WO2018042931A1 - プローブピン - Google Patents

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WO2018042931A1
WO2018042931A1 PCT/JP2017/026261 JP2017026261W WO2018042931A1 WO 2018042931 A1 WO2018042931 A1 WO 2018042931A1 JP 2017026261 W JP2017026261 W JP 2017026261W WO 2018042931 A1 WO2018042931 A1 WO 2018042931A1
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WO
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plunger
coil spring
contact portion
probe pin
pair
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Application number
PCT/JP2017/026261
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English (en)
French (fr)
Inventor
高盛　恵
Original Assignee
オムロン株式会社
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes

Definitions

  • the present invention relates to a probe pin.
  • a continuity test and an operation characteristic test are generally performed in the manufacturing process.
  • probe pins are used to connect the inspection device with an electrode portion such as an FPC contact electrode or a mounted board-to-board connector for connection to a main board installed in an electronic component module. Is done.
  • probe pins include those described in Patent Document 1, for example.
  • the probe pin includes a coil spring, and a first plunger and a second plunger which are connected inside the coil spring and are slidable relative to each other.
  • an object of the present invention is to provide a probe pin that can be miniaturized.
  • the probe pin of one embodiment of the present invention is A coil spring that expands and contracts along the center line; A first main body portion that penetrates the coil spring along the center line and at least both ends of the coil spring are exposed to the outside when the coil spring contracts; and one end portion of the first main body portion.
  • a first plunger having a retaining portion for retaining and retaining;
  • a second body portion extending along the center line and disposed in series with the first body portion of the first plunger, and provided at one end of the second body portion and the first of the coil spring.
  • a second contact portion that contacts the first contact portion of the first plunger when the coil spring contracts and contacts the end portion on the side close to the contact portion, and at least when the coil spring contracts;
  • a second plunger having a second contact portion provided at the other end portion of the second main body portion and electrically connected to the first contact portion of the first plunger;
  • the first plunger penetrates the coil spring along the center line, and at least both ends of the first plunger are exposed to the outside of the coil spring when the coil spring contracts; And a second body having a first contact portion provided at one end of the first body portion, wherein the second plunger extends along the center line and is arranged in series with the first body portion of the first plunger. And the first end of the second main body and the end close to the first contact portion of the coil spring to contact and hold the coil spring, and at least when the coil spring contracts, And a second contact portion that contacts the first contact portion of one plunger. That is, since the first plunger and the second plunger are configured to be connected outside the coil spring, the coil spring is smaller than the probe pin in which the first plunger and the second plunger are connected inside the coil spring.
  • the probe pin can be downsized.
  • inspection unit which accommodated the probe pin of 1st Embodiment of this invention.
  • the disassembled perspective view of the probe pin of FIG. The enlarged view of the probe pin of FIG. Sectional drawing along the VV line of FIG. 1 which accommodated the probe pin of FIG. 2 of a reset state. Sectional drawing along the VV line of FIG. 1 which accommodated the probe pin of FIG. 2 of the operation state. Sectional drawing along the VII-VII line of FIG. 5 of the housing
  • FIG. 5 Sectional drawing along the IX-IX line of FIG. 5 of the housing
  • FIG. 5 is a cross-sectional view taken along line VV in FIG. 1 showing another example of the probe pin in FIG. 2.
  • the probe pin 10 according to the first embodiment of the present invention is used in a state of being accommodated in a housing 2 and constitutes an inspection unit 1 together with the housing 2.
  • the inspection unit 1 accommodates three probe pins 10.
  • Each probe pin 10 includes a coil spring 20, a first plunger 30, and a second plunger 40 as shown in FIG.
  • Each of the 1st plunger 30 and the 2nd plunger 40 is formed, for example by the electroforming method, and has electroconductivity. Further, each of the first plunger 30 and the second plunger 40 is formed in an elongated thin plate shape, each plate surface is orthogonal, and is disposed so as to be relatively slidable along the center line CL of the coil spring 20. ing.
  • the coil spring 20 is configured to expand and contract along its center line CL.
  • the first plunger 30 is provided on the elongated plate-like first main body portion 31 and the upper end portion of the first main body portion 31 (that is, the upper end portion in FIG. 3).
  • the first contact portion 32 of the portion 31 and the retaining contact portion 34 provided near the first contact portion 33 in the middle of the first contact portion 33.
  • the first main body 31 penetrates the coil spring 20 along the center line CL of the coil spring 20, and both end portions thereof are exposed to the outside of the coil spring 20.
  • the upper end portion of the first main body 31 forms a first contact portion 32 by chamfering both corners in the width direction of the plate surface.
  • the lower end portion of the first main body portion 31 protrudes in a substantially triangular shape in the plan view and constitutes a first contact portion 33.
  • the retaining holder 34 protrudes in the lateral direction from both side surfaces extending in the longitudinal direction of the first main body 31.
  • Each retaining member 34 comes into contact with the end portion 21 of the coil spring 20 on the side close to the first contact portion 33 and retains the coil spring 20. Further, the retaining holder 34 plays a role of stopping the first plunger 30 against the housing 10.
  • the width W1 (shown in FIG. 3) of the retaining holder 34 of the first plunger 30 is configured to be equal to or smaller than the outer diameter of the coil spring 20 and larger than the inner diameter of the coil spring 20. Has been.
  • the second plunger 40 includes an elongated plate-like second main body portion 41, a second contact portion 42 provided at the lower end portion of the second main body portion 41, and the upper end of the second main body portion 41. And a second contact part 43 provided in the part.
  • the second main body portion 41 extends along the center line CL of the coil spring 20 and is arranged in series with the first main body portion 31 of the first plunger 30.
  • the length of the second body portion 41 in the longitudinal direction is shorter than the first body portion 31 of the first plunger 30.
  • a pair of leg portions 44 and 45 are provided at the lower end portion of the second main body portion 41 to constitute a second contact portion 42.
  • the upper end portion of the second main body portion 41 protrudes in a substantially V shape in a plan view, and constitutes a second contact portion 43.
  • the second contact portion 42 includes a pair of leg portions 44 that extend downward from the lower end portion of the second main body portion 41 along the center line CL of the coil spring 20 and can be bent in directions away from each other. 45.
  • the pair of leg portions 44 and 45 are configured such that the distance L0 between their outer surfaces is larger than the width W2 of the second main body portion 41.
  • the distance L0 between the outer surfaces of the pair of leg portions 44 and 45 is configured to be the same as or smaller than the outer diameter of the coil spring 20 and larger than the inner diameter of the coil spring 20.
  • a pair of projecting portions 441 and 451 projecting in directions approaching each other are provided on the opposing surfaces of the tip portions of the pair of leg portions 44 and 45.
  • the pair of projecting portions 441 and 451 are chamfered and curved in an arc shape, and the shortest distance L1 between the opposing surfaces in a state where no external force acts on the pair of leg portions 44 and 45 is the first. It is provided so as to be equal to the plate thickness W3 of the first plunger 30 or smaller than the plate thickness W3 of the first plunger 30. Thereby, the 1st contact part 32 of the 1st plunger 30 is clamped by the pair of protrusion parts 441 and 451 of a pair of leg parts 44 and 45 so that sliding is possible on both the front and back of a board surface.
  • recesses 443 and 453 disposed adjacent to the protrusions 441 and 451 on the second main body 41 side are provided on the opposing surfaces of the tip portions of the pair of leg portions 44 and 45. It has been. By providing the recesses 443 and 453, the pair of projecting portions 441 and 451 at the distal ends of the pair of leg portions 44 and 45 are easily bent.
