JP2011522350A - ハイブリッドメモリ管理 - Google Patents

ハイブリッドメモリ管理 Download PDF

Info

Publication number
JP2011522350A
JP2011522350A JP2011511797A JP2011511797A JP2011522350A JP 2011522350 A JP2011522350 A JP 2011522350A JP 2011511797 A JP2011511797 A JP 2011511797A JP 2011511797 A JP2011511797 A JP 2011511797A JP 2011522350 A JP2011522350 A JP 2011522350A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
data
memory cell
logical address
memory device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2011511797A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5728672B2 (ja
Inventor
ヘンリー ラドキ,ウィリアム
マーレイ,マイケル
ラグナー フールイェルム,マーティン
ゲルドマン,ジョン
Original Assignee
マイクロン テクノロジー, インク.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=41381226&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JP2011522350(A) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by マイクロン テクノロジー, インク. filed Critical マイクロン テクノロジー, インク.
Publication of JP2011522350A publication Critical patent/JP2011522350A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5728672B2 publication Critical patent/JP5728672B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/0223User address space allocation, e.g. contiguous or non contiguous base addressing
    • G06F12/023Free address space management
    • G06F12/0238Memory management in non-volatile memory, e.g. resistive RAM or ferroelectric memory
    • G06F12/0246Memory management in non-volatile memory, e.g. resistive RAM or ferroelectric memory in block erasable memory, e.g. flash memory
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/10Providing a specific technical effect
    • G06F2212/1016Performance improvement
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/10Providing a specific technical effect
    • G06F2212/1032Reliability improvement, data loss prevention, degraded operation etc
    • G06F2212/1036Life time enhancement
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/72Details relating to flash memory management
    • G06F2212/7201Logical to physical mapping or translation of blocks or pages
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/72Details relating to flash memory management
    • G06F2212/7211Wear leveling
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/34Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
    • G11C16/349Arrangements for evaluating degradation, retention or wearout, e.g. by counting erase cycles
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C2211/00Indexing scheme relating to digital stores characterized by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C2211/56Indexing scheme relating to G11C11/56 and sub-groups for features not covered by these groups
    • G11C2211/564Miscellaneous aspects
    • G11C2211/5641Multilevel memory having cells with different number of storage levels

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Memory System (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)

Abstract

シングルレベルおよびマルチレベルのメモリセルを利用するハイブリッドメモリデバイスにおけるデータ格納を管理するための、方法および装置である。論理アドレスは、実行される書き込み動作の頻度に基づいて、シングルレベルおよびマルチレベルのメモリセルの間に分散できる。メモリ内の論理アドレスに対応するデータの初期の格納は、最初に全てのデータをシングルレベルメモリへ書き込む、または、最初に全てのデータをマルチレベルメモリへ書き込むことを含む、種々の方法によって決定できる。他の方法では、ホストは、予想される使用に基づき、論理アドレスの書き込みを、シングルレベルまたはマルチレベルメモリセルへ方向付けることができる。

