JP2009049385A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2009049385A5
JP2009049385A5 JP2008182189A JP2008182189A JP2009049385A5 JP 2009049385 A5 JP2009049385 A5 JP 2009049385A5 JP 2008182189 A JP2008182189 A JP 2008182189A JP 2008182189 A JP2008182189 A JP 2008182189A JP 2009049385 A5 JP2009049385 A5 JP 2009049385A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
display device
crystal display
electrode
region
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2008182189A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009049385A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2008182189A priority Critical patent/JP2009049385A/ja
Priority claimed from JP2008182189A external-priority patent/JP2009049385A/ja
Publication of JP2009049385A publication Critical patent/JP2009049385A/ja
Publication of JP2009049385A5 publication Critical patent/JP2009049385A5/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Claims (9)

  1. 第1の基板上のゲート電極と、
    前記ゲート電極上のゲート絶縁膜と、
    前記ゲート絶縁膜上のチャネル形成領域を含む微結晶半導体膜と、
    前記微結晶半導体膜上のバッファ層と、
    前記バッファ層上において前記微結晶半導体膜の前記チャネル形成領域と重なる領域に形成されたチャネル保護層と、
    前記チャネル保護層及び前記バッファ層上のソース領域及びドレイン領域と、
    前記ソース領域及び前記ドレイン領域上のソース電極及びドレイン電極と、
    前記ソース電極又は前記ドレイン電極と電気的に接続する画素電極とを有し、
    第2の基板上のスペーサ及び突起を有し、
    前記スペーサは、遮光膜及び着色層上に形成され、
    前記スペーサと前記突起は高さが異なることを特徴とする液晶表示装置。
  2. 請求項1において、
    前記チャネル保護層、前記ソース電極、及び前記ドレイン電極を覆う絶縁膜を有することを特徴とする液晶表示装置。
  3. 請求項1又は2において、
    前記画素電極は、前記突起と交互にかみ合うように配置されるスリットを有することを特徴とする液晶表示装置。
  4. 請求項1乃至3のいずれか一項において、
    前記バッファ層は、非晶質半導体膜で形成されることを特徴とする液晶表示装置。
  5. 請求項1乃至3のいずれか一項において、
    前記バッファ層は、窒素を含む非晶質半導体膜で形成されることを特徴とする液晶表示装置。
  6. 請求項1乃至3のいずれか一項において、
    前記バッファ層は、フッ素、塩素、臭素、またはヨウ素を含む非晶質半導体膜で形成されることを特徴とする液晶表示装置。
  7. 請求項1乃至6のいずれか一項において、
    前記ゲート電極と重畳して設けられる前記微結晶半導体膜の端部は、前記ゲート電極の端部より内側に位置することを特徴とする液晶表示装置。
  8. 請求項1乃至7のいずれか一項において、
    前記ソース領域及び前記ドレイン領域は、前記ソース電極及び前記ドレイン電極の端部よりも延びており、前記ソース領域と前記ドレイン領域間の距離は、前記ソース電極と前記ドレイン領域間の距離よりも短いことを特徴とする液晶表示装置。
  9. 請求項1乃至8のいずれか一項において、
    前記バッファ層の膜厚は、10nm以上50nm以下の範囲であることを特徴とする液晶表示装置。
JP2008182189A 2007-07-20 2008-07-14 液晶表示装置 Withdrawn JP2009049385A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008182189A JP2009049385A (ja) 2007-07-20 2008-07-14 液晶表示装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007190219 2007-07-20
JP2008182189A JP2009049385A (ja) 2007-07-20 2008-07-14 液晶表示装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014076852A Division JP2014149545A (ja) 2007-07-20 2014-04-03 液晶表示装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009049385A JP2009049385A (ja) 2009-03-05
JP2009049385A5 true JP2009049385A5 (ja) 2011-08-18

Family

ID=40264554

Family Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008182189A Withdrawn JP2009049385A (ja) 2007-07-20 2008-07-14 液晶表示装置
JP2014076852A Withdrawn JP2014149545A (ja) 2007-07-20 2014-04-03 液晶表示装置
JP2015193564A Expired - Fee Related JP6117884B2 (ja) 2007-07-20 2015-09-30 液晶表示装置

Family Applications After (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014076852A Withdrawn JP2014149545A (ja) 2007-07-20 2014-04-03 液晶表示装置
JP2015193564A Expired - Fee Related JP6117884B2 (ja) 2007-07-20 2015-09-30 液晶表示装置

Country Status (5)

Country Link
US (3) US7940345B2 (ja)