  • the pair of leg portions 44 and 45 have distances L2 and L3 in the vicinity of the second body portion 41 side excluding a portion where the projecting portions 441 and 451 are provided, so that the first plunger 30
  • the distance between the opposing surfaces of the pair of projecting portions 441 and 451 in a state where the one contact portion 32 is sandwiched, that is, the plate thickness W3 of the first plunger 30 is configured to be larger.
  • flat contact surfaces 442 and 452 are provided on the distal end surfaces of the distal ends of the pair of leg portions 44 and 45, respectively. At least one of the contact surfaces 442 and 452 is in contact with the end 22 of the coil spring 20 on the side close to the first contact portion 32 of the first plunger 30, and the coil together with the retaining member 34 of the first plunger 30.
  • the spring 20 is in a position for retaining it.
  • the contact portion 32 is exposed from the other end portion 22 of the coil spring 20 with the lower end portion 21 in contact with the retaining holder 34 of the main body portion 31 of the first plunger 30. It has such a natural length. That is, even when the coil spring 20 is not contracted, the coil spring 20 is positioned between the contact retaining surfaces 442 and 452 of the pair of leg portions 44 and 45 of the first plunger 30 and the pair of leg portions 44 and 45 of the second plunger 40. Are combined.
  • both end portions 21 and 22 thereof are provided with a retaining holder 34 and a second plunger of the first plunger 30 described later.
  • the spring length is adjusted so that it is retained by the second contact portion 42 of 40 and is always compressed. That is, the probe pin 10 is accommodated in the housing 2 with the first contact portion 32 of the first plunger 30 exposed to the outside of the coil spring 20.
  • FIG. 5 shows a state in which no force is applied to the first contact part 33 and the second contact part 43 of the probe pin 10 (that is, a return state), and FIG. 6 shows the first contact part of the probe pin 10.
  • the state namely, operation state
  • 7 to 9 only the housing 2 is shown, and the probe pin 10 is omitted.
  • the housing 2 has three housing portions 3 arranged at intervals along the longitudinal direction of the housing 2.
  • each accommodating part 3 one probe pin 10 is accommodated, and the first contact part 33 and the second contact part 43 at both ends thereof can be exposed to the outside from each accommodating part 3.
  • Each probe pin 10 is supported by the corresponding accommodating portion 3 so that the first plunger 30 and the second plunger 40 are relatively movable along the center line CL in a state where the coil spring 20 is always compressed. ing.
  • the housing 2 includes a first housing 50, a second housing 60, and a third housing 70 that are stacked in three layers in the thickness direction.
  • Each accommodating portion 3 is formed so as to penetrate the first housing 50, the second housing 60, and the third housing 70, but the hole shapes constituting each accommodating portion 3 are different as follows. .
  • the first housing 50 has three first through holes 51 extending in the vertical direction in FIG. As shown in FIG. 7, each first through-hole 51 has a vertical direction (that is, a horizontal direction in FIG. 5) (that is, a horizontal direction in FIG. 5) when viewed along the center line CL of the coil spring 20. 5, the first contact portion 33 side portion of the first main body portion 31 of the first plunger 30 is inserted so as to be movable in the vertical direction.
  • the second housing 60 has three second through holes 61 extending in the vertical direction of FIG. As shown in FIG. 8, each second through hole 61 has a substantially circular shape when viewed along the center line CL of the coil spring 20, and its lower end is connected to the first through hole 51. Yes. In addition, each second through hole 61 can expand and contract the coil spring 20 in a state where the first contact portion 32 side portion is located inside the retaining portion 34 of the first main body portion 31 of the first plunger 30. The pair of leg portions 44 and 45 of the second plunger 40 are accommodated so as to be movable in the vertical direction of FIG.
  • the third housing 70 has three third through holes extending in the vertical direction in FIG. As shown in FIG. 9, each third through hole has a rectangular shape extending in the left-right direction in FIG. 9 (that is, the left-right direction in FIG. 5) when viewed along the center line CL of the coil spring 20.
  • the narrow portion 71 and the wide portion 72 are divided into two stages in the depth direction (that is, the vertical direction in FIG. 5).
  • the narrow portion 71 is inserted so that the main body portion 41 of the second plunger 40 can move in the vertical direction of FIG. 5.
  • the wide portion 72 is connected to the narrow portion 71 and the second through hole 61, and has a length in the longitudinal direction that is substantially the same as the diameter of the second through hole 61.
  • a part of the pair of leg portions 44 and 45 is accommodated in the wide portion 72.
  • a step portion is formed at the boundary between the narrow portion 71 and the wide portion 72.
  • the first through-hole 51, the second through-hole 61, and the third through-holes 71 and 72 constitute one accommodating portion 3.
  • the accommodating portion 3 prevents the probe pin 10 from coming off by the first through hole 51 and the third through holes 71 and 72 while allowing the probe pin 10 to move in the direction of the center line CL of the coil spring 20. .
  • each probe pin 10 has the first contact portion 32 of the first plunger 30 by the pair of leg portions 44 and 45 of the second plunger 40 in the corresponding accommodating portion 3. It is housed in a sandwiched state.
  • the retaining holder 34 of the first plunger 30 abuts on the first housing 50, and the pair of legs 44 and 45 of the second plunger 40 are the narrow portions 71 of the third housing 70. Is supported by the housing 2 in contact with the step portion at the boundary between the wide portion 72 and the wide portion 72. Further, the coil spring 20 is retained by the retaining surface 34 of the first plunger 30 and the contact surfaces 442 and 452 of the pair of leg portions 44 and 45 of the second plunger 40 and is always compressed. That is, the first plunger 30 is always urged downward in FIG. 5 by the coil spring 20, and the second plunger 40 is always urged upward in FIG.
  • a force is applied to the first contact portion 33 and the second contact portion 43 of each probe pin 10 to push the first plunger 30 and the second plunger 40 into the housing 2.
  • the retaining holder 34 of the first plunger 30 presses the coil spring 20 upward in FIG. 5, and the contact surfaces 442 and 452 of the pair of legs 44 and 45 of the second plunger 40 push the coil spring 20 in FIG. 5. Press downwards.
  • the coil spring 20 is further compressed along the inner wall of the second through hole 61 until the first contact portion 33 and the second contact portion 43 are generally accommodated in the housing 2 as shown in FIG. Is done.
  • the pair of projecting portions 441 and 451 of the pair of leg portions 44 and 45 are in contact with the first contact portion 32 of the first plunger 30 on the plate surface of the first main body portion 31 of the first plunger 30. Slide.
  • inspection unit 1 of the operation state shown in FIG. 6 if the force applied to the 1st contact part 33 and the 2nd contact part 43 of each probe pin 10 is released, the 1st plunger 30 and the 2nd plunger 40 will be Due to the urging force of the coil spring 20, the return state shown in FIG.
  • the first plunger 30 penetrates the coil spring 20 along the center line CL of the coil spring 20 and both ends are outside the coil spring 20 when the coil spring 20 contracts.
  • the first body portion 31 exposed to the first body portion 31 and the first contact portion 32 provided at one end of the first body portion 31, and the second plunger 40 extends along the center line CL of the coil spring 20.
  • a second contact portion 42 that contacts the first contact portion 32 of the first plunger 30 when the coil spring 20 contracts.
  • the first plunger 30 and the second plunger 40 are configured to be connected to the outside of the coil spring 20, the first plunger 30 and the second plunger 40 are compared with the probe pin that is connected to the inside of the coil spring.
  • the coil spring 20 can be reduced in size, and as a result, the probe pin 10 can be reduced in size.