Description

本開示は、概してメモリデバイスに関し、特に、本開示は、シングルおよびマルチレベルのメモリセル格納の機能を有するメモリデバイスに格納されるデータの管理に関する。
メモリデバイスは、典型的には、コンピュータまたは他の電子デバイス内の、内部的な半導体集積回路として提供される。ランダムアクセスメモリ(RAM)、読み込み専用メモリ(ROM)、動的ランダムアクセスメモリ(DRAM)、同期型動的ランダムアクセスメモリ(SDRAM)、およびフラッシュメモリを含む、多くの異なる種類のメモリが存在する。
フラッシュメモリデバイスは、広範囲な電子的利用のために不揮発性メモリの安価な供給源として開発されてきた。フラッシュメモリデバイスは、典型的には、高メモリ密度、高信頼性、および低電力消費量を実現する1トランジスタのメモリセルを使用する。フラッシュメモリが一般的に利用されるものには、パーソナルコンピュータ、パーソナルデジタルアシスタント(PDA)、デジタルカメラ、および携帯電話を含む。基本入力/出力システム(BIOS)等のプログラムコードおよびシステムデータは、典型的には、パーソナルコンピュータシステムで使用されるためにフラッシュメモリデバイスに格納される。
フラッシュメモリは、典型的には、NORフラッシュおよびNANDフラッシュとして公知の2つの基本的なアーキテクチャのうちの1つを利用する。この名称は、デバイスを読み込むために使用される論理に由来している。NANDタイプのフラッシュメモリアレイのアーキテクチャでは、メモリアレイのフローティングゲートメモリセルは行および列のマトリクスで構成される。アレイのメモリセルは、さらに、典型的にはそれぞれ8、16、32またはそれ以上のストリングで相互に構成され、ここで、ストリングにおけるメモリセルは、多くの場合ビット線と称される、共通なソース線および列トランスファー線の間を、ソースからドレインへと直列に相互接続される。次に、そのゲートに接続されるワード線を選択することにより、フローティングゲートメモリセルの行をアクティブ化する行デコーダによって、アレイにアクセスされる。さらに、ビット線は、現在実行されている動作によって、高くまたは低く駆動することができる。
電子システムのパフォーマンスおよび複雑性が増加するにつれて、システム内の追加的なメモリの要件も増加している。しかし、システムのコストを低く抑えるためには、パーツ数は少なくしておくことが望ましい。これは、こうした技術をマルチレベルセル(MLC)として使用することで、集積回路のメモリ密度を増加させることにより実現できる。例えば、MLC NANDフラッシュメモリは、コスト効率性の高い不揮発性メモリである。
マルチレベルメモリセルは、(例えば、ビットパターンで表される)データの状態を、メモリセルに格納される特定の範囲の閾値電圧(Vt)に割り当てる。シングルレベルメモリセル(SLC)により、各メモリセル上のシングルビットのデータの格納が可能になる。一方で、MLC技術は、セルに割り当てられる閾値電圧範囲の量およびメモリセルの寿命動作中に割り当てられる閾値電圧範囲の安定性に従って、セル毎に2ビット以上(例えば、2、4、8、16ビット)の格納を可能にする。Nビットからなるビットパターンを表すために使用される、Vt分散ウィンドウと称されることもある閾値電圧範囲(例えば、レベル)の数は、2である。例えば、1ビットは2つのレベルで、2ビットは4つのレベルで、3ビットは8つのレベルであってもよい。
例えば、セルは、それぞれ、2ビットで構成されるビットパターンに対応したデータの状態を表すために使用される、200mVの4つの異なる電圧範囲のうちの1つの範囲内のVtに割り当ててもよい。典型的には、0.2V〜0.4Vのデッドスペース(時にマージンと称される)は、Vt分散が重複しないように、各範囲内に保たれる。セルに格納される電圧が4つのVt分散のうちの1つめの範囲内である場合、この場合のセルは、論理の「11」状態を格納し、典型的には、セルの消去された状態と考えられる。電圧が、4つのVt分散のうちの2つめの範囲内である場合、この場合のセルは、論理の「10」状態を格納する。4つのVt分散のうちの3つめの分散内の電圧は、この場合のセルが論理の「00」状態を格納することを示す。最後に、4つめのVt分散に常駐するVtは、論理の「01」状態がセル内に格納されることを示す。
SLCまたはMLCメモリの使用に関連して、長所および短所が存在する。MLCメモリは、例えば、セル毎に1データビットを格納するために従来使用されてきたSLCメモリに対して、シングルメモリセル内にマルチデータビットを格納できるため、MLCメモリは、概して、メモリ密度に関してよりコスト効率が高いと考えられる。しかし、従来のSLCメモリは、従来のMLCメモリの回数よりも多くの回数(例えば、桁単位で)書き込むことができる。例えば、従来のMLCメモリの特徴として、データを10,000回程度、消去および再書き込みすると、メモリの読み込みおよび書き出しエラーが著しく起こりやすくなる、ということがある。他方で、従来のSLCメモリは、データの信頼性が低下し始めるまでに、典型的には100,000回程度、消去および再書き込みを行う場合がある。これらの密度およびパフォーマンス特性は、異なる種類のMLCアレイの間にもあてはまる。現在のところ、4および8のレベルを有するMLCデバイスが存在するが、より高密度のメモリの研究が行われている。より多くのレベルを有するMLCは、より少ないレベル(より低密度)を有するMLCよりも効率が高い(より高密度)が、これらのより高密度のデバイスは、より低密度のデバイスに対するパフォーマンスペナルティを有してもよい。SLC(2つのレベル)およびMLC(2つより多いレベル)で構築されるデバイスの場合は、それぞれ、それ自身の密度およびパフォーマンスのトレードオフを有する、複数のメモリアレイを有するデバイスとして一般化できる。一実施例として、MLC(4つのレベル)アレイおよびMLC(8つのレベル)アレイで構築されるデバイスがある。SLC、MLC(4つのレベル)およびMLC(8つのレベル)等の、2つよりも多いメモリアレイが存在する場合さえもある可能性がある。一般的な命名規則では、例えば0または1によって表される1ビットのデータを格納するために2つのレベルを利用するSLCメモリとして、SLCメモリをMLC(2つのレベル)メモリと称する。2データビットを格納するために構成されるMLCメモリは、MLC(4つのレベル)で表すことができ、3データビットはMLC(8つのレベル)等で表すことができる。MLC(4つのレベル)メモリセルは、典型的には、例えば、メモリセル毎に格納されるビット数がより低いために、MLC(8つのレベル)メモリより低密度のメモリセルと称される。SLC(例えば、MLC(2つのレベル))は、典型的には、MLC(4つのレベル)メモリより低密度のメモリと称される、等々というようになる。
上記の理由から、および本明細書を読解および理解する際に当業者には公知となる、以下に記載の理由から、当該技術において、SLCおよびMLCメモリ等の異なる密度のメモリの利用を管理するように適合されるハイブリッドメモリデバイスには、各タイプのメモリに関連付けられる好適な動作特性を利用できることが求められている。
本開示の一実施形態に従う、メモリモジュールの機能ブロック図である。 本開示の種々の実施形態に従う、複数の動作を示すフローチャートである。 本開示の一実施形態に従う、メモリデバイスの格納の一設定を図示する。 本開示の一実施形態に従う、データの移動動作を図示する。 本開示の一実施形態に従う、データの書き込み動作を図示する。 本開示の一実施形態に従う、少なくとも1つのメモリデバイスを有する電子システムの機能ブロック図である。
以下の、発明を実施するための形態において、その一部を成す添付の図面を参照する。図面において、同様の数字は、いくつかの図における本質的に同様のコンポーネントを示す。これらの実施形態は、当業者が発明を実施することを可能にするように、十分詳細に記載されている。他の実施形態を利用してもよく、また、本発明の範囲から逸脱しない限り、構造的、論理的、および電子的な変更を加えてもよい。従って、以下の発明を実施するための形態は、制限的な意味で解釈すべきものではなく、本開示の範囲は、こうした特許請求の範囲が権利を与える同等物の全範囲と共に、添付の特許請求の範囲によってのみ定義される。
上記のように、従来のSLCおよびMLCメモリは、これらに関連付けられる正および負の属性の両方を有する。SLCメモリはより高速な書き込み動作を可能にするものであり、MLCメモリと比較して、メモリセルの信頼性が低下し始めるまで持ちこたえることができる書き込み動作数はずっと多い。しかし、MLCメモリは、各メモリセル上にマルチデータビットを格納できるが、SLCは、セル毎にシングルビットのみを格納するために使用されるという点で、SLCメモリはMLCメモリほど効率的ではない。本開示の種々の実施形態は、SLCメモリに、頻繁に更新されるデータを格納し、MLCメモリに、それほど頻繁に更新されないデータを格納する。これは、メモリデバイスの効率性および信頼性を向上させるために使用可能である。SLCおよびMLCメモリの利用に関連して、いくつかの実施形態が開示されているが、種々の実施形態がそのように制限されるわけではない。例えば、一実施形態は、MLC(2つのレベル)メモリ、およびMLC(4つのレベル)メモリと称されることもあるSLCメモリを利用してもよい。別の実施形態は、MLC(4つのレベル)およびMLC(8つのレベル)メモリを利用してもよい。さらに他の実施形態は、例えば同じメモリデバイス内の、SLC、MLC(4つのレベル)およびMLC(8つのレベル)メモリ等の3つ以上のメモリアレイを利用できる。本開示の種々の実施形態に従い、他の組み合わせも可能である。このように、実施形態は、メモリデバイス内の異なるレベル(例えば、密度)のメモリの組み合わせを利用できる。
不揮発性メモリデバイス内のデータは、データがデバイスに物理的に常駐する場所を定義しない、論理ブロックアドレス(LBA)と称される抽象化によってアクセスできる。デバイスはさらに、物理的位置を定義するが、何のデータがこの位置に保たれるかを定義または示唆しない物理的ブロックアドレス(PBA)を有することができる。磁気ディスクデバイスでは、物理的ブロックアドレスは、特定のシリンダ、ヘッド、およびセクタに変換する。固体不揮発性メモリデバイスでは、物理的ブロックアドレスは、典型的には、特定のメモリアレイ内の特定のメモリブロックアドレスを指す。論理ブロックアドレスおよび物理的ブロックアドレスは、当業者に公知である。メモリデバイスは、LBAをその割り当てられるPBAにマップするルックアップテーブルを保守する。SLCおよびMLCメモリの両方を有する従来のメモリデバイスは、SLCメモリまたはMLCメモリのいずれかにデータを格納する。データは、SLCとMLCメモリとの間を移動しない。これは、メモリデバイス内に格納されるデータが、所与のLBAの使用(例えば、実行される書き込み動作数)に基づく等により、SLCとMLCとの間を移動できるようにする、本開示の種々の実施形態とは対照的である。この使用は、本開示の種々の実施形態に従い、メモリデバイスのLBAのために決定される(例えば、追跡される)および維持される。本開示の種々の実施形態はさらに、所与のLBAの使用を予測し、これに従って、これをSLCまたはMLCメモリに割り当ててもよい。例えば、多くのファイルシステムは、ファイル割り当てテーブル(FAT)等のLBAへファイルを参照するために使用されるデータ構造を保持し、こうした構造に関連付けられるLBAは、ファイル書き込み動作毎の書き込み動作の影響を受けやすくなる可能性がある。このため、FATに関連付けられるLBAは、最初に、MLCメモリではなく、SLCメモリに割り当てられてもよい。他の実施形態は、各LBAの実際の追跡された使用に応じて作用することにより、SLCまたはMLCメモリ内の所与のLBAの位置を調整する。本開示のいくつかの実施形態に従い、LBAは、LBAが最初に割り当てられた方法には関係なく、メモリデバイスの動作中に、LBAの実際の使用に基づいて、SLCとMLCメモリとの間を移動してもよい。
図1は、本開示の一実施形態に従うメモリデバイスを図示する。図1のメモリデバイスは、本開示の種々の実施形態を中心とするために、簡略化されている。メモリデバイス100は、SLCまたはMLCのいずれか(または異なる密度のMLCの間)のメモリへのLBAの割り当ての管理を含む、本開示の種々の実施形態に従うメモリデバイス100の動作の制御および管理のためのコントローラ170を含む。コントローラ170は、例えば、個別論理またはステートマシンの形態を取ることができる。コントローラ170はさらに、プロセッサ110等のホストと通信するための種々の手段を組み込む。例えば、コントローラ170は、当業者に公知であるように、ユニバーサルシリアルバス(USB)、SATA、PATA、ATA8−ACS、SD、MMC、コンパクトフラッシュ、メモリスティック、IEEE 1394またはBA−NANDインターフェースを組み込んでもよい。SLCおよびMLCメモリの物理的磨耗レベル分けはさらに、コントローラ170によって処理できる。
メモリデバイス100はさらに、SLCメモリ132のアレイおよびMLCメモリ134のアレイを含む。いくつかの実施形態では、SLC132およびMLC134メモリは、個別のフラッシュメモリチップであってもよく、一方で、SLCおよびMLCメモリは、1つのチップ上に含まれてもよい。メモリアレイ132および134はさらに、異なる密度のMLCメモリで構成されてもよい。アレイ132はMLC(4つのレベル)にしてもよく、アレイ134は、例えばMLC(8つのレベル)にしてもよい。図1に示されるSLC132およびMLC134メモリは、それぞれ、複数のバンクおよびメモリブロックでさらに構成されてもよい。図1に示されるSLC132およびMLC134のメモリブロックは、それぞれ複数のメモリチップで構成できる。メモリデバイス100のSLCおよびMLCメモリの数量(例えば容量)は、等しくてもよい、または等しくなくてもよい。いくつかの実施形態(例えば、SLCおよびMLCメモリを含むシングルチップ)では、SLCアレイおよびMLCアレイのサイズは、所与の応用のために、SLC対MLCメモリの所望の数量に従って、割り当て可能にしてもよい。本開示に従う別の実施形態では、図1のメモリデバイスは、2つのSLCチップおよび2つのMLCチップを有する、双方向のインターリーブされたメモリデバイスであってもよい。本開示の種々の実施形態に従い、SLCおよびMLCチップの他の数量も可能である。
図1のメモリデバイスはさらに、使用テーブル136を含む。使用テーブルは、メモリデバイス100の種々のLBAのために使用データ(例えば実行される書き込み動作)を格納するために、コントローラ170によって利用される。例えば、LBAで書き込み動作が実行されるたびに、そのLBAのために関連付けられる使用データが更新される。使用テーブル136はさらに、書き込みがされた回数に対して、所与のLBAが最後に書き込まれた時間を示す、使用情報(例えば、タイムスタンプ)を格納してもよい。例えば、LBAは、書き込みがされた累計の回数ではなく、特定のLBAが最後に書き込まれてからどれだけの時間が経過したか(例えば、分、日、月等)に基づいてマッピングされてもよい。タイムスタンプのLBAへの割り当てに加えて、LBAは、代わりに、時間グループに割り当てられてもよい。第1の時間グループに割り当てられるLBAは、今月に使用されたLBAを表してもよく、一方で、例えば、第2の時間グループに割り当てられるLBAが、先月に使用されたLBAを表してもよい。種々の実施形態に従うと、使用は、メモリデバイスの起動時または起動後の特定の時間枠中において、LBAが利用されるトラッキングをさらに含んでもよい。特定の時間枠はさらに、例えば、リセット動作の後に続くものでもよい。これらのLBAは、次に、典型的には、より高い密度(例えば、MLC(4つのレベル))のメモリよりも高速にアクセスできるより低密度(例えば、SLC)のメモリに割り当てられてもよい。これは、例えば、起動ローディング動作中のアクセス時間の短縮等の、スタートアップパフォーマンスを向上できる。使用テーブル136に格納される使用データは、個々のLBAの使用に制限されない。使用データはさらに、複数回の利用またはLBAの範囲に関して、格納されてもよい。使用テーブルは、所望の場合、クリアにすることもできる。例えば、メモリデバイス100に接続されるホスト110は、使用テーブル136のすべてまたは一部をクリアするように命令する特定のコマンドを送信してもよい。使用テーブルの一実施例が、図1のブロック136に示されている。
使用テーブル136を、揮発性および不揮発性メモリ部分の一方または両方を有する集積回路デバイス等のスタンドアロンのコンポーネントに格納してもよい。揮発性および不揮発性メモリの両方を有する実施形態では、揮発性メモリは、メモリデバイスの動作中に現在の使用テーブルを維持できる。使用テーブルは、定期的に、揮発性メモリから不揮発性メモリへとコピーできる。現在の使用テーブル136はさらに、起動時に揮発性メモリにロードされ、メモリデバイスのパワーダウン中に不揮発性メモリに戻るように伝送されることができる。他の実施形態では、使用テーブル136のデータを、メモリデバイス100のメモリアレイ132/134に格納できる。例えば、使用テーブルデータは、メモリデバイス内のLBAに関連付けられるデータと共に、格納され(例えば補足され)てもよい。他の実施形態では、使用テーブルは、SLC132またはMLC134メモリのいずれかの専用の位置に格納されてもよい。
図1は、さらに、プロセッサ110に連結されるメモリデバイス100を図示する。メモリデバイス100は、複数のバスおよび信号を含んでもよい、インターフェース174によって、プロセッサ110に連結される。例えば、プロセッサによって生成される制御信号は、制御バス172によって、メモリデバイスに連結できる。さらに、アドレスバス142およびデータバス162も図示される。インターフェース174は、(例えばUSB、SATA、PATA等の)上記のインターフェースプロトコルのうちの1つに準拠する。
図2は、本開示の実施形態の実施においてコントローラ170によって実行される種々のアクティビティのうちのいくつかのフローチャートを図示する。本開示のいくつかの実施形態では、メモリデバイスのコントローラは、LBA200がメモリデバイス100内のどこに割り当てられるかを決定する。上記のように、FATテーブルは、頻繁に使用される可能性がある。このため、本開示の一実施形態に従い、メモリデバイス100のコントローラ170は、FATに関連付けられるLBAを、SLC(例えば、MLC(2つのレベル)メモリ214に割り当ててもよい。この実施形態に従うFAT LBAはさらに、SLCメモリに永続的に割り当てられ(例えば「ピン付け」)てもよい。他の実施形態では、コントローラは、FAT LBAをMLCメモリ206に割り当ててもよく、コントローラ170は、使用に基づいて、FATテーブルを移動できる。このため、一実施形態に従い、全てのLBAを、最初にMLCメモリ206に書き込んでもよい。他の実施形態では、全てのLBAは、最初にSLCメモリ214に割り当てられてもよい。さらに他の実施形態は、そこにおいてSLCメモリへ実行される書き込み動作を有する全てのLBAを割り当ててもよい。これらの実施形態では、現在書き込まれているLBAがMLCメモリに既に割り当てられている場合に、コントローラ170は、書き込まれるLBAが、最終的にSLCまたはMLCメモリに割り当てられるべきであるかどうかを決定できる。
コントローラはさらに、動作中のメモリデバイスのLBAで、208/216使用テーブルデータを追跡および維持(例えば、更新)する。MLCメモリに現在割り当てられるLBAの使用がいくつかの閾値値210を上回る場合、コントローラは、LBAに関連付けられるデータを、SLCメモリ212に移動し(およびLBAをSLCメモリの位置に再び割り当て)ようとする。一実施形態では、この閾値は、所与のLBAで実行される1000の書き込み動作であってもよい。しかし、実施形態は、単一の閾値に制限されない。例えば、閾値の値は、メモリ212上で実行される全書き込み動作のうちの一部であってもよい。MLCメモリに割り当てられる全てのLBAの使用が閾値に達しないままである場合、こうしたLBAは、引き続き、MLCメモリに割り当てられる。
一実施形態に従い、LBAがSLCメモリに割り当てられるたびに、コントローラ214から、またはMLCメモリに割り当てられるLBAがいくつかの閾値212を上回ることから、十分なスペアの位置数がSLCメモリ218内に保持されているかが決定される。スペアの位置は、データ処理およびハウスキーピング機能をメモリデバイスで実行できるようにすることが望ましい。SLCへの現在の書き込み動作の実行後にSLCに十分な領域が存在する場合、コントローラによるさらなるアクションは不要であり、LBAは、SLCメモリに割り当てられる。しかし、LBAのSLCメモリへの現在の割り当てにより、SLCメモリ内の残りのスペアの位置数が減少しすぎる場合には、コントローラは、SLCメモリ内のスペアの最小位置数を保存するために、本開示の種々の実施形態に従ってデータ管理機能を実行する。例えば、コントローラは、SLCに現在割り当てられる各LBAの使用データの見直しを行う。SLCメモリに現在割り当てられるLBAが、これに関連付けられる最小の使用数を有する場合、そのLBAに関連付けられるデータは、MLCメモリ220(例えば、次のより高密度のメモリ)に移動される。LBAの使用を表すためにタイムスタンプを利用する実施形態では、SLCメモリに割り当てられる、最も以前に使用されたLBAがMLCメモリに移動する。1つ以上の実施形態に従い、LBAで特定の期間において書き込み動作が行われていない場合、データは、より密度の高いメモリ(例えば、SLCからMLCへ)に移動してもよい。例えば、対応するLBAのタイムスタンプが、一ヶ月以上LBAが書き込まれていないことを示す場合に、データは、MLC(4つのレベル)からMLC(8つのレベル)メモリへ移動してもよい。本開示の種々の実施形態に従い、他の期間も可能である。
現在SLCメモリに割り当てられる最も使用されていないLBAに関連付けられるデータの、MLCメモリ220への移動動作を実行することで、SLCメモリへの現在のLBA書き込み動作が完了した後、スペア位置の十分な数量がSLCメモリに残るはずである。いくつかの実施形態に従うコントローラはさらに、SLCメモリに現在割り当てられる最も使用されていないLBAの使用が一定の数量を上回る場合に、SLCメモリへの書き込み動作が進行することを阻止してもよい。この状況において、SLCメモリに割り当てられないようにされたLBAは、代わりにMLCメモリに割り当てられてもよい。LBAに関連付けられるデータが、SLCからMLCへ220またはその逆へ212と移動する場合に、少なくとも本開示の一実施形態に従い、LBAに関連付けられる使用データは増分されない。
コントローラ170はさらに、メモリデバイス上で物理的磨耗レベル分け動作を実行することができ、一方で、本開示の種々の実施形態に従い、MLCおよびSLCメモリ内またはこのMLCメモリとSLCメモリとの間において、LBAに関連付けられるデータ移動が実行される。例えば、MLCメモリに割り当てられるLBAは、さらにMLCメモリに配置される別のPBAに再び割り当てられてもよい。このため、LBAは、メモリ領域の同じ物理的メモリセルにおいて全書き込み動作を実行せずに、メモリ(例えばMLCまたはSLC)の所望の領域にとどまる。同様の物理的磨耗レベル分けはさらに、メモリのSLC領域で実行される。
図3〜図5は、本開示の一実施形態に従う、データ移動および書き込み動作を示す。図3は、メモリデバイス300の双方向のインターリーブされた実施形態を図示する。この構成により、大きなデータを、2つのメモリチップで共有できる。しかし、本開示に従うメモリデバイスは、双方向のインターリーブされた設定に制限されない。図3のメモリデバイス300は、コントローラ302、SLCメモリ306、MLCメモリ308および、SLCならびにMLCメモリをコントローラ304に結合させるデータバスを有するものとして示される。図3に示される実施形態では、SLCメモリ306は、2つのフラッシュSLCメモリ集積回路(例えばチップ)310/312を含む。図3に示されるメモリデバイス300のMLCメモリ308は、2つのフラッシュMLCメモリチップ314/316を含む。他の実施形態は、例えば、異なる数のSLCおよびMLCチップを有する。図3に示されるメモリデバイスは、本開示の実施形態を中心とするために簡略化されている。他のコンポーネントは、業者に公知であるようにメモリデバイス300に含まれてもよい。
図3は、その割り当てられるLBAおよびそれぞれの各使用データと共に、SLCメモリ306内の位置322を示す。図1について記載されるように、使用データは、LBAに関連付けられる位置に格納されてもよく、または、異なる位置136に格納されてもよい。図3の実施形態は、4つのLBAがSLCメモリに以前に割り当てられた一実施形態を図示する。他の実施形態は、所与の時間においてMLCメモリに割り当てられるLBAを有するのみでもよい。図3に示される本実施形態では、スペアのSLC位置の最小数は2である。しかし、本開示の実施形態は、2つのスペアの位置を保つということに制限されない。
図4は、図2のブロック214に示されるように、LBAがSLCメモリに割り当てられる動作を図示する。この実施例では、移動動作は、新しいデータのための余地を確保するために、かつ、SLCメモリ306内の必要な2つのスペアの位置を維持できるように実行される。再び図2を参照すると、使用数の最も低いLBAに関連付けられるデータは、SLCメモリ306における最小数のスペア位置を維持するために、MLCメモリに移動される(220)。この実施例では、位置322に割り当てられる、LBA=2(USAGE=1を有する)に関連付けられるデータが、MLCメモリ308へ移動する(418)。図5は、関連付けられるデータがSLCメモリ306に書き込まれる、LBA=7上の書き込み動作520を図示する。書き込み動作520および移動動作418は、いずれの順序で実行されてもよい。実施形態は、書き込み動作520の前に移動動作418が実行される必要がある、ということに制限されない。図5に示すように、2つの必要なスペアメモリ位置のうちの1つが、SLCメモリ内において効率的に再配置されている。しかし、書き込み動作520の終了時に、2つの必要なスペアの位置は、まだSLCメモリ306に存在するように示される。本開示の種々の実施形態に従い、図3〜図5に示されるより多くのメモリ位置およびLBAが可能であることに留意されたい。さらに、種々の実施形態に従う移動動作は、移動動作が望ましいことを決定するために使用されたLBAと共に、多数のLBAの移動を含んでもよい。例えば、いくつかの実施形態に従うと、メモリのいずれかのメモリセグメントが、複数の論理ブロック(例えば、4LBA、8LBA等)のアクセスと共に最も効率的に使用されるアーキテクチャを有する場合、種々の実施形態は、シングルLBAによってLBA使用が追跡される場合でも、これらの種々のサイズのLBAのグループを移動してもよい。例えば、LBA=1が移動されることが決定される場合、LBA2、3、および4はさらに、本開示の種々の実施形態に従い、同じ動作の間、移動してもよい。
再び図1を参照すると、本開示に従う実施形態は、メモリデバイスをプロセッサ110等のホストに結合させるための標準的なインターフェース174を有する、メモリデバイス100を組み込むことができる。ハードディスクドライブ(HDD)に適合されるもの等の種々の種類の標準的なインターフェースが存在する。例えば、SATAおよびPATAが一般的なHDDインターフェースである。USBおよびSDインターフェース等、さらなる標準的なHDDに特化していないインターフェースもまた、当該技術に存在する。これらのおよび他の標準的なインターフェースおよびプロトコルを利用する本開示の実施形態は、これらのインターフェースを利用するために既に適合される現在存在するプロセッサおよびコントローラと共に使用可能である。
本開示に従う一実施形態では、インターフェース174およびコントローラ170は、標準的なHDDインターフェースおよびプロトコルをエミュレートするように構成される。典型的には、HDDは、キャッシュメモリ(例えばRAM)および回転磁気媒体の両方を含む。典型的なHDDと相互作用するホストは、データをHDDデータキャッシュ内または磁気媒体上に格納する必要があるかどうかを決定する。例えば、FATは、FATが頻繁に更新される可能性があるため、多くの場合、ホストによってHDDデータキャッシュに格納される。更新の可能性が低いデータは、ホストによって磁気媒体上に格納される。本開示のいくつかの実施形態に従い、ホスト110は、メモリデバイス100が、典型的なHDDではなく、そのため、メモリデバイス100と通信する場合に標準的なHDDコマンドを利用することを認識しない。本開示の実施形態に従うと、コントローラ170は、ホストからのデータおよび命令を受信し、従って、SLC132および/またはMLC134メモリ内に格納を方向付けるように構成される。例えば、ホストがHDDデータキャッシュ内に格納されると考えるFATテーブルは、代わりに、コントローラ170によってSLCメモリ132内に格納される。ホスト110が、HDD(例えばそれほど頻繁に更新されないデータ)の磁気媒体上に格納しようとするデータは、MLCメモリ134上に格納される。本開示の種々の実施形態に従うコントローラ170は、次に、使用テーブル136を更新でき、図2を参照して記載されるもの等のLBA上の動作を実行できる。例えば、図2の決定ブロック210を参照すると、MLCメモリ134に割り当てられるLBAに関連付けられるデータを、LBAの使用の値がある特定の値を上回る場合に、SLCメモリ132(および、SLC内の対応する位置に再び割り当てられるLBA)に移動可能である。
RAMキャッシュメモリおよび回転磁気媒体を有する、上記の標準的なHDDインターフェースおよびプロトコルと同様の、別のHDDインターフェースおよびプロトコルが存在する。このインターフェースおよびプロトコルは、T13 Technical Committeeが管理する、「Non Volatile Cache Command Proposal for ATA8−ACS」に記載される。ATA8−ACSの提言は、回転媒体を有し、さらに、上記のように揮発性(例えば、RAM)キャッシュメモリの代わりに不揮発性キャッシュメモリをも有する、従来のHDDデバイスとのインターフェース接続について記載されている。本開示の種々の実施形態は、提言されたATA8−ACSプロトコルも利用可能である。例えば、ホスト110は、ATA8−ACSプロトコルに従い、ホスト110が不揮発性キャッシュメモリであると考えるものの中にデータが格納されるように命令する、不揮発性キャッシュコマンドの利用によって、指示してもよい。種々の実施形態のうちの1つ以上に従うコントローラ170は、ATA8−ACSコマンドを解釈し、データをメモリデバイス100のSLC(例えば、最も低密度)メモリ132に方向付ける。ホスト110が回転磁気媒体であると考えるものに、ホスト110が格納されるように方向付けるデータは、代わりに、メモリデバイス100のMLC(例えば、より高密度)メモリ134へと、コントローラ170によって方向付けられる。ATA8−ACSプロトコルに従い、ホスト110は、ホスト110がメモリデバイスの不揮発性キャッシュメモリ部分であると考えるものに、1つ以上のLBAをピン付けしてもよい。種々の実施形態に従い、これらのLBAは、SLCメモリ132、または本開示の実施形態に従うメモリデバイス100の最も低密度のメモリにピン付けされる。
本開示の他の実施形態では、ホスト110は、メモリデバイス100の真の特性(例えばフラッシュメモリ)を認識してもよい。この実施形態では、ホストは、メモリデバイスのために使用テーブルを保守でき、前述のように、かつ図2に示すように、種々の実施形態の種々の動作を実施するように、メモリデバイスコントローラ170に命令できる。例えば、ホスト110は、格納されるデータの特性に基づいて、メモリデバイスのSLCメモリ132内にデータを格納するように、メモリデバイス100に命令できる。例えば、ホスト110は、FATへの頻繁な更新の可能性のために、メモリデバイス100のSLCメモリ132に格納されるように、メモリデバイス100に対してFATを割り当ててもよい(214)。ホスト110はさらに、LBAが頻繁に使用され(例えば書き込まれ)ない可能性のために、メモリデバイスのMLCメモリに格納されるように、データ206を方向付けてもよい。格納されるデータと共に、ホストはさらに、メモリデバイス100内のデータの意図された送信先(例えばSLCまたはMLC)を示すコントローラ170へ、インジケータ(例えばフラグ)を送信できる。
種々の実施形態に従い、ホストは、全てのLBAをSLCメモリに割り当て、全てのLBAをMLCメモリに割り当て、または、所与のLBAが割り当てられるデータの特性に基づいて、動的に決定してもよい。例えば、データの特性は、所与のLBAに関連付けられるデータの使用の公知のまたは予想される頻度を指してもよい。LBAが、SLC、MLCに割り当てられるのであっても、または動的に割り当てられるのであっても、図2に示される動作は、本開示の種々の実施形態に従い、LBA上で実行されてもよい。例えば、MLCメモリ134への移動動作220を、SLCメモリ132内のスペアの位置を十分な数量維持する(218)ために行うことが可能である。これらの動作を実行するためのホストによる決定は、ホスト110によって保守されるように、使用テーブルデータに基づいて行うことができる。ホスト110はさらに、メモリデバイス100に含まれるSLCおよびMLCメモリの数量に関して、問い合わせることができる。本開示の実施形態はさらに、SLC全体、MLC全体またはSLCおよびMLCメモリの両方の組み合わせとして構成できるメモリデバイスを利用してもよい。ホストは、さらに、SLCおよびMLCメモリの組み合わせとして構成されるデバイス内のSLCおよびMLCが指定されたメモリの間の区分に関して、問い合わせてもよい。
さらなる実施形態は、メモリデバイスコントローラ170またはホスト110が、使用テーブル136の利用の代わりにSLC132メモリへ方向付けられたポインタを維持できるようにする。ポインタは、当業者に公知である。これらの実施形態に従い、SLC132メモリスペース内を進むシングルポインタが使用される。SLCメモリ132内に新しい位置が必要な場合、ポインタが参考にされ(consulted)、ポインタによって参照される位置に現在あるSLCデータが、次に、MLCメモリ134に再マッピングおよび移動される。ポインタによって参照されるSLC位置は、SLCメモリ132内に格納される新しいデータで上書きされ、ポインタは、次のSLCメモリ132位置に進む。これらの実施形態はさらに、メモリデバイスまたはホストが、SLCメモリ内に残ることが適当であると考えるSLC(例えば、FAT)へ、データをピン付けしてもよい。
図6は、本開示の一実施形態に従う、少なくとも1メモリデバイスを有する電子システムの機能ブロック図である。図6に示されるメモリデバイス600は、プロセッサ610に連結される。プロセッサ610は、マイクロプロセッサまたはいくつかの他のタイプの制御回路にしてもよい。メモリデバイス600およびプロセッサ610は、電子システム620の一部を形成する。メモリデバイス600は、本開示の実施形態を理解するために役立つメモリデバイスの特徴を中心とするために、簡略化されている。
メモリデバイス600は、行および列のバンクに構成可能なメモリセルアレイ630を含む。メモリアレイ630は、異なる密度を有する少なくとも2つのメモリアレイ632/634を含む。メモリアレイセグメント632は、SLCまたはMLC(4つのレベル)メモリであってもよく、メモリアレイセグメント634は、例えばMLC(8つのレベル)メモリであってもよい。1つ以上の実施形態に従うと、これらのメモリセルは、フラッシュメモリセルである。各アレイ632/634は、複数のバンクおよびメモリセルブロックで構成できる。
アドレスバッファ回路640は、アドレス入力接続A0〜Ax 642上に提供されるアドレス信号をラッチするために提供される。アドレス信号は、メモリアレイ630にアクセスするために、行デコーダ644および列デコーダ646によって受信および復号化される。当業者により、本記載の利点により、アドレス入力接続の数は、メモリアレイ630の密度およびアーキテクチャに依存することが理解される。つまり、アドレス数は、増加したメモリセル数および増加したバンクおよびブロック数の両方と共に増加する。
メモリデバイス600は、感知/データキャッシュ回路650を使用してメモリアレイ列内の電圧または電流の変化を感知することで、メモリアレイ630内のデータを読み込む。一実施形態では、感知/データキャッシュ回路650は、メモリアレイ630からのデータ行を読み込みおよびラッチするために、連結される。データ入力および出力バッファ回路660は、プロセッサ610との、複数のデータ接続662による双方向データ通信のために含まれる。書き込み回路655は、メモリアレイ630にデータを書き込むために提供される。
制御回路670は、使用テーブルブロック660に連結されてさらに示される。本開示の種々の実施形態に従う使用テーブル660は、メモリアレイ630のLBAの使用に関するデータを格納する。使用テーブルブロック660は、図6に示すように、揮発性674および不揮発性676メモリの両方を利用する個別のメモリデバイスでもよい。しかし、本開示の種々の実施形態はそのように制限されない。他の実施形態は、LBAの使用データを格納するために、メモリアレイ630を利用してもよい。使用データは、メモリアレイ630の専用の位置に常駐してもよい、または、メモリアレイ630内のLBAに対応する位置に格納されてもよい。
制御回路670は、部分的には、本開示の種々の実施形態の特徴を実施するために構成される。一実施形態では、制御回路670はステートマシンを利用してもよい。1つ以上の実施形態に従い、制御回路670、アドレス回路640、入出力回路660、行復号644、書き込み/消去655、列復号646および感知/データキャッシュ650の機能ブロックは、図1に示されるコントローラ170を含んでもよい。制御信号およびコマンドは、コマンドバス672を通じてメモリデバイス600へ、プロセッサ610によって送信可能である。コマンドバス672は、個別の信号にしてもよい、または、複数の信号(例えばコマンドバス)で構成してもよい。これらのコマンド信号672は、データ読み込み、データ書き込み(プログラム)、および消去動作を含む、メモリアレイ630上の動作の制御に使用される。コマンドバス672、アドレスバス642およびデータバス662は、多数の標準的なインターフェース678を形勢するために、全てを組み合わせてもよい、または、部分的に組み合わせてもよい。例えば、メモリデバイス600およびプロセッサ610の間のインターフェース678は、ユニバーサルシリアルバス(USB)インターフェースにしてもよい。インターフェース678はさらに、多くのハードディスクドライブ(HDD)で使用される標準的なインターフェースにしてもよい。例えば、インターフェースは、SATAまたはPATAインターフェースの形態を取ってもよい。他のHDDインターフェースも、当業者に公知である。
結論
本開示の種々の実施形態は、SLCおよびMLCメモリの両方を有するハイブリッドメモリデバイスに格納されている論理ブロックアドレスの追跡された使用に基づいて、論理ブロックアドレスを管理する方法を示す。さらに、複数の論理ブロックアドレス管理動作を実行するために構成された装置が開示され、ハイブリッドメモリデバイスに格納される論理ブロックアドレスの追跡された使用に応じて動作が実行される。
本明細書に特定の実施形態を図示および記述したが、当業者は、同じ目的を達成するために計画された任意の変形を、示されている特定の実施形態の代わりに利用できることを理解されよう。本願は、本発明のいずれかの適用または変更を含有することを意図する。従って、本発明は特許請求の範囲およびその同等物によってのみ制限されることが、明示的に意図されている。

Claims (20)

  1. 各メモリセルが第1の密度を有する、第1のメモリセルアレイと、各メモリセルが第2の密度を有する、第2のメモリセルアレイと、を備えるメモリデバイスに格納されるデータを管理するための方法であって、前記方法は、
    前記メモリデバイスの論理アドレスに関連付けられた使用を決定することと、
    前記使用に少なくとも部分的に基づいて、前記第1のメモリセルアレイおよび前記第2のメモリセルアレイのうちの1つに、前記論理アドレスに関連付けられたデータを格納することと、を含む、方法。
  2. 前記使用は、前記論理アドレスに対して実行された書き込み動作の回数を含む、請求項1に記載の方法。
  3. 前記第1のメモリアレイは、第1のメモリセル当たりのビット数を格納するように構成されるMLCメモリセルを備え、前記第2のメモリアレイは、第2のメモリセル当たりのビット数を格納するように構成されるMLCメモリセルを備え、前記第2の数は、前記第1の数よりも大きい、請求項1に記載の方法。
  4. 前記メモリデバイスの使用テーブルに、前記メモリデバイスの前記論理アドレスと関連付けられた前記使用を格納することをさらに含む、請求項1に記載の方法。
  5. 前記論理アドレスに関連付けられた前記使用を維持することをさらに含み、前記論理アドレスに関連付けられた前記使用を維持することは、前記論理アドレスのために実行される書き込み動作に応じて、前記使用テーブルを更新することを含む、請求項4に記載の方法。
  6. 前記使用は、前記論理アドレスに対して実行される書き込み動作の最も最近の発生に対応するタイムスタンプを含む、請求項4に記載の方法。
  7. 前記データを格納することは、前記論理アドレスを、前記データが格納される前記第1のメモリアレイおよび前記第2のメモリアレイのうちの1つにおける物理的位置に関連付けることをさらに含む、請求項1に記載の方法。
  8. 前記使用を決定することは、将来の使用を予測することを含む、請求項1に記載の方法。
  9. 前記データを、最初に、前記第1のメモリアレイおよび前記第2のメモリアレイのうちの1つに格納することをさらに含む、請求項1に記載の方法。
  10. 前記論理アドレスに関連付けられた使用に少なくとも部分的に基づいて、前記第2のメモリアレイに格納されるデータを、前記第1のメモリアレイに移動させることをさらに含む、請求項1に記載の方法。
  11. 前記データの前記使用は、前記メモリデバイスの起動後の特定の時間枠中に、前記データがアクセスされるかどうかに少なくとも部分的に基づく、請求項1に記載の方法。
  12. 前記論理アドレスに関連付けられた使用を決定することは、論理アドレスに関連付けられた使用を決定することであって、前記使用は、メモリの論理位置に関連付けられたデータの決定された特性に少なくとも部分的に応じて、かつ、前記特性に少なくとも部分的に基づいて決定される、ことと、前記データを、前記第1のメモリセルアレイおよび前記第2のメモリセルアレイのうちの1つに格納することとをさらに含む、請求項1に記載の方法。
  13. 前記データの前記特性は、前記データの使用の頻度である、請求項12に記載の方法。
  14. 各メモリセルが第1の密度を有する、第1のメモリセルアレイと、
    各メモリセルが第2の密度を有する、第2のメモリセルアレイと、
    制御回路であって、前記制御回路は、メモリデバイスの論理アドレスの使用データを決定し、かつ、前記使用に少なくとも部分的に基づいて、前記第1のメモリセルアレイおよび前記第2のメモリセルアレイのうちの1つに、前記論理アドレスに関連付けられたデータを格納するように構成される、制御回路と、を備える、メモリデバイス。
  15. 前記使用データは、前記論理アドレスで実行された書き込み動作の回数を含む、請求項14に記載のメモリデバイス。
  16. 前記制御回路は、前記第1および前記第2のメモリセルアレイで磨耗レベル分け動作を実行するようにさらに構成される、請求項14に記載のメモリデバイス。
  17. 前記使用データは、前記論理アドレスで最も最近の書き込み動作が実行されてから経過した時間を前記使用データから決定できるように、データを含む、請求項14に記載のメモリデバイス。
  18. 前記制御回路は、前記第1のメモリセルアレイまたは前記第2のメモリセルアレイ上の書き込み動作を選択的に実行し、各論理アドレスで実行される書き込み動作の回数に少なくとも部分的に基づいて、前記論理アドレスを物理的格納位置に割り当て、書き込み動作の前記回数が閾値を超える場合に、前記論理アドレスを前記第1のメモリセルアレイに再び割り当てるように、さらに構成される、請求項14に記載のメモリデバイス。
  19. 前記制御回路は、前記メモリデバイスの前記制御回路に連結されるホストからの受信コマンドに少なくとも部分的に応じて、前記第1のメモリセルアレイまたは前記第2のメモリセルアレイにデータを書き込むように、さらに構成される、請求項14に記載のメモリデバイス。
  20. 前記制御回路は、それの上で実行された書き込み動作の回数が最も少ない論理アドレスに関連付けられたデータを、前記第2のメモリセルアレイに移動させることにより、または、特定の期間よりも長くそれに書き込み動作を実行していない論理アドレスに関連付けられたデータを、前記第2のメモリセルアレイに移動させることにより、前記第2のメモリセルアレイの位置が利用可能である場合に、前記第1のメモリセルアレイ内の少なくとも特定の数のスペアの位置を維持するように、さらに構成される、請求項14に記載のメモリデバイス。
JP2011511797A 2008-05-28 2009-05-28 ハイブリッドメモリ管理 Expired - Fee Related JP5728672B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US12/127,945 US8060719B2 (en) 2008-05-28 2008-05-28 Hybrid memory management
US12/127,945 2008-05-28
PCT/US2009/045386 WO2009155022A2 (en) 2008-05-28 2009-05-28 Hybrid memory management

