JP2010251552A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2010251552A5
JP2010251552A5 JP2009099989A JP2009099989A JP2010251552A5 JP 2010251552 A5 JP2010251552 A5 JP 2010251552A5 JP 2009099989 A JP2009099989 A JP 2009099989A JP 2009099989 A JP2009099989 A JP 2009099989A JP 2010251552 A5 JP2010251552 A5 JP 2010251552A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
metal layer
layer
support
wiring board
manufacturing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009099989A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010251552A (ja
JP5147779B2 (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP2009099989A external-priority patent/JP5147779B2/ja
Priority to JP2009099989A priority Critical patent/JP5147779B2/ja
Application filed filed Critical
Priority to US12/755,555 priority patent/US8458900B2/en
Priority to TW99111229A priority patent/TWI472283B/zh
Priority to KR1020100034673A priority patent/KR101709629B1/ko
Publication of JP2010251552A publication Critical patent/JP2010251552A/ja
Publication of JP2010251552A5 publication Critical patent/JP2010251552A5/ja
Publication of JP5147779B2 publication Critical patent/JP5147779B2/ja
Application granted granted Critical
Priority to US13/892,416 priority patent/US9018538B2/en
Priority to US14/673,981 priority patent/US20150206833A1/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

本配線基板は、絶縁層と、前記絶縁層の一方の面に形成された配線層と、前記配線層と電気的に接続され、前記絶縁層の他方の面から突出する柱状の突出部と、を有し、前記突出部は上面及び下面を有し、前記上面及び下面方向の断面が矩形の柱状で、前記下面側が前記絶縁層に埋設され、前記上面側が前記絶縁層の他方の面から突出した接続端子であることを要件とする。

Claims (16)

