WO2019138504A1 - プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置 - Google Patents

プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置 Download PDF

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WO2019138504A1
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contact portion
probe pin
elastic
contact
longitudinal direction
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直哉 笹野
宏真 寺西
貴浩 酒井
時薫 崔
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オムロン株式会社
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    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card

Definitions

  • the present disclosure relates to a probe pin, an inspection jig provided with the probe pin, an inspection unit provided with the inspection jig, and an inspection apparatus provided with the inspection unit.
  • an inspection device is connected to an electrode part such as an FPC contact electrode for connection with a main substrate installed in the electronic component module or a mounted substrate-to-substrate connector using probe pins. It is done by.
  • the probe pin includes a pair of contacts that can contact the electrode terminal of the electronic component and the electrode terminal of the connected electronic component, and a serpentine portion interposed between the pair of contacts and connecting the pair of contacts There is.
  • the contact pressure between each contact and the electrode terminal of the electronic component and the electrode terminal of the connected electronic component is secured by the meandering portion, and the electrode terminal of the electronic component and the electrode terminal of the connected electronic component are secured. Improve contact reliability.
  • the present disclosure relates to a probe pin capable of reducing the electrical resistance of a conduction path while securing contact reliability to an inspection object and an inspection apparatus, an inspection jig provided with the probe pin, and an inspection unit provided with the inspection jig. And it aims at providing an inspection device provided with this inspection unit.
  • An example probe pin of the present disclosure is An elastic portion that expands and contracts along the longitudinal direction, A plate-like first contact portion connected to the first end of the elastic portion in the longitudinal direction; A plate-like second contact portion disposed in series with the first contact portion and connected to the second end of the elastic portion in the longitudinal direction;
  • the elastic portion is Having a plurality of elastic strips arranged with a gap between each other; Each of the plurality of elastic strips is
  • the first contact portion is disposed on one side in the width direction of the first contact portion, extends along a direction intersecting the longitudinal direction, and one end portion in the extension direction is the first portion.
  • the first contact portion is disposed on the one side in the width direction of the first contact portion with respect to the second contact portion, and extends along a direction intersecting the longitudinal direction, and one end portion in the extension direction is the one
  • a curved portion connected to the other end of the first linear portion and the other end of the second linear portion.
  • an inspection jig of an example of the present disclosure is The probe pin, And a socket having a receptacle capable of receiving the probe pin.
  • an inspection unit of an example of the present disclosure is At least one inspection jig was provided.
  • an inspection apparatus is: At least one inspection unit was provided.
  • the elastic portion has a plurality of elastic strips, each elastic strip being disposed on one side of the first contact portion in the width direction of the first contact portion, and extending the elastic portion
  • the first linear portion connected to the first contact portion in the direction crossing the longitudinal direction of the probe pin and one side in the width direction of the first contact portion with respect to the second contact portion;
  • In the second straight portion where one end in the extending direction is connected to the second contact portion from the direction intersecting the longitudinal direction of the probe pin, and the other end of the first straight portion and the other end of the second straight portion And a connected curved portion.
  • the elastic portion can reduce the electrical resistance in the conduction path between the first contact portion and the second contact portion while securing the contact reliability with the inspection object and the inspection device.
  • the inspection jig it is possible to realize an inspection jig having high contact reliability with the inspection object and the inspection apparatus and low contact resistance when connected to the inspection object and the inspection apparatus by the probe pin.
  • the inspection unit it is possible to realize an inspection unit having high contact reliability with the inspection object and the inspection device and low contact resistance when connected to the inspection object and the inspection device by the inspection jig.
  • the inspection unit can realize an inspection apparatus having high contact reliability with respect to the inspection object and low contact resistance when connected to the inspection object.
  • FIG. 1 is a perspective view of an inspection unit according to an embodiment of the present disclosure.
  • Sectional drawing along the II-II line of FIG. 1 is a perspective view of a probe pin according to an embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 4 is a plan view of the probe pin of FIG. 3;
  • FIG. 4 is an enlarged plan view around an elastic portion of the probe pin of FIG. 3;
  • the probe pin 10 has conductivity, and is used in a state of being accommodated in the socket 3 as shown in FIGS. 1 and 2, for example, and constitutes the inspection jig 2 together with the socket 3 Do.
  • the inspection jig 2 accommodates, for example, a plurality of thin thin plate-like probe pins 10.
  • the inspection jig 2 constitutes a part of the inspection unit 1.
  • the inspection unit 1 includes a substantially rectangular base housing 4 in which at least one inspection jig 2 is incorporated.
  • the base housing 4 is composed of a substantially rectangular plate-shaped first housing 5 and a second housing 6 stacked in the thickness direction of the first housing 5.
  • the socket 3 has a plurality of accommodating portions 7 capable of accommodating the respective probe pins 10 and is held by the first housing 5 and the second housing 6.
  • Each housing portion 7 is surrounded by the socket 3 and the second housing 6 of the base housing 4, and a first contact portion 121 and a second contact portion 131 described later are exposed to the outside of the socket 3 and the base housing 4, respectively. In the state, each probe pin 10 can be accommodated.
  • each probe pin 10 has an elastic portion 11 that expands and contracts along its longitudinal direction (that is, the vertical direction in FIG. 3) and one end of the elastic portion 11 in the longitudinal direction of the probe pin 10 And the other end in the longitudinal direction of the probe pin 10 of the elastic portion 11 disposed in series with the plate-like first contact portion 12 connected to the first end portion 111, which is And a plate-like second contact portion 13 connected to the second end 112.
  • the elastic portion 11 is, as shown in FIG. 4, a plurality of strip-like elastic pieces (in this embodiment, four strip-like elastic pieces) 21, 22, 23, 24 spaced apart from each other by gaps 61, 62, 63. have.
  • each of the strip-shaped elastic pieces 21, 22, 23, 24 is an elongated strip, and includes first straight portions 31, 32, 33, 34 and second straight portions 41, 42, 43, 44, And curved portions 51, 52, 53, 54.
  • Each of the elastic strips 21, 22, 23, 24 has substantially the same cross-sectional shape as an example.
  • each of the first straight portions 31, 32, 33, 34 has a band shape, and one side of the first contact portion 12 in the width direction of the first contact portion 12 (ie, FIG. 5). , And extends along a direction intersecting the longitudinal direction of the probe pin 10.
  • one end of each of the first straight portions 31, 32, 33, 34 in the extending direction is the first end 211, 221, 231, 241 of each of the elastic strips 21, 22, 23, 24 (ie, The first end portion 111 of the elastic portion 11 is connected to the first contact portion 12 from a first direction A intersecting the longitudinal direction of the probe pin 10.
  • first straight portions 31, 32, 33, 34 in the extending direction that is, the first end 211 of each of the elastic strips 21, 22, 23, 24) 221, 231, 241
  • first contact portion 12 are connected on a first straight line L1 extending in a direction (for example, an orthogonal direction) intersecting the longitudinal direction of the probe pin 10. That is, the first straight line L1 extends in a direction orthogonal to the connection direction (that is, the first direction A) of the first end portions 211, 221, 231, 241 with respect to the first contact portion 12.
