 Electro Scientific Industries, Inc. Probe module with interleaved serpentine test contacts for electronic device testing
JP2013148433A (ja) * 2012-01-18 2013-08-01 Nhk Spring Co Ltd コンタクトプローブおよびプローブユニット
JP5896786B2 (ja) * 2012-03-02 2016-03-30 株式会社ヨコオ 電気コネクタ
JP2013205190A (ja) * 2012-03-28 2013-10-07 Nidai Seiko:Kk スプリングプローブ
CN104755943B (zh) * 2012-12-04 2018-04-27 日本电子材料株式会社 电接触构件
JP2014119435A (ja) * 2012-12-19 2014-06-30 Enplas Corp プローブピンユニット及びicソケット
CN203178323U (zh) * 2013-02-21 2013-09-04 政云科技有限公司 检测探针
US9459285B2 (en) * 2013-07-10 2016-10-04 Globalfoundries Inc. Test probe coated with conductive elastomer for testing of backdrilled plated through holes in printed circuit board assembly

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09229964A (ja) * 1996-02-20 1997-09-05 Hitachi Electron Eng Co Ltd スルーホール用プローブ
JP2001091537A (ja) * 1999-09-24 2001-04-06 Isao Kimoto 接触子及びこれを用いた接触子組立体
JP2004138405A (ja) * 2002-10-15 2004-05-13 Renesas Technology Corp 半導体装置測定用プローブ
US20050110505A1 (en) * 2003-11-26 2005-05-26 Asm Assembly Automation Ltd. Spring contact probe device for electrical testing
WO2008015868A1 (en) * 2006-07-31 2008-02-07 Tokyo Electron Limited Probe pin
JP2008175762A (ja) * 2007-01-22 2008-07-31 Micronics Japan Co Ltd プローブおよびそれを用いた電気的接続装置
WO2015194385A1 (ja) * 2014-06-16 2015-12-23 オムロン株式会社 プローブピン
JP6531438B2 (ja) * 2015-03-13 2019-06-19 オムロン株式会社 プローブピン、および、これを備えたプローブユニット
JP6515877B2 (ja) * 2016-06-17 2019-05-22 オムロン株式会社 プローブピン
JP6583582B2 (ja) * 2019-04-16 2019-10-02 オムロン株式会社 プローブピン
JP6628002B2 (ja) * 2019-07-19 2020-01-08 オムロン株式会社 プローブピン
JP6658952B2 (ja) * 2019-07-19 2020-03-04 オムロン株式会社 プローブピン

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2019138504A1 (ja) * 2018-01-11 2020-06-11 オムロン株式会社 プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置
WO2019138504A1 (ja) * 2018-01-11 2019-07-18 オムロン株式会社 プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置
KR102058152B1 (ko) * 2018-01-11 2019-12-23 오므론 가부시키가이샤 프로브 핀, 검사 지그, 검사 유닛 및 검사 장치
KR20190141116A (ko) * 2018-01-11 2019-12-23 오므론 가부시키가이샤 프로브 핀, 검사 지그, 검사 유닛 및 검사 장치
KR101903319B1 (ko) 2018-01-11 2018-10-01 오므론 가부시키가이샤 프로브 핀, 검사 지그, 검사 유닛 및 검사 장치
KR102103370B1 (ko) * 2018-01-11 2020-04-22 오므론 가부시키가이샤 프로브 핀, 검사 지그, 검사 유닛 및 검사 장치
WO2019138505A1 (ja) * 2018-01-11 2019-07-18 オムロン株式会社 プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置
CN111033273A (zh) * 2018-01-11 2020-04-17 欧姆龙株式会社 探针、检查工具、检查单元和检查装置
JPWO2019138505A1 (ja) * 2018-01-11 2020-08-06 オムロン株式会社 プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置
US10962564B2 (en) 2018-02-07 2021-03-30 Omron Corporation Probe pin, inspection jig, inspection unit and inspection device
KR20190095867A (ko) * 2018-02-07 2019-08-16 오므론 가부시키가이샤 프로브 핀, 검사 지그, 검사 유닛 및 검사 장치
KR102091947B1 (ko) * 2018-02-07 2020-03-20 오므론 가부시키가이샤 프로브 핀, 검사 지그, 검사 유닛 및 검사 장치
JP2020076664A (ja) * 2018-11-08 2020-05-21 オムロン株式会社 プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置
KR102648231B1 (ko) 2019-04-25 2024-03-18 오므론 가부시키가이샤 프로브 핀, 검사 지그 및 검사 유닛
JP2020180888A (ja) * 2019-04-25 2020-11-05 オムロン株式会社 プローブピン、検査治具および検査ユニット
KR20210129706A (ko) * 2019-04-25 2021-10-28 오므론 가부시키가이샤 프로브 핀, 검사 지그 및 검사 유닛
JP7318297B2 (ja) 2019-04-25 2023-08-01 オムロン株式会社 プローブピン、検査治具および検査ユニット
JP2020091298A (ja) * 2020-02-12 2020-06-11 オムロン株式会社 プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置
KR102689455B1 (ko) 2021-10-06 2024-07-29 (주)포인트엔지니어링 전기 전도성 접촉핀 및 이를 구비하는 검사장치
KR102683627B1 (ko) 2021-12-01 2024-07-10 (주)아이윈 롱 스트로크를 가진 포고핀

Also Published As

Publication number Publication date
DE112017003011T5 (de) 2019-02-28
JP6737002B2 (ja) 2020-08-05
KR20180016616A (ko) 2018-02-14
CN107850624A (zh) 2018-03-27
US20200158753A1 (en) 2020-05-21
CN107850624B (zh) 2021-05-14
KR102099139B1 (ko) 2020-04-09
KR20190009277A (ko) 2019-01-28
CN113030533A (zh) 2021-06-25
KR101910123B1 (ko) 2018-10-22
WO2017217042A1 (ja) 2017-12-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2017217042A1 (ja) プローブピン
JP6515877B2 (ja) プローブピン
JPWO2019138505A1 (ja) プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置
JPWO2019138507A1 (ja) プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置
JP6583582B2 (ja) プローブピン
JP6658952B2 (ja) プローブピン
WO2020250637A1 (ja) プローブピン、検査治具および検査ユニット
CN113892036A (zh) 探针、检查工具和检查单元
JP2019207245A (ja) プローブピン
JP6988954B2 (ja) プローブピン
JP2018072157A (ja) 電気接触子、および、それを備える電気接続装置
WO2018042931A1 (ja) プローブピン
CN111856090B (zh) 探针、检查夹具及检查组件
KR20200112889A (ko) 검사 유닛 및 검사 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190206

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20191210

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20191220

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200616

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200629

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6737002

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250