  1. 支持体上に、前記支持体の表面を露出する柱状の貫通孔を有する第1金属層を形成する第1金属層形成工程と、
    前記柱状の貫通孔から露出する前記支持体の表面及び前記柱状の貫通孔の内壁面を覆うように第2金属層を形成する第2金属層形成工程と、
    前記第2金属層上に前記柱状の貫通孔を充填するように第3金属層を形成する第3金属層形成工程と、
    前記第3金属層を覆うように前記第1金属層上に絶縁層を形成する絶縁層形成工程と、
    前記絶縁層の一方の面に、前記第3金属層と電気的に接続する配線層を形成する配線層形成工程と、
    前記支持体及び前記第1金属層を除去し、前記第2金属層及び前記第3金属層を含んで構成され前記絶縁層の他方の面から突出する突出部を形成する突出部形成工程(1)と、を有する配線基板の製造方法。
  2. 前記突出部は上面及び下面を有し、前記上面及び下面方向の断面が矩形の柱状で、前記下面側が前記絶縁層に埋設され、前記上面側が前記絶縁層の他方の面から突出した接続端子である請求項1記載の配線基板の製造方法。
  3. 前記突出部形成工程(1)に代えて、前記支持体及び前記第1金属層を除去した後、更に前記第2金属層を除去し、前記第3金属層を含んで構成され前記絶縁層の他方の面から突出する突出部を形成する突出部形成工程(2)を有する請求項1又は2記載の配線基板の製造方法。
  4. 前記第1金属層形成工程は、
    前記支持体上に前記柱状の貫通孔に対応する柱状のレジスト層を形成する第1工程と、
    前記支持体上の前記柱状のレジスト層が形成されていない領域に前記第1金属層を形成する第2工程と、
    前記柱状のレジスト層を除去する第3工程と、を有する請求項1乃至3の何れか一項記載の配線基板の製造方法。
  5. 前記支持体は導電体であり、前記第1金属層形成工程において、前記第1金属層は、前記支持体を給電層とする電解めっき法により形成される請求項1乃至の何れか一項記載の配線基板の製造方法。
  6. 前記支持体は導電体であり、前記第2金属層形成工程において、前記第2金属層は、前記支持体を給電層とする電解めっき法により形成される請求項1乃至の何れか一項記載の配線基板の製造方法。
  7. 前記支持体は導電体であり、前記第3金属層形成工程において、前記第3金属層は、前記支持体を給電層とする電解めっき法により形成される請求項1乃至の何れか一項記載の配線基板の製造方法。
  8. 前記支持体及び前記第1金属層は同一のエッチング液により除去可能な材料により構成されている請求項1乃至の何れか一項記載の配線基板の製造方法。
  9. 前記第2金属層は、前記支持体及び前記第1金属層を除去するエッチング液に耐性を有する材料により構成されている請求項1乃至の何れか一項記載の配線基板の製造方法。
  10. 前記第2金属層は、異なる材料からなる複数の金属層が積層された構造を有する請求項1乃至の何れか一項記載の配線基板の製造方法。
  11. 請求項1乃至10の何れか一項記載の製造方法で製造された突出部を有する配線基板と、電極パッドを有する半導体チップと、を準備する準備工程と、
    前記突出部と前記電極パッドとを対向させるように、前記配線基板上に前記半導体チップを配置する配置工程と、
    前記突出部と前記電極パッドとを電気的に接続する接続工程と、を有する半導体パッケージの製造方法。
  12. 前記配線基板の前記突出部が形成されている面と前記半導体チップとの間に樹脂を充填する樹脂充填工程を更に有する請求項11記載の半導体パッケージの製造方法。
  13. 絶縁層と、
    前記絶縁層の一方の面に形成された配線層と、
    前記配線層と電気的に接続され、前記絶縁層の他方の面から突出する柱状の突出部と、を有し、
    前記突出部は上面及び下面を有し、前記上面及び下面方向の断面が矩形の柱状で、前記下面側が前記絶縁層に埋設され、前記上面側が前記絶縁層の他方の面から突出した接続端子である配線基板。
  14. 前記柱状の突出部は、異なる材料からなる複数の金属層が積層された構造を有する請求項13記載の配線基板。
  15. 請求項13又は14記載の配線基板と、電極パッドを有する半導体チップと、を有し、
    前記突出部と前記電極パッドとは電気的に接続されている半導体パッケージ。
  16. 前記突出部と前記電極パッドとは、前記突出部と前記電極パッドとの対向する面間に形成されたはだを介して接続されている請求項15記載の半導体パッケージ。
JP2009099989A 2009-04-16 2009-04-16 配線基板の製造方法及び半導体パッケージの製造方法 Active JP5147779B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009099989A JP5147779B2 (ja) 2009-04-16 2009-04-16 配線基板の製造方法及び半導体パッケージの製造方法
US12/755,555 US8458900B2 (en) 2009-04-16 2010-04-07 Wiring substrate having columnar protruding part
TW99111229A TWI472283B (zh) 2009-04-16 2010-04-12 具有柱狀突出部分之配線基板
KR1020100034673A KR101709629B1 (ko) 2009-04-16 2010-04-15 기둥 형상의 돌출부를 가지는 배선 기판 제조 방법
US13/892,416 US9018538B2 (en) 2009-04-16 2013-05-13 Wiring substrate having columnar protruding part
US14/673,981 US20150206833A1 (en) 2009-04-16 2015-03-31 Wiring substrate having columnar protruding part

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009099989A JP5147779B2 (ja) 2009-04-16 2009-04-16 配線基板の製造方法及び半導体パッケージの製造方法

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012222420A Division JP5422718B2 (ja) 2012-10-04 2012-10-04 配線基板及び半導体パッケージ

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2010251552A JP2010251552A (ja) 2010-11-04
JP2010251552A5 true JP2010251552A5 (ja) 2012-05-10
JP5147779B2 JP5147779B2 (ja) 2013-02-20

Family

ID=42980152

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009099989A Active JP5147779B2 (ja) 2009-04-16 2009-04-16 配線基板の製造方法及び半導体パッケージの製造方法

Country Status (4)

Country Link
US (3) US8458900B2 (ja)
JP (1) JP5147779B2 (ja)
KR (1) KR101709629B1 (ja)
TW (1) TWI472283B (ja)

