KR100850515B1 - 멀티레벨 셀 플래시 메모리를 갖는 메모리 시스템 및그것의 프로그램 방법 - Google Patents
멀티레벨 셀 플래시 메모리를 갖는 메모리 시스템 및그것의 프로그램 방법 Download PDFInfo
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Abstract
Description
Claims (24)
- 멀티 레벨 셀 플래시 메모리의 프로그램 방법에 있어서:(a) 상기 플래시 메모리의 메모리 셀 어레이에서 사용자 블럭과 캐쉬 블럭을 구분하는 단계;(b) 상기 사용자 블럭의 페이지에 제 1 하위비트(LSB) 데이터를 프로그램하는 단계; 및(c) 상기 (b) 단계 이후 상기 사용자 블럭의 페이지에 제 1 상위비트(MSB) 데이터를 프로그램하는 단계;(d) 상기 캐쉬 블럭의 페이지에 제 2 하위비트(LSB) 데이터를 프로그램하는 단계를 포함하되,상기 캐쉬 블럭은 상기 플래시 메모리를 제어하는데 필요한 제어 데이터를 저장하는 플래시 메모리의 프로그램 방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 (b) 단계 이후 및 상기 (c) 단계 이전, 상기 제 1 하위비트 데이터를 백업해 두는 단계를 더 포함하는 플래시 메모리의 프로그램 방법.
- 제 2 항에 있어서,상기 (c) 단계 이후, 상기 사용자 블럭의 페이지의 프로그램 폐일을 검출하 는 단계를 포함하는 플래시 메모리의 프로그램 방법.
- 제 3 항에 있어서,상기 프로그램 폐일이 검출되었다면, 상기 제 1 하위비트 데이터 및 상기 제 2 상위비트 데이터를 상기 사용자 블럭의 새로운 페이지에 재프로그램하는 단계를 더 포함하는 플래시 메모리의 프로그램 방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 (d) 단계 이후, 상기 캐쉬 블럭의 페이지의 상기 프로그램 폐일이 검출하는 단계를 더 포함하는 플래시 메모리의 프로그램 방법.
- 제 5 항에 있어서,상기 프로그램 폐일이 검출되었다면, 상기 제 2 하위비트 데이터를 상기 캐쉬 블럭의 새로운 페이지에 재프로그램하는 단계를 더 포함하는 플래시 메모리의 프로그램 방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 캐쉬 블럭은 사용자 데이터 중 호스트로부터 소정의 회수 이상으로 억세스되는 데이터 저장하는 플래시 메모리의 프로그램 방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 (c) 단계 이후, 상기 사용자 블럭의 페이지의 프로그램 폐일을 검출하는 단계를 포함하는 플래시 메모리의 프로그램 방법.
- 제 8 항에 있어서,상기 프로그램 폐일이 검출되었다면, 상기 제 1 하위비트 데이터를 복구하는 플래시 메모리의 프로그램 방법.
- 제 9 항에 있어서,상기 제 1 하위비트 데이터를 복구하는 방법은,(e) 상기 사용자 블럭의 페이지로부터 제 1 하위비트 데이터를 읽어오는 단계;(f) 상기 (e) 단계에서 읽어온 상기 제 1 하위비트 데이터가 에러정정코드(ECC)로 수정가능한가 판단하는 단계; 및(g) 상기 (f) 단계에서 상기 제 1 하위비트 데이터가 상기 에러정정코드로 수정가능하다면, 상기 제 1 하위비트 데이터 및 상기 제 1 상위비트 데이터를 상기 사용자의 블럭의 새로운 페이지에 재프로그램하는 단계를 포함하는 플래시 메모리의 프로그램 방법.
- 제 10 항에 있어서,상기 (f) 단계에서 상기 제 1 하위비트 데이터가 상기 에러정정코드로 수정가능하지 않다면, 상기 제 1 상위비트 데이터를 이용하여 폐일이 난 위치를 검출하여 상기 제 1 하위비트 데이터를 복구하는 단계를 포함하는 플래시 메모리의 프로그램 방법.
- 제 11 항에 있어서,상기 에러정정코드는 상기 복구된 제 1 하위비트 데이터를 수정하는 단계를 더 포함하는 플래시 메모리의 프로그램 방법.
- 제 12 항에 있어서,상기 수정된 제 1 하위비트 데이터 및 상기 제 1 상위비트 데이터를 상기 사용자 블럭의 새로운 페이지에 재프로그램하는 단계를 포함하는 플래시 메모리의 프로그램 방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 플래시 메모리는 낸드 플래시 메모리인 플래시 메모리의 프로그램 방법.
- 호스트;사용자 블럭 및 캐쉬 블럭을 갖는 메모리 셀 어레이를 포함하는 멀티 비트 셀 플래시 메모리; 및상기 호스트로부터 명령을 입력받아 상기 멀티 비트 셀 플래시 메모리를 제어하는 메모리 제어기를 포함하되,상기 사용자 블럭은 제 1 하위비트 데이터로 프로그램된 후, 제 1 상위비트 데이터로 프로그램되고,상기 캐쉬 블럭은 제 2 하위비트 데이터로 프로그램되며, 상기 멀티 비트 셀 플래시 메모리를 제어하는 데이터가 저장되는 메모리 시스템
- 제 15 항에 있어서,상기 메모리 시스템은 사용자 블럭을 프로그램할 때, 상기 제 1 하위비트 데이터를 백업해두는 메모리 시스템.
- 제 16 항에 있어서,상기 메모리 제어기는 상기 사용자 블럭에 프로그램된 상기 제 1 하위비트 데이터를 백업하기 위한 백업 메모리를 더 포함하는 메모리 시스템.
- 제 17 항에 있어서,상기 메모리 제어기는 상기 제 1 하위비트 데이터 및 상기 제 2 상위비트 데이터를 상기 사용자 블럭에 프로그램하기 위한 임시로 저장해 두는 버퍼 메모리를 포함하는 메모리 시스템.
- 제 18 항에 있어서,상기 메모리 제어기는 상기 사용자 블럭에 상기 제 1 상위비트 데이터를 프로그램하기 전에 상기 프로그램된 상기 제 1 하위비트 데이터를 상기 백업 메모리에 저장시키는 메모리 시스템.
- 제 19 항에 있어서,상기 메모리 제어기는 상기 버퍼 메모리에 저장된 상기 제 1 상위비트 데이터를 상기 사용자 블럭에 프로그램한 뒤 프로그램 폐일이 발생하였는지 검출하는 메모리 시스템.
- 제 20 항에 있어서,상기 프로그램 폐일이 발생했을 때, 상기 메모리 제어기는 상기 백업 메모리에 저장된 상기 제 1 하위비트 메모리와 상기 버퍼 메모리에 저장된 상기 제 1 상위비트 메모리를 상기 새로운 사용자 블럭에 재프로그램시키는 메모리 시스템.
- 제 15 항에 있어서,상기 캐쉬 블럭은 사용자 데이터 중 호스트로부터 소정의 회수 이상으로 억세스되는 데이터를 저장하는 메모리 시스템.
- 제 15 항에 있어서,상기 메모리 제어기는,상기 제 1 상위비트 데이터를 저장하는 버퍼 메모리;상기 사용자 블럭의 상기 제 1 상위비트 데이터 프로그램시 폐일이 발생할 경우, 상기 사용자 블럭에 저장된 상기 제 1 하위비트 데이터를 백업시켜둔 백업 메모리; 및상기 백업 메모리로부터 읽어온 상기 제 1 하위비트 데이터의 에러를 수정하여 상기 백업 메모리에 출력하는 에러정정코드(ECC)를 포함하되,상기 메모리 제어기는 상기 백업 메모리의 상기 수정된 제 1 하위비트 데이터 및 상기 버퍼 메모리의 상기 제 1 상위비트 데이터를 상기 새로운 사용자 블럭에 재프로그램하는 메모리 시스템.
- 제 23 항에 있어서,상기 메모리 제어기는 상기 에러정정코드가 상기 제 1 하위비트 데이터를 수정하지 못할 때, 상기 제 1 하위비트 데이터를 복구하기 위하여,상기 버퍼 메모리에 저장된 제 1 상위비트 데이터 및 상기 사용자 블럭에 저장된 상기 제 1 상위비트 데이터를 비교하는 비교기;상기 비교기의 비교결과로부터 상기 프로그램 폐일이 위치를 검출하는 어드레스를 저장하는 폐일위치 검출기; 및상기 검출된 폐일 위치에 따라 상기 제 1 하위비트 데이터를 복구하여 상기 백업 메모리에 저장하는 리페어 회로를 포함하되,상기 메모리 제어기는 상기 백업 메모리에 저장된 상기 복구된 제 1 하위비트 데이터 및 상기 버퍼 메모리에 저장된 상기 제 1 상위비트 데이터를 상기 사용자 블럭의 새로운 페이지에 재프로그램하는 메모리 시스템.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070007527A KR100850515B1 (ko) | 2007-01-24 | 2007-01-24 | 멀티레벨 셀 플래시 메모리를 갖는 메모리 시스템 및그것의 프로그램 방법 |
US11/796,978 US7755950B2 (en) | 2007-01-24 | 2007-04-30 | Programming methods of memory systems having a multilevel cell flash memory |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070007527A KR100850515B1 (ko) | 2007-01-24 | 2007-01-24 | 멀티레벨 셀 플래시 메모리를 갖는 메모리 시스템 및그것의 프로그램 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080069822A KR20080069822A (ko) | 2008-07-29 |
KR100850515B1 true KR100850515B1 (ko) | 2008-08-05 |
Family
ID=39642373
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070007527A KR100850515B1 (ko) | 2007-01-24 | 2007-01-24 | 멀티레벨 셀 플래시 메모리를 갖는 메모리 시스템 및그것의 프로그램 방법 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7755950B2 (ko) |
KR (1) | KR100850515B1 (ko) |
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Date | Code | Title | Description |
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A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
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