JP6806269B2 - プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置 - Google Patents
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Description
長手方向に沿って伸縮する弾性部と、
前記弾性部の前記長手方向の第1端部に接続された板状の第1接触部と、
前記第1接触部に対して直列的に配置され、前記弾性部の前記長手方向の第2端部に接続された板状の第2接触部と
を備え、
前記弾性部が、
相互に隙間を空けて配置された複数の帯状弾性片を有し、
前記複数の帯状弾性片の各々が、
前記第1接触部に対して前記第1接触部の幅方向の一方側に配置され、前記長手方向に交差する方向に沿って延びていると共に、その延在方向の一端部が、前記第1端部を構成しかつ前記長手方向に交差する方向から前記第1接触部に接続された第1直線部と、
前記第2接触部に対して前記第1接触部の前記幅方向の前記一方側に配置され、前記長手方向に交差する方向に沿って延びていると共に、その延在方向の一端部が、前記第2端部を構成しかつ前記長手方向に交差する方向から前記第2接触部に接続された第2直線部と、
前記第1直線部の他端部および前記第2直線部の他端部に接続された湾曲部と
を有する。
前記プローブピンと、
前記プローブピンを収容可能な収容部を有するソケットと
を備える。
前記検査治具を少なくとも1つ備えた。
前記検査ユニットを少なくとも1つ備えた。
長手方向に沿って伸縮する弾性部11と、
前記弾性部11の前記長手方向の第1端部111に接続された板状の第1接触部12と、
前記第1接触部12に対して直列的に配置され、前記弾性部11の前記長手方向の第2端部112に接続された板状の第2接触部13と
を備え、
前記弾性部11が、
相互に隙間61、62、63を空けて配置された複数の帯状弾性片21、22、23、24を有し、
前記複数の帯状弾性片21、22、23、24の各々が、
前記第1接触部12に対して前記第1接触部12の幅方向の一方側に配置され、前記長手方向に交差する方向に沿って延びていると共に、その延在方向の一端部が、前記第1端部111を構成しかつ前記長手方向に交差する方向から前記第1接触部12に接続された第1直線部31、32、33、34と、
前記第2接触部13に対して前記第1接触部12の前記幅方向の前記一方側に配置され、前記長手方向に交差する方向に沿って延びていると共に、その延在方向の一端部が、前記第2端部112を構成しかつ前記長手方向に交差する方向から前記第2接触部13に接続された第2直線部41、42、43、44と、
前記第1直線部31、32、33、34の他端部および前記第2直線部41、42、43、44の他端部に接続された湾曲部51、52、53、54と
を有する。
前記複数の帯状弾性片21、22、23、24の各々の前記第1直線部31、32、33、34の一端部と前記第1接触部12とが、前記長手方向に交差する方向に延びる第1直線L1上で接続されており、
前記複数の帯状弾性片21、22、23、24の各々の前記第2直線部41、42、43、44の一端部と前記第2接触部13とが、前記長手方向に交差する方向に延びる第2直線L2上で接続されている。
前記第1直線L1が、前記第1端部211、221、231、241の前記第1接触部12に対する接続方向に直交する方向に延び、
前記第2直線L2が、前記第2端部212、222、232、242の前記第2接触部13に対する接続方向に直交する方向に延びている。
前記複数の帯状弾性片21、22、23、24の幅W1、W2、W3、W4が、隣接する前記複数の帯状弾性片21、22、23、24間の最短距離W5よりも小さくなるように構成されている。
前記第1接触部12および前記第2接触部13の各々の幅W6、W7が、前記弾性部11の幅W8よりも大きくなるように構成されている。
前記複数の帯状弾性片21、22、23、24の各々の前記湾曲部51、52、53、54が、中心角θ1、θ2が異なる2つの湾曲部511、521、531、541、512、522、532、542を有し、
前記2つの湾曲部511、521、531、541、512、522、532、542の曲率中心CP1、CP2が、前記弾性部11に対して異なる側にそれぞれ配置されている。
前記プローブピン10と、
前記プローブピン10を収容可能な収容部7を有するソケット3と
を備えた。
前記検査治具を少なくとも1つ備えた。
前記検査ユニット1を少なくとも1つ備えた。
2 検査治具
3 ソケット
4 ベースハウジング
5 第1ハウジング
6 第2ハウジング
7 収容部
10 プローブピン
11 弾性部
111 第1端部
112 第2端部
12 第1接触部
121 第1接点部
122 支持部
13 第2接触部
131 第2接点部
132 支持部
21、22、23、24 帯状弾性片
211、221、231、241 第1端部
212、222、232、242 第2端部
31、32、33、34 第1直線部
41、42、43、44 第2直線部
51、52、53、54 湾曲部
511、521、531、541 第1湾曲部
512、522、532、542 第2湾曲部
513、523、533、543 接続部
61、62、63 隙間
A 第1方向
B 第2方向
L1 第1直線
L2 第2直線
θ1、θ2 中心角
W1〜W4、W6〜W8 幅
W5 最短距離
CP1、CP2 曲率中心
Claims (10)
- 長手方向に沿って伸縮する弾性部と、
前記弾性部の前記長手方向の第1端部に接続された板状の第1接触部と、
前記第1接触部に対して直列的に配置され、前記弾性部の前記長手方向の第2端部に接続された板状の第2接触部と
を備え、
前記弾性部が、
前記第1接触部に対して前記第1接触部の幅方向の一方側に配置され、かつ、前記第2接触部に対して前記第1接触部の前記幅方向の前記一方側に配置されていると共に、相互に隙間を空けて配置された複数の帯状弾性片を有し、
前記複数の帯状弾性片の各々が、
前記長手方向に交差する方向に沿ってそれぞれ延びている第1直線部と第2直線部とを有し、
前記第1直線部の延在方向の一端部が、前記第1端部を構成すると共に、
前記第2直線部の延在方向の一端部が、前記第2端部を構成し、
前記複数の帯状弾性片の各々の前記第1直線部の前記一端部が、前記長手方向に交差する方向に延びる第1直線上に配置され、
前記第1直線部が、前記第1直線に対して直交する方向に延びており、
前記第1接触部は、前記長手方向における前記第1端部とは反対側の端部に接点部が設けられ、前記接点部は、前記長手方向に直交する方向において、前記第1端部よりも前記弾性部から離れた位置のみに配置されている、プローブピン。 - 長手方向に沿って伸縮する弾性部と、
前記弾性部の前記長手方向の第1端部に接続された板状の第1接触部と、
前記第1接触部に対して直列的に配置され、前記弾性部の前記長手方向の第2端部に接続された板状の第2接触部と
を備え、
前記弾性部が、
前記第1接触部に対して前記第1接触部の幅方向の一方側に配置され、かつ、前記第2接触部に対して前記第1接触部の前記幅方向の前記一方側に配置されていると共に、相互に隙間を空けて配置された複数の帯状弾性片を有し、
前記複数の帯状弾性片の各々が、
前記長手方向に交差する方向に沿ってそれぞれ延びている第1直線部と第2直線部とを有し、
前記第1直線部の延在方向の一端部が、前記第1端部を構成すると共に、
前記第2直線部の延在方向の一端部が、前記第2端部を構成し、
前記複数の帯状弾性片の各々の前記第2直線部の前記一端部が、第2直線上に配置され、
前記第2直線部が、前記第2直線に対して直交する方向に延びており、
前記第2接触部は、前記長手方向における前記第2端部とは反対側の端部に接点部が設けられ、前記接点部は、前記長手方向に直交する方向において、前記第2端部よりも前記弾性部から離れた位置のみに配置されている、プローブピン。 - 前記第2直線が、前記長手方向に沿って延びている、請求項2のプローブピン。
- 前記複数の帯状弾性片の各々の前記第1直線部の延在方向の他端部と、
前記複数の帯状弾性片の各々の前記第2直線部の延在方向の他端部と
に接続された湾曲部を有する、請求項1から3のいずれか1つのプローブピン。 - 前記複数の帯状弾性片の各々の前記湾曲部が、中心角が異なる2つの湾曲部を有し、
前記2つの湾曲部の曲率中心が、前記弾性部に対して異なる側にそれぞれ配置されている、請求項4のプローブピン。 - 前記第1接触部が、前記第1接触部に対して前記弾性部と同じ側に配置され、かつ、前記長手方向に交差する方向に突出する第1支持部と、
前記第2接触部が、前記第2接触部に対して前記弾性部と同じ側に配置され、かつ、前記長手方向に交差する方向に突出する第2支持部と
をさらに備え、
ソケットの収容部に収容可能なプローブピンであって、
前記収容部に前記プローブピンを収容したときに、前記第1支持部と前記第2支持部とは、前記収容部を構成する前記ソケットの内面に当接するように構成されている、請求項4のプローブピン。 - 前記第1支持部の突出方向の長さが、前記第1接触部から前記突出方向において前記第1接触部から最も離れた部分までの前記弾性部の前記突出方向の長さよりも短く、かつ、
前記第2支持部の突出方向の長さが、前記第2接触部から前記突出方向において前記第2接触部から最も離れた部分までの前記弾性部の前記突出方向の長さよりも短い、請求項6のプローブピン。 - 請求項1から7のいずれか1つのプローブピンと、
前記プローブピンを収容可能な収容部を有するソケットと
を備えた検査治具。 - 請求項8の検査治具を少なくとも1つ備えた、検査ユニット。
- 請求項9の検査ユニットを少なくとも1つ備えた検査装置。
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Families Citing this family (27)
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JP2021028603A (ja) * | 2019-08-09 | 2021-02-25 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接触子及び電気的接続装置 |
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CN112526178A (zh) * | 2019-09-17 | 2021-03-19 | 吴俊杰 | 探针及测试装置 |
CN110658364A (zh) * | 2019-10-23 | 2020-01-07 | 柏成文 | 一种测试针 |
KR102086391B1 (ko) * | 2019-11-05 | 2020-03-09 | 주식회사 플라이업 | 회로 검사장치 |
KR102086390B1 (ko) * | 2019-11-05 | 2020-03-09 | 주식회사 플라이업 | 프로브 핀 |
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KR102429358B1 (ko) * | 2020-01-16 | 2022-08-04 | 주식회사 플라이업 | 프로브 핀 및 이를 구비하는 회로 검사장치 |
JP2021128055A (ja) * | 2020-02-13 | 2021-09-02 | オムロン株式会社 | 検査ソケット |
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CN111579831B (zh) * | 2020-05-18 | 2023-03-14 | 武汉精毅通电子技术有限公司 | 一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器 |
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CN111579832A (zh) * | 2020-05-18 | 2020-08-25 | 武汉精毅通电子技术有限公司 | 一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器 |