Families Citing this family (53)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5147779B2 (ja) * 2009-04-16 2013-02-20 新光電気工業株式会社 配線基板の製造方法及び半導体パッケージの製造方法
US8698303B2 (en) * 2010-11-23 2014-04-15 Ibiden Co., Ltd. Substrate for mounting semiconductor, semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device
TWI454320B (zh) * 2011-08-19 2014-10-01 Jieng Tai Internat Electric Corp 填補穿孔的方法
JP5861400B2 (ja) * 2011-11-09 2016-02-16 イビデン株式会社 半導体実装部材
KR101287742B1 (ko) * 2011-11-23 2013-07-18 삼성전기주식회사 인쇄 회로 기판 및 그 제조 방법
JP5886617B2 (ja) * 2011-12-02 2016-03-16 新光電気工業株式会社 配線基板及びその製造方法、半導体パッケージ
JP2013247201A (ja) * 2012-05-24 2013-12-09 Shinko Electric Ind Co Ltd 配線基板、実装構造、及び配線基板の製造方法
TWI637467B (zh) * 2012-05-24 2018-10-01 欣興電子股份有限公司 中介基材及其製作方法
US9269681B2 (en) * 2012-11-16 2016-02-23 Qualcomm Incorporated Surface finish on trace for a thermal compression flip chip (TCFC)
US8802504B1 (en) * 2013-03-14 2014-08-12 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. 3D packages and methods for forming the same
US9299649B2 (en) 2013-02-08 2016-03-29 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. 3D packages and methods for forming the same
CN104219867A (zh) * 2013-05-31 2014-12-17 宏启胜精密电子(秦皇岛)有限公司 电路板及其制作方法
US8981842B1 (en) * 2013-10-25 2015-03-17 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited Integrated circuit comprising buffer chain
KR20150064976A (ko) * 2013-12-04 2015-06-12 삼성전기주식회사 인쇄회로기판 및 그 제조방법
US20150195912A1 (en) * 2014-01-08 2015-07-09 Zhuhai Advanced Chip Carriers & Electronic Substrate Solutions Technologies Co. Ltd. Substrates With Ultra Fine Pitch Flip Chip Bumps
JP6543887B2 (ja) * 2014-02-24 2019-07-17 日立化成株式会社 バンプ付き配線基板及びその製造方法
US9693455B1 (en) * 2014-03-27 2017-06-27 STATS ChipPAC Pte. Ltd. Integrated circuit packaging system with plated copper posts and method of manufacture thereof
US20150279815A1 (en) * 2014-03-28 2015-10-01 Stats Chippac, Ltd. Semiconductor Device and Method of Forming Substrate Having Conductive Columns
JP2016021496A (ja) * 2014-07-15 2016-02-04 イビデン株式会社 配線基板及びその製造方法
WO2016021516A1 (ja) * 2014-08-04 2016-02-11 国立研究開発法人産業技術総合研究所 局在型表面プラズモン共鳴センシングチップおよび局在型表面プラズモン共鳴センシングシステム
JP5795415B1 (ja) 2014-08-29 2015-10-14 新光電気工業株式会社 配線基板及びその製造方法
TWI562275B (en) * 2014-11-27 2016-12-11 Advance Process Integrate Technology Ltd Process of forming waferless interposer
US9899248B2 (en) 2014-12-03 2018-02-20 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Method of forming semiconductor packages having through package vias
US10325853B2 (en) 2014-12-03 2019-06-18 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Method of forming semiconductor packages having through package vias