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014022399A Division JP2014116031A (ja) 2008-05-28 2014-02-07 メモリデバイスを備えた電子システム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011522350A true JP2011522350A (ja) 2011-07-28
JP5728672B2 JP5728672B2 (ja) 2015-06-03

Family

ID=41381226

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011511797A Expired - Fee Related JP5728672B2 (ja) 2008-05-28 2009-05-28 ハイブリッドメモリ管理
JP2014022399A Pending JP2014116031A (ja) 2008-05-28 2014-02-07 メモリデバイスを備えた電子システム

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014022399A Pending JP2014116031A (ja) 2008-05-28 2014-02-07 メモリデバイスを備えた電子システム

Country Status (6)

Country Link
US (4) US8060719B2 (ja)
EP (1) EP2291746B1 (ja)
JP (2) JP5728672B2 (ja)
KR (1) KR101283711B1 (ja)
CN (1) CN102047230A (ja)
WO (1) WO2009155022A2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013251039A (ja) * 2012-06-04 2013-12-12 Silicon Motion Inc データアクセス時間を短縮したフラッシュメモリ装置及びフラッシュメモリのデータアクセス方法
JP2014116031A (ja) * 2008-05-28 2014-06-26 Micron Technology Inc メモリデバイスを備えた電子システム
JP2016004387A (ja) * 2014-06-16 2016-01-12 株式会社東芝 ストレージシステム、メモリコントローラ、および制御方法
WO2016088234A1 (ja) * 2014-12-04 2016-06-09 株式会社 東芝 異なる特性の不揮発性半導体メモリの寿命を長くするストレージ装置
JP2017111477A (ja) * 2015-12-14 2017-06-22 株式会社東芝 メモリシステムおよび制御方法
US10146553B2 (en) 2015-09-30 2018-12-04 Samsung Electronics Co., Ltd. Electronic apparatus and booting method thereof
JP2021517307A (ja) * 2018-03-21 2021-07-15 マイクロン テクノロジー,インク. ハイブリッドメモリシステム

Families Citing this family (195)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8365040B2 (en) 2007-09-20 2013-01-29 Densbits Technologies Ltd. Systems and methods for handling immediate data errors in flash memory
US8694715B2 (en) 2007-10-22 2014-04-08 Densbits Technologies Ltd. Methods for adaptively programming flash memory devices and flash memory systems incorporating same
WO2009072102A2 (en) 2007-12-05 2009-06-11 Densbits Technologies Ltd. System and methods employing mock thresholds to generate actual reading thresholds in flash memory devices
WO2009074978A2 (en) 2007-12-12 2009-06-18 Densbits Technologies Ltd. Systems and methods for error correction and decoding on multi-level physical media
WO2009118720A2 (en) 2008-03-25 2009-10-01 Densbits Technologies Ltd. Apparatus and methods for hardware-efficient unbiased rounding
US8281061B2 (en) * 2008-03-31 2012-10-02 Micron Technology, Inc. Data conditioning to improve flash memory reliability
US20090319721A1 (en) * 2008-06-19 2009-12-24 Silicon Motion, Inc. Flash memory apparatus and method for operating the same
US8812805B2 (en) * 2008-08-05 2014-08-19 Broadcom Corporation Mixed technology storage device that supports a plurality of storage technologies
US8891298B2 (en) 2011-07-19 2014-11-18 Greenthread, Llc Lifetime mixed level non-volatile memory system
US9152569B2 (en) * 2008-11-04 2015-10-06 International Business Machines Corporation Non-uniform cache architecture (NUCA)
US8407400B2 (en) 2008-11-12 2013-03-26 Micron Technology, Inc. Dynamic SLC/MLC blocks allocations for non-volatile memory
US8069324B2 (en) * 2008-12-19 2011-11-29 Seagate Technology Llc Storage device with manual learning
KR20100107089A (ko) * 2009-03-25 2010-10-05 삼성전자주식회사 저장 장치 및 이를 포함하는 데이터 저장 시스템
US8819385B2 (en) * 2009-04-06 2014-08-26 Densbits Technologies Ltd. Device and method for managing a flash memory
US8458574B2 (en) 2009-04-06 2013-06-04 Densbits Technologies Ltd. Compact chien-search based decoding apparatus and method
US20100332922A1 (en) * 2009-06-30 2010-12-30 Mediatek Inc. Method for managing device and solid state disk drive utilizing the same
US8468292B2 (en) 2009-07-13 2013-06-18 Compellent Technologies Solid state drive data storage system and method
US8995197B1 (en) 2009-08-26 2015-03-31 Densbits Technologies Ltd. System and methods for dynamic erase and program control for flash memory device memories
US9330767B1 (en) 2009-08-26 2016-05-03 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Flash memory module and method for programming a page of flash memory cells
US8730729B2 (en) 2009-10-15 2014-05-20 Densbits Technologies Ltd. Systems and methods for averaging error rates in non-volatile devices and storage systems
US8724387B2 (en) 2009-10-22 2014-05-13 Densbits Technologies Ltd. Method, system, and computer readable medium for reading and programming flash memory cells using multiple bias voltages
TW201120900A (en) * 2009-12-07 2011-06-16 Jmicron Technology Corp Method and control unit for performing storage management upon storage apparatus and related storage apparatus thereof
US9092340B2 (en) * 2009-12-18 2015-07-28 Sandisk Technologies Inc. Method and system for achieving die parallelism through block interleaving
CN102103546A (zh) * 2009-12-21 2011-06-22 智微科技股份有限公司 用于储存装置以进行储存管理的方法及控制单元与相关储存装置
US9037777B2 (en) 2009-12-22 2015-05-19 Densbits Technologies Ltd. Device, system, and method for reducing program/read disturb in flash arrays
US8612809B2 (en) 2009-12-31 2013-12-17 Intel Corporation Systems, methods, and apparatuses for stacked memory
US8838903B2 (en) * 2010-02-04 2014-09-16 Dataram, Inc. Priority ordered multi-medium solid-state storage system and methods for use
TWI409633B (zh) * 2010-02-04 2013-09-21 Phison Electronics Corp 快閃記憶體儲存裝置、其控制器與資料寫入方法
CN102201259A (zh) * 2010-03-24 2011-09-28 建兴电子科技股份有限公司 非易失性存储器的平均抹写方法
CN101794199A (zh) * 2010-03-26 2010-08-04 山东高效能服务器和存储研究院 基于高速磁盘缓存的计算机磁盘性能加速方法
US8745317B2 (en) 2010-04-07 2014-06-03 Densbits Technologies Ltd. System and method for storing information in a multi-level cell memory
US20110252215A1 (en) * 2010-04-09 2011-10-13 International Business Machines Corporation Computer memory with dynamic cell density
US8429391B2 (en) 2010-04-16 2013-04-23 Micron Technology, Inc. Boot partitions in memory devices and systems
US9021177B2 (en) * 2010-04-29 2015-04-28 Densbits Technologies Ltd. System and method for allocating and using spare blocks in a flash memory
US8451664B2 (en) 2010-05-12 2013-05-28 Micron Technology, Inc. Determining and using soft data in memory devices and systems
JP4886877B2 (ja) * 2010-05-31 2012-02-29 株式会社東芝 記録媒体制御装置、及びその方法
US8468431B2 (en) 2010-07-01 2013-06-18 Densbits Technologies Ltd. System and method for multi-dimensional encoding and decoding
KR101727707B1 (ko) 2010-07-26 2017-04-19 삼성전자주식회사 비휘발성 메모리 장치의 프로그램 방법과, 상기 방법을 수행할 수 있는 장치들
US20120026802A1 (en) * 2010-07-30 2012-02-02 Emanuele Confalonieri Managed hybrid memory with adaptive power supply
US8964464B2 (en) 2010-08-24 2015-02-24 Densbits Technologies Ltd. System and method for accelerated sampling
US9063878B2 (en) 2010-11-03 2015-06-23 Densbits Technologies Ltd. Method, system and computer readable medium for copy back
KR101352084B1 (ko) * 2010-11-11 2014-01-15 도시바삼성스토리지테크놀러지코리아 주식회사 복합 저장 장치 및 이를 적용하는 전자 시스템
CN103221927A (zh) * 2010-11-24 2013-07-24 索尼爱立信移动通讯有限公司 用于电子设备的可动态配置的嵌入式闪存
US8850100B2 (en) 2010-12-07 2014-09-30 Densbits Technologies Ltd. Interleaving codeword portions between multiple planes and/or dies of a flash memory device
US9977732B1 (en) * 2011-01-04 2018-05-22 Seagate Technology Llc Selective nonvolatile data caching based on estimated resource usage
US8886990B2 (en) * 2011-01-27 2014-11-11 Apple Inc. Block management schemes in hybrid SLC/MLC memory
JP5455945B2 (ja) * 2011-02-14 2014-03-26 株式会社東芝 調停装置、記憶装置、情報処理装置およびプログラム
US8537613B2 (en) * 2011-03-31 2013-09-17 Sandisk Technologies Inc. Multi-layer memory system
US8990665B1 (en) 2011-04-06 2015-03-24 Densbits Technologies Ltd. System, method and computer program product for joint search of a read threshold and soft decoding
US8996790B1 (en) 2011-05-12 2015-03-31 Densbits Technologies Ltd. System and method for flash memory management
US9372792B1 (en) 2011-05-12 2016-06-21 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Advanced management of a non-volatile memory
US9501392B1 (en) 2011-05-12 2016-11-22 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Management of a non-volatile memory module
US9110785B1 (en) 2011-05-12 2015-08-18 Densbits Technologies Ltd. Ordered merge of data sectors that belong to memory space portions
US9396106B2 (en) 2011-05-12 2016-07-19 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Advanced management of a non-volatile memory
US9195592B1 (en) 2011-05-12 2015-11-24 Densbits Technologies Ltd. Advanced management of a non-volatile memory
US9176864B2 (en) * 2011-05-17 2015-11-03 SanDisk Technologies, Inc. Non-volatile memory and method having block management with hot/cold data sorting
US9141528B2 (en) * 2011-05-17 2015-09-22 Sandisk Technologies Inc. Tracking and handling of super-hot data in non-volatile memory systems
KR101861170B1 (ko) 2011-08-17 2018-05-25 삼성전자주식회사 마이그레이션 관리자를 포함하는 메모리 시스템
US8977803B2 (en) * 2011-11-21 2015-03-10 Western Digital Technologies, Inc. Disk drive data caching using a multi-tiered memory
US9348741B1 (en) * 2011-12-19 2016-05-24 Western Digital Technologies, Inc. Systems and methods for handling write data access requests in data storage devices
US9116620B2 (en) * 2011-12-30 2015-08-25 Sandisk Technologies Inc. Controller and method for memory aliasing for different flash memory types
US8996788B2 (en) 2012-02-09 2015-03-31 Densbits Technologies Ltd. Configurable flash interface
US8947941B2 (en) 2012-02-09 2015-02-03 Densbits Technologies Ltd. State responsive operations relating to flash memory cells
US20130219146A1 (en) * 2012-02-16 2013-08-22 Micron Technology, Inc. Method, device and system for a configurable address space for non-volatile memory
US9146851B2 (en) * 2012-03-26 2015-09-29 Compellent Technologies Single-level cell and multi-level cell hybrid solid state drive
US8760957B2 (en) * 2012-03-27 2014-06-24 SanDisk Technologies, Inc. Non-volatile memory and method having a memory array with a high-speed, short bit-line portion
US8996793B1 (en) 2012-04-24 2015-03-31 Densbits Technologies Ltd. System, method and computer readable medium for generating soft information
US8838937B1 (en) 2012-05-23 2014-09-16 Densbits Technologies Ltd. Methods, systems and computer readable medium for writing and reading data
US8879325B1 (en) 2012-05-30 2014-11-04 Densbits Technologies Ltd. System, method and computer program product for processing read threshold information and for reading a flash memory module
JP2013254403A (ja) * 2012-06-08 2013-12-19 Sony Corp 情報処理装置および方法、並びに、プログラム
TWI454913B (zh) * 2012-06-26 2014-10-01 Phison Electronics Corp 資料寫入方法、記憶體控制器與記憶體儲存裝置
KR101929584B1 (ko) * 2012-06-29 2018-12-17 에스케이하이닉스 주식회사 데이터 저장 장치 및 그 동작 방법
US9063864B2 (en) 2012-07-16 2015-06-23 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Storing data in presistent hybrid memory
KR102028128B1 (ko) 2012-08-07 2019-10-02 삼성전자주식회사 불휘발성 랜덤 액세스 메모리 및 낸드 플래시 메모리를 포함하는 메모리 시스템의 동작 방법
US9921954B1 (en) 2012-08-27 2018-03-20 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Method and system for split flash memory management between host and storage controller
US20140219021A1 (en) * 2013-02-07 2014-08-07 Seagate Technology Llc Data protection for unexpected power loss
KR20140033964A (ko) * 2012-09-11 2014-03-19 삼성전자주식회사 단말기의 데이터 저장장치 및 방법
US8832530B2 (en) * 2012-09-26 2014-09-09 Intel Corporation Techniques associated with a read and write window budget for a two level memory system
US9368225B1 (en) 2012-11-21 2016-06-14 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Determining read thresholds based upon read error direction statistics
US9147461B1 (en) 2012-11-28 2015-09-29 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory device performing a refresh operation, and memory system including the same
US9348746B2 (en) 2012-12-31 2016-05-24 Sandisk Technologies Method and system for managing block reclaim operations in a multi-layer memory
US9465731B2 (en) 2012-12-31 2016-10-11 Sandisk Technologies Llc Multi-layer non-volatile memory system having multiple partitions in a layer
US9734050B2 (en) 2012-12-31 2017-08-15 Sandisk Technologies Llc Method and system for managing background operations in a multi-layer memory
US8873284B2 (en) 2012-12-31 2014-10-28 Sandisk Technologies Inc. Method and system for program scheduling in a multi-layer memory
US9734911B2 (en) 2012-12-31 2017-08-15 Sandisk Technologies Llc Method and system for asynchronous die operations in a non-volatile memory
US9223693B2 (en) 2012-12-31 2015-12-29 Sandisk Technologies Inc. Memory system having an unequal number of memory die on different control channels
US9336133B2 (en) 2012-12-31 2016-05-10 Sandisk Technologies Inc. Method and system for managing program cycles including maintenance programming operations in a multi-layer memory
US9069659B1 (en) 2013-01-03 2015-06-30 Densbits Technologies Ltd. Read threshold determination using reference read threshold
US10073851B2 (en) 2013-01-08 2018-09-11 Apple Inc. Fast new file creation cache
CN103116550A (zh) * 2013-01-11 2013-05-22 深圳市硅格半导体有限公司 切换闪存中物理块工作模式的方法和装置
US8954655B2 (en) 2013-01-14 2015-02-10 Western Digital Technologies, Inc. Systems and methods of configuring a mode of operation in a solid-state memory
US9136873B2 (en) * 2013-03-11 2015-09-15 Intel Corporation Reduced uncorrectable memory errors
US9489148B2 (en) 2013-03-13 2016-11-08 Seagate Technology Llc Selecting between non-volatile memory units having different minimum addressable data unit sizes
US9679615B2 (en) 2013-03-15 2017-06-13 Micron Technology, Inc. Flexible memory system with a controller and a stack of memory
US9136876B1 (en) 2013-06-13 2015-09-15 Densbits Technologies Ltd. Size limited multi-dimensional decoding
CN105683926A (zh) * 2013-06-25 2016-06-15 美光科技公司 按需块管理
US9195406B2 (en) * 2013-06-28 2015-11-24 Micron Technology, Inc. Operation management in a memory device
CN107391389B (zh) * 2013-08-05 2020-11-24 慧荣科技股份有限公司 用来管理一记忆装置的方法以及记忆装置与控制器
CN104346292B (zh) * 2013-08-05 2017-10-24 慧荣科技股份有限公司 用来管理一记忆装置的方法、记忆装置与控制器
CN104375944B (zh) * 2013-08-14 2018-04-27 北京联想核芯科技有限公司 一种数据存储方法和装置
US9442670B2 (en) 2013-09-03 2016-09-13 Sandisk Technologies Llc Method and system for rebalancing data stored in flash memory devices
US9519577B2 (en) 2013-09-03 2016-12-13 Sandisk Technologies Llc Method and system for migrating data between flash memory devices
US9413491B1 (en) 2013-10-08 2016-08-09 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. System and method for multiple dimension decoding and encoding a message
US9786388B1 (en) 2013-10-09 2017-10-10 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Detecting and managing bad columns
US9348694B1 (en) 2013-10-09 2016-05-24 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Detecting and managing bad columns
US9397706B1 (en) 2013-10-09 2016-07-19 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. System and method for irregular multiple dimension decoding and encoding
KR20150049772A (ko) * 2013-10-31 2015-05-08 에스케이하이닉스 주식회사 데이터 처리 시스템 및 그것의 동작 방법
US9436408B2 (en) * 2013-12-20 2016-09-06 Seagate Technology Llc Direct hinting for a memory device
US9536612B1 (en) 2014-01-23 2017-01-03 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd Digital signaling processing for three dimensional flash memory arrays
US10120792B1 (en) 2014-01-29 2018-11-06 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Programming an embedded flash storage device
KR102218712B1 (ko) 2014-02-11 2021-02-22 삼성전자주식회사 저장 장치의 어드레스 맵핑 방법 및 저장 장치의 데이터 독출 방법
KR102190670B1 (ko) 2014-03-03 2020-12-14 삼성전자주식회사 마이그레이션 관리자를 포함하는 메모리 시스템
US9377954B2 (en) * 2014-05-09 2016-06-28 Advanced Micro Devices, Inc. System and method for memory allocation in a multiclass memory system
US9542262B1 (en) 2014-05-29 2017-01-10 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Error correction
US9645749B2 (en) 2014-05-30 2017-05-09 Sandisk Technologies Llc Method and system for recharacterizing the storage density of a memory device or a portion thereof
US8891303B1 (en) 2014-05-30 2014-11-18 Sandisk Technologies Inc. Method and system for dynamic word line based configuration of a three-dimensional memory device
CN103984509B (zh) * 2014-06-11 2019-02-12 上海新储集成电路有限公司 异构nand型固态硬盘及提高其性能的方法
US9892033B1 (en) 2014-06-24 2018-02-13 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Management of memory units
US9584159B1 (en) 2014-07-03 2017-02-28 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Interleaved encoding
US9972393B1 (en) 2014-07-03 2018-05-15 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Accelerating programming of a flash memory module
US9449702B1 (en) 2014-07-08 2016-09-20 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Power management
JP6166476B2 (ja) * 2014-07-09 2017-07-19 株式会社日立製作所 メモリモジュールおよび情報処理システム
JP6327994B2 (ja) * 2014-07-28 2018-05-23 ルネサスエレクトロニクス株式会社 制御システムおよび半導体装置
US9519427B2 (en) 2014-09-02 2016-12-13 Sandisk Technologies Llc Triggering, at a host system, a process to reduce declared capacity of a storage device
US9665311B2 (en) 2014-09-02 2017-05-30 Sandisk Technologies Llc Process and apparatus to reduce declared capacity of a storage device by making specific logical addresses unavailable
US9582203B2 (en) 2014-09-02 2017-02-28 Sandisk Technologies Llc Process and apparatus to reduce declared capacity of a storage device by reducing a range of logical addresses
US9652153B2 (en) 2014-09-02 2017-05-16 Sandisk Technologies Llc Process and apparatus to reduce declared capacity of a storage device by reducing a count of logical addresses
US9563362B2 (en) 2014-09-02 2017-02-07 Sandisk Technologies Llc Host system and process to reduce declared capacity of a storage device by trimming
US9582220B2 (en) 2014-09-02 2017-02-28 Sandisk Technologies Llc Notification of trigger condition to reduce declared capacity of a storage device in a multi-storage-device storage system
US9563370B2 (en) 2014-09-02 2017-02-07 Sandisk Technologies Llc Triggering a process to reduce declared capacity of a storage device
US9582212B2 (en) 2014-09-02 2017-02-28 Sandisk Technologies Llc Notification of trigger condition to reduce declared capacity of a storage device
US9582193B2 (en) 2014-09-02 2017-02-28 Sandisk Technologies Llc Triggering a process to reduce declared capacity of a storage device in a multi-storage-device storage system
US9552166B2 (en) 2014-09-02 2017-01-24 Sandisk Technologies Llc. Process and apparatus to reduce declared capacity of a storage device by deleting data
US9524105B2 (en) 2014-09-02 2016-12-20 Sandisk Technologies Llc Process and apparatus to reduce declared capacity of a storage device by altering an encoding format
US9524112B2 (en) 2014-09-02 2016-12-20 Sandisk Technologies Llc Process and apparatus to reduce declared capacity of a storage device by trimming
US9582202B2 (en) * 2014-09-02 2017-02-28 Sandisk Technologies Llc Process and apparatus to reduce declared capacity of a storage device by moving data
US9158681B1 (en) * 2014-09-02 2015-10-13 Sandisk Technologies Inc. Process and apparatus to reduce declared capacity of a storage device by conditionally trimming
CN104331252B (zh) * 2014-10-10 2017-08-25 上海新储集成电路有限公司 异构nand固态硬盘结构及其数据读取管理方法
US9524211B1 (en) 2014-11-18 2016-12-20 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Codeword management
US10305515B1 (en) 2015-02-02 2019-05-28 Avago Technologies International Sales Pte. Limited System and method for encoding using multiple linear feedback shift registers
US9606737B2 (en) 2015-05-20 2017-03-28 Sandisk Technologies Llc Variable bit encoding per NAND flash cell to extend life of flash-based storage devices and preserve over-provisioning
US9639282B2 (en) 2015-05-20 2017-05-02 Sandisk Technologies Llc Variable bit encoding per NAND flash cell to improve device endurance and extend life of flash-based storage devices
US9697134B2 (en) 2015-06-10 2017-07-04 Micron Technology, Inc. Memory having a static cache and a dynamic cache
US10628255B1 (en) 2015-06-11 2020-04-21 Avago Technologies International Sales Pte. Limited Multi-dimensional decoding
US9851921B1 (en) 2015-07-05 2017-12-26 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Flash memory chip processing
US10061516B2 (en) * 2015-09-25 2018-08-28 Intel Corporation Methods and apparatus to configure performance of a solid state drive based on host write bandwidth
US10162526B2 (en) 2015-10-20 2018-12-25 Micron Technology, Inc. Logical address history management in memory device
US10042553B2 (en) 2015-10-30 2018-08-07 Sandisk Technologies Llc Method and system for programming a multi-layer non-volatile memory having a single fold data path
US10120613B2 (en) 2015-10-30 2018-11-06 Sandisk Technologies Llc System and method for rescheduling host and maintenance operations in a non-volatile memory
US10133490B2 (en) 2015-10-30 2018-11-20 Sandisk Technologies Llc System and method for managing extended maintenance scheduling in a non-volatile memory
US9778855B2 (en) 2015-10-30 2017-10-03 Sandisk Technologies Llc System and method for precision interleaving of data writes in a non-volatile memory
US10303372B2 (en) 2015-12-01 2019-05-28 Samsung Electronics Co., Ltd. Nonvolatile memory device and operation method thereof
US9946473B2 (en) 2015-12-03 2018-04-17 Sandisk Technologies Llc Efficiently managing unmapped blocks to extend life of solid state drive
US9946483B2 (en) 2015-12-03 2018-04-17 Sandisk Technologies Llc Efficiently managing unmapped blocks to extend life of solid state drive with low over-provisioning
CN105739923A (zh) * 2016-01-28 2016-07-06 上海新储集成电路有限公司 一种可配置的数据管理方法
US9954558B1 (en) 2016-03-03 2018-04-24 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Fast decoding of data stored in a flash memory
US10942844B2 (en) 2016-06-10 2021-03-09 Apple Inc. Reserved memory in memory management system
US10275541B2 (en) * 2016-08-05 2019-04-30 Micron Technology, Inc. Proactive corrective actions in memory based on a probabilistic data structure
KR20180031289A (ko) * 2016-09-19 2018-03-28 삼성전자주식회사 스토리지 장치 및 상기 스토리지 장치의 동작 방법
US10359933B2 (en) * 2016-09-19 2019-07-23 Micron Technology, Inc. Memory devices and electronic systems having a hybrid cache including static and dynamic caches with single and multiple bits per cell, and related methods
US10430085B2 (en) 2016-11-08 2019-10-01 Micron Technology, Inc. Memory operations on data
TWI596541B (zh) * 2016-11-30 2017-08-21 財團法人工業技術研究院 資料存取系統、資料存取裝置及資料存取方法
US9928907B1 (en) * 2017-01-27 2018-03-27 Western Digital Technologies, Inc. Block erase schemes for cross-point non-volatile memory devices
CN106951186B (zh) * 2017-03-07 2020-02-07 合肥兆芯电子有限公司 数据程序化方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元
US10325668B2 (en) * 2017-04-05 2019-06-18 Micron Technology, Inc. Operation of mixed mode blocks
US10109361B1 (en) * 2017-06-29 2018-10-23 Intel Corporation Coarse pass and fine pass multi-level NVM programming
JP7030463B2 (ja) * 2017-09-22 2022-03-07 キオクシア株式会社 メモリシステム
US10430108B2 (en) * 2017-09-29 2019-10-01 Intel Corporation Concurrent copying of first and second subsets of pages from media such as SLC NAND to media such as QLC or MLC NAND for completion of copying of data
US10795827B2 (en) * 2017-11-17 2020-10-06 Western Digital Technologies, Inc. Adaptive management of intermediate storage
US20190034105A1 (en) * 2017-12-28 2019-01-31 Intel Corporation Storage device having programmed cell storage density modes that are a function of storage device capacity utilization
JP2019164411A (ja) * 2018-03-19 2019-09-26 株式会社東芝 管理装置、情報処理装置、管理方法、およびプログラム
JP6826066B2 (ja) * 2018-03-19 2021-02-03 株式会社東芝 管理装置、情報処理装置およびメモリ制御方法
US10713158B2 (en) * 2018-06-28 2020-07-14 Western Digital Technologies, Inc. Non-volatile storage system with dynamic allocation of applications to memory based on usage monitoring
US11537307B2 (en) * 2018-08-23 2022-12-27 Micron Technology, Inc. Hybrid wear leveling for in-place data replacement media
US11106577B2 (en) * 2018-10-30 2021-08-31 Micron Technology, Inc. Periodic flush in memory component that is using greedy garbage collection
EP3895026A4 (en) * 2018-12-13 2022-07-13 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) MEMORY HANDLING PROCEDURES AND NODES
KR20200110547A (ko) 2019-03-14 2020-09-24 삼성전자주식회사 스토리지 장치 및 스토리지 장치를 포함하는 컴퓨팅 장치
US11023172B2 (en) 2019-07-26 2021-06-01 Micron Technology, Inc. Selecting read voltage using write transaction data
EP3779704B1 (en) * 2019-08-01 2023-04-26 Samsung Electronics Co., Ltd. Storage device, memory system comprising the same, and operating method thereof
KR20210016188A (ko) 2019-08-01 2021-02-15 삼성전자주식회사 스토리지 장치 및 스토리지 장치의 동작 방법
KR20210016184A (ko) 2019-08-01 2021-02-15 삼성전자주식회사 스토리지 장치, 그것을 포함하는 메모리 시스템 및 그것의 동작 방법
EP3771983B1 (en) * 2019-08-01 2024-05-01 Samsung Electronics Co., Ltd. Storage device and operating method of storage device
KR102650809B1 (ko) * 2019-08-02 2024-03-26 삼성전자주식회사 스토리지 장치 및 그것의 동작 방법
US11681909B2 (en) * 2019-10-14 2023-06-20 Micron Technology, Inc. Memory component with a bus to transmit data for a machine learning operation and another bus to transmit host data
US11264082B2 (en) 2019-10-28 2022-03-01 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory device, memory system and autonomous driving apparatus
US11237955B2 (en) 2019-10-28 2022-02-01 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory device, method of operating memory device, and computer system including memory device
KR20210050635A (ko) 2019-10-28 2021-05-10 삼성전자주식회사 메모리 장치, 및 이를 포함하는 컴퓨터 시스템
KR20210050634A (ko) 2019-10-28 2021-05-10 삼성전자주식회사 메모리 장치, 메모리 시스템 및 자율 주행 장치
US20210255783A1 (en) * 2020-02-19 2021-08-19 Silicon Motion, Inc. Method and apparatus for performing data storage management to enhance data reliability with aid of repeated write command detection
US11586604B2 (en) * 2020-07-02 2023-02-21 International Business Machines Corporation In-memory data structure for data access
US11748005B2 (en) * 2020-08-10 2023-09-05 Micron Technology, Inc. Transferring memory system data to an auxiliary array
US11568937B2 (en) * 2021-03-29 2023-01-31 Micron Technology, Inc. Memory device programming techinique using fewer latches
KR20230027957A (ko) 2021-08-20 2023-02-28 삼성전자주식회사 호스트 및 스토리지 장치를 포함하는 스토리지 시스템 및 이의 동작 방법
JP7451809B2 (ja) 2022-02-17 2024-03-18 キオクシア株式会社 方法
US11798643B1 (en) 2022-03-15 2023-10-24 Western Digital Technologies, Inc. Non-volatile storage system with hybrid SLC wear leveling

Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07153285A (ja) * 1993-11-29 1995-06-16 Sansei Denshi Japan Kk 不揮発性フラッシュメモリの制御方法とその装置
JPH0816482A (ja) * 1994-06-29 1996-01-19 Hitachi Ltd フラッシュメモリを用いた記憶装置およびその記憶制御方法
JPH09288896A (ja) * 1996-04-19 1997-11-04 Toshiba Corp 記憶システム
JPH1131102A (ja) * 1997-07-14 1999-02-02 Toshiba Corp データ記憶システム及び同システムに適用するアクセス制御方法
JPH11176178A (ja) * 1997-12-15 1999-07-02 Sony Corp 不揮発性半導体記憶装置およびそれを用いたicメモリカード
JPH11224491A (ja) * 1997-12-03 1999-08-17 Sony Corp 不揮発性半導体記憶装置およびそれを用いたicメモリカード
JPH11259370A (ja) * 1998-03-06 1999-09-24 Mitsubishi Electric Corp データ書込装置及びデータ書込方法
JP2001210082A (ja) * 2000-01-24 2001-08-03 Mitsubishi Electric Corp 不揮発性半導体記憶装置およびデータ記憶システム
JP2001306393A (ja) * 2000-04-20 2001-11-02 Mitsubishi Electric Corp 記憶装置
JP2004247042A (ja) * 2004-04-05 2004-09-02 Toshiba Corp 半導体集積回路装置
JP2004326523A (ja) * 2003-04-25 2004-11-18 Toshiba Corp 書き換え可能な不揮発性メモリを備えた記憶装置及び記憶装置用不揮発性メモリの制御方法
WO2007029259A2 (en) * 2005-09-09 2007-03-15 Sandisk Il Ltd. Front memory storage system and method
JP2007257109A (ja) * 2006-03-22 2007-10-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd 不揮発性記憶装置、そのデータ書き込み方法、不揮発性記憶システム及びメモリコントローラ
JP2007305210A (ja) * 2006-05-10 2007-11-22 Toshiba Corp 半導体記憶装置
JP2008506189A (ja) * 2004-07-06 2008-02-28 サンディスク コーポレイション 多目的不揮発性メモリカード

Family Cites Families (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1031992B1 (en) 1989-04-13 2006-06-21 SanDisk Corporation Flash EEPROM system
US6230233B1 (en) 1991-09-13 2001-05-08 Sandisk Corporation Wear leveling techniques for flash EEPROM systems
US5671388A (en) 1995-05-03 1997-09-23 Intel Corporation Method and apparatus for performing write operations in multi-level cell storage device
JPH09297659A (ja) * 1996-04-30 1997-11-18 Toshiba Corp 不揮発性記憶装置およびその制御方法
US5930167A (en) 1997-07-30 1999-07-27 Sandisk Corporation Multi-state non-volatile flash memory capable of being its own two state write cache
US7953931B2 (en) 1999-08-04 2011-05-31 Super Talent Electronics, Inc. High endurance non-volatile memory devices
US8078794B2 (en) * 2000-01-06 2011-12-13 Super Talent Electronics, Inc. Hybrid SSD using a combination of SLC and MLC flash memory arrays
US20080071973A1 (en) * 2000-01-06 2008-03-20 Chow David Q Electronic data flash card with various flash memory cells
US6785767B2 (en) 2000-12-26 2004-08-31 Intel Corporation Hybrid mass storage system and method with two different types of storage medium
US6456528B1 (en) 2001-09-17 2002-09-24 Sandisk Corporation Selective operation of a multi-state non-volatile memory system in a binary mode
US6807106B2 (en) 2001-12-14 2004-10-19 Sandisk Corporation Hybrid density memory card
JP2003216460A (ja) * 2002-01-21 2003-07-31 Hitachi Ltd 階層ストレージ装置及びその制御装置
JP3983650B2 (ja) * 2002-11-12 2007-09-26 株式会社日立製作所 ハイブリッドストレージ、および、それを用いた情報処理装置
JP2005165485A (ja) * 2003-12-01 2005-06-23 Sony Corp ファイル管理装置、ストレージ管理システム、システム管理方法、プログラム及び記録媒体
JP2006079274A (ja) * 2004-09-08 2006-03-23 Sony Corp ファイル管理装置、ネットワークシステム、ファイル管理方法及びプログラム
KR101257848B1 (ko) 2005-07-13 2013-04-24 삼성전자주식회사 복합 메모리를 구비하는 데이터 저장 시스템 및 그 동작방법
CN101273413B (zh) * 2005-09-29 2011-11-16 特科2000国际有限公司 使用单层单元和多层单元闪速存储器的便携式数据存储
JP4805696B2 (ja) * 2006-03-09 2011-11-02 株式会社東芝 半導体集積回路装置およびそのデータ記録方式
US7639531B2 (en) 2006-05-15 2009-12-29 Apple Inc. Dynamic cell bit resolution
US7711890B2 (en) 2006-06-06 2010-05-04 Sandisk Il Ltd Cache control in a non-volatile memory device
JP2008053150A (ja) 2006-08-28 2008-03-06 Asano Laboratories Co Ltd 加熱装置及び加熱方法
KR100809320B1 (ko) * 2006-09-27 2008-03-05 삼성전자주식회사 이종 셀 타입을 지원하는 비휘발성 메모리를 위한 맵핑정보 관리 장치 및 방법
JP2008090876A (ja) * 2006-09-29 2008-04-17 Toshiba Corp 不揮発性半導体記憶装置
KR100771521B1 (ko) * 2006-10-30 2007-10-30 삼성전자주식회사 멀티 레벨 셀을 포함하는 플래시 메모리 장치 및 그것의데이터 쓰기 방법
KR100833188B1 (ko) * 2006-11-03 2008-05-28 삼성전자주식회사 데이터의 특성에 따라 싱글 레벨 셀 또는 멀티 레벨 셀에데이터를 저장하는 불휘발성 메모리 시스템
US20080140918A1 (en) * 2006-12-11 2008-06-12 Pantas Sutardja Hybrid non-volatile solid state memory system
US7852654B2 (en) 2006-12-28 2010-12-14 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor memory device, and multi-chip package and method of operating the same
KR100850515B1 (ko) 2007-01-24 2008-08-05 삼성전자주식회사 멀티레벨 셀 플래시 메모리를 갖는 메모리 시스템 및그것의 프로그램 방법
TWI368224B (en) 2007-03-19 2012-07-11 A Data Technology Co Ltd Wear-leveling management and file distribution management of hybrid density memory
US20090043831A1 (en) * 2007-08-11 2009-02-12 Mcm Portfolio Llc Smart Solid State Drive And Method For Handling Critical Files
KR101498673B1 (ko) * 2007-08-14 2015-03-09 삼성전자주식회사 반도체 드라이브, 그것의 데이터 저장 방법, 그리고 그것을포함한 컴퓨팅 시스템
US7849275B2 (en) 2007-11-19 2010-12-07 Sandforce, Inc. System, method and a computer program product for writing data to different storage devices based on write frequency
US7975105B1 (en) 2007-12-03 2011-07-05 Yingju Sun Solid state storage devices with changeable capacity
TWI397912B (zh) 2008-02-13 2013-06-01 Genesys Logic Inc 調整存取效能的快閃記憶體儲存裝置
US8060719B2 (en) * 2008-05-28 2011-11-15 Micron Technology, Inc. Hybrid memory management
KR101861170B1 (ko) * 2011-08-17 2018-05-25 삼성전자주식회사 마이그레이션 관리자를 포함하는 메모리 시스템

Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07153285A (ja) * 1993-11-29 1995-06-16 Sansei Denshi Japan Kk 不揮発性フラッシュメモリの制御方法とその装置
JPH0816482A (ja) * 1994-06-29 1996-01-19 Hitachi Ltd フラッシュメモリを用いた記憶装置およびその記憶制御方法
JPH09288896A (ja) * 1996-04-19 1997-11-04 Toshiba Corp 記憶システム
JPH1131102A (ja) * 1997-07-14 1999-02-02 Toshiba Corp データ記憶システム及び同システムに適用するアクセス制御方法
JPH11224491A (ja) * 1997-12-03 1999-08-17 Sony Corp 不揮発性半導体記憶装置およびそれを用いたicメモリカード
JPH11176178A (ja) * 1997-12-15 1999-07-02 Sony Corp 不揮発性半導体記憶装置およびそれを用いたicメモリカード
JPH11259370A (ja) * 1998-03-06 1999-09-24 Mitsubishi Electric Corp データ書込装置及びデータ書込方法
JP2001210082A (ja) * 2000-01-24 2001-08-03 Mitsubishi Electric Corp 不揮発性半導体記憶装置およびデータ記憶システム
JP2001306393A (ja) * 2000-04-20 2001-11-02 Mitsubishi Electric Corp 記憶装置
JP2004326523A (ja) * 2003-04-25 2004-11-18 Toshiba Corp 書き換え可能な不揮発性メモリを備えた記憶装置及び記憶装置用不揮発性メモリの制御方法
JP2004247042A (ja) * 2004-04-05 2004-09-02 Toshiba Corp 半導体集積回路装置
JP2008506189A (ja) * 2004-07-06 2008-02-28 サンディスク コーポレイション 多目的不揮発性メモリカード
WO2007029259A2 (en) * 2005-09-09 2007-03-15 Sandisk Il Ltd. Front memory storage system and method
JP2007257109A (ja) * 2006-03-22 2007-10-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd 不揮発性記憶装置、そのデータ書き込み方法、不揮発性記憶システム及びメモリコントローラ
JP2007305210A (ja) * 2006-05-10 2007-11-22 Toshiba Corp 半導体記憶装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JPN6012063540; Li-Pin Chang: 'Hybrid Solid-Sate Disks:Combining Heterogeneous NAND Flash in Large SSDs' IEEE Xplore DIGITAL LIBRARY , 200804, p.428-433, IEEE *

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014116031A (ja) * 2008-05-28 2014-06-26 Micron Technology Inc メモリデバイスを備えた電子システム
US9390004B2 (en) 2008-05-28 2016-07-12 Round Rock Research, Llc Hybrid memory management
JP2013251039A (ja) * 2012-06-04 2013-12-12 Silicon Motion Inc データアクセス時間を短縮したフラッシュメモリ装置及びフラッシュメモリのデータアクセス方法
JP2016004387A (ja) * 2014-06-16 2016-01-12 株式会社東芝 ストレージシステム、メモリコントローラ、および制御方法
WO2016088234A1 (ja) * 2014-12-04 2016-06-09 株式会社 東芝 異なる特性の不揮発性半導体メモリの寿命を長くするストレージ装置
JPWO2016088234A1 (ja) * 2014-12-04 2017-04-27 株式会社東芝 ストレージ装置、ストレージ装置の制御方法、及びプログラムを記憶するコンピュータ読み取り可能な不揮発性記憶媒体
US9977611B2 (en) 2014-12-04 2018-05-22 Kabushiki Kaisha Toshiba Storage device, method, and computer-readable medium for selecting a write destination of target data to nonvolatile memories having different erase limits based upon a write interval
US10146553B2 (en) 2015-09-30 2018-12-04 Samsung Electronics Co., Ltd. Electronic apparatus and booting method thereof
JP2017111477A (ja) * 2015-12-14 2017-06-22 株式会社東芝 メモリシステムおよび制御方法
JP2021517307A (ja) * 2018-03-21 2021-07-15 マイクロン テクノロジー,インク. ハイブリッドメモリシステム
JP7057435B2 (ja) 2018-03-21 2022-04-19 マイクロン テクノロジー,インク. ハイブリッドメモリシステム
US11340808B2 (en) 2018-03-21 2022-05-24 Micron Technology, Inc. Latency-based storage in a hybrid memory system

Also Published As

Publication number Publication date
JP5728672B2 (ja) 2015-06-03
EP2291746A2 (en) 2011-03-09
US8751733B2 (en) 2014-06-10
US8296510B2 (en) 2012-10-23
KR101283711B1 (ko) 2013-07-08
WO2009155022A2 (en) 2009-12-23
US8060719B2 (en) 2011-11-15
KR20110015023A (ko) 2011-02-14
EP2291746A4 (en) 2012-10-24
JP2014116031A (ja) 2014-06-26
WO2009155022A3 (en) 2010-03-04
US20140281177A1 (en) 2014-09-18
US20130073807A1 (en) 2013-03-21
US20120059992A1 (en) 2012-03-08
US9390004B2 (en) 2016-07-12
CN102047230A (zh) 2011-05-04
US20090300269A1 (en) 2009-12-03
EP2291746B1 (en) 2014-10-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5728672B2 (ja) ハイブリッドメモリ管理
US11416391B2 (en) Garbage collection
CN109783009B (zh) 存储器系统及其操作方法
CN110603532B (zh) 存储器管理
US10402318B2 (en) Mapping table updating method, memory control circuit unit and memory storage device
US9208079B2 (en) Solid state memory (SSM), computer system including an SSM, and method of operating an SSM
KR101551584B1 (ko) 하이브리드 slc/mlc 메모리 내의 블록 관리 방식들
US8762629B2 (en) Data conditioning to improve flash memory reliability
US20170160942A1 (en) Data storage device and flash memory control method
US9448919B1 (en) Data storage device accessing garbage collected memory segments
CN110955384B (zh) 数据储存装置以及非挥发式存储器控制方法
TW201301031A (zh) 在一記憶體裝置中動態記憶體快取大小的調整
JP2012515955A (ja) 固体メモリフォーマッティング
US10283196B2 (en) Data writing method, memory control circuit unit and memory storage apparatus
KR101403922B1 (ko) 접근 빈도에 따라 데이터를 할당하는 저장장치 및 저장방법
KR101027687B1 (ko) 라이트 동작을 제어하는 반도체 스토리지 시스템 및 그 제어 방법
CN111309642B (zh) 一种存储器及其控制方法与存储系统
KR100780963B1 (ko) 메모리 카드 및 메모리 카드의 구동 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20101124

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20101215

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101215

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20101215

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20121121

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121211

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20130308

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20130308

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20130319

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20130409

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130409

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130528

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20130823

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130823

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20131008

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20140207

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20140319

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20141205

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20141205

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20150212

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20150212

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150212

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20150212

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5728672

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees