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  1. 長手方向に沿って伸縮する弾性部と、
    前記弾性部の一端から前記長手方向に沿って延在しかつ互いに離れる方向に撓み可能な一対の脚部を有し、前記一対の脚部の先端に配置されかつ前記一対の脚部を介して前記弾性部により前記長手方向に沿った方向に付勢されかつ検査対象物の凸接点に接触可能な一対の接点部を有する第1接触部と、
    前記弾性部の他端に配置されかつ前記弾性部により前記第1接触部の付勢方向とは反対方向に付勢されかつ前記第1接触部と電気的に接続された第2接触部と、
    を備え、
    前記一対の脚部の間に、前記検査対象物の前記凸接点を挿入可能な隙間を有しており、
    前記隙間に前記凸接点を挿入するときに、前記第1接触部の前記一対の脚部の前記一対の接点部と前記凸接点とが接触可能であり、
    前記一対の脚部の相互に向かい合う面の少なくとも一方に、前記凸接点の挿入を規制するストッパを有している、プローブピン。
  2. 前記一対の脚部の少なくとも一方の脚部が、前記一対の脚部の他方の脚部から離れる方向に撓み可能である、請求項1に記載のプローブピン。
  3. 前記一対の脚部の前記長手方向沿いの中心線と、前記弾性部の前記長手方向沿いの中心線とがずれている、請求項1または2に記載のプローブピン。
  4. 前記第1接触部の前記一対の脚部の前記一対の接点部の相互に向かい合う面の各々に、前記弾性部の付勢方向に向かうに従って互いに離れる傾斜面を有している、請求項1からのいずれか1つに記載のプローブピン。
  5. 前記第1接触部の前記一対の脚部の前記一対の接点部の各々が、湾曲面を有している、請求項1からのいずれか1つに記載のプローブピン。
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Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6988954B2 (ja) * 2016-06-17 2022-01-05 オムロン株式会社 プローブピン
JP6737002B2 (ja) * 2016-06-17 2020-08-05 オムロン株式会社 プローブピン
KR101958353B1 (ko) * 2017-08-04 2019-03-15 리노공업주식회사 검사장치
WO2019116512A1 (ja) * 2017-12-14 2019-06-20 オムロン株式会社 ソケット、検査治具、検査ユニットおよび検査装置
WO2019138507A1 (ja) 2018-01-11 2019-07-18 オムロン株式会社 プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置
CN111033272B (zh) * 2018-01-11 2022-07-26 欧姆龙株式会社 探针、检查工具、检查单元和检查装置
CN114441813A (zh) * 2018-01-11 2022-05-06 欧姆龙株式会社 探针、检查工具、检查单元和检查装置
CN108776400B (zh) * 2018-07-17 2024-04-05 武汉精测电子集团股份有限公司 一种角度可调的便携式电子屏幕测试治具
CN109061238B (zh) * 2018-08-10 2023-10-10 武汉精测电子集团股份有限公司 一种翻盖式垂直压接pogo导通装置
JP7354534B2 (ja) * 2018-11-08 2023-10-03 オムロン株式会社 プローブピンおよび検査治具
JP7314633B2 (ja) * 2019-06-11 2023-07-26 オムロン株式会社 プローブピン、検査治具および検査ユニット
KR101999521B1 (ko) * 2019-01-17 2019-07-12 위드시스템 주식회사 핀 파손 방지형 다중 접촉 소켓
JP2020180889A (ja) * 2019-04-25 2020-11-05 オムロン株式会社 プローブピン、検査治具および検査ユニット
JP7318297B2 (ja) * 2019-04-25 2023-08-01 オムロン株式会社 プローブピン、検査治具および検査ユニット
JP7306082B2 (ja) * 2019-06-10 2023-07-11 オムロン株式会社 プローブピン、検査治具および検査ユニット
CN110658364A (zh) * 2019-10-23 2020-01-07 柏成文 一种测试针
KR102086391B1 (ko) * 2019-11-05 2020-03-09 주식회사 플라이업 회로 검사장치
TWI737291B (zh) * 2020-05-08 2021-08-21 中華精測科技股份有限公司 垂直式測試裝置
CN111579837B (zh) * 2020-05-18 2022-09-20 武汉精毅通电子技术有限公司 一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器
CN111579836B (zh) * 2020-05-18 2023-01-17 武汉精毅通电子技术有限公司 一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器