TWI595810B (zh) * 2015-05-22 2017-08-11 欣興電子股份有限公司 封裝結構及其製作方法
CN106298707B (zh) * 2015-06-05 2019-05-21 欣兴电子股份有限公司 封装结构及其制作方法
US9755030B2 (en) 2015-12-17 2017-09-05 International Business Machines Corporation Method for reduced source and drain contact to gate stack capacitance
CN109075769B (zh) * 2016-04-28 2022-05-27 株式会社村田制作所 弹性波装置
CN107424973B (zh) * 2016-05-23 2020-01-21 凤凰先驱股份有限公司 封装基板及其制法
JP2018032661A (ja) * 2016-08-22 2018-03-01 イビデン株式会社 プリント配線板およびその製造方法
CN107872929B (zh) * 2016-09-27 2021-02-05 欣兴电子股份有限公司 线路板与其制作方法
US9922845B1 (en) * 2016-11-03 2018-03-20 Micron Technology, Inc. Semiconductor package and fabrication method thereof
US9922924B1 (en) * 2016-11-03 2018-03-20 Micron Technology, Inc. Interposer and semiconductor package
KR101944997B1 (ko) * 2017-01-06 2019-02-01 조인셋 주식회사 금속패드 인터페이스
TWI644598B (zh) * 2017-04-21 2018-12-11 南亞電路板股份有限公司 電路板結構及其形成方法
TWI643532B (zh) * 2017-05-04 2018-12-01 南亞電路板股份有限公司 電路板結構及其製造方法
US10325842B2 (en) 2017-09-08 2019-06-18 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Substrate for packaging a semiconductor device package and a method of manufacturing the same
US10515889B2 (en) 2017-10-13 2019-12-24 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor package device and method of manufacturing the same
US10163758B1 (en) * 2017-10-30 2018-12-25 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. Semiconductor structure and manufacturing method for the same
JP2019140174A (ja) * 2018-02-07 2019-08-22 イビデン株式会社 プリント配線板およびプリント配線板の製造方法
US10573572B2 (en) 2018-07-19 2020-02-25 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Electronic device and method for manufacturing a semiconductor package structure
KR102530754B1 (ko) * 2018-08-24 2023-05-10 삼성전자주식회사 재배선층을 갖는 반도체 패키지 제조 방법
JP7154913B2 (ja) * 2018-09-25 2022-10-18 株式会社東芝 半導体装置及びその製造方法
US11109481B2 (en) * 2019-02-15 2021-08-31 Ibiden Co., Ltd. Method for manufacturing printed wiring board and printed wiring board
CN215991352U (zh) * 2019-03-29 2022-03-08 株式会社村田制作所 树脂多层基板
JP2020188209A (ja) * 2019-05-16 2020-11-19 イビデン株式会社 プリント配線板とプリント配線板の製造方法
CN114073171A (zh) * 2019-08-20 2022-02-18 华为技术有限公司 线路嵌入式基板、芯片封装结构及基板制备方法
CN112885806B (zh) * 2019-11-29 2022-03-08 长鑫存储技术有限公司 基板及其制备方法、芯片封装结构及其封装方法
JP2021093417A (ja) * 2019-12-09 2021-06-17 イビデン株式会社 プリント配線板、及び、プリント配線板の製造方法
JP2021132068A (ja) * 2020-02-18 2021-09-09 イビデン株式会社 プリント配線板、プリント配線板の製造方法
KR20220009193A (ko) * 2020-07-15 2022-01-24 삼성전자주식회사 반도체 패키지 장치
US20220199427A1 (en) * 2020-12-23 2022-06-23 Intel Corporation Multi-step isotropic etch patterning of thick copper layers for forming high aspect-ratio conductors
US20220312591A1 (en) * 2021-03-26 2022-09-29 Juniper Networks, Inc. Substrate with conductive pads and conductive layers

Family Cites Families (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3968193A (en) * 1971-08-27 1976-07-06 International Business Machines Corporation Firing process for forming a multilayer glass-metal module
US4240198A (en) * 1979-02-21 1980-12-23 International Telephone And Telegraph Corporation Method of making conductive elastomer connector
US5054192A (en) * 1987-05-21 1991-10-08 Cray Computer Corporation Lead bonding of chips to circuit boards and circuit boards to circuit boards
US4847136A (en) * 1988-03-21 1989-07-11 Hughes Aircraft Company Thermal expansion mismatch forgivable printed wiring board for ceramic leadless chip carrier
US5399898A (en) * 1992-07-17 1995-03-21 Lsi Logic Corporation Multi-chip semiconductor arrangements using flip chip dies
US5229647A (en) * 1991-03-27 1993-07-20 Micron Technology, Inc. High density data storage using stacked wafers
US5334804A (en) * 1992-11-17 1994-08-02 Fujitsu Limited Wire interconnect structures for connecting an integrated circuit to a substrate
JPH08236654A (ja) * 1995-02-23 1996-09-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd チップキャリアとその製造方法
US6809421B1 (en) * 1996-12-02 2004-10-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Multichip semiconductor device, chip therefor and method of formation thereof
US5900674A (en) * 1996-12-23 1999-05-04 General Electric Company Interface structures for electronic devices
US6002168A (en) * 1997-11-25 1999-12-14 Tessera, Inc. Microelectronic component with rigid interposer
US6057600A (en) * 1997-11-27 2000-05-02 Kyocera Corporation Structure for mounting a high-frequency package
US6054772A (en) * 1998-04-29 2000-04-25 National Semiconductor Corporation Chip sized package
JP3825181B2 (ja) * 1998-08-20 2006-09-20 沖電気工業株式会社 半導体装置の製造方法及び半導体装置
US6329713B1 (en) * 1998-10-21 2001-12-11 International Business Machines Corporation Integrated circuit chip carrier assembly comprising a stiffener attached to a dielectric substrate
IL128200A (en) * 1999-01-24 2003-11-23 Amitec Advanced Multilayer Int Chip carrier substrate
JP3973340B2 (ja) 1999-10-05 2007-09-12 Necエレクトロニクス株式会社 半導体装置、配線基板、及び、それらの製造方法
JP2001144204A (ja) * 1999-11-16 2001-05-25 Nec Corp 半導体装置及びその製造方法
JP3629178B2 (ja) * 2000-02-21 2005-03-16 Necエレクトロニクス株式会社 フリップチップ型半導体装置及びその製造方法
US6441479B1 (en) * 2000-03-02 2002-08-27 Micron Technology, Inc. System-on-a-chip with multi-layered metallized through-hole interconnection
JP3677429B2 (ja) * 2000-03-09 2005-08-03 Necエレクトロニクス株式会社 フリップチップ型半導体装置の製造方法
DE10031204A1 (de) * 2000-06-27 2002-01-17 Infineon Technologies Ag Systemträger für Halbleiterchips und elektronische Bauteile sowie Herstellungsverfahren für einen Systemträger und für elektronische Bauteile
JP3653452B2 (ja) 2000-07-31 2005-05-25 株式会社ノース 配線回路基板とその製造方法と半導体集積回路装置とその製造方法
JP2002111185A (ja) * 2000-10-03 2002-04-12 Sony Chem Corp バンプ付き配線回路基板及びその製造方法
JP3546961B2 (ja) 2000-10-18 2004-07-28 日本電気株式会社 半導体装置搭載用配線基板およびその製造方法、並びに半導体パッケージ
US6673653B2 (en) * 2001-02-23 2004-01-06 Eaglestone Partners I, Llc Wafer-interposer using a ceramic substrate
JP3875867B2 (ja) * 2001-10-15 2007-01-31 新光電気工業株式会社 シリコン基板の穴形成方法
JP3874669B2 (ja) 2002-01-25 2007-01-31 日本特殊陶業株式会社 配線基板の製造方法
US6908784B1 (en) * 2002-03-06 2005-06-21 Micron Technology, Inc. Method for fabricating encapsulated semiconductor components
JP4268434B2 (ja) * 2003-04-09 2009-05-27 大日本印刷株式会社 配線基板の製造方法
JP4708148B2 (ja) * 2005-10-07 2011-06-22 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
JP2007165513A (ja) * 2005-12-13 2007-06-28 Shinko Electric Ind Co Ltd 半導体装置用の多層配線基板の製造方法及び半導体装置の製造方法
KR100782798B1 (ko) * 2006-02-22 2007-12-05 삼성전기주식회사 기판 패키지 및 그 제조 방법
JP2008091639A (ja) * 2006-10-02 2008-04-17 Nec Electronics Corp 電子装置およびその製造方法
KR100832651B1 (ko) * 2007-06-20 2008-05-27 삼성전기주식회사 인쇄회로기판
US20090056998A1 (en) * 2007-08-31 2009-03-05 International Business Machines Corporation Methods for manufacturing a semi-buried via and articles comprising the same
KR100992181B1 (ko) * 2007-12-26 2010-11-04 삼성전기주식회사 패키지용 기판 및 그 제조방법
JP4835629B2 (ja) * 2008-04-11 2011-12-14 凸版印刷株式会社 半導体装置の製造方法
KR20100065691A (ko) 2008-12-08 2010-06-17 삼성전기주식회사 금속범프를 갖는 인쇄회로기판 및 그 제조방법
JP5147779B2 (ja) * 2009-04-16 2013-02-20 新光電気工業株式会社 配線基板の製造方法及び半導体パッケージの製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2010251552A5 (ja)
JP2011258772A5 (ja)
JP2011176279A5 (ja)
JP2009043777A5 (ja)
TWI529883B (zh) 封裝堆疊結構及其製法暨無核心層式封裝基板及其製法
JP2010004028A5 (ja)
JP2010103129A5 (ja)
JP2009194322A5 (ja)
JP2010141204A5 (ja)
JP2008263125A5 (ja)
JP2008042118A5 (ja)
JP2009224739A5 (ja)
JP2008041930A5 (ja)
JP2010062430A5 (ja)
JP2010153505A5 (ja)
JP2013254830A5 (ja)
JP2008300782A5 (ja)
CN105405835B (zh) 中介基板及其制法
TWI542263B (zh) 中介基板及其製法
JP2010087221A5 (ja)
JP2010251367A5 (ja)
JP2009105311A5 (ja)
JP2009283739A5 (ja)
JP2013033894A5 (ja)
CN104299919B (zh) 无芯层封装结构及其制造方法