JP6582780B2 - プローブピンおよびこれを用いた検査治具 - Google Patents
プローブピンおよびこれを用いた検査治具 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6582780B2 JP6582780B2 JP2015182128A JP2015182128A JP6582780B2 JP 6582780 B2 JP6582780 B2 JP 6582780B2 JP 2015182128 A JP2015182128 A JP 2015182128A JP 2015182128 A JP2015182128 A JP 2015182128A JP 6582780 B2 JP6582780 B2 JP 6582780B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plunger
- coil spring
- probe pin
- contact
- terminal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
- H01R13/02—Contact members
- H01R13/22—Contacts for co-operating by abutting
- H01R13/24—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R33/00—Coupling devices specially adapted for supporting apparatus and having one part acting as a holder providing support and electrical connection via a counterpart which is structurally associated with the apparatus, e.g. lamp holders; Separate parts thereof
- H01R33/74—Devices having four or more poles, e.g. holders for compact fluorescent lamps
- H01R33/76—Holders with sockets, clips, or analogous contacts adapted for axially-sliding engagement with parallely-arranged pins, blades, or analogous contacts on counterpart, e.g. electronic tube socket
Description
本実施形態によれば、被検査物の検査に、第1延在部以上の高さを必要としないので、被検査物の上方に大きな設置スペースを必要としない。
本実施形態によれば、第2延在部はストッパとして機能し、第2延在部よりも上方にコイルばねが移動できないので、組立工程における取り扱いが容易である。
本実施形態によれば、被検査物をコ字形状のプランジャ本体に押し当てることにより、被検査物を位置決めでき、検査精度が高い。
本実施形態によれば、プランジャ本体の支点間距離が長く、弾性変形しやすので、被検査物を傷つけにくい。また、応力集中が生じにくく、疲労破壊が生じにくいので、プローブピンの寿命が長い。
本実施形態によれば、コイルばねがプローブピンから脱落することがなく、組立工程における取り扱いが容易である。
本実施形態によれば、コイルばねの両端から、プランジャ本体と端子とをそれぞれ組み付けることができるので、プローブピンの組立性が向上する。
本実施形態によれば、部品点数が少なくなり、部品の管理が容易になる。また、1つの構成物品にコイルばねを圧入するだけでプローブピンを生産できるので、組立工数を低減できる。
本実施形態によれば、被検査物の被検査部に第1接点が複数個所で接触するので、接触信頼性が高まる。
本実施形態によれば、弾性爪部を被検査物の被検査部に圧接して検査する際に、弾性爪部の先端がたわみ、ワイピング作用を行う。このため、被検査物の被検査部の汚れを除去でき、接触信頼性が高い。
本実施形態によれば、円弧状に湾曲した弾性片が弾性変形するので、被検査物の被検査部に過度な接触圧が加わらず、被検査物を傷つけにくい。また、弾性片の自由端部がプランジャ本体の第1延在部と短絡するので、接触抵抗の小さいプローブピンが得られる。
本発明によれば、プローブピンの第1,第2接点が、同一方向に向いている。このため、被検査物の上方に検査治具を設置できるスペースがなくとも、第1接点および第2接点が、被検査物の端子と検査装置の端子とにそれぞれ同時に接触できる検査治具が得られる。
本実施形態によれば、プローブピンが上方へ移動する際にコイルばねが弾性圧縮され、第1,第2接点の接触圧を高めるという効果がある。
したがって、それらの用語は、本発明の実施形態が実際に使用されるときの方向を示すものとは限らないし、それらの用語によって特許請求の範囲に記載された技術的範囲が限定的に解釈されるべきではない。
図1ないし図15に示すように、本発明に係る第1実施形態のプローブピンを組み込んだ検査治具について説明する。
図16は、本発明に係るプローブピン15の第2実施形態を示している。前記第1実施形態と相違する点は、第1接点34の接点面に略V字状の切り欠き部34aを設けた点である。なお、以下の実施形態において、前記第1の実施形態と同一の部分には、同一の参照番号を付して、詳細な説明を省略する。
図17は、本発明に係るプローブピン15の第3実施形態を示している。第3実施形態では、第1接点34に一対の弾性爪部34b、34bを設けてある。弾性爪部34bは、その先端が内側に湾曲した形状をしている。
図18は、本発明に係るプローブピン15の第4実施形態を示している。第4実施形態では、第1接点34が円弧状の弾性片34cを有している。
図19は、本発明に係るプローブピン15の第5実施形態を示している。第5実施形態では、第1プランジャ30のプランジャ本体31が略U字形である。すなわち、第1延在部32と第2延在部33とを連結する基幹部39が湾曲している。
図20は、本発明に係るプローブピン15の第6実施形態を示している。第6実施形態では、第1プランジャ30のプランジャ本体31が蛇腹状の基幹部39を有している。
図21は、本発明に係るプローブピン15の第7実施形態を示している。第7実施形態では、プランジャ16が略L字形を有する。そして、第1プランジャ30は、第1延在部32と基幹部39とを備えたプランジャ本体31と、基幹部39と同一直線上に伸びる第1挿入部35と、を有する。また、プランジャ本体31と第1挿入部35との境界に位置する両側端面から、一対のばね保持部31a,31aが外側に向けてそれぞれ突出している。一対のばね保持部31a,31aは、その両端の巾寸法が、ベース21に設けた貫通孔22の直径より小さい。