CN111579833B (zh) * 2020-05-18 2022-12-23 武汉精毅通电子技术有限公司 一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器
KR102431964B1 (ko) * 2020-09-11 2022-08-12 주식회사 오킨스전자 멀티-레이어 콘택 핀
JP2022135106A (ja) 2021-03-04 2022-09-15 オムロン株式会社 プローブピン、検査治具および検査治具ユニット
KR102602053B1 (ko) 2021-06-16 2023-11-14 주식회사 메가터치 프로브 핀 및 그 프로브 핀을 구비한 소켓
KR102556869B1 (ko) * 2021-06-16 2023-07-18 주식회사 아이에스시 전기 접속 커넥터
KR20230112812A (ko) * 2022-01-21 2023-07-28 (주)포인트엔지니어링 전기 전도성 접촉핀 및 이를 구비하는 검사장치
KR20230126339A (ko) * 2022-02-23 2023-08-30 (주)포인트엔지니어링 전기 전도성 접촉핀 및 이를 구비하는 검사장치
KR20230127719A (ko) * 2022-02-25 2023-09-01 (주)포인트엔지니어링 전기 전도성 접촉핀
KR20240021462A (ko) * 2022-08-10 2024-02-19 (주)포인트엔지니어링 전기 전도성 접촉핀 및 이를 구비하는 검사 장치

Family Cites Families (48)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2426337A1 (de) * 1974-05-29 1975-12-11 Siemens Ag Kontaktiervorrichtung zum simultanen abtasten von kontaktstellen
JPH0434380A (ja) * 1990-05-30 1992-02-05 Toshiba Chem Corp Icソケット
DE4024456A1 (de) * 1990-08-01 1992-02-06 Dunkel Otto Gmbh Kontaktstift-kontaktfederbuchsen-baueinheit
JPH0817500A (ja) * 1994-06-30 1996-01-19 Advantest Corp Bgaic用ソケット及びこれに用いるスプリングピン
JP2704362B2 (ja) * 1994-07-22 1998-01-26 株式会社モリモト Bgaパッケージ検査用のicソケットピン
JP3622866B2 (ja) * 1995-03-31 2005-02-23 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット
JPH10303258A (ja) * 1997-04-22 1998-11-13 Sumitomo Electric Ind Ltd 電子、電気回路の検査装置
JP3072071B2 (ja) * 1997-11-26 2000-07-31 日本航空電子工業株式会社 コンタクト
JP3372240B2 (ja) * 1998-06-26 2003-01-27 山一電機株式会社 球面形バンプに対するコンタクトの接触構造
JP3719003B2 (ja) * 1998-07-08 2005-11-24 日立ハイテク電子エンジニアリング株式会社 Icソケット
JP4414017B2 (ja) * 1999-05-25 2010-02-10 モレックス インコーポレイテド Icソケット
JP2001093637A (ja) * 1999-09-28 2001-04-06 Hitachi Electronics Eng Co Ltd Icソケット
US6464511B1 (en) * 1999-11-17 2002-10-15 Advantest Corporation IC socket and IC tester
CN1267733C (zh) * 2000-05-01 2006-08-02 日本发条株式会社 导电性探针及电探测装置
JP2001318119A (ja) * 2000-05-02 2001-11-16 Fujitsu Ltd Icパッケージの接続方法及びicコンタクタ
JP2001324515A (ja) * 2000-05-17 2001-11-22 Suncall Corp 電子部品検査用コンタクトプローブ装置
JP3942823B2 (ja) * 2000-12-28 2007-07-11 山一電機株式会社 検査装置
JP3501772B2 (ja) * 2001-05-10 2004-03-02 ウエルズ・シーティアイ株式会社 Icソケット
JP2003036950A (ja) * 2001-05-16 2003-02-07 Yamaichi Electronics Co Ltd Icソケットおよびicパッケージの取付方法
JP2003045539A (ja) * 2001-05-22 2003-02-14 Enplas Corp コンタクトピン及び電気部品用ソケット
WO2003056346A1 (fr) * 2001-12-25 2003-07-10 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Sonde de contact
JP3822528B2 (ja) * 2002-05-16 2006-09-20 山一電機株式会社 Icソケット
WO2004004565A1 (ja) * 2002-07-02 2004-01-15 Arkray, Inc. 穿刺用ユニットおよび穿刺装置
JP2004138405A (ja) * 2002-10-15 2004-05-13 Renesas Technology Corp 半導体装置測定用プローブ
US6967492B2 (en) * 2003-11-26 2005-11-22 Asm Assembly Automation Ltd. Spring contact probe device for electrical testing
CN1558242A (zh) * 2004-01-18 2004-12-29 上海飞利威尔金属导线有限公司 低阻抗的探针结构及用途
JP2005345443A (ja) * 2004-06-07 2005-12-15 Japan Electronic Materials Corp プローブカード用接続ピンおよびそれを用いたプローブカード
KR100584225B1 (ko) 2004-10-06 2006-05-29 황동원 전자장치용 콘택트
CN100516885C (zh) * 2005-03-22 2009-07-22 旺矽科技股份有限公司 弹性微接触元件及其制造方法
JP5096825B2 (ja) * 2007-07-26 2012-12-12 株式会社日本マイクロニクス プローブ及び電気的接続装置
KR100825294B1 (ko) * 2007-10-05 2008-04-25 주식회사 코디에스 탐침
JP5190470B2 (ja) * 2008-01-02 2013-04-24 中村 敏幸 一体型で構成されるプローブピン及びその製造方法
WO2011036800A1 (ja) * 2009-09-28 2011-03-31 株式会社日本マイクロニクス 接触子及び電気的接続装置
KR101058146B1 (ko) * 2009-11-11 2011-08-24 하이콘 주식회사 스프링 콘택트 및 스프링 콘택트 내장 소켓
CN201724963U (zh) * 2010-08-03 2011-01-26 船齐股份有限公司 液晶显示器用探针检测装置
EP2646839B1 (en) * 2010-12-03 2017-08-16 Ardent Concepts, Inc. Compliant electrical contact and assembly
DE202011001670U1 (de) * 2011-01-18 2011-03-31 Ingun Prüfmittelbau Gmbh Hochfrequenz-Prüfstift Vorrichtung
CN202133687U (zh) * 2011-03-25 2012-02-01 金准科技股份有限公司 测试探针与探针固定座
TWI482975B (zh) * 2011-05-27 2015-05-01 Mpi Corp Spring-type micro-high-frequency probe
US8970238B2 (en) * 2011-06-17 2015-03-03 Electro Scientific Industries, Inc. Probe module with interleaved serpentine test contacts for electronic device testing
JP5879906B2 (ja) * 2011-10-14 2016-03-08 オムロン株式会社 接触子およびこれを用いたプローブ
JP6000046B2 (ja) * 2012-10-02 2016-09-28 日置電機株式会社 プローブユニットおよび検査装置
CN108333394B (zh) * 2012-12-04 2020-06-09 日本电子材料株式会社 接触探针
KR102018784B1 (ko) * 2013-08-13 2019-09-05 (주)위드멤스 미세 전극 회로 검사용 핀 제조 방법 및 이의 방법으로 제조된 미세 전극 회로 검사용 핀
JP5985447B2 (ja) * 2013-08-21 2016-09-06 オムロン株式会社 プローブピン、および、これを用いた電子デバイス
CN103529253A (zh) * 2013-10-10 2014-01-22 苏州市国晶电子科技有限公司 一种用于测试治具的探针
JP6337633B2 (ja) * 2014-06-16 2018-06-06 オムロン株式会社 プローブピン
KR101492242B1 (ko) * 2014-07-17 2015-02-13 주식회사 아이에스시 검사용 접촉장치 및 전기적 검사소켓

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