  • Each of the second straight portions 41, 42, 43, 44 has a strip shape as shown in FIG. 5, and one side of the first contact portion 12 in the width direction with respect to the second contact portion 13 (ie, FIG. 5). , And extends along a direction intersecting the longitudinal direction of the probe pin 10. Further, one end of each of the second straight portions 41, 42, 43, 44 in the extending direction is the second end 212, 222, 232, 242 of each of the elastic strips 21, 22, 23, 24 (ie, The second end portion 112 of the elastic portion 11 is connected to the second contact portion 13 from a second direction B which intersects the longitudinal direction of the probe pin 10.
  • each of the second straight portions 41, 42, 43, 44 in the extending direction that is, the second end 212 of each of the strip elastic pieces 21, 22, 23, 24) 222, 232, 242
  • the second contact portion 13 are connected on a second straight line L2 extending in a direction (for example, an orthogonal direction) intersecting with the longitudinal direction of the probe pin 10. That is, the second straight line L2 extends in a direction perpendicular to the connecting direction (that is, the second direction B) of the second end 212, 222, 232, 242 with the second contact portion 13.
  • the width direction of the first contact portion 12 is a direction orthogonal to the longitudinal direction of the probe pin 10 (i.e., the sheet thickness direction of the first contact portion 12 (i.e., the sheet penetrating direction in FIGS. 4 and 5)). 4 and 5).
  • Each of the curved portions 51, 52, 53, 54 is in the shape of a band as shown in FIG. 5 and has a substantially S shape as viewed from the thickness direction of the first contact portion 12, and the first straight portions 31, 32, It is connected to the other end of the extension direction of 33, 34, and the other end of the second straight portion 41, 42, 43, 44 in the extension direction.
  • Each curved portion 51, 52, 53, 54 includes a first curved portion 511, 521, 531, 541, a second curved portion 512, 522, 532, 542, and a first curved portion 511, 521, 531, 541 and It has the connection part 513, 523, 533, 543 which connects 2nd curved part 512, 522, 532, 542.
  • the first curved portion 511, 521, 531, 541 has its center of curvature CP1 in the longitudinal direction of the probe pin 10, the first linear portions 31, 32, 33, 34 and the second linear portions 41, 42, 43, 44 , And extends along an arc for a central angle ⁇ 1 of more than 180 degrees and less than 360 degrees.
  • the second curved portions 512, 522, 532, 542 have different centers of curvature CP2 with respect to the elastic portion 11 (ie, the first straight portions 31, 32, 33, in the longitudinal direction of the probe pin 10, It is disposed at a position farther from the second straight portions 41, 42, 43, 44 than 34, and extends along a circular arc with respect to the central angle ⁇ 2 which is larger than zero and smaller than 180 degrees.
  • the connection portions 513, 523, 533, 543 extend substantially linearly.
  • the widths of the elastic strips 21, 22, 23, 24 i.e., the first ends 211, 221, 231, 241 of the elastic strips 21, 22, 23, 24 and Lengths in the width direction orthogonal to the extending direction of the path between the two end portions 212, 222, 232, 242) W1, W2, W3, W4 are shortest between the adjacent strip elastic pieces 21, 22, 23, 24 It is configured to be smaller than the distance W5.
  • the curved portion 54 of the strip-shaped elastic piece 24 closest to the curvature center CP1 of the first curved portion 511, 521, 531, 541 in the radial direction of the curvature circle and the strip-shaped elastic piece 24 The linear distance between the adjacent strip elastic pieces 23 and the curved portion 53 is shown as the shortest distance W5.
  • the first contact portion 12 extends along the longitudinal direction of the probe pin 10, and one end portion in the extending direction is connected to the first end portion 111 of the elastic portion 11.
  • a first contact portion 121 is provided at the other end of the first contact portion 12 in the extending direction.
  • the second contact portion 13 extends along the longitudinal direction of the probe pin 10, and one end portion in the extending direction is connected to the second end portion 112 of the elastic portion 11.
  • a second contact portion 131 is provided at the other end of the second contact portion 13 in the extending direction.
  • the first contact portion 121 is configured to be able to contact a terminal of an inspection object (for example, a board-to-board (B to B) connector).
  • the second contact portion 131 is configured to be able to contact a terminal provided on a substrate (for example, a PCB pad) of the inspection device, as an example.
  • Each of the first contact portion 12 and the second contact portion 13 is arranged in series along an imaginary straight line L3 extending along the longitudinal direction of the probe pin 10. That is, the first end 111 and the second end 112 of the elastic portion 11 are the first contact portion 12 and the second contact from the same side with respect to the imaginary straight line L3 (that is, one side in the width direction of the first contact portion 12). Each is connected to the unit 13.
  • a support portion 122 is provided on the elastic portion 11 side in the middle portion in the extension direction of the first contact portion 12, and is supported on the elastic portion 11 side in the middle portion in the extension direction of the second contact portion 13.
  • the part 132 is provided.
  • each support portion 122, 132 is a direction (for example, orthogonal direction) intersecting the longitudinal direction of the probe pin 10 from the first contact portion 12 and the second contact portion 13. And it protrudes toward the elastic part 11 side with respect to the virtual straight line L3.
  • the support portion 122 of the first contact portion 12 is housed on the side of the first contact portion 121 in the longitudinal direction of the probe pin 10.
  • the support portion 132 of the second contact portion 13 is configured such that the surface on the second contact portion 131 side in the longitudinal direction of the probe pin 10 constitutes the accommodation portion 7. It is configured to abut on the second housing 6. That is, the probe pins 10 are supported by the support portions 122 and 132 in the housing portion 7.
  • the width W 6 of the first contact portion 12 and the width W 7 of the second contact portion 13 are larger than the width W 8 of the elastic portion 11.
  • the width W6 of the first contact portion 12 is the shortest distance of the first contact portion 12 in the width direction orthogonal to the longitudinal direction of the probe pin 10
  • the width W7 of the second contact portion 13 is the length of the probe pin 10 The shortest distance of the second contact portion 13 in the width direction orthogonal to the direction.
  • the width W8 of the elastic portion 11 is the outer surface of the strip-shaped elastic pieces 21 and 24 on both sides in the width direction orthogonal to the extension direction of the path of the elastic portion 11 (that is, the inner surface facing the adjacent strip-shaped elastic pieces 22 and 23)
  • the elastic portion 11 has a plurality of elastic strips 21, 22, 23, 24 and each elastic strip 21, 22, 23, 24 is a first contact portion.
  • the first contact portion 12 is disposed on one side in the width direction of the first contact portion 12, and one end portion in the extending direction is connected to the first contact portion 12 from the first direction A intersecting the longitudinal direction of the probe pin
  • the first contact portion 12 is disposed on one side in the width direction of the first contact portion 12 with respect to the first straight portions 31, 32, 33, 34 and the second contact portion 13.