図22は、本発明に係るプローブピン15の第8実施形態を示している。第8実施形態は、前述の実施形態のように別体の第1、第2プランジャを係合一体化するものではなく、プランジャ16全体を単一素材から一体成形してある。なお、別体のプランジャ16をコイルばね50に組み付けた後に半田付け等で接続一体化してもよい。
また、プランジャ16はJ字形状を有し、第1延在部32が、基幹部39から第1接点34に向かって湾曲した形状を有していてもよい。
15 プローブピン
16 プランジャ
20 ハウジング
21 ベース
22 貫通孔
25 カバー
26 スロット
30 第1プランジャ
31 プランジャ本体
32 第1延在部
33 第2延在部
34 第1接点
34a 切り欠き部
34b 弾性爪部
34c 弾性片
35 第1挿入部
36 弾性腕部
36a 第1弾性腕部
36b 第2弾性腕部
37 圧接用突起
38 係合用突起
39 基幹部
40 第2プランジャ
41 端子
42 第2挿入部
43 係合孔
44 平面部
45 ばね保持部
46 第2接点
50 コイルばね
60 電源用基板
61 検査用第2端子
70 ICチップ
71 検査用第1端子
P 軸心
Claims (10)
- 導電性を有するプランジャと、
前記プランジャの周囲に巻回するように配置されたコイルばねと、を有するプローブピンであって、
前記プランジャは、
前記コイルばねの一端から突出する鉤型形状のプランジャ本体と、
前記コイルばねの他端から突出する端子と、を有し、
前記プランジャ本体の先端部に設けた第1接点と、
前記端子の先端部に設けた第2接点と、を同一方向に向け、
前記プランジャ本体が、
前記コイルばねの軸心に直交する方向に延在し、かつ、前記第1接点を備えた第1延在部と、
前記第1延在部と平行に延在する第2延在部と
を有し、
平行に延在した一対の前記第1延在部と前記第2延在部とが蛇腹状の基幹部で連結されコ字形状を有している、プローブピン。 - 導電性を有するプランジャと、
前記プランジャの周囲に巻回するように配置されたコイルばねと、を有するプローブピンであって、
前記プランジャは、
前記コイルばねの一端から突出する鉤型形状のプランジャ本体と、
前記コイルばねの他端から突出する端子と、を有し、
前記プランジャ本体の先端部に設けた第1接点と、
前記端子の先端部に設けた第2接点と、を同一方向に向け、
前記プランジャ本体が、
前記コイルばねの軸心に直交する方向に延在し、かつ、前記第1接点を備えた第1延在部と、
前記第1延在部と平行に延在する第2延在部と
を有し、
平行に延在した一対の前記第1延在部と前記第2延在部とが、湾曲する基幹部で連結され、U字形状を有している、プローブピン。 - 前記プランジャの両側端面から側方に突出するばね保持部と前記第2延在部との間に、前記コイルばねが保持されている、請求項1または2のプローブピン。
- 導電性を有するプランジャと、
前記プランジャの周囲に巻回するように配置されたコイルばねと、を有するプローブピンであって、
前記プランジャは、
前記コイルばねの一端から突出する鉤型形状のプランジャ本体と、
前記コイルばねの他端から突出する端子と、を有し、
前記プランジャ本体の先端部に設けた第1接点と、
前記端子の先端部に設けた第2接点と、を同一方向に向け、
前記プランジャ本体と前記端子とを一体成形した、プローブピン。 - 前記プランジャが、別体の前記プランジャ本体と前記端子とを、前記コイルばねの内部で係合一体化している、請求項1から4のいずれか1つのプローブピン。
- 前記第1接点が、V字形状の切り欠き部を有する、請求項1から5のいずれか1つのプローブピン。
- 前記第1接点が、一対の湾曲する弾性爪部で形成されている、請求項1から5のいずれか1つのプローブピン。
- 前記第1接点が、円弧状に湾曲した弾性片で形成されている、請求項1から5のいずれか1つのプローブピン。
- 導電性を有するプランジャと、前記プランジャの周囲に巻回するように配置されたコイルばねと、を有するプローブピンであって、前記プランジャが、前記コイルばねの一端から突出する鉤型形状のプランジャ本体と、前記コイルばねの他端から突出する端子と、を有し、前記プランジャ本体の先端部に設けた第1接点と、前記端子の先端部に設けた第2接点と、が同一方向に向けられた、プローブピンと、
前記コイルばねを挿通できる貫通孔を有するベースと、
前記プランジャを挿通できるスロットを有するカバーと
を有し、
前記プローブピンが、前記ベースに前記カバーを重ねあわせたときに連通する前記貫通孔及び前記スロットに収納されている、検査治具。 - 前記スロットが、前記コイルばねを抜け止めする断面形状を有する、請求項9の検査治具。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015182128A JP6582780B2 (ja) | 2015-09-15 | 2015-09-15 | プローブピンおよびこれを用いた検査治具 |
PCT/JP2016/075113 WO2017047362A1 (ja) | 2015-09-15 | 2016-08-29 | プローブピンおよびこれを用いた検査治具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015182128A JP6582780B2 (ja) | 2015-09-15 | 2015-09-15 | プローブピンおよびこれを用いた検査治具 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017058205A JP2017058205A (ja) | 2017-03-23 |
JP6582780B2 true JP6582780B2 (ja) | 2019-10-02 |
Family
ID=58288974
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015182128A Active JP6582780B2 (ja) | 2015-09-15 | 2015-09-15 | プローブピンおよびこれを用いた検査治具 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6582780B2 (ja) |
WO (1) | WO2017047362A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3604241B1 (en) | 2017-03-23 | 2022-11-09 | AGC Inc. | Head-up display device and use of glass plate for mobile bodies |
