JP2009244843A - 光走査装置およびカラー画像形成装置 - Google Patents

Abstract

【課題】光走査装置において、面発光レーザ光源を用い、安価でかつ高精度に面発光レーザ光源から出射したレーザビームを検出し、その結果に応じて適宜補正することにより、高速かつ高密度な読取出力を可能にする。
【解決手段】面発光レーザからなる光源１から出射されるレーザビームの光量検出と、主走査方向の同期タイミング検出と、副走査位置の検出とを行うレーザビーム検出器１２ａ，１２ｂにおける前記各検出用の受光部ＰＤ１〜ＰＤ３を、主走査方向に複数配置し、かつ単一の基板のＩＣパッケージ内に設ける。
【選択図】図５

Description

本発明は、複数の発光領域が二次元に配置された面発光レーザ光源から放射されたレーザビームを主走査方向に走査する光走査装置、および該光走査装置を搭載するカラー画像形成装置に関するものである。

カラーレーザプリンタなどのカラー画像形成装置として、駆動機構により回転駆動される複数の感光体に対して、それぞれ独立して複数の走査結像レンズからなる光走査手段を設置し、複数の異なった色の情報を、各色に対応した複数のレーザビームの走査ビームで各感光体に書き込んで、静電潜像を形成し、これらの静電潜像を複数の顕像化手段により異なった色の顕像にそれぞれ顕像化し、転写材上に重ね合わせて転写することによりカラー画像を得るタンデム型のカラー画像形成装置がある。

前記各光走査手段は、各色の画像情報信号に応じて駆動制御される半導体レーザからレーザビームを出射する。このレーザビームは、ポリゴンミラー，レンズなどの光学部品を介して一様に帯電された感光体面に集光されると共に主走査方向に走査される。そして副走査方向に回転する感光体面には、所定間隔からなる複数のレーザビームが各色に対応した画像信号に基づいて書き込みを行うことにより、静電潜像が形成される。

このようなタンデム型のカラー画像形成装置に使用される光走査装置においては、各色ごとの感光体へと向かうレーザビームが各々異なる経路を通るように構成部品が配置されるため、走査されるレーザビームの副走査位置（走査線の形状、いわゆる走査線曲がり，走査線傾き，副走査の書き出し位置（副走査レジスト位置）のばらつき）が、各色ごとに異なり易く、色ずれとなる。

特に、低コストに適した樹脂製の走査結像レンズを用いる場合、該レンズは低コストである反面、樹脂成形時の温度条件のばらつきや、複数個取りの場合は金型のばらつきにより、レンズ形状がばらつき、前記課題は顕著に現れる。さらに、カラー画像形成装置が設置される環境温度や装置内の温度上昇の影響により、走査結像レンズが熱変形することによって走査ビームの位置は変動しやすい。

感光体に形成する静電潜像の書出しタイミングを各色ごとに正確に合わせなければ、レジスト位置ずれ（副走査レジストずれ）が生じて色ずれの要因となる。

このような走査位置のずれを、転写体に記録されたレジスト位置ずれ検出パターンを用いて、装置の立上げ時やジョブ間などにおいて定期的に検出して、補正を行うことが従来より行われているが、連続プリント動作時は定着器やポリゴンモータの発熱によって走査位置がさらに変動してしまうため、１ジョブのプリント枚数が多いと、徐々に色ずれが増大するという不具合があった。

また、特許文献１には、光源システムの省エネルギ化などを図るため、光源からの光束Ｆ０を、少なくとも光束ＦＭと光束ＦＳとに分離する分離手段と、分離された光束ＦＭを検知手段に導光する検知光学系とを有し、光束Ｆ０の伝播方向に垂直な断面において、光束Ｆ０の強度がピークとなる点付近の光成分が、光束ＦＭには含まれず光束ＦＳにのみ含まれるようにする構成が記載されており、これにより光束が、略円状または楕円状となって、略中心付近が強度のピークとなるようにしている。

このピーク部分の光を外部に供給し、それ以外の部分を光量制御のために検知することにより、光量を制御することができ、かつ外部への効率の良い光供給が行える。このようにすることによって光利用効率を高め、省エネルギー化，環境負荷低減を図ることができる。
特開２００７−２９８５６３号公報

また、従来の技術において、光走査装置の高速化や高密度化のために、面発光レーザ光源による多ビーム書込みが提案されているが、光量が低く、かつ環境変動により光量変化を伴うため、高精度な光量補正制御を必要（端面発光のようにバックモニタ・フォトダイオード（ＰＤ）がないため、フロントモニタＰＤを備えることが必須）とされるなど課題が多い。

また、特許文献１に記載のように、光束を分離して光量検出を行う構成のものでは、検出効率が低下するという課題がある。特に、光源の光量が多く得られない面発光レーザなどでは光量検出精度が劣化する。

本発明の目的は、前記従来技術の課題を解決し、面発光レーザ光源を用い、安価でかつ高精度に面発光レーザ光源から出射したレーザビームを検出し、その結果に応じて適宜補正することにより、高速かつ高密度な読取出力を可能にする光走査装置、および該光走査装置を搭載したカラー画像形成装置を提供することにある。

前記目的を達成するため、請求項１に記載の発明は、複数の発光領域が二次元に配置された面発光レーザからなる光源から出射されたレーザビームを光偏向器により主走査方向に偏向走査し、前記レーザビームを走査結像手段により被走査面に対して集光して走査させる光走査装置において、前記レーザビームの光量検出と主走査方向の同期タイミング検出を行う受光手段を、主走査方向に複数配置し、かつ該複数の受光手段を単一の基板に配置したことを特徴とし、この構成によって、安価，小型かつ高精度にレーザビームの光量と、同期タイミングとの検出が可能になる。

請求項２に記載の発明は、請求項１記載の光走査装置において、受光手段を、レーザビームの光量検出と主走査方向の同期タイミング検出、およびレーザビームの副走査位置の検出を行う構成にしたことを特徴とし、この構成によって、安価，小型かつ高精度にレーザビームの光量と、副走査位置と、同期タイミングとの検出が可能になる。

請求項３に記載の発明は、請求項１または２記載の光走査装置において、複数の受光手段のうち、光量検出と主走査方向の同期タイミング検出を行う受光部を共有させたことを特徴とし、この構成によって、より安価にかつ小型化することができる。