  • the second contact portion 42 of the second plunger 40 has a pair of leg portions 44 and 45 that extend along the center line CL and can be bent in a direction away from each other, and the first contact portion 32 of the first plunger 30. Is slidably held between the pair of leg portions 44 and 45. Thereby, the contact reliability between the 1st plunger 30 and the 2nd plunger 40 can be improved.
  • a pair of projecting portions 441 and 451 projecting in a direction approaching each other and chamfered are provided on the opposing surfaces of the tip portions of the pair of leg portions 44 and 45.
  • the inspection unit 1 can accommodate the probe pin 10 and the probe pin 10 and supports the first plunger 30 and the second plunger 40 so as to be relatively movable along the center line CL of the coil spring 20. And a housing 2 having a portion 3.
  • the arrangement interval of the probe pins 10 can be narrowed, whereby the inspection unit 1 capable of arranging the probe pins 10 at a narrow pitch can be obtained.
  • the 2nd contact part 42 of the 2nd plunger 40 is not restricted to comprising with a pair of leg parts 44 and 45.
  • FIG. The second contact portion 42 contacts the first contact portion 32 of the first plunger 30 and also contacts the end portion 21 of the coil spring 20 on the side close to the first contact portion 32 to prevent the coil spring 20 from coming off.
  • only one of the pair of leg portions 44 and 45 may be used.
  • the pair of projecting portions 441 and 451 are provided on the opposing surfaces of the tip portions of the pair of leg portions 44 and 45, the present invention is not limited thereto. As long as the contact reliability between the first plunger 30 and the second plunger 40 can be ensured, the pair of protrusions 441 and 451 may be omitted.
  • the pair of leg portions 44 and 45 are configured such that the facing distances L2 and L3 of the portion excluding the portion where the pair of projecting portions 441 and 451 are provided are larger than the plate thickness W3 of the first plunger 30. However, it is not limited to this. If the first plunger 30 and the second plunger 40 are relatively slidable along the center line CL of the coil spring 20, this configuration may be omitted.
  • the housing 2 of the inspection unit 1 is not limited to being configured by the first housing 50, the second housing 60, and the third housing 70.
  • the housing 2 may be composed of two housings or may be composed of four or more housings.
  • the shapes and structures of the first housing 50, the second housing 60, and the third housing 70 can be arbitrarily changed according to the design of the probe pin 10 or the inspection unit 1 or the like.
  • the first housing 50 is configured to have a first through hole 51 configured by a narrow portion capable of accommodating the first main body portion 31 of the first plunger 30 and a wide portion capable of accommodating the coil spring 20. May be.
  • the first housing 50 may be configured such that the first through hole 51 of the first housing 50 has a substantially circular shape when viewed along the center line CL of the coil spring 20.
  • the first and second plungers 30 and 40 are not limited to electroforming, and any manufacturing method can be adopted if possible.
  • the natural length of the coil spring 20 can be appropriately changed according to the design of the probe pin 10 and the inspection unit 1. That is, the probe pin 10 of the first embodiment is accommodated in the accommodating portion 3 of the housing 2 in a state where the contact portion 32 of the first plunger 30 is exposed to the outside of the coil spring 20, but is not limited thereto.
  • the probe pin 10 may be accommodated in the accommodating portion 3 of the housing 2 in a state where the first contact portion 32 of the first plunger 30 is positioned inside the coil spring 20.
  • the contact portion of the first plunger 30. 32 is exposed to the outside of the coil spring 20 and contacts the pair of leg portions 44 and 45 of the second contact portion 42 of the second plunger 40.
  • the probe pin 110 As shown in FIGS. 11 and 12, the probe pin 110 according to the second embodiment of the present invention includes an arm portion 80 extending from the first contact portion 32 along the second plunger 40 to the first plunger 30 and the arm.
  • the probe of the first embodiment is provided in that the engagement claw 81 extending from the portion 80 toward the second plunger 40 is provided, and the second plunger 40 is provided with a slit 82 with which the engagement claw 81 can be engaged. It is different from the pin 10.
  • the same parts as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, description thereof is omitted, and differences from the first embodiment will be described.
  • the arm portion 80 extends from one end in the width direction of the first contact portion 32 of the first plunger 30 along the plate surfaces of the pair of leg portions 44 and 45 of the second plunger 40. ing.
  • the arm portion 80 is provided so that the outer surface thereof is the same as the outer surface of the coil spring 20 or on the inner side of the outer surface of the coil spring 20. ing.
  • the engaging claw portion 81 is provided at the upper end portion of the arm portion 80 and extends from the arm portion 80 toward the second plunger 40.
  • a locking portion 83 that extends toward the first plunger 30 along the second plunger 40 is provided on the lower surface (that is, the lower surface in FIG. 11) of the distal end of the engagement claw portion 81.
  • the slit 82 is formed by a pair of leg portions 44 and 45 and a connecting portion 46 that is provided between the pair of leg portions 44 and 45 and connects the pair of leg portions 44 and 45.
  • the slit 82 has a width with which the engagement claw portion 81 can be engaged and a length with which the first plunger 30 and the second plunger 40 can slide relative to each other along the center line CL of the coil spring 20. is doing.
  • the first plunger 30 extends from the first contact portion 32 along the second plunger 40 to the second plunger 40.
  • the second plunger 40 has a slit 82 with which the engagement claw 81 can be engaged.
  • the probe pin of the first aspect of the present invention is A coil spring that expands and contracts along the center line; A first body part that penetrates the coil spring along the center line and whose both ends are exposed to the outside of the coil spring; a first contact part provided at one end of the first body part; A first contact portion provided at the other end portion of the one main body portion, a retaining portion for retaining the coil spring in contact with an end portion of the coil spring close to the first contact portion, and retaining the coil spring; A first plunger having A second body portion extending along the center line and disposed in series with the first body portion of the first plunger; provided at one end of the second body portion; and the first plunger of the first plunger.
  • a second contact portion that contacts one contact portion and an end portion of the coil spring that is close to the first contact portion and prevents the coil spring from coming off; and is provided at the other end portion of the second body portion;
  • a second contact portion having a second contact portion electrically connected to the first contact of the first plunger;
  • the first plunger penetrates the coil spring along the center line, and both end portions are exposed to the outside of the coil spring, and one end portion of the first body portion.
  • a second main body portion disposed in series with the first main body portion of the first plunger, the second plunger extending along the center line, and the second main body portion of the second main body portion.
  • a second contact portion that is provided at one end portion and that contacts the first contact portion of the first plunger and the end portion of the coil spring close to the first contact portion, and holds the coil spring in place. That is, since the first plunger and the second plunger are configured to be connected outside the coil spring, the coil spring is smaller than the probe pin in which the first plunger and the second plunger are connected inside the coil spring.
  • the probe pin can be downsized.
  • the probe pin of the second aspect of the present invention is
  • the second contact portion of the second plunger has a pair of legs extending along the center line and capable of bending in directions away from each other;
  • the first contact portion of the first plunger is slidably held by the pair of leg portions.
  • the contact reliability between the first plunger and the second plunger can be improved.
  • the probe pin of the third aspect of the present invention is A pair of projecting portions projecting in a direction approaching each other and chamfered are provided on the opposing surfaces of the tip portions of the pair of leg portions.
  • the contact reliability between the first plunger and the second plunger can be further increased.
  • the probe pin of the fourth aspect of the present invention is The pair of leg portions are configured such that a distance between facing portions excluding a portion where the pair of projecting portions is provided is larger than a distance between facing portions of the pair of projecting portions.
  • the first contact portion of the first plunger contacts the opposing surfaces of the pair of leg portions.
  • the relative movement between the first plunger and the second plunger can be performed smoothly.
  • the probe pin of the fifth aspect of the present invention is
  • the first plunger has an arm portion extending along the second plunger from the first contact portion, and an engaging claw portion extending from the arm portion toward the second plunger,
  • the second plunger has a slit that can engage the engaging claw portion.
  • the probe pin of the fifth aspect when the probe pin is assembled, the probe pin can be prevented from falling apart.
  • the probe pin can be easily accommodated in the housing accommodating portion.
  • the inspection unit includes: A housing having a housing portion capable of housing the probe pin and supporting the first plunger and the second plunger so as to be relatively movable along the center line; Is provided.
  • the inspection unit of the sixth aspect by reducing the size of the probe pin 10, the arrangement interval of the probe pins 10 can be reduced, thereby obtaining an inspection unit capable of arranging the probe pins at a narrow pitch. Can do.
  • the inspection unit according to the seventh aspect of the present invention includes: The probe pin is positioned in the accommodating portion in a state where the first contact portion of the first plunger is exposed to the outside of the coil spring.
  • the inspection unit includes: The probe pin is positioned in the accommodating portion in a state where the first contact portion of the first plunger is located inside the coil spring.
  • the inspection unit of the seventh aspect and the eighth aspect since the probe pin can be positioned in the housing accommodating portion in an arbitrary aspect, an inspection unit capable of arranging the probe pin at a narrow pitch can be easily obtained.
  • the probe pin of the present invention can be applied to, for example, an inspection unit used for inspecting a liquid crystal panel having a male connector as a terminal.

Abstract

プローブピンが、コイルばね（２０）と、コイルばね（２０）を貫通しかつ少なくとも前記コイルばねが収縮したときに両端部がコイルばね（２０）の外部に露出する第１本体部（３１）と、第１本体部（３１）の一端部に設けられた第１接触部（３２）と、第１本体部（３１）の他端部に設けられた第１接点部（３３）と、コイルばね（２０）を抜け止め保持する抜け止め保持部（３４）と、を有する第１プランジャ（３０）と、第２本体部（４１）と、第２本体部（４１）の一端部に設けられかつコイルばね（２０）に接触してコイルばね（２０）を抜け止め保持すると共に少なくともコイルばね（２０）が収縮したときに第１接触部（３２）に接触する第２接触部（４２）と、第２本体部（４１）の他端部に設けられた第２接点部（４３）と、を有する第２プランジャ（４０）と、を備える。

Description

プローブピン
　本発明は、プローブピンに関する。
　カメラあるいは液晶パネル等の電子部品モジュールでは、一般に、その製造工程において、導通検査および動作特性検査等が行われる。これらの検査は、プローブピンを用いて、電子部品モジュールに設置されている本体基板と接続するためのＦＰＣ接触電極あるいは実装された基板対基板コネクタ等の電極部と、検査装置とを接続することにより行われる。
　このようなプローブピンとしては、例えば、特許文献１に記載されたものがある。このプローブピンは、コイルばねと、このコイルばねの内部で連結されかつ各々が相対的に摺動可能な第１プランジャおよび第２プランジャを備えている。
特開２０１５－４０７３４号公報
　近年、電子部品モジュールの小型化に伴って、検査に用いるプローブピンの小型化も要請されている。
　前記プローブピンのように、２つのプランジャをコイルばねの内部で連結する場合、２つのプランジャをその内部に摺動可能に配置可能なコイルばねを用いる必要がある。しかし、このようなプローブピンでは、プランジャの加工精度およびコイルばねの加工限界により、一定以上の大きさ以下にすることが難しく、小型化を図れない場合がある。
　そこで、本発明は、小型化を図れるプローブピンを提供することを課題とする。
　本発明の一態様のプローブピンは、
　中心線に沿って伸縮するコイルばねと、
　前記中心線に沿って前記コイルばねを貫通しかつ少なくとも前記コイルばねが収縮したときに両端部が前記コイルばねの外部に露出する第１本体部と、前記第１本体部の一端部に設けられた第１接触部と、前記第１本体部の他端部に設けられた第１接点部と、前記コイルばねの前記第１接点部に近い側の端部に接触して前記コイルばねを抜け止め保持する抜け止め保持部と、を有する第１プランジャと、
　前記中心線に沿って延びると共に前記第１プランジャの前記第１本体部と直列的に配置された第２本体部と、前記第２本体部の一端部に設けられかつ前記コイルばねの前記第１接触部に近い側の端部に接触して前記コイルばねを抜け止め保持すると共に少なくとも前記コイルばねが収縮したときに前記第１プランジャの前記第１接触部に接触する第２接触部と、前記第２本体部の他端部に設けられかつ前記第１プランジャの前記第１接点部に電気的に接続された第２接点部と、を有する第２プランジャと、
を備え、
　前記コイルばねが前記抜け止め保持部と前記第２接触部との間で伸縮しつつ、前記第１プランジャと前記第２プランジャとが前記中心線に沿って相対的に摺動可能に配置されている。
　前記態様のプローブピンによれば、第１プランジャが、中心線に沿ってコイルばねを貫通しかつ少なくとも前記コイルばねが収縮したときに両端部がコイルばねの外部に露出した第１本体部と、第１本体部の一端部に設けられた第１接触部とを有し、第２プランジャが、中心線に沿って延びると共に第１プランジャの第１本体部と直列的に配置された第２本体部と、第２本体部の一端部に設けられかつコイルばねの第１接触部に近い側の端部に接触してコイルばねを抜け止め保持すると共に少なくとも前記コイルばねが収縮したときに前記第１プランジャの前記第１接触部に接触する第２接触部とを有している。すなわち、第１プランジャと第２プランジャとがコイルばねの外部で連結するよう構成されているので、第１プランジャおよび第２プランジャがコイルばねの内部で連結されるプローブピンと比べて、コイルばねを小型化でき、プローブピンの小型化を図れる。
本発明の第１実施形態のプローブピンを収容した検査ユニットの斜視図。 本発明の第１実施形態のプローブピンの斜視図。 図２のプローブピンの分解斜視図。 図２のプローブピンの拡大図。 復帰状態の図２のプローブピンを収容した図１のV-V線に沿った断面図。 動作状態の図２のプローブピンを収容した図１のV-V線に沿った断面図。 図１の検査ユニットのハウジングの図５のVII-VII線に沿った断面図。 図１の検査ユニットのハウジングの図５のVIII-VIII線に沿った断面図。 図１の検査ユニットのハウジングの図５のIX-IX線に沿った断面図。 図２のプローブピンの他の例を示す図１のV-V線に沿った断面図。 本発明の第２実施形態のプローブピンの斜視図。 図１１のプローブピンの図１１とは異なる方向から見た斜視図。
　以下、本発明の一実施形態を添付図面に従って説明する。なお、以下の説明では、必要に応じて特定の方向あるいは位置を示す用語（例えば、「上」、「下」、「右」、「左」、「側」、「端」を含む用語）を用いるが、それらの用語の使用は図面を参照した発明の理解を容易にするためであって、それらの用語の意味によって本発明の技術的範囲が限定されるものではない。また、以下の説明は、本質的に例示に過ぎず、本発明、その適用物、あるいは、その用途を制限することを意図するものではない。さらに、図面は模式的なものであり、各寸法の比率等は現実のものとは必ずしも合致していない。
　（第１実施形態）
　本発明の第１実施形態のプローブピン１０は、例えば、図１に示すように、ハウジング２に収容された状態で使用され、ハウジング２と共に検査ユニット１を構成する。この検査ユニット１には、一例として３本のプローブピン１０が収容されている。
　各プローブピン１０は、図２に示すように、コイルばね２０と、第１プランジャ３０と、第２プランジャ４０とを備えている。第１プランジャ３０および第２プランジャ４０の各々は、例えば電鋳法で形成され、導電性を有している。また、第１プランジャ３０および第２プランジャ４０の各々は、細長い薄板状に構成され、各板面が直交し、かつ、コイルばね２０の中心線ＣＬに沿って相対的に摺動可能に配置されている。
　コイルばね２０は、図２に示すように、その中心線ＣＬに沿って伸縮するように構成されている。
　第１プランジャ３０は、図３に示すように、細長い板状の第１本体部３１と、第１本体部３１の上端部（すなわち、図３の上側の端部）に設けられて先すぼまり形状の第１接触部３２と、第１本体部３１の下端部（すなわち、図３の下側の端部）に設けられて先すぼまり形状の第１接点部３３と、第１本体部３１の第１接触部３２および第１接点部３３の中間の第１接点部３３の近くに設けられた抜け止め保持部３４とを有している。
　第１本体部３１は、図２に示すように、コイルばね２０の中心線ＣＬに沿ってコイルばね２０を貫通し、その両端部がコイルばね２０の外部に露出している。第１本体部３１の上端部は、板面の幅方向の両角部が面取りされ、第１接触部３２を構成している。また、第１本体部３１の下端部は、板面視において略三角形状に突出し、第１接点部３３を構成している。
　抜け止め保持部３４は、図２に示すように、第１本体部３１の長手方向に延びる両側面から短手方向にそれぞれ突出している。各抜け止め保持部３４は、コイルばね２０の第１接点部３３に近い側の端部２１に接触して、コイルばね２０を抜け止め保持している。また、抜け止め保持３４は、第１プランジャ３０のハウジング１０に対する当たり止めの役目を果たしている。
　なお、第１プランジャ３０の抜け止め保持部３４の幅Ｗ１（図３に示す）は、コイルばね２０の外径と同じか、それよりも小さくかつコイルばね２０の内径よりも大きくなるように構成されている。
　第２プランジャ４０は、図２に示すように、細長い板状の第２本体部４１と、第２本体部４１の下端部に設けられた第２接触部４２と、第２本体部４１の上端部に設けられた第２接点部４３とを有している。
　第２本体部４１は、図２に示すように、コイルばね２０の中心線ＣＬに沿って延びると共に第１プランジャ３０の第１本体部３１と直列的に配置されている。第２本体部４１の長手方向の長さは、第１プランジャ３０の第１本体部３１よりも短くなっている。第２本体部４１の下端部には、一対の脚部４４、４５が設けられ、第２接触部４２を構成している。また、第２本体部４１の上端部は、板面視において略Ｖ字形状に突出し、第２接点部４３を構成している。
　第２接触部４２は、図２に示すように、第２本体部４１の下端部からコイルばね２０の中心線ＣＬに沿って下方に延びかつ互いに離れる方向に撓み可能な一対の脚部４４、４５を有している。なお、一対の脚部４４，４５は、その外面間の距離Ｌ０が第２本体部４１の幅Ｗ２よりも大きくなるように構成されている。
　なお、一対の脚部４４，４５の外面間の距離Ｌ０は、コイルばね２０の外径と同じか、それよりも小さくかつコイルばね２０の内径よりも大きくなるように構成されている。
　一対の脚部４４、４５の各先端部の対向面には、図３に示すように、相互に接近する方向に突出している一対の突出部４４１、４５１が設けられている。一対の突出部４４１、４５１は、図４に示すように、面取りされて円弧形状に湾曲しており、一対の脚部４４、４５に外力作用しない状態での対向面間の最短距離Ｌ１が第１プランジャ３０の板厚Ｗ３と同じか、または、第１プランジャ３０の板厚Ｗ３よりも小さくなるように設けられている。これにより、第１プランジャ３０の第１接触部３２が、一対の脚部４４、４５の一対の突出部４４１、４５１によって、板面の表裏両側で摺動可能に挟持されている。
　また、図４に示すように、一対の脚部４４，４５の各先端部の対向面には、第２本体部４１側において各突出部４４１、４５１に隣接配置された凹部４４３、４５３が設けられている。この凹部４４３、４５３を設けることにより、一対の脚部４４、４５の先端部の一対の突出部４４１、４５１を撓ませ易くしている。
　なお、一対の脚部４４、４５は、各突出部４４１、４５１が設けられている部分を除いた第２本体部４１側の近傍部分の対向間距離Ｌ２、Ｌ３が、第１プランジャ３０の第１接触部３２を挟持した状態における一対の突出部４４１、４５１の対向面間距離、すなわち、第１プランジャ３０の板厚Ｗ３よりも大きくなるように構成されている。これにより、第１プランジャ３０および第２プランジャ４０がコイルばね２０の中心線ＣＬに沿って相対移動したときに、第１プランジャ３０の第１接触部３２が一対の脚部４４、４５の対向面に接触するのを回避して、第１プランジャ３０および第２プランジャ４０間の相対移動をスムーズにしている。
　一対の脚部４４、４５の各先端部の先端面には、図４に示すように、平坦な接触面４４２、４５２が設けられている。この接触面４４２、４５２の少なくともいずれかが、コイルばね２０の第１プランジャ３０の第１接触部３２に近い側の端部２２と接触して、第１プランジャ３０の抜け止め保持部３４と共にコイルばね２０を抜け止め保持する位置にある。
　なお、図２に示すように、コイルばね２０は、その下端部２１が第１プランジャ３０の本体部３１の抜け止め保持部３４に接触した状態で、他端部２２から接触部３２が露出するような自然長を有している。すなわち、コイルばね２０は、収縮していない状態でも、第１プランジャ３０の抜け止め保持部３４と第２プランジャ４０の一対の脚部４４、４５の接触面４４２、４５２との間に位置するように、組み合わされている。
　また、コイルばね２０は、第１プランジャ３０および第２プランジャ４０と共にハウジング２に収容されたときに、その両端部２１、２２が、後述する第１プランジャ３０の抜け止め保持部３４と第２プランジャ４０の第２接触部４２とで抜け止め保持され、常時圧縮されるようにばね長が調整されている。すなわち、プローブピン１０は、第１プランジャ３０の第１接触部３２がコイルばね２０の外部に露出した状態で、ハウジング２に収容される。
　次に、図５～図９を参照して、３本のプローブピン１０がハウジング２に収容された検査ユニット１について説明する。
　なお、図５は、プローブピン１０の第１接点部３３および第２接点部４３に力が加えられていない状態（すなわち、復帰状態）を示し、図６は、プローブピン１０の第１接点部３３および第２接点部４３に力が加えられている状態（すなわち、動作状態）を示している。また、図７～図９では、ハウジング２のみを示し、プローブピン１０を省略している。
　ハウジング２は、図５に示すように、ハウジング２の長手方向に沿って間隔を空けて配置された３つの収容部３を有している。各収容部３内には、１個のプローブピン１０が収容され、その両端部の第１接点部３３および第２接点部４３が各収容部３から外部に露出可能になっている。各プローブピン１０は、対応する収容部３によって、コイルばね２０が常時圧縮された状態で、第１プランジャ３０と第２プランジャ４０とがそれぞれ中心線ＣＬに沿って相対的に移動可能に支持されている。
　また、ハウジング２は、厚み方向に３層積み重ねられた、第１ハウジング５０、第２ハウジング６０、および、第３ハウジング７０で構成されている。各収容部３は、第１ハウジング５０、第２ハウジング６０、および、第３ハウジング７０を貫通して形成されているが、各収容部３を構成する孔形状は、以下のように異なっている。
　第１ハウジング５０は、図５の上下方向に延びる３つの第１貫通孔５１を有している。各第１貫通孔５１は、図７に示すように、コイルばね２０の中心線ＣＬに沿って見たときに、図７の左右方向（すなわち、図５の左右方向）よりも上下方向（すなわち、図５の紙面貫通方向）に細長い矩形状を有し、第１プランジャ３０の第１本体部３１の第１接点部３３側部分が、図５の上下方向に移動可能に挿入されている。
　第２ハウジング６０は、図５の上下方向に延びる３つの第２貫通孔６１を有している。各第２貫通孔６１は、図８に示すように、コイルばね２０の中心線ＣＬに沿って見たときに、略円形状を有し、その下端部が第１貫通孔５１に接続されている。また、各第２貫通孔６１は、第１プランジャ３０の第１本体部３１の抜け止め保持部３４よりも第１接触部３２側部分が内部に位置している状態のコイルばね２０が伸縮可能に収容され、かつ、第２プランジャ４０の一対の脚部４４，４５が図５の上下方向に移動可能に収容されている。
　第３ハウジング７０は、図５の上下方向の延びる３つの第３貫通孔を有している。各第３貫通孔は、図９に示すように、コイルばね２０の中心線ＣＬに沿って見たときに、図９の左右方向（すなわち、図５の左右方向）に延びる矩形状を有し、深さ方向（すなわち、図５の上下方向）に２段に分かれた幅狭部７１と幅広部７２とで構成されている。幅狭部７１は、第２プランジャ４０の本体部４１が、図５の上下方向に移動可能に挿入されている。幅広部７２は、幅狭部７１と第２貫通孔６１とに接続され、第２貫通孔６１の直径と略同じ長手方向の長さを有している。この幅広部７２には、一対の脚部４４、４５の一部が収容されている。また、幅狭部７１と幅広部７２との境界には段部が形成されている。
　このように、第１貫通孔５１、第２貫通孔６１、および、第３貫通孔７１、７２で１つの収容部３を構成している。この収容部３は、プローブピン１０のコイルばね２０の中心線ＣＬ方向への移動を許容しつつ、第１貫通孔５１と第３貫通孔７１、７２とでプローブピン１０を抜け止めしている。
　続いて、ハウジング２に収容されたプローブピン１０の動作について説明する。
　図５に示す復帰状態の検査ユニット１では、各プローブピン１０は、対応する収容部３内で、第１プランジャ３０の第１接触部３２が第２プランジャ４０の一対の脚部４４，４５で挟持された状態で収容されている。
　このとき、各プローブピン１０は、第１プランジャ３０の抜け止め保持部３４が第１ハウジング５０に当接し、第２プランジャ４０の一対の脚部４４、４５が第３ハウジング７０の幅狭部７１と幅広部７２との境界の段部に当接して、ハウジング２に支持されている。また、コイルばね２０は、第１プランジャ３０の抜け止め保持部３４と第２プランジャ４０の一対の脚部４４、４５の接触面４４２、４５２とで抜け止め保持され、常時圧縮されている。すなわち、コイルばね２０によって、第１プランジャ３０は、図５の下向きに常に付勢され、第２プランジャ４０は、図５の上向きに常に付勢されている。
　各プローブピン１０の第１接点部３３および第２接点部４３に力を加えて、第１プランジャ３０および第２プランジャ４０をハウジング２内に押し込んでいく。すると、第１プランジャ３０の抜け止め保持部３４がコイルばね２０を図５の上向きに押圧し、第２プランジャ４０の一対の脚部４４、４５の接触面４４２、４５２がコイルばね２０を図５の下向きに押圧する。これにより、コイルばね２０は、第２貫通孔６１の内壁に沿って、図６に示すように、第１接点部３３および第２接点部４３がハウジング２内に大凡収容されるまで、さらに圧縮される。
　このとき、一対の脚部４４、４５の一対の突出部４４１、４５１は、第１プランジャ３０の第１接触部３２に接触した状態で、第１プランジャ３０の第１本体部３１の板面上を摺動する。
　また、図６に示す動作状態の検査ユニット１において、各プローブピン１０の第１接点部３３および第２接点部４３に加えられた力を解放すると、第１プランジャ３０および第２プランジャ４０は、コイルばね２０の付勢力により、図５に示す復帰状態に復帰する。
　第１実施形態のプローブピン１０では、第１プランジャ３０が、コイルばね２０の中心線ＣＬに沿ってコイルばね２０を貫通しかつ少なくともコイルばね２０が収縮したときに両端部がコイルばね２０の外部に露出する第１本体部３１と、第１本体部３１の一端部に設けられた第１接触部３２とを有し、第２プランジャ４０が、コイルばね２０の中心線ＣＬに沿って延びると共に第１プランジャ３０の第１本体部３１と直列的に配置された第２本体部４１と、第２本体部４１の一端部に設けられかつコイルばね２０の第１接触部３２に近い側の端部に接触してコイルばね２０を抜け止め保持すると共に少なくともコイルばね２０が収縮したときに第１プランジャ３０の第１接触部３２に接触する第２接触部４２と、を有している。すなわち、第１プランジャ３０と第２プランジャ４０とがコイルばね２０の外部で連結するように構成されているので、第１プランジャ３０および第２プランジャ４０がコイルばねの内部で連結されるプローブピンと比べて、コイルばね２０を小型化でき、その結果、プローブピン１０の小型化を図れる。
　また、第２プランジャ４０の第２接触部４２が、中心線ＣＬに沿って延びかつ互いに離れる方向に撓み可能な一対の脚部４４、４５を有し、第１プランジャ３０の第１接触部３２が、一対の脚部４４、４５によって摺動可能に挟持されている。これにより、第１プランジャ３０と第２プランジャ４０との間の接触信頼性を高めることができる。
　また、一対の脚部４４、４５の各先端部の対向面に、相互に接近する方向に突出しかつ面取りされた一対の突出部４４１、４５１が設けられている。これにより、第１プランジャ３０と第２プランジャ４０との間の接触信頼性をさらに高めることができる。
　また、検査ユニット１が、プローブピン１０と、プローブピン１０を収容可能でありかつ第１プランジャ３０および第２プランジャ４０をコイルばね２０の中心線ＣＬに沿って相対的に移動可能に支持する収容部３を有するハウジング２とを備えている。プローブピン１０を小型化することで、プローブピン１０の配置間隔を狭くすることができ、これにより、狭ピッチでプローブピン１０を配置可能な検査ユニット１を得ることができる。
　なお、第２プランジャ４０の第２接触部４２は、一対の脚部４４、４５で構成する場合に限らない。第２接触部４２は、第１プランジャ３０の第１接触部３２に接触すると共に、コイルばね２０の第１接触部３２に近い側の端部２１とに接触してコイルばね２０を抜け止め保持できるものであればよく、例えば、一対の脚部４４、４５のいずれか一方のみであってもよい。
　一対の脚部４４、４５の各先端部の対向面に、一対の突出部４４１、４５１を設けたが、これに限らない。第１プランジャ３０と第２プランジャ４０との間の接触信頼性が担保できるのであれば、一対の突出部４４１、４５１は省略しても構わない。
　一対の脚部４４、４５は、一対の突出部４４１、４５１が設けられている部分を除いた部分の対向間距離Ｌ２、Ｌ３が、第１プランジャ３０の板厚Ｗ３よりも大きくなるように構成されているが、これに限らない。第１プランジャ３０と第２プランジャ４０とが、コイルばね２０の中心線ＣＬに沿って相対的に摺動可能であれば、この構成は省略してもよい。
　検査ユニット１のハウジング２は、第１ハウジング５０、第２ハウジング６０、および、第３ハウジング７０で構成する場合に限らない。ハウジング２は、２つのハウジングで構成してもよいし、４つ以上のハウジングで構成してもよい。
　また、第１ハウジング５０、第２ハウジング６０、および、第３ハウジング７０の形状および構造は、プローブピン１０あるいは検査ユニット１の設計等に応じて、任意に変更できる。例えば、第１プランジャ３０の第１本体部３１を収容可能な幅狭部と、コイルばね２０を収容できる幅広部とで構成された第１貫通孔５１を有するように、第１ハウジング５０を構成してもよい。また、コイルばね２０の中心線ＣＬに沿って見たときに、第１ハウジング５０の第１貫通孔５１が略円形状を有するように、第１ハウジング５０を構成してもよい。
　第１，第２プランジャ３０，４０は、電鋳法に限らず、可能であれば、任意の製造方法を採用することができる。
　コイルばね２０の自然長は、プローブピン１０および検査ユニット１の設計等に応じて、適宜変更できる。すなわち、第１実施形態のプローブピン１０は、ハウジング２の収容部３に、第１プランジャ３０の接触部３２がコイルばね２０の外部に露出した状態で収容されているが、これに限らない。例えば、図１０に示すように、プローブピン１０は、ハウジング２の収容部３に、第１プランジャ３０の第１接触部３２がコイルばね２０の内部に位置した状態で収容されていてもよい。この場合、各プローブピン１０の第１接点部３３および第２接点部４３に力を加えてコイルばね２０を収縮させたときに、図１０の点線で示すように、第１プランジャ３０の接触部３２がコイルばね２０の外部に露出して第２プランジャ４０の第２接触部４２の一対の脚部４４、４５と接触する。
　（第２実施形態）
　本発明の第２実施形態のプローブピン１１０は、図１１および図１２に示すように、第１プランジャ３０に、第１接触部３２から第２プランジャ４０に沿って延びる腕部８０と、この腕部８０から第２プランジャ４０に向かって延びる係合爪部８１とを設け、第２プランジャ４０に、係合爪部８１が係合可能なスリット８２を設けた点で、第１実施形態のプローブピン１０とは異なっている。なお、第２実施形態では、第１実施形態と同一部分に同一参照番号を付して説明を省略し、第１実施形態と異なる点について説明する。
　腕部８０は、図１１および図１２に示すように、第１プランジャ３０の第１接触部３２の幅方向の一端から第２プランジャ４０の一対の脚部４４、４５の板面に沿って延びている。なお、コイルばね２０の中心線ＣＬに沿って見たときに、腕部８０は、その外面が、コイルばね２０の外面と同じか、コイルばね２０の外面よりも内側に位置するように設けられている。
　係合爪部８１は、図１１および図１２に示すように、腕部８０の上端部に設けられ、腕部８０から第２プランジャ４０に向かって延びている。この係合爪部８１の先端の下面（すなわち、図１１の下側の面）には、第２プランジャ４０に沿って第１プランジャ３０に向かって延びる係止部８３が設けられている。
　スリット８２は、一対の脚部４４、４５と、一対の脚部４４、４５の中間に設けられ一対の脚部４４，４５を連結する連結部４６とで形成されている。このスリット８２は、係合爪部８１が係合可能な幅と、第１プランジャ３０と第２プランジャ４０とがコイルばね２０の中心線ＣＬに沿って相対的に摺動可能な長さとを有している。
　このように、第２実施形態のプローブピン１１０では、第１プランジャ３０が、第１接触部３２から第２プランジャ４０に沿って延びる腕部８０と、この腕部８０から第２プランジャ４０に向かって延びる係合爪部８１とを有し、第２プランジャ４０が、係合爪部８１を係合可能なスリット８２を有している。これにより、プローブピン１１０を組み立てたときに、プローブピン１１０がバラバラになるのを防ぐことができるので、例えば、プローブピン１１０をハウジングの収容部に容易に収容することができる。
　以上、図面を参照して本発明における種々の実施形態を詳細に説明したが、最後に、本発明の種々の態様について説明する。
　本発明の第１態様のプローブピンは、
　中心線に沿って伸縮するコイルばねと、
　前記中心線に沿って前記コイルばねを貫通しかつ両端部が前記コイルばねの外部に露出した第１本体部と、前記第１本体部の一端部に設けられた第１接触部と、前記第１本体部の他端部に設けられた第１接点部と、前記コイルばねの前記第１接点部に近い側の端部に接触して前記コイルばねを抜け止め保持する抜け止め保持部と、を有する第１プランジャと、
　前記中心線に沿って延びると共に前記第１プランジャの前記第１本体部と直列的に配置された第２本体部と、前記第２本体部の一端部に設けられかつ前記第１プランジャの前記第１接触部および前記コイルばねの前記第１接触部に近い側の端部に接触して前記コイルばねを抜け止め保持する第２接触部と、前記第２本体部の他端部に設けられかつ前記第１プランジャの前記第１接点に電気的に接続された第２接点部と、を有する第２プランジャと、
を備え、
　前記コイルばねが前記抜け止め保持部と前記第２接触部との間で伸縮しつつ、前記第１プランジャと前記第２プランジャとが前記中心線に沿って相対的に摺動可能に配置されている。
　第１態様のプローブピンによれば、第１プランジャが、中心線に沿ってコイルばねを貫通しかつ両端部がコイルばねの外部に露出した第１本体部と、第１本体部の一端部に設けられた第１接触部とを有し、第２プランジャが、中心線に沿って延びると共に第１プランジャの第１本体部と直列的に配置された第２本体部と、第２本体部の一端部に設けられかつ第１プランジャの第１接触部およびコイルばねの第１接触部に近い側の端部に接触してコイルばねを抜け止め保持する第２接触部とを有している。すなわち、第１プランジャと第２プランジャとがコイルばねの外部で連結するよう構成されているので、第１プランジャおよび第２プランジャがコイルばねの内部で連結されるプローブピンと比べて、コイルばねを小型化でき、プローブピンの小型化を図れる。
　本発明の第２態様のプローブピンは、
　前記第２プランジャの前記第２接触部が、前記中心線に沿って延びかつ互いに離れる方向に撓み可能な一対の脚部を有し、
　前記第１プランジャの前記第１接触部が、前記一対の脚部によって摺動可能に挟持されている。
　第２態様のプローブピンによれば、第１プランジャと第２プランジャとの間の接触信頼性を高めることができる。
　本発明の第３態様のプローブピンは、
　前記一対の脚部の各先端部の対向面に、相互に接近する方向に突出しかつ面取りされた一対の突出部が設けられている。
　第３態様のプローブピンによれば、第１プランジャと第２プランジャとの間の接触信頼性をさらに高めることができる。
　本発明の第４態様のプローブピンは、
　前記一対の脚部は、前記一対の突出部が設けられている部分を除いた部分の対向間距離が前記一対の突出部の対向間距離よりも大きくなるように構成されている。
　第４態様のプローブピンによれば、第１プランジャおよび第２プランジャがコイルばねの中心線に沿って相対移動したときに、第１プランジャの第１接触部が一対の脚部の対向面に接触するのを回避して、第１プランジャおよび第２プランジャ間の相対移動をスムーズに行うことができる。
　本発明の第５態様のプローブピンは、
　前記第１プランジャが、前記第１接触部から前記第２プランジャに沿って延びる腕部と、この腕部から前記第２プランジャに向かって延びる係合爪部とを有し、
　前記第２プランジャが、前記係合爪部を係合可能なスリットを有する。
　第５態様のプローブピンによれば、プローブピンを組み立てたときに、プローブピンがバラバラになるのを防ぐことができるので、例えば、プローブピンをハウジングの収容部に容易に収容することができる。