  • Second straight portions 41, 42, 43, 44 connected to the second contact portion 13 from the intersecting second direction B, and the other ends of the first straight portions 31, 32, 33, 34 and the second straight portion 41 , 42, 43, 44 and the curved portions 51, 52, 53, 54 connected to the other To have.
  • this elastic portion 11 while maintaining the elastic force capable of securing the contact reliability with respect to the inspection object and the inspection device, the length of the path of the elastic portion 11 can be reduced and the cross-sectional area of the path of the elastic portion 11 can be enlarged. Therefore, the electrical resistance in the conduction path between the first contact 12 and the second contact 13 can be reduced.
  • first linear portion 31, 32, 33, 34 of each of the elastic strips 21, 22, 23, 24 and the first contact portion 12 extend in a direction intersecting the longitudinal direction of the probe pin 10
  • second linear portions 41, 42, 43, 44 of the strip-like elastic pieces 21, 22, 23, 24 and the second contact portion 13 are connected along the straight line L1. It is connected on the 2nd straight line L2 extended in the direction which intersects the direction.
  • each of the first contact portion 121 and the second contact portion 131 is in contact with the inspection object and the inspection device, and each of the elastic strips 21, 22, 23, 24 extends in the longitudinal direction of the probe pin 10. Even when compressed, it is possible to prevent contact between the elastic strips 21, 22, 23, 24 and to realize the probe pin 10 capable of ensuring high contact reliability.
  • first straight line L1 extends in a direction perpendicular to the connecting direction of the first end portions 211, 221, 231, 241 to the first contact portion 12
  • second straight line L2 extends in the second end portions 212, 222, 232.
  • 242 extends in a direction perpendicular to the connecting direction to the second contact portion 13.
  • widths W1, W2, W3, and W4 of the respective elastic strips 21, 22, 23, 24 are configured to be smaller than the shortest distance W5 between the adjacent elastic strips 21, 22, 23, 24. There is. Thereby, for example, each of the first contact portion 121 and the second contact portion 131 is in contact with the inspection object and the inspection device, and the strip-like elastic pieces 21, 22, 23, 24 are in the longitudinal direction of the probe pin 10. Even when compressed, it is possible to prevent contact between the elastic strips 21, 22, 23, 24 and to realize the probe pin 10 capable of ensuring high contact reliability.
  • widths W6 and W7 of each of the first contact portion 12 and the second contact portion 13 are configured to be larger than the width W8 of the elastic portion 11. Thereby, the electrical resistance of the 1st contact portion 12 and the 2nd contact portion 13 can be reduced.
  • the curved portions 51, 52, 53, 54 of the elastic strips 21, 22, 23, 24 are two curved portions 511, 521, 531, 541, 512, 522, 532, which have different central angles ⁇ 1, ⁇ 2.
  • the centers of curvature CP1 and CP2 of the two curved portions 511, 521, 531, 541, 512, 522, 532, 542 are respectively disposed on different sides with respect to the elastic portion 11. Thereby, the stress generated in the elastic portion 11 can be dispersed.
  • the inspection jig 2 has high contact reliability to the inspection object and the inspection device by the probe pin 10 and low contact resistance when connected to the inspection object and the inspection device. realizable.
  • the inspection jig 2 realizes the inspection unit 1 having high contact reliability with the inspection object and the inspection device and low contact resistance when connected to the inspection object and the inspection device. it can.
  • the inspection unit 1 can constitute a part of the inspection apparatus. According to such an inspection apparatus, the inspection unit 1 can realize an inspection apparatus having high contact reliability with the inspection object and the inspection apparatus and low contact resistance when connected to the inspection object and the inspection apparatus.
  • first contact portion 12 and the second contact portion 13 can be appropriately changed according to the design and the like of the probe pin 10.
  • each of the first contact portion 121 and the second contact portion 131 can be appropriately changed in shape, position, and the like according to various aspects of the inspection apparatus or the inspection object.
  • the elastic portions 11 are arranged with a gap therebetween, and have a plurality of first linear portions 31, 32, 33, 34, second linear portions 41, 42, 43, 44 and curved portions 51, 52, 53, 54
  • the belt-like elastic pieces 21, 22, 23, 24 may be provided.
  • first straight portions 31, 32, 33, 34 of the elastic strips 21, 22, 23, 24 and the first contact portion 12 are connected on a straight line other than the first straight line L1.
  • the end portions of the first straight portions 31, 32, 33, 34 of all the elastic strips 21, 22, 23, 24 and the first contact portion 12 may not be connected on the same straight line .
  • the first straight line L1 is not limited to the case in which the first end portions 211, 221, 231, 241 extend in the direction orthogonal to the connecting direction with respect to the first contact portion 12. The same applies to the second straight line L2.
  • the widths W1, W2, W3, and W4 of the strip-shaped elastic pieces 21, 22, 23, 24 are not limited to the case where they are smaller than the shortest distance W5 between the adjacent strip-shaped elastic pieces 21, 22, 23, 24; Good.
  • the widths W6 and W7 of each of the first contact portion 12 and the second contact portion 13 are not limited to be larger than the width W8 of the elastic portion 11, and may be smaller.
  • the curved portions 51, 52, 53, 54 are not limited to the case in which the two curved portions 511, 521, 531, 541, 512, 522, 532, 542 having different central angles ⁇ 1, ⁇ 2 are provided.
  • the bending portions 51, 52, 53, 54 may be configured by one bending portion.
  • the configurations of the inspection jig 2 and the base housing 4 can be appropriately changed according to various aspects of the inspection apparatus or the inspection object. That is, the inspection jig 2 and the base housing 4 can be generalized, and the productivity of the inspection unit 1 (and thus the inspection apparatus) can be improved.
  • the probe pin 10 of the first aspect of the present disclosure is An elastic portion 11 extending and contracting along the longitudinal direction; A plate-like first contact portion 12 connected to the first end portion 111 in the longitudinal direction of the elastic portion 11; And a plate-like second contact portion 13 disposed in series with the first contact portion 12 and connected to the second end 112 in the longitudinal direction of the elastic portion 11;
  • the elastic portion 11 is Having a plurality of elastic strips 21, 22, 23, 24 spaced apart from one another 61, 62, 63, Each of the plurality of elastic strips 21, 22, 23, 24 is
  • the first contact portion 12 is disposed on one side in the width direction of the first contact portion 12 and extends along a direction intersecting the longitudinal direction, and one end portion in the extension direction is the one First straight portions 31, 32, 33, 34 connected to the first contact portion 12 from the direction that constitutes the first end 111 and intersects the longitudinal direction;
  • the first contact portion 12 is disposed on the one side in the width direction with respect to the second contact portion 13 and extends along a direction intersect
  • the elastic portion 11 ensures the contact reliability with respect to the inspection object and the inspection device, while maintaining the electrical resistance in the conduction path between the first contact portion 12 and the second contact portion 13. This reduces the resistance of the probe pin 10.
  • the probe pin 10 of the second aspect of the present disclosure is One end of each of the first straight portions 31, 32, 33, 34 of each of the plurality of elastic strips 21, 22, 23, 24 and the first contact portion 12 extend in a direction intersecting the longitudinal direction It is connected on the first straight line L1, One end of the second linear portion 41, 42, 43, 44 of each of the plurality of elastic strips 21, 22, 23, 24 and the second contact portion 13 extend in a direction intersecting the longitudinal direction It is connected on the 2nd straight line L2.
  • each of the first contact portion 121 and the second contact portion 131 can be inspected and the bending amount of each of the elastic strips 21, 22, 23, 24 is made uniform. Even when the elastic strips 21, 22, 23, 24 are compressed in the longitudinal direction of the probe pin 10 in contact with the inspection device, the elastic bands 21, 22, 23, 24 are prevented from contacting with each other. Thus, it is possible to realize the probe pin 10 capable of securing high contact reliability.
  • the probe pin 10 of the third aspect of the present disclosure is
  • the first straight line L1 extends in a direction perpendicular to the connecting direction of the first end portions 211, 221, 231, 241 to the first contact portion 12;
  • the second straight line L2 extends in a direction perpendicular to the connecting direction of the second end 212, 222, 232, 242 to the second contact portion 13.
  • the probe pin 10 of the third aspect it is possible to make the deflection amounts of the elastic strips 21, 22, 23, 24 more uniform, and it is possible to realize the probe pin 10 which can ensure high contact reliability more reliably. .
  • the probe pin 10 of the fourth aspect of the present disclosure is The widths W 1, W 2, W 3, W 4 of the plurality of elastic strips 21, 22, 23, 24 are smaller than the shortest distance W 5 between the plurality of elastic strips 21, 22, 23, 24 adjacent to each other. It is configured.
  • each of the first contact portion 121 and the second contact portion 131 is in contact with the inspection object and the inspection device, and each of the strip elastic pieces 21, 22, 23, 24 Even when compressed in the longitudinal direction of the probe pin 10, the contact between the elastic strips 21, 22, 23, 24 can be prevented, and the probe pin 10 capable of securing high contact reliability can be realized.
  • the probe pin 10 of the fifth aspect of the present disclosure is The widths W6 and W7 of each of the first contact portion 12 and the second contact portion 13 are configured to be larger than the width W8 of the elastic portion 11.
  • the electrical resistance of the first contact portion 12 and the second contact portion 13 can be reduced, so that the resistance of the probe pin 10 can be reduced.
  • the probe pin 10 of the sixth aspect of the present disclosure is The curved portions 51, 52, 53, 54 of the plurality of elastic strips 21, 22, 23, 24 respectively have two central curved portions 511, 521, 531, 541, 512, 522 having different central angles ⁇ 1 and ⁇ 2. , 532, 542, and The centers of curvature CP1 and CP2 of the two curved portions 511, 521, 531, 541, 512, 522, 532, 542 are disposed on different sides with respect to the elastic portion 11.
  • the stress generated in the elastic portion 11 can be dispersed.
  • the inspection jig 2 of the seventh aspect of the present disclosure is The probe pin 10; And a socket 3 having a receiving portion 7 capable of receiving the probe pin 10.
  • the inspection jig 2 of the seventh aspect has high contact reliability to the inspection object and the inspection apparatus by the probe pin 10 and low contact resistance when connected to the inspection object and the inspection apparatus. Can be realized.
  • the inspection unit 1 of the eighth aspect of the present disclosure is At least one inspection jig was provided.