請求項４に記載の発明は、請求項２記載の光走査装置において、複数の受光手段を、走査上流側から同期タイミング検出用の受光素子、光量検出用の受光素子、副走査位置の検出用の受光素子の順に配置したことを特徴とする。

請求項５に記載の発明は、請求項２または４記載の光走査装置において、複数の受光手段のうち、光量検出と主走査方向の同期タイミング検出を行う受光部、および副走査位置を検出する受光部の一部を共有させたことを特徴とし、この構成によって、より一層安価にかつ小型化することができる。

請求項６に記載の発明は、請求項１〜５いずれか１項記載の光走査装置において、光源から光偏向器までの光路内に光源から出射されたレーザビームを分割する光学素子を設け、分割したレーザビームの光量を受光手段により検出することを特徴とし、この構成によって、分割したレーザビームの光量を検出することにより、光量検出を高精度に行うことができる。

請求項７に記載の発明は、請求項１〜６いずれか１項記載の光走査装置において、受光手段を、レーザビーム透過部材により封止し、かつパッケージ化したことを特徴とし、この構成によって、小型化を図ることができる。

請求項８に記載の発明は、請求項２，４または５記載の光走査装置において、副走査位置を検出する受光手段は２系統からなる受光部からなり、該２系統の受光部の少なくとも一方の系統はレーザビームが通過する領域において互いに非平行に形成された２つの受光部を有し、かつ２系統の受光部は隣接する端縁が互いに平行になるように主走査方向に隣接して配置したことを特徴とし、この構成によって、安価で小型に副走査位置を検出することが可能になる。

請求項９に記載の発明は、請求項２，４，５または８記載の光走査装置において、光量検出の結果に応じて光源の駆動電流を補正して光量制御を行うと共に、副走査位置の検出結果に応じて光源の点灯箇所の選択または点灯タイミングの調整を行い、レーザビームの副走査位置を制御することを特徴とし、この構成によって、一定光量でレーザビームを書き込むことができ、かつレーザビームの位置の安定化が可能になる。

請求項１０に記載の発明は、像担持体に光走査により潜像を形成し、該潜像を可視化して所望のカラー記録画像を形成する画像形成装置において、前記像担持体に対する光走査部に請求項１〜９いずれか１項記載の光走査装置を搭載したことを特徴とし、この構成によって、光走査部分の安価，小型および高精度なレーザビームの光量、副走査位置検出、同期検出が可能になるため、画像形成装置全体として安価，小型化が図れ、かつ高品位の画像が形成される。

本発明に係る光走査装置によれば、安価かつ小型な構成により、高精度に面発光レーザ光源から出射したレーザビームの光量と同期タイミング、あるいはレーザビームの光量と同期タイミングと副走査位置を検出することができ、この検出結果に応じて適宜補正することにより、高速で高密度の読取出力が可能になる。

また、本発明に係る画像形成装置によれば、光走査部分の安価，小型、および高精度なレーザビームの光量検出と同期検出、あるいは副走査位置検出とが可能になるため、画像形成装置全体として安価，小型化が図れ、かつ高品位の画像形成が実現する。

以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。

図１は本発明に係る光走査装置の実施形態１の構成を示す斜視図、図２は図１に示すハーフミラープリズムによるビーム分割の説明図であり、１は複数の発光領域が二次元に配置された面発光レーザからなる光源、２はカップリングレンズ２−１，アパーチャ２−２などの光学部品、３はハーフミラープリズム、４は液晶偏向素子、５ａ，５ｂはシリンドリカルレンズ、６は防音ガラス、７は上ポリゴンミラー７ａ，下ポリゴンミラー７ｂからなる光偏向器、８ａ，８ｂは第１走査レンズ、９ａ，９ｂは光路折り曲げミラー、１０ａ，１０ｂは第２走査レンズ、１１ａ，１１ｂはドラム状の感光体、１２ａ，１２ｂはレーザビーム検出器を示している。

複数の発光領域が二次元的に配置された面発光レーザからなる光源１から出射されたレーザビームＬ１は、ハーフミラープリズム３より副走査方向に光量を略等しく２つに分割される。そして、ハーフミラープリズム３の半透鏡３ａを直進的に透過したレーザビーム（図２に示すレーザビームＬ１１）がシリンドリカルレンズ５ａに入射して半透鏡３ａにより反射され、また反射面４ｂで反射されたレーザビーム（図２のレーザビームＬ１２）がシリンドリカルレンズ５ｂに入射する。

光源１からは複数のレーザビームが射出し（図１，図２では代表して１本のレーザビームを描画している）、各レーザビームがハーフミラープリズム３で副走査方向に２つに分割され、後で詳述する液晶偏向素子４とシリンドリカルレンズ５ａ，５ｂを経て、防音ガラス６を介して光偏向器７に入射する。光偏向器７で偏向されたレーザビームは防音ガラス６を介して走査結像光学系側へ射出する。

光偏向器７は、図示したように上ポリゴンミラー７ａと下ポリゴンミラー７ｂとが副走査方向（回転軸方向）に上下２段に形成され、駆動モータ（図示せず）により回転軸の周りに回転させられるようになっている。

上ポリゴンミラー７ａと下ポリゴンミラー７ｂは、本例において共に４面の偏向反射面を有する同一形状のものであるが、上ポリゴンミラー７ａの偏向反射面に対し、下ポリゴンミラー７ｂの偏向反射面が回転方向へ所定角：θｐ（＝４５度）ずれている。

第１走査レンズ８ａと第２走査レンズ１０ａと光路折り曲げミラー９ａとは、光偏向器７の上ポリゴンミラー７ａにより偏向される複数のレーザビームを、対応する光走査位置にある感光体１１ａ上に導光して、副走査方向に分離した複数の光スポットを形成する１組の走査結像光学系を構成する。

同様に第１走査レンズ８ｂと第２走査レンズ１０ｂと光路折り曲げミラー９ｂとは、光偏向器７の下ポリゴンミラー７ｂにより偏向される複数のレーザビームを、対応する光走査位置にある感光体１１ｂ上に導光して、副走査方向に分離した複数の光スポットを形成する１組の走査結像光学系を構成する。

このようにして、光偏向器７の上ポリゴンミラー７ａにより偏向される複数のレーザビームにより、感光体１１ａ面上を複数のレーザビームによりマルチビーム走査する。同様に光偏向器７の下ポリゴンミラー７ｂにより偏向される複数のレーザビームにより、感光体１１ｂ面上を複数のレーザビームによりマルチビーム走査する。

光偏向器７の上ポリゴンミラー７ａと下ポリゴンミラー７ｂの偏向反射面は、互いに回転方向に４５度ずれているので、上ポリゴンミラー７ａによる偏向レーザビームが感光体１１ａの光走査を行うとき、下ポリゴンミラー７ｂによる偏向レーザビームは、感光体１１ｂには導光されない。また、下ポリゴンミラー７ｂによる偏向レーザビームが感光体１１ｂの光走査を行うとき、上ポリゴンミラー７ａによる偏向レーザビームは、感光体１１ａには導光されない。すなわち、感光体１１ａ，１１ｂの光走査は時間的にずれて交互に行われることになる。

図３（ａ），（ｂ）は前記感光体の光走査に関する説明図である。説明図であるので、説明の簡略化のため光偏向器７へ入射するレーザビーム（実際には複数本である）を入射光、また、偏向されるレーザビームを偏向光ａ，偏向光ｂとして示している。

図３（ａ）は、入射光が光偏向器７に入射し、上ポリゴンミラー７ａで反射されて偏向された偏向光ａが光走査位置へ導光されるときの状態を示している。このとき、下ポリゴンミラー７ｂによる偏向光ｂは光走査位置へは向かわない。

図３（ｂ）は、下ポリゴンミラー７ｂで反射されて偏向された偏向光ｂが光走査位置へ導光されるときの状況を示している。このとき、上ポリゴンミラー７ａによる偏向光ａは光走査位置へは向かわない。

なお、一方のポリゴンミラーによる偏向光が光走査位置へ導光されている間に、他方のポリゴンミラーによる偏向光がゴースト光として作用しないように、図３（ａ），（ｂ）に示すように、遮光手段ＳＤを適宜用いて光走査位置へ導光されない偏向光を遮光することが望ましい。

図１に示す構成の実施形態１において、感光体１１ａ，１１ｂのマルチビーム方式の光走査は交互に行われるので、例えば、感光体１１ａの光走査が行われるときは光源の光強度をブラック画像の画像信号で変調し、感光体１１ｂの光走査が行われるときは光源の光強度をシアン画像の画像信号で変調すれば、感光体１１ａには黒画像の静電潜像を、また感光体１１ｂにはシアン画像の静電潜像を書込むことができる。

図４は本実施形態において共通の光源によりブラック画像とシアン画像の書込みを行う場合において、有効走査領域において全点灯する場合のタイムチャートである。

図４において、実線はブラック画像の書込みに相当する部分、点線はシアン画像の書込みに相当する部分を示す。ブラック画像とシアン画像の書き出しの主走査タイミングは、有効走査領域外に配備される同期検知手段で光走査開始位置へ向かうレーザビームを検知することにより決定される。ブラック画像を書込む時間領域とシアン画像を書込む時間領域での光源の発光強度を同じに設定すると、光源１から感光体１１ａ，１１ｂに至る各光路において、光学素子の透過率や反射率に相対的な差異が存在する場合には、各感光体１１ａ，１１ｂに到達するレーザビームの光量が異なるので、図４に示すように、異なる感光体面を光走査するときに光源１における発光強度を異ならせることにより、異なる感光体面上に到達する光量が等しくなるようにしている。

図１においてレーザビーム検出器１２ａ，１２ｂは、走査されるレーザビームの光量と、主走査方向の同期タイミング検出と、副走査位置を検出する受光部（ＰＤ）と、該ＰＤからの出力信号を増幅するＡＭＰ回路などで受光手段を構成している（図５〜図８を参照して詳細に説明する）。

液晶偏向素子４は、図１１に示すように、内部構造が、駆動回路１３，レーザ透過部材１４，液晶層１５，透明電極１６，配向膜１７，スペーサ１８などからなり、駆動回路１３で矩形波または正弦波電圧を入力することにより、入射するレーザビームを、図１２のように副走査方向に偏向する（非動作の場合、偏向せず透過する）機能を有する光学素子である。

前記レーザビーム検出器１２ａで検出された副走査位置に基づいて液晶偏向素子４を駆動制御し、走査レーザビームを所望の副走査位置へ補正する。液晶偏向素子４は、２本に分割されたレーザビームに対応するように、副走査方向に２つの独立して制御できる液晶偏向領域を有しており、２本のレーザビームを独立に制御することが可能である。したがって、ハーフミラープリズム３の出射側に配置することが好適である。

レーザビーム検出器１２ａ，１２ｂは、図１に示すように、感光体１１ａ，１１ｂの面上を走査するレーザビームと光学的（特にｆθ特性、以下同じ）に等価となる位置に配置されている。感光体面の主走査延長上とすることが望ましいが、レイアウトの都合上、反射ミラーを経由してレーザビーム検出器１２ａ，１２ｂ内をレーザビームが走査する構成としてもよい。

レーザビームの走査位置検出を高精度化したい場合は、感光体１１ａ，１１ｂの面上を走査するレーザビームとレーザビーム検出器１２ａ，１２ｂを走査するレーザビームは同じ光学素子を経るようにすると好適である。レーザビーム検出器１２ａ，１２ｂを走査するレーザビームのみ反射ミラーを経由するなどすると、反射ミラーの姿勢変化が検出器に影響してしまうからである。

図５（ａ）にレーザビーム検出器１２ａ，１２ｂの受光手段（ＩＣパッケージ、以下、フォトＩＣという）としての受光部とＩＣ回路部の詳細を示す。フォトＩＣのパッケージ材はレーザ透過部材からなる。レーザビーム検出器１２ａ，１２ｂはフォトＩＣとそれが実装される回路基板からなる。

図５（ａ）において、ＰＤ１，２，３（３ａ，３ｂ）は受光部、ＡＭＰ１，２ａ，２ｂ，３は増幅器、ＣＭＰはコンパレータ回路、Ｓａｍｐｌｅ Ｈｏｌｄはサンプルホールド回路、ｄｅｌａｌはディレイ回路、Ｖｓ１，Ｖｓ２，Ｖｓ３はスレッシュ電圧を示している。

図５（ａ）を参照して副走査位置検出について説明する。副走査位置検出は受光部ＰＤ３とＰＤ３の出力を増幅する増幅器（ＡＭＰ３）と波形整形するコンパレータ回路（ＣＭＰ）からなる。

受光部ＰＤ３は、２つの受光領域である受光部ＰＤ３ａ，ＰＤ３ｂからなり、各々が回路パターンまたはボンディングにて電気的に接続され（Ａ部）、あたかも１つの受光部であるかのように扱うことができる。