JP (3) JP2009049385A (ja)
KR (1) KR101581171B1 (ja)
CN (4) CN102184969B (ja)
TW (3) TWI575293B (ja)

Families Citing this family (48)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8921858B2 (en) * 2007-06-29 2014-12-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device
US9176353B2 (en) * 2007-06-29 2015-11-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device
US7738050B2 (en) * 2007-07-06 2010-06-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd Liquid crystal display device
TWI575293B (zh) * 2007-07-20 2017-03-21 半導體能源研究所股份有限公司 液晶顯示裝置
JP2009049384A (ja) * 2007-07-20 2009-03-05 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光装置
US8330887B2 (en) * 2007-07-27 2012-12-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device and electronic device
US8101444B2 (en) 2007-08-17 2012-01-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing semiconductor device
KR101484297B1 (ko) 2007-08-31 2015-01-19 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시장치 및 표시장치의 제작방법
JP5395384B2 (ja) * 2007-09-07 2014-01-22 株式会社半導体エネルギー研究所 薄膜トランジスタの作製方法
TWI521712B (zh) * 2007-12-03 2016-02-11 半導體能源研究所股份有限公司 薄膜電晶體,包括該薄膜電晶體的顯示裝置,和其製造方法
WO2010032640A1 (en) 2008-09-19 2010-03-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
JP5361651B2 (ja) 2008-10-22 2013-12-04 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
CN102246310B (zh) * 2008-12-11 2013-11-06 株式会社半导体能源研究所 薄膜晶体管及显示装置
KR20100067612A (ko) * 2008-12-11 2010-06-21 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 박막 트랜지스터 및 표시 장치
TWI654689B (zh) 2008-12-26 2019-03-21 日商半導體能源研究所股份有限公司 半導體裝置及其製造方法
US8704216B2 (en) 2009-02-27 2014-04-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
CN103730515B (zh) * 2009-03-09 2016-08-17 株式会社半导体能源研究所 半导体器件
JP5558916B2 (ja) * 2009-06-26 2014-07-23 キヤノン株式会社 光電変換装置の製造方法
US8344378B2 (en) * 2009-06-26 2013-01-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin film transistor and method for manufacturing the same
KR101739154B1 (ko) * 2009-07-17 2017-05-23 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치 및 그 제조 방법
KR101933841B1 (ko) * 2009-10-16 2018-12-28 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 액정 표시 장치 및 이를 구비한 전자 장치
KR101812683B1 (ko) * 2009-10-21 2017-12-27 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치 제작방법
KR101678687B1 (ko) * 2009-12-11 2016-11-23 엘지디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 어레이 기판의 제조방법
JP5752446B2 (ja) * 2010-03-15 2015-07-22 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP5752447B2 (ja) * 2010-03-15 2015-07-22 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
KR101630022B1 (ko) * 2010-12-27 2016-06-13 샤프 가부시키가이샤 반도체 장치 및 그 제조 방법
KR101899178B1 (ko) * 2011-02-16 2018-09-14 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시 장치
JP6004308B2 (ja) * 2011-08-12 2016-10-05 Nltテクノロジー株式会社 薄膜デバイス
US9660092B2 (en) 2011-08-31 2017-05-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Oxide semiconductor thin film transistor including oxygen release layer
KR101894329B1 (ko) * 2011-10-14 2018-09-04 엘지디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 및 그 제조방법
CN103189990A (zh) 2011-10-28 2013-07-03 松下电器产业株式会社 薄膜半导体器件及其制造方法
