JP2012238877A - 露光装置、露光装置のコーティング、リソグラフィ装置、デバイス製造方法、およびそれにより製造されたデバイス - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 リソグラフィ装置の基盤テーブルに備えられるセンサーなどの露光装置の各種部品の少なくとも一部に、半導体、光触媒、および(または)金属酸化物を含むコーティングを付与することを特徴とする。
【選択図】図2
Description
BD ビーム導入システム
C ターゲット箇所
CO コンデンサー
IF 位置センサー
IL 照射系すなわち照射装置
IN 積分装置
M1,M2 整合マーカー
MA マスク
MT マスク・テーブル
P1,P2 基板整合マーカー
PB 放射ビーム
PL 投影系
PW 位置決め装置
SO 放射光源
TIS1,TIS2 センサー
W 基板
WT 基板テーブル
Claims (28)
- 放射ビームを供給するようになされた放射系と、
所望のパターンに従って放射ビームをパターン形成するようになされたパターン形成装置と、
基盤を支持するようになされた基盤テーブルと、
パターン形成された放射ビームを基盤のターゲット箇所に投影するようになされた投影系とを含み、基盤テーブルの少なくとも一部がコーティングで被覆され、コーティングは金属酸化物、または光触媒、または半導体、またはそれらのいずれかの組合せを含んでなる露光装置。 - 基盤テーブルの被覆された部分がセンサーを含んでいる請求項1に記載された装置。
- センサーが収差センサー、放射線量センサー、伝達像センサー、または反射像センサーである請求項2に記載された装置。
- 基盤テーブルの被覆された部分が伝達像センサーを含んでいる請求項3に記載された装置。
- コーティングが金属酸化物を含んでいる請求項1に記載された装置。
- コーティングが光触媒を含んでいる請求項1に記載された装置。
- コーティングが半導体を含んでいる請求項1に記載された装置。
- コーティングが二酸化チタンを含んでいる請求項1に記載された装置。
- コーティングがその全重量に対して少なくとも50重量%の二酸化チタンを含んでいる請求項1に記載された装置。
- コーティングが金属酸化物、光触媒、および(または)半導体を含んでいる請求項1に記載された装置。
- 装置が浸漬式リソグラフィ装置である請求項1に記載された装置。
- 放射ビームが5〜20nmの範囲の波長を有する請求項1に記載された装置。
- コーティングが約10μm未満の厚さを有する請求項1に記載された装置。
- コーティングが約50〜500nmの範囲の厚さを有する請求項1に記載された装置。
- 金属酸化物、または光触媒、または半導体、またはそれらのいずれかの組合せを含んでなるコーティングで少なくとも一部が覆われた基盤テーブルに基盤を支持させ、
パターン形成された放射ビームを基盤のターゲット箇所に投影することを含むデバイス製造方法。 - 請求項15に記載された方法により製造されたデバイス。
- 集積回路である請求項16に記載されたデバイス。
- 基盤テーブルを含み、基盤テーブルの少なくとも一部がコーティングを有し、コーティングは親水性で約10゜未満の水接触角を有している浸漬式リソグラフィ装置。
- 水接触角が約4゜未満である請求項18に記載された装置。
- 水接触角が約0゜である請求項18に記載された装置。
- 親水性が光誘起される請求項18に記載された装置。
- 光触媒コーティングを有する部分を含み、極紫外線リソグラフィ装置または浸漬式リソグラフィ装置であるリソグラフィ装置。
- 前記部分がその作動時に放射光で露光される請求項22に記載された装置。
- 前記部分がセンサーを含んでいる請求項22に記載された装置。
- 光触媒コーティングを有する部分を含む露光装置からのパターン形成された放射ビームで基盤を露光することを含むデバイス製造方法。
- 露光装置が極紫外線リソグラフィ装置または浸漬式リソグラフィ装置である請求項25に記載されたデバイス製造方法。
- 請求項25に記載された方法により製造されたデバイス。
- 集積回路である請求項27に記載されたデバイス。
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