受光部ＰＤ３ａの辺縁（走査上流側の端面）が走査ビームに対して直交（副走査方向に平行）するように配置され、他方の受光部ＰＤ３ｂが受光部の辺縁（走査上流側の端面端面）が副走査方向に対して角度θをもって配置されている。したがって、２つの受光部が隣接する辺縁が、副走査方向に対して角度θをもって配置されることになる。

なお、２つの受光領域の間の角度は角度θ（０＜θ＜９０°）をもたせて配置する。角度θは３０°〜６０°が好適である。本例では４５°の例を開示しており、最も好適な例である。３０°よりも小さいと、走査されるレーザビームに対してＴｓの変動が少なくなり検出感度が悪くなる。

一方、６０°を超えると、主走査方向の受光面の全幅Ｄに対する副走査方向の有効検出高さＨが小さくなり、必要な有効検出高さＨを確保するためには受光面の全幅Ｄが大きくなって、受光面が画像領域内に入りこむ問題、あるいは走査光学系の有効領域を広く設定する必要があり、走査レンズが長大化してしまう問題がある。

副走査方向の高さＨと受光面の全幅Ｄは、Ｈ＝１〜３ｍｍ，Ｄ＝５ｍｍ以下に設定することが、前記問題を発生させずに好適である。なお、角度θが４５°の場合は前記問題をバランスよく配分し許容でき、最も好適である。

受光部ＰＤ３は、副走査方向に長手となる長方形：副走査方向に１〜３ｍｍ、主走査方向に０．１〜３ｍｍが好適である。副走査方向が１ｍｍ未満の場合には受光部の幅が狭く、初期状態（調整しない状態での組立初期時）で走査ビームを受光部範囲内に走査することが困難（調整しない状態では光学素子の部品寸法交差や取付寸法公差ばらつきの影響で走査ビームの副走査位置が１ｍｍ以上初期的なずれが発生する）である。また、３ｍｍを超える場合は受光部のサイズが大き過ぎ、受光部全面において感度品質の均一性を確保することが困難であり、歩留まり低下しかつコストアップとなる。

一方、主走査方向は、走査されるレーザビームの径である０．１ｍｍ以下（１／ｅ^２）よりも広い必要がある。逆に狭いと、該レーザビームの光量を正確に検知できなくなる。また、３ｍｍを超える場合は前記記載と同じ理由で不具合がある。

受光部ＰＤ（ＰＤ３ａ，ＰＤ３ｂ）をレーザビームが通過することにより、図５（ｂ）に示すタイミングチャートの出力信号を発生させる。レーザビームの通過によりコンパレータ信号が出力され、２つのパルスの立下りから立下りまでの時間間隔Ｔｓは、レーザビームが走査される副走査の位置に依存する。例えば、レーザビーム（１）が（２）の位置に変化した場合、時間間隔差がΔＴ_ｓのとき、レーザビームの副走査位置変化Δｈは以下の式（１）から求められる。

Δｈ＝（ｖ×ΔＴ_ｓ）／ｔａｎθ ……（１）
ここで、ｖは走査されるレーザビームの速度を表す。

なお、ポリゴンミラー７ａ，７ｂにおいては、面倒れやジター成分が存在するため前記時間間隔に誤差（ばらつき）が発生する。本実施形態では誤差成分による検出精度の悪化を防止するため、以下のような対応を行っている。

図６（ａ）は連続回転しているポリゴンミラーから得られるＣＭＰ出力信号の一部を示している。時間間隔には、レーザビーム検出器内を走査するときのＴ_ｓ（ＰＤ３ａからＰＤ３ｂまでの時間間隔）と、Ｔ_Ｌ（ＰＤ３ｂから次のポリゴンミラー面で走査されるＰＤ３ａまでの時間間隔）とが存在する。Ｔ_ｓとＴ_Ｌの比率は、走査幅とポリゴンミラー回転数（走査速度）などによって決まるものであり、顕著な比率（Ｔ_ｓ：Ｔ_Ｌ＝１：２００〜４００）である。

図６（ｂ）は前記時間間隔Ｔ_ｓ，Ｔ_Ｌについてヒストグラム化して示したものである。ポリゴンミラーによる時間間隔のばらつきの影響を軽減するために、時間間隔の計測データを記憶手段に順次メモリしておき、２つの時間間隔Ｔ_ｓ，Ｔ_Ｌのグループに分け、時間間隔の短い方の平均値をレーザビームの副走査位置と判断している。時間間隔の短い方（Ｔ_ｓ）を簡単に分離する方法として、２つのグループ（Ｔ_ｓ，Ｔ_Ｌ）の間隔において、前記のように大きな差（Ｔ_ｓ：Ｔ_Ｌ＝１：２００〜４００）であることを利用して、Ｔ_ｓとＴ_Ｌの中間時間間隔を演算（例えば単純加算平均）して、フィルタをかける方法がある。

ここで、例えば、Ｔ_ｓ：Ｔ_Ｌ＝１：２程度では、Ｔ_ｓとＴ_Ｌのそれぞれの計測時間に誤差が生じる可能性があり、単純加算平均によるフィルタではＴ_ｓを抽出する精度が低下するという不具合が生じてしまう。

なお、ある特定面のみを計測する場合は以下のような問題があり、本実施形態のように、ポリゴンミラーの全周面の時間間隔を計測データとすることが好適である。ある１面のみが面倒れ、ミラー面の傷、打痕や平面度（画像に影響しない程度）が他の面と大きく異なるとき、レーザビーム検出器に影響を及ぼし、副走査位置の検出精度を劣化させる可能性がある。

なお、時間間隔の計測サンプル数は、ばらつき成分を考慮すると多いほどよいが、検出時間を要する副作用があるため、画像形成装置における画像形成（光走査装置の光源を画像信号に基づいて発光制御している時間と、次の画像形成の間となる非画像形成時間（プリントページ間）内で走査される回数以下とすることが好適である。実際にはＴ_ｓの平均化ためのサンプル数は１００〜５００くらいが好適である。サンプル数はポリゴンミラー面数の偶数倍が好適である（ポリゴンミラー１面分のサンプル数は２（Ｔ_ｓとＴ_Ｌ）であり、面倒れやジターはポリゴンミラーの１回転分（全周面）の周期をもつため）。

