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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
PL229568B1 (pl) * 2013-05-30 2018-07-31 Ammono Spolka Akcyjna Sposób wytwarzania monokrystalicznego azotku zawierającego gal i monokrystaliczny azotek zawierający gal, wytworzony tym sposobem
JP6260125B2 (ja) * 2013-07-08 2018-01-17 富士通株式会社 分析装置、分析方法、成膜装置及び成膜方法
EP3255181A4 (en) 2015-02-06 2018-01-10 Mitsubishi Chemical Corporation GaN SINGLE CRYSTAL AND METHOD FOR MANUFACTURING GaN SINGLE CRYSTAL
JP6760285B2 (ja) 2015-07-14 2020-09-23 三菱ケミカル株式会社 非極性または半極性GaNウエハ
JP2017088430A (ja) * 2015-11-05 2017-05-25 三菱化学株式会社 GaNウエハ
JP6759831B2 (ja) * 2016-08-08 2020-09-23 三菱ケミカル株式会社 C面GaN基板
CN113604885B (zh) * 2016-08-08 2024-02-02 三菱化学株式会社 C面GaN基板和氮化物半导体器件的制造方法
CN109563642B (zh) * 2016-08-08 2021-04-13 三菱化学株式会社 导电性C面GaN基板
JPWO2022181755A1 (enExample) * 2021-02-25 2022-09-01
WO2022209170A1 (ja) * 2021-03-30 2022-10-06 日本碍子株式会社 スパッタリングターゲット
CN117897521A (zh) * 2021-08-25 2024-04-16 三菱化学株式会社 氮化镓晶体、氮化镓基板及氮化镓晶体的制造方法
US12677604B2 (en) * 2021-12-01 2026-07-07 Slt Technologies, Inc. Group III nitride substrate with oxygen gradient, method of making, and method of use
JPWO2023190969A1 (enExample) 2022-03-31 2023-10-05

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3876518B2 (ja) 1998-03-05 2007-01-31 日亜化学工業株式会社 窒化物半導体基板の製造方法および窒化物半導体基板
JP3788104B2 (ja) * 1998-05-28 2006-06-21 住友電気工業株式会社 窒化ガリウム単結晶基板及びその製造方法
TW428331B (en) 1998-05-28 2001-04-01 Sumitomo Electric Industries Gallium nitride single crystal substrate and method of producing the same
JP4016062B2 (ja) * 1998-07-31 2007-12-05 シャープ株式会社 窒化物半導体構造とその製造方法および発光素子
WO2003035945A2 (en) * 2001-10-26 2003-05-01 Ammono Sp. Zo.O. Substrate for epitaxy
JP4229624B2 (ja) 2002-03-19 2009-02-25 三菱化学株式会社 窒化物単結晶の製造方法
AUPS240402A0 (en) * 2002-05-17 2002-06-13 Macquarie Research Limited Gallium nitride
US7638815B2 (en) 2002-12-27 2009-12-29 Momentive Performance Materials Inc. Crystalline composition, wafer, and semi-conductor structure
JP5356933B2 (ja) 2004-03-10 2013-12-04 三菱化学株式会社 窒化物結晶の製造装置
JP5014804B2 (ja) 2004-06-11 2012-08-29 アンモノ・スプウカ・ジ・オグラニチョノン・オドポヴィエドニアウノシツィオン バルク単結晶ガリウム含有窒化物およびその用途
EP1759408A1 (en) * 2004-06-11 2007-03-07 AMMONO Sp.z o.o. High electron mobility transistor (hemt) made of layers of group xiii element nitrides and manufacturing method thereof.
PL371405A1 (pl) * 2004-11-26 2006-05-29 Ammono Sp.Z O.O. Sposób wytwarzania objętościowych monokryształów metodą wzrostu na zarodku
JP5260831B2 (ja) * 2006-01-05 2013-08-14 古河機械金属株式会社 Iii族窒化物半導体結晶の製造方法、iii族窒化物半導体基板の製造方法および半導体装置の製造方法
US8269251B2 (en) 2007-05-17 2012-09-18 Mitsubishi Chemical Corporation Method for producing group III nitride semiconductor crystal, group III nitride semiconductor substrate, and semiconductor light-emitting device
TWI482204B (zh) * 2007-11-27 2015-04-21 學校法人上智學院 Iii族氮化物構造體及iii族氮化物構造體之製造方法
US9404197B2 (en) * 2008-07-07 2016-08-02 Soraa, Inc. Large area, low-defect gallium-containing nitride crystals, method of making, and method of use
US20120000415A1 (en) * 2010-06-18 2012-01-05 Soraa, Inc. Large Area Nitride Crystal and Method for Making It
JP5104830B2 (ja) * 2008-09-08 2012-12-19 住友電気工業株式会社 基板
US9589792B2 (en) * 2012-11-26 2017-03-07 Soraa, Inc. High quality group-III metal nitride crystals, methods of making, and methods of use
JP5821164B2 (ja) 2010-04-27 2015-11-24 住友電気工業株式会社 GaN基板および発光デバイス
US8253162B2 (en) 2010-04-27 2012-08-28 Sumitomo Electric Industries, Ltd. GaN substrate and light-emitting device
JP2011230966A (ja) 2010-04-28 2011-11-17 Mitsubishi Chemicals Corp 第13族金属窒化物結晶の製造方法
US9564320B2 (en) 2010-06-18 2017-02-07 Soraa, Inc. Large area nitride crystal and method for making it
KR20140010134A (ko) * 2011-03-22 2014-01-23 미쓰비시 가가꾸 가부시키가이샤 질화물 결정의 제조 방법
WO2012140844A1 (ja) * 2011-04-12 2012-10-18 パナソニック株式会社 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子およびその製造方法
JP2013035711A (ja) * 2011-08-05 2013-02-21 Mitsubishi Chemicals Corp 六角棒状GaN系半導体結晶およびその製造方法
JP5870887B2 (ja) 2011-09-30 2016-03-01 三菱化学株式会社 窒化物単結晶のアニール処理方法
JP6137197B2 (ja) 2012-12-17 2017-05-31 三菱化学株式会社 窒化ガリウム基板、および、窒化物半導体結晶の製造方法

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