TWI584383B (zh) * 2011-12-27 2017-05-21 半導體能源研究所股份有限公司 半導體裝置及其製造方法
CN102629611B (zh) * 2012-03-29 2015-01-21 京东方科技集团股份有限公司 一种显示装置、阵列基板及其制作方法
KR20150007000A (ko) 2013-07-10 2015-01-20 삼성디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 기판 및 박막 트랜지스터 기판의 제조 방법
KR102192592B1 (ko) * 2013-07-22 2020-12-18 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치
JP2015179247A (ja) 2013-10-22 2015-10-08 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置
JP6206104B2 (ja) * 2013-11-11 2017-10-04 セイコーエプソン株式会社 信号処理回路、回路基板、及び、プロジェクター
CN103760721A (zh) * 2014-01-08 2014-04-30 北京京东方光电科技有限公司 薄膜晶体管阵列基板及其制备方法、显示装置
CN103995381A (zh) * 2014-04-17 2014-08-20 上海天马微电子有限公司 一种像素结构、液晶面板及其工艺方法
WO2015181679A1 (en) * 2014-05-27 2015-12-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for manufacturing the same
TWI624874B (zh) * 2014-12-03 2018-05-21 鴻海精密工業股份有限公司 一種垂直型電晶體及其製作方法
KR20170087568A (ko) * 2016-01-20 2017-07-31 삼성디스플레이 주식회사 액정 표시 장치 및 이의 제조 방법
WO2018063305A1 (en) 2016-09-30 2018-04-05 Intel Corporation Film bulk acoustic resonator (fbar) rf filter having epitaxial layers
JP7155128B2 (ja) * 2017-09-01 2022-10-18 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置、及び表示装置
JP2020004860A (ja) * 2018-06-28 2020-01-09 堺ディスプレイプロダクト株式会社 薄膜トランジスタ、表示装置及び薄膜トランジスタの製造方法
US10989946B2 (en) * 2019-02-21 2021-04-27 Innolux Corporation Electronic modulating device
CN111403541A (zh) * 2020-04-16 2020-07-10 京东方科技集团股份有限公司 光电探测器与显示基板
CN112735272B (zh) 2020-12-30 2022-05-17 武汉华星光电技术有限公司 显示面板及显示装置

Family Cites Families (96)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56122123A (en) 1980-03-03 1981-09-25 Shunpei Yamazaki Semiamorphous semiconductor
JPS6098680A (ja) 1983-11-04 1985-06-01 Seiko Instr & Electronics Ltd 電界効果型薄膜トランジスタ
JPS6187371A (ja) 1984-10-05 1986-05-02 Hitachi Ltd 薄膜半導体装置
US4990981A (en) * 1988-01-29 1991-02-05 Hitachi, Ltd. Thin film transistor and a liquid crystal display device using same
JP2893114B2 (ja) * 1989-06-12 1999-05-17 チノン株式会社 画像記録装置
US5084777A (en) * 1989-11-14 1992-01-28 Greyhawk Systems, Inc. Light addressed liquid crystal light valve incorporating electrically insulating light blocking material of a-SiGe:H
JPH03278466A (ja) * 1990-03-27 1991-12-10 Toshiba Corp 薄膜トランジスタおよびその製造方法
EP0449539B1 (en) 1990-03-27 1996-07-03 Kabushiki Kaisha Toshiba Ohmic contact for thin film transistor
JP2726738B2 (ja) 1990-07-13 1998-03-11 三菱重工業株式会社 超伝導ヘリカルウィグラ
EP0473988A1 (en) 1990-08-29 1992-03-11 International Business Machines Corporation Method of fabricating a thin film transistor having amorphous/polycrystalline semiconductor channel region
US7115902B1 (en) 1990-11-20 2006-10-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electro-optical device and method for manufacturing the same
US5849601A (en) 1990-12-25 1998-12-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electro-optical device and method for manufacturing the same
JP2791422B2 (ja) 1990-12-25 1998-08-27 株式会社 半導体エネルギー研究所 電気光学装置およびその作製方法
US7098479B1 (en) 1990-12-25 2006-08-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electro-optical device and method for manufacturing the same
US7576360B2 (en) 1990-12-25 2009-08-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electro-optical device which comprises thin film transistors and method for manufacturing the same
JP3255942B2 (ja) 1991-06-19 2002-02-12 株式会社半導体エネルギー研究所 逆スタガ薄膜トランジスタの作製方法
JPH0669505A (ja) * 1992-08-18 1994-03-11 Sharp Corp 薄膜トランジスタ
US5639698A (en) * 1993-02-15 1997-06-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor, semiconductor device, and method for fabricating the same
US6997985B1 (en) 1993-02-15 2006-02-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor, semiconductor device, and method for fabricating the same
JPH0713191A (ja) 1993-06-28 1995-01-17 Casio Comput Co Ltd アクティブマトリックス液晶表示素子
CN1161646C (zh) * 1994-06-02 2004-08-11 株式会社半导体能源研究所 有源矩阵显示器和电光元件
US5796116A (en) * 1994-07-27 1998-08-18 Sharp Kabushiki Kaisha Thin-film semiconductor device including a semiconductor film with high field-effect mobility
TW303526B (ja) 1994-12-27 1997-04-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd
JPH08195492A (ja) 1995-01-13 1996-07-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd 多結晶薄膜の形成方法および薄膜トランジスタの製造方法
TW345654B (en) * 1995-02-15 1998-11-21 Handotai Energy Kenkyusho Kk Active matrix display device
US5831292A (en) * 1996-04-24 1998-11-03 Abb Research Ltd. IGBT having a vertical channel
JP3640224B2 (ja) 1996-06-25 2005-04-20 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示パネル
KR100272266B1 (ko) * 1997-06-25 2000-11-15 김영환 박막 트랜지스터 및 그의 제조방법
KR100257158B1 (ko) * 1997-06-30 2000-05-15 김영환 박막 트랜지스터 및 그의 제조 방법
JP2000081541A (ja) * 1998-06-29 2000-03-21 Yazaki Corp 光ファイバコネクタ
JP4008133B2 (ja) * 1998-12-25 2007-11-14 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
US6506635B1 (en) * 1999-02-12 2003-01-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device, and method of forming the same
JP4215905B2 (ja) 1999-02-15 2009-01-28 シャープ株式会社 液晶表示装置
US7821065B2 (en) 1999-03-02 2010-10-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device comprising a thin film transistor comprising a semiconductor thin film and method of manufacturing the same
US7122835B1 (en) * 1999-04-07 2006-10-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electrooptical device and a method of manufacturing the same
US6639265B2 (en) * 2000-01-26 2003-10-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing the semiconductor device
US7023021B2 (en) * 2000-02-22 2006-04-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing the same
JP2001318627A (ja) * 2000-02-29 2001-11-16 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光装置
TW495854B (en) * 2000-03-06 2002-07-21 Semiconductor Energy Lab Semiconductor device and manufacturing method thereof
US7098084B2 (en) * 2000-03-08 2006-08-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
JP2001311963A (ja) * 2000-04-27 2001-11-09 Toshiba Corp 液晶表示装置および液晶表示装置の製造方法
JP4211250B2 (ja) * 2000-10-12 2009-01-21 セイコーエプソン株式会社 トランジスタ及びそれを備える表示装置
JP2002246605A (ja) 2001-02-20 2002-08-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示用薄膜トランジスタの製造方法
SG116443A1 (en) 2001-03-27 2005-11-28 Semiconductor Energy Lab Wiring and method of manufacturing the same, and wiring board and method of manufacturing the same.
SG143063A1 (en) * 2002-01-24 2008-06-27 Semiconductor Energy Lab Light emitting device and method of manufacturing the same
JP4248306B2 (ja) 2002-06-17 2009-04-02 シャープ株式会社 液晶表示装置
KR100840326B1 (ko) * 2002-06-28 2008-06-20 삼성전자주식회사 액정 표시 장치 및 그에 사용되는 박막 트랜지스터 기판
JP2004146691A (ja) * 2002-10-25 2004-05-20 Chi Mei Electronics Corp 微結晶薄膜の成膜方法、薄膜トランジスタの製造方法、薄膜トランジスタおよび薄膜トランジスタを用いた画像表示装置
TW577176B (en) 2003-03-31 2004-02-21 Ind Tech Res Inst Structure of thin-film transistor, and the manufacturing method thereof
JP4748954B2 (ja) 2003-07-14 2011-08-17 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置
TWI336921B (en) 2003-07-18 2011-02-01 Semiconductor Energy Lab Method for manufacturing semiconductor device
JP4712332B2 (ja) 2003-08-28 2011-06-29 株式会社半導体エネルギー研究所 薄膜トランジスタの作製方法
WO2005022262A1 (en) 2003-08-28 2005-03-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin film transistor, manufacturing method for thin film transistor and manufacturing method for display device
US7314785B2 (en) * 2003-10-24 2008-01-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and manufacturing method thereof
US7439086B2 (en) * 2003-11-14 2008-10-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing liquid crystal display device
JP2005167051A (ja) 2003-12-04 2005-06-23 Sony Corp 薄膜トランジスタおよび薄膜トランジスタの製造方法
KR20050060963A (ko) * 2003-12-17 2005-06-22 엘지.필립스 엘시디 주식회사 박막 트랜지스터 어레이 기판 및 그 제조방법
TWI366701B (en) * 2004-01-26 2012-06-21 Semiconductor Energy Lab Method of manufacturing display and television
JP4221314B2 (ja) * 2004-02-10 2009-02-12 Nec液晶テクノロジー株式会社 薄膜トランジスタとそれを用いた液晶表示装置およびその薄膜トランジスタの製造方法
SG115733A1 (en) * 2004-03-12 2005-10-28 Semiconductor Energy Lab Thin film transistor, semiconductor device, and method for manufacturing the same
EP1624333B1 (en) * 2004-08-03 2017-05-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device, manufacturing method thereof, and television set
US7247529B2 (en) * 2004-08-30 2007-07-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing display device
JP4484881B2 (ja) 2004-12-16 2010-06-16 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板、表示装置、液晶表示装置およびテレビジョン装置
CN100342552C (zh) * 2004-12-21 2007-10-10 友达光电股份有限公司 薄膜晶体管与其制作方法
JP4752266B2 (ja) 2004-12-24 2011-08-17 カシオ計算機株式会社 液晶表示素子
US8068200B2 (en) 2004-12-24 2011-11-29 Casio Computer Co., Ltd. Vertical alignment liquid crystal display device in which a pixel electrode has slits which divide the pixel electrode into electrode portions
EP1674922A1 (en) * 2004-12-27 2006-06-28 Samsung Electronics Co., Ltd. Liquid crystal display
TWI283483B (en) * 2005-02-01 2007-07-01 Innolux Display Corp TFT LCD and fabricating method thereof
KR100793357B1 (ko) * 2005-03-18 2008-01-11 삼성에스디아이 주식회사 박막트랜지스터와 평판표시장치 및 그의 제조 방법
KR101216688B1 (ko) * 2005-05-02 2012-12-31 삼성디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 기판 및 이를 포함하는 액정 표시 장치
US7579220B2 (en) * 2005-05-20 2009-08-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device manufacturing method
JP4577114B2 (ja) 2005-06-23 2010-11-10 ソニー株式会社 薄膜トランジスタの製造方法および表示装置の製造方法
JP2007035964A (ja) 2005-07-27 2007-02-08 Sony Corp 薄膜トランジスタとその製造方法、及び表示装置
JP4753373B2 (ja) * 2005-09-16 2011-08-24 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置及び表示装置の駆動方法
US8094256B2 (en) 2005-11-24 2012-01-10 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate, a liquid crystal panel, a display device, a television receiver, and methods of correcting and producing the substrate and panel
CN101317127B (zh) * 2005-11-29 2010-05-19 富士胶片株式会社 液晶显示装置用基板、液晶显示元件以及液晶显示装置
TWI268619B (en) * 2005-11-30 2006-12-11 Tpo Displays Corp Systems and methods involving thin film transistors
KR101383714B1 (ko) * 2005-12-02 2014-04-09 삼성디스플레이 주식회사 액정 표시 장치
CN102176299B (zh) * 2005-12-02 2013-07-17 株式会社半导体能源研究所 发光器件的驱动方法
US8212953B2 (en) * 2005-12-26 2012-07-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for manufacturing the same
KR100962794B1 (ko) 2005-12-26 2010-06-10 샤프 가부시키가이샤 액티브 매트릭스 기판, 액정 패널, 액정 표시 장치 및 tv 수상기
CN101379538B (zh) * 2006-03-06 2010-12-15 夏普株式会社 有源矩阵基板、显示装置和电视接收机
KR101277606B1 (ko) * 2006-03-22 2013-06-21 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그 제조 방법
JP5329053B2 (ja) * 2006-05-24 2013-10-30 三星ディスプレイ株式會社 表示基板
US7863612B2 (en) * 2006-07-21 2011-01-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and semiconductor device
CN100444009C (zh) * 2006-07-25 2008-12-17 友达光电股份有限公司 阵列基板的形成方法
JP2007049171A (ja) * 2006-08-30 2007-02-22 Chi Mei Electronics Corp 微結晶薄膜トランジスタを用いた画像表示装置
US8022466B2 (en) * 2006-10-27 2011-09-20 Macronix International Co., Ltd. Non-volatile memory cells having a polysilicon-containing, multi-layer insulating structure, memory arrays including the same and methods of operating the same
US8921858B2 (en) * 2007-06-29 2014-12-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device
US9176353B2 (en) * 2007-06-29 2015-11-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device
US7738050B2 (en) * 2007-07-06 2010-06-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd Liquid crystal display device
TWI575293B (zh) * 2007-07-20 2017-03-21 半導體能源研究所股份有限公司 液晶顯示裝置
JP2009049384A (ja) * 2007-07-20 2009-03-05 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光装置
US7611930B2 (en) * 2007-08-17 2009-11-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method of manufacturing display device
US8030655B2 (en) * 2007-12-03 2011-10-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin film transistor, display device having thin film transistor
WO2010032640A1 (en) * 2008-09-19 2010-03-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2009049385A5 (ja)
JP2009093159A5 (ja)
JP2009049384A5 (ja)
JP2011154356A5 (ja) 液晶表示装置
JP6460584B2 (ja) Ltpsアレイ基板
JP2009038353A5 (ja)
JP2012083738A5 (ja)
JP2012256063A5 (ja) 表示装置
JP2010251732A5 (ja) トランジスタ及び表示装置
JP2014157357A5 (ja) 液晶表示装置
JP2011100723A5 (ja) 表示装置
JP2011100117A5 (ja) 液晶表示装置
JP2011138117A5 (ja)
JP2013190804A5 (ja)
JP2009055011A5 (ja)
JP2016139159A5 (ja)
JP2015018264A5 (ja)
JP2010152348A5 (ja)
JP2011091382A5 (ja) 半導体装置
TW200730983A (en) Display device
JP2013243355A5 (ja) 半導体装置
JP2013016831A5 (ja)
JP2011109081A5 (ja) 液晶表示装置
JP2011197657A5 (ja)
JP2013077011A5 (ja) 液晶表示装置