次に、光量検出について説明する。光量検出する受光部はＰＤ２で行われる。

まず、同期タイミング検出用のＰＤ１で走査レーザビームを検出し、その検出信号タイミングに基づいて（一定時間間隔後）、光量検知用のＰＤ２を走査する際に光量検出を行いたい発光点を点灯し、ＰＤ２上に走査レーザビームを走査させる。

図１０に示すように、走査されたレーザビームの光量に応じて図１０（ａ）に示す光量モニタ信号が出力される。ＰＤ出力の中央ピークを保持する信号を得るために、ＣＭＰ回路およびｄｅｌａｙ回路を用いて、サンプルホールドし（図１０（ｂ），（ｃ）参照）、光量モニタ信号を生成する（図１０（ｄ））。検出したモニタ光量に基づいて、光源の駆動電流へフィードバックし光量を補正制御する。

同期タイミング検出用のＰＤが光量検出用のＰＤよりも走査上流に配置している理由は、面発光レーザは光量が低いため、同期タイミング検出用のＰＤからの検出信号を得られるレベルに達するには、予め決められた複数の発光点から発光し、検知できるレベルにまで光量を上げる必要があり、その同期タイミングの検出結果から、光量制御したい発光点を決めるまで一定時間が必要であることからである。

さらに、走査方向上流側から同期タイミング検出と光量検出と副走査位置検出の順に配置することにより、図７，図８に示すレーザビーム検出器のように、同形状のＰＤ（ＰＤ１，ＰＤ２，ＰＤ３ａ）を互いに隣接することができ、よって、小型化および低コスト化を図ることが可能になる。

また、前記レーザビーム検出器では、同期タイミング検出と光量検出と副走査位置検出とを検出する構成例を示したが、図９に示すレーザビーム検出器のように、図５に示す構成において副走査位置検出用の受光部ＰＤ３をなくし、それ以外については図５の構成と同様な構成にすることも考えられる。

図９において、走査方向上流側に同期位置検出信号を出力するＰＤ１を配置し、下流側に光量をモニタする信号を出力する複数のＰＤ２を主走査方向に配置した構成にしている。ＰＤ１において充分な同期信号が得られるように、ＰＤ１を走査するタイミングで光量を増加（例えば５０μＷ以上）させ、ＰＤ２において感光体などの像面上と同じ光量（５μＷ）となるように、光源および光源駆動制御手段により設定する。これにより、ＰＤ１，ＰＤ２各々で適した光量に設定することができることから、主走査方向に複数の受光素子を配置している。

なお、本実施形態における光源の面発光レーザは光学素子を経るため光量が非常に小さいので、光量の変動検出には、例えば、一定時間の積分が必要など時間がかかる。このため、透過光量を元にする検出だけでなく、図１３に示す実施形態２のように、アパーチャーミラーによる反射光を元にする検出も併用して、ある一定時間間隔ごとに光源の光量などの変化を補正する制御系の構成が好適である。

図１３において、図１にて説明した部材に対応する部材には同一符号を付して詳しい説明は省略する。なお図１３中、ＰＤ１ａは同期（先端同期）タイミング検出用の受光部、ＰＤ１ｂは同期（後端同期）タイミング検出用の受光部、２０は中央部が開口２０ａしたアパーチャーミラー、２１はモニタ用受光部（ＰＤ）、２２はモニタ用ＰＤ２１の前に設けられた集光レンズを示す。

本実施形態２は、図１の実施形態１における光源１とカップリングレンズ２との光路間に光路分離するアパーチャーミラー２０を配した構成である。アパーチャーミラー２０は、レーザビームが通る開口２０ａ以外の遮光部に反射光部２０ｂを形成し、反射光部２０ｂでレーザビームの一部をモニタ用ＰＤ２１へ導光する機能を有する。

面発光レーザからなる光源１の寿命を長するために光量が抑える場合は、開口２０ａの透過光（被走査面側へ到達するレーザビーム）の光量検出と、反射光部２０ｂでの反射光を用いて行うモニタ用ＰＤ２１を併用することが好適である。また、発散角の変動が生じた場合を想定すると、モニタ用ＰＤ２１の検出結果より、光量モニタであるＰＤ２で検出した方が高精度であり、互いの光量検出結果を元に適宜制御を行う。

実施形態２における補正制御の考え方は以下のとおりである。

（光源の光量）＝（アパーチャでの透過光量＋アパーチャでの反射光量）であるため、光源の光量そのものの経時変化や光源の発散角が光量，変調方法，温度条件などにより、変動する場合がある。その場合、例えば光源の光量をＡ、透過光量をＸとすると反射光量は（Ａ−Ｘ）である。温度などにより、光源の光量がＢに変化して透過光量が（Ｘ＋ΔＸ）になったとすると、光源の光量をＢ×Ｘ／（Ｘ＋ΔＸ）とすれば、透過光量を元の所定量Ｘに制御することができる。

また、発散角変動により透過光量が（Ｘ＋ΔＸ）になったとすると、元の光源の光量はＡのままであるから、光量をＡ×Ｘ／（Ｘ＋ΔＸ）とすれば、透過光量を元の所定量Ｘにすることができる。

主走査方向の同期タイミング検出はＰＤ１ａ（ＰＤ１ｂ）を受光部としている。前記増幅回路（ＡＭＰ１）、前記コンパレータ回路（ＣＭＰ）を用いた副走査位置検出と同様な機能であり、ここでは説明を省略する。

図７に示すように、ＰＤ１とＰＤ３ａと同様に、ＰＤ１ａはＰＤ３ａと共有することが可能であって、共有することにより低コスト化，小型化に好適である。その際には各ＰＤを、走査上流側から同期タイミング検出用、光量検出用、副走査位置検出用の順に受光部が配置されるようにする。例えば、ＰＤ１ａの位置と受光部をＰＤ３ａが共有するようにし、このＰＤ３ａが要らなくなり、要らなくなった空白部を狭めることによって小型化され、低コスト化される。さらに、回路部も共有することにより、Ｔ_ｓ信号の初めのパルス信号を同期信号として処理することが可能になり、回路の共有により低コスト化，小型化には一層好適である。

また、図８に示すように、ＰＤ２とＰＤ１（ＰＤ３）と同様に、ＰＤ２とＰＤ１ａ（ＰＤ３ａ）を共有することも可能であり、これによってより一層の小型化，低コスト化が可能である。

図１４（ａ），（ｂ）は図５にて説明した副走査位置検出部であるＰＤ３部分の変形例を示す図である。

図１４（ａ）において、ＰＤ３（ＰＤ３ａ，ＰＤ３ｂ）は第１系統の受光部、ＰＤ４（ＰＤ４ａ，ＰＤ４ｂ）は第２系統の受光部、Ｄ２は受光部最大幅（主走査方向の全幅）であり、それ以外は図５にて示した構成例と同様である。第１系統の受光部ＰＤ３と第２系統の受光部ＰＤ４を主走査方向に隣接して配置し、共にレーザビームが通過する領域において互いに非平行に形成された２つの受光領域に分かれている。それぞれの領域は、受光部ＰＤ３とＰＤ４とで隣接して配置され、隣接している端縁部は互いに平行に直線的に形成されている。

受光部ＰＤ３，ＰＤ４の出力信号を、それぞれ増幅器ＡＭＰ１１，ＡＭＰ１２により電流電圧変換と電圧増幅を行った後、コンパレータ回路ＣＭＰにて電圧比較を行い、ＡＭＰ１２の出力信号レベルがＡＭＰ１１の出力信号レベルより低くなったときに信号を出力する。このようにＡＭＰ１１とＡＭＰ１２のクロスポイントを検知することにより、レーザビームの光量が変化しても検出精度に影響を与えない高精度検出が可能となる。そのために、２系統の受光部の主走査方向の隣接間隔は、通過するレーザビーム径より小さく設定している。

図１４（ｂ）はレーザビームが受光部ＰＤ３，ＰＤ４を通過したときのレーザビーム検出器１２ａ，１２ｂ（図１参照）の出力信号のタイミングチャートである。レーザビームの通過により２つのパルスが出力され、その２つのパルスの立下りから立下りまでの時間間隔Ｔ_ｓはレーザビームが走査される副走査の位置に依存し、図５に示す構成例と同様に、前記式（１）から副走査位置変化Δｈを求めることができる。

レーザビーム検出器１２ａ（１２ｂ）は副走査方向に移動可能となっている。例えば、レーザビーム検出器は、図示しないホルダに固定され、当該ホルダがネジ機構などにより副走査方向に移動できるようにする。当該調整機構は光走査装置の製造（組立）過程で走査ビームがレーザビーム検出器内の受光部の副走査検出領域Ｈの略中央となるように初期調整する。

略中央とする理由は、レーザビームの副走査方向の位置が温度環境変化により副走査上流あるいは下流側に変化する可能性があるため、極力、検出範囲を副走査上流，下流を同程度に確保しておくためである。なお、略中央とは厳密に中央というのは困難であるため、中央部に対して副走査検出可能領域Ｈの１／１０の領域範囲内に調整することが好適である。

なお、レーザビームの副走査位置の変化については、基準となる時間間隔を予め工場出荷時や補正開始時のレーザビームの走査位置に相当する値を基準位置の情報として記憶手段に記憶させておき、レーザビーム検出器で検出された時間間隔と基準となる時間間隔の差分を演算することにより、レーザビームの副走査位置の変化を検出することが可能となる。

前記基準位置は補正制御の基となる副走査位置データとなるため非常に重要であり、レーザビーム検出器での計測は、例えば、少なくとも３回以上同じ計測を行い、その内の１回が他の副走査位置データよりも著しく異なる場合（３回以上の平均＋標準偏差σよりも大きい）に、その副走査位置データを削除し、再度計測を行い、再度、前記チェックを行い基準位置とすることが好適である。

本実施形態の構成は、図１にて説明したように、各色毎のレーザビームが複数本同時に走査されるような面発光レーザ光源であり、レーザビーム検出器１２ａ（１２ｂ）内に配置されているすべての受光部ＰＤへのレーザビームの入射は、以下のようにして適正化している。

図１５（ａ），（ｂ）を参照して説明する。いずれも被走査面上でのレーザビームの静止時の二次元配列を示している。ωｍは主走査方向のビームピッチ、ωｓは副走査方向のビームピッチであって、各々のビーム間隔は等しくなっている。８ビーム毎を斜列として４列で合計３２ビームのアレイである。３２ビームは発光領域（発光可能なように電気的な接続もされている）を示しており、図中の白丸部２５は実際に通電して点灯している箇所であり、黒丸部は点灯していないことを示している。なお、図中のＸは主走査方向の発光領域幅、Ｙは副走査方向の発光領域幅を示している。

図１５（ａ）に示すように、面発光レーザを被走査面上に結像し、光スポットとして走査するレーザビーム２５と同じ光量のレーザビームを受光部ＰＤ１内に走査しても、光量が足りず（図５（ｂ）のスレッシュ電圧に未達）、ＣＭＰ信号が出力されない。面発光レーザは、二次元の配列を容易にし多数のビームをアレイ上に構成することは容易であるが、その反面、１ビーム当りの光量が低い（光量を増加すべく駆動電流を与えても、温度上昇が過大となり素子寿命が著しく低下する）という問題があり、図１５（ａ）に示すようなレーザビームをレーザビーム検出器の受光領域を走査しても副走査位置を検出することができない。

図１５（ｂ）は前記不具合の解消について説明するための説明図であって、主走査方向に一列となる４つの発光領域２５〜２８を受光部内を走査するときに点灯し、レーザビーム群とすることにより、従来よりも光量を増大（４ビーム分で単純に４倍）させ、スレッシュ電圧に達する光量を確保している。３０は４つの走査レーザビームの重心位置を示したものであり、副走査の検出位置は当該位置となる。副走査位置が２５の位置とは異なるが、副走査位置の変化量を検出すればよく、重心位置３０の変化量は２５の変化量と等しいため変化量の検出が可能となる。

なお、図５（ｃ）に示すように、受光部の出力波形（実線）によって時間間隔Ｔ_ｓに影響を与える場合がある。例えば、光学素子の反射率や透過率の低下（経時劣化）の他、画像形成時の画素密度変化対応による光偏向器の回転数低減（１２００ｄｐｉから６００ｄｐｉの変化により光偏向器は５０％減の回転数で回転する）の際に、点線で示す出力波形となってしまう。これにより、コンパレータ出力を決定するスレッシュ電圧への立下り時間が長くなる（傾きが緩くなる）ため、時間間隔Ｔｓ′となり、副走査位置が変化したものとして誤った検出を行ってしまう。

前記立下り時間は受光部へ入射する光量の積分量（積分光量）と相関があり、積分光量が一定となるように制御することにより、前記不具合を解消することができる。

フォトＩＣ内の受光部ＰＤ１ａとＰＤ１ｂの配置は、図５に示すように、画像の走査領域中央側に、受光部の辺縁（端面）が走査ビームに対して直交（副走査方向に平行）するようにフォトＩＣが配置されることが好適である。レーザビーム検出器は画像の走査領域外に配置されるため、従来のような偏向反射面が６面のような場合走査画角が狭く、光学特性が劣化する問題があった。本例の走査画角が広く確保できる４面では光学特性の劣化が少ないものの、劣化がないわけではないのでできる限り画像の走査領域内に近づくようにすることが望ましい。

図１６は本発明に係る画像形成装置の実施形態である前記実施形態の光走査装置を光偏向器７を挟んで対向する位置に配置したものであり、４つの被走査面をレーザビームが走査する４色対応のタンデム型の光走査装置の構成を示す平面図である。図１６では光走査装置の光学系部分を、副走査方向、すなわち光偏向器７の回転軸方向から見た状態を示す図である。図示の簡略のため、光偏向器７から光走査位置に至る光路上の光路屈曲用のミラーの図示を省略し、光路が直線となるように記載した。

図１６において、被走査位置には、感光体１１Ｙ，１１Ｍ，１１Ｃ，１１Ｋが配置され、これら４個の感光体に形成される静電潜像をマゼンタ，イエロー，シアン，黒のトナーで個別に可視化し、カラー画像を形成する。

１ＹＭ，１ＣＫはそれぞれ半導体レーザ（面発光レーザ）を示す。これら半導体レーザ１ＹＭ，１ＣＫは、それぞれが１本のレーザビームを放射する。半導体レーザ１ＹＭは、イエロー画像に対応する画像信号と、マゼンタ画像に対応する画像信号で交互に強度変調される。また、半導体レーザ１ＣＫは、シアン画像に対応する画像信号と、黒画像に対応する画像信号で交互に強度変調される。

半導体レーザ１ＹＭから出射されたレーザビーム（実際は複数本のレーザビームであるが、簡単のためレーザビームを１本で描画している）は、カップリングレンズ２−１ＹＭにより平行光束化され、アパーチャ２−２ＹＭを通過してビーム整形された後、ハーフミラープリズム３ＹＭに入射して、副走査方向に２つに分離したレーザビームに分割される。ハーフミラープリズム３ＹＭの構成は、図２にて説明したハーフミラープリズム３と同様のものである。分割されたレーザビームの１本はイエロー画像を書込むのに使用され、他の１本はマゼンタ画像を書込むために使用される。

副走査方向に２つに分割されたレーザビームは、液晶偏向素子４ＹＭにより必要に応じて副走査位置を補正するように制御され、副走査方向に配列されたシリンドリカルレンズ５Ｙ，５Ｍ（副走査方向に重なり合うように配置されている。）により、それぞれ副走査方向へ集光され、光偏向器７に入射する。

光偏向器７は、図１，図３にて説明したものと同様の構成のものであり、４面の偏向反射面を持つポリゴンミラーを回転軸方向へ２段に積設し、ポリゴンミラー相互の偏向反射面を回転方向へずらして一体化したものである。シリンドリカルレンズ５Ｙ，５Ｍによる主走査方向に長い線像は、各ポリゴンの偏向反射面位置近傍に結像する。

光偏向器７により偏向されるレーザビームは、それぞれ第１走査レンズ８Ｙ，８Ｍ、第２走査レンズ１０Ｙ，１０Ｍを透過し、これらレンズの作用により感光体１１Ｙ，１１Ｍに光スポットを形成し、これら感光体を光走査する。

同様に、半導体レーザ１ＣＫから放射されたレーザビームはカップリングレンズ２−１ＣＫにより平行光束化され、アパーチュア２−２ＣＫを通過してビーム整形された後、ハーフミラープリズム３ＣＫにより、副走査方向に２つに分離したレーザビームに分割される。ハーフミラープリズム３ＣＫは、ハーフミラープリズム３ＹＭと同様の構成のものである。分割されたレーザビームの１本はシアン画像を書込むのに使用され、他の１本は黒画像を書込むのに使用される。

副走査方向に２つに分割されたレーザビームは、副走査方向に配列されたシリンドリカルレンズ５Ｃ，５Ｋ（副走査方向に重なり合うように配置されている）により、それぞれ副走査方向へ集光され、光偏向器７に入射して偏向される。そして、それぞれ第１走査レンズ８Ｃ，８Ｋと第２走査レンズ１０Ｃ，１０Ｋとを透過し、これらレンズの作用により感光体１１Ｃ，１１Ｋに光スポットを形成し、これら感光体を光走査する。

図１７は図１６に示す実施形態を正面側から見た構成図であり、３０で示す部分が光走査装置であって、カラー機用として４色分（イエロ，マゼンダ，シアン，ブラック）の走査結像光学系をもち、各色に相当するレーザビームが感光体１１Ｋ，１１Ｃ，１１Ｍ，１１Ｙに集光する構成になっている。

光偏向器７の上ポリゴンミラー７ａにより偏向されるレーザビームのうち一方は、光路折り曲げミラーｍＭ１，ｍＭ２，ｍＭ３により屈曲された光路から光走査位置の実体をなす感光体１１Ｍに導光される。他方のレーザビームは、光路折り曲げミラーｍＣ１，ｍＣ２，ｍＣ３により屈曲された光路から光走査位置の実体をなす感光体１１Ｃに導光される。

また、光偏向器７の下ポリゴンミラー７ｂにより偏向されるレーザビームのうち一方は、光路折り曲げミラーｍＹにより屈曲された光路から光走査位置の実体をなす感光体１１Ｙに導光される。他方のレーザビームは、光路折り曲げミラーｍＫにより屈曲された光路から光走査位置の実体をなす感光体１１Ｋに導光される。

したがって、２個の半導体レーザ１ＹＭ，１ＣＫからのレーザビームが、それぞれハーフミラープリズム３ＹＭ，３ＣＫで２つのレーザビームに分割されて４色分のレーザビームとなり、これらレーザビームにより、４個の感光体１１Ｙ，１１Ｍ，１１Ｃ，１１Ｋが光走査される。感光体１１Ｙと１１Ｍとは半導体レーザ１ＹＭからのレーザビームを副走査方向に２つに分割したレーザビームにより、光偏向器７の回転に伴い交互に光走査され、感光体１１Ｃと１１Ｋとは半導体レーザ１ＣＫからのレーザビームを副走査方向に２つに分割した各レーザビームにより、光偏向器７の回転に伴い交互に光走査される。

感光体１１Ｙ〜１１Ｋは、何れも時計回りに等速回転され、帯電手段をなす帯電ローラＴＹ，ＴＭ，ＴＣ，ＴＫにより均一帯電され、それぞれ対応するレーザビームの光走査を受けてイエロー，マゼンタ，シアン，黒の各色画像を書込まれ対応する静電潜像（ネガ潜像）を形成される。

これら静電潜像は、それぞれ現像装置ＧＹ，ＧＭ，ＧＣ，ＧＫにより反転現像されて、感光体１１Ｙ，１１Ｍ，１１Ｃ，１１Ｋ上にそれぞれイエロートナー画像，マゼンタトナー画像，シアントナー画像，黒トナー画像として形成される。

これら各色トナー画像は、図示しない転写シート上に転写される。すなわち、転写シートは搬送ベルト３２により搬送され、転写器３１Ｙにより感光体１１Ｙ上からイエロートナー画像を転写される。同様に、転写器３１Ｍ，３１Ｃ，３１Ｋによりそれぞれ感光体１１Ｍ，１１Ｃ，１１Ｋ上からマゼンタトナー画像，シアントナー画像，黒トナー画像が順次転写される。

このようにして転写シート上においてイエロートナー画像乃至黒トナー画像が重ね合わせられてカラー画像が合成される。このカラー画像は定着装置３３により転写シート上に定着されてカラー画像が得られる。

本発明は、レーザラスタ書込光学系として適用され、面発光レーザを光源として使用して光走査を行う装置に有効であり、特にタンデム型のカラー画像形成装置の光走査装置に実施して効果がある。

本発明に係る光走査装置の実施形態１の構成を示す斜視図 図１に示すハーフミラープリズムによるビーム分割の説明図 （ａ），（ｂ）は本実施形態における感光体の光走査に関する説明図 本実施形態において共通の光源によりブラック画像とシアン画像の書込みを行う場合のタイムチャート （ａ）は本実施形態におけるレーザビーム検出器に関する構成図、（ｂ），（ｃ）はＣＭＰ出力波形図 （ａ）はポリゴンミラーの連続回転時のＣＭＰ出力信号を示す図、（ｂ）はその時間間隔についてヒストグラム化して示した図 本実施形態における他のレーザビーム検出器に関する構成図 本実施形態における他のレーザビーム検出器に関する構成図 本実施形態における他のレーザビーム検出器に関する構成図 （ａ）〜（ｄ）は本実施形態における各部の出力信号を示す図 本実施形態における液晶偏向素子の構成図 図１１の液晶偏向素子における入出射光の説明図 本発明に係る光走査装置の実施形態２の構成図 （ａ）は本実施形態における他のレーザビーム検出器に関する構成図、（ｂ）は各部の出力波形図 （ａ），（ｂ）は本実施形態における受光部へのレーザビームの入射適正化に関する説明図 本発明に係る画像形成装置の実施形態である４色対応のタンデム型の光走査装置の構成を示す平面図 図１６の実施形態の構成を示す正面側から見た構成図

符号の説明

１ 光源
３ ハーフミラープリズム
４ 液晶偏向素子（ポリゴンミラー）
５ａ，５ｂ シリンドリカルレンズ
７，７ａ，７ｂ 光偏向器
８ａ，８ｂ 第１走査レンズ
１０ａ，１０ｂ 第２走査レンズ
１１，１１ａ，１１ｂ 感光体
１２ａ，１２ｂ レーザビーム検出器
２０ アパーチャーミラー
ＰＤ レーザビーム検出器の受光素子

Claims (10)

1. 複数の発光領域が二次元に配置された面発光レーザからなる光源から出射されたレーザビームを光偏向器により主走査方向に偏向走査し、前記レーザビームを走査結像手段により被走査面に対して集光して走査させる光走査装置において、
   前記レーザビームの光量検出と主走査方向の同期タイミング検出を行う受光手段を、主走査方向に複数配置し、かつ該複数の受光手段を単一の基板に配置したことを特徴とする光走査装置。
2. 前記受光手段を、前記レーザビームの光量検出と主走査方向の同期タイミング検出、および前記レーザビームの副走査位置の検出を行う構成にしたことを特徴とする請求項１記載の光走査装置。
3. 前記複数の受光手段のうち、光量検出と主走査方向の同期タイミング検出を行う受光部を共有させたことを特徴とする請求項１または２記載の光走査装置。
4. 前記複数の受光手段を、走査上流側から同期タイミング検出用の受光素子、光量検出用の受光素子、副走査位置の検出用の受光素子の順に配置したことを特徴とする請求項２記載の光走査装置。
5. 前記複数の受光手段のうち、光量検出と主走査方向の同期タイミング検出を行う受光部、および副走査位置を検出する受光部の一部を共有させたことを特徴とする請求項２または４記載の光走査装置。
6. 前記光源から前記光偏向器までの光路内に前記光源から出射されたレーザビームを分割する光学素子を設け、前記分割したレーザビームの光量を前記受光手段により検出することを特徴とする請求項１〜５いずれか１項記載の光走査装置。
7. 前記受光手段を、レーザビーム透過部材により封止し、かつパッケージ化したことを特徴とする請求項１〜６いずれか１項記載の光走査装置。
8. 前記副走査位置を検出する受光手段は２系統からなる受光部からなり、該２系統の受光部の少なくとも一方の系統は前記レーザビームが通過する領域において互いに非平行に形成された２つの受光部を有し、かつ前記２系統の受光部は隣接する端縁が互いに平行になるように主走査方向に隣接して配置したことを特徴とする請求項２，４または５記載の光走査装置。
9. 前記光量検出の結果に応じて光源の駆動電流を補正して光量制御を行うと共に、副走査位置の検出結果に応じて前記光源の点灯箇所の選択または点灯タイミングの調整を行い、レーザビームの副走査位置を制御することを特徴とする請求項２，４，５または８記載の光走査装置。
10. 像担持体に光走査により潜像を形成し、該潜像を可視化して所望のカラー記録画像を形成する画像形成装置において、前記像担持体に対する光走査部に請求項１〜９いずれか１項記載の光走査装置を搭載したことを特徴とするカラー画像形成装置。

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