　本発明の第６態様の検査ユニットは、
　前記プローブピンを収容可能でありかつ前記第１プランジャおよび前記第２プランジャを前記中心線に沿って相対的に移動可能に支持する収容部を有するハウジングと、
を備える。
　第６態様の検査ユニットによれば、プローブピン１０を小型化することで、プローブピン１０の配置間隔を狭くすることができ、これにより、狭ピッチでプローブピンを配置可能な検査ユニットを得ることができる。
　本発明の第７態様の検査ユニットは、
　前記プローブピンが、前記第１プランジャの前記第１接触部が前記コイルばねの外部に露出した状態で、前記収容部に位置決めされている。
　本発明の第８態様の検査ユニットは、
　前記プローブピンが、前記第１プランジャの前記第１接触部が前記コイルばねの内部に位置した状態で、前記収容部に位置決めされている。
　第７態様および第８態様の検査ユニットによれば、プローブピンを任意の態様でハウジングの収容部に位置決めできるので、狭ピッチでプローブピンを配置可能な検査ユニットを容易に得ることができる。
　なお、前記様々な実施形態または変形例のうちの任意の実施形態または変形例を適宜組み合わせることにより、それぞれの有する効果を奏するようにすることができる。また、実施形態同士の組み合わせまたは実施例同士の組み合わせまたは実施形態と実施例との組み合わせが可能であると共に、異なる実施形態または実施例の中の特徴同士の組み合わせも可能である。
　本発明は、添付図面を参照しながら好ましい実施形態に関連して充分に記載されているが、この技術の熟練した人々にとっては種々の変形や修正は明白である。そのような変形や修正は、添付した請求の範囲による本発明の範囲から外れない限りにおいて、その中に含まれると理解されるべきである。
　本発明のプローブピンは、例えば、端子として雄コネクタを有する液晶パネルの検査に用いる検査ユニットに適用できる。
１　検査ユニット
２　ハウジング
３　収容部
１０，１１０　プローブピン
２０　コイルばね
３０　第１プランジャ
３１　第１本体部
３２　第１接触部
３３　第１接点部
３４　抜け止め保持部
４０　第２プランジャ
４１　第２本体部
４２　第２接触部
４３　第２接点部
４４，４５　脚部
４４１，４５１　突出部
４４２，４５２　接触面
４４３，４５３　凹部
５０　第１ハウジング
５１　第１貫通孔
６０　第２ハウジング
６１　第２貫通孔
７０　第３ハウジング
７１　幅狭部
７２　幅広部
８０　腕部
８１　係合爪部
８２　スリット
８３　係止部
Ｗ１　第１プランジャの抜け止め保持部の幅
Ｗ２　第２プランジャの第２本体部の幅
Ｗ３　第１プランジャの板厚
Ｌ０　一対の脚部の外面間の距離
Ｌ１　一対の脚部の対向面間の距離
Ｌ２，Ｌ３　一対の脚部の突出部が設けられている部分を除いた部分の対向間距離

Claims (8)

  1. 　中心線に沿って伸縮するコイルばねと、
    　前記中心線に沿って前記コイルばねを貫通しかつ少なくとも前記コイルばねが収縮したときに両端部が前記コイルばねの外部に露出する第１本体部と、前記第１本体部の一端部に設けられた第１接触部と、前記第１本体部の他端部に設けられた第１接点部と、前記コイルばねの前記第１接点部に近い側の端部に接触して前記コイルばねを抜け止め保持する抜け止め保持部と、を有する第１プランジャと、
    　前記中心線に沿って延びると共に前記第１プランジャの前記第１本体部と直列的に配置された第２本体部と、前記第２本体部の一端部に設けられかつ前記コイルばねの前記第１接触部に近い側の端部に接触して前記コイルばねを抜け止め保持すると共に少なくとも前記コイルばねが収縮したときに前記第１プランジャの前記第１接触部に接触する第２接触部と、前記第２本体部の他端部に設けられかつ前記第１プランジャの前記第１接点部に電気的に接続された第２接点部と、を有する第２プランジャと、
    を備え、
    　前記コイルばねが前記抜け止め保持部と前記第２接触部との間で伸縮しつつ、前記第１プランジャと前記第２プランジャとが前記中心線に沿って相対的に摺動可能に配置されている、プローブピン。
  2. 　前記第２プランジャの前記第２接触部が、前記中心線に沿って延びかつ互いに離れる方向に撓み可能な一対の脚部を有し、
    　前記第１プランジャの前記第１接触部が、前記一対の脚部によって摺動可能に挟持されている、請求項１に記載のプローブピン。
  3. 　前記一対の脚部の各先端部の対向面に、相互に接近する方向に突出しかつ面取りされた一対の突出部が設けられている、請求項２に記載のプローブピン。
  4. 　前記一対の脚部は、前記一対の突出部が設けられている部分を除いた部分の対向間距離が前記一対の突出部の対向間距離よりも大きくなるように構成されている、請求項３に記載のプローブピン。
  5. 　前記第１プランジャが、前記第１接触部から前記第２プランジャに沿って延びる腕部と、この腕部から前記第２プランジャに向かって延びる係合爪部とを有し、
    　前記第２プランジャが、前記係合爪部を係合可能なスリットを有する、請求項１から４のいずれか１つに記載のプローブピン。
  6. 　請求項１から５のいずれか１つに記載のプローブピンと、
    　前記プローブピンを収容可能でありかつ前記第１プランジャおよび前記第２プランジャを前記中心線に沿って相対的に移動可能に支持する収容部を有するハウジングと、
    を備えた検査ユニット。
  7. 　前記プローブピンが、前記第１プランジャの前記第１接触部が前記コイルばねの外部に露出した状態で、前記収容部に位置決めされている、請求項６に記載の検査ユニット。
  8. 　前記プローブピンが、前記第１プランジャの前記第１接触部が前記コイルばねの内部に位置した状態で、前記収容部に位置決めされている、請求項６に記載の検査ユニット。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20220349918A1 (en) * 2021-04-30 2022-11-03 Essai, Inc. Probe system for qfp integrated circuit device test tooling

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006310025A (ja) * 2005-04-27 2006-11-09 Chichibu Fuji Co Ltd Ｉｃソケット用接触装置
JP2015040734A (ja) * 2013-08-21 2015-03-02 オムロン株式会社 プローブピン、および、これを用いた電子デバイス
JP2015108608A (ja) * 2013-09-13 2015-06-11 大熊 克則 プローブピンおよびｉｃソケット

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006310025A (ja) * 2005-04-27 2006-11-09 Chichibu Fuji Co Ltd Ｉｃソケット用接触装置
JP2015040734A (ja) * 2013-08-21 2015-03-02 オムロン株式会社 プローブピン、および、これを用いた電子デバイス
JP2015108608A (ja) * 2013-09-13 2015-06-11 大熊 克則 プローブピンおよびｉｃソケット

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20220349918A1 (en) * 2021-04-30 2022-11-03 Essai, Inc. Probe system for qfp integrated circuit device test tooling
US11906550B2 (en) * 2021-04-30 2024-02-20 Essai, Inc. Probe system for QFP integrated circuit device test tooling

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