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KR102256652B1 (ko) * | 2020-11-26 | 2021-05-27 | 주식회사 세인블루텍 | 프로브 핀 및 이를 이용한 검사용 소켓 |
KR102606892B1 (ko) * | 2021-06-15 | 2023-11-29 | (주)포인트엔지니어링 | 검사 소켓용 지지 플레이트, 검사 소켓용 소켓핀 및 이들을 구비하는 검사 소켓 |
KR102602053B1 (ko) * | 2021-06-16 | 2023-11-14 | 주식회사 메가터치 | 프로브 핀 및 그 프로브 핀을 구비한 소켓 |
KR102420114B1 (ko) * | 2022-05-23 | 2022-07-11 | 한상훈 | 핀블록 |
KR20240119472A (ko) | 2023-01-30 | 2024-08-06 | (주)화이컴 | 프로브 메거진 바디, 분리 지그 및 이를 포함하는 프로브 카드 제조 방법 |
KR20240136144A (ko) * | 2023-03-06 | 2024-09-13 | 퀄맥스 주식회사 | 블레이드 핀 |
KR102573867B1 (ko) * | 2023-07-03 | 2023-09-04 | 주식회사 위드웨이브 | 프로브 장치 |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4341433A (en) * | 1979-05-14 | 1982-07-27 | Amp Incorporated | Active device substrate connector |
JPS60113991U (ja) * | 1984-01-06 | 1985-08-01 | 日本電気株式会社 | Icソケツト |
US5917707A (en) * | 1993-11-16 | 1999-06-29 | Formfactor, Inc. | Flexible contact structure with an electrically conductive shell |
JPH11142433A (ja) * | 1997-11-10 | 1999-05-28 | Mitsubishi Electric Corp | 垂直針型プローブカード用のプローブ針とその製造方法 |
JP2001324515A (ja) * | 2000-05-17 | 2001-11-22 | Suncall Corp | 電子部品検査用コンタクトプローブ装置 |
JP2002134202A (ja) * | 2000-10-27 | 2002-05-10 | Otax Co Ltd | 電子部品用ソケット |
JP2002162415A (ja) * | 2000-11-28 | 2002-06-07 | Japan Electronic Materials Corp | プローブカード用プローブ |
US6967492B2 (en) * | 2003-11-26 | 2005-11-22 | Asm Assembly Automation Ltd. | Spring contact probe device for electrical testing |
JP5005195B2 (ja) | 2005-07-13 | 2012-08-22 | 東京エレクトロン株式会社 | プローブカード製造方法 |
JP4781938B2 (ja) * | 2006-08-18 | 2011-09-28 | 日本発條株式会社 | 導電性接触子ユニット |
JP4842733B2 (ja) * | 2006-08-18 | 2011-12-21 | 日本発條株式会社 | 導電性接触子および導電性接触子ユニット |
CN101315391B (zh) * | 2007-05-28 | 2011-11-23 | 旺矽科技股份有限公司 | 拉伸式折叠探针 |
KR100988814B1 (ko) * | 2008-05-23 | 2010-10-20 | 주식회사 코리아 인스트루먼트 | 프로브 카드용 프로브 및 그 제조 방법 |
KR101101239B1 (ko) * | 2009-09-02 | 2012-01-04 | 김정안 | 반도체 디바이스 테스트용 프로브 카드 |
JP2011191187A (ja) * | 2010-03-15 | 2011-09-29 | Nhk Spring Co Ltd | コンタクトプローブおよびプローブユニット |
JP4883215B1 (ja) * | 2010-10-29 | 2012-02-22 | オムロン株式会社 | 端子およびこれを用いたコネクタ |
CN102478592A (zh) * | 2010-11-30 | 2012-05-30 | 励威电子股份有限公司 | 垂直式弹性探针结构 |
JP2013061189A (ja) * | 2011-09-12 | 2013-04-04 | Nhk Spring Co Ltd | コンタクトプローブおよびプローブユニット |
JP5737375B2 (ja) * | 2013-11-29 | 2015-06-17 | オムロン株式会社 | コネクタ |
JP2016125943A (ja) * | 2015-01-06 | 2016-07-11 | オムロン株式会社 | ケルビンプローブ、および、これを備えたケルビン検査ユニット |
KR101813006B1 (ko) * | 2016-01-04 | 2017-12-28 | 주식회사 아이에스시 | 반도체 테스트용 콘택터 |
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