JP2013229096A5 - - Google Patents
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Description
上記目的を達成するためになされた本発明によるメモリ装置は、ウィークセルロウ(weak cell row)とノーマルセルロウ(normal cell row)とを含む複数の揮発性メモリセルのロウ(row)を備えるメモリセルアレイと、コマンドを受信するコマンドデコーダと、対応するウィークセルロウを識別する複数のウィークセルロウアドレスを保存するアドレステーブルと、前記メモリセルアレイの動作を制御して前記複数の揮発性メモリセルのロウを周期的にリフレッシュするリフレッシュ制御回路とを有し、前記リフレッシュ制御回路は、前記コマンドデコーダが、前記アドレステーブルに保存されたウィークセルロウアドレスによって第1ウィークセルロウが識別された時、前記第1ウィークセルロウに書き込むための書き込みコマンドを受信することに応答して前記第1ウィークセルロウのリフレッシュ動作を起こさせることを特徴とする。
前記リフレッシュ制御回路は、前記第1ウィークセルロウに書き込むための前記書き込みコマンドを受信した後、第1時間周期の間、リフレッシュ動作のシークエンスをモニタすることが好ましい。
前記リフレッシュ制御回路は、前記第1時間周期の間、前記第1ウィークセルロウがリフレッシュされなかったと判断された場合、前記リフレッシュ動作のシークエンスにリフレッシュ動作を追加することが好ましい。
前記リフレッシュ制御回路は、前記第1時間周期より長い第2時間周期でノーマルセルロウをリフレッシュすることが好ましい。
前記リフレッシュ制御回路は、第2ロウのスケジュールされたリフレッシュ動作を前記第1ウィークセルロウのリフレッシュ動作に差し替えることが好ましい。
前記リフレッシュ制御回路は、前記第1ウィークセルロウのリフレッシュ動作後、直ちに前記第2ロウのリフレッシュ動作を起こさせることが好ましい。
前記リフレッシュ制御回路は、第2ロウのリフレッシュ動作と前記第1ウィークセルロウに対するリフレッシュ動作が同時に起こるようにさせることが好ましい。
前記リフレッシュ制御回路は、所定の時間内にリフレッシュスケジュールが前記第1ウィークセルロウのリフレッシュ動作を含むか否かを判断するために、前記リフレッシュスケジュールを分析することが好ましい。
前記リフレッシュ制御回路は、前記第1時間周期の間、前記第1ウィークセルロウがリフレッシュされなかったと判断された場合、前記リフレッシュ動作のシークエンスにリフレッシュ動作を追加することが好ましい。
前記リフレッシュ制御回路は、前記第1時間周期より長い第2時間周期でノーマルセルロウをリフレッシュすることが好ましい。
前記リフレッシュ制御回路は、第2ロウのスケジュールされたリフレッシュ動作を前記第1ウィークセルロウのリフレッシュ動作に差し替えることが好ましい。
前記リフレッシュ制御回路は、前記第1ウィークセルロウのリフレッシュ動作後、直ちに前記第2ロウのリフレッシュ動作を起こさせることが好ましい。
前記リフレッシュ制御回路は、第2ロウのリフレッシュ動作と前記第1ウィークセルロウに対するリフレッシュ動作が同時に起こるようにさせることが好ましい。
前記リフレッシュ制御回路は、所定の時間内にリフレッシュスケジュールが前記第1ウィークセルロウのリフレッシュ動作を含むか否かを判断するために、前記リフレッシュスケジュールを分析することが好ましい。
また、上記目的を達成するためになされた本発明によるメモリ装置は、メモリ装置であって、ウィークセルロウ(weak cell row)とノーマルセルロウ(normal cell row)とを含む複数の揮発性メモリセルのロウ(row)を備えるメモリセルアレイと、第1タイムウインドウでの第1書き込み動作を示す第1書き込みコマンドと、第2タイムウインドウでの第2書き込み動作を示す第2書き込みコマンドを受信し、前記第1書き込みコマンドと前記第2書き込みコマンドは、それぞれ異なるコマンドコードを含み、前記第1書き込みコマンドと前記第2書き込みコマンドは、前記メモリ装置に対し外部のソースから受信するコマンドデコーダと、前記第1タイムウインドウでウィークセルロウに対する前記第1書き込み動作を遂行し、前記第1タイムウインドウより小さい前記第2タイムウインドウでノーマルセルロウに対する第2書き込み動作を遂行するロウデコーダとを有することを特徴とする。
前記コマンドデコーダは、前記第1及び第2書き込みコマンドのそれぞれを受信すると共に、書き込み動作が遂行されるロウを識別するそれぞれのアドレスと、前記識別されたロウに書き込む時に用いられる書き込みタイムを識別するそれぞれのコードとを受信することが好ましい。
前記メモリセルアレイは、対応するウィークセルロウを識別する複数のウィークセルロウアドレスを保存するアドレステーブルをさらに含むことが好ましい。
前記メモリ装置は、前記ウィークセルロウアドレスをメモリコントローラに転送することが好ましい。
前記メモリセルアレイは、対応するウィークセルロウを識別する複数のウィークセルロウアドレスを保存するアドレステーブルをさらに含むことが好ましい。
前記メモリ装置は、前記ウィークセルロウアドレスをメモリコントローラに転送することが好ましい。
上記目的を達成するためになされた本発明によるメモリシステムは、上述の本発明によるメモリ装置と、前記メモリ装置と通信して前記メモリ装置にコマンドを発行するメモリコントローラとを備えることを特徴とする。
Claims (21)
- ウィークセルロウ(weak cell row)とノーマルセルロウ(normal cell row)とを含む複数の揮発性メモリセルのロウ(row)を備えるメモリセルアレイと、
コマンドを受信するコマンドデコーダと、
対応するウィークセルロウを識別する複数のウィークセルロウアドレスを保存するアドレステーブルと、
前記メモリセルアレイの動作を制御して前記複数の揮発性メモリセルのロウを周期的にリフレッシュするリフレッシュ制御回路とを有し、
前記リフレッシュ制御回路は、前記コマンドデコーダが、前記アドレステーブルに保存されたウィークセルロウアドレスによって第1ウィークセルロウが識別された時、前記第1ウィークセルロウに書き込むための書き込みコマンドを受信することに応答して前記第1ウィークセルロウのリフレッシュ動作を起こさせることを特徴とするメモリ装置。 - 前記リフレッシュ制御回路は、前記第1ウィークセルロウに書き込むための前記書き込みコマンドを受信した後、第1時間周期の間、リフレッシュ動作のシークエンスをモニタすることを特徴とする請求項1に記載のメモリ装置。
- 前記リフレッシュ制御回路は、前記第1時間周期の間、前記第1ウィークセルロウがリフレッシュされなかったと判断された場合、前記リフレッシュ動作のシークエンスにリフレッシュ動作を追加することを特徴とする請求項2に記載のメモリ装置。
- 前記リフレッシュ制御回路は、前記第1時間周期より長い第2時間周期でノーマルセルロウをリフレッシュすることを特徴とする請求項3に記載のメモリ装置。
- 前記リフレッシュ制御回路は、第2ロウのスケジュールされたリフレッシュ動作を前記第1ウィークセルロウのリフレッシュ動作に差し替えることを特徴とする請求項1に記載のメモリ装置。
- 前記リフレッシュ制御回路は、前記第1ウィークセルロウのリフレッシュ動作後、直ちに前記第2ロウのリフレッシュ動作を起こさせることを特徴とする請求項5に記載のメモリ装置。
- 前記リフレッシュ制御回路は、第2ロウのリフレッシュ動作と前記第1ウィークセルロウに対するリフレッシュ動作が同時に起こるようにさせることを特徴とする請求項1に記載のメモリ装置。
- 前記リフレッシュ制御回路は、所定の時間内にリフレッシュスケジュールが前記第1ウィークセルロウのリフレッシュ動作を含むか否かを判断するために、前記リフレッシュスケジュールを分析することを特徴とする請求項1に記載のメモリ装置。
- メモリ装置であって、
ウィークセルロウ(weak cell row)とノーマルセルロウ(normal cell row)とを含む複数の揮発性メモリセルのロウ(row)を備えるメモリセルアレイと、
第1タイムウインドウでの第1書き込み動作を示す第1書き込みコマンドと、第2タイムウインドウでの第2書き込み動作を示す第2書き込みコマンドを受信し、前記第1書き込みコマンドと前記第2書き込みコマンドは、それぞれ異なるコマンドコードを含み、前記第1書き込みコマンドと前記第2書き込みコマンドは、前記メモリ装置に対し外部のソースから受信するコマンドデコーダと、
前記第1タイムウインドウでウィークセルロウに対する前記第1書き込み動作を遂行し、前記第1タイムウインドウより小さい前記第2タイムウインドウでノーマルセルロウに対する第2書き込み動作を遂行するロウデコーダとを有することを特徴とするメモリ装置。 - 前記コマンドデコーダは、前記第1及び第2書き込みコマンドのそれぞれを受信すると共に、書き込み動作が遂行されるロウを識別するそれぞれのアドレスと、前記識別されたロウに書き込む時に用いられる書き込みタイムを識別するそれぞれのコードとを受信することを特徴とする請求項8に記載のメモリ装置。
- 前記メモリセルアレイは、対応するウィークセルロウを識別する複数のウィークセルロウアドレスを保存するアドレステーブルをさらに含むことを特徴とする請求項9に記載のメモリ装置。
- 前記メモリ装置は、前記ウィークセルロウアドレスをメモリコントローラに転送することを特徴とする請求項11に記載のメモリ装置。
- メモリコントローラであって、
メモリ装置に転送されるリフレッシュコマンドと書き込みコマンドとを含む複数のコマンドを生成する制御回路と、
前記メモリ装置の複数のウィークセルロウアドレスを保存するテーブルと、
前記メモリ装置に転送される第1書き込みコマンドと関連した第1アドレスが前記複数のウィークセルロウアドレスの内のいずれか一つに該当するか否かを判断するアドレス比較部とを有し、
前記制御回路は、前記アドレス比較部の前記判断に応答して前記第1アドレスと関連したリフレッシュコマンドをスケジュールすることを特徴とするメモリコントローラ。 - 前記メモリコントローラは、前記メモリ装置から前記複数のウィークセルロウアドレスを受信し、前記受信された複数のウィークセルロウアドレスを前記テーブルに保存することを特徴とする請求項13に記載のメモリコントローラ。
- 前記制御回路は、前記第1アドレスに該当する第1セルロウをリフレッシュする第1リフレッシュコマンドを生成し、
前記第1セルロウは、前記第1セルロウに対する書き込み動作後、第1時間周期内にリフレッシュされることを特徴とする請求項13に記載のメモリコントローラ。 - 前記制御回路は、第2時間周期内に第2セルロウをリフレッシュする少なくとも一つの第2リフレッシュコマンドを生成し、
前記第2時間周期は前記第1時間周期より大きいことを特徴とする請求項15に記載のメモリコントローラ。 - 前記制御回路は、前記アドレス比較部に応答して前記テーブルに保存されたウィークセルロウに対する第1書き込みコマンドと、前記テーブルで識別されなかったノーマルセルロウに対する第2書き込みコマンドとを生成することを特徴とする請求項13に記載のメモリコントローラ。
- 前記第1書き込みコマンドは、前記メモリ装置が第1時間周期の間、書き込み動作を遂行するようにさせ、前記第2書き込みコマンドは前記メモリ装置が前記第1時間周期より小さい第2時間周期の間、書き込み動作を遂行するようにさせることを特徴とする請求項17に記載のメモリコントローラ。
- 前記第1書き込みコマンドのコマンドコードは、前記第2書き込みコマンドのコマンドコードと異なることを特徴とする請求項18に記載のメモリコントローラ。
- 前記制御回路は、第1時間インジケータを有する前記第1書き込みコマンドと、第2時間インジケータを有する前記第2書き込みコマンドとを生成し、
前記メモリ装置は、前記第1及び第2時間インジケータに応答して前記第1及び第2時間周期の間、それぞれ書き込み動作を起こさせることを特徴とする請求項18に記載のメモリコントローラ。 - 請求項1に記載のメモリ装置と、
前記メモリ装置と通信して前記メモリ装置にコマンドを発行するメモリコントローラとを備えることを特徴とするメモリシステム。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2012-0042411 | 2012-04-24 | ||
KR1020120042411A KR101966858B1 (ko) | 2012-04-24 | 2012-04-24 | 휘발성 메모리 장치의 동작 방법, 휘발성 메모리 장치 및 메모리 시스템의 제어 방법 |
US13/720,998 | 2012-12-19 | ||
US13/720,998 US9165637B2 (en) | 2012-04-24 | 2012-12-19 | Volatile memory device and a memory controller |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013229096A JP2013229096A (ja) | 2013-11-07 |
JP2013229096A5 true JP2013229096A5 (ja) | 2015-12-10 |
JP5952771B2 JP5952771B2 (ja) | 2016-07-13 |
Family
ID=49381238
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013091188A Active JP5952771B2 (ja) | 2012-04-24 | 2013-04-24 | メモリ装置及びメモリコントローラ並びにメモリシステム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9165637B2 (ja) |
JP (1) | JP5952771B2 (ja) |
KR (1) | KR101966858B1 (ja) |
CN (1) | CN103377158B (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2012
- 2012-04-24 KR KR1020120042411A patent/KR101966858B1/ko active IP Right Grant
- 2012-12-19 US US13/720,998 patent/US9165637B2/en active Active
-
2013
- 2013-04-19 CN CN201310136956.XA patent/CN103377158B/zh active Active
- 2013-04-24 JP JP2013091188A patent/JP5952771B2/ja active Active
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2015
- 2015-09-18 US US14/858,140 patent/US9653141B2/en active Active
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