  • the inspection jig 1 has high contact reliability with respect to the inspection object and the inspection device, and low contact resistance when connected to the inspection object and the inspection device. realizable.
  • the inspection apparatus of the ninth aspect of the present disclosure is At least one inspection unit 1 was provided.
  • the inspection unit 1 can realize an inspection apparatus having high contact reliability with respect to the inspection object and the inspection apparatus and low contact resistance when connected to the inspection object and the inspection apparatus.
  • the probe pin of the present disclosure can be applied to, for example, an inspection jig used for inspection of a liquid crystal panel.
  • the inspection jig of the present disclosure can be applied to, for example, an inspection unit used for inspection of a liquid crystal panel.
  • the inspection unit of the present disclosure can be applied to, for example, an inspection device of a liquid crystal panel.
  • the inspection apparatus of the present disclosure can be used, for example, for inspection of a liquid crystal panel.

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Abstract

プローブピンが、弾性部(11)、第1接触部(12)および第2接触部(13)を備える。弾性部が、複数の帯状弾性片(21-24)を有し、各帯状弾性片が、その延在方向の一端部(111)がプローブピンの長手方向に交差する方向から第1接触部に接続された第1直線部と、その延在方向の一端部(112)がプローブピンの長手方向に交差する方向から第2接触部に接続された第2直線部と、第1直線部の他端部および第2直線部の他端部に接続された湾曲部とを有する。

Description

プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置
 本開示は、プローブピン、このプローブピンを備えた検査治具、この検査治具を備えた検査ユニット、および、この検査ユニットを備えた検査装置に関する。
 カメラあるいは液晶パネル等の電子部品モジュールでは、一般に、その製造工程において、導通検査および動作特性検査等が行われる。これらの検査は、プローブピンを用いて、電子部品モジュールに設置されている本体基板と接続するためのFPC接触電極、あるいは、実装された基板対基板コネクタ等の電極部と検査装置とを接続することにより行われる。
 このようなプローブピンとしては、例えば、特許文献1に記載されたものがある。このプローブピンは、電子部品の電極端子および被接続電子部品の電極端子に対してそれぞれ接触可能な一対のコンタクトと、一対のコンタクト間に介在して一対のコンタクトを接続する蛇行部とを備えている。前記プローブピンでは、蛇行部により、各コンタクトと電子部品の電極端子および被接続電子部品の電極端子との間の接圧を確保して、電子部品の電極端子および被接続電子部品の電極端子に対する接触信頼性を高めている。
特開2002-134202号公報
 近年、電子部品モジュールの省電力化に伴って、検査に用いるプローブピンの低抵抗化が要請されている。
 特許文献1のプローブピンにおいて、高い接触信頼性を確保するために蛇行部の折り返しの数を増加させると、一対のコンタクト間を流れる電流の経路が長くなる。この場合、プローブピンの電気抵抗が増大し、低抵抗化を図ることが困難な場合がある。
 本開示は、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性を確保しつつ、導通経路の電気抵抗を低減できるプローブピン、このプローブピンを備えた検査治具、この検査治具を備えた検査ユニット、および、この検査ユニットを備えた検査装置を提供することを目的とする。
 本開示の一例のプローブピンは、
 長手方向に沿って伸縮する弾性部と、
 前記弾性部の前記長手方向の第1端部に接続された板状の第1接触部と、
 前記第1接触部に対して直列的に配置され、前記弾性部の前記長手方向の第2端部に接続された板状の第2接触部と
を備え、
 前記弾性部が、
 相互に隙間を空けて配置された複数の帯状弾性片を有し、
 前記複数の帯状弾性片の各々が、
 前記第1接触部に対して前記第1接触部の幅方向の一方側に配置され、前記長手方向に交差する方向に沿って延びていると共に、その延在方向の一端部が、前記第1端部を構成しかつ前記長手方向に交差する方向から前記第1接触部に接続された第1直線部と、
 前記第2接触部に対して前記第1接触部の前記幅方向の前記一方側に配置され、前記長手方向に交差する方向に沿って延びていると共に、その延在方向の一端部が、前記第2端部を構成しかつ前記長手方向に交差する方向から前記第2接触部に接続された第2直線部と、
 前記第1直線部の他端部および前記第2直線部の他端部に接続された湾曲部と
を有する。
 また、本開示の一例の検査治具は、
 前記プローブピンと、
 前記プローブピンを収容可能な収容部を有するソケットと
を備える。
 また、本開示の一例の検査ユニットは、
 前記検査治具を少なくとも1つ備えた。
 また、本開示の一例の検査装置は、
 前記検査ユニットを少なくとも1つ備えた。
 前記プローブピンによれば、弾性部が、複数の帯状弾性片を有し、各帯状弾性片が、第1接触部に対して第1接触部の幅方向の一方側に配置され、その延在方向の一端部がプローブピンの長手方向に交差する方向から第1接触部に接続された第1直線部と、第2接触部に対して第1接触部の幅方向の一方側に配置され、その延在方向の一端部がプローブピンの長手方向に交差する方向から第2接触部に接続された第2直線部と、第1直線部の他端部および第2直線部の他端部に接続された湾曲部とを有している。この弾性部により、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性を確保しつつ、第1接触部および第2接触部間の導通経路における電気抵抗を低減できる。
 また、前記検査治具によれば、前記プローブピンにより、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性が高く、検査対象物および検査装置に接続した場合の接触抵抗が低い検査治具を実現できる。
 また、前記検査ユニットによれば、前記検査治具により、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性が高く、検査対象物および検査装置に接続した場合の接触抵抗が低い検査ユニットを実現できる。
 また、前記検査装置によれば、前記検査ユニットにより、検査対象物に対する接触信頼性が高く、検査対象物に接続した場合の接触抵抗が低い検査装置を実現できる。
本開示の一実施形態の検査ユニットを示す斜視図。 図1のII-II線に沿った断面図。 本開示の一実施形態のプローブピンを示す斜視図。 図3のプローブピンの平面図。 図3のプローブピンの弾性部周辺の拡大平面図。
 以下、本開示の一例を添付図面に従って説明する。なお、以下の説明では、必要に応じて特定の方向あるいは位置を示す用語(例えば、「上」、「下」、「右」、「左」を含む用語)を用いるが、それらの用語の使用は図面を参照した本開示の理解を容易にするためであって、それらの用語の意味によって本開示の技術的範囲が限定されるものではない。また、以下の説明は、本質的に例示に過ぎず、本開示、その適用物、あるいは、その用途を制限することを意図するものではない。さらに、図面は模式的なものであり、各寸法の比率等は現実のものとは必ずしも合致していない。
 本開示の一実施形態のプローブピン10は、導電性を有し、例えば、図1および図2に示すように、ソケット3に収容された状態で使用され、ソケット3と共に検査治具2を構成する。この検査治具2には、一例として、複数の細長い薄板状のプローブピン10が収容されている。
 また、検査治具2は、検査ユニット1の一部を構成している。検査ユニット1は、図1に示すように、少なくとも1つの検査治具2が組み込まれた略直方体状のベースハウジング4を備えている。このベースハウジング4は、略矩形板状の第1ハウジング5と、この第1ハウジング5の板厚方向に積み重ねられた第2ハウジング6とで構成されている。
 ソケット3は、図2に示すように、各プローブピン10を収容可能な複数の収容部7を有し、第1ハウジング5および第2ハウジング6で保持されている。各収容部7は、ソケット3とベースハウジング4の第2ハウジング6とで取り囲まれており、後述する第1接点部121および第2接点部131がソケット3およびベースハウジング4の外部にそれぞれ露出した状態で、各プローブピン10を収容可能に構成されている。
 各プローブピン10は、図3に示すように、その長手方向(すなわち、図3の上下方向)に沿って伸縮する弾性部11と、弾性部11のプローブピン10の長手方向における一方の端部である第1端部111に接続された板状の第1接触部12と、第1接触部12に対して直列的に配置され弾性部11のプローブピン10の長手方向における他端部である第2端部112に接続された板状の第2接触部13とを備えている。
 弾性部11は、図4に示すように、相互に隙間61、62、63を空けて配置された複数の帯状弾性片(この実施形態では、4つの帯状弾性片)21、22、23、24を有している。各帯状弾性片21、22、23、24は、図5に示すように、細長い帯状で、第1直線部31、32、33、34と、第2直線部41、42、43、44と、湾曲部51、52、53、54とを有している。なお、各帯状弾性片21、22、23、24は、一例として、略同一の断面形状を有している。
 各第1直線部31、32、33、34は、図5に示すように、帯状を有し、第1接触部12に対して第1接触部12の幅方向の一方側(すなわち、図5の右側)に配置され、プローブピン10の長手方向に交差する方向に沿って延びている。また、各第1直線部31、32、33、34は、その延在方向の一端部が、各帯状弾性片21、22、23、24の第1端部211、221、231、241(すなわち、弾性部11の第1端部111)を構成しかつプローブピン10の長手方向に交差する第1方向Aから第1接触部12に接続されている。
 また、図5に示すように、各第1直線部31、32、33、34のその延在方向の一端部(すなわち、各帯状弾性片21、22、23、24の第1端部211、221、231、241)と第1接触部12とは、プローブピン10の長手方向に交差する方向(例えば、直交方向)に延びる第1直線L1上で接続されている。すなわち、第1直線L1は、第1端部211、221、231、241の第1接触部12に対する接続方向(すなわち、第1方向A)に直交する方向に延びている。
 各第2直線部41、42、43、44は、図5に示すように、帯状を有し、第2接触部13に対して第1接触部12の幅方向の一方側(すなわち、図5の右側)に配置され、プローブピン10の長手方向に交差する方向に沿って延びている。また、各第2直線部41、42、43、44は、その延在方向の一端部が、各帯状弾性片21、22、23、24の第2端部212、222、232、242(すなわち、弾性部11の第2端部112)を構成しかつプローブピン10の長手方向に交差する第2方向Bから第2接触部13に接続されている。
 また、図5に示すように、各第2直線部41、42、43、44のその延在方向の一端部(すなわち、各帯状弾性片21、22、23、24の第2端部212、222、232、242)と第2接触部13とは、プローブピン10の長手方向に交差する方向(例えば、直交方向)に延びる第2直線L2上で接続されている。すなわち、第2直線L2は、第2端部212、222、232、242の第2接触部13に対する接続方向(すなわち、第2方向B)に直交する方向に延びている。
 なお、第1接触部12の幅方向は、第1接触部12の板厚方向(すなわち、図4および図5の紙面貫通方向)から見て、プローブピン10の長手方向に直交する方向(すなわち、図4および図5の左右方向)である。
 各湾曲部51、52、53、54は、図5に示すように、帯状で、第1接触部12の板厚方向から見て略S字状を有し、第1直線部31、32、33、34のその延在方向の他端部および第2直線部41、42、43、44のその延在方向の他端部に接続されている。各湾曲部51、52、53、54は、第1湾曲部511、521、531、541と、第2湾曲部512、522、532、542と、第1湾曲部511、521、531、541および第2湾曲部512、522、532、542を接続する接続部513、523、533、543とを有している。
 第1湾曲部511、521、531、541は、その曲率中心CP1が、プローブピン10の長手方向において、第1直線部31、32、33、34と第2直線部41、42、43、44との間に配置され、180度よりも大きく360度よりも小さい中心角θ1に対する円弧に沿って延びている。また、第2湾曲部512、522、532、542は、その曲率中心CP2が、弾性部11に対して異なる側(すなわち、プローブピン10の長手方向において、第1直線部31、32、33、34よりも第2直線部41、42、43、44から離れた位置)に配置され、ゼロよりも大きく180度よりも小さい中心角θ2に対する円弧に沿って延びている。また、接続部513、523、533、543は、略直線状に延びている。
 また、図5に示すように、各帯状弾性片21、22、23、24の幅(すなわち、各帯状弾性片21、22、23、24の第1端部211、221、231、241および第2端部212、222、232、242間の経路の延在方向に直交する幅方向の長さ)W1、W2、W3、W4は、隣接する帯状弾性片21、22、23、24間の最短距離W5よりも小さくなるように構成されている。
 なお、図5には、一例として、第1湾曲部511、521、531、541の曲率円の半径方向における曲率中心CP1に最も近い帯状弾性片24の湾曲部54と、この帯状弾性片24に隣接する帯状弾性片23の湾曲部53との間の直線距離を最短距離W5として示している。
 第1接触部12は、図4に示すように、プローブピン10の長手方向に沿って延び、その延在方向の一端部が弾性部11の第1端部111に接続されている。第1接触部12の延在方向の他端部には、第1接点部121が設けられている。また、第2接触部13は、図4に示すように、プローブピン10の長手方向に沿って延び、その延在方向の一端部が弾性部11の第2端部112に接続されている。第2接触部13の延在方向の他端部には、第2接点部131が設けられている。
 第1接点部121は、一例として、検査対象物(例えば、基板対基板(BtoB)コネクタ)の端子に接触可能に構成されている。また、第2接点部131は、一例として、検査装置の基板(例えば、PCBパッド)に設けられた端子に接触可能に構成されている。
 第1接触部12および第2接触部13の各々は、プローブピン10の長手方向沿いに延びる仮想直線L3に沿って直列的に配置されている。すなわち、弾性部11の第1端部111および第2端部112は、仮想直線L3に対する同じ側(すなわち、第1接触部12の幅方向の一方側)から第1接触部12および第2接触部13にそれぞれ接続されている。
 第1接触部12のその延在方向の中間部における弾性部11側には、支持部122が設けられ、第2接触部13のその延在方向の中間部における弾性部11側には、支持部132が設けられている。各支持部122、132は、第1接触部12の板厚方向から見て、第1接触部12および第2接触部13から、プローブピン10の長手方向に交差する方向(例えば、直交方向)でかつ仮想直線L3に対する弾性部11側に向かって突出している。
 図2に示すように、ソケット3の収容部7にプローブピン10を収容したとき、第1接触部12の支持部122は、プローブピン10の長手方向における第1接点部121側の面が収容部7を構成するソケット3の内面に当接するように構成され、第2接触部13の支持部132は、プローブピン10の長手方向における第2接点部131側の面が収容部7を構成する第2ハウジング6に当接するように構成されている。すなわち、各支持部122、132により、プローブピン10が収容部7の内部で支持されるように構成されている。
 なお、図4に示すように、第1接触部12および第2接触部13は、第1接触部12の幅W6および第2接触部13の幅W7が、弾性部11の幅W8よりも大きくなるようにそれぞれ構成されている。ここで、第1接触部12の幅W6は、プローブピン10の長手方向に直交する幅方向における第1接触部12の最短距離とし、第2接触部13の幅W7は、プローブピン10の長手方向に直交する幅方向における第2接触部13の最短距離とする。また、弾性部11の幅W8は、弾性部11の経路の延在方向に直交する幅方向における両側の帯状弾性片21、24の外面(すなわち、隣接する帯状弾性片22、23に対向する内面の弾性部11の幅方向における反対側の面)間の最短距離とする。
 以上の通り、前記プローブピン10によれば、弾性部11が、複数の帯状弾性片21、22、23、24を有し、各帯状弾性片21、22、23、24が、第1接触部12に対して第1接触部12の幅方向の一方側に配置され、その延在方向の一端部がプローブピンの長手方向に交差する第1方向Aから第1接触部12に接続された第1直線部31、32、33、34と、第2接触部13に対して第1接触部12の幅方向の一方側に配置され、その延在方向の一端部がプローブピン10の長手方向に交差する第2方向Bから第2接触部13に接続された第2直線部41、42、43、44と、第1直線部31、32、33、34の他端部および第2直線部41、42、43、44の他端部に接続された湾曲部51、52、53、54とを有している。この弾性部11において、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性を確保可能な弾性力を保持しつつ、弾性部11の経路の長さを削減しかつ弾性部11の経路の断面積を大きくできるので、第1接触部12および第2接触部13間の導通経路における電気抵抗を低減できる。
 また、各帯状弾性片21、22、23、24の第1直線部31、32、33、34の一端部と第1接触部12とが、プローブピン10の長手方向に交差する方向に延びる第1直線L1上で接続されており、各帯状弾性片21、22、23、24の第2直線部41、42、43、44の一端部と第2接触部13とが、プローブピン10の長手方向に交差する方向に延びる第2直線L2上で接続されている。これにより、各帯状弾性片21、22、23、24は、例えば、略同一の断面形状の部材が互いに隙間を空けて並列に配置されることになるので、その撓み量が略均一になる。このため、例えば、第1接点部121および第2接点部131の各々が検査対象物および検査装置に対して接触して各帯状弾性片21、22、23、24がプローブピン10の長手方向に圧縮されたときでも、各帯状弾性片21、22、23、24同士の接触を防止することができ、高い接触信頼性を確保できるプローブピン10を実現できる。
 また、第1直線L1が、第1端部211、221、231、241の第1接触部12に対する接続方向に直交する方向に延び、第2直線L2が、第2端部212、222、232、242の第2接触部13に対する接続方向に直交する方向に延びている。これにより、各帯状弾性片21、22、23、24の撓み量をより均一にすることができ、高い接触信頼性を確保できるプローブピン10をより確実に実現できる。
 また、各帯状弾性片21、22、23、24の幅W1、W2、W3、W4が、隣接する帯状弾性片21、22、23、24間の最短距離W5よりも小さくなるように構成されている。これにより、例えば、第1接点部121および第2接点部131の各々が検査対象物および検査装置に対して接触して各帯状弾性片21、22、23、24がプローブピン10の長手方向に圧縮されたときでも、各帯状弾性片21、22、23、24同士の接触を防止することができ、高い接触信頼性を確保できるプローブピン10を実現できる。
 また、第1接触部12および第2接触部13の各々の幅W6、W7が、弾性部11の幅W8よりも大きくなるように構成されている。これにより、第1接触部12および第2接触部13の電気抵抗を低減することができる。
 また、各帯状弾性片21、22、23、24の湾曲部51、52、53、54が、中心角θ1、θ2が異なる2つの湾曲部511、521、531、541、512、522、532、542を有し、2つの湾曲部511、521、531、541、512、522、532、542の曲率中心CP1、CP2が、弾性部11に対して異なる側にそれぞれ配置されている。これにより、弾性部11に発生する応力を分散することができる。
 また、前記検査治具2によれば、前記プローブピン10により、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性が高く、検査対象物および検査装置に接続した場合の接触抵抗が低い検査治具2を実現できる。
 また、前記検査ユニット1によれば、前記検査治具2により、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性が高く、検査対象物および検査装置に接続した場合の接触抵抗が低い検査ユニット1を実現できる。
 なお、前記検査ユニット1は、検査装置の一部を構成することができる。このような検査装置によれば、検査ユニット1により、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性が高く、検査対象物および検査装置に接続した場合の接触抵抗が低い検査装置を実現できる。
 第1接触部12および第2接触部13は、プローブピン10の設計等に応じて、その形状等を適宜変更できる。例えば、第1接点部121および第2接点部131の各々は、検査装置あるいは検査対象物の様々な態様に応じて、形状および位置などを適宜変更することができる。
 弾性部11は、相互に隙間を空けて配置され、第1直線部31、32、33、34、第2直線部41、42、43、44および湾曲部51、52、53、54を有する複数の帯状弾性片21、22、23、24を備えていればよい。
 例えば、各帯状弾性片21、22、23、24の第1直線部31、32、33、34の一端部と第1接触部12とは、第1直線L1以外の直線上で接続されてもよいし、全ての帯状弾性片21、22、23、24の第1直線部31、32、33、34の一端部と第1接触部12とが、同一直線上で接続されていなくてもよい。第2直線部41、42、43、44についても同様である。
 第1直線L1は、第1端部211、221、231、241の第1接触部12に対する接続方向に直交する方向に延びている場合に限らない。第2直線L2についても同様である。
 各帯状弾性片21、22、23、24の幅W1、W2、W3、W4は、隣接する帯状弾性片21、22、23、24間の最短距離W5よりも小さい場合に限らず、大きくてもよい。
 第1接触部12および第2接触部13の各々の幅W6、W7は、弾性部11の幅W8よりも大きい場合に限らず、小さくてもよい。
 湾曲部51、52、53、54は、中心角θ1、θ2が異なる2つの湾曲部511、521、531、541、512、522、532、542を有する場合に限らない。例えば、湾曲部51、52、53、54は、1つの湾曲部で構成してもよい。
 検査治具2およびベースハウジング4は、検査装置あるいは検査対象物の様々な態様に応じて、その構成を適宜変更することができる。すなわち、検査治具2およびベースハウジング4を汎用化して、検査ユニット1(ひいては検査装置)の生産性を向上させることができる。
 以上、図面を参照して本開示における種々の実施形態を詳細に説明したが、最後に、本開示の種々の態様について説明する。なお、以下の説明では、一例として、参照符号も添えて記載する。
 本開示の第1態様のプローブピン10は、
 長手方向に沿って伸縮する弾性部11と、
 前記弾性部11の前記長手方向の第1端部111に接続された板状の第1接触部12と、
 前記第1接触部12に対して直列的に配置され、前記弾性部11の前記長手方向の第2端部112に接続された板状の第2接触部13と
を備え、
 前記弾性部11が、
 相互に隙間61、62、63を空けて配置された複数の帯状弾性片21、22、23、24を有し、
 前記複数の帯状弾性片21、22、23、24の各々が、
 前記第1接触部12に対して前記第1接触部12の幅方向の一方側に配置され、前記長手方向に交差する方向に沿って延びていると共に、その延在方向の一端部が、前記第1端部111を構成しかつ前記長手方向に交差する方向から前記第1接触部12に接続された第1直線部31、32、33、34と、
 前記第2接触部13に対して前記第1接触部12の前記幅方向の前記一方側に配置され、前記長手方向に交差する方向に沿って延びていると共に、その延在方向の一端部が、前記第2端部112を構成しかつ前記長手方向に交差する方向から前記第2接触部13に接続された第2直線部41、42、43、44と、
 前記第1直線部31、32、33、34の他端部および前記第2直線部41、42、43、44の他端部に接続された湾曲部51、52、53、54と
を有する。
 第1態様のプローブピン10によれば、弾性部11により、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性を確保しつつ、第1接触部12および第2接触部13間の導通経路における電気抵抗を低減して、プローブピン10の低抵抗化を図ることができる。
 本開示の第2態様のプローブピン10は、
 前記複数の帯状弾性片21、22、23、24の各々の前記第1直線部31、32、33、34の一端部と前記第1接触部12とが、前記長手方向に交差する方向に延びる第1直線L1上で接続されており、
 前記複数の帯状弾性片21、22、23、24の各々の前記第2直線部41、42、43、44の一端部と前記第2接触部13とが、前記長手方向に交差する方向に延びる第2直線L2上で接続されている。
 第2態様のプローブピン10によれば、各帯状弾性片21、22、23、24の撓み量を均一にして、例えば、第1接点部121および第2接点部131の各々が検査対象物および検査装置に対して接触して各帯状弾性片21、22、23、24がプローブピン10の長手方向に圧縮されたときでも、各帯状弾性片21、22、23、24同士の接触を防止することができ、高い接触信頼性を確保できるプローブピン10を実現できる。
 本開示の第3態様のプローブピン10は、
 前記第1直線L1が、前記第1端部211、221、231、241の前記第1接触部12に対する接続方向に直交する方向に延び、
 前記第2直線L2が、前記第2端部212、222、232、242の前記第2接触部13に対する接続方向に直交する方向に延びている。
 第3態様のプローブピン10によれば、各帯状弾性片21、22、23、24の撓み量をより均一にすることができ、高い接触信頼性を確保できるプローブピン10をより確実に実現できる。
 本開示の第4態様のプローブピン10は、
 前記複数の帯状弾性片21、22、23、24の幅W1、W2、W3、W4が、隣接する前記複数の帯状弾性片21、22、23、24間の最短距離W5よりも小さくなるように構成されている。
 第4態様のプローブピン10によれば、例えば、第1接点部121および第2接点部131の各々が検査対象物および検査装置に対して接触して各帯状弾性片21、22、23、24がプローブピン10の長手方向に圧縮されたときでも、各帯状弾性片21、22、23、24同士の接触を防止することができ、高い接触信頼性を確保できるプローブピン10を実現できる。
 本開示の第5態様のプローブピン10は、
 前記第1接触部12および前記第2接触部13の各々の幅W6、W7が、前記弾性部11の幅W8よりも大きくなるように構成されている。
 第5態様のプローブピン10によれば、第1接触部12および第2接触部13の電気抵抗を低減することができるので、プローブピン10の低抵抗化を図ることができる。
 本開示の第6態様のプローブピン10は、
 前記複数の帯状弾性片21、22、23、24の各々の前記湾曲部51、52、53、54が、中心角θ1、θ2が異なる2つの湾曲部511、521、531、541、512、522、532、542を有し、
 前記2つの湾曲部511、521、531、541、512、522、532、542の曲率中心CP1、CP2が、前記弾性部11に対して異なる側にそれぞれ配置されている。
 第6態様のプローブピン10によれば、弾性部11に発生する応力を分散することができる。
 本開示の第7態様の検査治具2は、
 前記プローブピン10と、
 前記プローブピン10を収容可能な収容部7を有するソケット3と
を備えた。
 第7態様の検査治具2によれば、前記プローブピン10により、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性が高く、検査対象物および検査装置に接続した場合の接触抵抗が低い検査治具2を実現できる。
 本開示の第8態様の検査ユニット1は、
 前記検査治具を少なくとも1つ備えた。
 第8態様の検査ユニット1によれば、前記検査治具2により、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性が高く、検査対象物および検査装置に接続した場合の接触抵抗が低い検査ユニット1を実現できる。
 本開示の第9態様の検査装置は、
 前記検査ユニット1を少なくとも1つ備えた。
 第9態様の検査装置によれば、検査ユニット1により、検査対象物および検査装置に対する接触信頼性が高く、検査対象物および検査装置に接続した場合の接触抵抗が低い検査装置を実現できる。
 なお、前記様々な実施形態または変形例のうちの任意の実施形態または変形例を適宜組み合わせることにより、それぞれの有する効果を奏するようにすることができる。また、実施形態同士の組み合わせまたは実施例同士の組み合わせまたは実施形態と実施例との組み合わせが可能であると共に、異なる実施形態または実施例の中の特徴同士の組み合わせも可能である。
 本開示のプローブピンは、例えば、液晶パネルの検査に用いる検査治具に適用できる。
 本開示の検査治具は、例えば、液晶パネルの検査に用いる検査ユニットに適用できる。
 本開示の検査ユニットは、例えば、液晶パネルの検査装置に適用できる。
 本開示の検査装置は、例えば、液晶パネルの検査に用いることができる。
1 検査ユニット
2 検査治具
3 ソケット
4 ベースハウジング
5 第1ハウジング
6 第2ハウジング
7 収容部
10 プローブピン
11 弾性部
111 第1端部
112 第2端部
12 第1接触部
121 第1接点部
122 支持部
13 第2接触部
131 第2接点部
132 支持部
21、22、23、24 帯状弾性片
211、221、231、241 第1端部
212、222、232、242 第2端部
31、32、33、34 第1直線部
41、42、43、44 第2直線部
51、52、53、54 湾曲部
511、521、531、541 第1湾曲部
512、522、532、542 第2湾曲部
513、523、533、543 接続部
61、62、63 隙間
A 第1方向
B 第2方向
L1 第1直線
L2 第2直線
θ1、θ2 中心角
W1~W4、W6~W8 幅
W5 最短距離
CP1、CP2 曲率中心

Claims (9)

  1.  長手方向に沿って伸縮する弾性部と、
     前記弾性部の前記長手方向の第1端部に接続された板状の第1接触部と、
     前記第1接触部に対して直列的に配置され、前記弾性部の前記長手方向の第2端部に接続された板状の第2接触部と
    を備え、
     前記弾性部が、
     相互に隙間を空けて配置された複数の帯状弾性片を有し、
     前記複数の帯状弾性片の各々が、
     前記第1接触部に対して前記第1接触部の幅方向の一方側に配置され、前記長手方向に交差する方向に沿って延びていると共に、その延在方向の一端部が、前記第1端部を構成しかつ前記長手方向に交差する方向から前記第1接触部に接続された第1直線部と、
     前記第2接触部に対して前記第1接触部の前記幅方向の前記一方側に配置され、前記長手方向に交差する方向に沿って延びていると共に、その延在方向の一端部が、前記第2端部を構成しかつ前記長手方向に交差する方向から前記第2接触部に接続された第2直線部と、
     前記第1直線部の他端部および前記第2直線部の他端部に接続された湾曲部と
    を有する、プローブピン。
  2.  前記複数の帯状弾性片の各々の前記第1直線部の一端部と前記第1接触部とが、前記長手方向に交差する方向に延びる第1直線上で接続されており、
     前記複数の帯状弾性片の各々の前記第2直線部の一端部と前記第2接触部とが、前記長手方向に交差する方向に延びる第2直線上で接続されている、請求項1のプローブピン。
  3.  前記第1直線が、前記第1端部の前記第1接触部に対する接続方向に直交する方向に延び、
     前記第2直線が、前記第2端部の前記第2接触部に対する接続方向に直交する方向に延びている、請求項2のプローブピン。
  4.  前記複数の帯状弾性片の幅が、隣接する前記複数の帯状弾性片間の最短距離よりも小さくなるように構成されている、請求項1から3のいずれか1つのプローブピン。
  5.  前記第1接触部および前記第2接触部の各々の幅が、前記弾性部の幅よりも大きくなるように構成されている、請求項1から4のいずれか1つのプローブピン。
  6.  前記複数の帯状弾性片の各々の前記湾曲部が、中心角が異なる2つの湾曲部を有し、
     前記2つの湾曲部の曲率中心が、前記弾性部に対して異なる側にそれぞれ配置されている、請求項1から5のいずれか1つのプローブピン。
  7.  請求項1から6のいずれか1つのプローブピンと、
     前記プローブピンを収容可能な収容部を有するソケットと
    を備えた検査治具。
  8.  請求項7の検査治具を少なくとも1つ備えた、検査ユニット。
  9.  請求項8の検査ユニットを少なくとも1つ備えた検査装置。
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