KR102013175B1 (ko) * | 2019-06-13 | 2019-08-22 | 주식회사 제네드 | 교체 가능한 더블타입 프로브 핀 |
US11387587B1 (en) | 2021-03-13 | 2022-07-12 | Plastronics Socket Partners, Ltd. | Self-retained slider contact pin |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60111284U (ja) * | 1983-12-29 | 1985-07-27 | 三洋電機株式会社 | 印刷基板の測定装置 |
KR100584225B1 (ko) * | 2004-10-06 | 2006-05-29 | 황동원 | 전자장치용 콘택트 |
JP4767147B2 (ja) * | 2005-11-16 | 2011-09-07 | パナソニック株式会社 | 検査装置および検査方法 |
JP2008047352A (ja) * | 2006-08-11 | 2008-02-28 | Yamaha Corp | Icソケット |
TWM373022U (en) * | 2009-07-14 | 2010-01-21 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Electrical contact |
KR101058146B1 (ko) * | 2009-11-11 | 2011-08-24 | 하이콘 주식회사 | 스프링 콘택트 및 스프링 콘택트 내장 소켓 |
JP4941853B2 (ja) * | 2010-06-23 | 2012-05-30 | 山一電機株式会社 | コンタクトヘッド、これを備えるプローブピン、及び該プローブピンを用いた電気接続装置 |
US9761501B2 (en) * | 2013-04-11 | 2017-09-12 | Renesas Electronics Corporation | Method of manufacturing a semiconductor device and inspecting an electrical characteristic thereof using socket terminals |
-
2015
- 2015-09-15 JP JP2015182128A patent/JP6582780B2/ja active Active
-
2016
- 2016-08-29 WO PCT/JP2016/075113 patent/WO2017047362A1/ja active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2017058205A (ja) | 2017-03-23 |
WO2017047362A1 (ja) | 2017-03-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN108027391B (zh) | 探针销及使用探针销的检查装置 | |
JP5352525B2 (ja) | プローブピン用コンタクト、プローブピンおよび電子デバイス用接続治具 | |
US11187722B2 (en) | Probe pin and electronic device using the same | |
JP6582780B2 (ja) | プローブピンおよびこれを用いた検査治具 | |
JP2017224389A (ja) | 電気コネクタおよび電気コネクタの検査方法 | |
CN210720509U (zh) | 探针、检查夹具和检查单元 | |
KR101282324B1 (ko) | 프로브 핀 | |
CN113924499A (zh) | 探针、检查工具和检查单元 | |
US10014606B2 (en) | Press-fit terminal and board connector | |
WO2017047495A1 (ja) | プローブピン、および、これを備えた検査治具 | |
JP2018072157A (ja) | 電気接触子、および、それを備える電気接続装置 | |
JP2017037021A (ja) | 検査用コンタクト端子、および、それを備える電気接続装置 | |
US11280808B2 (en) | IC socket | |
US11162979B2 (en) | Plate spring-type connecting pin | |
JP2015108608A (ja) | プローブピンおよびicソケット | |
JP2018173381A (ja) | ケルビン検査用治具 | |
WO2018042931A1 (ja) | プローブピン | |
KR102600799B1 (ko) | 프로브 핀 및 검사 지그 | |
TWI253213B (en) | Electrical connector for connecting a mating contact and a connection object | |
JP6567954B2 (ja) | 電気部品用ソケット | |
JP2014169928A (ja) | 検査用ソケット | |
JP2004327103A (ja) | 電気部品用ソケット | |
JP5911305B2 (ja) | コネクタ装置 | |
JP6987006B2 (ja) | 電子制御装置のコネクタ端子形状 | |
JP2010192247A (ja) | 電気コネクタ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20171130 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180706 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190521 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190711 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190806 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190819 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6582780 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |