JP4842733B2 - 導電性接触子および導電性接触子ユニット - Google Patents
導電性接触子および導電性接触子ユニット Download PDFInfo
- Publication number
- JP4842733B2 JP4842733B2 JP2006223385A JP2006223385A JP4842733B2 JP 4842733 B2 JP4842733 B2 JP 4842733B2 JP 2006223385 A JP2006223385 A JP 2006223385A JP 2006223385 A JP2006223385 A JP 2006223385A JP 4842733 B2 JP4842733 B2 JP 4842733B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- conductive contact
- conductive
- curved
- elastic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
- G01R1/06722—Spring-loaded
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Geometry (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Description
2、5 導電性接触子
3 導電性接触子ホルダ
3a 上面部
3b、3c 側面部
3d 底面部
4 棒状部材
21、51 第1接触部
22、52 第2接触部
23、53 弾性部
23a−1、23a−2、・・・、23a−n、53a−i 直線部
23b−1、23b−2、・・・、23b−(n+1)、53b−j 湾曲部
24、54 第1接続部
25、55 開口部
26、56 第2接続部
31 保持部
31a 第1ガイド溝
31b 第2ガイド溝
32 固着用孔部
100 回路基板
101 固定部材
200 検査対象
L1 直線(基準直線)
L2、L3 直線(第2の直線)
P、Q 先端
Rj 外径
ti、tk、Tj、Tk 線径
Δ1 オフセット量
δ1、h 突出量
Claims (10)
- 板状をなし、検査用の信号を出力する回路構造と検査対象とを電気的に接続する導電性接触子であって、
当該導電性接触子の長手方向の端部に位置し、前記回路構造と接触する第1接触部と、
前記長手方向と直交するとともに当該導電性接触子の幅方向と平行な方向に延伸する複数の直線部および隣接する前記直線部同士を接続して円弧状に湾曲する複数の湾曲部を有し、前記長手方向の中間部に位置し、前記長手方向に伸縮可能な弾性部と、
前記長手方向の前記第1接触部とは異なる端部に位置し、前記検査対象と接触する先端が前記弾性部の幅方向の縁端部よりも前記弾性部の幅方向の中心軸から遠ざかる方向に突出する第2接触部と、
を備え、
前記複数の湾曲部のうち前記第2接触部が突出している側で湾曲する前記湾曲部の外縁がなす円弧を含む円の直径である前記湾曲部の外径は、前記第2接触部の先端に近いほど小さく、
前記複数の湾曲部のうち前記第2接触部が突出している側と反対側で湾曲する前記湾曲部の外径は、前記第2接触部の先端に近いほど大きいことを特徴とする導電性接触子。 - 前記複数の湾曲部のうち前記第2接触部が突出している側で湾曲する前記湾曲部の外径は、前記第1および第2接触部の先端同士を結ぶ直線を基準直線とし、この基準直線を用いて各湾曲部に対して定められる第1基準量に応じて線形に変化し、
前記複数の湾曲部のうち前記第2接触部が突出している側と反対側で湾曲する前記湾曲部の外径は、前記基準直線を用いて各湾曲部に対して定められる第2基準量に応じて線形に変化することを特徴とする請求項1記載の導電性接触子。 - 前記直線部の線径は、前記第1接触部の先端から遠いほど大きいことを特徴とする請求項1または2記載の導電性接触子。
- 前記直線部の線径は、前記第1接触部の先端または前記第2接触部の先端から前記直線部の中心までの距離に応じて線形に変化することを特徴とする請求項3記載の導電性接触子。
- 前記第1接触部および前記弾性部を接続する第1接続部と、
前記弾性部および前記第2接触部を接続し、当該導電性接触子の板厚方向に貫通する開口部が形成された第2接続部と、
をさらに備え、
前記第1接続部、前記第2接続部、および前記弾性部がそれぞれ有する前記幅方向の長さが互いに等しいことを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項記載の導電性接触子。 - 前記第1接触部および前記弾性部を接続する第1接続部と、
前記弾性部および前記第2接触部を接続し、当該導電性接触子の板厚方向に貫通する開口部が形成された第2接続部と、
をさらに備え、
前記弾性部の幅方向の縁端部であって前記第2接触部が突出している側と反対側の縁端部が、前記第1および第2接続部の幅方向の縁端部であって前記第2接触部が突出している側と反対側の縁端部よりも前記弾性部の幅方向の中心軸に近づく方向へ退避していることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項記載の導電性接触子。 - 前記弾性部の幅方向の縁端部であって前記第2接触部が突出している側の縁端部が、前記第1および第2接続部の幅方向の縁端部であって前記第2接触部が突出している側の縁端部よりも前記弾性部の幅方向の中心軸に近づく方向へ退避していることを特徴とする請求項6記載の導電性接触子。
- 請求項1〜4のいずれか一項に記載した複数の導電性接触子と、
前記導電性接触子の長手方向の一方の縁端部であって前記第2接触部が突出している側の縁端部を嵌合保持する複数の第1ガイド溝、および前記複数の第1ガイド溝とそれぞれ対向して位置し、対向する前記第1ガイド溝に嵌め込まれた前記導電性接触子の他方の縁端部を嵌合保持する複数の第2ガイド溝を有する導電性接触子ホルダと、
前記導電性接触子ホルダに固着された棒状部材と、
を備え、
前記導電性接触子は、
前記第1接触部および前記弾性部を接続する第1接続部と、
前記弾性部および前記第2接触部を接続し、当該導電性接触子の板厚方向に貫通する開口部が形成された第2接続部と、
をさらに有し、
前記棒状部材は、
前記複数の導電性接触子の各々が有する前記第2接続部に形成された前記開口部を貫通することを特徴とする導電性接触子ユニット。 - 前記棒状部材の長手方向に垂直な断面積は、前記導電性接触子に形成された前記開口部の面積よりも小さいことを特徴とする請求項8記載の導電性接触子ユニット。
- 前記第2接触部の先端は、前記導電性接触子ホルダの外側面であって内側に前記第1ガイド溝が形成された部分の外側面よりも当該外側面の法線方向に突出していることを特徴とする請求項8または9記載の導電性接触子ユニット。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006223385A JP4842733B2 (ja) | 2006-08-18 | 2006-08-18 | 導電性接触子および導電性接触子ユニット |
PCT/JP2007/065658 WO2008020564A1 (fr) | 2006-08-18 | 2007-08-09 | Contacteur conducteur et unité contacteur conducteur |
KR20097002984A KR101000426B1 (ko) | 2006-08-18 | 2007-08-09 | 도전성 접촉자 및 도전성 접촉자 유닛 |
CN200780030708XA CN101506666B (zh) | 2006-08-18 | 2007-08-09 | 导电性接触件及导电性接触件单元 |
TW096130289A TWI359274B (en) | 2006-08-18 | 2007-08-16 | Electrically conductive contactor and electrically |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006223385A JP4842733B2 (ja) | 2006-08-18 | 2006-08-18 | 導電性接触子および導電性接触子ユニット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008046044A JP2008046044A (ja) | 2008-02-28 |
JP4842733B2 true JP4842733B2 (ja) | 2011-12-21 |
Family
ID=39082089
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006223385A Expired - Fee Related JP4842733B2 (ja) | 2006-08-18 | 2006-08-18 | 導電性接触子および導電性接触子ユニット |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4842733B2 (ja) |
KR (1) | KR101000426B1 (ja) |
CN (1) | CN101506666B (ja) |
TW (1) | TWI359274B (ja) |
WO (1) | WO2008020564A1 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105719730B (zh) * | 2016-02-05 | 2017-09-22 | 燕山大学 | 一种内嵌直线段式马蹄形柔性电子器件交联导体结构 |
KR101887973B1 (ko) * | 2017-04-07 | 2018-08-13 | 이근주 | 프로브핀의 분리가 용이한 엘이디 검사용 홀더블럭 |
WO2019116512A1 (ja) * | 2017-12-14 | 2019-06-20 | オムロン株式会社 | ソケット、検査治具、検査ユニットおよび検査装置 |
JP6908133B2 (ja) * | 2018-01-11 | 2021-07-21 | オムロン株式会社 | プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置 |
CN112904057B (zh) * | 2018-01-11 | 2022-06-07 | 欧姆龙株式会社 | 探针、检查工具、检查单元和检查装置 |
JP2020180889A (ja) * | 2019-04-25 | 2020-11-05 | オムロン株式会社 | プローブピン、検査治具および検査ユニット |
KR102086390B1 (ko) * | 2019-11-05 | 2020-03-09 | 주식회사 플라이업 | 프로브 핀 |
CN111562412B (zh) * | 2019-11-05 | 2021-03-16 | 起翔有限公司 | 探针及具备此的电路检查装置 |
KR102086391B1 (ko) * | 2019-11-05 | 2020-03-09 | 주식회사 플라이업 | 회로 검사장치 |
KR102331204B1 (ko) * | 2020-06-12 | 2021-11-25 | 가오 티엔-싱 | 전기 시험용 전기 전도 장치 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3410093A1 (de) * | 1984-03-20 | 1985-10-03 | Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg | Federkontaktstift und verfahren zu seiner herstellung |
JPH11133060A (ja) * | 1997-10-31 | 1999-05-21 | Tani Denki Kogyo Kk | テスト用端子 |
JP3773396B2 (ja) | 2000-06-01 | 2006-05-10 | 住友電気工業株式会社 | コンタクトプローブおよびその製造方法 |
JP2004037145A (ja) | 2002-07-01 | 2004-02-05 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ及びこれを用いた電気的接続装置 |
JP4905872B2 (ja) * | 2005-02-18 | 2012-03-28 | 日本発條株式会社 | 導電性接触子ユニット |
JP4884753B2 (ja) * | 2005-11-22 | 2012-02-29 | 日本発條株式会社 | 導電性接触子ユニットおよび導電性接触子 |
JP4907191B2 (ja) * | 2006-02-17 | 2012-03-28 | 日本発條株式会社 | 導電性接触子ユニット |
-
2006
- 2006-08-18 JP JP2006223385A patent/JP4842733B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-08-09 WO PCT/JP2007/065658 patent/WO2008020564A1/ja active Application Filing
- 2007-08-09 KR KR20097002984A patent/KR101000426B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2007-08-09 CN CN200780030708XA patent/CN101506666B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2007-08-16 TW TW096130289A patent/TWI359274B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008046044A (ja) | 2008-02-28 |
TWI359274B (en) | 2012-03-01 |
KR101000426B1 (ko) | 2010-12-13 |
CN101506666A (zh) | 2009-08-12 |
TW200821584A (en) | 2008-05-16 |
WO2008020564A1 (fr) | 2008-02-21 |
CN101506666B (zh) | 2012-06-20 |
KR20090029838A (ko) | 2009-03-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4842733B2 (ja) | 導電性接触子および導電性接触子ユニット | |
JP4884753B2 (ja) | 導電性接触子ユニットおよび導電性接触子 | |
JP4907191B2 (ja) | 導電性接触子ユニット | |
JP6367249B2 (ja) | プローブユニット | |
US7868635B2 (en) | Probe | |
KR101013170B1 (ko) | 도전성 접촉자 유닛 | |
JP2008032666A (ja) | 基板検査用治具および基板検査治具の製造方法 | |
JP2010156595A (ja) | プローブユニット | |
JP2007139712A (ja) | プローブホルダおよびプローブユニット | |
JPWO2008133089A1 (ja) | 導電性接触子ユニット | |
JP2008275488A (ja) | 導電接触ピンおよびピン保持具、電気部品検査装置ならびに電気部品の製造方法 | |
JP5179347B2 (ja) | 導電性接触子ユニット | |
JP2007127488A (ja) | プローブカード | |
JP4781938B2 (ja) | 導電性接触子ユニット | |
KR20220015956A (ko) | 검사 지그 및 검사 장치 | |
JP5353968B2 (ja) | 基板検査用治具 | |
JP7516962B2 (ja) | 検査治具、及び検査装置 | |
JP5176368B2 (ja) | 基板検査装置 | |
JP2004093468A (ja) | インターポーザ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090402 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110705 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110831 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111004 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111006 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141014 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |